JPWO2010126118A1 - 分光器 - Google Patents

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Abstract

製造が容易で、小型化が可能であって、特定の波長帯域について高い波長分解能を実現できる分光器を提供するために、入射光を波長に応じて異なる方向に偏向させて分離させる回折格子331と、この回折格子331を経た光が入射されこの光を拡散させる少なくとも一の光学素子332aと、この光学素子332aを経た光を受光するラインセンサ333とを備えることにより、ラインセンサ333に入射される特定の波長帯域の光のみを選択的に拡大して受光するようにした。

Description

本発明は、例えば光計測装置等において所定帯域の光を分光する分光器に関する。
ラマン散乱光、自発光、プラズマ光、蛍光、燐光、放射光など、物理、化学、または、プラズマ反応(以下、これらの反応を単に「反応」という。)に伴い生じる光の諸特性は、これら反応の微細なメカニズムとその時間変化に大きく依存している。そのため、光によってそのような微細なメカニズムについて計測によって情報を得ることにより、反応量の特性やそれらの相関を知ることができる。また、計測により得ることができる反応の微細なメカニズムの情報と、それらの高時間分解能の計測データから求めることのできる時間変動量等の情報とをフィードバックさせて反応を制御することも可能になる。また、反応を発生する装置の改良を行うために有用なデータを得ることも可能となる。このような計測は、例えば、自動車のエンジンやガスタービンにおける燃焼解析など、様々な燃焼装置の制御及び改良において非常に重要である。
前述した反応の微細なメカニズムを計測によって知るためには、まず、局所計測、すなわち、反応の生じる空間のスケールに比して充分に小さい測定体積に対する計測が必要となる。また、時系列計測、すなわち、反応のメカニズムが変化する時間スケールに比して充分に短い測定時間について繰り返して継続的に行う計測も必要となる。
このような計測を実現するものとして、非特許文献1には、反応による自然発光である自発光を計測する光計測装置が記載されている。この光計測装置は、局所点計測用に最適設計された反射光学系を集光光学系として適用し、測定体積を1.6mm×φ0.2mmと小さくし、また、高速処理が可能な受光素子として光電子増倍管を使用して、250kHzの高速のサンプリングレートで計測を行うことにより、反応についての局所的な時系列計測を実現している。また、この文献には、自発光については、OH、CH、C2 の3つの成分からの発光について、各々の対応する波長を測定することによって同時に計測を行うことが記載されている。
そして、本発明者らは、先に、特許文献1に記載されているように、複数の測定点からの光の局所的な時系列計測を効率的に行うことができるようにした光計測装置を提案している。この光計測装置は、反射光学系を用いて、燃焼室内の局所の反応(燃焼)による発光計測を行い、局所的な反応特性の検出を行うものである。
この光計測装置においては、反射光学系の焦点位置に光ファイバの入射端面を配置し、この光ファイバによって導かれた光を分光することにより、この反射光学系の物点にあたる燃焼室内の局所における反応による光の計測を行う。反射光学系は、結像に寄与する面が反射面であるため、色収差の発生がなく、反応による光の良好な計測を実現することができる。
特開2000−111398公報
Proceedings of the Thirty-FifthJapanese Symposium on Combustion, p.54-56(1997)
ところで、前述したような光計測装置において使用されている分光器は、測定点からの全波長帯域の光を均等に分光する。すなわち、反応の微細なメカニズムについての情報を得るためには必要のない波長帯域の光も均等に分光する。したがって、このように分光した光を解析するにあたっては、不要な波長帯域の光を無視し、必要な波長帯域の光のみについて分析を行うという作業が必要となる。そのために、このような反射光学系を用いた光計測装置においては、必要な波長帯域の光についての波長分解能が不十分になるおそれがある。また、全波長帯域の光について十分な波長分解能を確保しようとすると、分光器が大型化してしまう。このように、十分な性能を備えた分光器を製造、または、使用することが比較的困難である。
そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提案されるものであって、小型化が可能で製造が容易であり、必要な波長帯域の光について高い波長分解能が得られる分光器を提供しようとするものである。
前述の課題を解決し、その目的を達成するために、本発明に係る分光器は、以下のいずれか一の構成を有するものである。
〔構成1〕
本発明の構成1を有する分光器は、入射光をその成分に応じて異なる方向に偏向させて分離させる分光素子と、分光素子を経た光が入射され、この光を拡散させる少なくとも一の光学素子と、光学素子を経た光を受光する受光手段とを備え、光学素子に入射される光のうち偏向角が特定の範囲内の光のみを選択的に拡大して受光することを特徴とするものである。
〔構成2〕
本発明の構成2を有する分光器は、構成1を有する分光器において、前記受光手段の受光面において、前記光学素子において拡散された光の各成分が重複しないように構成されていることを特徴とするものである。
〔構成3〕
本発明の構成3を有する分光器は、構成1又は構成2を有する分光器において、分光素子が入射光を波長に応じて異なる方向に偏向させて分離させることを特徴とするものである。
〔構成4〕
本発明の構成4を有する分光器は、構成3を有する分光器において、分光素子が回折格子であることを特徴とするものである。
〔構成5〕
本発明の構成5を有する分光器は、構成4を有する分光器において、回折格子が入射光を平行光に変換するコリメータの屈折面上に形成されていることを特徴とするものである。
〔構成6〕
本発明の構成6を有する分光器は、構成3を有する分光器において、分光素子がプリズムであることを特徴とするものである。
〔構成7〕
本発明の構成7を有する分光器は、構成2乃至構成6のいずれか一を有する分光器において、光学素子に入射される光の波長帯域が、分光法での計測における試料の成分に応じて予め選ばれた少なくとも一の帯域であること特徴とするものである。
〔構成8〕
本発明の構成8を有する分光器は、構成2乃至構成6のいずれか一を有する分光器において、光学素子に入射される光の波長帯域は、波長306.4nm、半値幅10乃至15nmの第1の帯域、波長388nm、半値幅10nm乃至15nmの第2の帯域、波長431.5nm、半値幅1乃至2nmの第3の帯域、波長473.3nm、半値幅1乃至2nmの第4の帯域、波長516.5nm、半値幅1乃至2nmの第5の帯域、波長650nm、半値幅10乃至15nmの第6の帯域、または、波長810nm、半値幅10乃至15nmの第7の帯域のうち少なくとも一の帯域を含むこと特徴とするものである。
〔構成9〕
