JP7432242B2 - Storage equipment and board processing equipment - Google Patents

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Description

本発明は、基板を収納する収納装置、および収納装置を備えた基板加工装置に関する。 The present invention relates to a storage device for storing substrates, and a substrate processing apparatus equipped with the storage device.

従来、電子機器等に広く利用される半導体デバイスは、複数の領域に区分された各領域に光デバイス等が組み込まれたウェーハから製造される。このようなウェーハには、たとえば、ウェーハの両面が研磨される工程、均一な厚さに整えられる工程等、種々の処理が施される。ウェーハが各工程に搬送される際、通常、複数のウェーハがまとめてカセットに収容され、各装置にセットされる。 2. Description of the Related Art Conventionally, semiconductor devices widely used in electronic equipment and the like are manufactured from wafers that are divided into a plurality of regions and each region has an optical device installed therein. Such wafers are subjected to various treatments, such as polishing both sides of the wafer and making the wafer uniform in thickness. When wafers are transported to each process, a plurality of wafers are usually housed together in a cassette and set in each device.

以下の特許文献1には、基板が収容されているカセットを、トレイにより、装置内に搬入する半導体製造装置が開示されている。カセットは、装置外に引き出されたトレイに載置される。トレイが水平に引き込まれることにより、カセットが装置内部に搬入される。トレイの引込み位置の奥側には、シャッタが上下に移動可能に配置されている。トレイが引き出されると、トレイの動きに連動してシャッタが上方に移動して、引込み位置の奥側がシャッタで塞がれる。トレイが装置内に引き込まれると、トレイの動きに連動してシャッタが下方に移動して、引込み位置の奥が開放される。これにより、カセットと、引込み位置奥側の搬送領域との間が連通する。 The following Patent Document 1 discloses a semiconductor manufacturing apparatus in which a cassette containing substrates is carried into the apparatus using a tray. The cassette is placed on a tray pulled out of the device. By pulling the tray horizontally, the cassette is carried into the apparatus. A shutter is arranged to be movable up and down on the back side of the retracted position of the tray. When the tray is pulled out, the shutter moves upward in conjunction with the movement of the tray, and the back side of the retracted position is closed by the shutter. When the tray is pulled into the apparatus, the shutter moves downward in conjunction with the movement of the tray, opening the back of the retracted position. This establishes communication between the cassette and the transport area on the back side of the retracted position.

この半導体制動装置では、トレイが引き出された状態において、引込み位置の奥側がシャッタで塞がれるため、カセットを装置に収納する場合に、オペレータが装置内部の搬送領域に手を入れてしまうことが防止される。 In this semiconductor braking device, when the tray is pulled out, the back side of the retracted position is closed by a shutter, so when storing the cassette in the device, the operator does not have to put his hands into the transport area inside the device. Prevented.

特開2000-216216号公報Japanese Patent Application Publication No. 2000-216216

特許文献1では、トレイが装置内に搬入されている間に、トレイに載置されたカセットから基板が搬入方向に飛び出して落下する虞がある。 In Patent Document 1, while the tray is being carried into the apparatus, there is a risk that the substrate may jump out from the cassette placed on the tray in the carrying direction and fall.

かかる課題に鑑み、本発明は、基板を安全かつ円滑に装置内の搬送領域に供給することが可能な収納装置、および収納装置を備えた基板加工装置を提供することを目的とする。 In view of such problems, an object of the present invention is to provide a storage device that can safely and smoothly supply substrates to a transfer area within the device, and a substrate processing device equipped with the storage device.

本発明の第1の態様は、複数の基板が引き出し可能に積層して収容されたカセットから基板を引き出して処理工程に供するために、カセットを収納する収納装置に関する。本態様に係る収納装置は、前記カセットが着脱可能に載置される載置部と、前記カセットの着脱位置と前記カセットの収納位置との間で前記載置部を水平に移動させる移動部と、前記載置部に昇降可能に支持され、前記載置部に載置された前記カセットの奥側の端面に対向し、前記基板が前記カセットから奥側に飛び出すことを規制する規制部と、を備える。 A first aspect of the present invention relates to a storage device that stores a cassette in which a plurality of substrates are stacked and accommodated in a drawable manner, and the substrates are pulled out from the cassette and subjected to a processing step. The storage device according to this aspect includes: a placement section on which the cassette is removably placed; and a moving section that horizontally moves the placement section between a cassette attachment/detachment position and a cassette storage position. a regulating part that is movably supported by the mounting part, faces a rear end surface of the cassette placed on the mounting part , and restricts the substrate from protruding from the cassette to the rear side ; Equipped with.

本態様に係る構成によれば、規制部が載置部に支持されているため、規制部は、載置部の移動に伴い一体的に水平方向に移動する。このため、着脱位置から収納位置にカセットおよび載置部を水平に移動させている間、規制部は、カセットの奥側の端面に対向し続ける。これにより、載置部の移動の間に、載置部の移動方向にカセットから基板が飛び出して落下することを確実に防ぐことができる。 According to the configuration according to this aspect, since the regulating section is supported by the placing section, the regulating section moves integrally in the horizontal direction as the placing section moves. Therefore, while the cassette and the mounting section are horizontally moved from the attachment/detachment position to the storage position, the restriction section continues to face the rear end surface of the cassette. Thereby, it is possible to reliably prevent the substrate from jumping out of the cassette and falling in the moving direction of the mounting section during movement of the mounting section.

なお、収納装置に収納されたカセットは、基板が引き出される側が開放されており、この開放されている方を「カセットの奥側」と称する。以降、「カセットの奥側」は、同様の意味である。 Note that the side of the cassette stored in the storage device from which the substrate is pulled out is open, and this open side is referred to as the "inner side of the cassette." Hereinafter, "the back side of the cassette" has the same meaning.

本態様に係る収納装置において、前記規制部は、昇降に伴い前記規制部を前記カセットの奥側の端面に接近および離間させるリンク機構を介して、支持部に支持されているよう構成され得る。 In the storage device according to this aspect, the regulating section may be configured to be supported by the supporting section via a link mechanism that causes the regulating section to approach and move away from the rear end surface of the cassette as the regulating section moves up and down.

本態様に係る構成によれば、規制部を上昇または下降させてカセットの奥側の端面を開放する際に、規制部をカセットの奥側の端面から離れる方向に退避させることができる。よって、規制部が基板に擦れながら昇降することを回避でき、基板が損傷することを防ぐことができる。 According to the configuration according to this aspect, when the regulating section is raised or lowered to open the rear end surface of the cassette, the regulating section can be retracted in a direction away from the rear end surface of the cassette. Therefore, it is possible to prevent the regulating portion from moving up and down while rubbing against the substrate, and it is possible to prevent damage to the substrate.

本態様に係る収納装置において、前記規制部の奥側において前記載置部に昇降可能に支持されたシャッタと、前記収納位置において、前記シャッタを昇降させる昇降機構と、を備え、前記規制部は、前記シャッタに一体的に支持されているよう構成され得る。 The storage device according to the present aspect includes: a shutter that is movably supported by the placement part on the back side of the restriction part ; and an elevating mechanism that raises and lowers the shutter in the storage position; , may be configured to be integrally supported by the shutter.

本態様に係る構成によれば、シャッタを昇降させる昇降機構が規制部の昇降に共用されるため、機構系および制御系を簡素化できる。また、載置部が着脱位置に位置付けられた状態において、載置部の出入り口がシャッタで塞がれるため、カセットの着脱の際に、オペレータが不意に収納装置の内部に手を挿入することを防ぐことができる。 According to the configuration according to this aspect, the elevating mechanism for elevating and lowering the shutter is also used for elevating and lowering the regulating portion, so that the mechanical system and the control system can be simplified. Additionally, when the loading section is positioned at the loading/unloading position, the entrance/exit of the loading section is blocked by a shutter, preventing the operator from accidentally inserting his/her hand into the storage device when loading/unloading a cassette. It can be prevented.

本態様に係る収納装置において、前記昇降機構は、上下方向に駆動される受け部材を備え、前記シャッタには、前記収納位置において前記受け部材に嵌まる連係部材が一体的に設置されているよう構成され得る。 In the storage device according to this aspect, the elevating mechanism includes a receiving member that is driven in the vertical direction, and the shutter is integrally provided with a linking member that fits into the receiving member in the storage position. can be configured.

本態様に係る構成によれば、載置部が収納位置に移動すると、シャッタ側の連係部材が昇降機構側の受け部材に嵌まって、昇降機構とシャッタとが連係される。これにより、収納位置において、シャッタを、昇降機構により円滑に昇降させることができる。 According to the configuration according to this aspect, when the mounting portion moves to the storage position, the linking member on the shutter side fits into the receiving member on the lifting mechanism side, and the lifting mechanism and the shutter are linked. Thereby, in the storage position, the shutter can be smoothly raised and lowered by the raising and lowering mechanism.

本態様に係る収納装置において、前記シャッタに一体的に設けられ、前記載置部を前記着脱位置と前記収納位置との間で移送するための移送ローラを備え、前記移送ローラは、前記連係部材を構成し、前記載置部が前記収納位置に移動すると、前記移送ローラが前記受け部材に嵌まるよう構成され得る。 The storage device according to this aspect includes a transfer roller that is integrally provided with the shutter and that transfers the mounting section between the attachment/detachment position and the storage position, and the transfer roller is configured to move the linking member. The transfer roller may be configured to fit into the receiving member when the placement section moves to the storage position.

本態様に係る構成によれば、移送ローラが連係部材として兼用されるため、構成の簡素化を図ることができる。また、収納位置において、移送ローラが受け部材に嵌まって移動部材の移動が規制されるため、載置部を収納位置に適切に位置付けることができる。 According to the configuration according to this aspect, since the transfer roller is also used as a linking member, the configuration can be simplified. Further, in the storage position, the transfer roller fits into the receiving member to restrict movement of the moving member, so that the placing section can be appropriately positioned in the storage position.

本態様に係る収納装置において、前記収納位置において、前記カセットから前記基板が飛び出しているか否かを検知する検知手段を備えるよう構成され得る。 The storage device according to this aspect may be configured to include a detection means for detecting whether or not the substrate has protruded from the cassette at the storage position.

本態様に係る構成によれば、シャッタが開き、装置が動作している最中、カセットから基板がカセットの奥側に飛び出した状態であることを迅速に検知することができる。 According to the configuration according to this aspect, it is possible to quickly detect that the substrate has protruded from the cassette to the back side of the cassette while the shutter is open and the apparatus is operating.

本態様に係る収納装置において、第1のカセットを着脱可能に収納する第1の収納部と、第2のカセットを着脱可能に収納する第2の収納部と、を備え、前記第1のカセットから前記基板を引き出して処理工程に供している間、前記第2のカセットを前記第2の収納部から取り出すよう構成され得る。 The storage device according to this aspect includes a first storage part that removably stores the first cassette, and a second storage part that removably stores the second cassette, and the first cassette The second cassette may be removed from the second storage section while the substrate is being pulled out from the substrate and subjected to a processing step.

本態様に係る構成によれば、第2のカセットから基板を引き出して処理工程に供している間に、先に基板を供給し終えた第1のカセットを第1の収納部から取り出し、この第1のカセットに基板を収容して、再び第1の収納部に第1のカセットを収納することができる。これにより、第1のカセットから全ての基板が搬送路に供給された場合、供給動作を一旦停止させることなく、第1のカセットに基板を収容し、第1のカセットを第1の収納部に収納することができる。よって、第1のカセットおよび第2のカセットから連続的に基板を処理工程に供することができ、収納装置の稼働率を高めることができる。 According to the configuration according to this aspect, while a substrate is being pulled out from the second cassette and subjected to a processing step, the first cassette to which substrates have been previously supplied is taken out from the first storage section, The substrates can be stored in one cassette, and the first cassette can be stored in the first storage section again. As a result, when all the substrates are supplied from the first cassette to the transport path, the substrates are stored in the first cassette without temporarily stopping the supply operation, and the first cassette is transferred to the first storage section. It can be stored. Therefore, substrates can be continuously subjected to the processing process from the first cassette and the second cassette, and the operating rate of the storage device can be increased.

また、第2のカセットから処理工程に供された基板は、所定の装置で加工された後、第2のカセットに戻らせるようにしてもよい。この場合、第2のカセットから処理工程に供された基板の全てが第2のカセットに戻った後、第2の収納部から第2のカセットを取り出し、第2のカセットから加工後の基板を回収し、未加工の基板を第2のカセットに収容して、再び、第2の収納部に収納することができる。 Furthermore, the substrates submitted to the processing step from the second cassette may be returned to the second cassette after being processed by a predetermined device. In this case, after all of the substrates that have been subjected to the processing process from the second cassette have returned to the second cassette, the second cassette is taken out from the second storage section, and the processed substrates are removed from the second cassette. The unprocessed substrate can be collected and stored in a second cassette, and then stored in the second storage section again.

