JPWO2016111075A1 - 撮像ユニット、撮像モジュールおよび内視鏡システム - Google Patents

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Abstract

挿入部先端の細径化を図りながら、高画質の画像を得ることのできる撮像ユニット、撮像モジュールおよび内視鏡システムを提供する。本発明における撮像ユニット10は、撮像素子を有し、f2面に接続電極21が形成された半導体パッケージ20と、f3面およびf4面に接続電極31、33を有し、接続電極31を介して半導体パッケージ20に接続される第1の積層基板30と、第1の積層基板30の積層方向と積層方向が直交するように、第1の積層基板30に接続される第2の積層基板40と、第1の積層基板30の内部に実装される電子部品51と、第2の積層基板40に接続されるケーブル60と、を備え、第1の積層基板30と第2の積層基板40は、第2の積層基板40が第1の積層基板30に接続されてT字状をなし、半導体パッケージ20の光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする。

Description

本発明は、被検体内に挿入される内視鏡の挿入部の先端に設けられて被検体内を撮像する撮像ユニット、撮像モジュールおよび内視鏡システムに関する。
従来から、医療分野および工業分野において、各種検査のために内視鏡装置が広く用いられている。このうち、医療用の内視鏡装置は、患者等の被検体の体腔内に、先端に撮像素子が設けられた細長形状をなす可撓性の挿入部を挿入することによって、被検体を切開せずとも体腔内の体内画像を取得でき、さらに、必要に応じて挿入部先端から処置具を突出させて治療処置を行うことができるため、広く用いられている。
このような内視鏡装置の挿入部先端には、撮像素子と、該撮像素子の駆動回路を構成するコンデンサやICチップ等の電子部品が実装された回路基板を含む撮像ユニットが嵌め込まれ、撮像ユニットの回路基板には信号ケーブルが半田付けされている。
近年、ケーブルの信号線の接続作業の簡易化や接続部分の信頼性の向上、または小型化を目的として、撮像素子と接続する回路基板を立体構造とした撮像ユニットが提案されている。
特開2005−278760号公報 特開2006−223624号公報 特開2000−199863号公報 特開2013−197501号公報 特開2014−110847号公報
しかしながら、特許文献1〜5では、バイパスコンデンサ等の電子部品が撮像素子と離れた位置に実装されるため、配線のインピーダンスが高くなりノイズ発生による画質低下の要因となっている。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、挿入部先端の細径化を図りながら、高画質の画像を得ることのできる撮像ユニット、撮像モジュールおよび内視鏡システムを提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる撮像ユニットは、撮像素子を有し、裏面に接続電極が形成された半導体パッケージと、複数の基板を積層してなり、表面および裏面に接続電極がそれぞれ形成され、表面側の接続電極が前記半導体パッケージの接続電極と電気的および機械的に接続される第1の積層基板と、複数の基板を積層してなり、前記第1の積層基板の積層方向と積層方向が直交するように、前記第1の積層基板の裏面側に電気的および機械的に接続される第2の積層基板と、前記第1の積層基板の内部に実装される電子部品と、前記第2の積層基板に電気的および機械的に接続される複数のケーブルと、を備え、前記第1の積層基板と前記第2の積層基板は、前記第2の積層基板が前記第1の積層基板に接続されてT字状をなし、前記半導体パッケージの光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする。
また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記第1の積層基板の内部に複数の電子部品が実装され、前記複数の電子部品が実装される前記第1の積層基板の階層において、積層される基板間を接続する複数のビアの配置領域と、複数の電子部品の実装領域とが隣接するように区分けされることを特徴とする。