本発明の構成9を有する分光器は、構成1又は構成2を有する分光器において、分光素子が、入射光を偏光角に応じて異なる方向に偏向させて分離させることを特徴とするものである。
〔構成10〕
本発明の構成10を有する分光器は、構成1又は構成2を有する分光器において、分光素子が、偏向プリズムであることを特徴とするものである。
〔構成11〕
本発明の構成11を有する分光器は、構成1乃至構成10のいずれか一を有する分光器において、受光手段が、ラインセンサであることを特徴とするものである。
〔構成12〕
本発明の構成12を有する分光器は、構成1乃至構成10のいずれか一を有する分光器において、受光手段が、マトリクス状に配置された受光素子を有するイメージセンサであることを特徴とするものである。
〔構成13〕
本発明の構成13を有する分光器は、構成12を有する分光器において、入射光が、複数の位置より、分光素子による光の偏向面に対し平行にかつイメージセンサにおける受光素子の配置面と所定の角度をなす光軸に沿ってそれぞれ入射されることを特徴とするものである。
〔構成14〕
本発明の構成14を有する分光器は、構成1乃至構成10のいずれか一を有する分光器において、受光手段が、前記光学素子を経た光を受光しこの光を所定の感光材料に対し露光するための露光装置であることを特徴とするものである。
〔構成15〕
本発明の構成15を有する分光器は、構成1乃至構成14のいずれか一を有する分光器において、入射光が、複数の位置より入射され、これら入射光のうち、分光素子により分光され、光学素子により選択的に拡大された光の各々を、所定の一の直線上で受光することを特徴とするものである。
〔構成16〕
本発明の構成16を有する分光器は、構成1乃至構成15のいずれか一を有する分光器において、光学素子が、凹レンズ、または、凸面鏡であることを特徴とするものである。
〔構成17〕
本発明の構成17を有する分光器は、構成1乃至構成15のいずれか一を有する分光器において、光学素子が、光の偏光面が分光素子による偏光面と一致するよう配置されたプリズム、または、回折格子であることを特徴とするものである。
〔構成18〕
本発明の構成18を有する分光器は、構成1乃至構成15のいずれか一を有する分光器において、光学素子が、ニコルプリズム、プリズムロッション、または、ウォーラストンプリズムであることを特徴とするものである。
〔構成19〕
本発明の構成19を有する分光器は、構成1乃至構成18のいずれか一を有する分光器において、分光器が、さらに受光素子に向けて参照光を照射するための手段を有することを特徴とするものである。
構成1を有する分光器においては、少なくとも一の光学素子が、分光素子を経た光が入射されこの光を拡散させるため、光学素子に入射される特定の成分の光のみが受光素子により選択的に拡大されて受光されるので、分光素子から受光素子までの距離を長くとらなくても、特定の成分について高い分解能を実現することができる。よって、製造が容易であり、また、小型化が可能でありながら、特定の成分の光について高い波長分解能を実現することができる。
構成2を有する分光器においては、受光手段の受光面において、光学素子において拡散された光の各成分が重複しないので、光の各成分を正確に分析できる。
構成3を有する分光器においては、製造が容易であり、また、小型化が可能でありながら、特定の波長帯域の光について高い波長分解能を実現することができる。
構成4を有する分光器においては、分光素子が回折格子であるので、この回折格子に対する入射光は、波長に応じて、一平面内における異なる方向に偏向されて分離される。
構成5を有する分光器においては、回折格子がコリメータの屈折面上に形成されるので、回折による偏向角をコリメータによる屈折によって増大させることができる。このことは、分光器の小型化及び高波長分解能化に資する。
構成6を有する分光器においては、分光素子がプリズムであるので、このプリズムに対する入射光は、屈折により、波長に応じて、異なる方向に偏向されて分離される。
構成7を有する分光器においては、光学素子に入射される光の波長帯域が、分光法での計測における試料の成分に応じて予め選ばれた少なくとも一の帯域であるので、所望の成分についての計測に用いる帯域の光を選択して高い波長分解能で分光することができる。
構成8を有する分光器においては、光学素子に入射される光の波長帯域が、波長306.4nm、半値幅10乃至15nmの第1の帯域、波長388nm、半値幅10nm乃至15nmの第2の帯域、波長431.5nm、半値幅1乃至2nmの第3の帯域、波長473.3nm、半値幅1乃至2nmの第4の帯域及び波長516.5nm、半値幅1乃至2nmの第5の帯域であるので、例えば、OH、CN、CH、C2 など特定の成分からの光を選択して高い波長分解能で分光することができる。
構成9を有する分光器においては、分光素子が入射光を偏光角に応じて異なる方向に変更させて分離させるため、製造が容易であり、また、小型化が可能でありながら、特定の偏光について高い波長分解能を実現することができる。
構成10を有する分光器においては、分光素子が偏向プリズムであるので、この偏向プリズムに対する入射光においては、その偏光角に応じて、異なる方向に偏向されて分離される。
構成11を有する分光器においては、受光手段がラインセンサであるので、分光素子によって分離された光を効率的に受光することができる。
構成12を有する分光器においては、受光手段がマトリクス状に配置されているので、ラインセンサを複数並べたものと同様の構成である。したがって、分光素子によって分離された光を効率的に受光することができる。
構成13を有する分光器においては、入射光が複数の位置から、分光素子による光の偏向面に対し平行に、かつイメージセンサにおける受光素子の配置面と所定の角度をなす光軸に沿ってそれぞれ入射されるので、複数の位置から入射される光を輻輳させることなく、イメージセンサによって一括に受光させることができる。このことは、分光器のシステム全体の小型化に資する。
構成14を有する分光器においては、光学素子を経た光を露光装置が感光材料に対し露光させるので、分光素子によって分離された光を感光材料上に写真撮影することができる。これにより、分光器の適用可能な光の種類が増え、適用範囲が広がる。
構成15を有する分光器においては、複数の位置から入射された入射光に対し、分光及び選択的な拡大を行った後に、一の直線上で受光するので、複数の入射光うち選択的に拡大された成分を合成することが可能になる。
構成16を有する分光器においては、光学素子は、凹レンズ、または、凸面鏡であるので、分光素子を経てこの光学素子に入射された光は、拡散される。
構成17を有する分光器においては、光学素子は、プリズム、または、回折格子であるので、分光素子を経てこの光学素子に入射された光は、その波長に応じて拡散される。
構成18を有する分光器においては、光学素子は、ニコルプリズム、プリズムロッション、または、ウォーラストンプリズムであるので、分光素子を経てこの光学素子に入射された光は、その偏光角に応じて拡散・分離される。
構成19を有する分光器においては、分光され光学素子を経た光と参照光とを共に受光素子に照射することにより、ホログラフィを行うことができる。これにより位相の情報をえることが可能になる。
