JPWO2019182847A5 - - Google Patents
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また、プロセッサ108は、クロック信号などのデジタルパルス信号136を生成し、デジタルパルス信号136をデジタル信号プロセッサDSPAに提供する。さらに、プロセッサ108は、別のデジタルパルス信号138を生成し、デジタルパルス信号138をデジタル信号プロセッサDSPAに提供する。デジタルパルス信号136は、接続媒体140を介してデジタル信号プロセッサDSPAに供給される。同様に、デジタルパルス信号138は、別の接続媒体142を介してデジタル信号プロセッサDSPAに供給される。接続媒体140は、プロセッサ108をデジタル信号プロセッサDSPAに接続し、接続媒体142は、プロセッサ108をデジタル信号プロセッサDSPAに接続する。
様々な実施形態では、デジタルパルス信号138が状態S4および状態S5のない状態S1ないしS3の3つの状態を有するときは、デジタルパルス信号138の発生状態がS1、S2、またはS3であるとの特定に応答して、デジタル信号プロセッサDSPAは、パラメータ制御装置PRAS(n-N)、パラメータ制御装置PRAS(n-1)、およびパラメータ制御装置PRAS(n)のうちの対応する1つに信号を送信する。対応するパラメータ制御装置PRAS(n-N)、パラメータ制御装置PRAS(n-1)、またはパラメータ制御装置PRAS(n)は、デジタルパルス信号138の状態S1、状態S2、または状態S3の発生中に信号を受信すると、パラメータ制御装置に格納されたパラメータレベルにアクセスし、ドライバシステムDRVRAにパラメータレベルを提供する。いくつかの実施形態では、デジタルパルス信号138が状態S5のない状態S1ないし状態S4の4つの状態を有するときは、デジタルパルス信号138の発生状態がS1、S2、S3、またはS4であるとの認識に応答して、デジタル信号プロセッサDSPAは、パラメータ制御装置PRAS(n-N)、パラメータ制御装置PRAS(n-2)、パラメータ制御装置PRAS(n-1)、およびパラメータ制御装置PRAS(n)のうちの対応する1つに信号を送信する。対応するパラメータ制御装置PRAS(n-N)、パラメータ制御装置PRAS(n-2)、パラメータ制御装置PRAS(n-1)、またはパラメータ制御装置PRAS(n)は、デジタルパルス信号138の状態S1、状態S2、状態S3、または状態S4の発生中に信号を受信すると、パラメータ制御装置に格納されたパラメータレベルにアクセスし、ドライバシステムDRVRAにパラメータレベルを提供する。
状態S1の間のデジタルパルス信号204のデューティサイクルは、p%(pは、100未満の正の実数)であることに注意されたい。例えば、p%は、20%から40%を含む範囲である。また、状態S2の間のデジタルパルス信号204のデューティサイクルは、q%(qは、100未満の正の実数)である。例えば、q%は、20%から40%を含む範囲である。加えて、状態S3の間のデジタルパルス信号204のデューティサイクルは、(100-p-q)%である。例えば、状態S3の間のデジタルパルス信号204のデューティサイクルは、20%から40%を含む範囲である。デジタルパルス信号204の状態S1から状態S3のデューティサイクルは、デジタルパルス信号204の1回のサイクル発生である100%に増えることに注意されたい。
周波数216の低レベルでのパルス化と同時にパラメータ212が低レベルでパルス化され、周波数216の高レベルでのパルス化と同時にパラメータ212が高レベルでパルス化されるときは、図1のプラズマチャンバ112内部でプラズマイオンの角度拡散が低減する。角度拡散の低減は、図1の基板118のエッチングなどの処理の速度を増加させる。低レベルの周波数216の例は、周波数レベルf1であり、高レベルの周波数216は、周波数レベルf2である。低レベルのパラメータ212の例は、パラメータレベルPR1であり、高レベルのパラメータ212の例は、パラメータレベルPR3である。
デジタルパルス信号304の状態S1から状態S4は、時間t43の後に定期的に繰り返す。例えば、時間t43から時間t53の期間のデジタルパルス信号304のロジックレベルは1であり、時間t53から時間t63の期間のデジタルパルス信号304のロジックレベルは2であり、時間t63から時間t73の期間のデジタルパルス信号304のロジックレベルは3であり、時間t73から時間t83の期間のデジタルパルス信号304のロジックレベルは4である。別の例として、時間t83から時間t93の期間のデジタルパルス信号304のロジックレベルは1であり、時間t93から時間t103の期間のデジタルパルス信号304のロジックレベルは2であり、時間t103から時間t113の期間のデジタルパルス信号304のロジックレベルは3であり、時間t113から時間t123の期間のデジタルパルス信号304のロジックレベルは4である。
状態S1の間のデジタルパルス信号304のデューティサイクルは、p11%(p11は、100未満の正の実数)であることに注意されたい。例えば、p11%は、15%から35%を含む範囲である。また、状態S2の間のデジタルパルス信号304のデューティサイクルは、q11%(q11は、100未満の正の実数)である。例えば、q11%は、15%から35%を含む範囲である。加えて、状態S3の間のデジタルパルス信号304のデューティサイクルは、r11%である。例えば、r11%は、15%から35%を含む範囲である。状態S4の間のデジタルパルス信号304のデューティサイクルは、(100-p11-q11-r11)%である。状態S1から状態S4の間のデジタルパルス信号304のデューティサイクルは、デジタルパルス信号304の1サイクルの発生である100%まで増加する。
グラフ322は、時間tに対するRF信号122の周波数324を表す。周波数324は、デジタルパルス信号320と同時発生(例えば、実質的に同期)し、図3Aの周波数316に対して反転してパルス化される。例えば、周波数324は、時間0から時間t13の期間に状態S1を有し、時間t13から時間t43の期間に状態S0を有する。例えば、周波数324は、時間0から時間t13の期間に周波数レベルf2を有し、時間t13から時間t43の期間に周波数レベルf1を有する。別の例として、周波数324は、デジタルパルス信号320がロジックレベル1からロジックレベル0に遷移する時間t13において、または時間t13から既定の期間内になど、ほぼ同時に周波数レベルf2から周波数レベルf1に遷移する。さらに別の例として、周波数324は、デジタルパルス信号320がロジックレベル0からロジックレベル1に遷移する時間t43において、または時間t43から既定の期間内になど、ほぼ同時に周波数レベルf1から周波数レベルf2に遷移する。
状態S1の間のデジタルパルス信号404のデューティサイクルは、p111%であることに注意されたい(p111は、100未満の正の実数)。例えば、p111%は、10%から24%を含む範囲である。また、状態S2の間のデジタルパルス信号404のデューティサイクルは、q111%である(q111は、100未満の正の実数)。例えば、q111%は、10%から24%を含む範囲である。加えて、状態S3の間のデジタルパルス信号404のデューティサイクルは、r111%である。例えば、r111%は、10%から24%を含む範囲である。状態S4の間のデジタルパルス信号404のデューティサイクルは、s111%である。例えば、s111%は、10%から24%を含む範囲である。状態S5の間のデジタルパルス信号404のデューティサイクルは、(100-p111-q111-r111-s111)%である。デジタルパルス信号404の状態S1から状態S5のデューティサイクルは、デジタルパルス信号404の1サイクルの発生である100%まで増加する。
