JPWO2015177870A1 - 製造設備診断支援装置 - Google Patents
製造設備診断支援装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2015177870A1 JPWO2015177870A1 JP2016520848A JP2016520848A JPWO2015177870A1 JP WO2015177870 A1 JPWO2015177870 A1 JP WO2015177870A1 JP 2016520848 A JP2016520848 A JP 2016520848A JP 2016520848 A JP2016520848 A JP 2016520848A JP WO2015177870 A1 JPWO2015177870 A1 JP WO2015177870A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- item
- different event
- analysis
- diagnosis support
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 37
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 claims abstract description 63
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 20
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 4
- 238000000528 statistical test Methods 0.000 claims description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 81
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 15
- 230000006870 function Effects 0.000 description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 5
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 5
- 238000000611 regression analysis Methods 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 4
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 3
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 description 3
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 2
- 230000003534 oscillatory effect Effects 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 238000012353 t test Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N Fe2+ Chemical compound [Fe+2] CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000692 Student's t-test Methods 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000007418 data mining Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000513 principal component analysis Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0235—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0221—Preprocessing measurements, e.g. data collection rate adjustment; Standardization of measurements; Time series or signal analysis, e.g. frequency analysis or wavelets; Trustworthiness of measurements; Indexes therefor; Measurements using easily measured parameters to estimate parameters difficult to measure; Virtual sensor creation; De-noising; Sensor fusion; Unconventional preprocessing inherently present in specific fault detection methods like PCA-based methods
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0259—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the response to fault detection
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/20—Pc systems
- G05B2219/24—Pc safety
- G05B2219/24053—Diagnostic of controlled machine
Abstract
Description
図1は、本発明の実施の形態1のシステムの構成を示す図である。実施の形態1の診断支援装置1は、熱間薄板圧延プロセスにおける圧延機10を診断支援の対象とする。図10に示す圧延機10は、加熱炉21、粗圧延機23、仕上圧延機26、巻取り機28、搬送テーブル29を備える。加熱炉21から搬出された被圧延材100は、粗圧延機23により圧延される。粗圧延機23は1又は数台(図1では2台)の圧延スタンド230を有する。各圧延スタンド230のローラは、電動機231により駆動される。粗圧延機23で圧延された後、被圧延材100は搬送テーブル29によって仕上圧延機26へ搬送される。搬送テーブル29のローラは、複数の電動機291により駆動される。仕上圧延機26は5〜7台(図1では7台)の圧延スタンド260を有し、被圧延材100を所望の製品板厚まで圧延する。各圧延スタンド260のローラは、電動機261により駆動される。仕上圧延機26から搬出された被圧延材100は、冷却装置27で冷却された後、巻取り機28によってコイル状に巻き取られる。巻取り機28は、電動機281により駆動される。