本発明の第1の実施形態に係る分光器303を使用した光計測装置300の概略構成を示すブロック図である。 光計測装置300における集光光学系301の構成を示す側面図である。 分光器303の構成を示す側面図である。 反応と光との関係を説明するための模式図である。 本発明の第2の実施形態に係る分光器401を使用した光計測装置400の概略構成を示すブロック図である。 分光器401の構成を示す斜視図である。 分光器401の構成を示す図6のA−A′断面図である。 第2の実施形態の変形例に係る分光器の構成を示す斜視図である。 第2の実施形態の変形例に係る分光器の別の構成を示す側面図である。
以下、本発明を実施するための形態を、図面を参照しながら説明する。
〔第1の実施形態〕
本発明の一実施形態に係る分光器303が適用された光計測装置300について、以下に説明する。
図1は、分光器303を使用した光計測装置300の構成を示すブロック図である。なお、図1においては、測定点の個数をn個(nは2以上の整数)とし、単一の測定点からの光の集光のみを示している。
この光計測装置300は、多点からの光を検出するようにした光学系を用いることにより、例えば、燃焼室内の複数箇所における自発光、蛍光、燐光、または、放射光等の反応による光の計測を、同時に、または、順次的に行う装置である。すなわち、光計測装置300は、例えば、エンジン等の内燃機関の燃焼室内における反応の発生箇所の移動(燃焼面の移動)や、移動中の反応状態の変化や、燃焼室内における化学反応特性の測定などを行うことができる。
本使用例においては、例えば、燃焼等の反応領域F内の測定点Fpからの光は、集光光学系301によって、集光面上の対応する集光点(図示せず)に集光される。なお、測定点Fpは、反応領域Fの挙動によって、反応領域Fの外部に位置することもあり得る。
この使用例における入射光は、燃焼等の反応において、OH、CH、CN、C2 などに起因して自然発光している反応発光、または、煤等の黒体輻射に起因する光であり、反応の反応強度、あるいは、熱発生との相関を有し、反応状態の直接的な指標となるものである。
この光計測装置における集光光学系301としては、充分な位置分解能及び集光効率によって集光が可能(局所計測)なものを用いる必要がある。この集光光学系301は、図2に示すような一体的な光学素子11を用いて構成することができる。
この光学素子11は、いわゆるカセグレン光学系を一体的に形成している。すなわち、第1面1と、第1面1側から見て凹な形状の第2面2とを有しており、第1面の外周部1a及び第2面の中央部2bは透過面を形成しており、第1面の中央部1b及び第2面の外周部2aには、反射面が形成されている。第1面1と第2面2との間は、透光性のある一様な媒質3となっている。この光学素子11は、一体的な光学素子であるため、第1面1及び第2面2間の媒質の温度変動、密度変動、圧力変動による屈折率変化が少なく、各面1,2間には、乱流、ガス種変動が生じたり、塵挨が侵入したりする虞がない。すなわち、この光学素子11は、熱、ラジカル、プラズマ、電磁波、気流及び塵挨の影響による光学特性の劣化が極めて少ないので、温度変化の激しい環境下や、塵挨の多い環境下においても、良好な光学特性を維持することができる。
この光学素子11においては、多点である測定点F1〜Fnからの光は、各面1,2において反射され、第2面2の第2領域2bを通過して、集光面FP上の集光点P1〜Pnにそれぞれ集光・結像される。
なお、図2においては図示していないが、集光光学系301には、光ファイバアレイ302(図1参照)が接続されている。光ファイバアレイ302は、n点の測定点に対応してn本の光ファイバ3201〜320nから構成され、その入射端面は、集光光学系301による集光面上に、各測定点からの集光点P1〜Pnの位置にそれぞれ対応されて配置されている。これによって、集光点に集光された複数の測定点からの光は、光ファイバ3201〜320nによって光計測系に高効率で導光される。
また、これらの測定点F1〜Fnに対応する集光点P1〜Pn及び光ファイバ3201〜320nは、1次元配列、または、マトリクス状の2次元配列、あるいは、3次元配列とすることができ、これによって、より効率的に、反応状態の計測及び観測を行うことができる。
なお、光ファイバアレイ302は、図1に示すように、入射端面及び出射端面以外では、光ファイババンドル302aを形成している。
これらの集光光学系及び光ファイバ等の設定・選択については、計測に必要とされる位置分解能・測定体積や、多点間の間隔等に基づいて好適なものを適宜選択することができる。例えば、集光光学系の作業距離(Working Distance)としては、エンジンや小型バーナを対象とした短距離焦点(150mm以下)から、中距離焦点(150〜600mm)、長距離焦点(600mm以上)まで、様々に設定可能である。
そして、光計測装置300は、それぞれn個の分光器3031〜303n、信号路3091〜309n及び信号増幅装置3041〜304nと、それらからの信号を一括して処理する信号処理装置305と、この信号処理装置305を制御し、かつ、信号処理装置305からのデータを取り込むコンピュータ306と、このコンピュータ306に接続されデータを表示・記録するモニタ307及び記録装置308とからなる光計測系を有している。
n本の光ファイバ3201〜320nの出射端面は、それぞれ分光器3031〜303nの接続部3301〜330nに接続されて、各測定点からの光は、その分光・測定等が行われる分光器3031〜303nに入射される。このように構成することによって、多点からの光を、それぞれに対して別個に配置された分光器3031〜303nを用いて同時に計測することができ、例えば、リアルタイムで2次元の反応状態及びその時間変化を観測することが可能となる。
分光器3031〜303nからそれぞれ出力された1つまたは複数の信号は、それぞれ対応する信号増幅装置3041〜304nに入力され、さらに信号処理回路などからなる信号処理装置305に入力される。信号処理装置305は、コンピュータ306に接続されている。コンピュータ306は、信号処理等について信号処理装置305を制御するとともに、信号処理装置305からのデータを取り込み、解析ソフト等に基づいて、それらのデータの解析、データ及びその解析結果のモニタ307への表示、記録装置308への記録などを行う。
図3に、分光器303の構成を側面図にて示す。この分光器303においては、光ファイバ320によって導光された光のうち、観測したい物質からの光の成分を選択して測定を行うこと、及び、時系列計測を効率的に行うために高速での計測が可能な測定系とすることが必要とされる。
図3に示す分光器303においては、炭化水素燃焼反応において特に重要な中間生成物であるOH、CH、CN及びC2 からの光の成分を測定するように装置が構成されていることが望ましい。また、C2 に関しては、2成分について(以下C2 (1)及びC2 (2)と表記する)測定を行う。OH発光は燃焼反応及び高温ガスに対応して観測され、CH/C2 発光は燃焼反応領域(反応帯)と高い相関があり、さらに、C2 発光は反応及び煤生成と強い関係がある。
