JPWO2018100612A1 - イオン化装置及び質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
a)液体試料を大気圧雰囲気中に噴霧する噴霧部と、
b)前記噴霧部による噴霧流の進行方向前方に設けられた導電性キャピラリと、
c)前記導電性キャピラリに電圧を印加する電圧印加部と、
を備えることを特徴としている。
なお、ノズルから液体試料を噴出させるためにネブライズガス流を利用する構成としてもよい。また、上記加熱部は、ノズルから液体試料が噴霧される空間自体を加熱するものでもよいし、或いは、加熱したガス(通常は不活性ガス)をノズルから噴出した液体試料の液滴に吹き掛けるものでもよい。
この構成においても、ノズルから液体試料を噴出させるためにネブライズガス流を利用する構成とすることができる。
前記噴霧部にあっては、前記電場形成部により液体試料に片寄った電場を作用させつつ前記ノズルから帯電した液体試料を噴霧することで、該液体試料中の溶媒分子をエレクトロスプレーイオン化法によりイオン化し、生成された溶媒分子イオンを用いて、前記液体供給部から前記導電性キャピラリに送給した第2の液体試料中の成分をイオン−分子反応によりイオン化する構成とすることができる。
前記噴霧部にあっては、前記電場形成部により液体試料に片寄った電場を作用させつつ前記ノズルから帯電した液体試料を噴霧することで、該液体試料中の溶媒分子をエレクトロスプレーイオン化法によりイオン化し、生成された溶媒分子イオンを用いて、前記気体供給部から前記導電性キャピラリに送給した気体試料中の成分をイオン−分子反応によりイオン化する構成とすることもできる。
前記噴霧部の前記ノズルに液体試料を供給することなく前記電場形成部により該ノズルに電圧を印加することで又は前記電圧印加部により前記導電性キャピラリに電圧を印加することで放電を生じさせ、前記ヘリウム供給部から前記導電性キャピラリに送給したヘリウムを前記放電の作用により励起し、その励起されたヘリウムを前記試料に当てて該試料中の成分をイオン化する構成とすることができる。
前記噴霧部の前記ノズルに液体試料を供給することなく前記電場形成部により該ノズルに電圧を印加することで又は前記電圧印加部により前記導電性キャピラリに電圧を印加することで放電を生じさせ、
前記水素供給部から前記導電性キャピラリに送給した水素を前記放電の作用によりイオン化する構成としてもよい。
図1は本実施例の質量分析装置の要部の構成図、図2は本実施例の質量分析装置におけるイオン源20の概略構成図である。
続いて、標準試料についての質量分析を実施する際の動作を図3を参照して説明する。この場合、図3に示すように、導電性キャピラリ22に至る配管40に標準試料溶液供給部41が接続される。このとき、イオン化プローブ21には実質的な試料成分を含まない溶媒のみの液体試料、例えば液体クロマトグラフに使用される移動相のみが供給される。また、高電圧電源部23から導電性キャピラリ22へは電圧が印加されず、ESI用高電圧電源部25から金属細管212へは所定の高電圧が印加される。さらにまた、加熱ガスポート24からの乾燥ガスの吹き出しはなくてもよいが、あるほうが好ましい。
図3に示した構成では、標準試料として液体を使用していたが、標準試料は気体であってもよい。この場合、図4に示すように、導電性キャピラリ22に至る配管40に標準試料ガス供給部42が接続される。標準試料ガス供給部42は標準試料ガス貯留部とガス流量を調整する流量調整部を含み、該流量調整部で流量(又は線速度)が調整された標準試料ガスを配管40に流す構成とすることができる。また、標準試料自体は固体や液体であり、該標準試料から揮発したガスの流量を調整して配管40に流す構成としてもよい。
この場合、図5に示すように、導電性キャピラリ22に至る配管40にヘリウム供給部43が接続され、分析対象である固体状又は液体状の試料50は導電性キャピラリ22の先端部前方に設置される。イオン化プローブ21には液体試料が供給されず、ネブライズガスの吹き出しも停止される。また、高電圧電源部23から導電性キャピラリ22へは電圧が印加されず、ESI用高電圧電源部25から金属細管212へは所定の高電圧が印加される。さらにまた、加熱ガスポート24からは乾燥ガスが吹き出す。
この場合、図6に示すように、導電性キャピラリ22に至る配管40に水素供給部44が接続される。イオン化プローブ21には液体試料が供給されず、ネブライズガスの吹き出しも停止される。また、高電圧電源部23から導電性キャピラリ22へは電圧が印加されず、ESI用高電圧電源部25から金属細管212へは所定の高電圧が印加される。加熱ガスポート24からの乾燥ガスの吹き出しはなしでもありでもよい。
従来一般に、イオン化室11の内壁等の洗浄は装置を分解して行われるが、上記のようにして汚染物質を除去することにより、装置の分解洗浄の頻度を低くし、装置が使用できない時間を短縮することができる。