本発明の第2の態様は、基板を加工する基板加工装置に関する。本態様に係る基板加工装置は、複数の基板が引き出し可能に積層して収容されたカセットから基板を引き出して処理工程に供するために、カセットを収納する収納装置に関する。本態様の収納装置は、前記カセットが着脱可能に載置される載置部と、前記カセットの着脱位置と前記カセットの収納位置との間で前記載置部を水平に移動させる移動部と、前記載置部に昇降可能に支持され、前記載置部に載置された前記カセットの奥側の端面に対向し、前記基板が前記カセットから奥側に飛び出すことを規制する規制部と、を備える収納装置を備える。また、本態様の基板加工装置は、基板の表面にスクライブラインを形成するスクライブユニットと、前記スクライブラインが形成された前記基板の表面にフィルムを貼付するフィルムラミネートユニットと、前記フィルムが貼付された面が下側となるように前記基板を反転させる反転ユニットと、前記フィルムが貼付されていない面に所定の力を付与して前記スクライブラインに沿って前記基板を分断するブレイクユニットと、前記基板を所定の位置に搬送する搬送部と、を備える。 A second aspect of the present invention relates to a substrate processing apparatus for processing a substrate. The substrate processing apparatus according to the present aspect relates to a storage device that stores a cassette in order to pull out a substrate from a cassette in which a plurality of substrates are stacked and housed in a drawable manner and use the substrate for a processing step. The storage device of this aspect includes: a placement section on which the cassette is removably placed; a moving section that horizontally moves the placement section between a cassette attachment/detachment position and a cassette storage position; a regulating part that is movably supported by the mounting part, faces a rear end surface of the cassette placed on the mounting part , and restricts the board from jumping out of the cassette to the rear side ; A storage device is provided. Further, the substrate processing apparatus of this aspect includes a scribing unit that forms scribe lines on the surface of the substrate, a film laminating unit that affixes a film to the surface of the substrate on which the scribe line is formed, and a film laminating unit that affixes the film to the surface of the substrate. a reversing unit that inverts the substrate so that the surface faces downward; a break unit that applies a predetermined force to the surface to which the film is not attached to divide the substrate along the scribe line; and a break unit that divides the substrate along the scribe line. and a conveyance unit that conveys the image to a predetermined position.

本態様に係る構成によれば、第1の態様と同様の効果を奏する。 According to the configuration according to this aspect, the same effects as in the first aspect can be achieved.

以上のとおり、本発明によれば、基板を安全かつ円滑に装置内の搬送領域に供給することが可能な収納装置、および収納装置を備えた基板加工装置を提供することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to provide a storage device that can safely and smoothly supply substrates to a transfer area within the device, and a substrate processing device equipped with the storage device.

本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下に示す実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態に記載されたものに何ら制限されるものではない。 The effects and significance of the present invention will become clearer from the following description of the embodiments. However, the embodiments described below are merely examples of implementing the present invention, and the present invention is not limited to what is described in the embodiments below.

図1(a)は、実施形態に係る基板供給システムの構成を示す斜視図である。図1(b)は、基板供給システムに収納されるカセットを示す斜視図である。図1(c)は、基板供給システムの収納装置を示す斜視図であり、図1(a)に対応する。FIG. 1(a) is a perspective view showing the configuration of a substrate supply system according to an embodiment. FIG. 1(b) is a perspective view showing a cassette housed in the substrate supply system. FIG. 1(c) is a perspective view showing the storage device of the substrate supply system, and corresponds to FIG. 1(a). 図2(a)~(c)は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIGS. 2(a) to 2(c) are perspective views showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図3は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図4は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図5は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図6(a)~(c)は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。図6(a)、(b)は、リンク機構周辺の拡大図である。図6(c)は、図5に対応する斜視図である。FIGS. 6(a) to 6(c) are perspective views showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. FIGS. 6(a) and 6(b) are enlarged views of the vicinity of the link mechanism. FIG. 6(c) is a perspective view corresponding to FIG. 5. 図7は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIG. 7 is a perspective view showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図8(a)~(c)は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。図8(a)、(b)は、リンク機構周辺の拡大図である。図8(c)は、図7に対応する斜視図である。FIGS. 8(a) to 8(c) are perspective views showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. FIGS. 8(a) and 8(b) are enlarged views of the vicinity of the link mechanism. FIG. 8(c) is a perspective view corresponding to FIG. 7. 図9は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. 図10(a)、(b)は、実施形態に係る基板供給システムの収納装置の構成を示す斜視図である。図10(a)は、リンク機構周辺の拡大図である。図10(b)は、図9に対応する斜視図である。FIGS. 10A and 10B are perspective views showing the configuration of the storage device of the substrate supply system according to the embodiment. FIG. 10(a) is an enlarged view of the vicinity of the link mechanism. FIG. 10(b) is a perspective view corresponding to FIG. 9. 図11(a)、(b)は、実施形態に係る基板供給システムの引き出し機構および移動機構の構成を示す斜視図である。FIGS. 11(a) and 11(b) are perspective views showing the configurations of the pull-out mechanism and the moving mechanism of the substrate supply system according to the embodiment. 図12(a)、(b)は、実施形態に係る基板供給システムと搬送路とを示す斜視図である。FIGS. 12A and 12B are perspective views showing a substrate supply system and a transport path according to the embodiment. 図13(a)、(b)は、実施形態に係る基板供給システムと搬送路とを示す斜視図である。FIGS. 13A and 13B are perspective views showing a substrate supply system and a transport path according to the embodiment. 図14(a)は、実施形態に係る基板供給システムの構成を示すブロック図である。図14(b)は、実施形態に係る基板供給システムの動作を示すフローチャートである。FIG. 14(a) is a block diagram showing the configuration of the substrate supply system according to the embodiment. FIG. 14(b) is a flowchart showing the operation of the substrate supply system according to the embodiment. 図15は、実施形態に係る基板供給システムを備えた基板加工装置の構成を示す斜視図である。FIG. 15 is a perspective view showing the configuration of a substrate processing apparatus including the substrate supply system according to the embodiment.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、各図には、便宜上、互いに直交するX軸、Y軸およびZ軸が付記されている。X-Y平面は水平面に平行で、Z軸方向は鉛直方向である。Z軸正側が上方であり、Z軸負側が下方である。また、本実施の形態において、Z軸方向が特許請求の範囲に記載の「積層方向」である。この積層方向は、本実施の形態において、「上下方向」と表記される場合がある。また、Y軸方向が特許請求の範囲に記載の「積層方向に垂直な方向」である。このY軸方向は、本実施の形態において、「水平方向」と表記される場合がある。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Note that in each figure, for convenience, an X-axis, a Y-axis, and a Z-axis that are orthogonal to each other are added. The XY plane is parallel to the horizontal plane, and the Z-axis direction is vertical. The positive side of the Z-axis is the upper side, and the negative side of the Z-axis is the lower side. Furthermore, in the present embodiment, the Z-axis direction is the "stacking direction" described in the claims. In this embodiment, this stacking direction may be expressed as "up-down direction". Further, the Y-axis direction is the "direction perpendicular to the stacking direction" as described in the claims. This Y-axis direction may be referred to as a "horizontal direction" in this embodiment.

<実施形態>
本実施の形態の収納装置100は、電子機器等に広く利用される半導体デバイスの材料である半導体ウェーハの製造の際、ウェーハを所定の装置に搬送する搬送路に供給するために用いられる。本実施の形態において、収納装置100が収納する基板は、環状のフレームにダイシングテープで貼付された半導体ウェーハである。以降、「環状のフレームにダイシングテープで貼付された半導体ウェーハ」は、単に、「ウェーハW」と表記される。
<Embodiment>
The storage device 100 of this embodiment is used to supply a wafer to a transport path for transporting the wafer to a predetermined device during the manufacture of semiconductor wafers, which are materials for semiconductor devices widely used in electronic equipment and the like. In this embodiment, the substrates stored in storage device 100 are semiconductor wafers attached to an annular frame with dicing tape. Hereinafter, "the semiconductor wafer attached to the annular frame with dicing tape" will be simply referred to as "wafer W."

本実施の形態では、収納装置100は、収納装置100からウェーハWを引き出す引き出し機構200と、ウェーハWを所定の位置に移動させる移動機構300と、を備える基板供給システム1に組み込まれている収納装置として説明する。また、本実施の形態の説明では、ウェーハWが基板供給システム1から完全に引き出された位置を「引き出し位置」と称し、この引き出し位置から搬送路に受け渡される位置を「受渡位置」と称する。 In this embodiment, the storage device 100 is a storage device built into a substrate supply system 1 that includes a drawer mechanism 200 that pulls out wafers W from the storage device 100, and a movement mechanism 300 that moves the wafers W to a predetermined position. This will be explained as a device. In addition, in the description of this embodiment, the position where the wafer W is completely pulled out from the substrate supply system 1 will be referred to as the "pull-out position", and the position where the wafer W is transferred from this pull-out position to the transport path will be referred to as the "delivery position". .

ウェーハWの材質として、たとえば、単結晶シリコン(Si)、炭化ケイ素(SiC)、窒化ガリウム(GaN)、およびヒ化ガリウム(GaSa)等が挙げられる。半導体ウェーハの上記のような材質、厚み、およびサイズは、製造目的の半導体デバイスの種類、機能等によって適切に選択され、設計される。 Examples of the material of the wafer W include single crystal silicon (Si), silicon carbide (SiC), gallium nitride (GaN), and gallium arsenide (GaSa). The above-mentioned material, thickness, and size of the semiconductor wafer are appropriately selected and designed depending on the type, function, etc. of the semiconductor device to be manufactured.

図1(a)~(c)は、基板供給システム1の構成を示す斜視図である。図1(a)は、基板供給システム1の斜視図であり、図1(b)は、ウェーハWが収容されたカセットを示す斜視図であり、図1(c)は、収納装置100の斜視図である。 FIGS. 1(a) to 1(c) are perspective views showing the configuration of the substrate supply system 1. FIG. 1(a) is a perspective view of the substrate supply system 1, FIG. 1(b) is a perspective view showing a cassette containing wafers W, and FIG. 1(c) is a perspective view of the storage device 100. It is a diagram.

図1(a)に示すように、基板供給システム1は、収納装置100と、引き出し機構200と、移動機構300と、を備えている。なお、収納装置100全体は筐体で覆われているが、説明の便宜上、この筐体は省略されている。以降、全ての図において、収納装置100全体を覆う筐体は省略されている。 As shown in FIG. 1(a), the substrate supply system 1 includes a storage device 100, a drawer mechanism 200, and a movement mechanism 300. Note that although the entire storage device 100 is covered with a casing, this casing is omitted for convenience of explanation. From now on, in all the figures, the casing that covers the entire storage device 100 is omitted.

収納装置100は、搬送路に供給されるウェーハWが収納される。具体的には、図1(b)に示すように、複数のウェーハWが積層された状態でカセットに収容され、このカセットが収納装置100に収納される。本実施の形態では、第1のカセット10および第2のカセット20の2つが用意される。第1のカセット10の側壁11a、11bの内側面に、所定の間隔で溝12が設けられている。ウェーハWは、この溝12に挿入されることにより、第1のカセット10の内部で支持された状態で収容される。 The storage device 100 stores wafers W to be supplied to the transport path. Specifically, as shown in FIG. 1B, a plurality of wafers W are stored in a stacked state in a cassette, and this cassette is stored in the storage device 100. In this embodiment, two cassettes, a first cassette 10 and a second cassette 20, are prepared. Grooves 12 are provided on the inner surfaces of the side walls 11a and 11b of the first cassette 10 at predetermined intervals. By being inserted into this groove 12, the wafer W is housed in a supported state inside the first cassette 10.

第1のカセット10の上部には、オペレータが第1のカセット10を持ち運びする際に使用される取っ手13が設けられている。第2のカセット20は、第1のカセット10と同様の構成であるため、説明を省略する。なお、上記では、第1のカセット10および第2のカセット20は、共通のカセットとして説明したが、第1のカセット10と第2のカセット20とで、側壁11a、11bの内側面に設けられる溝12の間隔を異ならせてもよく、また、収容するウェーハWの数を異ならせてもよい。 A handle 13 is provided on the top of the first cassette 10, which is used when the operator carries the first cassette 10. The second cassette 20 has the same configuration as the first cassette 10, so a description thereof will be omitted. Although the first cassette 10 and the second cassette 20 are described as a common cassette in the above, the first cassette 10 and the second cassette 20 are provided on the inner surfaces of the side walls 11a and 11b. The intervals between the grooves 12 may be varied, and the number of wafers W accommodated may also be varied.

収納装置100は、上記した第1のカセット10および第2のカセット20を収納する。図1(c)に示すように、収納装置100は、ウェーハWの積層方向、つまり、上下方向に並んで配置されている第1の収納部101と第2の収納部102とを備える。また、収納装置100は、第1の収納部101に、第1のカセット10が着脱可能に載置される載置部110と、第1の収納部101を覆う筐体103と、筐体103に取り付けられる扉104と、載置部110に設置される取っ手112と、を備える。 The storage device 100 stores the first cassette 10 and the second cassette 20 described above. As shown in FIG. 1C, the storage device 100 includes a first storage section 101 and a second storage section 102 that are arranged side by side in the stacking direction of the wafers W, that is, in the vertical direction. Further, the storage device 100 includes a placement unit 110 on which the first cassette 10 is removably placed in the first storage unit 101, a housing 103 that covers the first storage unit 101, and a housing 103 that covers the first storage unit 101. The device includes a door 104 that is attached to the mounting portion 110, and a handle 112 that is installed to the mounting portion 110.

上記のとおり、収納装置100は、第1の収納部101が筐体103で覆われ、また、水平方向に開閉する扉104が設けられている。扉104は、図1(a)、(c)において図示を省略した、収納装置100全体を覆う筐体に取付られており、扉104を開閉すると、第1の収納部101にアクセスすることができる。また、オペレータが基板供給システム1の稼働中、第1のカセット10および第2のカセット20を視認できるよう、扉104を透明な部材で構成することができる。図1(c)では、扉104が透明な場合を図示している。 As described above, in the storage device 100, the first storage section 101 is covered with the housing 103, and the door 104 that opens and closes in the horizontal direction is provided. The door 104 is attached to a casing that covers the entire storage device 100, which is not shown in FIGS. can. Further, the door 104 can be made of a transparent member so that the operator can visually check the first cassette 10 and the second cassette 20 while the substrate supply system 1 is in operation. FIG. 1C shows a case where the door 104 is transparent.