したがって、これらラジカルによる光を計測することによって、燃焼反応に関する重要な情報を得ることができる。また、同一ラジカル(例えば、C2 )についての2波長成分以上の同時測定を行うことによって、温度に関する情報等を得ることができる。
分光器303は、光ファイバの出射端面334から出射され、出射端面334に形成された図示しないコリメータにより平行光となった光のうち、総数kの波長帯域の光について、特に高い波長分解能によって分光するものである。前述の光の成分を測定するよう構成する場合には、波長帯域の数kは5以上となる。この場合、これらの波長帯域のうちの5つは、それぞれ、OH、CH、CN、C2 (1)及びC2 (2)による光に対応する。
分光器303は、入射光を波長に応じて異なる方向に偏向させて分離させる分光素子となる回折格子331を有して構成される。この回折格子331は、入射光の波長成分に応じて、この入射光を一平面内の異なる方向に偏向させて分離させる。この回折格子331を経た光は、この光を拡散させる光学素子332a1,・・・332akに入射される。以下では、これらの光学素子を「拡散光学素子」と呼ぶ。これら拡散光学素子332a1,・・・332akは、一体的な平板状の光学材料332に形成された複数の凹部として構成されており、それぞれが凹シリンドリカルレンズとなっている。そして、平板状の光学材料332の入射面側において、これら拡散光学素子332a以外の領域には、遮光膜332bが形成されている。光学材料332では、所望の光の成分(所望の波長帯域)のみが複数選択され、選択された光の成分の間の成分が除去される。光学材料332は、所望の光の成分の選択(抽出)と不要な光の成分の除去とを行う1つの部材である。なお、拡散光学素子332aは、凸面鏡(凸シリンドリカル面鏡)としてもよい。
この分光器303においては、各拡散光学素子332aに入射される光は、OH、CH、CN、C2 (1)及びC2 (2)による光に対応して、波長306.4nm、半値幅10乃至15nmの第1の帯域、波長388.0nm、半値幅10乃至15nmの第2の帯域、波長431.5nm、半値幅1乃至2nmの第3の帯域、波長473.3nm、半値幅1乃至2nmの第4の帯域及び波長516.5nm、半値幅1乃至2nmの第5の帯域、波長650nm、半値幅10乃至15nmの第6の帯域、または、波長810nm、半値幅10乃至15nmの第7の帯域のうち少なくとも一の帯域を含む光とすることが望ましい。
各拡散光学素子332a1,・・・332akに入射された各波長帯域の光は、それぞれ拡散されて、受光手段となるラインセンサ(ラインイメージセンサ)333によって受光される。この受光手段としては、高感度・高速の位置検出型光計測装置として、高速動作可能なCCDなどのイメージセンサや、それを用いたもの、例えば、イメージインテンシファイアなどのイメージ管にCCDを接続したものや、蛍光面に電子打ち込み型CCDが用いられているイメージ管、または、位置検出が可能な受光素子、例えば、マルチアノード型光電子増倍管なども用いることができる。受光手段としては、特に、高速の光計測が可能な、光電子増倍管の如き受光素子を用いることによって、高速での時系列計測が可能となる。この場合には、測定のサンプリングレートも、例えば、100kHz〜数百MHz程度に設定することができる。
このようにして、この分光器においては、各拡散光学素子332a1,・・・332akに入射される特定の波長帯域の光のみが選択的に拡大されて受光され、すなわち、OHからの光に対応する波長光の成分、CHからの光に対応する波長光の成分、CNからの光に対応する波長光の成分、C2 (1)からの光に対応する波長光の成分及びC2 (2)からの光に対応する波長光の成分が拡大されて受光され、高い波長分解能による分光を行うことができる。
以上に示したように、本発明に係る分光器303を適用することによって、特定の波長帯域の光について高い波長分解能での局所計測が可能となり、高速・高時間分解能での時系列計測が可能となる。これらを用いて、例えば、図1に示したように、光計測装置300を構成することによって、多点についての光の局所・時系列計測が実現され、これによって、プラズマ、蛍光、燃焼等の反応の微細なメカニズムについての情報を得ることが可能となる。
このような光計測装置300を様々な燃焼装置等における反応の解析に用いることによって、多くの重要な情報を得ることができる。例えば、自動車のエンジンにおいては、反応は、図4に示すように、その幅WFが0.1mmオーダの反応帯Fを形成して、移動速度VFで移動・伝播する。このとき、測定点FPにおいて光を測定すると、反応帯Fの通過に対応した光の強度の立ち上がり(ピーク)が観測される。このピークの時間tから通過時刻、ピーク幅Δtから通過に要した時間、またピーク強度hから反応の強度についての情報をそれぞれ得ることができる。
ただし、前述したような光計測を行っても、単一の測定点についての測定によっては、幅WF及び移動速度VFを求めることはできず、多点計測を行って、各測定点での光変化の相関をみることによって、はじめてそれらの反応状態及びその時間変化についての直接的な情報を得ることが可能となる。さらに、例えば、多点をマトリクス状の2次元構成、または、3次元構成とすることによって、反応の移動方向など多くの情報を効率的に得ることができる。また、高分解タイプの測定を行うことによって、反応帯内部の反応強度分布など、さらに微細なメカニズムを解明することができる。その他にも、各化学種からの光の変化・相関等から、局所的な空燃比(A/F)、乱流の構造とそれに関する局所ダムケラー数等、多くの情報を得ることができる。
なお、このような計測の適用対象は自動車のエンジンに限らず、船舶、発電、航空機などに使用されるレシプロ、ロータリ、ディーゼル等の方式のエンジン、水素エンジン、航空機や火力発電に使用されるガスタービン、ラム、スクラムジェットエンジンなどの内燃機関に対しても適用可能である。また、スターリングエンジン等の外燃機関において熱源が反応を行うものであればその熱源にも適用できる。さらには、燃焼器、オイルバーナを用いた噴霧燃焼方式の火炉やボイラ、ごみ焼却炉や溶鉱炉、オーブン、陶磁器・ガラス製造用の窯などの炉、給湯器など、様々な燃焼装置にも適用できる。また、除菌・滅菌装置、半導体製造におけるプロセスプラズマ行程に使用される装置など、プラズマ反応等を利用した装置にも適用可能である。
また、光計測以外の従来の反応状態の計測法を併用することによって、さらに多くの情報を得ることが可能になる。特に、前述した光計測装置における集光光学系は、通常のレンズ系と比較して非常に高い集光率を有しているので、反応についてのレーザ計測の集光系としても適用することも可能である。