図9は、本発明の実施の形態2のシステムの構成を示す図である。実施の形態2では、診断支援装置1は離れた場所に置かれた複数の圧延機10A,10B,10C,10Dとインターネット300を介して接続されている。診断支援装置1はこれらの圧延機10A,10B,10C,10Dを診断支援の対象とする。
本発明を適用可能な製造設備は圧延機だけではない。例えば、本発明は同仕様のマシンニングセンタが複数設置されている工作機械にも適用することができる。その場合、それらマシニングセンタから得られたデータを1つのグループにまとめればよい。
2:データ採取装置
2a:記録装置
3:データ解析装置
4:データ解析範囲設定ユニット
5:データグループ化ユニット
6:特徴量抽出ユニット
7:異事象特定ユニット
8:検定ユニット
9:表示装置
10,10A,10B,10C,10D:圧延機
26:仕上圧延機
260:圧延スタンド
Claims (6)
- 1つの製造設備内に配置される複数の監視対象装置、或いは複数の製造設備に分散して配置される複数の監視対象装置のそれぞれのデータを常時または間欠的に採取し記録するデータ採取装置と、
前記データ採取装置に記録されたデータを解析するデータ解析装置と、
前記データ解析装置の解析過程及び解析結果を表示する表示装置と、
を備える製造設備診断支援装置であって、
前記データ解析装置は、
前記データ採取装置に記録されたデータの解析の範囲をデータ項目と時間とで設定するデータ解析範囲設定手段と、
前記データ解析範囲設定手段により設定された範囲のデータを前記データ採取装置から入力し、各データに対して、当該データが採取された監視対象装置の仕様及び使用条件に基づく分類と、当該データが表す物理量に基づく分類とを行うことによって、前記データ採取装置から入力したデータをグループ分けするデータグループ化手段と、
前記データグループ化手段によりグループに分けられたデータの各項目における特徴量を抽出する特徴量抽出手段と、
前記特徴量抽出手段により抽出された各データ項目の特徴量をグループ内とグループ間のそれぞれにおいて比較し、他とは異なる事象を示すデータ項目がある場合、当該データ項目を異事象候補項目として特定する異事象特定手段と、
前記異事象特定手段で特定された異事象候補項目と他のデータ項目との間に有意な差があるか否かを検定し、有意な差がある場合には、異事象候補項目とされたデータ項目を異事象項目と判定する検定手段と、を備えることを特徴とする製造設備診断支援装置。 - 前記データグループ化手段は、各グループ内のデータ項目数をグループ間で同一とし、各データ項目に対し、グループ内の識別用にグループ内データ番号を付し、グループ間の識別用にグループ番号を付すことを特徴とする請求項1に記載の製造設備診断支援装置。
- 前記特徴量抽出手段は、原データ、及び、原データをフィルタリングして得た信号と原データとの偏差の2つに対して、同一種類の特徴量を計算することを特徴とする請求項1又は2に記載の製造設備診断支援装置。
- 前記異事象特定手段は、
同一グループ内のデータ項目間で特徴量を比較し、特徴量の大きさに関して他のデータ項目とは所定比率以上の差があるデータ項目がある場合、当該データ項目を第1レベルの異事象候補項目として特定し、
監視対象装置において共通するデータ項目が複数のグループにわたって第1レベルの異事象候補項目として特定された場合、当該データ項目を第2レベルの異事象候補項目として特定することを特徴とする請求項1ないし3の何れか1項に記載の製造設備診断支援装置。 - 前記検定手段は、
前記異事象特定手段において第1レベルの異事象候補項目として特定されたデータ項目に関し、当該データ項目の特徴量と、同一グループ内の他のデータ項目の特徴量との間で統計的な検定を行い、両者の間に所定の有意水準で有意な差がないという帰無仮説が棄却された場合、当該データ項目を第1レベルの異事象項目として特定し、
当該データ項目が第2レベルの異事象候補項目でもある場合において、監視対象装置において共通する他のグループのデータ項目も第1レベルの異事象項目に該当する場合、当該データ項目を第2レベルの異事象項目として特定することを特徴とする請求項4に記載の製造設備診断支援装置。 - 前記データ解析装置は、一連のデータ解析の完了後に前記データ解析範囲設定手段によってデータの解析の範囲の時間を変更し、変更された範囲のデータに基づいて一連のデータ解析を再度実行することを特徴とする請求項1ないし5の何れか1項に記載の製造設備診断支援装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2014/063359 WO2015177870A1 (ja) | 2014-05-20 | 2014-05-20 | 製造設備診断支援装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015177870A1 true JPWO2015177870A1 (ja) | 2017-04-20 |
JP6252675B2 JP6252675B2 (ja) | 2017-12-27 |
Family
ID=54553567
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016520848A Active JP6252675B2 (ja) | 2014-05-20 | 2014-05-20 | 製造設備診断支援装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10996662B2 (ja) |
JP (1) | JP6252675B2 (ja) |
KR (1) | KR101906029B1 (ja) |
CN (1) | CN106462150B (ja) |
WO (1) | WO2015177870A1 (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017134772A1 (ja) * | 2016-02-03 | 2017-08-10 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 製造設備診断支援装置及び製造設備診断支援方法 |
JP6416823B2 (ja) * | 2016-05-16 | 2018-10-31 | ファナック株式会社 | 加工セル及び加工セル管理システム |
JP6791261B2 (ja) * | 2016-11-28 | 2020-11-25 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 圧延設備の異常診断の方法及び装置 |
WO2018123049A1 (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 誘導加熱装置の診断装置 |
JP6845703B2 (ja) * | 2017-02-13 | 2021-03-24 | 株式会社神戸製鋼所 | プラント状況情報提示システム及びプラント状況情報提示方法 |