上記した筐体103、扉104、載置部110、および取っ手112は、第2の収納部102についても同様に設けられる。 The above-described casing 103, door 104, placing section 110, and handle 112 are similarly provided for the second storage section 102.

このように、収納装置100が第1の収納部101と第2の収納部102とを備えており、第1の収納部101および第2の収納部102のそれぞれに扉104が設けられている。このため、たとえば、第1の収納部101に収納された第1のカセット10からウェーハWが搬送路に供給されている間、オペレータは、第2の収納部102の扉104を開けて、第2の収納部102の載置部110をY軸負方向に引き出すことができる。このとき、第2の収納部102に第2のカセット20が収納されていない、あるいは、第2のカセット20内にウェーハWが収容されていない場合(つまり、第2のカセット20から全てのウェーハWが搬送路に供給されていた場合)、オペレータは、第2のカセット20にウェーハWを収容し、第2の収納部102の載置部110に適切に第2のカセット20を載置した後、第2の収納部102の載置部110をY軸正方向に引き入れる。このように、第2の収納部102に第2のカセット20を収納することができる。 In this way, the storage device 100 includes the first storage section 101 and the second storage section 102, and the first storage section 101 and the second storage section 102 are each provided with a door 104. . Therefore, for example, while the wafers W are being supplied to the transport path from the first cassette 10 stored in the first storage section 101, the operator opens the door 104 of the second storage section 102 and The placing section 110 of the storage section 102 of No. 2 can be pulled out in the negative direction of the Y-axis. At this time, if the second cassette 20 is not stored in the second storage section 102 or the wafers W are not stored in the second cassette 20 (that is, all the wafers from the second cassette 20 If the wafers W are being supplied to the transport path), the operator stores the wafers W in the second cassette 20 and appropriately places the second cassette 20 on the placing section 110 of the second storage section 102. After that, the placing section 110 of the second storage section 102 is pulled in in the positive direction of the Y-axis. In this way, the second cassette 20 can be stored in the second storage section 102.

なお、図1(a)、(c)は、説明の便宜上、各収納部の内部が見えるように図示するために、第1の収納部101のシャッタ140および第2の収納部102のシャッタ140は開放された状態が図示されているが、実際の動作に対応するものではない。これは、図12(a)~図13(b)も同様である。 1A and 1C, for convenience of explanation, the shutter 140 of the first storage section 101 and the shutter 140 of the second storage section 102 are shown so that the inside of each storage section can be seen. Although shown in the open state, this does not correspond to actual operation. This also applies to FIGS. 12(a) to 13(b).

また、収納装置100は、図1(c)に示すように、移動部120と、規制部130と、昇降機構150と、支持部160と、リンク機構170と、検知手段180と、を備えている。なお、移動部120は、図1(c)では図示されず、図4にて図示される。 Further, as shown in FIG. 1(c), the storage device 100 includes a moving section 120, a regulating section 130, a lifting mechanism 150, a supporting section 160, a link mechanism 170, and a detecting means 180. There is. Note that the moving unit 120 is not illustrated in FIG. 1(c) but is illustrated in FIG. 4.

図2(a)~(c)は、収納装置100の異なる状態を示す斜視図であり、左側の図と右側の図とは対応している。 FIGS. 2(a) to 2(c) are perspective views showing different states of the storage device 100, and the left side view and right side view correspond to each other.

図2(a)~(c)に示すように、収納装置100には主に4つの状態がある。図2(a)は、載置部110が第2の収納部102から引き出された状態(第1の状態)を示す。このとき、第2の収納部102のシャッタ140は閉じているため、オペレータが収納装置100に手を入れることはできない。図2(b)は、載置部110が第2の収納部102に収まっている状態(第2の状態)を示す。図2(c)は、第2の収納部102のシャッタ140を開放するための準備状態(第3の状態)を示す。第2の収納部102のシャッタ140の開放が完了した状態(第4の状態)は、図1(a)および(c)が相当する。以降、これら4つの状態に分けて、収納装置100の構成を説明する。ここで、第1の収納部101のシャッタ140は、上方に開放し、第2の収納部102のシャッタ140は、下方に開放する。このように、開放する方向が上下で異なるものの、シャッタ140を開放するための構成は、同様の構成である。そのため、以降の説明では、上段に配置されている第2の収納部102に着目して説明する。 As shown in FIGS. 2(a) to 2(c), the storage device 100 mainly has four states. FIG. 2A shows a state in which the placing section 110 is pulled out from the second storage section 102 (first state). At this time, since the shutter 140 of the second storage section 102 is closed, the operator cannot put his hand into the storage device 100. FIG. 2(b) shows a state in which the placing section 110 is accommodated in the second storage section 102 (second state). FIG. 2C shows a preparation state (third state) for opening the shutter 140 of the second storage section 102. FIG. FIGS. 1A and 1C correspond to a state (fourth state) in which the shutter 140 of the second storage section 102 has been completely opened. Hereinafter, the configuration of the storage device 100 will be explained in terms of these four states. Here, the shutter 140 of the first storage section 101 opens upward, and the shutter 140 of the second storage section 102 opens downward. As described above, although the opening direction is different between the upper and lower sides, the configuration for opening the shutter 140 is the same. Therefore, the following description will focus on the second storage section 102 arranged in the upper stage.

また、収納装置100が第1の状態(図2(a)に示す状態)のとき、第2のカセット20は、第2の収納部102の載置部110に着脱可能に載置される。このとき、第2の収納部102の載置部110の位置が、特許請求の範囲に記載の「着脱位置」である。収納装置100が第2の状態(図2(b)に示す状態)のとき、第2のカセット20は第2の収納部102の載置部110に載置された状態で、第2の収納部102に収納される。このときの第2の収納部102の載置部110の位置が特許請求の範囲に記載の「収納位置」である。 Further, when the storage device 100 is in the first state (the state shown in FIG. 2(a)), the second cassette 20 is removably placed on the placement section 110 of the second storage section 102. At this time, the position of the placing part 110 of the second storage part 102 is the "attachment/detachment position" described in the claims. When the storage device 100 is in the second state (the state shown in FIG. 2(b)), the second cassette 20 is placed on the placing section 110 of the second storage section 102, and the second cassette 20 is placed in the second storage section 102. It is stored in the section 102. The position of the placing section 110 of the second storage section 102 at this time is the "storage position" described in the claims.

まず、収納装置100が第1の状態、つまり、載置部110が着脱位置に位置している場合について説明する。 First, a case will be described in which the storage device 100 is in the first state, that is, the placing section 110 is located at the attachment/detachment position.

図3、図4は、収納装置100の構成を示す斜視図であり、収納装置100が第1の状態であるときを示している。図3、図4では、第2のカセット20、筐体103、および扉104が省略されており、図4では、さらに、検知手段180が省略されている。 3 and 4 are perspective views showing the configuration of the storage device 100, and show the storage device 100 in the first state. 3 and 4, the second cassette 20, the housing 103, and the door 104 are omitted, and in FIG. 4, the detection means 180 is further omitted.

図3、図4に示すように、収納装置100は、上記した載置部110と、移動部120と、規制部130と、シャッタ140と、昇降機構150と、支持部160と、リンク機構170と、検知手段180と、の他に、台座190を備える。また、図3の載置部110において、破線で囲まれた部分は、第2のカセット20が載置される領域である。 As shown in FIGS. 3 and 4, the storage device 100 includes the above-described placing section 110, moving section 120, regulating section 130, shutter 140, lifting mechanism 150, supporting section 160, and link mechanism 170. In addition to the detection means 180, a pedestal 190 is provided. In addition, in the mounting section 110 in FIG. 3, a portion surrounded by a broken line is an area where the second cassette 20 is mounted.

載置部110の上面には、第2のカセット20を位置決めする位置決め部材111が4つ設けられている。第2のカセット20を載置部110に載置する際、第2のカセット20の側壁11a、11bの両端部を4つの位置決め部材111に嵌め合わせる(図1(c)参照。)。 Four positioning members 111 for positioning the second cassette 20 are provided on the upper surface of the mounting section 110. When placing the second cassette 20 on the placing section 110, both ends of the side walls 11a and 11b of the second cassette 20 are fitted into the four positioning members 111 (see FIG. 1(c)).

移動部120は、載置部110を着脱位置と収納位置との間で水平方向に移動させる。移動部120は、連係部材121と、水平スライド部材122a、122bと、案内部材123と、突部材124と、を備えている。なお、連係部材121は、図3では図示されておらず、図4にて図示される。 The moving unit 120 horizontally moves the placing unit 110 between the attachment/detachment position and the storage position. The moving section 120 includes a linking member 121, horizontal slide members 122a and 122b, a guide member 123, and a protruding member 124. Note that the linking member 121 is not shown in FIG. 3 but is shown in FIG. 4.

連係部材121は、X軸方向における断面が段状の部材121aと、移送ローラ121bとから構成される。部材121aの下部には、X軸方向に孔が形成されており、この孔に移送ローラ121bの回転軸が通される。部材121aの上部の立ち上がり部にシャッタ140が装着される(図5(c)参照。)。 The linking member 121 includes a member 121a having a stepped cross section in the X-axis direction and a transfer roller 121b. A hole is formed in the lower part of the member 121a in the X-axis direction, and the rotation shaft of the transfer roller 121b is passed through this hole. A shutter 140 is attached to the rising portion of the upper part of the member 121a (see FIG. 5(c)).

水平スライド部材122aは、載置部110側に設けられ、水平スライド部材122bは、台座190側に設けられる。載置部110が水平方向に移動する際、水平スライド部材122bに対して、水平スライド部材122aが移動する。これにより、載置部110は、水平方向に移動できる。 The horizontal slide member 122a is provided on the mounting section 110 side, and the horizontal slide member 122b is provided on the pedestal 190 side. When the mounting section 110 moves in the horizontal direction, the horizontal slide member 122a moves relative to the horizontal slide member 122b. Thereby, the mounting section 110 can be moved in the horizontal direction.

案内部材123は、細長い矩形状の部材であり、台座190に設置される。案内部材123のY軸正側および負側は中央に向かって緩やかな傾斜面が形成されており、Y軸正側の端部には、V字状の凹部123aが形成されている。載置部110に設けられている突部材124の下端部は半球状に形成されている(不図示)。水平スライド部材122a、122bにより載置部110が収納位置まで水平方向に移動すると、突部材124の半球状の部分が案内部材123の傾斜面を滑る。これにより、載置部110には適切にブレーキが掛かり、台座190に減速しながら移動することができる。また、突部材124の半球状の部分が凹部123aに嵌まることにより、載置部110は第2の収納部102に位置決めされる。 The guide member 123 is an elongated rectangular member, and is installed on the pedestal 190. The Y-axis positive side and negative side of the guide member 123 are formed with gentle slopes toward the center, and a V-shaped recess 123a is formed at the end on the Y-axis positive side. The lower end portion of the protruding member 124 provided on the mounting portion 110 is formed into a hemispherical shape (not shown). When the mounting portion 110 is moved horizontally to the storage position by the horizontal slide members 122a and 122b, the hemispherical portion of the protruding member 124 slides on the inclined surface of the guide member 123. As a result, the placing section 110 is appropriately braked and can be moved to the pedestal 190 while being decelerated. Further, the hemispherical portion of the protruding member 124 fits into the recess 123a, so that the placing portion 110 is positioned in the second storage portion 102.

規制部130は、載置部110が着脱位置(第1の状態)と収納位置(第2の状態)との間で水平方向に移動している間、また、載置部110が収納位置に位置しているとき(第2の状態)、第2のカセット20から奥方(Y軸正側)にウェーハWが飛び出して落下することを防ぐ。規制部130は、第2のカセット20の奥方の端面に当接する。つまり、第2のカセット20に収容されているウェーハWに当接する。規制部130は、板状の部材であり、本実施の形態では、2つ設けられる。規制部130は、支持板131に支持されている。 The regulating section 130 is configured to prevent the placing section 110 from moving in the horizontal direction between the attachment/detachment position (first state) and the storage position (second state), and when the placing section 110 is in the storage position. When the wafer W is in the position (second state), the wafer W is prevented from jumping out from the second cassette 20 toward the back (Y-axis positive side) and falling. The regulating portion 130 abuts against the rear end surface of the second cassette 20 . That is, it comes into contact with the wafer W housed in the second cassette 20. The regulating section 130 is a plate-shaped member, and in this embodiment, two regulating sections 130 are provided. The regulating portion 130 is supported by a support plate 131.

シャッタ140は、第2の収納部102と引き出し位置との間を遮断する。第2の収納部102において、第2のカセット20からウェーハWが引き出されるとき、シャッタ140は開放され、載置部110が収納位置から着脱位置に移動するとき、シャッタ140は閉塞する。 The shutter 140 blocks the second storage section 102 and the pulled-out position. In the second storage section 102, when the wafer W is pulled out from the second cassette 20, the shutter 140 is opened, and when the mounting section 110 moves from the storage position to the attachment/detachment position, the shutter 140 is closed.

昇降機構150は、シャッタ140を昇降させる。昇降機構150は、駆動部151と、受け部材152と、昇降スライド部材153a、153bと、を備えている。 The elevating mechanism 150 moves the shutter 140 up and down. The elevating mechanism 150 includes a drive section 151, a receiving member 152, and elevating slide members 153a and 153b.