図4Bに関する別の例として、周波数レベルf2は、パラメータレベルPR311がパラメータレベルPR411にパルス化される時間t34、もしくは時間t84、もしくは時間t104に、または、時間t34、もしくは時間から既定の期間内になど、ほぼ同時に周波数レベルf1にパルス化される。また、周波数レベルf1は、パラメータレベルPR511がパラメータレベルPR111にパルス化される時間0、もしくは時間t54、もしくは時間t104に、または、時間0、もしくは時間t54、もしくは時間t104から既定の期間内になど、ほぼ同時に周波数レベルf2にパルス化される。
「ほぼ同時に」という用語は、本明細書では時に「略同期して」を意味し、これらの用語は、本明細書では同義で用いられることに注意されたい。また、RF信号122の周波数は、RF信号122のパラメータと同時に(例えば、略同期して)パルス化することにさらに注意されたい。例えば、周波数レベルf2は、パラメータレベルPR311からパラメータレベルPR411にパルス化する時間t34、もしくは時間t84、もしくは時間t104に、または、時間t34、もしくは時間t84から既定の期間内になど、略同期して周波数レベルf1にパルス化される。また、周波数レベルf1は、パラメータレベルPR511からパラメータレベルPR111にパルス化する時間0、もしくは時間t54、もしくは時間t104に、または、時間0、もしくは時間t54、もしくは時間t104から既定の期間内になど、略同期して周波数レベルf2にパルス化される。
図5Jは、5レベルパルスのパラメータの図1のRF信号122が基板支持体114(図1)に印加され、RF信号122が一定の周波数レベルを有するときの、図1のプラズマチャンバ112内のプラズマイオンのエネルギを表すグラフ520の実施形態である。グラフ520は、プラズマチャンバ112内のイオンの角度拡散に対するプラズマチャンバ112内のプラズマイオンのエネルギを示す。5レベルパルスのパラメータのRF信号122は、RF信号122のパラメータレベルを状態S1から状態S5の5つの状態の間でパルス化することである。5レベルパルスのパラメータのRF信号122は、図4Aおよび図4Bのグラフ410に表されている。グラフ514、グラフ516、グラフ518、およびグラフ520に表されるように、マスク層内に形成される経路の上部における角度拡散は、グラフ502、グラフ504、グラフ506、グラフ508、およびグラフ512に表される角度分布より小さい。また、プラズマチャンバ112内のプラズマイオンのエネルギは、経路の底部において、連続波電圧信号を用いて実現されたプラズマリアクタ内のプラズマイオンのエネルギより小さい。さらに、グラフ516、グラフ518、およびグラフ520に表されるように、RF信号122のパラメータのレベル数の増加に伴って図1の基板118に関するマスク選択性が増加する。
図10Bは、図1の基板支持体114における時間に対するRF信号122(図1)によって生成されたDCバイアスを示すグラフ1006の実施形態である。グラフ1006は、マルチレベルパルスのパラメータのRF信号122、および2レベルパルスの周波数のRF信号122が基板支持体114に印加されたときに形成される。グラフ1006に示されたDCバイアスのRC時定数は、約200μsであることに注意されたい。従って、RF信号122の周波数が一定周波数レベルにあるときと比較して、RF信号122の周波数がパルス化されるときは、RC時定数が増加する。RC時定数の増加は、図1のプラズマチャンバ112内のプラズマのシース電圧の増加を促す。また、RC時定数の増加は、プラズマチャンバ112内のプラズマのピークエネルギイオンの数を増加させる。ピークエネルギイオン数の増加は、イオンエネルギを増加させ、エネルギの増加は、基板118をエッチングするエッチング速度を増加させる。
図11Hは、マスク層1104Aの水平距離に対するマスク層1104Aの垂直距離を示すグラフ1116の実施形態である。グラフ1116は、図1の2レベルパルスのパラメータのRF信号122および一定周波数レベルが図1の基板支持体114に印加されるときに形成される。また、グラフ1116は、エッチング動作中にマスク層1104A内に形成される経路の限界寸法を示す。
図11Kは、マスク層1110Aの水平距離に対するマスク層1110Aの垂直距離を示すグラフ1122の実施形態である。グラフ1122は、図1の5レベルパルスのパラメータのRF信号122および一定周波数レベルのRF信号122が図1の基板支持体114に印加されるときに形成される。また、グラフ1122は、エッチング動作中にマスク層1110A内に形成される経路の限界寸法を示す。
前述の実施形態は、理解を明確にするためにある程度詳細に説明されたが、添付の特許請求の範囲内で一定の変更および修正が行われうることは明らかだろう。従って、本実施形態は、制限的でなく例示的とみなされ、実施形態は、本明細書に記載の詳細に限定されない。
本開示は、以下の形態により実現されてもよい。
[形態1]
方法であって、
一定期間に複数のパラメータレベル間および複数の周波数レベル間で同時にパルス化するRF信号を生成するように無線周波数(RF)生成器を制御する工程であって、前記複数のパラメータレベルは、第1のパラメータレベルおよび第2のパラメータレベルを含み、前記複数の周波数レベルは、第1の周波数レベルおよび第2の周波数レベルを含む、工程を含み、
前記一定期間に、前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルへの遷移は、前記第1のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こり、前記第2の周波数レベルから前記第1の周波数レベルへの遷移は、前記第2のパラメータレベルから前記第1のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こる、方法。
[形態2]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
を含む、方法。
[形態3]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
を含む、方法。
[形態4]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号が前記第2周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから第5のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号を前記第5のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
を含む、方法。
[形態5]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、
第1のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供する工程であって、前記複数のパラメータレベルは、前記第1のデジタルパルス信号と略同期してパルス化する、工程と、
第2のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供する工程であって、前記複数の周波数レベルは、前記第2のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、前記第1のデジタルパルス信号は、3つ以上のロジックレベル間で遷移し、前記第2のデジタルパルス信号は、2つのロジックレベル間で遷移するクロック信号である、工程と、
を含む、方法。
[形態6]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、前記RF信号が前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルにパルス化する前記期間前後に、前記第1のパラメータレベルから1つ以上の付加的パラメータレベルを介して前記第2のパラメータレベルまで段階的な増加傾向でパルス化する前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する工程を含む、方法。
