JPWO2017068629A1 - ロック検出装置、周波数シンセサイザ及び半導体装置 - Google Patents

ロック検出装置、周波数シンセサイザ及び半導体装置 Download PDF

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Abstract

比較出力部は、周波数シンセサイザの可変整数分周器からの分周信号の周波数と周波数シンセサイザへのリファレンス信号の周波数との周波数差を、許容される周波数差の範囲である許容周波数差範囲と比較し、周波数差が許容周波数差範囲内にある場合に、周波数シンセサイザがロック状態であることを通知するロック状態信号を出力する。制御部は、可変整数分周器に設定される分周値を監視し、可変整数分周器に設定される分周値に起因して周波数差が許容周波数差範囲から外れる期間である制御対象期間を検出し、制御対象期間の間は、周波数差が許容周波数差範囲から外れる場合でも比較出力部にロック状態信号を出力させる。

Description

本発明は、周波数シンセサイザの周波数同期を検出する技術に関する。
周波数シンセサイザをはじめとするPLL(Phase Locked Loop)回路は、VCO(Voltage Controlled Oscillator)を備え、VCOの発振周波数がリファレンス信号と同期した所望の周波数に固定されるようにVCOの入力電圧を制御する回路である。
周波数シンセサイザの例として、Fractional−N PLL回路がある。Fractional−N PLL回路は、ΔΣ変調器を用いて可変整数分周器の分周値を時間的に変化させる。これにより、Fractional−Nは、リファレンス信号の周波数Frefに対して分数の精度で出力信号の周波数Foutを制御することを実現している。
Fractional−N PLL回路は、例えば、非特許文献1に記載されている。
VCOの発振周波数が所望する周波数で安定しているとき、PLL回路はロック状態と見なされる。
PLL回路のロック検出装置は、PLL回路がロック状態にあるかアンロック状態にあるかを判定する回路である。ロック検出装置は、リファレンス信号の周波数FrefとPLL分周信号の周波数Fdivの周波数差が一定範囲内にあるときにPLL回路がロック状態であると判定する。
ロック検出装置の出力信号は、PLL回路の出力信号を使用する外部回路に対してPLL回路がロック状態であるかどうかを伝達するために用いられる。また、ロック検出装置の出力信号は、PLL回路が正常に動作しているかどうかを判定するために用いられる。
図6に、従来のロック検出装置を備えたFractional−N PLL回路30の構成例を示す。図6において、Fractional−N PLL回路30は、位相周波数比較器11、チャージポンプ12、ループフィルタ13、VCO14、可変整数分周器15、ΔΣ変調器16、ロック検出装置31により構成される。
VCOの出力信号は可変整数分周器15によって分周され、可変整数分周器15からのPLL分周信号とリファレンス信号の位相が位相周波数比較器11で比較される。PLL分周信号とリファレンス信号との位相差がチャージポンプ12により電流に変換される。そして、チャージポンプ12からの電流がループフィルタ13によって平滑化電圧として波形整形されてVCO14の制御電圧となる。可変整数分周器15の分周比はΔΣ変調器16によって時間的に変化する。
ロック検出装置31は、PLL分周信号の周波数Fdivとリファレンス信号の周波数Frefを比較し、周波数Fdivと周波数Frefとの差異が許容周波数差範囲(以下、ロック周波数範囲)内に収まっているかを判定する。周波数Fdivと周波数Frefとの差異がロック周波数範囲内であれば、ロック検出装置31は、PLL回路がロック状態であると判断する。
図7に、従来のロック検出装置31の構成例を示す。図7において、ロック検出装置31は、ロック周波数範囲生成回路32と、周波数比較回路22とを備える。
ロック周波数範囲生成回路32は、リファレンス信号からロック周波数範囲の周波数上限値(Fmax)と周波数下限値(Fmin)を生成する。
周波数比較回路22は、PLL分周信号の周波数Fdivとリファレンス信号の周波数Frefとの差異がロック周波数範囲内であるかどうかを判定する。周波数比較回路22は、周波数Fdivと周波数Frefとの差異がロック周波数範囲内であれば、ロック状態を通知する検出結果信号であるロック状態信号を出力する。一方、周波数Fdivと周波数Frefとの差異がロック周波数範囲内でなければ、周波数比較回路22は、アンロック状態を通知する検出結果信号であるアンロック状態信号を出力する。
Kenichi Tajima,"Frequency and Phase Difference Control Using Fractional−N PLL Synthesizers by Composition of Control Data,"IEEE Trans. on Microwave Theory and Techniques,Vol. 55,No. 12,Dec. 2007.