駆動部151は、シリンダである。駆動部151のロッド151aの下端部に、受け部材152が接続されている。受け部材152は、Y軸負側が開いた枠状の部材から構成されている。受け部材152の上下の隙間152aは、上記した移送ローラ121bに嵌まり込む。後で説明するが、収納装置100が第2~第4の状態であるとき、移送ローラ121bは受け部材152の隙間152aに嵌められている(たとえば、図6(b)参照。)。受け部材152はロッド151aと接続されているため、駆動部151が駆動すると、受け部材152は駆動部151と一体となって昇降する。 The drive unit 151 is a cylinder. A receiving member 152 is connected to the lower end of the rod 151a of the drive section 151. The receiving member 152 is formed of a frame-shaped member that is open on the Y-axis negative side. The upper and lower gaps 152a of the receiving member 152 fit into the above-mentioned transfer roller 121b. As will be explained later, when the storage device 100 is in the second to fourth states, the transfer roller 121b is fitted into the gap 152a of the receiving member 152 (for example, see FIG. 6(b)). Since the receiving member 152 is connected to the rod 151a, when the driving section 151 is driven, the receiving member 152 moves up and down together with the driving section 151.

昇降スライド部材153a、153bは、シャッタ140と支持部160との間に設けられており、シャッタ140を昇降移動させる。シャッタ140に昇降スライド部材153aが装着されており、支持部160に昇降スライド部材153bが装着される。シャッタ140が昇降するとき、昇降スライド部材153bに対して昇降スライド部材153aがスライド移動するため、シャッタ140が昇降する。 The elevating slide members 153a and 153b are provided between the shutter 140 and the support portion 160, and move the shutter 140 up and down. An elevating slide member 153a is attached to the shutter 140, and an elevating slide member 153b is attached to the support portion 160. When the shutter 140 moves up and down, the up/down slide member 153a slides relative to the up/down slide member 153b, so the shutter 140 goes up and down.

支持部160は、Y軸方向の断面が段状の部材であり(図6(a)参照。)、載置部110に設置される。次に説明するリンク機構170を介して規制部130を支持する。 The support section 160 is a member having a step-like cross section in the Y-axis direction (see FIG. 6(a)), and is installed on the mounting section 110. The regulating portion 130 is supported via a link mechanism 170 that will be described next.

リンク機構170は、リンクベース171と、リンクプレート172と、2つのリンクバー173と、リンクローラ174とから構成される。 The link mechanism 170 includes a link base 171, a link plate 172, two link bars 173, and a link roller 174.

リンクベース171およびリンクプレート172は、板状の部材であり、2つのリンクバー173によって連結される。リンクベース171は、シャッタ140に装着されており、リンクプレート172は、支持板131に装着される。リンクプレート172の下部にリンクローラ174が回転可能に設けられている。リンクローラ174は、支持部160の下部の水平面と当接する。なお、2つのリンクバー173は、図3では図示されず、図4にて図示される。 The link base 171 and the link plate 172 are plate-shaped members and are connected by two link bars 173. The link base 171 is attached to the shutter 140, and the link plate 172 is attached to the support plate 131. A link roller 174 is rotatably provided at the bottom of the link plate 172. The link roller 174 contacts the lower horizontal surface of the support portion 160 . Note that the two link bars 173 are not illustrated in FIG. 3 but are illustrated in FIG. 4.

上記のとおり、シャッタ140は、水平スライド部材122a、122bを介して支持部160に支持される。シャッタ140にリンクベース171が装着されており、リンクベース171とリンクバー173を介して連結されているリンクプレート172は支持板131に装着されている。このリンクベース171およびリンクプレート172は、2つのリンクバー173により四つ棒リンクを構成する。このリンク機構により、リンクプレート172は、垂直な状態を維持した状態で摺動する。そして、この支持板131は規制部130を支持する。したがって、規制部130は、リンク機構170を介してシャッタ140に支持され、また、規制部130は、リンク機構170を介して支持部160に支持される。 As described above, the shutter 140 is supported by the support section 160 via the horizontal slide members 122a and 122b. A link base 171 is attached to the shutter 140, and a link plate 172, which is connected to the link base 171 via a link bar 173, is attached to the support plate 131. The link base 171 and link plate 172 constitute a four-bar link with two link bars 173. With this link mechanism, the link plate 172 slides while maintaining a vertical state. This support plate 131 supports the regulating portion 130. Therefore, the regulating section 130 is supported by the shutter 140 via the link mechanism 170, and the regulating section 130 is supported by the supporting section 160 via the link mechanism 170.

図3、図4に示すように、第1の状態では、リンク機構170のリンクバー173は載置部110に対して水平である。そのため、リンクベース171とリンクプレート172とは僅かながら離間している。つまり、リンクベース171が装着されているシャッタ140と、リンクプレート172が装着されている支持板131とは離間している。支持板131には規制部130が装着されているため、シャッタ140と、規制部130とは、離間している。 As shown in FIGS. 3 and 4, in the first state, the link bar 173 of the link mechanism 170 is horizontal to the mounting section 110. Therefore, the link base 171 and the link plate 172 are slightly separated from each other. In other words, the shutter 140 to which the link base 171 is attached is separated from the support plate 131 to which the link plate 172 is attached. Since the regulating part 130 is attached to the support plate 131, the shutter 140 and the regulating part 130 are spaced apart from each other.

検知手段180は、台座190のY軸正側に設けられるセンサである。検知手段180は、第2のカセット20からウェーハWが搬送路に落下したことを検知する。 The detection means 180 is a sensor provided on the Y-axis positive side of the pedestal 190. The detection means 180 detects that the wafer W has fallen from the second cassette 20 onto the transport path.

図3、図4に示すように、第1の状態では、載置部110が引き出され、着脱位置に位置するとき、規制部130、支持板131、およびシャッタ140も載置部110とともに水平方向に移動する。これは、図2(a)、特に、図2(a)の右側の図に示すように、規制部130がウェーハWに当接した状態である。このため、載置部110から第2のカセット20を取り出すとき、および、第2のカセット20を載置部110に載置するとき、オペレータは載置部110の領域内のみしか手を入れることができず、搬送路にオペレータの手が入り込むことはない。よって、オペレータは安全に第2のカセット20の着脱を行うことができる。 As shown in FIGS. 3 and 4, in the first state, when the mounting section 110 is pulled out and located at the attachment/detachment position, the regulating section 130, the support plate 131, and the shutter 140 are also moved horizontally along with the mounting section 110. Move to. This is a state in which the regulating portion 130 is in contact with the wafer W, as shown in FIG. 2(a), particularly in the right-hand diagram of FIG. 2(a). Therefore, when taking out the second cassette 20 from the mounting section 110 and when placing the second cassette 20 on the mounting section 110, the operator only needs to put his/her hand into the area of the mounting section 110. This prevents the operator's hands from entering the transport path. Therefore, the operator can safely attach and detach the second cassette 20.

次に、収納装置100が第2の状態、つまり、載置部110が収納位置に位置している場合について説明する。 Next, a case will be described in which the storage device 100 is in the second state, that is, the placing section 110 is located at the storage position.

図5、図6(a)~(c)は、収納装置100の構成を示す斜視図であり、収納装置100が第2の状態のときを示している。図6(a)、(b)は、リンク機構周辺の拡大図であり、図6(b)は、シャッタ140が省略されている。図6(c)は、図5に対応する斜視図である。また、図5、図6(a)~(c)では、第2のカセット20、筐体103、扉104、および検知手段180が省略されている。 5 and 6(a) to 6(c) are perspective views showing the configuration of the storage device 100, and show the storage device 100 in the second state. 6(a) and 6(b) are enlarged views of the vicinity of the link mechanism, and the shutter 140 is omitted in FIG. 6(b). FIG. 6(c) is a perspective view corresponding to FIG. 5. Furthermore, in FIGS. 5 and 6(a) to (c), the second cassette 20, the housing 103, the door 104, and the detection means 180 are omitted.

図5に示すように、載置部110を収納位置に移動させると、連係部材121、規制部130、支持板131、シャッタ140、および支持部160は、図3、図4に示した状態を維持しながら載置部110とともに水平移動する。このとき、図10(b)に示すように、シャッタ140とともに水平移動した連係部材121の移送ローラ121bが、受け部材152の隙間152aに嵌まり込む。このとき、移送ローラ121bが台座190を転動すると、受け部材152に連続的に乗り移ることが可能なように、移送ローラ121bの幅は広めに設定されている。また、図10(a)、(b)に示すように、受け部材152の上部の枠とシャッタ140は干渉しない。 As shown in FIG. 5, when the placing section 110 is moved to the storage position, the linking member 121, the regulating section 130, the supporting plate 131, the shutter 140, and the supporting section 160 return to the state shown in FIGS. 3 and 4. It moves horizontally together with the mounting section 110 while maintaining the same. At this time, as shown in FIG. 10(b), the transfer roller 121b of the linking member 121 that has moved horizontally together with the shutter 140 fits into the gap 152a of the receiving member 152. At this time, the width of the transfer roller 121b is set wide so that when the transfer roller 121b rolls on the base 190, it can continuously transfer onto the receiving member 152. Further, as shown in FIGS. 10A and 10B, the upper frame of the receiving member 152 and the shutter 140 do not interfere with each other.

図6(a)、(b)に示すように、収納装置100が第2の状態のとき、リンク機構170は、第1の状態と同様であるから、未だ、規制部130とシャッタ140とは僅かに離間しており、規制部130はウェーハWに当接している。これは、規制部130がウェーハWに当接している様子は、図2(b)に示されている。 As shown in FIGS. 6A and 6B, when the storage device 100 is in the second state, the link mechanism 170 is the same as in the first state, so the restriction part 130 and the shutter 140 are still separated. The regulating portion 130 is slightly spaced apart from the wafer W, and the regulating portion 130 is in contact with the wafer W. This is shown in FIG. 2(b), in which the regulating portion 130 is in contact with the wafer W.

このように、第1の状態から第2の状態、つまり、載置部110が着脱位置から収納位置へ水平移動するとき、規制部130とシャッタ140とは互いの位置関係が変化することなく、載置部110とともに水平移動する。よって、載置部110が着脱位置から収納位置へ水平移動している間、規制部130はウェーハWに当接し続ける。よって、第2のカセット20からウェーハWが供給領域側に飛び出して落下する虞はない。また、シャッタ140が供給領域側を塞いでいるため、収納装置100内に作業者の手が入り込むことを確実に防ぐ。 In this way, when the placing part 110 horizontally moves from the first state to the second state, that is, from the attachment/detachment position to the storage position, the regulating part 130 and the shutter 140 do not change their positional relationship with each other. It moves horizontally together with the mounting section 110. Therefore, while the mounting section 110 is horizontally moving from the attachment/detachment position to the storage position, the regulating section 130 continues to be in contact with the wafer W. Therefore, there is no possibility that the wafer W will jump out from the second cassette 20 toward the supply area and fall. Moreover, since the shutter 140 closes the supply area side, it is reliably prevented that the operator's hand enters into the storage device 100.

次に、収納装置100が第3の状態、つまり、載置部110が収納位置に位置し、シャッタ140が開放される直前について説明する。 Next, a description will be given of a state in which the storage device 100 is in a third state, that is, the placing portion 110 is located at the storage position and the shutter 140 is just opened.

図7、8(a)~(c)は、収納装置100の構成を示す斜視図であり、収納装置100が第3の状態のときを示している。図8(a)、(b)は、リンク機構周辺の拡大図であり、図8(b)は、シャッタ140が省略されている。図8(c)は、図11に対応する斜視図である。また、図7、8(a)~(c)では、第2のカセット20、筐体103、扉104、および検知手段180が省略されている。 7 and 8(a) to (c) are perspective views showing the configuration of the storage device 100, and show the storage device 100 in the third state. 8(a) and 8(b) are enlarged views of the vicinity of the link mechanism, and the shutter 140 is omitted in FIG. 8(b). FIG. 8(c) is a perspective view corresponding to FIG. 11. Furthermore, in FIGS. 7 and 8(a) to (c), the second cassette 20, the housing 103, the door 104, and the detection means 180 are omitted.

載置部110が収納位置に位置付けられると、収納装置100は、第2のカセット20からウェーハWが供給可能となるように、シャッタ140を開放する準備を行う。ここで、シャッタ140をいっきに昇降移動させると、規制部130もシャッタ140と一体的に昇降移動する。規制部130はウェーハWに当接しているため、規制部130はウェーハWを擦りながら昇降移動する。ウェーハWは、これは、ウェーハWの品質の低下を招くため、ウェーハWと規制部130とを離間させてから、シャッタ140を上昇させる必要がある。そこで、図7、8(a)~(c)に示すように、収納装置100において、シャッタ140を開放する準備として、ウェーハWと規制部130とを離間させる(第3の状態)。 When the mounting section 110 is positioned at the storage position, the storage apparatus 100 prepares to open the shutter 140 so that the wafer W can be supplied from the second cassette 20. Here, when the shutter 140 is moved up and down all at once, the regulating portion 130 is also moved up and down integrally with the shutter 140. Since the regulating section 130 is in contact with the wafer W, the regulating section 130 moves up and down while rubbing the wafer W. Since this causes deterioration in the quality of the wafer W, it is necessary to separate the wafer W from the regulating section 130 and then raise the shutter 140. Therefore, as shown in FIGS. 7 and 8(a) to (c), in preparation for opening the shutter 140 in the storage apparatus 100, the wafer W and the regulating part 130 are separated (third state).

図7、8(a)~(c)に示すように、駆動部151に所定の圧力が付与されると、ロッド151aが所定ストローク上昇する。これにより、ロッド151aに接続されている受け部材152は、連係部材121の移送ローラ121bが嵌まった状態で、所定ストローク上昇する。連係部材121の部材121aは、シャッタ140に装着されているため、受け部材152の上昇に伴い、連係部材121とシャッタ140とが一体的に所定ストローク上昇する。このとき、シャッタ140は、昇降スライド部材153a、153bにより上下移動可能なようにガイドされる。 As shown in FIGS. 7 and 8(a) to (c), when a predetermined pressure is applied to the drive portion 151, the rod 151a moves up by a predetermined stroke. As a result, the receiving member 152 connected to the rod 151a moves up by a predetermined stroke while the transfer roller 121b of the linking member 121 is fitted. Since the member 121a of the linking member 121 is attached to the shutter 140, as the receiving member 152 rises, the linking member 121 and the shutter 140 move up integrally by a predetermined stroke. At this time, the shutter 140 is guided so as to be vertically movable by the vertical slide members 153a and 153b.