[形態7]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、前記複数のパラメータレベル間で段階的に遷移するように前記RF生成器を制御する工程を含む、方法。
[形態8]
形態1に記載の方法であって、
前記第2の周波数レベルは、前記第1の周波数レベルより大きい、方法。
[形態9]
形態1に記載の方法であって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電圧レベルを含む、方法。
[形態10]
形態1に記載の方法であって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電力レベルを含む、方法。
[形態11]
コントローラであって、
プロセッサであって、
一定期間に複数のパラメータレベル間および複数の周波数レベル間で同時にパルス化するRF信号を生成するよう無線周波数(RF)生成器を制御するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、第1のパラメータレベルおよび第2のパラメータレベルを含み、前記複数の周波数レベルは、第1の周波数レベルおよび第2の周波数レベルを含み、前記一定期間に、前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルへの遷移は、前記第1のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こり、前記第2の周波数レベルから前記第1の周波数レベルへの遷移は、前記第2のパラメータレベルから前記第1のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こる、プロセッサと、
前記プロセッサに接続されたメモリデバイスと、
を備える、コントローラ。
[形態12]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。
[形態13]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。
[形態14]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから第5のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第5のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。
[形態15]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
第1のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、前記第1のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、
第2のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数の周波数レベルは、前記第2のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、前記第1のデジタルパルス信号は、3つ以上のロジックレベル間で遷移し、前記第2のデジタルパルス信号は、2つのロジックレベル間で遷移するクロック信号である、コントローラ。
[形態16]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、前記RF信号が前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルにパルス化する前記期間前後に、前記第1のパラメータレベルから1つ以上の付加的パラメータレベルを介して前記第2のパラメータレベルまで段階的な増加傾向でパルス化する前記RF信号を生成するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。
[形態17]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、前記複数のパラメータレベル間で段階的に遷移するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。
[形態18]
形態11に記載のコントローラであって、
前記第2の周波数レベルは、前記第1の周波数レベルより大きい、コントローラ。
[形態19]
形態11に記載のコントローラであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電圧レベルを含む、コントローラ。
[形態20]
形態11に記載のコントローラであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電力レベルを含む、コントローラ。
[形態21]
システムであって、
無線周波数(RF)生成器と、
前記RF生成器に接続されたコントローラであって、一定期間に複数のパラメータレベル間および複数の周波数レベル間で同時にパルス化するRF信号を生成するようRF生成器を制御するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、第1のパラメータレベルおよび第2のパラメータレベルを含み、前記複数の周波数レベルは、第1の周波数レベルおよび第2の周波数レベルを含む、コントローラと、を備え、
前記一定期間に、前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルへの遷移は、前記第1のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こり、前記第2の周波数レベルから前記第1の周波数レベルへの遷移は、前記第2のパラメータレベルから前記第1のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こる、システム。
[形態22]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。
[形態23]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。
[形態24]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから第5のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第5のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。
[形態25]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
第1のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、前記第1のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、
第2のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数の周波数レベルは、前記第2のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、前記第1のデジタルパルス信号は、3つ以上のロジックレベル間で遷移し、前記第2のデジタルパルス信号は、2つのロジックレベル間で遷移するクロック信号である、システム。
[形態26]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、前記RF信号が前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルにパルス化する前記期間前後に、前記第1のパラメータレベルから1つ以上の付加的パラメータレベルを介して前記第2のパラメータレベルまで段階的な増加傾向でパルス化する前記RF信号を生成するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。