また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記第1の積層基板の内部に複数の電子部品が実装され、前記複数の電子部品が実装される前記第1の積層基板の階層において、複数の電子部品は前記第1の積層基板の中心部に実装されるとともに、積層される基板間を接続する複数のビアは前記第1の積層基板の外周部に沿って配置されることを特徴とする。
また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、複数の前記ケーブルの少なくとも1つは、前記第1の積層基板の外周部に沿って配置されたビアに接続されることを特徴とする。
また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記第2の積層基板に接続される複数の前記ケーブルは光軸方向に沿って異なる位置に配置され、前記第2の積層基板の前記第1の積層基板側に接続されるケーブルは、前記第1の積層基板内に実装される前記電子部品と接続されることを特徴とする。
また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記第1の積層基板の裏面側には、前記第2の積層基板の端部を挿入する凹部が形成され、前記第1の積層基板に内蔵される前記電子部品は、前記凹部と干渉しない位置に配置されることを特徴とする。
また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記第2の積層基板は、前記第1の積層基板の裏面の中心からずらして接続され、前記第2の積層基板により区分けされる前記撮像素子の光軸方向の投影面が広い面側に外径が大きい前記ケーブルが接続され、投影面が狭い面側に外径が小さい前記ケーブルが接続されることを特徴とする。
また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記第2の積層基板は、水平方向から傾けた状態で前記第1の積層基板に接続されることを特徴とする。
また、本発明にかかる撮像ユニットは、上記発明において、前記第1の積層基板、前記第2の積層基板、および複数の前記ケーブルは、前記撮像素子の光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする。
また、本発明にかかる撮像モジュールは、撮像素子を有し、裏面に接続電極が形成された半導体パッケージと、複数の基板を積層してなり、表面および裏面に接続電極がそれぞれ形成され、表面側の接続電極が前記半導体パッケージの接続電極と電気的および機械的に接続される第1の積層基板と、複数の基板を積層してなり、前記第1の積層基板の積層方向と積層方向が直交するように、前記第1の積層基板の裏面側に電気的および機械的に接続される第2の積層基板と、前記第1の積層基板の内部に実装される電子部品と、を備え、前記第1の積層基板と前記第2の積層基板は、前記第2の積層基板が前記第1の積層基板に接続されてT字状をなし、前記半導体パッケージの光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする。
また、本発明にかかる内視鏡システムは、上記のいずれか一つに記載の撮像ユニットが先端に設けられた挿入部を備えたことを特徴とする。
本発明によれば、半導体パッケージに隣接する第1の積層基板内部に電子部品を内蔵することにより、細径化を図りながらノイズ発生による画質の低下を防止することができる。
図1は、本発明の実施の形態1にかかる内視鏡システムの全体構成を模式的に示す図である。 図2は、図1に示す内視鏡先端部に配置される撮像ユニットの断面図である。 図3は、図2に示す撮像ユニットのA−A線断面図である。 図4は、本発明の実施の形態1の変形例1にかかる撮像ユニットの断面図である。 図5は、本発明の実施の形態1の変形例2にかかる撮像ユニットの側面図である。 図6は、図5に示す撮像ユニットの第2の積層基板とケーブルの配置構成を説明する図である。 図7は、本発明の実施の形態2にかかる撮像ユニットの断面図である。 図8は、図7に示す撮像ユニットのB−B線断面図である。 図9は、本発明の実施の形態2の変形例1にかかる撮像ユニットの断面図である。 図10は、本発明の実施の形態3にかかる撮像ユニットの断面図である。 図11は、図10の撮像ユニットで使用する第1の積層基板の平面図である。