図8(a)、(b)に示すように、シャッタ140には、リンクベース171が装着されている。このため、シャッタ140が上昇するとリンクベース171も上昇し、水平方向に維持されていた2つのリンクバー173(図10(b)参照。)が回動する。このとき、リンクプレート172に回動可能に設けられているリンクローラ174が支持部160の下部の水平面をY軸正側へ転がり、リンクプレート172をY軸正側へ移動させる。リンクプレート172は支持板131に装着されているため、支持板131もY軸正側へ移動する。これにより、支持板131に支持されている規制部130が図5、6(a)~(c)に示されていた状態から、Y軸正側へ僅かに移動する。リンクプレート172は、四つ棒リンクにより、垂直な状態を維持しながら水平方向に移動する。そして、規制部130も水平方向に移動し、規制部130はウェーハWから離間する。これにより、規制部130はウェーハWに当接することなく、すなわち、ウェーハWの位置をずらすことなく、ウェーハWから離間してから上昇することができる。 As shown in FIGS. 8A and 8B, a link base 171 is attached to the shutter 140. Therefore, when the shutter 140 rises, the link base 171 also rises, and the two link bars 173 (see FIG. 10(b)), which were maintained in the horizontal direction, rotate. At this time, a link roller 174 rotatably provided on the link plate 172 rolls on a horizontal surface at the bottom of the support portion 160 toward the positive side of the Y-axis, thereby moving the link plate 172 toward the positive side of the Y-axis. Since the link plate 172 is attached to the support plate 131, the support plate 131 also moves toward the positive side of the Y-axis. As a result, the regulating portion 130 supported by the support plate 131 moves slightly toward the positive side of the Y-axis from the state shown in FIGS. 5 and 6(a) to (c). The link plate 172 moves in the horizontal direction while maintaining a vertical state by the four-bar link. Then, the regulating section 130 also moves in the horizontal direction, and the regulating section 130 separates from the wafer W. Thereby, the regulating portion 130 can move away from the wafer W and then rise without coming into contact with the wafer W, that is, without shifting the position of the wafer W.

次に、収納装置100が第4の状態、つまり、載置部110が収納位置に位置し、シャッタ140が開放される場合について説明する。 Next, a case will be described in which the storage device 100 is in a fourth state, that is, the placing section 110 is located at the storage position and the shutter 140 is opened.

図9、10(a)、(b)は、収納装置100の構成を示す斜視図であり、収納装置100が第4の状態のときを示している。図10(a)は、リンク機構周辺の拡大図であり、図10(b)は、図13に対応する斜視図である。また、図9、10(a)、(b)では、第2のカセット20、筐体103、扉104、および検知手段180が省略されている。 9, 10(a), and (b) are perspective views showing the configuration of the storage device 100, and show the storage device 100 in the fourth state. FIG. 10(a) is an enlarged view of the vicinity of the link mechanism, and FIG. 10(b) is a perspective view corresponding to FIG. 13. Further, in FIGS. 9, 10(a), and (b), the second cassette 20, the housing 103, the door 104, and the detection means 180 are omitted.

図9、10(a)、(b)に示すように、第3の状態から続けて駆動部151に所定の圧力が付与されると、ロッド151aがさらに所定ストローク上昇する。これにより、ロッド151aに接続されている受け部材152に連係部材121の移送ローラ121bが嵌まり込んだまま、所定ストローク上昇する。これにより、シャッタ140は、規制部130と一体的に上昇し、第2の収納部102を供給領域に対して開放することができる。 As shown in FIGS. 9, 10(a), and (b), when a predetermined pressure is continuously applied to the drive unit 151 from the third state, the rod 151a further moves up by a predetermined stroke. As a result, the transfer roller 121b of the linking member 121 is moved upward by a predetermined stroke while being fitted into the receiving member 152 connected to the rod 151a. Thereby, the shutter 140 is raised integrally with the regulating part 130, and the second storage part 102 can be opened to the supply area.

なお、第1の収納部101のシャッタ140は、下方に移動する。第1の収納部101は、第2の収納部102と同様の部材および機構により構成される。第1の収納部101では、支持部160およびリンク機構170が第2の収納部102の支持部160およびリンク機構170とは上下逆向きに設けられる。その他の構成は、第2の収納部102と同様に設けられる。 Note that the shutter 140 of the first storage section 101 moves downward. The first storage section 101 is composed of the same members and mechanisms as the second storage section 102. In the first storage section 101, the support section 160 and the link mechanism 170 are provided upside down from the support section 160 and the link mechanism 170 of the second storage section 102. Other configurations are provided similarly to the second storage section 102.

上記のとおり、第1の収納部101では、リンク機構170が第2の収納部102に設けられていた状態とは上下逆向きの状態で設けられている。第2の収納部102のリンクローラ174は、自重により、リンク機構170に付勢部材を設けなくても、支持部160の段部の水平面上に安定的に位置付けられる。 As described above, in the first storage section 101, the link mechanism 170 is provided in an upside-down state from the state in which it is provided in the second storage section 102. The link roller 174 of the second storage section 102 is stably positioned on the horizontal surface of the stepped portion of the support section 160 due to its own weight, even without providing a biasing member to the link mechanism 170.

これに対し、第1の収納部101では、支持部160の段部の水平面よりもリンクローラ174は下方に位置する。これにより、リンクローラ174は自重により移動可能となる。リンクローラ174が移動すると、リンクプレート172も移動するため、リンク機構170が不安定化する。そこで、第2の収納部102のリンク機構170には、リンクローラ174を上方に付勢するための付勢部材(不図示)が設けられる。これにより、第1の収納部101のリンク機構170は、安定化する。 On the other hand, in the first storage section 101, the link roller 174 is located below the horizontal surface of the stepped portion of the support section 160. Thereby, the link roller 174 becomes movable by its own weight. When the link roller 174 moves, the link plate 172 also moves, making the link mechanism 170 unstable. Therefore, the link mechanism 170 of the second storage section 102 is provided with a biasing member (not shown) for biasing the link roller 174 upward. Thereby, the link mechanism 170 of the first storage section 101 is stabilized.

上記のような構成の収納装置100であれば各収納部から載置部110を着脱位置側に引き出すと、規制部130およびシャッタ140も引き出される。載置部110を収納位置に戻す場合も同様である。このため、載置部110の移動中、規制部130がウェーハWに対向し続けることとなり、カセットからウェーハWが落下することを確実に防ぐことができる。また、載置部110が着脱位置に位置付けられたとき、シャッタ140により各収納部の奥方が塞がれているため、オペレータが収納装置100内に手を挿入することを防ぐことができる。 With the storage device 100 configured as described above, when the placing section 110 is pulled out from each storage section toward the attachment/detachment position, the regulating section 130 and the shutter 140 are also pulled out. The same applies when returning the placing section 110 to the storage position. Therefore, while the mounting section 110 is moving, the regulating section 130 continues to face the wafer W, and it is possible to reliably prevent the wafer W from falling from the cassette. Further, when the placing section 110 is positioned at the attachment/detachment position, the back of each storage section is closed by the shutter 140, so that it is possible to prevent the operator from inserting his/her hand into the storage device 100.

次に、引き出し機構200について説明する。 Next, the drawer mechanism 200 will be explained.

図11(a)、(b)は、引き出し機構200および移動機構300の構成を示す斜視図である。 FIGS. 11A and 11B are perspective views showing the configurations of the drawer mechanism 200 and the moving mechanism 300.

引き出し機構200は、搬送路にウェーハWを供給するため、第1のカセット10および第2のカセット20からウェーハWを引き出す。引き出し機構200は、ハンド210と、駆動機構220と、ガイド部230と、退避機構240と、センサ250と、を備えている。 The pull-out mechanism 200 pulls out the wafers W from the first cassette 10 and the second cassette 20 in order to supply the wafers W to the transport path. The drawer mechanism 200 includes a hand 210, a drive mechanism 220, a guide section 230, an evacuation mechanism 240, and a sensor 250.

ハンド210は、ウェーハWの周縁部を把持する。駆動機構220は、ハンド210を水平方向に移動させる。 The hand 210 grips the periphery of the wafer W. The drive mechanism 220 moves the hand 210 in the horizontal direction.

ガイド部230は、カセットから引き出されたウェーハWを支持しながら、搬送路へ案内する。ガイド部230は、レール231a、231bと、レール231a、231bを支持するガイド支持部材232a~232cと、を備えている。レール231a、231bは、X軸正側および負側に配置されている。レール231a、231bのそれぞれの下部に、ガイド支持部材232a、232bが当接する。ガイド支持部材232a、232bのそれぞれの下部に、ガイド支持部材232cが連結される。 The guide section 230 guides the wafer W pulled out from the cassette to the transport path while supporting it. The guide section 230 includes rails 231a and 231b, and guide support members 232a to 232c that support the rails 231a and 231b. The rails 231a and 231b are arranged on the positive and negative sides of the X-axis. Guide support members 232a and 232b are in contact with the lower portions of the rails 231a and 231b, respectively. A guide support member 232c is connected to the lower part of each of the guide support members 232a and 232b.

また、ガイド支持部材232a~232cは、矩形状の板部材である。図2(a)、(b)では、ガイド支持部材232aは2体に分けられているが、一体であっても構わない
退避機構240は、収納装置100から引き出されたウェーハWが搬送路に受け渡される際、受渡位置でウェーハWを受け取る部材(たとえば、搬送路側の把持部材)とハンド210との干渉を回避させる。
Further, the guide support members 232a to 232c are rectangular plate members. In FIGS. 2(a) and 2(b), the guide support member 232a is divided into two parts, but it may be integrated into one body. When being transferred, interference between the hand 210 and a member that receives the wafer W at the transfer position (for example, a gripping member on the transport path side) is avoided.

センサ250は、ハンド210がカセットからウェーハWを引き出す際、供給対象のウェーハWを検知する。ハンド210、センサ250、および退避機構240は、Y軸負側からこの順に、連結部材を介して連結される。また、退避機構240は、ハンド210およびセンサ250よりも下方に配置される。 The sensor 250 detects the wafer W to be supplied when the hand 210 pulls out the wafer W from the cassette. The hand 210, the sensor 250, and the retraction mechanism 240 are connected via a connecting member in this order from the Y-axis negative side. Further, the retraction mechanism 240 is arranged below the hand 210 and the sensor 250.

また、退避機構240は、具体的には、エアシリンダである。退避機構240にエアシリンダ駆動部405から所定の圧力が付与されると、退避機構240と、連結部材を介して連結されているハンド210およびセンサ250とが一体的に下方に移動する。なお、エアシリンダ駆動部405は、図14(a)で図示される。 Moreover, the evacuation mechanism 240 is specifically an air cylinder. When a predetermined pressure is applied to the evacuation mechanism 240 from the air cylinder driving section 405, the evacuation mechanism 240, the hand 210 and the sensor 250 connected via the connecting member move downward integrally. Note that the air cylinder drive section 405 is illustrated in FIG. 14(a).

駆動機構220は、ハンド210に把持されたウェーハWを水平方向に移動させる。駆動機構220は、ウェーハWを水平方向に移動させる引き出しガイド部221と、引き出しガイド部221を移動させる移動部材222と、を備えている。図2(a)、(b)に示すように、引き出しガイド部221は、ガイド支持部材232a~232cにより囲まれる空間内配置されており、ガイド支持部材232cに装着される。また、移動部材222には、退避機構240が装着されている。 The drive mechanism 220 horizontally moves the wafer W held by the hand 210. The drive mechanism 220 includes a pull-out guide section 221 that moves the wafer W in the horizontal direction, and a moving member 222 that moves the pull-out guide section 221. As shown in FIGS. 2(a) and 2(b), the drawer guide portion 221 is arranged in a space surrounded by guide support members 232a to 232c, and is attached to the guide support member 232c. Furthermore, a retraction mechanism 240 is attached to the moving member 222.

引き出し機構200において、移動部材222が引き出しガイド部221を水平方向に移動すると、退避機構240、センサ250、ハンド210、ガイド部230、およびウェーハWが一体的に水平方向に移動する。 In the pull-out mechanism 200, when the moving member 222 moves the pull-out guide part 221 in the horizontal direction, the retracting mechanism 240, the sensor 250, the hand 210, the guide part 230, and the wafer W move integrally in the horizontal direction.

移動機構300は、引き出し機構200を、第1の収納部101と第2の収納部102との間で昇降移動させる。移動機構300は、引き出し機構200を昇降させる昇降ガイド310と、昇降ガイド310を昇降する昇降部材320と、を備えている。 The moving mechanism 300 moves the drawer mechanism 200 up and down between the first storage section 101 and the second storage section 102. The moving mechanism 300 includes an elevating guide 310 that moves the drawer mechanism 200 up and down, and an elevating member 320 that moves the elevating guide 310 up and down.

昇降部材320は、ガイド支持部材232bに装着されている。移動機構300において、昇降部材320が昇降ガイド310を移動することにより、昇降部材320を介して引き出し機構200が一体的に昇降する。 The elevating member 320 is attached to the guide support member 232b. In the moving mechanism 300, when the elevating member 320 moves on the elevating guide 310, the drawer mechanism 200 moves up and down integrally via the elevating member 320.

次に、基板供給システム1によるウェーハWの搬送路への供給について説明する。ここでは、基板供給システム1は、ウェーハWを搬送路500に供給する場合を想定して説明する。 Next, the supply of the wafer W to the transport path by the substrate supply system 1 will be explained. Here, the substrate supply system 1 will be described assuming that the wafer W is supplied to the transport path 500.