なお、この場合にも、金属細管212に高電圧を印加してイオン化プローブ21の先端付近で放電を生じさせる代わりに、導電性キャピラリ22に高電圧を印加して放電を生じさせ、その放電を利用して水素をイオン化してもよい。
上記実施例におけるイオン化プローブ21は液体試料中の成分をESI法によりイオン化する機能とAPCI法によりイオン化する機能とを併せて持っていたが、本実施例におけるイオン化プローブ21Bは、液体試料中の成分をAPCI法によりイオン化する機能のみを有している。即ち、キャピラリ211の先端部前方の空間は円筒形状のヒータ214で囲われており、そのさらに前方に、導電性キャピラリ22及びイオン導入管30のイオン導入開口30aが配置されている。
11…イオン化室
12…第1中間真空室
13…第2中間真空室
14…分析室
20…イオン源
21、21B…イオン化プローブ
211…キャピラリ
212…金属細管
213…ネブライズガス管
214…ヒータ
22…導電性キャピラリ
23…高電圧電源部
24…加熱ガスポート
25…ESI用高電圧電源部
30…イオン導入管
30a…イオン導入開口
31、33…イオンガイド
32…スキマー
34…四重極マスフィルタ
35…イオン検出器
40…配管
41…標準試料溶液供給部
42…標準試料ガス供給部
43…ヘリウム供給部
44…水素供給部
50…試料
Claims (10)
- a)液体試料を大気圧雰囲気中に噴霧する噴霧部と、
b)前記噴霧部による噴霧流の進行方向前方に設けられた導電性キャピラリと、
c)前記導電性キャピラリに電圧を印加する電圧印加部と、
を備えることを特徴とするイオン化装置。 - 請求項1に記載のイオン化装置であって、
前記噴霧部は、液体試料を噴出するノズルと、該ノズルから噴出された液体試料を乾燥させる加熱部と、を含み、前記電圧印加部から前記導電性キャピラリに印加される電圧により生成されるコロナ放電を利用して前記液体試料中の成分を大気圧化学イオン化法によりイオン化するものであることを特徴とするイオン化装置。 - 請求項1に記載のイオン化装置であって、
前記噴霧部は、液体試料に片寄った電場を作用させる電場形成部と、該電場によって帯電した液体試料を噴霧するノズルと、を含み、前記液体試料中の成分をエレクトロスプレーイオン化法によりイオン化するとともに、前記電圧印加部から前記導電性キャピラリに印加される電圧により生成されるコロナ放電を利用して前記液体試料中の成分を大気圧化学イオン化法によりイオン化するものであることを特徴とするイオン化装置。 - 請求項2に記載のイオン化装置であって、
前記導電性キャピラリに第2の液体試料を供給する液体供給部をさらに備え、
前記噴霧部からの液体試料の噴霧を行うことなく、前記導電性キャピラリに第2の液体試料を流しつつ該キャピラリに所定の電圧を印加し、該第2の液体試料中の成分をエレクトロスプレーイオン化法によりイオン化することを特徴とするイオン化装置。 - 請求項3に記載のイオン化装置であって、
前記導電性キャピラリに第2の液体試料を供給する液体供給部をさらに備え、
前記噴霧部からの液体試料の噴霧を行うことなく、前記導電性キャピラリに第2の液体試料を流しつつ該キャピラリに所定の電圧を印加し、該第2の液体試料中の成分をエレクトロスプレーイオン化法によりイオン化することを特徴とするイオン化装置。 - 請求項3に記載のイオン化装置であって、
前記導電性キャピラリに第2の液体試料を供給する液体供給部をさらに備え、
前記噴霧部にあっては、前記電場形成部により液体試料に片寄った電場を作用させつつ前記ノズルから帯電した液体試料を噴霧することで、該液体試料中の溶媒分子をエレクトロスプレーイオン化法によりイオン化し、生成された溶媒分子イオンを用いて、前記液体供給部から前記導電性キャピラリに送給した第2の液体試料中の成分をイオン−分子反応によりイオン化することを特徴とするイオン化装置。 - 請求項3に記載のイオン化装置であって、
前記導電性キャピラリに気体試料を供給する気体供給部をさらに備え、
前記噴霧部にあっては、前記電場形成部により液体試料に片寄った電場を作用させつつ前記ノズルから帯電した液体試料を噴霧することで、該液体試料中の溶媒分子をエレクトロスプレーイオン化法によりイオン化し、生成された溶媒分子イオンを用いて、前記気体供給部から前記導電性キャピラリに送給した気体試料中の成分をイオン−分子反応によりイオン化することを特徴とするイオン化装置。 - 請求項3に記載のイオン化装置であって、
前記導電性キャピラリにヘリウムを送給するヘリウム送給部と、該導電性キャピラリから放出されるガス流を加熱する加熱部と、をさらに備えるとともに、該導電性キャピラリの先端前方に固体又は液体である試料を載置し、
前記噴霧部の前記ノズルに液体試料を供給することなく前記電場形成部により該ノズルに電圧を印加することで又は前記電圧印加部により前記導電性キャピラリに電圧を印加することで放電を生じさせ、前記ヘリウム供給部から前記導電性キャピラリに送給したヘリウムを前記放電の作用により励起し、その励起されたヘリウムを前記試料に当てて該試料中の成分をイオン化することを特徴とするイオン化装置。 - 請求項3に記載のイオン化装置であって、