以下の説明では、本発明を実施するための形態(以下、「実施の形態」という)として、撮像ユニットを備えた内視鏡システムについて説明する。また、この実施の形態により、この発明が限定されるものではない。さらに、図面の記載において、同一部分には同一の符号を付している。さらにまた、図面は、模式的なものであり、各部材の厚みと幅との関係、各部材の比率等は、現実と異なることに留意する必要がある。また、図面の相互間においても、互いの寸法や比率が異なる部分が含まれている。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1にかかる内視鏡システムの全体構成を模式的に示す図である。図1に示すように、本実施の形態1にかかる内視鏡システム1は、被検体内に導入され、被検体の体内を撮像して被検体内の画像信号を生成する内視鏡2と、内視鏡2が撮像した画像信号に所定の画像処理を施すとともに内視鏡システム1の各部を制御する情報処理装置3と、内視鏡2の照明光を生成する光源装置4と、情報処理装置3による画像処理後の画像信号を画像表示する表示装置5と、を備える。
内視鏡2は、被検体内に挿入される挿入部6と、挿入部6の基端部側であって術者が把持する操作部7と、操作部7より延伸する可撓性のユニバーサルコード8と、を備える。
挿入部6は、照明ファイバ(ライトガイドケーブル)、電気ケーブルおよび光ファイバ等を用いて実現される。挿入部6は、後述する撮像ユニットを内蔵した先端部6aと、複数の湾曲駒によって構成された湾曲自在な湾曲部6bと、湾曲部6bの基端部側に設けられた可撓性を有する可撓管部6cと、を有する。先端部6aには、照明レンズを介して被検体内を照明する照明部、被検体内を撮像する観察部、処理具用チャンネルを連通する開口部および送気・送水用ノズル(図示せず)が設けられている。
操作部7は、湾曲部6bを上下方向および左右方向に湾曲させる湾曲ノブ7aと、被検体の体腔内に生体鉗子、レーザメス等の処置具が挿入される処置具挿入部7bと、情報処理装置3、光源装置4、送気装置、送水装置および送ガス装置等の周辺機器の操作を行う複数のスイッチ部7cと、を有する。処置具挿入部7bから挿入された処置具は、内部に設けられた処置具用チャンネルを経て挿入部6先端の開口部から表出する。
ユニバーサルコード8は、照明ファイバ、電気ケーブルおよび光ファイバ等を用いて構成される。ユニバーサルコード8は、基端で分岐しており、分岐した一方の端部がコネクタ8aであり、他方の基端がコネクタ8bである。コネクタ8aは、情報処理装置3のコネクタに対して着脱自在である。コネクタ8bは、光源装置4に対して着脱自在である。ユニバーサルコード8は、光源装置4から出射された照明光を、コネクタ8b、および照明ファイバを介して先端部6aに伝播する。また、ユニバーサルコード8は、後述する撮像ユニットが撮像した画像信号を、ケーブルおよびコネクタ8aを介して情報処理装置3に伝送する。
情報処理装置3は、コネクタ8aから出力される画像信号に所定の画像処理を施すとともに、内視鏡システム1全体を制御する。
光源装置4は、光を発する光源や、集光レンズ等を用いて構成される。光源装置4は、情報処理装置3の制御のもと、光源から光を発し、コネクタ8bおよびユニバーサルコード8の照明ファイバを介して接続された内視鏡2へ、被写体である被検体内に対する照明光として供給する。
表示装置5は、液晶または有機EL(Electro Luminescence)を用いた表示ディスプレイ等を用いて構成される。表示装置5は、映像ケーブル5aを介して情報処理装置3によって所定の画像処理が施された画像を含む各種情報を表示する。これにより、術者は、表示装置5が表示する画像(体内画像)を見ながら内視鏡2を操作することにより、被検体内の所望の位置の観察および性状を判定することができる。
次に、内視鏡システム1で使用する撮像ユニットについて詳細に説明する。図2は、図1に示す内視鏡先端部に配置される撮像ユニットの断面図である。図3は、図2に示す撮像ユニットのA−A線断面図である。
