JPWO2016157597A1 - Endoscope - Google Patents

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朋久 高橋
朋久 高橋
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博信 一村
友和 山下
友和 山下
紀幸 藤森
紀幸 藤森
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考俊 五十嵐
義樹 高山
義樹 高山
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    • A61B1/04Instruments for performing medical examinations of the interior of cavities or tubes of the body by visual or photographical inspection, e.g. endoscopes; Illuminating arrangements therefor combined with photographic or television appliances
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Abstract

撮像素子30と、第1の領域40aが撮像素子30に電気的に接続され、両側部40a1、40a2に、第2領域の少なくとも1つの第1切断片40bzと、第3領域の少なくとも1つの第2切断片40czとが残された可撓性基板40と、を具備し、第1切断片40bzと第2切断片40czとの少なくとも一方の切断ラインが、撮像素子30の延在方向Eへの外形投影部の領域Tに位置すると共に、第1領域40aにおいて撮像素子30から延在方向Eにある一定間隔E1離間する後半部に残されている。The image sensor 30 and the first area 40a are electrically connected to the image sensor 30. At both side portions 40a1 and 40a2, at least one first cut piece 40bz in the second area and at least one first in the third area. Flexible substrate 40 with two cut pieces 40 cz left, and at least one cutting line of the first cut piece 40 bz and the second cut piece 40 cz extends in the extending direction E of the image sensor 30. In addition to being located in the region T of the outer shape projection portion, the first region 40a is left in the latter half portion that is spaced apart from the image pickup device 30 by a certain distance E1 in the extending direction E.

Description

本発明は、撮像素子と、該撮像素子に電気的に接続された可撓性基板とを具備する撮像ユニットを内蔵する内視鏡に関する。   The present invention relates to an endoscope including an image pickup unit including an image pickup element and a flexible substrate electrically connected to the image pickup element.

被検体内に挿入される挿入部の挿入方向の先端側(以下、単に先端側と称す)内に、撮像ユニットが設けられた内視鏡が周知である。 An endoscope in which an imaging unit is provided in a distal end side (hereinafter simply referred to as a distal end side) in an insertion direction of an insertion portion to be inserted into a subject is well known.

撮像ユニットは、一般的に、被検体内を観察する観察光学系と、該観察光学系によって得られた被検体内の被写体を撮像する撮像装置とを具備して主要部が構成されている。   In general, the imaging unit includes an observation optical system for observing the inside of the subject and an imaging device for imaging a subject in the subject obtained by the observation optical system.

撮像装置は、固体撮像素子(以下、単に撮像素子と称す)と、該撮像素子の撮像面に貼着されるとともに撮像面を保護するカバーガラスと、コンデンサ、抵抗、トランジスタ等の電子部品が実装され、撮像素子のボンディング部に延在方向の一端が電気的に接続された可撓性基板と、可撓性基板の延在方向の他端のリード線接続部にリード線が電気的に接続された、撮像素子によって撮像した被写体像の電気信号を、画像処理装置やモニタ等の内視鏡の外部機器へと伝送する信号ケーブルとを具備して主要部が構成されている。   The imaging device is mounted with a solid-state imaging device (hereinafter simply referred to as an imaging device), a cover glass that is attached to the imaging surface of the imaging device and protects the imaging surface, and electronic components such as capacitors, resistors, and transistors The lead wire is electrically connected to the flexible substrate in which one end in the extending direction is electrically connected to the bonding portion of the image sensor and the lead wire connecting portion in the other end in the extending direction of the flexible substrate. A signal cable for transmitting the electrical signal of the subject image captured by the imaging element to an external device of an endoscope such as an image processing device or a monitor is included in the main part.

可撓性基板は、該可撓性基板に実装された電子部品及びリード線接続部の他の部品への接触を防ぐとともに、撮像装置を小型化する目的から、撮像素子の撮像面と反対側の背面における挿入方向の後方において、撮像素子の外形を投影した際、撮像素子の延在方向への外形投影部の領域内に入る大きさを有している。   The flexible substrate prevents the electronic component mounted on the flexible substrate and other components of the lead wire connecting portion from contacting each other and reduces the size of the imaging device. When the outer shape of the image sensor is projected behind the insertion direction on the back surface of the image sensor, the image sensor has a size that falls within the region of the outer shape projection unit in the extending direction of the image sensor.

また、可撓性基板は、製造工程においては、撮像素子の延在方向への外形投影部の領域の内側になるとともに実際に使用される実装領域と、該実装領域の延在方向に沿った側部から延出されるとともに撮像素子自体の検査や撮像装置を組み立てる際の保持用等に用いられる他の領域とから構成される。   In addition, in the manufacturing process, the flexible substrate is located inside the region of the outer shape projection portion in the extending direction of the image pickup device and along the mounting region actually used and the extending direction of the mounting region. It extends from the side and is composed of other areas used for inspection of the imaging device itself and for holding when assembling the imaging device.

前記他の領域には検査用のソケットとコンタクトするための検査用ランドが配置されており、製造前に撮像素子の動作確認ができる構造となっており撮像素子の外形を延在方向に投影した際、撮像素子の延在方向への外形投影部の領域からはみ出す大きさを有している。 In the other area, an inspection land for contacting an inspection socket is arranged, and the structure of the image sensor can be confirmed before manufacturing, and the outer shape of the image sensor is projected in the extending direction. At this time, it has a size that protrudes from the region of the outer shape projection portion in the extending direction of the imaging element.

尚、撮像素子検査終了後や保持終了後、他の領域を切断することにより実装領域のみが可撓性基板として撮像装置に残される。 It should be noted that after the inspection of the image sensor and after the holding, the other area is cut to leave only the mounting area as a flexible substrate in the imaging apparatus.

また、国際公開WO2010/150825号公報には、撮像装置に用いられる可撓性基板において、撮像素子の延在方向への外形投影部の領域の内側にある実装領域の延在方向に沿った側部の一方に、撮像素子の検査終了後、切断される検査領域が設けられることにより、可撓性基板における検査領域を大きく確保した撮像ユニットの構成が開示されている。   In addition, in International Publication No. WO2010 / 150825, in a flexible substrate used in an imaging apparatus, a side along the extending direction of a mounting area inside the area of the outer shape projection portion in the extending direction of the imaging element. A configuration of an imaging unit is disclosed in which an inspection area to be cut after an inspection of an imaging element is provided on one of the sections, thereby ensuring a large inspection area on a flexible substrate.

国際公開WO2010/150825号公報に開示された撮像ユニットの可撓性基板においては、検査領域が実装領域の延在方向に沿った両側部の一方のみから延出しているため、検査に用いる配線パターン数を十分確保するためには、実装領域に対する検査領域の接続部位が延在方向に長くなってしまう。 In the flexible substrate of the imaging unit disclosed in International Publication No. WO2010 / 150825, the inspection area extends from only one of both side portions along the extending direction of the mounting area. In order to secure a sufficient number, the connection part of the inspection area with respect to the mounting area becomes longer in the extending direction.

その結果、国際公開WO2010/150825号公報に開示された撮像ユニットの可撓性基板においては、撮像ユニットの硬質長を短縮するために検査領域の接続部位が撮像素子の背面に近接しやすいため、可撓性基板の前記切断する領域をカッター等で切る際、カッターの刃が撮像素子の背面に当たりやすくなってしまう。 As a result, in the flexible substrate of the imaging unit disclosed in International Publication No. WO2010 / 150825, the connection part of the inspection region is likely to be close to the back surface of the imaging element in order to shorten the rigid length of the imaging unit. When the area to be cut of the flexible substrate is cut with a cutter or the like, the blade of the cutter is likely to hit the back surface of the image sensor.

ここで、上述したように、可撓性基板は、実装領域が、撮像素子の外形の延在方向への外形投影部の領域の内側に入るよう位置している。 Here, as described above, the flexible substrate is positioned so that the mounting region is located inside the region of the outer shape projection unit in the extending direction of the outer shape of the imaging element.

よって、可撓性基板の検査領域の接続部位を切断する際は、切断後の検査領域の切断片が、撮像素子の外形から大きくはみ出してしまうことがないよう、切断誤差も考慮して切断ラインが、撮像素子の外形内に重って位置する必要がある。 Therefore, when cutting the connection part of the inspection area of the flexible substrate, the cutting line is taken into consideration so that a cut piece of the inspection area after cutting does not protrude greatly from the outer shape of the image sensor. However, it is necessary to be positioned so as to overlap within the outer shape of the image sensor.

このため、撮像素子の背面を傷付けてしまうことがないよう、作業者は切断作業を慎重に行わなければならないばかりか、撮像素子を避けて切断作業を行わなければならないことから切断作業が難しく、所望の切断ラインに沿った正確な切断作業がし難いといった問題があった。 For this reason, in order not to damage the back of the image sensor, the operator must not only perform the cutting work carefully, but also must perform the cutting work while avoiding the image sensor, so that the cutting work is difficult, There has been a problem that it is difficult to perform an accurate cutting operation along a desired cutting line.