[形態27]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、前記複数のパラメータレベル間で段階的に遷移するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。
[形態28]
形態21に記載のシステムであって、
前記第2の周波数レベルは、前記第1の周波数レベルより大きい、システム。
[形態29]
形態21に記載のシステムであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電圧レベルを含む、システム。
[形態30]
形態21に記載のシステムであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電力レベルを含む、システム。
本開示は、以下の形態により実現されてもよい。
[形態1]
方法であって、
一定期間に複数のパラメータレベル間および複数の周波数レベル間で同時にパルス化するRF信号を生成するように無線周波数(RF)生成器を制御する工程であって、前記複数のパラメータレベルは、第1のパラメータレベルおよび第2のパラメータレベルを含み、前記複数の周波数レベルは、第1の周波数レベルおよび第2の周波数レベルを含む、工程を含み、
前記一定期間に、前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルへの遷移は、前記第1のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こり、前記第2の周波数レベルから前記第1の周波数レベルへの遷移は、前記第2のパラメータレベルから前記第1のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こる、方法。
[形態2]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
を含む、方法。
[形態3]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
を含む、方法。
[形態4]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号が前記第2周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから第5のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
前記RF信号を前記第5のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるように前記RF生成器を制御する工程と、
を含む、方法。
[形態5]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、
第1のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供する工程であって、前記複数のパラメータレベルは、前記第1のデジタルパルス信号と略同期してパルス化する、工程と、
第2のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供する工程であって、前記複数の周波数レベルは、前記第2のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、前記第1のデジタルパルス信号は、3つ以上のロジックレベル間で遷移し、前記第2のデジタルパルス信号は、2つのロジックレベル間で遷移するクロック信号である、工程と、
を含む、方法。
[形態6]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、前記RF信号が前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルにパルス化する前記期間前後に、前記第1のパラメータレベルから1つ以上の付加的パラメータレベルを介して前記第2のパラメータレベルまで段階的な増加傾向でパルス化する前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する工程を含む、方法。
[形態7]
形態1に記載の方法であって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御する前記工程は、前記複数のパラメータレベル間で段階的に遷移するように前記RF生成器を制御する工程を含む、方法。
[形態8]
形態1に記載の方法であって、
前記第2の周波数レベルは、前記第1の周波数レベルより大きい、方法。
[形態9]
形態1に記載の方法であって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電圧レベルを含む、方法。
[形態10]
形態1に記載の方法であって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電力レベルを含む、方法。
[形態11]
コントローラであって、
プロセッサであって、
一定期間に複数のパラメータレベル間および複数の周波数レベル間で同時にパルス化するRF信号を生成するよう無線周波数(RF)生成器を制御するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、第1のパラメータレベルおよび第2のパラメータレベルを含み、前記複数の周波数レベルは、第1の周波数レベルおよび第2の周波数レベルを含み、前記一定期間に、前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルへの遷移は、前記第1のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こり、前記第2の周波数レベルから前記第1の周波数レベルへの遷移は、前記第2のパラメータレベルから前記第1のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こる、プロセッサと、
前記プロセッサに接続されたメモリデバイスと、
を備える、コントローラ。
[形態12]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。
[形態13]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。
[形態14]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから第5のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第5のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。
[形態15]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
第1のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、前記第1のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、
第2のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数の周波数レベルは、前記第2のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、前記第1のデジタルパルス信号は、3つ以上のロジックレベル間で遷移し、前記第2のデジタルパルス信号は、2つのロジックレベル間で遷移するクロック信号である、コントローラ。