撮像ユニット10は、撮像素子を有し、裏面に接続電極21が形成された半導体パッケージ20と、板状をなし、表面および裏面に接続電極31および33がそれぞれ形成され、表面側の接続電極31が半導体パッケージ20の接続電極21と電気的および機械的に接続される第1の積層基板30と、板状をなし、第1の積層基板30の積層方向と積層方向が直交するように、第1の積層基板30の裏面側に電気的および機械的に接続される第2の積層基板40と、第1の積層基板30の内部に実装される電子部品51と、第2の積層基板40に電気的および機械的に接続される複数のケーブル60と、を備える。
半導体パッケージ20が有する撮像素子はCMOS等からなり、表面であるf1面にはレンズユニットが集光した光を受光する受光部を備える。受光部は裏面であるf2面に形成された接続電極21に接続されている。接続電極21には、はんだ等からなるバンプ22が形成されている。半導体パッケージ20は、ウエハ状態の撮像素子チップに、配線、電極形成、樹脂封止、およびダイシングをして、最終的に撮像素子チップの大きさがそのまま半導体パッケージの大きさとなるCSP(Chip Size Package)であることが好ましい。
第1の積層基板30は、配線が形成された複数の基板が積層されて板状をなしている(f3面およびf4面に平行な基板が複数積層)。積層される基板は、セラミックス基板、ガラエポ基板、ガラス基板、シリコン基板等が用いられる。第1の積層基板30の内部には、複数の電子部品51が内蔵されるとともに、積層される基板上の配線を導通させる複数のビア32が形成されている。図3に示すように、第1の積層基板30には、4つの電子部品51が内蔵されているが、電子部品51は、同一種でも異なる種類であってもよく、内蔵される電子部品51の数も4つに限定されるものではない。電子部品51としては、コンデンサ、抵抗コイル等の受動部品、ドライバIC等の能動部品が例示される。また、ビア32の数および配置も図3に示すものに限定されるものではない。
第1の積層基板30のf3面には接続電極31が形成され、半導体パッケージ20の接続電極21とバンプ22を介して電気的、および機械的に接続される。接続電極31と接続電極21との接続部は、封止樹脂23により封止されている。また、第1の積層基板30のf4面には接続電極33が形成され、ビア32を介して接続電極31と接続されている。
第1の積層基板30の内部に実装される複数の電子部品51は、電子部品51が実装される第1の積層基板30の基板の階層において、電子部品配置領域36に実装される。電子部品配置領域36は、複数のビア32が配置されるビア配置領域35と隣接するように区分けされている。電子部品配置領域36とビア配置領域35とを、隣接するように区分けすることにより、限られたスペース内に効率よく電子部品51およびビア32を配置することができる。
第2の積層基板40は、第1の積層基板30と同様に、配線が形成された複数の基板が積層されて板状をなしている(f5面およびf6面に平行な基板が複数積層)。積層される基板は、セラミックス基板、ガラエポ基板、ガラス基板、シリコン基板等が用いられる。第2の積層基板40は、積層方向が第1の積層基板30の積層方向と直交するように、第1の積層基板30に電気的および機械的に接続される。第1の積層基板30と第2の積層基板40は、接続されてT字状をなす。第1の積層基板30の裏面であるf4面は第2の積層基板40により二分されている。
第2の積層基板40の一端部には接続電極41が形成され、第1の積層基板30の接続電極33とはんだ34により接続されている。第1の積層基板30と第2の積層基板40の接続は、第1の積層基板30の所定位置に接着剤を塗布した後、第2の積層基板40を配置して仮固定した後、はんだ34により接続電極33と接続電極41とを接続する。
第2の積層基板40の他端側には、複数のケーブル60を接続するケーブル接続電極42が設けられている。ケーブル60は、一端部の絶縁性の外皮62が剥離され、露出した導体61がはんだ43によりケーブル接続電極42に接続される。
実施の形態1では、電子部品51は半導体パッケージ20と直接接続される第1の積層基板30内に内蔵されるため、電子部品51と半導体パッケージ20内の撮像素子との距離が短い、すなわち配線長を短くでき、ノイズを低減することができる。また、第1の積層基板30に電子部品51を実装するため、第2の積層基板40に電子部品51を実装する場合に比べ、配線数が低減することにより、撮像ユニットの全長を短く出来る。