前記導電性キャピラリに水素を送給する水素送給部をさらに備え、
前記噴霧部の前記ノズルに液体試料を供給することなく前記電場形成部により該ノズルに電圧を印加することで又は前記電圧印加部により前記導電性キャピラリに電圧を印加することで放電を生じさせ、
前記水素供給部から前記導電性キャピラリに送給した水素を前記放電の作用によりイオン化することを特徴とするイオン化装置。 - 請求項1〜9のいずれか1項に記載のイオン化装置をイオン源として備えたことを特徴とする質量分析装置。
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018167933A1 (ja) * | 2017-03-16 | 2018-09-20 | 株式会社島津製作所 | 荷電粒子の供給制御方法及び装置 |
CN110993481B (zh) * | 2019-11-13 | 2022-11-15 | 上海裕达实业有限公司 | 基于康达效应的电喷雾电离源辅助电离装置 |
CN114109756A (zh) * | 2021-11-19 | 2022-03-01 | 北京航空航天大学 | 一种高电导率电解质水溶液电喷射系统和方法 |
CN115763213B (zh) * | 2022-11-22 | 2023-11-14 | 广东智普生命科技有限公司 | 一种用于电喷雾源的可在线充电的微电流检测系统 |
Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08236064A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
JP2002540385A (ja) * | 1999-03-22 | 2002-11-26 | アナリティカ オブ ブランフォード インコーポレーテッド | ダイレクトフローインジェクション分析噴霧エレクトロスプレーとapci質量分析法 |
JP2004342620A (ja) * | 1999-04-15 | 2004-12-02 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
US20060255261A1 (en) * | 2005-04-04 | 2006-11-16 | Craig Whitehouse | Atmospheric pressure ion source for mass spectrometry |
JP2010504504A (ja) * | 2006-09-25 | 2010-02-12 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン | 質量分析計とともに使用するための複数の試料供給源、ならびにそのための装置、デバイスおよび方法 |
JP2010529435A (ja) * | 2007-06-01 | 2010-08-26 | パーキンエルマー ヘルス サイエンス インコーポレイテッド | 大気圧イオン源の性能強化 |
JP2011009240A (ja) * | 2010-10-01 | 2011-01-13 | Shimadzu Corp | 大気圧化学イオン化質量分析装置 |
JP2011113832A (ja) * | 2009-11-27 | 2011-06-09 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
WO2014084015A1 (ja) * | 2012-11-29 | 2014-06-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | ハイブリッドイオン源、質量分析計及びイオンモビリティ装置 |
JP2014515861A (ja) * | 2011-01-20 | 2014-07-03 | パーデュー・リサーチ・ファウンデーション | イオン生成と、不連続の大気インターフェースの周期との同期 |
JP2014517481A (ja) * | 2011-06-03 | 2014-07-17 | パーキンエルマー ヘルス サイエンス インコーポレイテッド | 直接試料分析用イオン源 |
WO2015015641A1 (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-05 | 株式会社島津製作所 | イオン化装置及び質量分析装置 |
WO2016002045A1 (ja) * | 2014-07-03 | 2016-01-07 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3274302B2 (ja) * | 1994-11-28 | 2002-04-15 | 株式会社日立製作所 | 質量分析計 |
GB2349270B (en) * | 1999-04-15 | 2002-02-13 | Hitachi Ltd | Mass analysis apparatus and method for mass analysis |