また、本実施の形態では、第1の収納部101に収納された第1のカセット10の最下部に収容されているウェーハWから順に搬送路に供給する。 Further, in this embodiment, the wafers W stored in the lowest part of the first cassette 10 stored in the first storage section 101 are sequentially supplied to the transport path.

図12(a)~13(b)は、基板供給システム1と搬送路500との構成を示す斜視図である。図12(a)は、引き出し機構200によりウェーハWが引き出される場合であり、図12(b)は、引き出し機構200によるウェーハWの引き出しが完了した場合である。図13(a)は、引き出し機構200が搬送路500の受渡位置にウェーハWを受け渡す直前を示しており、図13(b)は、搬送路500の受渡位置にウェーハWの受け渡しが完了した場合を示している。 12(a) to 13(b) are perspective views showing the configuration of the substrate supply system 1 and the transport path 500. 12(a) shows a case where the wafer W is pulled out by the drawing mechanism 200, and FIG. 12(b) shows a case where drawing out of the wafer W by the drawing mechanism 200 is completed. 13(a) shows the drawing mechanism 200 immediately before delivering the wafer W to the delivery position of the transport path 500, and FIG. 13(b) shows the state immediately before the delivery of the wafer W to the delivery position of the transport path 500 It shows the case.

なお、図12(a)~図13(b)では、第1の収納部101および第2の収納部102にそれぞれ設けられているシャッタ140は開放されている。 Note that in FIGS. 12(a) to 13(b), the shutters 140 provided in the first storage section 101 and the second storage section 102 are open.

図12(a)~図13(b)に示すように、搬送路500は、搬送機構510と、2つの搬送レール520と、案内部材530と、搬送ハンド540と、を備える。搬送ハンド540は、基板供給システム1から受け渡されたウェーハWを把持する。搬送レール520案内部材530に搬送ハンド540が装着されており、搬送機構510を駆動すると、案内部材530が搬送機構510のガイドに沿って移動する。これにより、搬送レール520に沿ってウェーハWが搬送される。 As shown in FIGS. 12(a) to 13(b), the conveyance path 500 includes a conveyance mechanism 510, two conveyance rails 520, a guide member 530, and a conveyance hand 540. The transfer hand 540 grips the wafer W delivered from the substrate supply system 1 . A transport hand 540 is attached to the transport rail 520 guide member 530, and when the transport mechanism 510 is driven, the guide member 530 moves along the guide of the transport mechanism 510. Thereby, the wafer W is transported along the transport rail 520.

図12(a)に示すように、移動機構300が引き出し機構200を一体的に下方に移動させ、所定の高さ位置に位置付ける。このとき、移動機構300は、ハンド210が第1のカセット10または第2のカセット20に収容されている供給対象のウェーハWと対向する位置に、引き出し機構200を一体的に移動させる。そして、供給対象のウェーハWの高さ位置に位置付けられたハンド210は、駆動機構220によりY軸負側に移動して、供給対象のウェーハWを把持する。このとき、センサ250が、供給対象のウェーハWを検知する。基板供給システム1のこの動作を、「引き出し動作」と称する。 As shown in FIG. 12(a), the moving mechanism 300 integrally moves the drawer mechanism 200 downward and positions it at a predetermined height position. At this time, the moving mechanism 300 integrally moves the pull-out mechanism 200 to a position where the hand 210 faces the wafer W to be supplied stored in the first cassette 10 or the second cassette 20. Then, the hand 210 positioned at the height of the wafer W to be supplied is moved by the drive mechanism 220 to the Y-axis negative side and grips the wafer W to be supplied. At this time, the sensor 250 detects the wafer W to be supplied. This operation of the substrate supply system 1 is referred to as a "pull-out operation."

図12(b)に示すように、ウェーハWがハンド210に把持されると、駆動機構220は、Y軸正側にウェーハWを引き出す。引き出されたウェーハWは、レール231a、231bに支持され、案内されながら引き出し位置に位置付けられる。このとき、ハンド210はウェーハWを把持した状態である。基板供給システム1のこの動作を、「引き出し完了動作」と称する。 As shown in FIG. 12(b), when the wafer W is gripped by the hand 210, the drive mechanism 220 pulls out the wafer W toward the positive side of the Y-axis. The drawn-out wafer W is supported by the rails 231a and 231b and positioned at the drawn-out position while being guided. At this time, the hand 210 is holding the wafer W. This operation of the substrate supply system 1 is referred to as a "draw-out completion operation."

図13(a)に示すように、ウェーハWが引き出し位置に位置付けられると、移動機構300は引き出し機構200を一体的に上方に移動させる。このとき、レール231a、231bの高さ位置と、搬送路500の搬送レール520の高さ位置とが一致するように、移動機構300は引き出し機構200を一体的に移動させる。また、ハンド210はウェーハWを把持した状態である。基板供給システム1のこの動作を、「受渡準備動作」と称する。 As shown in FIG. 13(a), when the wafer W is positioned at the pull-out position, the moving mechanism 300 integrally moves the pull-out mechanism 200 upward. At this time, the moving mechanism 300 integrally moves the pull-out mechanism 200 so that the height positions of the rails 231a and 231b match the height position of the transport rail 520 of the transport path 500. Furthermore, the hand 210 is in a state where it is gripping the wafer W. This operation of the substrate supply system 1 is referred to as a "delivery preparation operation."

図13(b)に示すように、引き出し機構200のレール231a、231bが搬送レール520の高さ位置、すなわち受渡位置に位置付けられると、ハンド210はウェーハWを離す。そして、退避機構240に所定の圧力が付与されて、ハンド210とセンサ250とが搬送レール520よりも下方に移動する。これにより、ハンド210とセンサ250とが、搬送ハンド540と干渉しない。なお、この状態では、ウェーハWは未だレール231a、231bに支持されている。基板供給システム1のこの動作を、「受渡完了動作」と称する。 As shown in FIG. 13B, when the rails 231a and 231b of the pull-out mechanism 200 are positioned at the height of the transport rail 520, that is, at the delivery position, the hand 210 releases the wafer W. Then, a predetermined pressure is applied to the evacuation mechanism 240, and the hand 210 and the sensor 250 move below the transport rail 520. Thereby, hand 210 and sensor 250 do not interfere with transport hand 540. Note that in this state, the wafer W is still supported by the rails 231a and 231b. This operation of the substrate supply system 1 is referred to as a "transfer completion operation."

ハンド210がウェーハWを離すと、搬送機構510を駆動により、搬送ハンド540が装着されている案内部材530が搬送機構のガイドに沿って移動し、搬送ハンド540は、ウェーハWを把持する。そして、搬送レール520に支持されながら所定の場所へウェーハWは搬送される。 When the hand 210 releases the wafer W, the guide member 530 to which the transfer hand 540 is attached moves along the guide of the transfer mechanism by driving the transfer mechanism 510, and the transfer hand 540 grips the wafer W. The wafer W is then transported to a predetermined location while being supported by the transport rails 520.

以上のようにして、基板供給システム1はウェーハWを搬送路に供給する。基板供給システム1は、上記の引き出し動作、引き出し完了動作、受渡準備動作、および受渡完了動作を供給対象のウェーハWがある間、繰り返し実行する。 As described above, the substrate supply system 1 supplies the wafer W to the transport path. The substrate supply system 1 repeatedly performs the above-described withdrawal operation, withdrawal completion operation, delivery preparation operation, and delivery completion operation while there are wafers W to be supplied.

本実施の形態では、第1のカセット10に収容されていたウェーハWが全て搬送路に供給された場合、引き出し機構200および移動機構300は、第2の収納部102に収納されている第2のカセット20からウェーハWを引き出して、搬送路に供給する。このとき、第1のカセット10からウェーハWを引き出したときと同様に、引き出し機構200および移動機構300は、第2のカセット20の最下部に収容されているウェーハWから順に引き出す。 In this embodiment, when all the wafers W stored in the first cassette 10 are supplied to the transport path, the pull-out mechanism 200 and the moving mechanism 300 move the wafers W stored in the second cassette 102 The wafer W is pulled out from the cassette 20 and supplied to the transport path. At this time, similarly to when the wafers W were pulled out from the first cassette 10, the pull-out mechanism 200 and the moving mechanism 300 pull out the wafers W stored in the lowest part of the second cassette 20 in order.

基板供給システム1が第2のカセット20からウェーハWを引き出して搬送路に供給している間、オペレータは、第1の収納部101の扉104を開け、第1の収納部101の載置部110をY軸負方向に引き出し、載置部110を着脱位置に位置付ける。そして、オペレータは、第1の収納部101の載置部110から第1のカセット10を取り出して、第1のカセット10に新たなウェーハWを収容して第1の収納部101の載置部110に載置した後、再び、第1の収納部101を収納位置に位置付けることができる。このように、第1の収納部101から第1のカセットを取り出してる間であっても、第2のカセット20からウェーハWが引き出され、搬送路への供給動作が継続されている。よって、基板供給システム1の稼働率を高めることができる。 While the substrate supply system 1 is pulling out the wafer W from the second cassette 20 and supplying it to the transport path, the operator opens the door 104 of the first storage section 101 and closes the loading section of the first storage section 101. 110 in the Y-axis negative direction, and position the mounting section 110 at the attachment/detachment position. Then, the operator takes out the first cassette 10 from the placement section 110 of the first storage section 101, stores a new wafer W in the first cassette 10, and transfers the wafer W to the placement section 110 of the first storage section 101. 110, the first storage section 101 can be positioned at the storage position again. In this way, even while the first cassette is being taken out from the first storage section 101, the wafer W is being pulled out from the second cassette 20 and the operation of supplying it to the transport path is continued. Therefore, the operating rate of the substrate supply system 1 can be increased.

なお、搬送路でのウェーハWの受け渡しは、上記のように、ハンドによってウェーハWを把持する他に、たとえば、吸着パッドを備えた部材により、ウェーハWを吸着し、保持してもよい。 The wafer W may be transferred on the transport path by holding the wafer W by hand, as described above, or by suctioning and holding the wafer W by, for example, a member equipped with a suction pad.

[基板供給システムの供給動作]
次に、基板供給システム1によるウェーハWの供給動作について説明する。図14(a)は、基板供給システム1の構成を示すブロック図である。図14(a)に示すように、基板供給システム1は、収納装置100と、引き出し機構200と、移動機構300と、を備え、さらに、制御部400と、入力部401と、検出部402と、を備える。また、引き出しガイド部221、昇降ガイド310、および退避機構240のそれぞれの駆動部である引き出しガイド駆動部403と、昇降ガイド駆動部404と、エアシリンダ駆動部405と、を備える。
[Supplying operation of board supply system]
Next, the operation of supplying the wafer W by the substrate supply system 1 will be described. FIG. 14(a) is a block diagram showing the configuration of the substrate supply system 1. As shown in FIG. As shown in FIG. 14(a), the substrate supply system 1 includes a storage device 100, a drawer mechanism 200, a movement mechanism 300, and further includes a control section 400, an input section 401, a detection section 402, , is provided. It also includes a drawer guide drive unit 403, a lift guide drive unit 404, and an air cylinder drive unit 405, which are drive units for the drawer guide unit 221, the lift guide 310, and the evacuation mechanism 240, respectively.

制御部400は、CPU等の演算処理回路や、ROM、RAM、ハードディスク等のメモリを含んでいる。制御部は、メモリに記憶されたプログラムに従って各部を制御する。 The control unit 400 includes an arithmetic processing circuit such as a CPU, and memory such as a ROM, RAM, and hard disk. The control section controls each section according to a program stored in the memory.

入力部401は、基板供給システム1がウェーハWを搬送路に供給する際の開始を受け付ける。検出部402は、基板供給システム1において、供給対象のウェーハWの位置を検出する。また、検出部402は、ウェーハWが搬送路に供給されたことを検出するよう構成してもよい。検出部402は、たとえば、センサや、撮像装置等を使用することができる。 The input unit 401 receives a start when the substrate supply system 1 supplies the wafer W to the transport path. The detection unit 402 detects the position of the wafer W to be supplied in the substrate supply system 1 . Further, the detection unit 402 may be configured to detect that the wafer W is supplied to the transport path. The detection unit 402 can use, for example, a sensor, an imaging device, or the like.

図14(b)は、本実施の形態に係る基板供給システム1の動作を示すフローチャートである。この制御は、図14(a)に示した制御部400が実行する。ここで、上記と同様に、基板供給システム1から搬送路500にウェーハWを供給する場合の動作について説明する。 FIG. 14(b) is a flowchart showing the operation of the substrate supply system 1 according to this embodiment. This control is executed by the control unit 400 shown in FIG. 14(a). Here, similarly to the above, the operation when the wafer W is supplied from the substrate supply system 1 to the transport path 500 will be described.

また、図14(b)のフローチャートにおいて、「スタート」は、入力部によりウェーハWの搬送路への供給の開始を受け付けた時点である。なお、収納装置100の第1の収納部101および第2の収納部102にはそれぞれ、ウェーハWが収容された第1のカセット10および第2のカセット20が収納されている。また、第1のカセット10の最下部に収容されているウェーハWから上方のウェーハWへ順に供給される。 Moreover, in the flowchart of FIG. 14(b), "start" is the point in time when the input unit accepts the start of supplying the wafer W to the transport path. Note that a first cassette 10 and a second cassette 20 containing wafers W are stored in the first storage part 101 and the second storage part 102 of the storage apparatus 100, respectively. Further, the wafers W housed in the lowermost part of the first cassette 10 are sequentially supplied to the upper wafers W.