例えば、前述した光計測装置における測定体積は、レーザ・ドップラー流速計(Laser Doppler Anemometry:LDA)やフェイズ・ドップラー流速計(Phase Doppler Anemometry:PDA)と同程度またはそれ以下であり、それらの計測と光計測の同時計測を行うことにより、局所的なガス流速速度と反応の移動速度から、局所燃焼速度を見積もることができる。また、LDVやPDAの測定体積は、一般に光軸方向に数百nm〜数十mm程度の長さを持つので、光計測装置を高分解タイプの設定として同時計測を行うことによって、LDAやPDAの測定体積内の流速測定値の分布などを計測することが可能になる。また、レーザ誘起蛍光法(Laser Induced Fluorescence Method:LIF)による測定を併用することによって、反応のメカニズムについての知見を得ることが可能となる。
本実施形態に係る分光器は、反応状態の計測に限らず、品質検査、成分分析等に使用される分光測定、光での情報伝送等における分光処理に対しても適用可能である。
なお、前述の実施形態においては、各拡散光学素子に入射される光として、OH、CH、CN、C2 (1)及びC2 (2)による光に対応して選ばれた帯域の光を例示した。しかし、各拡散光学素子に入射される光の帯域は、このようなものには限定されない。分光法での計測において計測の対象となる試料の放射光若しくは反射光若しくはラマン散乱光、または、試料に含まれる原子、分子、イオン、ラジカル等の成分の発光若しくは吸収光に対応する波長帯域から所望の波長帯域を所望の数だけ選択し、分光された光のうち選択した波長帯域の成分が拡散光学素子に入射させるようにすればよい。
〔第2の実施形態〕
第1の実施形態では、分光器303は、単一の光ファイバから出射される光を処理する構成のものであった。しかし、本発明はこのようなものは限定されない。以下に、本発明の第2の実施形態を説明する。
図5に、本実施形態に係る分光器401を使用した光計測装置400の構成をブロック図で示す。この光計測装置400は、図5に示すように、第1の実施形態のものとそれぞれ同一の信号処理装置305と、コンピュータ306と、モニタ307と、記録装置308とを有する。光計測装置400はさらに、それぞれ図1に示す第1の実施形態の集光光学系301、光ファイバアレイ302、光ファイバ32011,・・・3201n及び接続部33011,・・・3301nからなる光学系と同様の光学系をm(m≧1)系統有する。以下、これらm系統の光学系を構成する集光光学系、光ファイバアレイ、光ファイバ及び接続部を、それぞれ集光光学系3011,・・・301m、光ファイバアレイ3021,・・・302m、光ファイバ32011,・・・320mn及び接続部33011,・・・330mnという。光計測装置400はさらに、図1に示す分光器303、信号路309及び信号増幅装置3041,・・・304nにそれぞれ代えて、分光器401、信号路409及び信号増幅装置440を有する。
分光器401は、後述のとおり複数の光ファイバから出射される光を並列に同時処理する機能を備える。信号路409及び信号増幅装置440は、それぞれ同時処理で生成される信号を一括して伝送・増幅する機能を備える。
図6に、分光器401の内部構成を斜視図にて示す。図7に、分光器401の図6に示すA−A´断面図を示す。図6に示すように、分光器401には、光ファイバ32011,・・・320mn出射端面が接続部33011,・・・330mnを介してZ方向に一列に接続される。この分光器401は、光ファイバ32011,・・・320mnの出射端面43411,・・・434mnに対向する位置にそれぞれ凸部431a11,・・・431mnの形成された分光素子431と、分光素子431に対向する側の面に、溝状の拡散光学素子432a1,・・・432ak及び遮光膜432bが形成された平板状の光学素子432と、イメージセンサ433とを有する。分光素子431、平板状の光学素子432及びイメージセンサ433は、光ファイバ320の側からX方向にこの順で配設される。イメージセンサ433は、CCD、CMOS、光電子増倍管等の受光素子がY−Z面上にマトリクス状に配置されたものである。
分光素子431は、図7に示すように、凸部431aが形成されている面431c及びその反対側の面431dには、回折格子が形成されており、それらの面の間は、透光性のある一様な媒質431bとなっている。凸部431aは、光ファイバ320からのX軸方向に入射される光の各々のコリメータとして機能する。回折格子の形成されている面431c及び431dは、それら入射光を波長に応じてX−Y平面内の異なる方向に偏向させて分離させる。すなわち、入射光は、波長に応じて431c及び431dにより2度に亘って偏向されることになり、偏向角がさらに大きくなる。このことは、分光器401の小型化及び波長選択性の向上に資する。なお、媒質431bに高屈折率の媒質を選択しておけば、光の波長の違いによる偏向角が増大する。このこともまた、分光器401の小型化及び波長選択性の向上に資する。
平板状の光学素子432の拡散光学素子432a1,・・・432akは、分光素子431を経た光を拡散させる。この拡散光学素子432a1,・・・432akの幅、深さ及びY軸方向での位置は、図6に示すように、測定目標となる光の成分の波長とZ軸方向での位置に応じて任意に選択される。拡散光学素子432a1,・・・432akは、Z方向に途中で途切れていてもよい。また、拡散光学素子432a1,・・・432ak同士が交差していてもよい。
以上の説明からも明らかなように、本実施形態に係る分光器401は、分光素子431がコリメータを兼ねることを除けば、第1の実施形態に係る分光器303をZ方向に多数並べたものと同様の作用を奏する。
以下、本実施形態に係る分光器401の動作を、光ファイバ320から出射された光の光路に沿って説明する。図7を参照して、光ファイバ320mnの出射端面434mnから分光器401に光が入射されると、その光は、分光素子431の凸部431amnに到達する。到達した光は、凸部431amnにより屈折して平行光に変換されるとともに、回折格子の形成された一方の面431cにより波長に応じて異なる方向に偏向されて分離される。偏向され分離された光は、媒質431b中を透過し、回折格子の形成された他方の面431dで波長に応じてさらに偏向されて分離されて、平板状の光学素子432に向けて出射される。
分光素子431から出射された光のうち、拡散光学素子432aに到達した光の成分は、拡散光学素子432aにより拡散されてイメージセンサ433に向けて出射される。
平板状の光学素子432から出射された光は、イメージセンサ433に到達する。この光は、到達した位置に配置されている光学素子により受光され、逐次的に電気信号に変換される。変換された電気信号は、光学素子の位置ごとに順次信号路409を介して図5に示す信号増幅装置440に入力される。信号増幅装置440は、入力された電気信号を増幅して信号処理装置305へ出力する。したがって、信号処理装置305に入力される信号は、光を受光した受光素子の位置すなわちイメージセンサ433に到達した光のY及びZ方向での到達位置、並びにその位置に到達した光の強度、並びにその光の到達時刻を表す情報を含むものとなる。