JP3353752B2 (ja) * | 1999-08-06 | 2002-12-03 | 株式会社日立製作所 | イオン源 |
US7078681B2 (en) * | 2002-09-18 | 2006-07-18 | Agilent Technologies, Inc. | Multimode ionization source |
JP4553011B2 (ja) * | 2005-09-16 | 2010-09-29 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
US7411186B2 (en) * | 2005-12-20 | 2008-08-12 | Agilent Technologies, Inc. | Multimode ion source with improved ionization |
CN101211741A (zh) * | 2006-12-28 | 2008-07-02 | 东华理工学院 | 质谱仪多功能多通道离子源 |
WO2009124298A2 (en) * | 2008-04-04 | 2009-10-08 | Agilent Technologies, Inc. | Ion sources for improved ionization |
JP5718223B2 (ja) * | 2008-05-30 | 2015-05-13 | パーキンエルマー ヘルス サイエンス インコーポレイテッドPerkinelmer Health Sciences Inc. | 大気圧化学イオン化に使用する単純操作モードと多重操作モードのイオン源 |
JP5098079B2 (ja) * | 2008-06-27 | 2012-12-12 | 国立大学法人山梨大学 | イオン化分析方法および装置 |
US8759757B2 (en) * | 2010-10-29 | 2014-06-24 | Thermo Finnigan Llc | Interchangeable ion source for electrospray and atmospheric pressure chemical ionization |
-
2016
- 2016-11-29 EP EP16922984.6A patent/EP3550586A1/en not_active Withdrawn
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- 2016-11-29 CN CN201680091242.3A patent/CN110024076B/zh active Active
- 2016-11-29 US US16/339,089 patent/US11099161B2/en active Active
Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08236064A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
JP2002540385A (ja) * | 1999-03-22 | 2002-11-26 | アナリティカ オブ ブランフォード インコーポレーテッド | ダイレクトフローインジェクション分析噴霧エレクトロスプレーとapci質量分析法 |
JP2004342620A (ja) * | 1999-04-15 | 2004-12-02 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
US20060255261A1 (en) * | 2005-04-04 | 2006-11-16 | Craig Whitehouse | Atmospheric pressure ion source for mass spectrometry |
JP2010504504A (ja) * | 2006-09-25 | 2010-02-12 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン | 質量分析計とともに使用するための複数の試料供給源、ならびにそのための装置、デバイスおよび方法 |
JP2010529435A (ja) * | 2007-06-01 | 2010-08-26 | パーキンエルマー ヘルス サイエンス インコーポレイテッド | 大気圧イオン源の性能強化 |
JP2011113832A (ja) * | 2009-11-27 | 2011-06-09 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2011009240A (ja) * | 2010-10-01 | 2011-01-13 | Shimadzu Corp | 大気圧化学イオン化質量分析装置 |
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