ステップS11では、昇降ガイド駆動部404に昇降ガイド310を駆動させて、引き出し機構200を供給対象のウェーハWの高さ位置に移動させ、センサ250に供給対象のウェーハWを検知させる。これは、上記の引き出し動作であり、図12(a)に示した状態に相当する。 In step S11, the elevating guide drive unit 404 drives the elevating guide 310 to move the pull-out mechanism 200 to the height position of the wafer W to be supplied, and the sensor 250 is caused to detect the wafer W to be supplied. This is the above-described withdrawal operation and corresponds to the state shown in FIG. 12(a).

ステップS12では、センサ250が供給対象のウェーハWを検出すると、制御部400は、引き出しガイド駆動部403にハンド210を駆動させて、供給対象のウェーハWを把持させ、水平方向に引き出させ、引き出し位置に位置付ける。これは、上記の引き出し完了動作であり、図12(b)に示した状態に相当する。 In step S12, when the sensor 250 detects the wafer W to be supplied, the control unit 400 causes the pull-out guide drive unit 403 to drive the hand 210 to grip the wafer W to be supplied, pull it out in the horizontal direction, and pull it out. position. This is the above-described withdrawal completion operation and corresponds to the state shown in FIG. 12(b).

ステップS13では、制御部400は、昇降ガイド駆動部404に昇降ガイド310を駆動させて、引き出し機構200を搬送路500の搬送レール520の高さ位置に位置付ける。これは、上記の受渡準備動作であり、図13(a)に示した状態に相当する。 In step S13, the control unit 400 causes the elevation guide drive unit 404 to drive the elevation guide 310, and positions the pull-out mechanism 200 at the height of the transport rail 520 of the transport path 500. This is the above-mentioned delivery preparation operation and corresponds to the state shown in FIG. 13(a).

ステップS14では、検出部402が、ウェーハWが搬送レール520の高さ位置に位置していることを検出すると、制御部400は、引き出しガイド駆動部403にハンド210を駆動させて、ハンド210によるウェーハWの把持を停止させる。そして、制御部400は、エアシリンダ駆動部405に退避機構240に対して所定の圧力を付与させて、ハンド210を下方に移動させる。これにより、ハンド210と搬送ハンド540との干渉が回避される。これは、上記の受渡完了動作であり、図13(b)に示した状態に相当する。 In step S14, when the detection unit 402 detects that the wafer W is located at the height of the transport rail 520, the control unit 400 causes the pull-out guide drive unit 403 to drive the hand 210, and Gripping of the wafer W is stopped. Then, the control unit 400 causes the air cylinder drive unit 405 to apply a predetermined pressure to the retraction mechanism 240, and moves the hand 210 downward. This avoids interference between the hand 210 and the transport hand 540. This is the above-described transfer completion operation and corresponds to the state shown in FIG. 13(b).

ステップS14の後、ウェーハWは搬送路500に受け渡され(図13(b)参照。)、所定の場所に搬送される。ステップS15では、検出部402が、ウェーハWの受け渡しが完了したことを検出すると、制御部400は、供給対象のウェーハWが第1のカセット10または第2のカセット20にあるか否か判定する。供給すべきウェーハWがある場合(S15;YES)、上記のステップS11~S14の各動作を繰り返し実行する。供給対象のウェーハWがない場合(S15;NO)、基板供給システム1によるウェーハWの搬送路への供給が終了する。 After step S14, the wafer W is delivered to the transport path 500 (see FIG. 13(b)) and transported to a predetermined location. In step S15, when the detection unit 402 detects that the delivery of the wafer W is completed, the control unit 400 determines whether the wafer W to be supplied is in the first cassette 10 or the second cassette 20. . If there is a wafer W to be supplied (S15; YES), each operation of steps S11 to S14 described above is repeatedly executed. If there is no wafer W to be supplied (S15; NO), the supply of the wafer W to the transport path by the substrate supply system 1 ends.

なお、基板供給システム1は、第1のカセット10および第2のカセット20の状態を表示する表示部を備えるよう構成してもよい。たとえば、基板供給システム1に図示しない表示画面が接続されており、第1のカセット10および第2のカセット20のどちらにも未処理、すなわち、供給対象のウェーハWが残存している場合、表示画面に「処理中」と表示される。この表示により、オペレータは、第1のカセット10または第2のカセット20からウェーハWが搬送路に供給されていることを把握することができる。 Note that the substrate supply system 1 may be configured to include a display unit that displays the status of the first cassette 10 and the second cassette 20. For example, if a display screen (not shown) is connected to the substrate supply system 1, and there are unprocessed wafers W remaining in both the first cassette 10 and the second cassette 20, that is, the wafers W to be supplied remain, the display "Processing" is displayed on the screen. This display allows the operator to understand that the wafer W is being supplied to the transport path from the first cassette 10 or the second cassette 20.

また、第1のカセット10が空になった場合、あるいは、予定数のウェーハWが搬送路に供給された場合であって、第2のカセット20には未処理のウェーハWが残存する場合、「第1のカセット10:処理完了」と表示される。この表示により、オペレータは、直ぐに第1のカセット10を第1の収納部101から取り出し、第1のカセット10に新たにウェーハWを収容し、再び、第1のカセット10を第1の収納部101に収納することができる。 Further, when the first cassette 10 is empty, or when the planned number of wafers W has been supplied to the transport path, and unprocessed wafers W remain in the second cassette 20, "First cassette 10: Processing completed" is displayed. With this display, the operator immediately takes out the first cassette 10 from the first storage section 101, stores a new wafer W in the first cassette 10, and then moves the first cassette 10 back into the first storage section. 101.

また、第1のカセット10および第2のカセット20が空になった場合、あるいは、予定数のウェーハWが搬送路に供給された場合、「処理完了」と表示される。この表示により、オペレータは、ウェーハWの供給が完了したことを把握することができる。 Furthermore, when the first cassette 10 and the second cassette 20 are empty, or when the planned number of wafers W have been supplied to the transport path, "processing complete" is displayed. This display allows the operator to understand that the supply of wafers W has been completed.

このように、表示部を設けた場合、オペレータは、収納装置100に収納されている第1のカセット10および第2のカセット20の状態を迅速に把握することができるため、円滑に作業を行うことができる。 In this way, when the display section is provided, the operator can quickly grasp the status of the first cassette 10 and the second cassette 20 stored in the storage device 100, so that the operator can work smoothly. be able to.

上記のように基板供給システム1を構成すれば、図12(a)~図13(b)に示すように、引き出し機構200が第2の収納部102に収納されている第2のカセットからウェーハWを引き出して搬送路に供給している間、第1のカセット10内が空の場合、オペレータは、第1の収納部101から載置部110を引き出し、第1のカセット10を載置部110から取り出して、第1のカセット10に供給対象のウェーハWを収容する。そして、再び第1の収納部101に第1のカセット10を収納することができる。これにより、第1のカセット10から全てのウェーハWが搬送路に供給された場合、引き出し機構200による供給動作を一旦停止することなく、第1のカセット10にウェーハWを収容し、第1の収納部101に収納することができる。よって、第1のカセット10および第2のカセット20から連続的にウェーハWを搬送路に供給でき、基板供給システム1の稼働率を高めることができる。 When the substrate supply system 1 is configured as described above, as shown in FIGS. 12(a) to 13(b), the pull-out mechanism 200 extracts wafers from the second cassette stored in the second storage section 102. If the first cassette 10 is empty while the W is being pulled out and supplied to the conveyance path, the operator pulls out the loading section 110 from the first storage section 101 and places the first cassette 10 in the loading section. The wafer W to be supplied is taken out from the cassette 110 and placed in the first cassette 10 . Then, the first cassette 10 can be stored in the first storage section 101 again. As a result, when all the wafers W are supplied from the first cassette 10 to the transport path, the wafers W are accommodated in the first cassette 10 without temporarily stopping the supply operation by the pull-out mechanism 200, and the wafers W are It can be stored in the storage section 101. Therefore, the wafers W can be continuously supplied to the transport path from the first cassette 10 and the second cassette 20, and the operating rate of the substrate supply system 1 can be increased.

また、第2のカセット20から搬送路に供給されたウェーハWは、所定の装置で加工された後、同じ搬送路を通って、第2のカセット20に戻らせるようにしてもよい。この場合、第2のカセット20から搬送路に供給されたウェーハWの全てが第2のカセット20に戻った後、第2の収納部102から第2のカセット20を取り出し、第2のカセット20から加工後のウェーハWを回収し、未加工のウェーハWを第2のカセット20に収容して、再び、第2の収納部102に収納することができる。 Further, the wafer W supplied from the second cassette 20 to the transport path may be processed by a predetermined device and then returned to the second cassette 20 through the same transport path. In this case, after all the wafers W supplied from the second cassette 20 to the transport path have returned to the second cassette 20, the second cassette 20 is taken out from the second storage section 102, and the second cassette 20 is removed from the second cassette 20. The processed wafer W can be recovered from the wafer W, the unprocessed wafer W can be stored in the second cassette 20, and the unprocessed wafer W can be stored in the second storage section 102 again.

また、基板供給システム1は、収納装置100を上下、左右方向に移動させることがない。一般に、半導体ウェーハは、薄膜で脆く、衝撃に弱い。このため、収納装置100が移動すると、揺れや振動により、供給対象のウェーハWが破損する虞がある。この点、基板供給システム1では、ウェーハWの引き出しは、引き出し機構200と移動機構300とによって行われている。よって、ウェーハWが収納装置100内で破損することを確実に防ぐことができる。 Further, the substrate supply system 1 does not move the storage device 100 in the vertical or horizontal directions. In general, semiconductor wafers are thin, brittle, and susceptible to impact. Therefore, when the storage apparatus 100 moves, there is a possibility that the wafers W to be supplied may be damaged due to shaking or vibration. In this regard, in the substrate supply system 1, the wafer W is pulled out by the pull-out mechanism 200 and the moving mechanism 300. Therefore, it is possible to reliably prevent the wafers W from being damaged within the storage apparatus 100.

また、引き出し機構200は、レール231a、231bを備える。これにより、ハンド210がウェーハWを引き出すとき、ウェーハWは、レール231a、231bにより支持されながら引き出される。よって、ウェーハWの引き出しを円滑に行うことができる。 Further, the drawer mechanism 200 includes rails 231a and 231b. Thereby, when the hand 210 pulls out the wafer W, the wafer W is pulled out while being supported by the rails 231a and 231b. Therefore, the wafer W can be pulled out smoothly.

また、収納装置100において、第1の収納部101と第2の収納部102とは、ウェーハWの積層方向に並んで配置されている。これにより、引き出し機構200を積層方向のみに移動させ、第1のカセット10および第2のカセット20のウェーハWにハンド210を位置付けることができる。よって、移動機構300の構成および制御を簡素にできる。 Furthermore, in the storage device 100, the first storage section 101 and the second storage section 102 are arranged side by side in the stacking direction of the wafers W. Thereby, the pull-out mechanism 200 can be moved only in the stacking direction, and the hand 210 can be positioned on the wafers W of the first cassette 10 and the second cassette 20. Therefore, the configuration and control of the moving mechanism 300 can be simplified.

また、基板供給システム1において、積層方向は、上下方向である。これにより、ウェーハWを安定した状態で第1のカセット10および第2のカセット20に収容できる。また、ウェーハWを第1のカセット10および第2のカセット20から安定的に、水平方向に引き出すことができる。 Further, in the substrate supply system 1, the stacking direction is the vertical direction. Thereby, the wafers W can be housed in the first cassette 10 and the second cassette 20 in a stable state. Further, the wafer W can be stably drawn out from the first cassette 10 and the second cassette 20 in the horizontal direction.

また、基板供給システム1では、第1の収納部101の第1のカセット10からウェーハWを供給する。つまり、引き出し機構200は積層方向に行き来することなく、下方から上方の一方向に移動する。よって、第1のカセット10が空になった場合、速やかに収納装置100から第1のカセット10を取り出して、新たなウェーハWをその第1のカセット10に収容し、再び、第1の収納部101に収納することができる。よって、ウェーハWの供給が円滑に、また、効率よく行われる。 Further, in the substrate supply system 1, wafers W are supplied from the first cassette 10 of the first storage section 101. In other words, the drawer mechanism 200 moves in one direction from the bottom to the top without moving back and forth in the stacking direction. Therefore, when the first cassette 10 becomes empty, the first cassette 10 is promptly taken out from the storage device 100, a new wafer W is stored in the first cassette 10, and the first cassette 10 is placed in the first storage again. It can be stored in the section 101. Therefore, the supply of wafers W is performed smoothly and efficiently.

なお、ウェーハWの供給を、第2のカセット20から行ってもよい。この場合、引き出し機構200が積層方向に一方向に移動するよう、第2のカセット20の最上部に収容されているウェーハWから順に供給すればよい。 Note that the wafers W may be supplied from the second cassette 20. In this case, the wafers W may be supplied in order from the top of the second cassette 20 so that the pull-out mechanism 200 moves in one direction in the stacking direction.

また、基板供給システム1では、第1の収納部101の第1のカセット10からウェーハWを供給する場合、第1のカセット10の最下部に収容されているウェーハWから順にウェーハWを供給する。これにより、効率よく1つのカセットからウェーハWを搬送路に供給することができる。よって、空になった、あるいは、加工後のウェーハWが収容されたカセットを、収納装置100から取り出して未加工のウェーハWをカセットに収容し、再び、収納装置100に収納するという作業のサイクルを早めることができる。 Further, in the substrate supply system 1, when supplying the wafers W from the first cassette 10 of the first storage section 101, the wafers W are supplied in order from the wafer W accommodated at the bottom of the first cassette 10. . Thereby, the wafers W can be efficiently supplied to the transport path from one cassette. Therefore, the work cycle is such that an empty cassette or a cassette containing processed wafers W is taken out from the storage device 100, unprocessed wafers W are stored in the cassette, and the cassette is stored in the storage device 100 again. can be accelerated.