イメージセンサ433に到達する光のZ方向での位置は、その光を出射させた光ファイバによって定まる。イメージセンサ433に到達する光のY方向での位置は、到達した光の波長及びその成分の光のZ方向での位置における拡散光学素子432aの形状によって定まる。拡散光学素子432aの深さ、幅、曲率及びY方向での位置は、Z方向の位置により予め定められる。すなわち、光ファイバの接続順序と拡散光学素子432aの形状とを適切に選択することにより、各光ファイバから出射される光の任意の帯域成分を、所望の分解能で、イメージセンサ433上の所望の受光素子で受光させることが可能になる。
このようにして、この分光器401においては、各拡散光学素子432a1,・・・432akに入射される特定の波長帯域の光のみが選択的に拡大されて受光され、高い波長分解能による分光を行うことができる。さらに選択的に拡大して受光する帯域を、光ファイバごとに選択することができる。
なお、本実施形態では、イメージセンサ433の代りに写真機により受光を行うようにしてもよい。具体的には、写真フィルム、乾板、印画紙等をイメージセンサ433の位置に感光材料の塗布された面を拡散光学素子に向けて配置すればよい。さらに、露光時間を調整するためのシャッタを備えていればなお好ましい。シャッタは、感光材料の塗布面付近に配置されたものであってもよく、光学素子、回折格子、または、コリメータの前段に配置されたものであってもよい。シャッタは、機械式、電子式の別を問わない。
〔変形例等〕
前述の第2の実施形態においては、各光ファイバから分光器401に入射された光は、図6のZ方向には偏向せず、X−Y面内において偏向した。しかし、本発明は、このようなものには限定されない。例えば図8に示すように、光ファイバ320ijから出射された光の光路上にウェッジプリズム540を配置して、この光をZ方向に偏向するようにしてもよい。図8に示す例では、この分光素子531は、第2の実施形態に係る分光素子431と同様に光の入射側及び出射側の面に回折格子が形成されている。ただし、分光素子531の凸部は、分光素子431のものと異なり、光ファイバ320ij及び320ij+1側に、X−Y面上において光を平行に変換させるようZ方向に一様な凸部が形成されている。
また、この例では、各光ファイバ320ij及び320ij+1の出射端面534ij及び534ij+1にはそれぞれ、これらの光ファイバから出射される光がX−Z面上において平行光になるよう光路を変換するコリメータ(図示せず)が設置されており、これにより各光ファイバ320ij及び320ij+1から出射される光は、X−Z面上において互いに他と平行に進行する。これらの光のうち、320ij+1から出射された光は、X−Z面上において直進しつつ、分光素子531に入射する。
320ij+1から出射された光が分光素子531に入射すると、この光は、分光素子531によりX−Y面上においてコリメートされるとともに波長ごとに偏向され、平板状の光学素子432により所望の帯域成分が選択的に拡散されてイメージセンサ433に到達する。これに対し、光ファイバ320ijから出射された光は、ウェッジプリズム540により、Z方向に偏向される。偏向されたこの光は、分光素子531及び平板状の光学素子432を経て、イメージセンサ433に到達する。その結果、両者の光のうち所望の波長帯域の成分は、イメージセンサ433上においてZ方向の同一位置に配列された一連の受光素子により受光される。これらの受光素子の各々により受光される光は、光ファイバ320ij及び320ij+1の両者から出射された光のうち、その受光素子のY方向での位置と対応関係にある光が重畳したものとなる。
このように、第2の実施形態に係る分光器において、光をZ方向に偏向させることにより、複数の光ファイバから出射された光を一つの受光素子に重畳させて受光させることが可能になる。これにより、例えば次のような処理を光学的に実行することができる。
すなわち、平板状の光学素子432とイメージセンサ433との間にウェッジプリズム540を配置することにより、2本の光ファイバから出射された光のうち特定の波長帯域の成分のみを重畳させることができる。この際に、光ファイバから光を互いに他と同位相としておくと、その光を受光した受光素子は、それらの光の強度の和に対応した信号を出力することになる。光ファイバからの光を互いに他と逆位相にしておくと、該受光素子は、それらの光の強度の差の絶対値に対応した信号を出力することになる。これら偏向による強度の加算と減算とを組合せることにより、光の強度に関する演算のうちいくつかを光学的に行うことが可能になる。このような光学的な演算は、複数の光ファイバから出射された光同士で行うばかりでなく、一つの光ファイバで出射された光のうち選ばれた所定成分同士で行ってもよい。例えば、ある物質のプラズマ発光、自発光、または吸収に起因する光は、離散的に複数の波長においてピークを持つ波長特性を有することがある。このような光のピークの帯域成分同士を重畳するようにしてもよい。この重畳された光は、入射された光に対応する物質を代表するものとなる。
なお、この変形例においては、複数の光ファイバから出射される光を重畳する場合においては、それらの光を出射させる光ファイバ同士は、必ずしもZ方向に並べて配置される必要はない。Y方向に並べて配置するようにしてもよい。また、この変形例においては、ウェッジプリズムによるZ方向の偏向の際に生じる色収差を補正するための回折格子等をウェッジプリズム上に形成するようにしてもよい。また、ウェッジプリズムを平板状の光学素子432上に形成するようにしてもよい。
前述の各実施形態においては、平板状の光学素子上には、不要な波長帯域の光の成分が到達する部分に遮光膜を形成していたが、この部分に凸レンズを形成するようにしてもよい。このようにしておくと、必要な帯域の光の成分を多数の受光素子で受光することと、必要性の低い帯域の光の成分を少数の受光素子で受光するようにして光ファイバから出射された光全体を一つのイメージセンサにより受光することとを両立させることが可能になる。
不要な波長帯域の光の成分のイメージセンサへの到達を抑止するために、干渉フィルタ、偏光フィルタ等のフィルタを用いてもよい。このようなフィルタは、光学素子上に配置されてもよい。
前述の各実施形態においては、分光素子として回折格子を例示した。しかし、本発明はこのような実施形態には限定されない。分光素子として、プリズムを用いてもよいし、プリズムと回折格子との組合せからなる光学素子を用いてもよい。また、反射(一部反射)と透過との組合せによって分光を行うものであってもよい。また、例えばローランド円分光器等のように、反射と回折との組合せによって分光を行うものであってもよい。また、例えばフィルタ及び/又はダイクロイックミラーの組合せによって分光素子を形成するようにしてもよい。ただしこの場合、フィルタ、または、ダイクロイックミラーにより選択された光は、その選択を行った素子に応じて別の角度に偏向されることが必要である。