[形態16]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、前記RF信号が前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルにパルス化する前記期間前後に、前記第1のパラメータレベルから1つ以上の付加的パラメータレベルを介して前記第2のパラメータレベルまで段階的な増加傾向でパルス化する前記RF信号を生成するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。
[形態17]
形態11に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、前記複数のパラメータレベル間で段階的に遷移するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。
[形態18]
形態11に記載のコントローラであって、
前記第2の周波数レベルは、前記第1の周波数レベルより大きい、コントローラ。
[形態19]
形態11に記載のコントローラであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電圧レベルを含む、コントローラ。
[形態20]
形態11に記載のコントローラであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電力レベルを含む、コントローラ。
[形態21]
システムであって、
無線周波数(RF)生成器と、
前記RF生成器に接続されたコントローラであって、一定期間に複数のパラメータレベル間および複数の周波数レベル間で同時にパルス化するRF信号を生成するようRF生成器を制御するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、第1のパラメータレベルおよび第2のパラメータレベルを含み、前記複数の周波数レベルは、第1の周波数レベルおよび第2の周波数レベルを含む、コントローラと、を備え、
前記一定期間に、前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルへの遷移は、前記第1のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こり、前記第2の周波数レベルから前記第1の周波数レベルへの遷移は、前記第2のパラメータレベルから前記第1のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こる、システム。
[形態22]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。
[形態23]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。
[形態24]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから第5のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第5のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。
[形態25]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
第1のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、前記第1のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、
第2のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数の周波数レベルは、前記第2のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、前記第1のデジタルパルス信号は、3つ以上のロジックレベル間で遷移し、前記第2のデジタルパルス信号は、2つのロジックレベル間で遷移するクロック信号である、システム。
[形態26]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、前記RF信号が前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルにパルス化する前記期間前後に、前記第1のパラメータレベルから1つ以上の付加的パラメータレベルを介して前記第2のパラメータレベルまで段階的な増加傾向でパルス化する前記RF信号を生成するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。
[形態27]
形態21に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、前記複数のパラメータレベル間で段階的に遷移するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。
[形態28]
形態21に記載のシステムであって、
前記第2の周波数レベルは、前記第1の周波数レベルより大きい、システム。
[形態29]
形態21に記載のシステムであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電圧レベルを含む、システム。
[形態30]
形態21に記載のシステムであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電力レベルを含む、システム。
Claims (31)
- コントローラであって、
プロセッサであって、
一定期間に複数のパラメータレベル間および複数の周波数レベル間で同時にパルス化するRF信号を生成するよう無線周波数(RF)生成器を制御するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、第1のパラメータレベルおよび第2のパラメータレベルを含み、前記複数の周波数レベルは、第1の周波数レベルおよび第2の周波数レベルを含み、前記一定期間に、前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルへの遷移は、前記第1のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こり、前記第2の周波数レベルから前記第1の周波数レベルへの遷移は、前記第2のパラメータレベルから前記第1のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こる、プロセッサと、
前記プロセッサに接続されたメモリデバイスと、
を備える、コントローラ。 - 請求項1に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。 - 請求項1に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。 - 請求項1に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから第5のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第5のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。 - 請求項1に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、
第1のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、前記第1のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、
第2のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数の周波数レベルは、前記第2のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、前記第1のデジタルパルス信号は、3つ以上のロジックレベル間で遷移し、前記第2のデジタルパルス信号は、2つのロジックレベル間で遷移するクロック信号である、コントローラ。 - 請求項1に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、前記RF信号が前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルにパルス化する前記期間前後に、前記第1のパラメータレベルから1つ以上の付加的パラメータレベルを介して前記第2のパラメータレベルまで段階的な増加傾向でパルス化する前記RF信号を生成するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。 - 請求項1に記載のコントローラであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記プロセッサは、前記複数のパラメータレベル間で段階的に遷移するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。 - 請求項1に記載のコントローラであって、
前記第2の周波数レベルは、前記第1の周波数レベルより大きい、コントローラ。 - 請求項1に記載のコントローラであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電圧レベルを含む、コントローラ。 - 請求項1に記載のコントローラであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電力レベルを含む、コントローラ。 - システムであって、
無線周波数(RF)生成器と、
前記RF生成器に接続されたコントローラであって、一定期間に複数のパラメータレベル間および複数の周波数レベル間で同時にパルス化するRF信号を生成するようRF生成器を制御するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、第1のパラメータレベルおよび第2のパラメータレベルを含み、前記複数の周波数レベルは、第1の周波数レベルおよび第2の周波数レベルを含む、コントローラと、を備え、
前記一定期間に、前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルへの遷移は、前記第1のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こり、前記第2の周波数レベルから前記第1の周波数レベルへの遷移は、前記第2のパラメータレベルから前記第1のパラメータレベルへの遷移と略同期して起こる、システム。 - 請求項11に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。 - 請求項11に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。 - 請求項11に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから第3のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから第4のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する前記期間に、前記RF信号を前記第4のパラメータレベルから第5のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成され、
前記RF信号を前記第5のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルに遷移させるよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。 - 請求項11に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、
第1のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数のパラメータレベルは、前記第1のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、
第2のデジタルパルス信号を前記RF生成器に提供するように構成され、前記複数の周波数レベルは、前記第2のデジタルパルス信号と略同期してパルス化し、前記第1のデジタルパルス信号は、3つ以上のロジックレベル間で遷移し、前記第2のデジタルパルス信号は、2つのロジックレベル間で遷移するクロック信号である、システム。 - 請求項11に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、前記RF信号が前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルにパルス化する前記期間前後に、前記第1のパラメータレベルから1つ以上の付加的パラメータレベルを介して前記第2のパラメータレベルまで段階的な増加傾向でパルス化する前記RF信号を生成するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。 - 請求項11に記載のシステムであって、
前記RF信号を生成するように前記RF生成器を制御するために、前記コントローラは、前記複数のパラメータレベル間で段階的に遷移するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、システム。 - 請求項11に記載のシステムであって、
前記第2の周波数レベルは、前記第1の周波数レベルより大きい、システム。 - 請求項11に記載のシステムであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電圧レベルを含む、システム。 - 請求項11に記載のシステムであって、
前記複数のパラメータレベルは、複数の電力レベルを含む、システム。 - コントローラであって、
RF信号を生成するよう無線周波数(RF)生成器を制御するように構成されたプロセッサであって、前記プロセッサは、前記RF信号の第1のパラメータレベルを前記RF信号の第2のパラメータレベルにパルス化するよう前記RF生成器を制御するように構成され、前記RF信号の第2のパラメータレベルを前記RF信号の第3のパラメータレベルにパルス化するよう前記RF生成器を制御するように構成され、前記RF信号の第1の周波数レベルを前記RF信号の第2の周波数レベルにパルス化するよう前記RF生成器を制御するように構成され、前記第1の周波数レベルは、前記第2のパラメータレベルへの前記第1のパラメータレベルの前記パルス化と同時に、前記第2の周波数レベルにパルス化される、プロセッサと、
前記プロセッサに接続されたメモリデバイスと、
を備える、コントローラ。 - 請求項21に記載のコントローラであって、
前記第2のパラメータレベルは、前記第1のパラメータレベルより大きく、前記第3のパラメータレベルは、前記第2のパラメータレベルより大きい、コントローラ。 - 請求項22に記載のコントローラであって、
前記第2のパラメータレベルは、前記第1のパラメータレベルより少なくとも既定割合だけ大きく、前記第3のパラメータレベルは、前記第2のパラメータレベルより少なくとも前記既定割合だけ大きく、前記第1のパラメータレベルは、パラメータの複数の値を有し、前記第2のパラメータレベルは、前記パラメータの複数の値を有し、前記第3のパラメータレベルは、前記パラメータの複数の値を有し、前記第1のパラメータレベルの前記複数の値は、既定範囲内であり、前記第2のパラメータレベルの前記複数の値は、既定範囲内であり、前記第3のパラメータレベルの前記複数の値は、既定範囲内である、コントローラ。 - 請求項21に記載のコントローラであって、