さらには、正確な切断作業ができない場合、切断片が撮像素子の延在方向への外形投影部の領域からはみ出してしまい、特に内視鏡の挿入部の小径化を図ると、切断片が内視鏡の挿入部の他の内蔵物に干渉してしまう可能性があった。 Furthermore, when an accurate cutting operation cannot be performed, the cut piece protrudes from the region of the outer shape projection portion in the extending direction of the image sensor, and particularly when the diameter of the insertion portion of the endoscope is reduced, the cut piece becomes an inner portion. There was a possibility of interfering with other built-in objects of the insertion part of the endoscope.

また、以上の問題は、実装部品を多くして配線可能な領域を増やすための、たとえばセラミックから構成された硬質基板が電気的に接続されている場合等においても同様である。 Further, the above problem is the same when, for example, a hard substrate made of ceramic is electrically connected to increase the area where wiring is possible by increasing the number of mounted components.

本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、可撓性基板の切断作業を正確かつ容易に行いやすい構成を有する小型の撮像ユニットを内蔵する内視鏡を実現することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to realize an endoscope incorporating a small imaging unit having a configuration in which a flexible substrate can be easily and accurately cut. .

本発明の一態様における内視鏡は、撮像素子と、第1領域の延在方向の一端が前記撮像素子に電気的に接続され、前記第1領域の前記延在方向に沿った両側部に、該両側部の一方から延出され切断された第2領域の少なくとも1つの第1切断片と、前記両側部の他方から延出され切断された第3領域の少なくとも1つの第2切断片とが残された可撓性基板と、を具備し、前記第1切断片と前記第2切断片との少なくとも一方の切断ラインが、前記撮像素子の前記延在方向への外形投影部の領域に位置すると共に、前記第1領域において前記撮像素子から前記延在方向に一定間隔離間する後半部に残されていることを特徴とする撮像ユニットを内蔵する。   In the endoscope according to one aspect of the present invention, the imaging element and one end in the extending direction of the first area are electrically connected to the imaging element, and the both sides along the extending direction of the first area are provided. , At least one first cut piece of the second region extending and cut from one of the both side portions, and at least one second cut piece of the third region extending and cut from the other of the both side portions, And at least one cutting line of the first cut piece and the second cut piece is in the region of the outer shape projection portion in the extending direction of the imaging element. The image pickup unit is located and is left in the second half part spaced apart from the image pickup element in the extending direction by a predetermined distance in the first region.

本実施の形態の撮像ユニットを具備する内視鏡の外観を示す図The figure which shows the external appearance of the endoscope which comprises the imaging unit of this Embodiment. 図1中のII-II線に沿う挿入部の先端側の部分断面図Partial sectional view of the distal end side of the insertion section along the line II-II in FIG. 図2の可撓性基板を、硬質基板、撮像素子及びカバーガラスとともに拡大して示す図The figure which expands and shows the flexible substrate of FIG. 2 with a hard substrate, an image pick-up element, and a cover glass. 図1の可撓性基板の第1領域から第2領域及び第3領域を切断する前の可撓性基板の状態を、硬質基板、撮像素子及びカバーガラスとともに拡大して示す図The figure which expands and shows the state of the flexible substrate before cut | disconnecting 2nd area | region and 3rd area | region from the 1st area | region of the flexible substrate of FIG. 1 with a hard substrate, an image pick-up element, and a cover glass. 図4中のV線で囲った部位を拡大して示す図The figure which expands and shows the site | part enclosed by the V line in FIG. 図5の可撓性基板を、図5中の裏面側から、硬質基板、撮像素子とともに示す図The figure which shows the flexible substrate of FIG. 5 with a hard substrate and an image pick-up element from the back surface side in FIG. 図3の可撓性基板を、図3中のVII方向から硬質基板、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図The figure which shows the flexible substrate of FIG. 3 with a hard substrate, an image pick-up element, and a cover glass from the VII direction in FIG. 図7の可撓性基板の第1領域が、撮像素子の上側に電気的に接続された変形例を示す図The figure which shows the modification in which the 1st area | region of the flexible substrate of FIG. 7 was electrically connected to the upper side of an image pick-up element. 図7から硬質基板を除いた可撓性基板の状態を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図The figure which shows the state of the flexible board | substrate except the hard board | substrate from FIG. 7 with an image pick-up element and a cover glass. 図9の可撓性基板の延在方向が、挿入方向から所定の角度傾いている状態を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図The figure which shows the state where the extending direction of the flexible substrate of FIG. 9 inclines the predetermined angle from the insertion direction with an image pick-up element and a cover glass 図3の第1領域の両側部において、第2領域及び第3領域が撮像素子の背面に近接する位置から延出するとともに、各切断ラインが撮像素子の延在方向への外形投影部の領域の外側に位置している場合の可撓性基板の構成を、撮像素子及びカバーガラス、カッターの刃とともに示す図In both sides of the first region in FIG. 3, the second region and the third region extend from positions close to the back surface of the image sensor, and each cutting line is a region of the outer shape projection unit in the extending direction of the image sensor. The figure which shows the structure of a flexible substrate in the case of being located in the outer side of an image sensor, a cover glass, and the blade of a cutter 図3の第1領域の両側部において、第2領域及び第3領域が撮像素子の背面に近接する位置から延出するとともに第2領域の切断ラインが、撮像素子の外形内に位置している場合の可撓性基板の構成を、撮像素子及びカバーガラス、カッターの刃とともに示す図In both sides of the first region in FIG. 3, the second region and the third region extend from a position close to the back surface of the imaging device, and the cutting line of the second region is located within the outer shape of the imaging device. The figure which shows the structure of the flexible substrate in case with an image pick-up element, a cover glass, and the blade of a cutter 図12の第2領域、第3領域を切断ラインに沿って切断した後の可撓性基板を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図The figure which shows the flexible substrate after cut | disconnecting the 2nd area | region of FIG. 12, and a 3rd area | region along a cutting line with an image pick-up element and a cover glass. 図3の第2切断片が、第1領域の側部において撮像素子の背面に近接する位置に残されている変形例を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図The figure which shows the modification with which the 2nd cut piece of FIG. 3 is left in the position close | similar to the back surface of an image sensor in the side part of a 1st area | region with an image sensor and a cover glass. 図14の第2切断片が、第1切断片よりも延在方向に長く残っている変形例を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図The figure which shows the modification with which the 2nd cut piece of FIG. 14 remains longer in the extending direction than a 1st cut piece with an image pick-up element and a cover glass. 図3の第1切断片の切断ラインが硬質基板に重なって位置した変形例を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図The figure which shows the modification with which the cutting line of the 1st cutting piece of FIG. 3 overlapped with the hard substrate, and an image pick-up element and a cover glass 本実施の形態の撮像ユニットを具備する内視鏡における撮像ユニットの変形例を、図7と同じ方向から示す図The figure which shows the modification of the imaging unit in the endoscope which comprises the imaging unit of this Embodiment from the same direction as FIG. 図17中のXVII-XVII線に沿う撮像ユニットの断面を、第1の領域から第2領域及び第3領域を切断前の状態にて示す図The figure which shows the cross section of the imaging unit in alignment with the XVII-XVII line in FIG. 17 in the state before cutting | disconnection from the 1st area | region to the 2nd area | region and the 3rd area | region. 本実施の形態の撮像ユニットを具備する内視鏡における撮像ユニットの図17とは別の変形例を示す図The figure which shows the modification different from FIG. 17 of the imaging unit in the endoscope which comprises the imaging unit of this Embodiment.

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。尚、図面は模式的なものであり、各部材の厚みと幅との関係、それぞれの部材の厚みの比率などは現実のものとは異なることに留意すべきであり、図面の相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。
図1は、本実施の形態の撮像ユニットを具備する内視鏡の外観を示す図、図2は、図1中のII-II線に沿う挿入部の先端側の部分断面図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The drawings are schematic, and it should be noted that the relationship between the thickness and width of each member, the ratio of the thickness of each member, and the like are different from the actual ones. Of course, the part from which the relationship and ratio of a mutual dimension differ is contained.
FIG. 1 is a diagram showing an external appearance of an endoscope including the imaging unit of the present embodiment, and FIG. 2 is a partial cross-sectional view of the insertion portion along the line II-II in FIG.

図1に示すように、内視鏡1は、被検体内に挿入される挿入部2と、該挿入部2の挿入方向Sの基端側に連設された操作部3と、該操作部3から延出されたユニバーサルコード8と、該ユニバーサルコード8の延出端に設けられたコネクタ9とを具備して主要部が構成されている。 As shown in FIG. 1, an endoscope 1 includes an insertion portion 2 that is inserted into a subject, an operation portion 3 that is connected to the proximal end side in the insertion direction S of the insertion portion 2, and the operation portion. 3 comprises a universal cord 8 extended from 3 and a connector 9 provided at the extended end of the universal cord 8 to constitute a main part.

尚、コネクタ9を介して、内視鏡1は、画像処理装置や照明装置等の外部機器と電気的に接続される。 Note that the endoscope 1 is electrically connected to an external device such as an image processing device or a lighting device via the connector 9.