さらに、実施の形態1では、第1の積層基板30、第2の積層基板40、および複数のケーブル60は半導体パッケージ20の光軸方向の投影面内に収められるため、撮像ユニット10の細径化を図ることができる。
(実施の形態1の変形例1)
実施の形態1の変形例1にかかる撮像ユニットにおいて、第2の積層基板40は第1の積層基板30の裏面の中心からずらして接続されている。図4は、本発明の実施の形態1の変形例1にかかる撮像ユニットの断面図である。
実施の形態1の変形例1にかかる撮像ユニット10Aでは、図4に示すように、第2の積層基板40は、第1の積層基板30の裏面の中心から、下方(第1の積層基板30の面f7側)にずらして接続されている。また、外径の異なるケーブル63、64、65および66が第2の積層基板40に接続されている。
第2の積層基板40を、第1の積層基板30の裏面を二分するように第1の積層基板30の中心に接続し、外径の異なるケーブル63〜66を任意に接続すると、撮像ユニット10Aの外径が大きくなる場合がある。実施の形態1の変形例1では、第2の積層基板40を第1の積層基板30の裏面の中心からずらして接続し、第2の積層基板40により区分けされる撮像素子の光軸方向の投影面が広い面側(f5面)に外径が大きいケーブル63および64を接続し、投影面が狭い面側(f6面)に外径が小さいケーブル65および66を接続する。これにより、外径の大きいケーブル63および64を使用した場合であっても、第1の積層基板30、第2の積層基板40、およびケーブル63および64を撮像素子の光軸方向の投影面内に収めることができ、撮像ユニット10Aの細径化を図ることができる。
また、実施の形態1の変形例1では、ケーブル63〜66が第2の積層基板40の光軸方向にそって異なる位置に接続される。第2の積層基板40のf5面では、ケーブル64が第1の積層基板30寄りに接続され、ケーブル63が基端側に接続される。また、f6面では、ケーブル66が、第1の積層基板30寄りに接続され、ケーブル65が基端側に接続される。第1の積層基板30寄りに接続されるケーブル64は、第1の積層基板30内に実装される電子部品51を介して半導体パッケージ20に電気信号を送信する。図4中に実線で示すように、ケーブル64から半導体パッケージ20に電気信号が送信される。また、図4中に点線で示すように、ケーブル63から半導体パッケージ20に電気信号が送信される。なお、図4中、ケーブル65および66と半導体パッケージ20との間の電気信号の送信経路は省略している。第1の積層基板30内に実装される電子部品51と接続されるケーブル64を第1の積層基板30寄りに接続することにより、ノイズの低減が可能となる。
(実施の形態1の変形例2)
実施の形態1の変形例2にかかる撮像ユニットにおいて、第2の積層基板40は水平方向から傾けた状態で第1の積層基板30に接続されている。図5は、本発明の実施の形態1の変形例2にかかる撮像ユニットの側面図である。図6は、図5に示す撮像ユニットの第2の積層基板とケーブルの配置構成を説明する図である。
実施の形態1の変形例2にかかる撮像ユニット10Bでは、図5および図6に示すように、第2の積層基板40は水平方向から傾けた状態で第1の積層基板30に接続されている。また、第2の積層基板40には、外径の異なるケーブル63および65が接続されている。ケーブル63は外径が大きく、ケーブル65は外径が小さいケーブルであり、第2の積層基板40のf5面およびf6面には、1本のケーブル63と3本のケーブル65がそれぞれ接続されている。
第2の積層基板40を、第1の積層基板30の裏面を二分するように第1の積層基板30の裏面の中心に接続し、外径の異なるケーブル63および65を任意に接続すると、撮像ユニット10Bの外径が大きくなる場合がある。実施の形態1の変形例2では、第2の積層基板40を水平状態から傾けた状態で第1の積層基板30に接続し、外径の大きいケーブル63を第1の積層基板30の角a1およびa2近傍に配置する。これにより、外径の大きいケーブル63を使用した場合であっても、第1の積層基板30、第2の積層基板40、およびケーブル63および65を撮像素子の光軸方向の投影面内に収めることができ、撮像ユニット10Bの細径化を図ることができる。
(実施の形態2)
実施の形態2にかかる撮像ユニットにおいて、ビアは第1の積層基板の外周部にそって配置される。図7は、本発明の実施の形態2にかかる撮像ユニットの断面図である。図8は、図7に示す撮像ユニットのB−B線断面図である。
