JPWO2017073681A1 - サーマルヘッドおよびサーマルプリンタ - Google Patents

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Abstract

本開示のサーマルヘッドX1は、基板7と、基板7上に位置する発熱部9と、基板7上に位置し、発熱部9に繋がっている電極17と、発熱部9および電極17を被覆しており、表面に窪み25bを有する保護層25と、窪み25bの内部に位置する金属の粒子16と、粒子16を被覆しており、金属の酸化物からなる酸化物18層と、を有する。酸化物18層の表面は、外部へ露出しているとともに、窪み25bの周囲の保護層25の表面25aよりも、凹んだ位置にある。【選択図】 図4

Description

本開示は、サーマルヘッドおよびサーマルプリンタに関する。
従来、ファクシミリあるいはビデオプリンタ等の印画デバイスとして、種々のサーマルヘッドが提案されている。例えば、基板と、基板上に位置する発熱部と、基板上に位置し、発熱部に繋がっている電極と、発熱部および電極を被覆しており、表面に窪みを有する保護層とを備えるものが知られている(特許文献1参照)。
特開2000−141729号公報
本開示のサーマルヘッドは、基板と、発熱部と、電極と、保護層と、金属の粒子と、酸化物層と、を備える。前記発熱部は、前記基板上に位置している。前記電極は、前記基板上に位置しており、前記発熱部に繋がっている。前記保護層は、前記発熱部および前記電極を被覆しており、表面に窪みを有している。前記金属の粒子は、前記窪みの内部に位置している。前記酸化物層は、前記粒子を被覆しており、前記金属の酸化物からなる。また、前記酸化物層の表面は、外部へ露出しているとともに、前記窪みの周囲の前記保護層の表面よりも、凹んだ位置にある。
本開示のサーマルプリンタは、上記に記載のサーマルヘッドと、前記発熱部上を通過するように記録媒体を搬送する搬送機構と、前記記録媒体を押圧するプラテンローラと、を備える。
図1は、第1の実施形態に係るサーマルヘッドの概略を示す分解斜視図である。 図2は、図1に示すサーマルヘッドの概略構成を示す平面図である。 図3は、図2のIII−III線断面図である。 図4(a)は、図1に示すサーマルヘッドの保護層の近傍を概略的に示す平面図である。図4(b)は、図4(a)のIVb−IVb線断面図である。 図5は、第1の実施形態に係るサーマルプリンタを示す概略図である。 図6(a)は、第2の実施形態に係るサーマルヘッドの概略を示す平面図である。図6(b)は、第2の実施形態に係るサーマルヘッドの保護層の窪みの近傍を拡大して示す斜視図である。
従来のサーマルヘッドを駆動させると、一時的に記録媒体がサーマルヘッドに貼り付く現象であるスティッキングが生じることがあった。記録媒体とサーマルヘッドとの接触面積が大きい場合に、このような現象が生じ易いことがわかっていた。そこで、サーマルヘッドの表面を保護する保護層の表面に凹凸を形成して、記録媒体と保護層との接触面積を減らすことによりスティッキングを防止したサーマルヘッドが提案されたが、使用によって凹凸が摩耗してしまうため、長期にわたってスティッキングの発生を抑制することはできなかった。
本開示のサーマルヘッドは、このようなスティッキングの発生を低減することができる。以下、本開示のサーマルヘッドおよびそれを用いたサーマルプリンタについて、詳細に説明する。
<第1の実施形態>
以下、サーマルヘッドX1について図1〜4を参照して説明する。図1は、サーマルヘッドX1の構成を概略的に示している。図2は、保護層25、被覆層27、および封止部材12を一点鎖線にて示している。また、図3では、絶縁層20の図示を省略して示している。
サーマルヘッドX1は、ヘッド基体3と、コネクタ31と、封止部材12と、放熱板1と、接着部材14とを備えている。放熱板1は、ヘッド基体3の熱を放熱するために設けられている。ヘッド基体3は、接着部材14を介して放熱板1上に載置されている。ヘッド基体3は、外部から電圧が印加されることにより発熱部9を発熱させ記録媒体(不図示)に印画を行う。接着部材14は、ヘッド基体3と放熱板1とを接着している。コネクタ31は、ヘッド基体3を外部に電気的に接続する。コネクタ31は、コネクタピン8とハウジング10とを有している。封止部材12は、コネクタ31とヘッド基体3とを接合している。
放熱板1は、直方体形状である。放熱板1は、例えば、銅、鉄またはアルミニウム等の金属材料で形成されており、ヘッド基体3の発熱部9で発生した熱のうち、印画に寄与しない熱を放熱する機能を有している。
ヘッド基体3は、平面視して、長方形状であり、基板7上にサーマルヘッドX1を構成する各部材が設けられている。ヘッド基体3は、外部より供給された電気信号に従い、記録媒体(不図示)に印字を行う機能を有する。
図1〜3を用いて、ヘッド基体3を構成する各部材について説明する。
基板7は、放熱板1上に配置されており、平面視して、矩形状である。基板7は、第1長辺7aと、第2長辺7bと、第1短辺7cと、第2短辺7dと、側面7eと、第1面7fと、第2面7gとを有している。側面7eはコネクタ31側に設けられている。第1面7f上にヘッド基体3を構成する各部材が設けられている。第2面7gは、放熱板1側に設けられている。基板7は、例えば、アルミナセラミックス等の電気絶縁性材料あるいは単結晶シリコン等の半導体材料等によって形成されている。
基板7の第1面7f上に蓄熱層13が設けられている。蓄熱層13は、基板7の上方へ向けて突出して隆起している。蓄熱層13は、主走査方向に沿って延びている。蓄熱層13の断面形状は、楕円を半分にしたような形状である。また、蓄熱層13は、印画する記録媒体P(不図示)が、発熱部9上に形成された保護層25に良好に接触するように機能している。蓄熱層13は、基板7からの高さが15〜90μmである。
蓄熱層13は、熱伝導性の低いガラスで形成されており、発熱部9で発生する熱の一部を一時的に蓄積する。そのため、発熱部9の温度を上昇させるのに要する時間を短くすることができ、サーマルヘッドX1の熱応答特性を高めることができる。蓄熱層13は、例えば、ガラス粉末に適当な有機溶剤を混合して得た所定のガラスペーストを従来周知のスクリーン印刷等によって基板7の上面に塗布し、これを焼成することで形成される。
電気抵抗層15は、基板7上、および蓄熱層13上に設けられており、電気抵抗層15上に、ヘッド基体3を構成する各種電極が設けられている。電気抵抗層15は、共通電極17と個別電極19との間に電気抵抗層15が露出した露出領域を有する。各露出領域は発熱部9を構成しており、蓄熱層13上に列状に配置されている。なお、電気抵抗層15は、共通電極17と個別電極19との間のみに設けられてもよい。
複数の発熱部9は、説明の便宜上、図2では簡略化して記載しているが、例えば、100dpi〜2400dpi(dot per inch)等の密度で配置される。電気抵抗層15は、例えば、TaN系、TaSiO系、TaSiNO系、TiSiO系、TiSiCO系またはNbSiO系等の電気抵抗の比較的高い材料によって形成されている。そのため、発熱部9に電圧が印加されたときに、ジュール発熱によって発熱部9が発熱する。
共通電極17は、主配線部17a,17dと、副配線部17bと、リード部17cとを備えている。共通電極17は、複数の発熱部9と、コネクタ31とを電気的に接続している。主配線部17aは、基板7の第1長辺7aに沿って延びている。副配線部17bは、基板7の第1短辺7cおよび第2短辺7dのそれぞれに沿って延びている。リード部17cは、主配線部17aから各発熱部9に向かって個別に延びている。主配線部17dは、基板7の第2長辺7bに沿って延びている。
複数の個別電極19は、発熱部9と駆動IC11との間を電気的に接続している。また、複数の発熱部9は、複数の群に分かれており、各群の発熱部9と各群に対応して設けられた駆動IC11とが、個別電極19によって電気的に接続されている。
複数の第1接続電極21は、駆動IC11とコネクタ31との間を電気的に接続している。各駆動IC11に接続された複数の第1接続電極21は、異なる機能を有する複数の配線で構成されている。
グランド電極4は、個別電極19と、第1接続電極21と、共通電極17の主配線部17dとにより取り囲まれている。グランド電極4は、0〜1Vのグランド電位に接続される。
接続端子2は、共通電極17、第1接続電極21およびグランド電極4をコネクタ31に接続するために、基板7の第2長辺7b側に設けられている。接続端子2はコネクタ31のコネクタピン8に対応して設けられており、それぞれコネクタ31の対応するコネクタピン8と接続されている。
複数の第2接続電極26は、隣り合う駆動IC11を電気的に接続している。複数の第2接続電極26は、それぞれ第1接続電極21に対応するように設けられており、各種信号を隣り合う駆動IC11に伝えている。
上記のヘッド基体3を構成する各種電極は、例えば、各々を構成する材料層を蓄熱層13上に、例えばスパッタリング法等の薄膜成形技術によって順次積層した後、積層体を従来周知のフォトエッチング等を用いて所定のパターンに加工することにより形成される。なお、ヘッド基体3を構成する各種電極は、同じ工程によって同時に形成することができる。
駆動IC11は、図2に示すように、複数の発熱部9の各群に対応して配置されているとともに、個別電極19と第1接続電極21とに接続されている。駆動IC11は、各発熱部9の通電状態を制御する機能を有している。駆動IC11としては、内部に複数のスイッチング素子を有するスイッチングICを用いることができる。
駆動IC11は、個別電極19、第2接続電極26および第1接続電極21に接続された状態で、エポキシ樹脂、あるいはシリコーン樹脂等の樹脂からなるハードコート29によって封止されている。
基板7の第1面7fに設けられた蓄熱層13上には、発熱部9、共通電極17の一部および個別電極19の一部を被覆する絶縁層20が形成されている。
絶縁層20は、発熱部9上と、共通電極17の一部の上、および個別電極19の一部の上に設けられている。絶縁層20は、比抵抗の小さな材料により形成されており、例えば、SiO、SiN、あるいはSiONにより形成することができる。絶縁層20の厚みは、例えば、0.1〜10μmとすることができる。
絶縁層20を設けることにより、主走査方向に複数配列された発熱部9同士を絶縁することができる。絶縁層20は、例えば、スクリーン印刷法、スパッタリング法、あるいはイオンプレーティング法により形成することができる。
保護層25は、発熱部9、共通電極17および個別電極19の被覆した領域を、大気中に含まれている水分等の付着による腐食、あるいは印画する記録媒体との接触による摩耗から保護するためのものである。
基板7上には、共通電極17、個別電極19および第1接続電極21を部分的に被覆する被覆層27が設けられている。被覆層27は、共通電極17、個別電極19、第2接続電極26および第1接続電極21の被覆した領域を、大気との接触による酸化、あるいは大気中に含まれている水分等の付着による腐食から保護するためのものである。被覆層27は、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、あるいはシリコーン系樹脂等の樹脂材料により形成することができる。
コネクタ31とヘッド基体3とは、コネクタピン8、導電部材23、および封止部材12により固定されている。導電部材23は、接続端子2とコネクタピン8との間に配置されており、例えば、はんだ、あるいはACP:Anisotropic Conductive Pasteを例示することができる。なお、導電部材23と接続端子2との間にNi、Au、あるいはPdによるめっき層(不図示)を設けてもよい。なお、導電部材23は必ずしも設けなくてもよい。
コネクタ31は、複数のコネクタピン8と、複数のコネクタピン8を収納するハウジング10とを有している。複数のコネクタピン8は、第1端と第2端とを有している。第1端がハウジング10の外部に露出しており、第2端がハウジング10の内部に収容されている。コネクタピン8の第1端は、ヘッド基体3の接続端子2に電気的に接続されている。それにより、コネクタ31は、ヘッド基体3の各種電極と電気的に接続されている。
封止部材12は、第1封止部材12aと第2封止部材12bとを有している。第1封止部材12aは基板7の第1面7f上に位置しており、第2封止部材12bは基板7の第2面7g上に位置している。第1封止部材12aは、コネクタピン8と各種電極とを封止するように設けられている。第2封止部材12bは、コネクタピン8と基板7との接触部を封止するように設けられている。
封止部材12は、接続端子2、およびコネクタピン8が外部に露出しないように設けられており、例えば、エポキシ系の熱硬化性の樹脂、紫外線硬化性の樹脂、あるいは可視光硬化性の樹脂により形成することができる。なお、第1封止部材12aと第2封止部材12bとが同じ材料により形成されていてもよく、別の材料により形成されていてもよい。
接着部材14は、放熱板1上に配置されており、ヘッド基体3の第2面7gと放熱板1とを接合している。接着部材14としては、両面テープ、あるいは樹脂性の接着剤を例示することができる。
図4を用いて、保護層25と、金属の粒子16について詳細に説明する。
保護層25は、絶縁層20上に設けられており、平面視して、絶縁層20と同等の領域に形成されている。保護層25は、絶縁層20よりも比抵抗の小さな材料により形成されており、例えば、TiN、TiCN、SiC、SiON、SiN、TaNあるいはTaSiOにより形成することができる。
保護層25の厚みは、例えば、2〜15μmとすることができる。保護層25を設けることにより、保護層25と記録媒体との接触により生じた静電気を除電することができる。保護層25は、例えば、スパッタリング法、あるいはイオンプレーティング法により形成することができる。また、絶縁層20をスパッタリング法、あるいはイオンプレーティング法により形成し、連続的に保護層25も形成してもよい。
保護層25は、表面25aに複数の窪み25bを有している。窪み25bは、平面視して円形状、あるいは惰円形状をなしており、円柱形状、惰円柱形状をなしている。なお、多角形柱状であってもよく、球形状であってもよい。窪み25bとしては、図4(b)に示すように、保護層25の内部までの深さのもの(図4(b)では中央部に位置する窪み25b)、あるいは保護層25を厚み方向に貫通するもの(図4(b)では右側に位置する窪み25b)がある。なお、窪み25bは、必ずしも複数設けなくてもよい。
窪み25bの保護層25の表面25aからの深さは、1〜15μmを例示することができる。平面視して、窪み25bの直径は、5〜300μmを例示することができる。なお、窪み25bの直径としては、窪み25bの外形に沿った近似円の直径を測定すればよい。
窪み25bは、保護層25の全域に分散して設けられている。ここで、便宜的に、保護層25を3つの領域に分割して、以下説明する。第1領域E1は、発熱部9が設けられた領域を主走査方向に延ばした領域である。第2領域E2は、発熱部9よりも記録媒体の搬送方向S(以下、搬送方向Sと称する)における上流側に位置する領域である。第3領域E3は、発熱部9よりも搬送方向Sにおける下流側に位置する領域である。窪み25bは、第1領域E1、第2領域E2、および第3領域E3のそれぞれに分散して設けられている。
粒子16は、保護層25の窪み25bの内部に配置されており、窪み25bの周囲に位置する保護層25の表面25aよりも凹んだ位置に設けられている。また、一部の粒子16は、保護層25の内部に埋設されている。また、一部の粒子16は、絶縁層20の内部に位置する部位16dを有している。
粒子16は、粒径が5〜300μmであり金属(複数の金属の合金を含む)により形成されている。粒子16は、保護層25を形成する材料と同一の材料である、Ti,Al,Pb等により形成されることにより、粒子16の熱膨張率を保護層25の熱膨張率に近づけることができ、保護層25の内部に生じる応力を小さくすることができる。
粒子16は、第1粒子16aと、第2粒子16bと、第3粒子16cとを有している。
第1粒子16aは、第1領域E1に配置されている。第1粒子16aは、平面視において、発熱部9と重なる位置に設けられている。なお、第1領域E1における各発熱部9の間に設けられていてもよく、第1粒子16aの一部のみが発熱部9上に設けられていてもよい。
第2粒子16bは、第2領域E2に配置されている。第2粒子16bは、平面視において、個別電極19と重なる位置に設けられている。なお、第2領域E2における各個別電極19の間に設けられていてもよく、第2粒子16bの一部のみが個別電極19上に設けられていてもよい。
第3粒子16cは、第3領域E3に配置されている。第3粒子16cは、平面視において、リード部17cと重なる位置に設けられている。なお、第3領域E3における各リード部17cの間に設けられていてもよく、第3粒子16cの一部のみがリード部17c上に設けられていてもよい。また、第3粒子16cは、共通電極17の主配線部17a(図2参照)、あるいは副配線部17b(図2参照)上に設けられていてもよい。
粒子16の上面には、酸化物層18が設けられている。酸化物層18は、粒子16の表面を酸化させることにより形成することができ、例えば、粒子16としてTiの粒子を用いた場合、TiOにより形成することができる。酸化物層18の厚みは、1〜20nmとすることができる。酸化物層18の外形は、平面視において、窪み25bの外形と同一となっている。
酸化物層18の表面18aは、外部へ露出しているとともに、窪み25bの周囲の保護層25の表面25aよりも、凹んだ位置にある。言い換えると、酸化物層18の表面18aは、窪み25bの周囲の保護層25の表面25aよりも、基板7側に位置している。すなわち、酸化物層18の表面18aが、保護層25の表面25aよりも下方に配置されている。酸化物層18の表面18aと保護層25の表面25aとの段差(以下、段差と称する)は、0.1〜1μmとすることができる。
このように、本実施形態のサーマルヘッドX1では、保護層25の表面25aに窪み25bを有しているとともに、窪み25bの内部に金属の粒子16を有しており、粒子16の表面に酸化物層18を有している。そして、酸化物層18の表面18aが、外部へ露出しているとともに、窪み25bの周囲の保護層25の表面25aよりも、凹んだ位置にある。このような構成を有する本実施形態のサーマルヘッドX1は、スティッキングの発生を低減することができる。そのメカニズムを以下に説明する。
まず、保護層25の表面25aと、酸化物層18の表面18aとの段差が大きく、記録媒体が酸化物層18の表面18aに接触しない状態のときには、記録媒体と保護層25との接触面積が小さいことにより、スティッキングの発生を低減することができる。
サーマルヘッドX1の使用により、保護層25の表面25aが摩耗して、保護層25の表面25aと酸化物層18の表面18aとの段差が小さくなると、記録媒体が酸化物層18と接触するようになる。記録媒体Pと酸化物層18とが接触するようになると、酸化物層18が削られて摩耗粉が発生し、記録媒体PとサーマルヘッドX1との間に存在する摩耗粉が潤滑剤として機能するため、それによりスティッキングの発生を低減することができる。
酸化物層18の表面18aの摩耗が、保護層25の表面25aの摩耗よりも大きく進み、保護層25の表面25aと酸化物層18の表面18aとの段差が再び大きくなると、酸化物層18の表面18aが記録媒体に接触しなくなる。その時には、記録媒体と保護層25との接触面積が小さいことにより、スティッキングの発生を低減することができる。
また、摩耗によって酸化物層18がなくなった場合には、粒子16の表面が空気と接触することにより酸化され、再度、粒子16の表面に酸化物層18が形成される。
このようにして、本実施形態のサーマルヘッドX1は、長期間に渡ってスティッキングの発生を低減することができる。
さらに、酸化物層18の表面18aが、保護層25の表面25aよりも基板7側に位置しているため、酸化物層18の表面18aが、必要以上に記録媒体Pと接触しにくくなる。それにより、酸化物層18および粒子16が摩耗しにくい構成となっている。
また、本実施形態のサーマルヘッドX1では、窪み25bが保護層25を貫通しており、粒子16の一部が、絶縁層20の内部に位置していてもよい。このような構成を満たすときには、アンカー効果が生じ、保護層25と絶縁層20との接合強度を向上させることができる。その結果、記録媒体との接触摩擦などにより、保護層25に外力が加わっても、保護層25に剥離が生じにくくなる。
また、本実施形態のサーマルヘッドX1では、第1粒子16aが、平面視において、発熱部9と重なる位置に設けられていてもよい。このような構成を満たすときには、、発熱部9の発熱により第1粒子16aの酸化を促進させることができ、酸化物層18を形成しやすくすることができる。特に、発熱部9は、記録媒体が強く押しつけられる部分であるため、その部分に第1粒子16aが配置されることにより、スティッキングが生じにくくすることができる。
また、本実施形態のサーマルヘッドX1では、粒子16の熱伝導率が、保護層25の熱伝導率よりも大きくてもよい。このような構成を満たすときには、発熱部9の熱を効率よく記録媒体Pに伝達することができる。その結果、サーマルヘッドX1の熱効率を向上させることができる。
また、本実施形態のサーマルヘッドX1では、発熱部9の平面視したときの面積をA、粒子16における平面視したときに発熱部9と重なる部分の面積をBとするとき、BをAで除した値(B/A)が、0.001より大きくてもよい。このような構成を満たすときには、記録媒体が強く押しつけられる部分である発熱部上において、記録媒体と保護層25との接触面積を小さくできるとともに、酸化物層25から生じる研磨粉の量を多くすることができるので、スティッキングの発生を効果的に低減することができる。
粒子16の熱伝導率は、保護層25の熱伝導率と異なる(保護層25の熱伝導率よりも高い場合が多い)ため、発熱部9上に存在する粒子16が多くなりすぎると、発熱部9から記録媒体への想定通りの熱伝達が困難になる。それにより、印刷物に濃度ムラが生じる場合がある。
本実施形態のサーマルヘッドX1では、発熱部9の平面視したときの面積をA、粒子16における平面視したときに発熱部9と重なる部分の面積をBとするとき、BをAで除した値(B/A)が、0.2より小さくてもよい。このような構成を満たすときには、濃度ムラの発生を低減することができる。
なお、発熱部9の平面視したときの面積Aは、光学顕微鏡を用いて、発熱部9を厚み方向の上方から撮影し、撮影された写真において、該当する部分の長さを計測して面積を計算することにより求めることができる。粒子16における平面視したときに発熱部9と重なる部分の面積Bについても同様である。なお、撮影された写真を画像処理して面積を測定してもよい。
また、本実施形態のサーマルヘッドX1では、第2粒子16bが、発熱部9の搬送方向Sの上流側に配置されていてもよい。このような構成を満たすときには、酸化物層18が摩耗して生じた摩耗粉を、記録媒体の搬送に伴って、記録媒体が強く押しつけられる発熱部9に供給することができる。これにより、スティッキングの発生を効果的に低減することができる。
絶縁層20および保護層25は、例えば、以下の方法により形成することができる。
各種電極がパターニングされた基板7に、マスキングを行い、絶縁層20をスパッタリング法により形成する。次に、同じマスクを用いてスパッタリング法により保護層25を形成する。なお、イオンプレーティング法により絶縁層20および保護層25を形成してもよく、絶縁層20および保護層25を連続して形成してもよい。
保護層25の形成後または形成中に、プラズマ溶射、あるいはアーク溶射等をすることにより、保護層25中に粒子16を含有させることができる。また、溶射により保護層25に粒子16を含有させることから、保護層25の中にランダムに分散させることができる。このように、保護層25の形成とプラズマ溶射とを同時または交互に行うことにより、粒子16を含有する保護層25を作製することができる。
なお、上記形態では、絶縁層20と保護層25とを備えた例を示したが、必ずしも絶縁層20を備えていなくてもよい。また、絶縁層20または保護層25を多層化してもよい。
次に、サーマルヘッドX1を有するサーマルプリンタZ1について、図5を参照しつつ説明する。
本実施形態のサーマルプリンタZ1は、上述のサーマルヘッドX1と、搬送機構40と、プラテンローラ50と、電源装置60と、制御装置70とを備えている。サーマルヘッドX1は、サーマルプリンタZ1の筐体(不図示)に設けられた取付部材80の取付面80aに取り付けられている。なお、サーマルヘッドX1は、搬送方向Sに直交する方向である主走査方向に沿うようにして、取付部材80に取り付けられている。
搬送機構40は、駆動部(不図示)と、搬送ローラ43,45,47,49とを有している。搬送機構40は、感熱紙、インクが転写される受像紙等の記録媒体Pを図5の矢印S方向に搬送して、サーマルヘッドX1の複数の発熱部9上に位置する保護層25上に搬送するためのものである。駆動部は、搬送ローラ43,45,47,49を駆動させる機能を有しており、例えば、モータを用いることができる。搬送ローラ43,45,47,49は、例えば、ステンレス等の金属からなる円柱状の軸体43a,45a,47a,49aを、ブタジエンゴム等からなる弾性部材43b,45b,47b,49bにより被覆して構成することができる。なお、記録媒体Pが、インクが転写される受像紙等の場合は、記録媒体PとサーマルヘッドX1の発熱部9との間に、記録媒体Pとともにインクフィルム(不図示)を搬送する。
プラテンローラ50は、記録媒体PをサーマルヘッドX1の発熱部9上に位置する保護層25上に押圧する機能を有する。プラテンローラ50は、搬送方向Sに直交する方向に沿って延びるように配置され、記録媒体Pを発熱部9上に押圧した状態で回転可能となるように両端部が支持固定されている。プラテンローラ50は、例えば、ステンレス等の金属からなる円柱状の軸体50aを、ブタジエンゴム等からなる弾性部材50bにより被覆して構成することができる。
電源装置60は、上記のようにサーマルヘッドX1の発熱部9を発熱させるための電流および駆動IC11を動作させるための電流を供給する機能を有している。制御装置70は、上記のようにサーマルヘッドX1の発熱部9を選択的に発熱させるために、駆動IC11の動作を制御する制御信号を駆動IC11に供給する機能を有している。
サーマルプリンタZ1は、プラテンローラ50によって記録媒体PをサーマルヘッドX1の発熱部9上に押圧しつつ、搬送機構40によって記録媒体Pを発熱部9上に搬送しながら、電源装置60および制御装置70によって発熱部9を選択的に発熱させることにより、記録媒体Pに所定の印画を行う。なお、記録媒体Pが受像紙等の場合は、記録媒体Pとともに搬送されるインクフィルム(不図示)のインクを記録媒体Pに熱転写することによって、記録媒体Pへの印画を行う。
<第2の実施形態>
図6を用いてサーマルヘッドX2について説明する。図6(a)では、酸化物層118の図示を省略している。なお、前述した第1の実施形態のサーマルヘッドX1と同一の部材については同じ符号を付しており、重複する説明を省略する。サーマルヘッドX2は、粒子116および酸化物層118が、サーマルヘッドX1の粒子16および酸化物層18と異なっている。
粒子116は、第1粒子116aと、第2粒子116bと、第3粒子116cとを有している。第1粒子116aは、第1領域E1に配置されている。第2粒子116bは、第2領域E2に配置されている。第3粒子116cは、第3領域E3に配置されている。
そして、第2粒子116bの平面視したときの面積の合計が、第3粒子116cの平面視したときの面積の合計よりも大きくなっていてもよい。このような構成を満たすときには、、酸化物層118が摩耗して生じた摩耗粉を、プラテンローラ50(図5参照)の押圧力の高い第1領域E1に多く供給することができる。その結果、スティッキングが生じにくくなる。
上記の平面視したときの面積の合計は、例えば、レーザー顕微鏡により、サーマルヘッドX1の表面の画像を撮影し、撮影した画像を画像処理することにより測定することができる。
なお、第2粒子116bの平面視したときの面積の合計とは、第2領域E2に位置する第2粒子116bの平面視したときの面積の合計に、一部が第2領域E2に位置する第2粒子116bの重なった部分も加算したものである。第3粒子116cの平面視したときの面積の合計についても同様である。
図6(b)に示すように、酸化物層118の表面118aが、搬送方向Sに沿った溝122を複数有していてもよい。このような構成を満たすときには、記録媒体P(図5参照)と、酸化物層118の表面118aとの間に、溝122に対応した隙間が生じることとなる。その結果、記録媒体Pが酸化物層118の表面118aに張り付きにくくすることができる。
また、溝122は、搬送方向Sに長い形状を有していてもよい。このような構成を満たすときには、記録媒体P(図5参照)との接触により剥離した摩耗粉を、溝122に沿って流すことができ、搬送方向Sに効率よく摩耗粉を供給することができる。その結果、摩耗粉が潤滑剤となり、スティッキングが生じにくくなる。
溝122の幅は、例えば、0.1〜10μmとすることができる。溝122は、例えば、搬送方向Sに凹凸を有する形成部材を記録媒体Pのように搬送させることにより作製することができる。
以上、本開示のサーマルヘッドは、上記実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。例えば、第1の実施形態であるサーマルヘッドX1を用いたサーマルプリンタZ1を示したが、これに限定されるものではなく、サーマルヘッドX2をサーマルプリンタZ1に用いてもよい。また、複数の実施形態であるサーマルヘッドX1,X2を組み合わせてもよい。
また、例えば、電気抵抗層15を薄膜によって形成した、発熱部9の薄い薄膜ヘッドを例示して示したが、これに限定されるものではない。各種電極をパターニングした後に、電気抵抗層15を厚膜によって形成した、発熱部9の厚い厚膜ヘッドであってもよい。
また、発熱部9が基板7の第1面7f上に形成された平面ヘッドを例示して説明したが、発熱部9が基板7の端面に設けられた端面ヘッドでもよい。
また、蓄熱層13が隆起部13a以外の領域に下地部13を形成してもよい。蓄熱層13上に共通電極17および個別電極19を形成し、共通電極17と個別電極19との間の領域のみに電気抵抗層15を形成することにより、発熱部9を形成してもよい。
また、封止部材12を、駆動IC11を被覆するハードコート29と同じ材料により形成してもよい。その場合、ハードコート29を印刷する際に、封止部材12が形成される領域にも印刷して、ハードコート29と封止部材12とを同時に形成してもよい。
また、基板7に直接コネクタ31を接続した例を示したが、基板7にフレキシブル配線基板(FPC:Flexible printed circuits)を接続してもよい。
発熱部の平面視したときの面積と、粒子における平面視したときに発熱部と重なる部分の面積との関係性を調査する目的で以下の実験を行った。
共通電極17、個別電極19、および第1接続電極21等の各種電極配線が形成された試料となる基板を複数準備し、スパッタリング法によりSiNの絶縁層20を5μm成膜した。次に、イオンプレーティング法によりTiNの保護層25を10μm成膜した。次に、表1に示す値になるように、プラズマ溶射を行って保護層25に粒子16を含有させた。
次に、保護層25が成膜された基板に駆動IC11を搭載してサーマルヘッドを作製し、以下に示す走行試験を行った。