前記のように、Fractional−N PLL回路では可変整数分周器に設定される分周値が時間的に変動する。そのため、VCO14の発振周波数が所望の周波数となっても、分周値によってはPLL分周信号の周波数Fdivとリファレンス信号の周波数Frefとの差異が大きくなる期間が存在する。つまり、可変整数分周器に設定される分周値に起因して周波数Fdivと周波数Frefとの差異が大きくなる場合は、本来はロック状態と判定されるべきであっても、アンロック状態として判定され、アンロック状態信号が出力されてしまう。
図8に示すように、ロック周波数範囲が狭いと、可変整数分周器15に設定される分周値である整数分周設定Diに依存して頻繁にアンロック状態が発生することになる。具体的には、図8の例では、整数分周設定Di=5の間、更に、整数分周設定Di=2の間でPLL分周信号の周波数Fdivとリファレンス信号の周波数Frefとの差異がロック周波数範囲を超えてしまい、ロック状態と判定されるべきであっても、アンロック状態として判定されてしまい、ロック検出装置31からはアンロック状態信号が出力される。
整数分周設定Diが時間的に変化しても安定してロック状態信号が出力されるためには、図9に示すようにロック周波数範囲を広くする必要がある。
一方で、図9のようにロック周波数範囲を常に広くしていると、整数分周設定Di=3、4の際にアンロック状態と判定されるべき場合でも、誤ってロック状態と判定されてしまう可能性がある。
このように、従来は、整数分周設定Diが時間的に変化する場合は、ロック状態信号を正確かつ安定的に出力することができないという課題があった。
本発明は、上記の課題を解決することを主な目的としており、可変整数分周器に設定される分周値に起因して分周信号の周波数とリファレンス信号の周波数との周波数差が変動する場合でも、ロック状態信号を正確かつ安定的に出力することができる構成を実現することを目的とする。
本発明に係るロック検出装置は、
周波数シンセサイザの可変整数分周器からの分周信号の周波数と前記周波数シンセサイザへのリファレンス信号の周波数との周波数差を、許容される周波数差の範囲である許容周波数差範囲と比較し、前記周波数差が前記許容周波数差範囲内にある場合に、前記周波数シンセサイザがロック状態であることを通知するロック状態信号を出力する比較出力部と、
前記可変整数分周器に設定される分周値を監視し、前記可変整数分周器に設定される分周値に起因して前記周波数差が前記許容周波数差範囲から外れる期間である制御対象期間を検出し、前記制御対象期間の間は、前記周波数差が前記許容周波数差範囲から外れる場合でも前記比較出力部に前記ロック状態信号を出力させる制御部とを備える。
本発明によれば、可変整数分周器に設定される分周値に起因して分周信号の周波数とリファレンス信号の周波数との周波数差が変動する場合でも、ロック状態信号を正確かつ安定的に出力することができる。
実施の形態1に係るFractional−N PLL回路の構成例を示す図。 実施の形態1に係るロック検出装置の構成例を示す図。 実施の形態1に係るロック検出装置の動作例を示す図。 実施の形態2に係るロック検出装置の構成例を示す図。 実施の形態2に係るロック検出装置の動作例を示す図。 従来のFractional−N PLL回路の構成例を示す図。 従来のロック検出装置の構成例を示す図。 従来のロック検出装置の課題を説明する図。 従来のロック検出装置の課題を説明する図。
実施の形態1.