実施の形態2にかかる撮像ユニット10Cでは、図7および図8に示すように、複数の電子部品51が実装される第1の積層基板30Cの基板の階層において、複数の電子部品51は第1の積層基板30Cの中心部の電子部品配置領域36に実装されるとともに、積層される基板間を接続する複数のビア32Cは、第1の積層基板30Cの外周部のビア配置領域35に配置される。
電子部品配置領域36を第1の積層基板30Cの中央部とし、ビア配置領域35は電子部品配置領域36を取り囲む外周部に配置することにより、第1の積層基板30Cにより多くの電子部品51の実装、およびビア32Cの配置が可能となる。
(実施の形態2の変形例1)
実施の形態2の変形例1にかかる撮像ユニットにおいて、一部のケーブルは第1の積層基板のビアに接続される。図9は、本発明の実施の形態2の変形例1にかかる撮像ユニットの断面図である。
実施の形態2の変形例1にかかる撮像ユニット10Dでは、図9に示すように、外径が小さいケーブル65は第1の積層基板30Cの外周部に配置されたビア32Cに接続され、外径の大きいケーブル63は第2の積層基板40に接続される。第1の積層基板30Cのビア32Cに接続されるケーブル65は、図9中実線で示すように、第1の積層基板30C内に実装される電子部品51を介して半導体パッケージ20に電気信号を送信する。また、第2の積層基板40に接続されるケーブル63は、図9中点線で示すように半導体パッケージ20に電気信号を送信する。なお、図9中、第1の積層基板30Cの面f7、第2の積層基板40のf6面に接続されるケーブル63および65と半導体パッケージ20との間の電気信号の送信経路は省略している。第1の積層基板30C内に実装される電子部品51と接続されるケーブル65を、第1の積層基板30Cのビア32Cに接続することにより、ノイズの低減が可能となる。
また、実施の形態2の変形例1では、外径の小さいケーブル65をビア32Cに接続し、第1の積層基板30C、第2の積層基板40、およびケーブル63および65を半導体パッケージ20の光軸方向の投影面内に収めているため、撮像ユニット10Dの細径化を図ることができる。
(実施の形態3)
実施の形態3にかかる撮像ユニットにおいて、第2の積層基板が接続される第1の積層基板の裏面には凹部が形成されている。図10は、本発明の実施の形態3にかかる撮像ユニットの断面図である。図11は、図10の撮像ユニットで使用する第1の積層基板の平面図である。
実施の形態3にかかる撮像ユニット10Eでは、図10および図11に示すように、第1の積層基板30Eのf4面には、第2の積層基板40Eの端部を挿入する凹部37が形成されている。凹部37は、第2の積層基板40Eの端部を挿入可能な大きさに形成される。第1の積層基板30Eと第2の積層基板40Eの接続は、凹部37に接着剤を充填し、第2の積層基板40Eの端部を挿入して仮接着した後、接続電極33と接続電極41とをはんだ34で電気的および機械的に接続する。
第1の積層基板30Eに内蔵される電子部品51は、凹部37と異なる位置に配置される。実施の形態3において、電子部品が51は、第1の積層基板30Eの凹部37が形成される階層と同じ階層に実装されるため、凹部37が形成される位置とずらして実装される。電子部品51を、凹部37と異なる階層に実装する場合には電子部品51と凹部37の位置が重なることもありえるが、第1の積層基板30Eの光軸方向の長さを短くするためには、電子部品51と凹部37とを同じ階層とし、異なる位置に配置することが好ましい。
本発明の撮像ユニット、および撮像モジュールは、高画質な画像、および先端部の細径化が要求される内視鏡システムに有用である。
1 内視鏡システム
2 内視鏡
3 情報処理装置
4 光源装置
5 表示装置
6 挿入部
6a 先端部
6b 湾曲部
6c 可撓管部
7 操作部
7a 湾曲ノブ
7b 処置具挿入部
7c スイッチ部
8 ユニバーサルコード
8a、8b コネクタ
10、10A、10B、10C、10D、10E 撮像ユニット
20 半導体パッケージ
21、31、33、41 接続電極
22 バンプ
23 封止樹脂
30、30C、30E 第1の積層基板
32、32C ビア
34、43 はんだ
35 ビア配置領域
36 電子部品配置領域
37 凹部
40、40E 第2の積層基板
42 ケーブル接続電極
51 電子部品
60、63、64、65、66 ケーブル
61 導体
62 外皮

Claims (11)

  1. 撮像素子を有し、裏面に接続電極が形成された半導体パッケージと、
    複数の基板を積層してなり、表面および裏面に接続電極がそれぞれ形成され、表面側の接続電極が前記半導体パッケージの接続電極と電気的および機械的に接続される第1の積層基板と、
    複数の基板を積層してなり、前記第1の積層基板の積層方向と積層方向が直交するように、前記第1の積層基板の裏面側に電気的および機械的に接続される第2の積層基板と、
    前記第1の積層基板の内部に実装される電子部品と、
    前記第2の積層基板に電気的および機械的に接続される複数のケーブルと、
    を備え、
    前記第1の積層基板と前記第2の積層基板は、前記第2の積層基板が前記第1の積層基板の裏面に接続されてT字状をなし、前記半導体パッケージの光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする撮像ユニット。
  2. 前記第1の積層基板の内部に複数の電子部品が実装され、前記複数の電子部品が実装される前記第1の積層基板の階層において、積層される基板間を接続する複数のビアの配置領域と、複数の電子部品の実装領域とが隣接するように区分けされることを特徴とする請求項1に記載の撮像ユニット。
  3. 前記第1の積層基板の内部に複数の電子部品が実装され、前記複数の電子部品が実装される前記第1の積層基板の階層において、複数の電子部品は前記第1の積層基板の中心部に実装されるとともに、積層される基板間を接続する複数のビアは前記第1の積層基板の外周部に沿って配置されることを特徴とする請求項1に記載の撮像ユニット。
  4. 複数の前記ケーブルの少なくとも1つは、前記第1の積層基板の外周部に沿って配置されたビアに接続されることを特徴とする請求項3に記載の撮像ユニット。
  5. 前記第2の積層基板に接続される複数の前記ケーブルは、光軸方向に沿って異なる位置に配置され、前記第2の積層基板の前記第1の積層基板側に接続されるケーブルは、前記第1の積層基板内に実装される前記電子部品と接続されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の撮像ユニット。
  6. 前記第1の積層基板の裏面側には、前記第2の積層基板の端部を挿入する凹部が形成され、前記第1の積層基板に内蔵される前記電子部品は、前記凹部と異なる位置に配置されることを特徴とする請求項1に記載の撮像ユニット。
  7. 前記第2の積層基板は、前記第1の積層基板の中心からずらして接続され、前記第2の積層基板により区分けされる前記撮像素子の光軸方向の投影面が広い面側に外径が大きい前記ケーブルが接続され、投影面が狭い面側に外径が小さい前記ケーブルが接続されることを特徴とする請求項1に記載の撮像ユニット。
  8. 前記第2の積層基板は、水平方向から傾けた状態で前記第1の積層基板に接続されることを特徴とする請求項1に記載の撮像ユニット。
  9. 前記第1の積層基板、前記第2の積層基板、および複数の前記ケーブルは、前記撮像素子の光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一つに記載の撮像ユニット。
  10. 撮像素子を有し、裏面に接続電極が形成された半導体パッケージと、
    複数の基板を積層してなり、表面および裏面に接続電極がそれぞれ形成され、表面側の接続電極が前記半導体パッケージの接続電極と電気的および機械的に接続される第1の積層基板と、
    複数の基板を積層してなり、前記第1の積層基板の積層方向と積層方向が直交するように、前記第1の積層基板の裏面側に電気的および機械的に接続される第2の積層基板と、
    前記第1の積層基板の内部に実装される電子部品と、
    を備え、
    前記第1の積層基板と前記第2の積層基板は、前記第2の積層基板が前記第1の積層基板の裏面に接続されてT字状をなし、前記半導体パッケージの光軸方向の投影面内に収まることを特徴とする撮像モジュール。
  11. 請求項1〜9のいずれか一つに記載の撮像ユニットが先端に設けられた挿入部を備えたことを特徴とする内視鏡システム。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018021061A1 (ja) * 2016-07-28 2018-02-01 オリンパス株式会社 撮像ユニットおよび内視鏡
JPWO2018078767A1 (ja) * 2016-10-27 2019-06-24 オリンパス株式会社 内視鏡
DE112016007392T5 (de) * 2016-10-27 2019-07-25 Olympus Corporation Bildaufnahmeeinheit für ein Endoskop und Endoskop
JPWO2018092318A1 (ja) * 2016-11-21 2019-01-24 オリンパス株式会社 内視鏡用撮像モジュール、および内視鏡
WO2019193911A1 (ja) * 2018-04-03 2019-10-10 オリンパス株式会社 撮像ユニット、および内視鏡
WO2020003398A1 (ja) * 2018-06-27 2020-01-02 オリンパス株式会社 内視鏡、および、内視鏡用撮像装置
CN109717820B (zh) * 2018-12-07 2024-06-07 上海英诺伟医疗器械股份有限公司 基于柔性管的体内探测装置与系统
CN109700432B (zh) * 2018-12-21 2024-06-07 上海英诺伟医疗器械股份有限公司 基于柔性管的探测封装结构与体内探测装置
WO2020188722A1 (ja) * 2019-03-18 2020-09-24 オリンパス株式会社 内視鏡用光源サブシステム
WO2022244133A1 (ja) * 2021-05-19 2022-11-24 オリンパスメディカルシステムズ株式会社 撮像ユニット、撮像ユニットの製造方法、および、内視鏡

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3216650B2 (ja) * 1990-08-27 2001-10-09 オリンパス光学工業株式会社 固体撮像装置
JP3639384B2 (ja) * 1996-07-23 2005-04-20 オリンパス株式会社 内視鏡用撮像ユニット
JPH11271646A (ja) * 1998-03-23 1999-10-08 Olympus Optical Co Ltd 電子内視鏡用固体撮像装置
US6635865B1 (en) * 2000-07-25 2003-10-21 Andrew J. Soltyk Imaging sensor microassembly having dual circuit board formed of unsymmetrical T shape
EP2477392A4 (en) * 2009-09-11 2018-01-17 Olympus Corporation Image pickup device and method for manufacturing image pickup device
US8698887B2 (en) * 2010-04-07 2014-04-15 Olympus Corporation Image pickup apparatus, endoscope and manufacturing method for image pickup apparatus
JP5259852B1 (ja) * 2012-03-30 2013-08-07 株式会社東芝 支持台、撮像装置、撮像装置の接続方法
JP6021618B2 (ja) * 2012-12-05 2016-11-09 オリンパス株式会社 撮像装置、内視鏡及び撮像装置の製造方法
WO2014208171A1 (ja) * 2013-06-28 2014-12-31 オリンパスメディカルシステムズ株式会社 撮像モジュールおよび内視鏡装置
JP6307227B2 (ja) * 2013-06-28 2018-04-04 オリンパス株式会社 撮像ユニットおよび内視鏡装置
CN106793930B (zh) * 2015-06-16 2018-08-07 奥林巴斯株式会社 摄像模块、内窥镜系统以及摄像模块的制造方法

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