JP6903976B2 (ja) * | 2017-03-22 | 2021-07-14 | オムロン株式会社 | 制御システム |
JP7127304B2 (ja) * | 2018-03-12 | 2022-08-30 | 株式会社リコー | 診断装置、診断方法およびプログラム |
JP6936178B2 (ja) * | 2018-03-23 | 2021-09-15 | ファナック株式会社 | 異常検知装置 |
CN112074789B (zh) * | 2018-05-15 | 2024-02-13 | 住友电气工业株式会社 | 管理装置、管理方法以及记录介质 |
JP6777686B2 (ja) * | 2018-05-29 | 2020-10-28 | ファナック株式会社 | 診断装置、診断方法及び診断プログラム |
JP7031512B2 (ja) | 2018-06-25 | 2022-03-08 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 鉄鋼プラント用監視作業支援システム |
JP7039737B2 (ja) * | 2018-07-05 | 2022-03-22 | 株式会社日立製作所 | 冷凍機性能異常診断のための方法およびシステム |
WO2020044533A1 (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-05 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 製造プロセス監視装置 |
CN113330379A (zh) * | 2019-01-21 | 2021-08-31 | 三菱电机株式会社 | 异常原因推定装置、异常原因推定方法及程序 |
JP7044175B2 (ja) * | 2019-03-26 | 2022-03-30 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 異常判定支援装置 |
EP3796117B1 (de) * | 2019-09-18 | 2021-10-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Diagnoseverfahren und diagnosesystem für eine verfahrenstechnische anlage |
US20210370960A1 (en) * | 2020-01-22 | 2021-12-02 | Clearpath Robotics Inc. | Systems and methods for monitoring an operation of one or more self-driving vehicles |
JPWO2022003871A1 (ja) * | 2020-07-01 | 2022-01-06 | ||
US11586675B1 (en) * | 2021-08-03 | 2023-02-21 | Jmp Statistical Discovery Llc | Interactive graphical user interface for specification rate settings and predictions |
WO2024075220A1 (ja) * | 2022-10-05 | 2024-04-11 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 圧延リスク提示装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11344589A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Hitachi Ltd | プラント診断システム |
JP2011243118A (ja) * | 2010-05-20 | 2011-12-01 | Hitachi Ltd | 監視診断装置および監視診断方法 |
JP2013137797A (ja) * | 2013-03-05 | 2013-07-11 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | プラント運転状態監視方法 |
JP2014015746A (ja) * | 2012-06-13 | 2014-01-30 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | ショベルの管理装置及びショベルの異常検出方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11338535A (ja) * | 1998-05-22 | 1999-12-10 | Mitsubishi Electric Corp | 生産設備保全データ監視システム |
GB0307406D0 (en) * | 2003-03-31 | 2003-05-07 | British Telecomm | Data analysis system and method |
JP4434905B2 (ja) | 2004-09-30 | 2010-03-17 | 株式会社東芝 | プロセス管理装置 |
JP2006338373A (ja) | 2005-06-02 | 2006-12-14 | Toshiba Corp | 多変数時系列データ分析装置、方法およびプログラム |
JP2007148890A (ja) * | 2005-11-29 | 2007-06-14 | Hitachi Ltd | 機器診断装置 |
JP5301310B2 (ja) | 2009-02-17 | 2013-09-25 | 株式会社日立製作所 | 異常検知方法及び異常検知システム |
CN101937207B (zh) * | 2010-08-27 | 2012-09-05 | 上海交通大学 | 机械设备状态的智能可视化监测与诊断方法 |
JP2012137934A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Hitachi Ltd | 異常検知・診断方法、異常検知・診断システム、及び異常検知・診断プログラム並びに企業資産管理・設備資産管理システム |
EP2712391B1 (en) * | 2011-08-19 | 2016-07-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Automated root cause analysis |
US8786425B1 (en) * | 2011-09-09 | 2014-07-22 | Alarm.Com Incorporated | Aberration engine |