前記第1のパラメータレベルを前記第2のパラメータレベルにパルス化するために、前記プロセッサは、ある時間に前記第1のパラメータレベルを前記第2のパラメータレベルに遷移するよう前記RF生成器を制御するように構成され、前記第2のパラメータレベルを前記第3のパラメータレベルにパルス化するために、前記プロセッサは、別の時間に前記第2のパラメータレベルを前記第3のパラメータレベルに遷移するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。 - 請求項24に記載のコントローラであって、
前記第2のパラメータレベルへの前記第1のパラメータレベルの前記パルス化と同時に、前記第1の周波数レベルを前記第2の周波数レベルにパルス化するため、前記プロセッサは、前記RF信号の前記第1のパラメータレベルが前記RF信号の前記第2のパラメータレベルに遷移する時間に、前記RF信号の前記第1の周波数レベルを前記RF信号の前記第2の周波数レベルに遷移するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。 - 請求項21に記載のコントローラであって、
前記第2の周波数レベルは、前記第1の周波数レベルより既定割合だけ大きい、コントローラ。 - 請求項21に記載のコントローラであって、
前記プロセッサは、前記RF信号が前記第1の周波数レベルを有する期間に、前記第1のパラメータレベルを生成するよう前記RF生成器を制御するように構成され、前記プロセッサは、前記RF信号が前記第2の周波数レベルを有する期間に、前記第2のパラメータレベルおよび前記第3のパラメータレベルを生成するよう前記RF生成器を制御するように構成されている、コントローラ。 - 請求項21に記載のコントローラであって、
前記プロセッサは、前記RF生成器を制御して、
前記RF信号を前記第3のパラメータレベルから前記第1のパラメータレベルにパルス化し、
前記RF信号を前記第1のパラメータレベルから前記第2のパラメータレベルにパルス化し、
前記RF信号を前記第2のパラメータレベルから前記第3のパラメータレベルにパルス化し、
前記RF信号を前記第2の周波数レベルから前記第1の周波数レベルにパルス化し、
前記RF信号を前記第1の周波数レベルから前記第2の周波数レベルにパルス化するように構成されている、コントローラ。 - システムであって、
RF信号を生成するように構成された無線周波数(RF)生成器と、
RFケーブルを介して前記RF生成器に接続されたインピーダンス整合回路であって、前記RFケーブルを介して前記RF信号を受信して、修正RF信号を出力するように構成されている、インピーダンス整合回路と、
前記修正RF信号を受信するために前記インピーダンス整合回路に接続されたプラズマチャンバと、
前記RF生成器に接続されたホストコンピュータであって、
デジタルパルス信号を生成し、
前記デジタルパルス信号を前記RF生成器に送信して、前記RF信号の第1のパラメータレベルを前記RF信号の第2のパラメータレベルにパルス化し、前記RF信号の前記第2のパラメータレベルを前記RF信号の第3のパラメータレベルにパルス化し、
別のデジタルパルス信号を生成し、
前記別のデジタルパルス信号を前記RF生成器に送信して、前記RF信号の第1の周波数レベルを前記RF信号の第2の周波数レベルにパルス化し、前記第1の周波数レベルは、前記第2のパラメータレベルへの前記第1のパラメータレベルの前記パルス化と同時に前記第2の周波数レベルにパルス化されるように構成されている、ホストコンピュータと、
を備える、システム。 - 請求項29に記載のシステムであって、
前記第2のパラメータレベルは、前記第1のパラメータレベルより大きく、前記第3のパラメータレベルは、前記第2のパラメータレベルより大きい、システム。 - 請求項29に記載のシステムであって、
前記第2のパラメータレベルは、前記第1のパラメータレベルより少なくとも既定割合だけ大きく、前記第3のパラメータレベルは、前記第2のパラメータレベルより少なくとも前記既定割合だけ大きく、前記第1のパラメータレベルは、パラメータの複数の値を有し、前記第2のパラメータレベルは、前記パラメータの複数の値を有し、前記第3のパラメータレベルは、前記パラメータの複数の値を有し、前記第1のパラメータレベルの前記複数の値は、既定範囲内であり、前記第2のパラメータレベルの前記複数の値は、既定範囲内であり、前記第3のパラメータレベルの前記複数の値は、既定範囲内である、システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2023081175A JP2023096051A (ja) | 2018-03-21 | 2023-05-17 | 低角度拡散のマルチレベルパラメータおよび周波数パルス |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/928,039 US10224183B1 (en) | 2018-03-21 | 2018-03-21 | Multi-level parameter and frequency pulsing with a low angular spread |
US15/928,039 | 2018-03-21 | ||
PCT/US2019/022191 WO2019182847A1 (en) | 2018-03-21 | 2019-03-14 | Multi-level parameter and frequency pulsing with a low angular spread |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023081175A Division JP2023096051A (ja) | 2018-03-21 | 2023-05-17 | 低角度拡散のマルチレベルパラメータおよび周波数パルス |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021518629A JP2021518629A (ja) | 2021-08-02 |
JPWO2019182847A5 true JPWO2019182847A5 (ja) | 2022-04-20 |
JP7282795B2 JP7282795B2 (ja) | 2023-05-29 |
Family
ID=65495724
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020549047A Active JP7282795B2 (ja) | 2018-03-21 | 2019-03-14 | 低角度拡散のマルチレベルパラメータおよび周波数パルス |
JP2023081175A Pending JP2023096051A (ja) | 2018-03-21 | 2023-05-17 | 低角度拡散のマルチレベルパラメータおよび周波数パルス |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023081175A Pending JP2023096051A (ja) | 2018-03-21 | 2023-05-17 | 低角度拡散のマルチレベルパラメータおよび周波数パルス |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US10224183B1 (ja) |
JP (2) | JP7282795B2 (ja) |
KR (1) | KR20200124318A (ja) |
WO (1) | WO2019182847A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109148250B (zh) * | 2017-06-15 | 2020-07-17 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 阻抗匹配装置和阻抗匹配方法 |