***構成の説明***
図1は、本実施の形態に係るFractional−N PLL回路10の構成例を示す。
図1において、位相周波数比較器11、チャージポンプ12、ループフィルタ13、VCO14、可変整数分周器15、ΔΣ変調器16は、図6に示したものと同じであるため、説明を省略する。
ロック検出装置21は、図6のロック検出装置31と内部構成が異なっている。
図2は、ロック検出装置21の内部構成例を示す。
図2に示すように、ロック検出装置21は、周波数比較回路22、ロック周波数範囲生成回路23、分周設定比較回路24により構成される。
周波数比較回路22は、可変整数分周器15からのPLL分周信号の周波数Fdivとリファレンス信号の周波数Frefとの周波数差をロック周波数範囲と比較する。そして、周波数差がロック周波数範囲内にある場合に、周波数比較回路22はロック状態信号を出力する。ロック状態信号は、Fractional−N PLL回路10がロック状態であることを通知する検出結果信号である。一方、周波数差がロック周波数範囲内にない場合に、周波数比較回路22はアンロック状態信号を出力する。アンロック状態信号は、Fractional−N PLL回路10がアンロック状態であることを通知する検出結果信号である。
なお、ロック周波数範囲は、前述したように、許容される周波数差の範囲であり、許容周波数差範囲に相当する。
本実施の形態では、周波数比較回路22は、2種類のロック周波数範囲を用いる。1つは、通常のロック周波数範囲であり、もう1つは、拡張されたロック周波数である拡張ロック周波数範囲である。
拡張ロック周波数範囲は、通常の許容周波数差範囲よりも広く、拡張周波数差範囲に相当する。
なお、周波数比較回路22は、比較出力部に相当する。
ロック周波数範囲生成回路23は、分周設定比較回路24から拡張指示がない場合は、通常のロック周波数範囲を生成する。そして、ロック周波数範囲生成回路23は、生成した通常のロック周波数範囲を周波数比較回路22に出力する。
一方、分周設定比較回路24から拡張指示があった場合は、ロック周波数範囲生成回路23は、拡張ロック周波数範囲を生成する。そして、ロック周波数範囲生成回路23は、生成した拡張ロック周波数範囲を周波数比較回路22に出力する。
分周設定比較回路24は、可変整数分周器15に設定される分周値である整数分周設定を監視し、整数分周設定に起因して周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差が通常のロック周波数範囲から外れる期間である制御対象期間を検出する。
分周設定比較回路24は、制御対象期間の間は、拡張ロック周波数範囲を生成するよう指示する拡張指示をロック周波数範囲生成回路23に出力する。
ロック周波数範囲生成回路23は、前述したように、拡張指示があった場合は、拡張ロック周波数範囲を生成し、生成した拡張ロック周波数範囲を周波数比較回路22に出力する。
ロック周波数範囲生成回路23と分周設定比較回路24は、制御部に相当する。
本実施の形態では、ロック周波数範囲生成回路23は、制御部として、可変整数分周器15に設定される分周値を監視し、可変整数分周器15に設定される分周値に起因して周波数差が許容周波数差範囲から外れる期間である制御対象期間を検出する。また、ロック周波数範囲生成回路23と分周設定比較回路24は、制御部として、制御対象期間の間は、周波数差が許容周波数差範囲から外れる場合でも周波数比較回路22にロック状態信号を出力させる。
***動作の説明***
次に、本実施の形態に係るロック検出装置21の動作例を説明する。
分周設定比較回路24は、周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差が通常のロック周波数範囲内に維持される分周値の範囲を基準分周値範囲(分周設定上限値と分周設定下限値)として記憶している。
分周設定比較回路24は、可変整数分周器15に設定される分周値である整数分周設定を通知する信号を受信し、整数分周設定が基準分周値範囲内であるか否かを判定する。
整数分周設定が基準分周値範囲外であれば、分周設定比較回路24は、当該整数分周設定では、PLL分周信号の周波数Fdivがリファレンス信号の周波数Frefと大きく異なると判定する。つまり、分周設定比較回路24は、当該整数分周設定が継続している間を制御対象時間として扱う。
そして、分周設定比較回路24は、制御対象時間の間、拡張指示をロック周波数範囲生成回路23に出力する。
ロック周波数範囲生成回路23は、分周設定比較回路24からの拡張指示がなければ、通常のロック周波数範囲を生成し、生成した通常のロック周波数範囲を周波数比較回路22に出力する。一方、拡張指示があった場合は、ロック周波数範囲生成回路23は、拡張ロック周波数範囲を生成し、生成した拡張ロック周波数範囲を周波数比較回路22に出力する。
周波数比較回路22は、ロック周波数範囲生成回路23から出力されるロック周波数範囲と、周波数Fdivとリファレンス信号の周波数Frefとの周波数差とを比較する。
周波数比較回路22は、ロック周波数範囲生成回路23から通常のロック周波数範囲が出力されている間は、周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差と、通常のロック周波数範囲とを比較する。また、周波数比較回路22は、周波数差が通常のロック周波数範囲内であれば、ロック状態信号を出力する。
一方、ロック周波数範囲生成回路23により拡張ロック周波数範囲が出力されている間は、周波数比較回路22は、周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差と、拡張ロック周波数範囲とを比較する。また、周波数比較回路22は、周波数差が拡張ロック周波数範囲内であれば、ロック状態信号を出力する。つまり、周波数比較回路22は、周波数差が通常のロック周波数範囲から外れていても拡張ロック周波数範囲内であれば、ロック状態信号を出力する。
図3は、本実施の形態に係るロック検出装置21の動作の具体例を示す。
図3の例では、分周設定比較回路24は、基準分周値範囲として、整数分周設定Di=3、4を記憶している。
整数分周設定Diが基準分周値範囲内にある間(整数分周設定Diが3又は4の間)は、分周設定比較回路24は拡張指示を出力しない。このため、ロック周波数範囲生成回路23は、通常のロック周波数範囲を周波数比較回路22に出力する。
周波数比較回路22は、周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差が通常のロック周波数範囲内であれば、ロック状態信号を出力する。
整数分周設定Diが基準分周値範囲外の間(整数分周設定Diが2又は5の間)は、分周設定比較回路24がロック周波数範囲生成回路23に拡張指示を出力する。このため、ロック周波数範囲生成回路23は、周波数上限値(Fmax)と周波数下限値(Fmin)を拡張して、拡張ロック周波数範囲を周波数比較回路22に出力する。
周波数比較回路22は、周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差が拡張ロック周波数範囲内であれば、ロック状態信号を出力する。
図3に示すようにロック周波数範囲を拡張することで、PLL分周信号の周波数Fdivがリファレンス信号の周波数Frefと大きく異なっても、ロック検出装置21の検出結果信号がロック状態からアンロック状態に遷移することを防ぐことができる。このため、正確かつ安定したロック検出装置21の出力を得ることが可能となる。
***実施の形態の効果の説明***
このように、本実施の形態によれば、ロック周波数範囲を拡張することにより、可変整数分周器に設定される分周値に起因して分周信号の周波数とリファレンス信号の周波数との周波数差が変動する場合でも、ロック状態信号を正確かつ安定的に出力することができる。
例えば、PLL回路を備えた無線通信機器では、PLL回路がロック状態になったことが検出された後に通信が行われる。このため、ロック状態をより精度よく検出することができれば、通信性能を向上させることができ、通信エラーの低減や通信時間の短縮化が可能となる。
また、PLL回路が正常に動作しているか否かの検査にロック検出装置の検出結果信号が用いられる場合は、PLL回路がロック状態にある場合に正確にロック状態信号が出力されるため、PLL回路の検査を正確に行うことができる。
実施の形態2.
以下にて、本実施の形態に係るロック検出装置21を説明する。
以下では、主に、実施の形態1との差異を説明する。
以下で説明していない事項は、実施の形態1と同じである。
***構成の説明***
図4は、実施の形態2に係るロック検出装置21の構成例を示す回路図である。
本実施の形態では、図2に示す構成にラッチ回路25が追加されている。
本実施の形態では、ロック周波数範囲生成回路23は、実施の形態1とは異なり、1つのロック周波数範囲のみを生成する。つまり、ロック周波数範囲生成回路23は、拡張ロック周波数範囲は生成しない。
同様に、周波数比較回路22においても、実施の形態1とは異なり、周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差の比較に用いるロック周波数範囲は1つである。
分周設定比較回路24は、実施の形態1と同様に、可変整数分周器15に設定される分周値を監視し、制御対象期間を検出する。しかしながら、本実施の形態では、分周設定比較回路24は、拡張指示は出力せずに、ラッチ回路25に切替指示を出力する。切替指示を出力することにより、分周設定比較回路24は、周波数比較回路22において周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差がロック周波数範囲外であると判定されてアンロック状態信号が出力されても、ラッチ回路25からロック状態信号を継続して出力させる。
ラッチ回路25は、分周設定比較回路24から切替指示が出力されていなければ、周波数比較回路22から出力されるロック状態信号を検出結果信号として外部に出力する。分周設定比較回路24から切替指示が出力された場合は、周波数比較回路22において周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差が通常のロック周波数範囲外であると判定されてアンロック状態信号が出力されるが、ラッチ回路25はアンロック状態信号ではなく切替指示の出力前に周波数比較回路22から出力されていたロック状態信号を出力する。
なお、本実施の形態では、周波数比較回路22とラッチ回路25が比較出力部に相当し、分周設定比較回路24が制御部に相当する。
***動作の説明***
図5は、本実施の形態に係るロック検出装置21の動作の具体例を示す。