前述の各実施形態においては、拡散光学素子として凹レンズと凸面鏡とを例示したが、本発明は、このようなものには限定されない。例えば拡散光学素子としてプリズム、回折格子等を用いてもよい。拡散光学素子による光の偏光面が分光素子による偏光面と一致するよう配置されると、拡散光学素子は、分光素子による各波長成分の偏向角を増大または減少させて拡散を行うこととなる。その結果、凹レンズ、または、凸面鏡を拡散光学素子に用いた場合と同様、所望の波長帯域成分を拡大して受光することが可能になる。また例えば、ニコルプリズム、プリズムロッション、ウォーラストンプリズム等を用いてもよい。この場合、分光素子により偏向された各波長成分は、その偏光に応じて拡散・分離される。
また、分光素子は、入射光を波長に応じて異なる方向に偏向させて分離させるものには限定されない。例えばニコルプリズム等の偏光プリズムを分光素子として用いることにより、入射光を偏光に応じて異なる方向に偏向させて分離させ、さらに拡散光学素子によって所望の偏光成分のみを拡大して受光するようにすることができる。ニコルプリズムに代えてプリズムロッション、ウォーラストンプリズム等を用いれば、紫外線帯域において偏光による分光とその偏光成分の選択的な拡大とを行うことも可能である。
さらに、この分光器にホログラフィ装置の参照光を導入し、イメージセンサに向けて照射するようにしてもよい。この参照光は、分光素子及び拡散光学素子を介してイメージセンサに照射されるようにしてもよく、また、イメージセンサの所望の位置に向けて直接に導入するようにしてもよい。これにより、位相の情報を得ることも可能になる。
また、上記実施形態では、各拡散分光素子において拡散された光の成分が受光手段(イメージセンサ等)の受光面において重複しないように、分光器が構成されている。その場合に、各拡散分光素子の直径を調節することにより、受光手段の受光面において各光の成分が重複しないようにしてもよいし、各拡散分光素子が形成された光学材料と受光手段との距離を調節することにより、受光手段の受光面において各光の成分が重複しないようにしてもよい。また、受光手段の受光面において、隣接する2つの光の成分の間に隙間を形成してもよいし(図9)、隣接する2つの光の成分の端を一致させてもよい。この構成は、実施形態2だけでなく、実施形態1にも適用可能である。
また、上記実施形態では、ラジカルの波長に対応する光の成分を選択できるように、分光器が構成されていたが、重金属(鉛、水銀、カドミウム、六価クロム等)の波長に対応する光の成分を選択できるように、分光器が構成されていてもよい。
また、上記実施形態において、拡散分光素子において光を拡散させる角度を光の成分に応じて異ならせてもよい。具体的に、空間分解能を高めたい光の成分(詳細に分析したい光の成分)は、拡散分光素子において拡散させる角度を他の光の成分に比べて広くする。その結果、受光手段では、空間分解能を高めたい光の成分の受光面積が相対的に広くなり、イメージセンサの場合はピッチ数が多くなる。一方、空間分解能を高める必要がない光の成分は、拡散分光素子において拡散させる角度を他の光の成分に比べて狭くする。その結果、受光手段では、空間分解能を高める必要がない光の成分の受光面積が相対的に狭くなり、イメージセンサの場合はピッチ数が少なくなる。このように、希望する空間分解能に応じて、拡散分光素子において光を拡散させる角度を異ならせることで、受光手段の受光面を有効活用することができる。
また、上記実施形態において、光ファイバーの光の出射面と分光素子との間に、様々な光学素子を設けることが可能である。例えば、必要のない成分を予め除外するための光学素子(例えば、ダイクロイックミラー、広帯域波長選択フィルター)や、光の入射角度に応じて選択波長を調節できる光学素子などを設けることが可能である。
なお、今回開示した実施形態は単なる例示であって、本発明の範囲が前述の各実施形態のみに制限されるわけではない。本発明の範囲は、明細書及び図面の記載を参酌した上で、特許請求の範囲の各請求項によって示され、そこに記載された文言と均等の意味及び範囲内でのすべての変更を含むものである。
本発明は、例えば光計測装置等において所定帯域の光を分光する分光器に適用される。
331 回折格子
332a 拡散光学素子
333 ラインセンサ
431 分光素子
432a 拡散光学素子
433 イメージセンサ
531 分光素子
540 ウェッジプリズム

Claims (19)

  1. 入射光をその成分に応じて異なる方向に偏向させて分離させる分光素子と、
    前記分光素子を経た光が入射され、この光を拡散させる少なくとも一の光学素子と、
    前記光学素子を経た光を受光する受光手段と
    を備え、
    前記光学素子に入射される光のうち偏向角が特定の範囲内の光のみを選択的に拡大して受光する
    ことを特徴とする分光器。
  2. 前記受光手段の受光面において、前記光学素子において拡散された光の各成分が重複しないように構成されている
    ことを特徴とする請求項1記載の分光器。
  3. 前記分光素子は、前記入射光を波長に応じて異なる方向に偏向させて分離させる
    ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の分光器。
  4. 前記分光素子は、回折格子である
    ことを特徴とする請求項3記載の分光器。
  5. 前記回折格子は、入射光を平行光に変換するコリメータの屈折面上に形成されている
    ことを特徴とする請求項4記載の分光器。
  6. 前記分光素子は、プリズムである
    ことを特徴とする請求項3記載の分光器。
  7. 前記光学素子に入射される光の波長帯域は、分光法での計測における試料の成分に応じて予め選ばれた少なくとも一の帯域である
    こと特徴とする請求項2乃至請求項6のいずれか一に記載の分光器。
  8. 前記光学素子に入射される光の波長帯域は、波長306.4nm、半値幅10乃至15nmの第1の帯域、波長388nm、半値幅10nm乃至15nmの第2の帯域、波長431.5nm、半値幅1乃至2nmの第3の帯域、波長473.3nm、半値幅1乃至2nmの第4の帯域、波長516.5nm、半値幅1乃至2nmの第5の帯域、波長650nm、半値幅10乃至15nmの第6の帯域、または、波長810nm、半値幅10乃至15nmの第7の帯域のうち少なくとも一の帯域を含む
    こと特徴とする請求項2乃至請求項6のいずれか一に記載の分光器。
  9. 前記分光素子は、前記入射光を偏光角に応じて異なる方向に偏向させて分離させる
    ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の分光器。
  10. 前記分光素子は、偏向プリズムである
    ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の分光器。
  11. 前記受光手段は、ラインセンサである
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれか一に記載の分光器。
  12. 前記受光手段は、マトリクス状に配置された受光素子を有するイメージセンサである
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれか一に記載の分光器。