試料No.1〜7のサーマルヘッドを搭載したサーマルプリンタに、記録媒体として感熱紙を用いて、搬送速度50mm/sの条件で、全発熱素子をオン状態で1000mm印字した。印字された感熱紙を確認し、印字飛びが生じていないものを表1に○と記載し、印字飛びが生じていたものをスティッキングが生じたと判定し、表1に△と記載した。
また、印字された感熱紙を、光学濃度計を用いて反射率を測定した。反射率は、副走査方向に5点、任意に測定し、測定された光学濃度値の最大値と最小値との差が、0.2以上のものを印画濃度ムラが生じていないと判定し、表1に○と記載し、測定された光学濃度値の最大値と最小値との差が0.2以下のものを、印画濃度ムラが生じたと判定し、表1に△と記載した。
Figure 2017073681
試料No.1〜7のサーマルヘッドを搭載したサーマルプリンタの全てにおいて、従来のサーマルヘッドを搭載したサーマルプリンタと比較してスティッキングの発生の減少が確認できた。
また、さらに詳細な確認では、表1に示すように、B/Aが0.0012よりも大きな試料No.1〜5,7は、スティッキングが生じていなかった。これに対して、B/Aが0.0008の試料No.6は、若干のスティッキングが生じていた。
また、表1に示すように、B/Aが0.02よりも小さな試料No.1〜6は、印画濃度ムラが生じていなかった。これに対して、B/Aが0.022の試料No.7は、若干の印画濃度ムラが生じていた。
X1〜X2 サーマルヘッド
Z1 サーマルプリンタ
E1 第1領域
E2 第2領域
E3 第3領域
1 放熱板
3 ヘッド基体
7 基板
9 発熱部
11 駆動IC
12 封止部材
13 蓄熱層
14 接着部材
16,1
16 無機粒子
16a,116a 第1粒子
16b,116b 第2粒子
16c,116c 第3粒子
18,118 酸化物層
18a,118a 表面
20 絶縁層
25 保護層
25a 表面
25b 窪み
27 被覆層
31 コネクタ
122 溝

Claims (11)

  1. 基板と、
    前記基板上に位置する発熱部と、
    前記基板上に位置し、前記発熱部に繋がっている電極と、
    前記発熱部および前記電極を被覆しており、表面に窪みを有する保護層と、
    前記窪みの内部に位置する金属の粒子と、
    前記粒子を被覆しており、前記金属の酸化物からなる酸化物層と、を備え、
    前記酸化物層の表面は、外部へ露出しているとともに、前記窪みの周囲の前記保護層の表面よりも、凹んだ位置にあることを特徴とするサーマルヘッド。
  2. 前記発熱部および前記電極と、前記保護層との間に絶縁層を備えており、
    前記窪みが前記保護層を貫通しており、
    前記粒子の一部が、前記絶縁層の内部に位置している、請求項1に記載のサーマルヘッド。
  3. 前記粒子が、平面視において、前記発熱部と重なる位置にある、請求項1または2に記載のサーマルヘッド。
  4. 前記粒子の熱伝導率が、前記保護層の熱伝導率よりも大きい、請求項3に記載のサーマルヘッド。
  5. 前記発熱部の平面視したときの面積をA、前記粒子における平面視したときに前記発熱部と重なる部分の面積をBとするとき、
    B/Aが、0.001より大きい、請求項3または4に記載のサーマルヘッド。
  6. B/Aが、0.2より小さい、請求項5に記載のサーマルヘッド。
  7. 前記粒子が、前記発熱部の記録媒体の搬送方向における上流側に配置されている、請求項1から6のいずれか一項に記載のサーマルヘッド。
  8. 前記粒子を複数有しており、複数の前記粒子は、
    前記発熱部よりも前記記録媒体の搬送方向における上流側に位置する第1粒子と、
    前記発熱部よりも前記記録媒体の搬送方向における下流側に位置する第2粒子と、を有しており、
    前記第1粒子の平面視したときの面積の合計が、前記第2粒子の平面視したときの面積の合計よりも大きい、請求項7に記載のサーマルヘッド。
  9. 前記酸化物層の表面が複数の窪みを有している、請求項1から9のいずれか一項に記載のサーマルヘッド。
  10. 複数の前記窪みは、記録媒体の搬送方向に長い形状を有している、請求項9に記載のサーマルヘッド。
  11. 請求項1から10のうちいずれか一項に記載のサーマルヘッドと、
    前記発熱部上を通過するように記録媒体を搬送する搬送機構と、
    前記記録媒体を押圧するプラテンローラと、を備えることを特徴とするサーマルプリンタ。
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