図5の例では、分周設定比較回路24は、基準分周値範囲として、整数分周設定Di=3、4を記憶している。
整数分周設定Diが基準分周値範囲内にある間(整数分周設定Diが3又は4の間)は、周波数比較回路22は、周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差がロック周波数範囲内であると判定し、ロック状態信号をラッチ回路25に出力する。ラッチ回路25は、ロック状態信号を保持するとともに、ロック状態信号を出力する。
整数分周設定Diが基準分周値範囲外の間(整数分周設定Diが2又は5の間)は、分周設定比較回路24がラッチ回路25に切替指示を出力する。また、整数分周設定Diが基準分周値範囲外の間は、周波数比較回路22は、周波数Fdivと周波数Frefとの周波数差がロック周波数範囲外であると判定し、アンロック状態信号をラッチ回路25に出力する。ラッチ回路25は、分周設定比較回路24からの切替指示に従い、周波数比較回路22の出力であるアンロック状態信号ではなく、切替指示の出力前に保持したロック状態信号を出力する。
図5に示すように、分周設定比較回路24から切替指示が出力されている切替指示出力期間では、PLL分周信号の周波数Fdivとリファレンス信号の周波数Freとの周波数差がロック周波数範囲外となっているが、ロック検出装置21からの検出結果信号はロック状態が維持されている。
***実施の形態の効果の説明***
このように、本実施の形態によれば、ラッチ回路を用いることにより、可変整数分周器に設定される分周値に起因して分周信号の周波数とリファレンス信号の周波数との周波数差が変動する場合でも、ロック状態信号を正確かつ安定的に出力することができる。
このため、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。
なお、以上では、ラッチ回路を用いて、制御対象期間にロック状態信号を出力し続ける構成を説明したが、制御対象期間にロック状態信号を出力し続けることが可能であれば、ラッチ回路を用いなくてもよい。
実施の形態3.
実施の形態1又は実施の形態2で説明したロック検出装置21が含まれるFractional−N PLL回路10を、IC(Integrated Circuit)等の半導体装置に搭載するようにしてもよい。
***付記***
本発明の一例を実施の形態1〜3において説明したが、本発明はこれらの実施の形態に限定されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、実施の形態1〜3の構成を適宜組み合わせたり、その構成に一部変形を加えたり、構成を一部省略することが可能である。
10 Fractional−N PLL回路、11 位相周波数比較器、12 チャージポンプ、13 ループフィルタ、14 VCO、15 可変整数分周器、16 ΔΣ変調器、21 ロック検出装置、22 周波数比較回路、23 ロック周波数範囲生成回路、24 分周設定比較回路、25 ラッチ回路、30 Fractional−N PLL回路、31 ロック検出装置、32 ロック周波数範囲生成回路。

Claims (7)

  1. 周波数シンセサイザの可変整数分周器からの分周信号の周波数と前記周波数シンセサイザへのリファレンス信号の周波数との周波数差を、許容される周波数差の範囲である許容周波数差範囲と比較し、前記周波数差が前記許容周波数差範囲内にある場合に、前記周波数シンセサイザがロック状態であることを通知するロック状態信号を出力する比較出力部と、
    前記可変整数分周器に設定される分周値を監視し、前記可変整数分周器に設定される分周値に起因して前記周波数差が前記許容周波数差範囲から外れる期間である制御対象期間を検出し、前記制御対象期間の間は、前記周波数差が前記許容周波数差範囲から外れる場合でも前記比較出力部に前記ロック状態信号を出力させる制御部とを備えるロック検出装置。
  2. 前記制御部は、
    前記周波数差が前記許容周波数差範囲内に維持される分周値の範囲を基準分周値範囲として記憶しており、
    前記可変整数分周器に設定される分周値が前記基準分周値範囲から外れる期間を前記制御対象期間として検出する請求項1に記載のロック検出装置。
  3. 前記制御部は、
    前記制御対象期間の間は、前記比較出力部に前記許容周波数差範囲よりも広い範囲である拡張周波数差範囲を設定し、前記比較出力部に前記周波数差と前記拡張周波数差範囲とを比較させ、
    前記比較出力部は、
    前記制御対象期間の間は、前記周波数差が前記拡張周波数差範囲内にある場合に、前記ロック状態信号を出力する請求項1に記載のロック検出装置。
  4. 前記制御部は、
    前記制御対象期間の間は、前記比較出力部により前記周波数差が前記許容周波数差範囲から外れていると判定された場合でも前記比較出力部に前記ロック状態信号を出力させる請求項1に記載のロック検出装置。
  5. 前記周波数シンセサイザは、Fractional−N PLL(Phase Locked Loop)回路である請求項1に記載のロック検出装置。
  6. 請求項1に記載のロック検出装置を備える周波数シンセサイザ。
  7. 請求項6に記載の周波数シンセサイザを備える半導体装置。
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