<実施形態の効果>
図3に示すように、規制部130は、支持部160およびリンク機構170を介して載置部110に支持されている。このため、規制部130は、載置部110の移動に伴い一体的に水平方向に移動する。このため、着脱位置から収納位置にカセットおよび載置部110を水平に移動させている間、規制部130は、カセットに収容されたウェーハWの供給領域側の部分と当接する。これにより、載置部110の移動の間に、カセットからウェーハWが供給領域側に飛び出して落下することを確実に防ぐことができる。
<Effects of embodiment>
As shown in FIG. 3, the regulating section 130 is supported by the mounting section 110 via a supporting section 160 and a link mechanism 170. Therefore, the regulating section 130 moves integrally with the movement of the placing section 110 in the horizontal direction. Therefore, while the cassette and the mounting section 110 are horizontally moved from the attachment/detachment position to the storage position, the restriction section 130 comes into contact with the portion of the wafer W housed in the cassette on the supply area side. Thereby, it is possible to reliably prevent the wafer W from jumping out from the cassette to the supply area side and falling during the movement of the mounting section 110.

図3、図4に示すように、載置部110が着脱位置に位置付けられた状態において、載置部110の出入り口がシャッタ140で塞がれるため、カセットの着脱の際に、オペレータが不意に収納装置100の内部に手を挿入することを防ぐことができる。 As shown in FIGS. 3 and 4, when the loading section 110 is positioned at the loading/unloading position, the entrance/exit of the loading section 110 is blocked by the shutter 140. It is possible to prevent hands from being inserted into the storage device 100.

図7、図8(a)~(c)に示すように、規制部130を上昇または下降させて、第2の収納部102の供給領域側を開放する際に、規制部130をウェーハWから供給領域側に退避させることができる。よって、規制部130がウェーハWに擦れながら昇降することを回避でき、ウェーハWが損傷することを防ぐことができる。 As shown in FIGS. 7 and 8(a) to 8(c), when the regulating section 130 is raised or lowered to open the supply area side of the second storage section 102, the regulating section 130 is removed from the wafer W. It can be evacuated to the supply area side. Therefore, the regulating portion 130 can be prevented from moving up and down while rubbing against the wafer W, and the wafer W can be prevented from being damaged.

また、シャッタ140を昇降させる昇降機構150が規制部130の昇降に共用されるため、機構系および制御系を簡素化できる。 In addition, since the elevating mechanism 150 for elevating and lowering the shutter 140 is also used for elevating and lowering the regulating section 130, the mechanical system and control system can be simplified.

図5、図6(a)~(c)に示すように、載置部110が収納位置に移動すると、シャッタ140に装着されている連係部材121が昇降機構150側の受け部材152に嵌まって、昇降機構150とシャッタ140とが連係される。これにより、収納位置において、シャッタ140を、昇降機構150により円滑に昇降させることができる。 As shown in FIGS. 5 and 6(a) to (c), when the placing section 110 moves to the storage position, the linking member 121 attached to the shutter 140 fits into the receiving member 152 on the lifting mechanism 150 side. Thus, the elevating mechanism 150 and the shutter 140 are linked. Thereby, the shutter 140 can be smoothly raised and lowered by the raising and lowering mechanism 150 in the storage position.

また、移送ローラ121bが連係部材121として兼用されるため、構成の簡素化を図ることができる。また、収納位置において、移送ローラ121bが受け部材152に嵌まって連係部材121の移動が規制されるため、載置部110を収納位置に適切に位置付けることができる。 Further, since the transfer roller 121b is also used as the linking member 121, the configuration can be simplified. Further, in the storage position, the transfer roller 121b fits into the receiving member 152 to restrict movement of the linking member 121, so that the placing portion 110 can be appropriately positioned in the storage position.

なお、本実施の形態では、収納装置100に2つの収納部を設ける構成としたが、3つ以上設けてもよい。 In this embodiment, the storage device 100 is configured to have two storage sections, but three or more storage sections may be provided.

また、搬送路に供給されたウェーハWが、供給前に収容されていたカセットに戻るように構成しても構わない。この場合、受渡位置にて搬送路から引き出し機構200のハンド210にウェーハWが受け渡される。移動機構300は、引き出し機構200をウェーハWの供給前の位置に位置付ける。そして、引き出し機構200によりウェーハWがカセットに挿入される。 Further, the wafer W supplied to the transport path may be configured to return to the cassette in which it was housed before being supplied. In this case, the wafer W is delivered to the hand 210 of the pull-out mechanism 200 from the transport path at the delivery position. The moving mechanism 300 positions the pull-out mechanism 200 at a position before the wafer W is supplied. Then, the wafer W is inserted into the cassette by the pull-out mechanism 200.

このように構成した場合、所定の処理がなされたウェーハWを纏めて回収し、別の工程へと移ることができる。 With this configuration, the wafers W that have been subjected to a predetermined process can be collected all at once and moved to another process.

また、上記の収納装置100は、ウェーハを加工する複数のユニットと組み合わせて、基板加工装置30を構成することができる。 Furthermore, the storage device 100 described above can be combined with a plurality of units that process wafers to configure the substrate processing device 30.

図15は、基板供給システム1を備える基板加工装置30の構成を示す斜視図である。図15に示すように、基板加工装置30は、ウェーハWの表面にスクライブラインを形成するスクライブユニット40と、スクライブラインが形成されたウェーハWの表面にフィルムを貼付するフィルムラミネートユニット50と、フィルムが貼付された面が下側となるようにウェーハWを反転させる反転ユニット60と、フィルムが貼付されていない面に所定の力を付与してスクライブラインに沿ってウェーハWを分断するブレイクユニット70と、ウェーハWを所定の位置に搬送する搬送部80と、を備える。なお、図15では、基板供給システム1は、筐体で覆われている
上記の構成の基板加工装置30は、基板供給システム1により、円滑にウェーハWが供給されるため、装置の稼働率を高めることができる。
FIG. 15 is a perspective view showing the configuration of a substrate processing apparatus 30 including the substrate supply system 1. As shown in FIG. As shown in FIG. 15, the substrate processing apparatus 30 includes a scribing unit 40 that forms scribe lines on the surface of the wafer W, a film laminating unit 50 that affixes a film to the surface of the wafer W on which the scribe lines are formed, and a film laminating unit 50 that affixes a film to the surface of the wafer W on which the scribe line is formed. an inversion unit 60 that inverts the wafer W so that the surface to which the film is attached is on the lower side; and a break unit 70 that divides the wafer W along the scribe line by applying a predetermined force to the surface to which no film is attached. and a transport section 80 that transports the wafer W to a predetermined position. In FIG. 15, the substrate supply system 1 is covered with a housing. In the substrate processing apparatus 30 having the above configuration, the substrate supply system 1 smoothly supplies wafers W, so that the operating rate of the apparatus can be reduced. can be increased.

本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。 The embodiments of the present invention can be appropriately modified in various ways within the scope of the technical idea shown in the claims.

1…基板供給システム
10…第1のカセット
20…第2のカセット
30…基板加工装置
40…スクライブユニット
50…フィルムラミネートユニット
60…反転ユニット
70…ブレイクユニット
80…搬送部
110…載置部
120…移動部
121…連係部材
121b…移送ローラ
130…規制部
140…シャッタ
150…昇降機構
152…受け部材
170…リンク機構
180…検知手段
W…基板(ウェーハ)
1...Substrate supply system 10...First cassette 20...Second cassette 30...Substrate processing device 40...Scribe unit 50...Film laminating unit 60...Reversing unit 70...Break unit 80...Transportation section 110...Placement section 120... Moving part 121...Linking member 121b...Transfer roller 130...Regulating part 140...Shutter 150...Elevating mechanism 152...Receiving member 170...Link mechanism 180...Detecting means W...Substrate (wafer)

Claims (8)

複数の基板が引き出し可能に積層して収容されたカセットから前記基板を引き出して処理工程に供するために、前記カセットを収納する収納装置であって、
前記カセットが着脱可能に載置される載置部と、
前記カセットの着脱位置と前記カセットの収納位置との間で前記載置部を水平に移動させる移動部と、
前記載置部に昇降可能に支持され、前記載置部に載置された前記カセットの奥側の端面に対向し、前記基板が前記カセットから奥側に飛び出すことを規制する規制部と、を備える、ことを特徴とする収納装置
A storage device for storing a cassette in which a plurality of substrates are pulled out from a cassette in which a plurality of substrates are stacked in a drawable manner and subjected to a processing step, the storage device comprising:
a mounting section on which the cassette is removably mounted;
a moving unit that horizontally moves the mounting unit between the cassette attachment/detachment position and the cassette storage position;
a regulating section that is movably supported by the mounting section, faces a rear end surface of the cassette placed on the mounting section , and restricts the substrate from jumping out from the cassette to the rear side ; A storage device characterized by comprising:
請求項1に記載の収納装置において、
前記規制部は、昇降に伴い前記規制部を前記カセットの奥側の端面に接近および離間させるリンク機構を介して、支持部に支持されている、
ことを特徴とする収納装置。
The storage device according to claim 1,
The regulating section is supported by a support section via a link mechanism that causes the regulating section to approach and move away from the rear end surface of the cassette as the regulating section moves up and down.
A storage device characterized by:
請求項1または2に記載の収納装置において、
前記規制部の奥側において前記載置部に昇降可能に支持されたシャッタと、
前記収納位置において、前記シャッタを昇降させる昇降機構と、を備え、
前記規制部は、前記シャッタに一体的に支持されている、
ことを特徴とする収納装置。
The storage device according to claim 1 or 2,
a shutter that is movably supported by the mounting section on the back side of the regulating section ;
an elevating mechanism for elevating and lowering the shutter in the storage position;
The regulating portion is integrally supported by the shutter.
A storage device characterized by:
請求項3に記載の収納装置において、
前記昇降機構は、上下方向に駆動される受け部材を備え、
前記シャッタには、前記収納位置において前記受け部材に嵌まる連係部材が一体的に設置されている、ことを特徴とする収納装置。
The storage device according to claim 3,
The elevating mechanism includes a receiving member that is driven in the vertical direction,
The storage device according to claim 1, wherein the shutter is integrally provided with a linking member that fits into the receiving member in the storage position.
請求項4に記載の収納装置において、
前記シャッタに一体的に設けられ、前記載置部を前記着脱位置と前記収納位置との間で移送するための移送ローラを備え、
前記移送ローラは、前記連係部材を構成し、
前記載置部が前記収納位置に移動すると、前記移送ローラが前記受け部材に嵌まる、ことを特徴とする収納装置。
The storage device according to claim 4,
a transfer roller that is integrally provided with the shutter and that transfers the mounting section between the attachment/detachment position and the storage position;
The transfer roller constitutes the linking member,
The storage device according to claim 1, wherein when the placement section moves to the storage position, the transfer roller fits into the receiving member.
請求項1ないし5の何れか一項に記載の収納装置において、
前記カセットから前記基板が飛び出しているか否かを検知する検知手段を備える、ことを特徴とする収納装置。
The storage device according to any one of claims 1 to 5,
A storage device comprising: a detection means for detecting whether or not the substrate has protruded from the cassette.
請求項1ないし6の何れか一項に記載の収納装置において、
第1のカセットを着脱可能に収納する第1の収納部と、
第2のカセットを着脱可能に収納する第2の収納部と、を備え、
前記第1のカセットから前記基板を引き出して処理工程に供している間、前記第2のカセットを前記第2の収納部から取り出す、ことを特徴とする収納装置。
The storage device according to any one of claims 1 to 6,
a first storage section that removably stores the first cassette;
a second storage section that removably stores the second cassette;
A storage device characterized in that, while the substrate is being pulled out from the first cassette and subjected to a processing step, the second cassette is taken out from the second storage section.
複数の基板が引き出し可能に積層して収容されたカセットから基板を引き出して処理工程に供するために、カセットを収納する収納装置であって、
前記カセットが着脱可能に載置される載置部と、
前記カセットの着脱位置と前記カセットの収納位置との間で前記載置部を水平に移動させる移動部と、
前記載置部に昇降可能に支持され、前記載置部に載置された前記カセットの奥側の端面に対向し、前記基板が前記カセットから奥側に飛び出すことを規制する規制部と、を備える収納装置と、
基板の表面にスクライブラインを形成するスクライブユニットと、
前記スクライブラインが形成された前記基板の表面にフィルムを貼付するフィルムラミネートユニットと、
前記フィルムが貼付された面が下側となるように前記基板を反転させる反転ユニットと、
前記フィルムが貼付されていない面に所定の力を付与して前記スクライブラインに沿って前記基板を分断するブレイクユニットと、
前記基板を所定の位置に搬送する搬送部と、を備えることを特徴とする、基板加工装置。
A storage device for storing a cassette in order to pull out a substrate from a cassette in which a plurality of substrates are stacked and housed in a drawable manner and use it for a processing process, the storage device comprising:
a mounting section on which the cassette is removably mounted;
a moving unit that horizontally moves the mounting unit between the cassette attachment/detachment position and the cassette storage position;
a regulating section that is movably supported by the mounting section, faces a rear end surface of the cassette placed on the mounting section , and restricts the substrate from jumping out from the cassette to the rear side ; A storage device comprising;
a scribe unit that forms scribe lines on the surface of the substrate;
a film laminating unit that attaches a film to the surface of the substrate on which the scribe line is formed;
an inversion unit that inverts the substrate so that the surface to which the film is attached faces downward;
a break unit that divides the substrate along the scribe line by applying a predetermined force to the surface to which the film is not attached;
A substrate processing apparatus, comprising: a transport section that transports the substrate to a predetermined position.
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