US10224183B1 (en) * | 2018-03-21 | 2019-03-05 | Lam Research Corporation | Multi-level parameter and frequency pulsing with a low angular spread |
US10504744B1 (en) * | 2018-07-19 | 2019-12-10 | Lam Research Corporation | Three or more states for achieving high aspect ratio dielectric etch |
CN110779187B (zh) * | 2019-11-04 | 2021-03-30 | 广东美的暖通设备有限公司 | 信号发送装置、信号接收装置、通讯装置及空调器 |
JP2023530125A (ja) * | 2020-06-15 | 2023-07-13 | ラム リサーチ コーポレーション | Rf信号のパラメータのパルス化周波数およびデューティサイクルの制御 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5319150B2 (ja) * | 2008-03-31 | 2013-10-16 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
US9101028B2 (en) * | 2009-09-01 | 2015-08-04 | NuLEDs, Inc. | Powering and/or controlling LEDs using a network infrastructure |
US9390893B2 (en) * | 2012-02-22 | 2016-07-12 | Lam Research Corporation | Sub-pulsing during a state |
US9462672B2 (en) | 2012-02-22 | 2016-10-04 | Lam Research Corporation | Adjustment of power and frequency based on three or more states |
US9171699B2 (en) | 2012-02-22 | 2015-10-27 | Lam Research Corporation | Impedance-based adjustment of power and frequency |
US9197196B2 (en) | 2012-02-22 | 2015-11-24 | Lam Research Corporation | State-based adjustment of power and frequency |
US9336995B2 (en) | 2013-04-26 | 2016-05-10 | Mks Instruments, Inc. | Multiple radio frequency power supply control of frequency and phase |
US9711332B2 (en) * | 2013-05-09 | 2017-07-18 | Lam Research Corporation | Systems and methods for tuning an impedance matching network in a step-wise fashion for multiple states of an RF generator |
JP6324223B2 (ja) * | 2014-06-09 | 2018-05-16 | 住友重機械イオンテクノロジー株式会社 | イオン注入装置及びイオン注入方法 |
US9536749B2 (en) | 2014-12-15 | 2017-01-03 | Lam Research Corporation | Ion energy control by RF pulse shape |
US9721758B2 (en) * | 2015-07-13 | 2017-08-01 | Mks Instruments, Inc. | Unified RF power delivery single input, multiple output control for continuous and pulse mode operation |
US10128082B2 (en) * | 2015-07-24 | 2018-11-13 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Apparatus and techniques to treat substrates using directional plasma and point of use chemistry |
US9761414B2 (en) * | 2015-10-08 | 2017-09-12 | Lam Research Corporation | Uniformity control circuit for use within an impedance matching circuit |
US10879044B2 (en) * | 2017-04-07 | 2020-12-29 | Lam Research Corporation | Auxiliary circuit in RF matching network for frequency tuning assisted dual-level pulsing |
US10395894B2 (en) * | 2017-08-31 | 2019-08-27 | Lam Research Corporation | Systems and methods for achieving peak ion energy enhancement with a low angular spread |
US10624178B2 (en) * | 2017-11-30 | 2020-04-14 | Lutron Technology Company Llc | Multiple location load control system |
US10224183B1 (en) * | 2018-03-21 | 2019-03-05 | Lam Research Corporation | Multi-level parameter and frequency pulsing with a low angular spread |
-
2018
- 2018-03-21 US US15/928,039 patent/US10224183B1/en active Active
-
2019
- 2019-02-13 US US16/275,008 patent/US10573494B2/en active Active
- 2019-03-14 JP JP2020549047A patent/JP7282795B2/ja active Active
- 2019-03-14 WO PCT/US2019/022191 patent/WO2019182847A1/en active Application Filing
- 2019-03-14 KR KR1020207030165A patent/KR20200124318A/ko unknown
-
2020
- 2020-02-06 US US16/783,721 patent/US11462390B2/en active Active
-
2022
- 2022-09-09 US US17/942,040 patent/US20230005718A1/en active Pending
-
2023
- 2023-05-17 JP JP2023081175A patent/JP2023096051A/ja active Pending
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