操作部3に、挿入部2の後述する湾曲部12を上下方向に湾曲させる上下用湾曲操作ノブ4と、湾曲部12を左右方向に湾曲させる左右用湾曲操作ノブ6とが設けられている。 The operation section 3 is provided with an up / down bending operation knob 4 for bending a bending section 12 described later of the insertion section 2 in the up / down direction and a left / right bending operation knob 6 for bending the bending section 12 in the left / right direction.

また、操作部3に、上下用湾曲操作ノブ4の回動位置を固定する固定レバー5と、左右用湾曲操作ノブ6の回動位置を固定する固定ノブ7とが設けられている。 The operation unit 3 is provided with a fixed lever 5 for fixing the rotation position of the up / down bending operation knob 4 and a fixing knob 7 for fixing the rotation position of the left / right bending operation knob 6.

挿入部2は、先端側から順に、先端部11と湾曲部12と可撓管部13とを具備して構成されており細長に形成されている。 The insertion portion 2 includes a distal end portion 11, a bending portion 12, and a flexible tube portion 13 in order from the distal end side, and is formed in an elongated shape.

湾曲部12は、上下用湾曲操作ノブ4や左右用湾曲操作ノブ6の回動操作により、例えば上下左右の4方向に湾曲されることにより、先端部11内に設けられた後述する観察光学系20(図2参照)の観察方向を可変したり、被検体内における先端部11の挿入性を向上させたりするものである。 The bending portion 12 is bent in four directions, for example, up, down, left, and right by the turning operation of the up / down bending operation knob 4 or the left / right bending operation knob 6, thereby providing an observation optical system (described later) provided in the distal end portion 11. 20 (see FIG. 2) can be changed, and the insertability of the distal end portion 11 in the subject can be improved.

さらに、可撓管部13は、湾曲部12の挿入方向Sの基端側に連設されている。 Further, the flexible tube portion 13 is connected to the proximal end side in the insertion direction S of the bending portion 12.

また、図2に示すように、挿入部2の先端側の内部には、撮像ユニット100が設けられている。 As shown in FIG. 2, an imaging unit 100 is provided inside the distal end side of the insertion portion 2.

撮像ユニット100は、レンズ枠22に保持された、被検体内を観察するとともに一部が先端部11の先端面に露出された観察光学系20と、該観察光学系20によって得られた被検体内の被写体を撮像する撮像装置80とを具備して主要部が構成されている。 The imaging unit 100 observes the inside of the subject held by the lens frame 22 and is partially exposed to the distal end surface of the distal end portion 11, and the subject obtained by the observation optical system 20. And an image pickup device 80 for picking up an image of the subject inside.

尚、観察光学系20は、1つのレンズのみから構成されていても構わないし、複数のレンズから構成されていても構わない。 Note that the observation optical system 20 may be composed of only one lens, or may be composed of a plurality of lenses.

撮像装置80は、撮像素子30と、該撮像素子30の撮像面に貼着されるとともに撮像面を保護するカバーガラス31と、コンデンサ、抵抗、トランジスタ等の電子部品41が硬質基板90を介して実装され、撮像素子30のボンディング部に挿入方向Sに略平行な延在方向Eの一端40as(図3参照)が電気的に接続された可撓性基板40と、可撓性基板40における硬質基板90の延在方向Eの他端のリード線接続部42にリード線51が電気的に接続された信号ケーブル50と、レンズ枠22の挿入方向Sの基端と信号ケーブル50の先端側との間において、撮像素子30、カバーガラス31、可撓性基板40、リード線51を覆って封止する熱収縮チューブ60とを具備して主要部が構成されている。 The imaging device 80 includes an imaging device 30, a cover glass 31 that is attached to the imaging surface of the imaging device 30 and protects the imaging surface, and an electronic component 41 such as a capacitor, a resistor, and a transistor via a hard substrate 90. A flexible substrate 40 that is mounted and electrically connected to one end 40as (see FIG. 3) in the extending direction E substantially parallel to the insertion direction S to the bonding portion of the image pickup device 30, and the flexible substrate 40 The signal cable 50 in which the lead wire 51 is electrically connected to the lead wire connecting portion 42 at the other end in the extending direction E of the substrate 90, the proximal end in the insertion direction S of the lens frame 22, and the distal end side of the signal cable 50 In between, the image sensor 30, the cover glass 31, the flexible substrate 40, and the heat contraction tube 60 which covers and seals the lead wire 51 are comprised, and the principal part is comprised.

信号ケーブル50は、挿入部2、操作部3、ユニバーサルコード8、コネクタ9内に挿通されており、撮像素子30によって撮像した被写体像の電気信号を、コネクタ9が接続される画像処理装置やモニタ等の内視鏡の外部機器へと伝送する。 The signal cable 50 is inserted into the insertion unit 2, the operation unit 3, the universal cord 8, and the connector 9, and an electric signal of a subject image captured by the image sensor 30 is connected to an image processing apparatus or monitor to which the connector 9 is connected. To the external device of the endoscope.

尚、挿入部2内には、信号ケーブル50の他、図2に示すように、吸引管路を兼ねた処置具挿通用チャンネル190や、観察光学系20に流体を供給する図示しない送気送水管路、被検体内に流体を供給する図示しない前方送水管路等の内蔵物が設けられている。 In addition to the signal cable 50, in the insertion section 2, as shown in FIG. 2, a treatment instrument insertion channel 190 that also serves as a suction conduit, and an air supply / not-illustration that supplies fluid to the observation optical system 20 are not shown. Built-in objects such as a water conduit and a front water supply conduit (not shown) for supplying fluid into the subject are provided.

次に、図2の可撓性基板40の構成について、図3〜図10を用いて説明する。図3は、図2の可撓性基板を、硬質基板、撮像素子及びカバーガラスとともに拡大して示す図、図4は、図1の可撓性基板の第1領域から第2領域及び第3領域を切断する前の可撓性基板の状態を、硬質基板、撮像素子及びカバーガラスとともに拡大して示す図である。 Next, the configuration of the flexible substrate 40 in FIG. 2 will be described with reference to FIGS. FIG. 3 is an enlarged view of the flexible substrate of FIG. 2 together with the hard substrate, the imaging device, and the cover glass. FIG. 4 is a diagram illustrating the first to second regions and the third region of the flexible substrate of FIG. It is a figure which expands and shows the state of the flexible substrate before cut | disconnecting an area | region with a hard substrate, an image pick-up element, and a cover glass.

また、図5は、図4中のV線で囲った部位を拡大して示す図、図6は、図5の可撓性基板を、図5中の裏面側から、硬質基板、撮像素子とともに示す図である。 5 is an enlarged view of a portion surrounded by the V line in FIG. 4, and FIG. 6 is a diagram showing the flexible substrate of FIG. 5 together with a hard substrate and an image sensor from the back side in FIG. FIG.

さらに、図7は、図3の可撓性基板を、図3中のVII方向から硬質基板、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図、図8は、図7の可撓性基板の第1領域が、撮像素子の上側に電気的に接続された変形例を示す図である。 7 is a diagram showing the flexible substrate of FIG. 3 together with the hard substrate, the image sensor and the cover glass from the VII direction in FIG. 3, and FIG. 8 is a diagram showing the first region of the flexible substrate of FIG. FIG. 10 is a diagram illustrating a modification example in which the image sensor is electrically connected to the upper side of the image sensor.

また、図9は、図7から硬質基板を除いた可撓性基板の状態を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図、図10は、図9の可撓性基板の延在方向が、挿入方向から所定の角度傾いている状態を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図である。 9 is a diagram showing the state of the flexible substrate excluding the hard substrate from FIG. 7 together with the image sensor and the cover glass, and FIG. 10 is an extending direction of the flexible substrate of FIG. It is a figure which shows the state inclined from the predetermined angle from the image sensor and the cover glass.

図3に示すように、可撓性基板40は、延在方向Eに沿って所定の長さを有するとともに、後述する幅方向Hに所定幅を有する第1領域40aを具備している。 As shown in FIG. 3, the flexible substrate 40 includes a first region 40 a having a predetermined length along the extending direction E and having a predetermined width in the width direction H described later.

第1領域40aは、延在方向Eの一端40asが撮像素子30に電気的に接続されている。 In the first region 40 a, one end 40 as in the extending direction E is electrically connected to the image sensor 30.

具体的には、図6〜図8に示すように、第1領域40aは、撮像素子30の図示しないボンディング部に対して、インナーリード48を介して一端40asが電気的に接続されている。 Specifically, as shown in FIGS. 6 to 8, one end 40 as of the first region 40 a is electrically connected to a bonding portion (not shown) of the image sensor 30 via an inner lead 48.

尚、撮像素子30のボンディング部に対する一端40asの接続位置、即ち、第1領域40aの延在方向Eにおける延在位置は、図7に示すように、撮像素子30の下側(DOWN側)であっても構わないし、図8に示すように、撮像素子30の上側(UP側)であっても構わない。 Note that the connection position of the one end 40as to the bonding portion of the image sensor 30, that is, the extension position in the extending direction E of the first region 40a is on the lower side (DOWN side) of the image sensor 30 as shown in FIG. As shown in FIG. 8, it may be on the upper side (UP side) of the image sensor 30.

また、第1領域40aは、図3〜図5に示すように、後述する側部40a1、40a2を結ぶ幅方向Hの中心Q2が、撮像素子30の幅方向Hの中心Q1よりも側部40a2側にずれて位置するよう、一端40asが撮像素子30に電気的に接続されている。 Further, as shown in FIGS. 3 to 5, the first region 40a has a side portion 40a2 in which the center Q2 in the width direction H connecting side portions 40a1 and 40a2 described later is more than the center Q1 in the width direction H of the image sensor 30. One end 40as is electrically connected to the image sensor 30 so as to be shifted to the side.

さらに、図7、図8に示すように、第1領域40aの一端40asは、撮像素子30の撮像面とは反対側の背面30hに対して、撮像素子30の熱を可撓性基板40に逃がしやすくするため、熱伝導性の良い熱硬化型接着剤120により接着されている。 Further, as shown in FIGS. 7 and 8, the one end 40 as of the first region 40 a causes the heat of the imaging device 30 to be applied to the flexible substrate 40 with respect to the back surface 30 h opposite to the imaging surface of the imaging device 30. In order to make it easy to escape, it is bonded by a thermosetting adhesive 120 having good thermal conductivity.

また、図2〜図8に示すように、第1領域40aの表面40afに、セラミック等から構成されるとともに、幅方向Hにおいて第1領域40aよりも小さな幅を有する硬質基板90が第1領域40aに電気的に接続されている。 As shown in FIGS. 2 to 8, a hard substrate 90 made of ceramic or the like and having a width smaller than that of the first region 40 a in the width direction H is formed on the surface 40 af of the first region 40 a. 40a is electrically connected.

尚、図3〜図8においては、延在方向Eにおいて、硬質基板90が第1領域40aよりも長く形成されているが、硬質基板90が第1領域40aよりも短く形成されていても構わない。 3 to 8, the hard substrate 90 is formed longer than the first region 40a in the extending direction E, but the hard substrate 90 may be formed shorter than the first region 40a. Absent.

硬質基板90には、上述した電子部品41や、リード線接続部42が実装されている。硬質基板90は、可撓性基板40に対する電子部品41の実装数を増やしたり、第1領域40aから後述する第2領域40b、第3領域40cを切断する際の切断性を向上させたりする等の理由により、第1領域40aに電気的に接続されている。 The above-described electronic component 41 and the lead wire connecting portion 42 are mounted on the hard substrate 90. The hard substrate 90 increases the number of electronic components 41 mounted on the flexible substrate 40, improves the cutting performance when cutting a second region 40b and a third region 40c described later from the first region 40a, and the like. For this reason, it is electrically connected to the first region 40a.

尚、図9、図10に示すように、硬質基板90を用いずに、電子部品41、リード線接続部42(図9、図10ではリード線接続部42は不図示)が、直接、可撓性基板40の第1領域40aに実装されていても構わない。 As shown in FIGS. 9 and 10, the electronic component 41 and the lead wire connecting portion 42 (the lead wire connecting portion 42 is not shown in FIGS. 9 and 10) can be directly used without using the hard substrate 90. You may mount in the 1st area | region 40a of the flexible substrate 40. FIG.

また、図10に示すように、第1領域40aは、第1領域40aが後述する領域T(図3参照)内に位置しやすくなるよう、延在方向Eが、挿入方向Sに対して所定の角度θ傾くよう位置していても構わない。尚、図示しないが、第1領域40aに硬質基板90が電気的に接続されている場合においても、第1領域40aが角度θ傾いていても構わない。 As shown in FIG. 10, the first region 40 a has a predetermined extension direction E with respect to the insertion direction S so that the first region 40 a can be easily located in a region T (see FIG. 3) described later. It may be positioned so that the angle θ is inclined. Although not shown, even when the hard substrate 90 is electrically connected to the first region 40a, the first region 40a may be inclined at an angle θ.

また、図3、図4に示すように、第1領域40aにおいて、延在方向Eに沿った側部40a1側には、側部40a1から延出され第1領域40aから切断された第2領域40bの第1切断片40bzが残されており、側部40a2側には、側部40a2から延出され第1領域40aから切断された第3領域40cの第2切断片40czが残されている。尚、第1切断片40bzと第2切断片40czとは、撮像素子30から延在方向Eにおいて等距離な位置に残されている。 Further, as shown in FIGS. 3 and 4, in the first region 40a, the second region extended from the side portion 40a1 and cut from the first region 40a on the side portion 40a1 side along the extending direction E. The first cut piece 40bz of 40b is left, and the second cut piece 40cz of the third region 40c extending from the side portion 40a2 and cut from the first region 40a is left on the side portion 40a2. . The first cut piece 40bz and the second cut piece 40cz are left at an equidistant position in the extending direction E from the imaging element 30.

切断前の第2領域40b及び第3領域40cは、例えば撮像素子30の検査に用いられる領域であり、図4に示すように、大きな領域40dとして一体的に形成されている。尚、第2領域40b及び第3領域40cは、撮像装置80を組み立てる際の保持用等に用いられる領域であっても構わない。 The second region 40b and the third region 40c before cutting are regions used for inspection of the image sensor 30, for example, and are integrally formed as a large region 40d as shown in FIG. The second region 40b and the third region 40c may be regions used for holding when the imaging device 80 is assembled.

さらに、両側部40a1、40a2に第2領域40b、第3領域40cの切断後、第1切断片40bz、第2切断片40czが残ってしまう理由は、第2領域40b及び第3領域40cの切断は、後述する切断ラインC1、C2に沿って作業者による目視にて手作業にて行われることから、幅方向Hに1/100mm程度の大きさを有する切断片が作業誤差でやむを得ず生じてしまうためである。 Furthermore, the reason why the first cut piece 40bz and the second cut piece 40cz remain after the cutting of the second region 40b and the third region 40c on both side portions 40a1 and 40a2 is that the second region 40b and the third region 40c are cut. Is manually performed along the cutting lines C1 and C2, which will be described later, so that a cut piece having a size of about 1/100 mm in the width direction H is unavoidably caused by a work error. Because.

また、領域40dには、複数の検査用ランド45が形成されている。図4に示すように、例えば3本から構成された検査用配線パターン40bpは、第1領域40aの側部40a1から、第2領域40bを介して引き出され、また、例えば3本から構成された検査用配線パターン40cpは、第1領域40aの側部40a2から、第3領域40cを介して引き出されて、各検査用ランド45に電気的に接続され、検査用ソケットなどに挿入して撮像素子の動作確認を行う。 A plurality of inspection lands 45 are formed in the region 40d. As shown in FIG. 4, for example, the inspection wiring pattern 40 bp composed of three lines is drawn out from the side portion 40 a 1 of the first area 40 a through the second area 40 b, and is composed of, for example, three lines. The inspection wiring pattern 40cp is drawn from the side portion 40a2 of the first region 40a through the third region 40c, is electrically connected to each inspection land 45, and is inserted into an inspection socket or the like to be imaged. Check the operation.

尚、複数の検査用配線パターン40bp、40cpは、領域40dの裏面40duに形成されていても構わない。 The plurality of inspection wiring patterns 40bp and 40cp may be formed on the back surface 40du of the region 40d.

即ち、本実施の形態においては、検査用配線パターン40bp、40cpは、従来のように、第1領域40aの延在方向Eに沿った一方の側部からのみではなく、両方の側部40a1、40a2から引き出されている。 That is, in the present embodiment, the inspection wiring patterns 40bp and 40cp are not only from one side along the extending direction E of the first region 40a as in the prior art, but both side portions 40a1, It is drawn from 40a2.

このことにより、一方の側部のみから引き出す構成よりも、図3に示すように、各切断片40bz、40czが延在方向Eにおいて長く残ってしまうことが抑制されている。 This prevents the cut pieces 40bz and 40cz from remaining longer in the extending direction E, as shown in FIG.

また、図6に示すように、第1領域40aの裏面40auに形成されるとともに、ビアホール44bを介して検査用配線パターン40bpに電気的に接続されている検査用配線パターン40ap1及びビアホール44cを介して検査用配線パターン40cpに電気的に接続されている検査用配線パターン40ap2は、インナーリード48a、48bの幅方向Hにおける並びに合わせて、幅方向Hの左右、即ち、第2領域40b側と第3領域40c側とに裏面40auにおいて振り分けられている。 Further, as shown in FIG. 6, through the inspection wiring pattern 40ap1 and the via hole 44c formed on the back surface 40au of the first region 40a and electrically connected to the inspection wiring pattern 40bp through the via hole 44b. The inspection wiring pattern 40ap2 electrically connected to the inspection wiring pattern 40cp is aligned with the left and right in the width direction H, that is, the second region 40b side and the second in the width direction H of the inner leads 48a and 48b. They are distributed on the back surface 40au to the three regions 40c side.

尚、検査用配線パターン40ap1、40ap2は、第1領域40aの表面40afに形成されていても構わない。 The inspection wiring patterns 40ap1 and 40ap2 may be formed on the surface 40af of the first region 40a.

このことにより、幅方向Hにおいて狭い第1領域40aにおいて、検査用配線パターン40ap1、40ap2が幅方向Hに振り分けられていることから、検査用配線パターン40ap1、40ap2が、省スペースにて効率良く第1領域40aに形成されるばかりか、検査用配線パターン40ap1、40ap2の配線形状が簡単になる。 Accordingly, since the inspection wiring patterns 40ap1 and 40ap2 are distributed in the width direction H in the first region 40a narrow in the width direction H, the inspection wiring patterns 40ap1 and 40ap2 are efficiently saved in a space-saving manner. In addition to being formed in one region 40a, the wiring shapes of the inspection wiring patterns 40ap1 and 40ap2 are simplified.

尚、検査に用いる配線パターンを基端側から引き出した場合は、検査用配線パターンと実使用の配線パターンを並べることになり配線が複雑になるので、検査用パターンをH方向に振り分けることは省スペース化に有効である。 Note that when the wiring pattern used for inspection is drawn from the base end side, the wiring pattern for inspection and the wiring pattern for actual use are arranged side by side, and the wiring becomes complicated. Therefore, it is not necessary to distribute the inspection pattern in the H direction. Effective for space.

尚、ビアホール44b、44cや、第1領域40aに形成される図示しない実装用の配線パターンは、第1領域40aに幅方向Hの大きさのばらつきがある場合や、第1領域40aに対する硬質基板90の接続位置のバラツキがある場合等においても、第1領域40aから第2領域40b、第3領域40cを切断する際、切り落としてしまうことがないよう、第1領域40aの幅方向Hの略中央領域に形成されている。 Note that the mounting wiring pattern (not shown) formed in the via holes 44b and 44c and the first region 40a has a variation in size in the width direction H in the first region 40a, or a hard substrate for the first region 40a. Even in the case where there is a variation in the connection position of 90, the width of the first region 40a in the width direction H so as not to be cut off when the second region 40b and the third region 40c are cut from the first region 40a. It is formed in the central area.

また、図4に示すように、可撓性基板40は、領域40dの切断前は、撮像素子30の外形を延在方向Eに沿って投影した際、領域40dによって撮像素子30の延在方向Eへの外形投影部の領域Tからはみ出す大きさに形成されているが、図3〜図5に示すように、第2領域40b及び第3領域40cの切断後は、第1切断片40bzは、切断ラインC1が撮像素子30の外形延在方向への外形投影部の領域Tに位置するよう残されているとともに、第2切断片40czは、切断ラインC2が領域Tから幅方向Hの外側にずれて位置するよう残されている。 As shown in FIG. 4, the flexible substrate 40 has an extension direction of the image sensor 30 by the area 40 d when the outer shape of the image sensor 30 is projected along the extension direction E before the area 40 d is cut. Although it is formed in a size that protrudes from the region T of the outer shape projection portion to E, as shown in FIGS. 3 to 5, after cutting the second region 40 b and the third region 40 c, the first cut piece 40 bz is The cutting line C1 is left so as to be positioned in the region T of the outer shape projection portion in the outer shape extending direction of the image sensor 30, and the second cutting piece 40cz has the cutting line C2 outside the region T in the width direction H. It is left to be located in the position.

尚、図示しないが、第2切断片40czは、切断ラインC2が撮像素子30の外形延在方向への外形投影部の領域Tに位置するよう残されていても構わない。 Although not shown, the second cut piece 40cz may be left so that the cutting line C2 is positioned in the region T of the outer shape projection portion in the direction in which the image sensor 30 extends in the outer shape.

また、本実施の形態において、第1切断片40bzが、切断ラインC1が撮像素子30の外形延在方向への外形投影部の領域Tに位置するよう残され、第2切断片40czが、切断ラインC2が領域Tから幅方向Hの外側にずれて位置するよう残されているのは、上述したように、第1領域40aの幅方向Hの中心Q2が、撮像素子30の幅方向Hの中心Q1よりも幅方向Hにおいて側部40a2側にずれて位置しているためである。 In the present embodiment, the first cut piece 40bz is left so that the cutting line C1 is positioned in the region T of the outer shape projection portion in the outer shape extending direction of the imaging element 30, and the second cut piece 40cz is cut. The reason why the line C2 is left so as to be shifted from the region T to the outside in the width direction H is that the center Q2 in the width direction H of the first region 40a is in the width direction H of the image sensor 30 as described above. This is because the position is shifted to the side 40a2 side in the width direction H from the center Q1.

尚、第1切断片40bzは2つ以上の切断片から構成されていても構わないし、第2切断片40czも2つ以上の切断片から構成されていても構わない。 In addition, the 1st cut piece 40bz may be comprised from the 2 or more cut piece, and the 2nd cut piece 40cz may be comprised from the 2 or more cut piece.

また、第1切断片40bz及び第2切断片40czは、第1領域40aの側部40a1、40a2において、撮像素子30の背面から延在方向Eにある一定間隔E1だけ離間した後半部に残されている。 In addition, the first cut piece 40bz and the second cut piece 40cz are left in the rear half part separated from the back surface of the imaging element 30 by a constant interval E1 in the extending direction E in the side portions 40a1 and 40a2 of the first region 40a. ing.

尚、本実施の形態の構成においては、切断ラインC1またはC2の少なくとも一方が領域T内に位置している場合は、領域T内に位置している側の切断ラインの切断片は、とも第1切断片40bzのみが側部40a1において撮像素子30の背面30hから延在方向Eにある一定間隔E1だけ離間した可撓性基板の後半部に残されている必要がある。 In the configuration of the present embodiment, when at least one of the cutting lines C1 and C2 is located in the region T, the cut pieces of the cutting line on the side located in the region T are both Only one cut piece 40bz needs to be left in the rear half of the flexible substrate that is separated from the back surface 30h of the image sensor 30 by a certain distance E1 in the extending direction E at the side portion 40a1.

また、本実施の形態においては、側部40a1において、第1切断片40bzが残されている位置は、挿入部2内に撮像ユニット100を配置した際、挿入部2の他の内蔵物に、第1切断片40bzが非干渉となる位置である。 Further, in the present embodiment, the position where the first cut piece 40bz is left in the side portion 40a1 is the other internal structure of the insertion portion 2 when the imaging unit 100 is disposed in the insertion portion 2. This is a position where the first cut piece 40bz is non-interfering.

具体的には、図2に示すように、処置具挿通用チャンネル190が、チューブ192と、該チューブ192の挿入方向Sの先端側が外周に固定された連結口金191と、該連結口金191の挿入方向Sの先端側の外周に前側口金193が固定されて構成されている場合においては、連結口金191の挿入方向Sの中途位置の外周に設けられるとともに、チューブ192の挿入方向Sの先端が付き当てられる突出部191tは、第1切断片40bzまたは第2切断片40czを避ける挿入部2内の位置に配置されている。 Specifically, as shown in FIG. 2, the treatment instrument insertion channel 190 includes a tube 192, a connection base 191 in which the distal end side in the insertion direction S of the tube 192 is fixed to the outer periphery, and insertion of the connection base 191. In the case where the front base 193 is fixed to the outer periphery on the distal end side in the direction S, the front base 193 is provided on the outer periphery in the middle of the insertion direction S of the connection base 191 and the distal end of the tube 192 in the insertion direction S is attached. The projecting portion 191t to be applied is disposed at a position in the insertion portion 2 that avoids the first cut piece 40bz or the second cut piece 40cz.

尚、本実施の形態においては、第1切断片40bzに対して非干渉となる内視鏡1の挿入部2の先端側の内蔵物の一例として、処置具挿通用チャンネル190の連結口金191の突出部191tを挙げているが、これに限定されず、他の挿入部2の先端側の内蔵物であっても良いことは勿論である。 In this embodiment, as an example of a built-in object on the distal end side of the insertion portion 2 of the endoscope 1 that does not interfere with the first cut piece 40bz, the connection base 191 of the treatment instrument insertion channel 190 is provided. Although the protruding portion 191t is mentioned, the present invention is not limited to this, and it is needless to say that a built-in object on the distal end side of the other insertion portion 2 may be used.

また、他の内蔵物の位置によっては、本実施の形態とは全く反対に、第1領域40aの中心Q2を、撮像素子30の中心Q1よりも幅方向Hにおいて側部40a1側にずらすことにより、第2切断片40czが他の内蔵物に干渉しないよう、領域T内に位置させてもよい。 Further, depending on the position of other built-in objects, the center Q2 of the first region 40a is shifted to the side 40a1 side in the width direction H with respect to the center Q1 of the image sensor 30, contrary to the present embodiment. The second cut piece 40cz may be positioned in the region T so as not to interfere with other built-in objects.

次に、本実施の形態の作用、効果について、上述した図2〜図5とともに、図11〜図13を用いて説明する。図11は、図3の第1領域の両側部において、第2領域及び第3領域が撮像素子の背面に近接する位置から延出するとともに、各切断ラインが撮像素子の外形よりも幅方向の外側に位置している場合の可撓性基板の構成を、撮像素子及びカバーガラス、カッターの刃とともに示す図、図12は、図3の第1領域の両側部において、第2領域及び第3領域が撮像素子の背面に近接する位置から延出するとともに第2領域の切断ラインが、撮像素子の外形内に位置している場合の可撓性基板の構成を、撮像素子及びカバーガラス、カッターの刃とともに示す図、図13は、図12の第2領域、第3領域を切断ラインに沿って切断した後の可撓性基板を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図である。 Next, the operation and effect of the present embodiment will be described with reference to FIGS. 11 to 13 together with FIGS. 2 to 5 described above. FIG. 11 shows that, on both sides of the first region in FIG. 3, the second region and the third region extend from a position close to the back surface of the image sensor, and each cutting line is wider than the outer shape of the image sensor. The figure which shows the structure of the flexible board | substrate in the case of being located outside with an image pick-up element, a cover glass, and the blade of a cutter, FIG. 12 is a 2nd area | region and 3rd in the both sides of the 1st area | region of FIG. The configuration of the flexible substrate in the case where the region extends from a position close to the back surface of the image sensor and the cutting line of the second region is located within the outer shape of the image sensor, the image sensor, the cover glass, and the cutter FIG. 13 shows the flexible substrate after cutting the second region and the third region of FIG. 12 along the cutting line, together with the image sensor and the cover glass.

図4に示す可撓性基板40から、図3〜図5に示すように、切断ラインC1、C2に沿って第2領域40b、第3領域40cを切断する場合、図11に示すように、仮に第2領域40b、第3領域40cが、両側部40a1、40a2において撮像素子30の背面30hに近接した位置から延出されていたとしても、各中心Q1、Q2が一致して切断ラインC1、C2が領域Tの外側に位置している場合においては、切断の際、カッターの刃Dが、撮像素子30の背面30hに接触してしまうことはない。 When cutting the second region 40b and the third region 40c along the cutting lines C1 and C2 from the flexible substrate 40 shown in FIG. 4 as shown in FIGS. 3 to 5, as shown in FIG. Even if the second region 40b and the third region 40c are extended from the positions close to the back surface 30h of the image sensor 30 in both side portions 40a1 and 40a2, the centers Q1 and Q2 coincide with each other and the cutting line C1 and In the case where C2 is located outside the region T, the cutter blade D does not come into contact with the back surface 30h of the image sensor 30 during cutting.

しかしながら、図12に示すように、切断ラインC1が領域Tに位置している場合、即ち、中心Q2が、中心Q1から幅方向Hにおいて側部40a2側にずれて位置している場合には、第2領域40bの切断の際、刃Dが撮像素子30の背面30hに接触してしまう可能性がある。 However, as shown in FIG. 12, when the cutting line C1 is located in the region T, that is, when the center Q2 is displaced from the center Q1 in the width direction H toward the side portion 40a2, When cutting the second region 40 b, the blade D may come into contact with the back surface 30 h of the image sensor 30.

尚、切断ラインC2は、領域Tの幅方向Hの外側に位置していることから、図11と同様に第3領域40cの切断に伴い、撮像素子30の背面30hに刃Dが接触してしまうことはない。 Since the cutting line C2 is located outside the width direction H of the region T, the blade D comes into contact with the back surface 30h of the image sensor 30 along with the cutting of the third region 40c as in FIG. There is no end.

さらには、図11、図12においては、第2領域40b、第3領域40cは、撮像素子30の背面30hに近接する位置から延出されているため、図13に示すように、切断ラインC1、C2に沿って切断した際、各切断片40bz、40czは、第1領域40aの側部40a1、40a2において延在方向Eに沿って先端から基端まで残ってしまうことから、図2に示すように、撮像ユニット100を挿入部2の先端側の内部に配置した際、例えば第1切断片40bzが、突出部191tに干渉してしまう。このことは、挿入部2の先端側の小径化を図るほど顕著である。 Furthermore, in FIGS. 11 and 12, since the second region 40b and the third region 40c are extended from a position close to the back surface 30h of the image sensor 30, as shown in FIG. 13, the cutting line C1 , When cut along C2, each cut piece 40bz, 40cz remains from the distal end to the proximal end along the extending direction E in the side portions 40a1, 40a2 of the first region 40a. Thus, when the imaging unit 100 is disposed inside the distal end side of the insertion portion 2, for example, the first cut piece 40bz interferes with the protruding portion 191t. This is more remarkable as the diameter of the distal end side of the insertion portion 2 is reduced.

しかしながら、本実施の形態においては、図4、図5に示すように、第1領域40aの両側部40a1、40a2において、第2領域40b、第3領域40cは、撮像素子30の背面30hから延在方向Eにある一定間隔E1だけ離間した位置から延出しているため、例えば切断ラインC1が領域T内に位置していたとしても、切断ラインC1に沿った第2領域40bの切断の際、刃Dが撮像素子30の背面30hに接触してしまうことがない。 However, in the present embodiment, as shown in FIGS. 4 and 5, the second region 40 b and the third region 40 c extend from the back surface 30 h of the image sensor 30 in both side portions 40 a 1 and 40 a 2 of the first region 40 a. For example, even if the cutting line C1 is located in the region T, when the second region 40b along the cutting line C1 is cut, it extends from the position separated by a certain interval E1 in the current direction E. The blade D does not come into contact with the back surface 30h of the image sensor 30.

また、図3に示すように、第1切断片40bzも、第1領域40aの側部40a1の後半部に残されるため、撮像ユニット100を内視鏡1の挿入部2の先端側内に配置した際、挿入部2の先端側の小径化を図っても第1切断片40bが、突出部191tの他の内蔵物に干渉してしまうことがない。 Further, as shown in FIG. 3, since the first cut piece 40bz is also left in the rear half of the side portion 40a1 of the first region 40a, the imaging unit 100 is disposed in the distal end side of the insertion portion 2 of the endoscope 1. At this time, even if the diameter of the distal end side of the insertion portion 2 is reduced, the first cut piece 40b does not interfere with other built-in objects of the protruding portion 191t.

以上から、可撓性基板40の切断作業を正確かつ容易に行いやすい構成を有する撮像ユニット100、該撮像ユニット100を具備する内視鏡1を提供することができる。 As described above, it is possible to provide the imaging unit 100 having a configuration in which the flexible substrate 40 can be easily and accurately cut, and the endoscope 1 including the imaging unit 100.

尚、以下、変形例を、図14を用いて示す。図14は、図3の第2切断片が、第1領域の側部において撮像素子の背面に近接する位置に残されている変形例を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図である。 Hereinafter, a modification will be described with reference to FIG. FIG. 14 is a view showing a modification in which the second cut piece of FIG. 3 is left at a position close to the back surface of the image sensor at the side of the first region, together with the image sensor and the cover glass.

図14に示すように、切断ラインC2が、領域Tよりも幅方向Hの外側に位置している場合、即ち、第3領域40cが側部40a2において撮像素子30の背面30hに近接する位置から延出している場合、上述した図11〜図13に示すように、切断ラインC2に沿って第3領域40cを切断したとしても、刃Dによって撮像素子30の背面30hを傷付けてしまうことがない。 As shown in FIG. 14, when the cutting line C2 is located outside the region T in the width direction H, that is, from the position where the third region 40c is close to the back surface 30h of the image sensor 30 in the side portion 40a2. When extending, as shown in FIGS. 11 to 13 described above, even if the third region 40c is cut along the cutting line C2, the back surface 30h of the imaging device 30 is not damaged by the blade D. .

このことから、第2切断片40czは、側部40a2において撮像素子30の背面30hに近接する位置に残されていても構わない。 Therefore, the second cut piece 40cz may be left at a position close to the back surface 30h of the imaging element 30 in the side portion 40a2.

即ち、側部40a1と側部40a2とにおいて、第1切断片40bzと第2切断片40czとは、中心Q2に対して非対称の位置に設けられていても構わない。 That is, in the side part 40a1 and the side part 40a2, the first cut piece 40bz and the second cut piece 40cz may be provided at asymmetric positions with respect to the center Q2.

言い換えれば、各切断片40bz、40czの切断ラインC1、C2が領域Tに位置している場合には、各切断片40b、40czは、撮像素子30の背面30hからある一定間隔E1だけ延在方向Eに離間して残されている必要あり、領域Tからずれている場合には、各切断片40bz、40czは、撮像素子30の背面30hに近接して残されていても構わない。 In other words, when the cutting lines C1 and C2 of the cutting pieces 40bz and 40cz are located in the region T, the cutting pieces 40b and 40cz extend in a direction extending from the back surface 30h of the imaging element 30 by a certain distance E1. When it is necessary to remain apart from E and deviate from the region T, the cut pieces 40bz and 40cz may be left close to the back surface 30h of the image sensor 30.

また、以下、別の変形例を、図15を用いて示す。図15は、図14の第2切断片が、第1切断片よりも延在方向に長く残っている変形例を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図である。 Hereinafter, another modification will be described with reference to FIG. FIG. 15 is a diagram illustrating a modification in which the second cut piece of FIG. 14 remains longer in the extending direction than the first cut piece, together with the imaging element and the cover glass.

図15に示すように、第2切断片40czの切断ラインC2が領域Tから幅方向Hの外側にずれて位置している場合において、第2切断片40czは、第1切断片40bzよりも延在方向Eに長く形成されていても構わない(E6>E5)。 As shown in FIG. 15, in the case where the cutting line C2 of the second cutting piece 40cz is located outside the region T in the width direction H, the second cutting piece 40cz extends beyond the first cutting piece 40bz. It may be formed long in the existing direction E (E6> E5).

尚、この場合に限定されず、第1切断片40bzと第2切断片40czとは、延在方向Eにおける長さが異なっていても構わない。 In addition, it is not limited to this case, The length in the extending direction E may differ between the 1st cut piece 40bz and the 2nd cut piece 40cz.

尚、以下、さらに別の変形例を、図16を用いて示す。図16は、図3の第1切断片の切断ラインが硬質基板に重なって位置した変形例を、撮像素子及びカバーガラスとともに示す図である。 Hereinafter, still another modification will be described with reference to FIG. FIG. 16 is a diagram illustrating a modification in which the cutting line of the first cutting piece of FIG. 3 is positioned so as to overlap the hard substrate, together with the image sensor and the cover glass.

図16に示すように、第1領域40a及び硬質基板90の幅方向Hにおける大きさのばらつきや、第1領域40aに対する硬質基板90の接続位置のばらつき等により、切断ラインC1が、硬質基板90に重なってしまい、作業者が切断ラインC1を視認できない場合がある。 As shown in FIG. 16, the cutting line C <b> 1 is formed by the hard substrate 90 due to variations in the size of the first region 40 a and the hard substrate 90 in the width direction H, variations in the connection position of the hard substrate 90 with respect to the first region 40 a, and the like. The operator may not be able to visually recognize the cutting line C1.

尚、第1領域40aに硬質基板90を電気的に接続してから第2領域40bの切断を行うのは、第1領域40aは面積が非常に小さいことから、硬質基板90を電気的に接続させた後の方が、切断作業が行いやすいためである。言い換えれば、可撓性基板40の切断後、硬質基板90を電気的に接続する作業は、大きさを考慮すると難しいためである。 The reason why the second region 40b is cut after the hard substrate 90 is electrically connected to the first region 40a is that the hard region 90 is electrically connected because the first region 40a has a very small area. This is because it is easier to perform the cutting work after the treatment. In other words, it is difficult to electrically connect the hard substrate 90 after cutting the flexible substrate 40 in consideration of the size.

この場合、硬質基板90の延在方向Eに沿った側面90bに沿って切断ラインC’を設定し、切断ラインC’に沿って第2領域40bを切断すれば良い。 In this case, a cutting line C ′ may be set along the side surface 90 b along the extending direction E of the hard substrate 90, and the second region 40 b may be cut along the cutting line C ′.

このような構成によれば、刃Dを硬質な側面90bに沿わせて切断作業が行えるため、上述した本実施の形態のような切断後の第1切断片40bzが発生し難く、正確な切断作業を行うことができるばかりか、第1切断片40bzが発生しないため、可撓性基板40の幅方向Hの幅も所望の大きさに収めることができる。 According to such a configuration, the cutting operation can be performed with the blade D along the hard side surface 90b, so that the first cut piece 40bz after the cutting as in the above-described embodiment hardly occurs, and the cutting is accurate. Not only can the work be performed, but the first cut piece 40bz is not generated, so that the width of the flexible substrate 40 in the width direction H can be set to a desired size.

尚、以上のことは、切断ラインC2が硬質基板90に重なって位置している場合においても同様である。 The same applies to the case where the cutting line C2 is positioned so as to overlap the hard substrate 90.

また、以下、別の変形例を図17、図18を用いて示す。図17は、本実施の形態の撮像ユニットを具備する内視鏡における撮像ユニットの変形例を、図7と同じ方向から示す図、図18は、図17中のXVII-XVII線に沿う撮像ユニットの断面を、第1の領域から第2領域及び第3領域を切断前の状態にて示す図である。 Hereinafter, another modification will be described with reference to FIGS. FIG. 17 is a diagram illustrating a modification of the imaging unit in the endoscope including the imaging unit of the present embodiment from the same direction as FIG. 7, and FIG. 18 is an imaging unit along the line XVII-XVII in FIG. It is a figure which shows the cross section of the 2nd area | region and 3rd area | region from the 1st area | region in the state before cutting | disconnection.

図17、図18に示すように、電子部品41が実装された硬質基板90’において、図18に示すように、第1の領域40aから少なくとも第2領域40bが延出されている部位に、幅方向H及び延在方向E、高さ方向にそれぞれ所定の長さを有する切り欠き90k’が形成されていても構わない。 As shown in FIGS. 17 and 18, in the hard substrate 90 ′ on which the electronic component 41 is mounted, as shown in FIG. 18, at least the second region 40 b extends from the first region 40 a. Notches 90k ′ each having a predetermined length in the width direction H, the extending direction E, and the height direction may be formed.

このような構成によれば、作業者は、第2領域40bを切断ラインC1に沿って切断する際、切り欠き90k’に沿って切断を行えば、切断位置がばらついてしまったとしても、第1切断片40bzが、撮像素子30の外形を延在方向Eに沿って投影した際、撮像素子30の延在方向Eへの外形投影部の領域Tからはみ出してしまうことがない。 According to such a configuration, when the operator cuts the second region 40b along the cutting line C1, if the cutting is performed along the notch 90k ′, even if the cutting position varies, When one cut piece 40bz projects the outer shape of the image sensor 30 along the extending direction E, the one cut piece 40bz does not protrude from the region T of the outer shape projection portion in the extending direction E of the image sensor 30.

よって、切り欠き90k’は、図示しないが、硬質基板90’において、第1の領域40aから第3領域40cが延出されている部位に形成されていても良い。この場合、作業者は、第3領域40cを切断ラインC2に沿って切断する際、切り欠き90k’に沿って切断を行えば、切断位置がばらついてしまったとしても、第2切断片40czが、撮像素子30の外形を延在方向Eに沿って投影した際、撮像素子30の延在方向Eへの外形投影部の領域Tからはみ出してしまうことがない。 Therefore, the notch 90k 'may be formed in a portion where the third region 40c extends from the first region 40a in the hard substrate 90', although not shown. In this case, when the operator cuts the third region 40c along the cutting line C2, if the cutting is performed along the notch 90k ′, even if the cutting position varies, the second cutting piece 40cz does not move. When the outer shape of the image sensor 30 is projected along the extending direction E, the image sensor 30 does not protrude from the region T of the outer shape projection portion in the extending direction E of the image sensor 30.

また、切り欠き90k’は、第2領域40bと第3領域40cとの少なくとも一方の切断の際に用いられることから、切り欠き90k’の延在方向Eの長さは、第2領域40bと第3領域40cとの少なくとも一方の切断に必要な長さに形成されていれば良く、硬質基板90’に対し、延在方向Eの全長に亘って形成されていても良い。 Further, since the cutout 90k ′ is used when cutting at least one of the second region 40b and the third region 40c, the length of the cutout 90k ′ in the extending direction E is the same as that of the second region 40b. It may be formed to a length necessary for cutting at least one of the third regions 40c, and may be formed over the entire length in the extending direction E with respect to the hard substrate 90 ′.

さらに、切り欠き90k’の幅方向Hにおける深さは、第2領域40bと第3領域40cとの少なくとも一方を切断する際、カッターの刃Dにより硬質基板90’を傷付けない深さであれば良く、また、高さ方向の幅も第2領域40bと第3領域40cとの少なくとも一方を切断する際の切断位置のバラツキを想定した幅以上であれば良い。 Further, the depth in the width direction H of the cutout 90k ′ is a depth that does not damage the hard substrate 90 ′ by the cutter blade D when cutting at least one of the second region 40b and the third region 40c. Also, the width in the height direction may be greater than or equal to the width that assumes variation in the cutting position when cutting at least one of the second region 40b and the third region 40c.

また、図18においては、切り欠き90k’の断面形状はL字状であるが、R状等、どのような形状であっても構わない。 In FIG. 18, the cross-sectional shape of the notch 90 k ′ is L-shaped, but it may be any shape such as an R-shape.

さらに、以下、別の変形例を、図19を用いて示す。図19は、本実施の形態の撮像ユニットを具備する内視鏡における撮像ユニットの図17とは別の変形例を示す図である。 Furthermore, another modification will be described below with reference to FIG. FIG. 19 is a diagram illustrating a modified example different from that of FIG. 17 of the imaging unit in the endoscope including the imaging unit of the present embodiment.

上述した本実施の形態においては、硬質基板90は、直方体形状を有しているものを例に挙げて示したが、これに限らず、他の形状を有していても構わない。 In the present embodiment described above, the hard substrate 90 is shown as an example having a rectangular parallelepiped shape, but is not limited thereto, and may have another shape.

例えば、図19に示すように、硬質基板90’’の延在方向Eの基端側の上面及び底面においてリード線51が半田等により電気的に接続される図示しないケーブル接続用ランドが配置されているリブ90r’’が設けられる構成において、上面のリブ90r’’が、硬質基板90’’の電子部品41の実装面よりも高く位置する形状を硬質基板90’’は有していても構わない。このような構成によれば、リブ90r’’に配置されているケーブル接続用ランドにリード線51を半田ごてGにて半田付けする際、半田ごてGの電子部品41への接触を防止することができる。 For example, as shown in FIG. 19, cable connection lands (not shown) to which the lead wires 51 are electrically connected by solder or the like are arranged on the upper surface and the bottom surface on the base end side in the extending direction E of the hard substrate 90 ″. In the configuration in which the rib 90r ″ is provided, even if the hard substrate 90 ″ has a shape in which the rib 90r ″ on the upper surface is positioned higher than the mounting surface of the electronic component 41 of the hard substrate 90 ″. I do not care. According to such a configuration, when the lead wire 51 is soldered to the cable connection land arranged on the rib 90r ″ with the soldering iron G, the contact of the soldering iron G with the electronic component 41 is prevented. can do.

尚、リブ90r’’は、硬質基板90’’の上面、底面において、延在方向Eに異なる長さに形成されていても構わないし、異なる位置に形成されていても構わない。 The ribs 90r ″ may be formed with different lengths in the extending direction E on the upper surface and the bottom surface of the hard substrate 90 ″, or may be formed at different positions.

また、硬質基板90’’は、延在方向Eにおけるリブ90r’’と、電子部品41との間に、半田が流れ出し、電子部品41に接触してしまうことによるショートの発生を防ぐ段差90h’’が形成された形状であっても構わない。 Further, the hard substrate 90 ″ has a step 90h ′ that prevents the occurrence of a short circuit due to the solder flowing out between the rib 90r ″ in the extending direction E and the electronic component 41 and coming into contact with the electronic component 41. It may be a shape in which 'is formed.

また、底面においても、半田が流れ出し、可撓性基板と硬質基板の接合部とのショートの発生を防止する段差90h’’が形成された形状であっても構わない。   Also, the bottom surface may have a shape in which a step 90h ″ that prevents the solder from flowing out and the occurrence of a short circuit between the flexible substrate and the hard substrate is formed.


本出願は、2015年3月30日に日本国に出願された特願2015−069348号を優先権主張の基礎として出願するものであり、上記の内容は、本願明細書、請求の範囲、図面に引用されたものである。

This application is filed on the basis of the priority claim of Japanese Patent Application No. 2015-069348 filed in Japan on March 30, 2015, and the above contents include the description, claims, and drawings of the present application. Is quoted in

1…内視鏡
2…挿入部
30…撮像素子
40…可撓性基板
40a…可撓性基板の第1領域
40a1…可撓性基板の第1領域の一方の側部
40a2…可撓性基板の第1領域の他方の側部
40as…可撓性基板の第1領域の延在方向の一端
40b…可撓性基板の第2領域
40bz…可撓性基板の第1切断片
40c…可撓性基板の第3領域
40cz…可撓性基板の第2切断片
90…硬質基板
100…撮像ユニット
190…処置具挿通用チャンネル
C1…切断ライン
C2…切断ライン
E…延在方向
E1…一定間隔
H…幅方向
Q1…撮像素子の幅方向の中心
Q2…第1領域の幅方向の中心
T…撮像素子の延在方向への外形投影部の領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Endoscope 2 ... Insertion part 30 ... Imaging element 40 ... Flexible board | substrate 40a ... 1st area | region 40a1 of a flexible board | substrate ... One side part 40a2 of the 1st area | region of a flexible board | substrate ... Flexible board | substrate The other side portion 40as of the first region of the first end 40b in the extending direction of the first region of the flexible substrate ... The second region 40bz of the flexible substrate ... The first cut piece 40c of the flexible substrate ... flexible The third region 40 cz of the conductive substrate ... the second cut piece 90 of the flexible substrate ... the hard substrate 100 ... the imaging unit 190 ... the treatment instrument insertion channel C1 ... the cutting line C2 ... the cutting line E ... the extending direction E1 ... a constant interval H ... width direction Q1 ... center Q2 in the width direction of the image sensor ... center T in the width direction of the first area ... area of the outer shape projection portion in the extending direction of the image sensor

本発明の一態様における内視鏡は、撮像素子と、第1領域の延在方向の一端が前記撮像素子に電気的に接続され、前記第1領域の前記延在方向に沿った両側部に、該両側部の一方から延出され切断された第2領域のつの第1切断片と、前記両側部の他方から延出され切断された第3領域のつの第2切断片とが残された可撓性基板と、前記第1領域に接続された硬質基板と、を具備し、前記第1切断片と前記第2切断片との少なくとも一方の切断ラインが、前記撮像素子の前記延在方向への外形投影部の領域に位置すると共に、前記第1領域において前記撮像素子から前記延在方向に一定間隔離間する後半部に残されている。 In the endoscope according to one aspect of the present invention, the imaging element and one end in the extending direction of the first area are electrically connected to the imaging element, and the both sides along the extending direction of the first area are provided. a second region first cut pieces of one of which is one extending from the cutting of the both sides, one second cutting piece and the remaining third region which is extending disconnected from the other of said side portions A flexible substrate and a hard substrate connected to the first region , wherein at least one cutting line of the first cut piece and the second cut piece is the extension of the imaging element. It is located in the area of the outer shape projection part in the direction of the current direction, and is left in the latter half part that is spaced apart from the image sensor in the direction of extension by a certain distance in the first area.

Claims (7)

撮像素子と、
第1領域の延在方向の一端が前記撮像素子に電気的に接続され、前記第1領域の前記延在方向に沿った両側部に、該両側部の一方から延出され切断された第2領域の少なくとも1つの第1切断片と、前記両側部の他方から延出され切断された第3領域の少なくとも1つの第2切断片とが残された可撓性基板と、
を具備し、
前記第1切断片と前記第2切断片との少なくとも一方の切断ラインが、前記撮像素子の前記延在方向への外形投影部の領域に位置すると共に、前記第1領域において前記撮像素子から前記延在方向に一定間隔離間する後半部に残されていることを特徴とする撮像ユニットを内蔵する内視鏡。
An image sensor;
One end of the first region extending in the extending direction is electrically connected to the image sensor, and the second region extends from one side of the first region and cuts the both sides along the extending direction of the first region. A flexible substrate in which at least one first cut piece of the region and at least one second cut piece of the third region extending from the other of the two side portions and cut are left;
Comprising
At least one cutting line of the first cut piece and the second cut piece is located in a region of the outer shape projection portion in the extending direction of the image pickup device, and in the first region from the image pickup device to the An endoscope incorporating an imaging unit, which is left in a rear half part spaced apart at a constant interval in the extending direction.
切断前の前記第2領域及び前記第3領域は、前記撮像素子の検査に用いられる領域であり、配線パターンを有していることを特徴とする請求項1に記載の撮像ユニットを内蔵する内視鏡。 2. The image pickup unit according to claim 1, wherein the second area and the third area before cutting are areas used for inspection of the image pickup element and have a wiring pattern. Endoscope. 前記第1領域の前記両側部を結ぶ幅方向の中心は、前記撮像素子における前記幅方向の中心よりも前記第2切断片側にずれて位置しており、
前記第1切断片は、前記切断ラインが前記撮像素子の前記延在方向への外形投影部の領域の内側に位置しており、前記第2切断片は、前記切断ラインが前記撮像素子の前記延在方向への外形投影部の領域の外側に位置していることを特徴とする請求項1または2に記載の撮像ユニットを内蔵する内視鏡。
The center in the width direction connecting the both side portions of the first region is shifted to the second cut piece side from the center in the width direction of the image sensor,
In the first cut piece, the cutting line is located inside a region of the outer shape projection portion in the extending direction of the image sensor, and the second cut piece is formed by the cutting line of the image sensor. The endoscope incorporating the imaging unit according to claim 1, wherein the endoscope is located outside a region of the outer shape projection unit in the extending direction.
前記第1切断片と前記第2切断片は、前記第1領域の前記両側部の前記延在方向において、前記撮像素子から等距離な位置に残されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の撮像ユニットを内蔵する内視鏡。 The first cut piece and the second cut piece are left at an equidistant position from the imaging device in the extending direction of the both side portions of the first region. An endoscope incorporating the imaging unit according to any one of 3 above. 前記第1切断片と前記第2切断片との前記延在方向における長さが同じになっていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の撮像ユニットを内蔵する内視鏡。 The internal length of the imaging unit according to any one of claims 1 to 4, wherein the first cut piece and the second cut piece have the same length in the extending direction. Endoscope. 前記第1領域に、硬質基板が電気的に接続されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の撮像ユニットを内蔵する内視鏡。 The endoscope incorporating the imaging unit according to any one of claims 1 to 5, wherein a hard substrate is electrically connected to the first region. 前記第1領域における前記後半部に残された前記第1切断片と前記第2切断片との少なくとも一方は、被検体内に挿入される挿入部内において、該挿入部に設けられた内蔵物が前記第1切断片又は前記第2切断片を避ける位置に設けられることを特徴とする請求項6に記載の撮像ユニットを内蔵する内視鏡。   At least one of the first cut piece and the second cut piece left in the second half of the first region is a built-in object provided in the insertion portion in the insertion portion to be inserted into the subject. The endoscope incorporating the imaging unit according to claim 6, wherein the endoscope is provided at a position avoiding the first cut piece or the second cut piece.
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