JPWO2018198553A1 - X線検査システム及びx線受像装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本実施形態によるX線検査システム10の概略構成を示す概念図である。X線検査システム10は、例えば、空港、駅、スポーツ施設、イベント会場などの任意の場所で、手荷物検査及びその他の検査(身体検査を含む)を実行するためのものである。あるいは、X線検査システム10は、事故車両のX線検査などにも適用することができる。
図2、図3は、本実施形態によるX線照射装置100の外観構成を示す前方斜視図、後方斜視図である。図4は、本実施形態によるX線照射装置100の内部構成を示す前方斜視図(筐体部110の前面を省略してスケルトンで描いている)である。以下の説明における上、下、前、後、左、右の各方向は、図2〜図4中に示す矢線方向を基準とする。
図5、図6は、本実施形態によるX線受像装置200の外観構成を示す前方斜視図、後方斜視図である。図7、図8は、本実施形態によるX線受像装置200の外観構成を示す第1、第2の正面図である。以下の説明における上、下、前、後、左、右の各方向は、図5〜図8中に示す矢線方向を基準とする。
図9は、本実施形態による制御用パソコン(X線像合成装置)300の内部構成を示す機能ブロック図である。制御用パソコン300は、X線像合成部310と、ディスプレイ(比較表示部)320と、判定部330と、警告部340とを有している。
図11は、本実施形態によるX線検査システム10の動作を示すフローチャートである。
以上のように、本実施形態のX線検査システム10では、X線照射装置100が、検査対象物TOに対してX線を照射し、X線受像装置200が、X線照射装置100に対する相対位置を変化させながら検査対象物TOの複数部位を透過した複数のX線像を受像し、制御用パソコン(X線像合成装置)300が、X線受像装置200が受像した複数のX線像を合成する。これにより、大型の検査対象物TOに対しても好適なX線検査を実行することが可能になる。
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々変更して実施することが可能である。上記実施の形態において、添付図面に図示されている構成要素の大きさや形状、機能などについては、これに限定されず、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。
100 X線照射装置
110 筐体部
111 取手
112 指紋認証ユニット
113 電源スイッチ
114 取手
115 取手
116 三脚
117 電池収納部
118 ディスプレイ収納部
120 X線発生ユニット(X線発生部)
121 X線発射口
130 カメラユニット(撮影部)
131 撮影レンズ
140 ディスプレイ(表示部)
200 X線受像装置
210 220 スライドレール(基枠)
211 212 221 222 キャスタ
230 フレーム台(基枠)
231 232 ストッパ壁(切り替え機構)
233 235 ガイドシャフト(切り替え機構)
234 236 位置規制フランジ部(切り替え機構)
240 インナーフレーム(基枠)
241 X線照射装置
242 X線照射制御棒
243 スペーサ
250 ガイドシャフト(基枠)
260 取手ホルダ(基枠)
270 第1の可動枠
271 ガイド支持部
272 ガイド孔
273 ガイドレール
280 第2の可動枠
281 パネル保持突起
290 X線受像パネル
291 有効受像面
292 フレーム部
300 制御用パソコン(X線像合成装置)
310 X線像合成部
320 ディスプレイ(比較表示部)
330 判定部
340 警告部
TO 検査対象物
Claims (9)
- 検査対象物に対してX線を照射するX線照射装置と、
前記X線照射装置に対する相対位置を変化させながら前記検査対象物の複数部位を透過した複数のX線像を受像するX線受像装置と、
前記X線受像装置が受像した前記複数のX線像を合成するX線像合成装置と、
を有することを特徴とするX線検査システム。 - 前記X線受像装置は、
基枠と、
前記基枠に上下方向と左右方向の一方向にスライド可能に支持された第1の可動枠と、
前記第1の可動枠に上下方向と左右方向の他方向にスライド可能に支持された第2の可動枠と、
前記第2の可動枠に取り付けられたX線受像パネルと、
を有することを特徴とする請求項1に記載のX線検査システム。 - 前記第1の可動枠は、前記基枠に上下方向にスライド可能に支持されており、
前記第2の可動枠は、前記第1の可動枠に左右方向にスライド可能に支持されている、
ことを特徴とする請求項2に記載のX線検査システム。 - 前記第1の可動枠が前記基枠に対する上方スライド端に位置しているときの前記X線受像パネルの有効受像面の下端部と、前記第1の可動枠が前記基枠に対する下方スライド端に位置しているときの前記X線受像パネルの有効受像面の上端部とが一致している、
ことを特徴とする請求項3に記載のX線検査システム。 - 前記第2の可動枠が前記第1の可動枠に対する左方スライド端に位置しているときの前記X線受像パネルの有効受像面の右端部と、前記第2の可動枠が前記第1の可動枠に対する右方スライド端に位置しているときの前記X線受像パネルの有効受像面の左端部とが一致している、
ことを特徴とする請求項3または請求項4に記載のX線検査システム。 - 前記第1、第2の可動枠の上下左右方向のスライドにより、前記X線受像パネルは、前記X線照射装置に対する左下位置、右下位置、右上位置、左上位置を移動しながら、前記検査対象物の左下部位、右下部位、右上部位、左上部位のX線像を受像する、
ことを特徴とする請求項2または請求項3に記載のX線検査システム。 - 前記基枠は、前記第2の可動枠を前記第1の可動枠に対してスライド可能とするか否かを切り替える切り替え機構を有する、
ことを特徴とする請求項2または請求項3に記載のX線検査システム。 - 前記X線照射装置は、筐体部と、前記筐体部に設けられたX線発生部と、前記筐体部に設けられた撮影部と、前記筐体部に設けられた表示部と、を有し、
前記X線発生部が発生するX線の照射範囲を前記撮影部が撮影し、前記撮影部が撮影したX線の照射範囲を前記表示部が表示する、
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のX線検査システム。 - 検査対象物に対してX線を照射するX線照射装置と組み合わせて使用されるX線受像装置であって、
前記X線照射装置に対する相対位置を変化させながら前記検査対象物の複数部位を透過した複数のX線像を受像する、
ことを特徴とするX線受像装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017088422 | 2017-04-27 | ||
JP2017088422 | 2017-04-27 | ||
PCT/JP2018/009496 WO2018198553A1 (ja) | 2017-04-27 | 2018-03-12 | X線検査システム及びx線受像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2018198553A1 true JPWO2018198553A1 (ja) | 2019-07-11 |
JP6791487B2 JP6791487B2 (ja) | 2020-11-25 |
Family
ID=63918339
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019515136A Active JP6791487B2 (ja) | 2017-04-27 | 2018-03-12 | X線検査システム及びx線照射装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6791487B2 (ja) |
WO (1) | WO2018198553A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2018
- 2018-03-12 WO PCT/JP2018/009496 patent/WO2018198553A1/ja active Application Filing
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WO2018198553A1 (ja) | 2018-11-01 |
JP6791487B2 (ja) | 2020-11-25 |
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