  13. 前記入射光は、複数の位置より、前記分光素子による光の偏向面に対し平行にかつ前記イメージセンサにおける受光素子の配置面と所定の角度をなす光軸に沿ってそれぞれ入射される
    ことを特徴とする請求項12記載の分光器。
  14. 前記受光手段は、前記光学素子を経た光を受光しこの光を所定の感光材料に対し露光させるための露光装置である
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれか一に記載の分光器。
  15. 前記入射光は、複数の位置より入射され、
    該入射光のうち、前記分光素子により分光され、前記光学素子により選択的に拡大された光の各々を、所定の一の直線上で受光する
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項14のいずれか一に記載の分光装置。
  16. 前記光学素子は、凹レンズ、または、凸面鏡である
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項15のいずれか一に記載の分光器。
  17. 前記光学素子は、光の偏光面が前記分光素子による偏光面と一致するよう配置されたプリズム、または、回折格子である
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項15のいずれか一に記載の分光器。
  18. 前記光学素子は、ニコルプリズム、プリズムロッション、または、ウォーラストンプリズムである
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項15のいずれか一に記載の分光器。
  19. 前記受光素子に向けて参照光を照射するための手段を有する
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項18のいずれか一に記載の分光器。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5240085B2 (ja) * 2009-06-17 2013-07-17 住友電気工業株式会社 対象識別装置
US9395251B2 (en) * 2009-09-30 2016-07-19 Imagineering, Inc. Temperature sensitive body, optical temperature sensor, temperature measurement device, and heat flux measurement
JP5963087B2 (ja) * 2012-12-19 2016-08-03 イマジニアリング株式会社 計測器具、計測システム、及び計測方法
AT520087B1 (de) * 2017-04-19 2019-01-15 Univ Wien Tech Verfahren zur kontaktlosen Bestimmung von Strömungsparametern
KR102498122B1 (ko) 2017-11-21 2023-02-09 삼성전자주식회사 분광 장치와, 분광 방법, 및 생체신호 측정장치
DE112019004373T5 (de) * 2018-08-28 2021-05-20 Sony Corporation Spektroskopische bildgebungsvorrichtung und fluoreszenzbeobachtungsvorrichtung
CN113916733A (zh) * 2020-07-09 2022-01-11 北京智感度衡科技有限公司 一种传感器和颗粒物检测装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3252674A (en) * 1958-09-04 1966-05-24 Agatha C Magnus Means and techniques using mosaics for transmission and other purposes
US4019811A (en) * 1973-01-08 1977-04-26 Rapifax Corporation Optical scanner
JPS53120543A (en) * 1977-03-30 1978-10-21 Hitachi Ltd Spectroscope
JPS57169635A (en) * 1981-04-13 1982-10-19 Omron Tateisi Electronics Co Spectroscopic analysis device
SU1226077A1 (ru) * 1984-07-03 1986-04-23 Астрономический Совет Ан Ссср Афокальный бесщелевой спектрограф
JPS62155330U (ja) * 1986-03-26 1987-10-02
JPH0323326U (ja) * 1989-07-19 1991-03-11
RU1781859C (ru) 1990-01-18 1992-12-15 Центральное Конструкторское Бюро Технологии И Оборудования С Заводом Устройство дл контрол по электропараметрам плоских радиодеталей
RU1781659C (ru) * 1990-10-22 1992-12-15 Ленинградское оптико-механическое объединение им.В.И.Ленина Решетка-пол ризатор
US5446534A (en) * 1993-03-05 1995-08-29 Optical Solutions, Inc. Broad band waveguide spectrometer
FR2719114B1 (fr) * 1994-04-25 1996-07-19 Dilor Dispositif d'analyse spectrale à imagerie globale .
JPH11142240A (ja) * 1997-11-11 1999-05-28 Jasco Corp 分光装置
JP2000111398A (ja) 1998-09-30 2000-04-18 Hamamatsu Photonics Kk 火炎自発光計測装置
JP3393377B2 (ja) * 2000-02-29 2003-04-07 独立行政法人産業技術総合研究所 スペクトル2次元拡大光学装置
JP4264480B2 (ja) * 2005-04-08 2009-05-20 イマジニアリング株式会社 熱機関、または、プラズマ装置に用いる点火、または、放電プラグ、及び、光計測装置
US7397561B2 (en) * 2005-11-07 2008-07-08 Wafermasters, Incorporated Spectroscopy system

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