US9075713B2 (en) * | 2012-05-24 | 2015-07-07 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Method for detecting anomalies in multivariate time series data |
EP2708963A1 (en) * | 2012-09-12 | 2014-03-19 | Alstom Technology Ltd. | Devices and methods for diagnosis of industrial electronic based products |
JP5538597B2 (ja) | 2013-06-19 | 2014-07-02 | 株式会社日立製作所 | 異常検知方法及び異常検知システム |
-
2014
- 2014-05-20 JP JP2016520848A patent/JP6252675B2/ja active Active
- 2014-05-20 US US15/308,011 patent/US10996662B2/en active Active
- 2014-05-20 CN CN201480079083.6A patent/CN106462150B/zh active Active
- 2014-05-20 KR KR1020167034856A patent/KR101906029B1/ko active IP Right Grant
- 2014-05-20 WO PCT/JP2014/063359 patent/WO2015177870A1/ja active Application Filing
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11344589A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Hitachi Ltd | プラント診断システム |
JP2011243118A (ja) * | 2010-05-20 | 2011-12-01 | Hitachi Ltd | 監視診断装置および監視診断方法 |
JP2014015746A (ja) * | 2012-06-13 | 2014-01-30 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | ショベルの管理装置及びショベルの異常検出方法 |
JP2013137797A (ja) * | 2013-03-05 | 2013-07-11 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | プラント運転状態監視方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101906029B1 (ko) | 2018-10-08 |
WO2015177870A1 (ja) | 2015-11-26 |
CN106462150B (zh) | 2018-11-02 |
JP6252675B2 (ja) | 2017-12-27 |
CN106462150A (zh) | 2017-02-22 |
US10996662B2 (en) | 2021-05-04 |
KR20170007408A (ko) | 2017-01-18 |
US20170083016A1 (en) | 2017-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6252675B2 (ja) | 製造設備診断支援装置 | |
Lieber et al. | Quality prediction in interlinked manufacturing processes based on supervised & unsupervised machine learning | |
US11392114B2 (en) | Abnormality determination support apparatus | |
CN107949813B (zh) | 制造设备诊断辅助装置及制造设备诊断辅助方法 | |
Soylemezoglu et al. | Mahalanobis Taguchi system (MTS) as a prognostics tool for rolling element bearing failures | |
JP6791261B2 (ja) | 圧延設備の異常診断の方法及び装置 | |
JP5342708B1 (ja) | 異常検知方法及びその装置 | |
CN107924183A (zh) | 控制装置、监视系统、控制程序及记录媒体 | |
JP6714498B2 (ja) | 設備診断装置及び設備診断方法 | |
JP5441824B2 (ja) | 金属帯材料の製造条件決定システム | |
US20110106289A1 (en) | Method for monitoring an industrial plant | |
JP5821363B2 (ja) | 製品欠陥要因分析装置 | |
JP6135192B2 (ja) | 時系列データの異常監視装置、異常監視方法及びプログラム | |
CN110914771B (zh) | 品质分析装置及品质分析方法 | |
EP3557346B1 (en) | State identification device, state identification method and mechanical device | |
Haapamäki et al. | Data Mining Methods in Hot Steel Rolling for Scale Defect Prediction. | |
Chu et al. | An effective method for monitoring the vibration data of bearings to diagnose and minimize defects | |
JP6213655B2 (ja) | 時系列データの異常監視装置、異常監視方法及びプログラム | |
KR20230085924A (ko) | 이상 진단 모델의 구축 방법, 이상 진단 방법, 이상 진단 모델의 구축 장치 및 이상 진단 장치 | |
JPWO2020044533A1 (ja) | 製造プロセス監視装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170808 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170925 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20171031 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20171113 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6252675 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |