JPWO2009113128A1 - 複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 - Google Patents
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Abstract
Description
2 第1のマッハツェンダー干渉計
3 第2のマッハツェンダー干渉計
5 分波部
6 第1のアーム
7 第2のアーム
8 合波部
Claims (15)
- マッハツェンダー干渉計(MZ干渉計)を含む,光変調器の特性を評価する方法であって,
前記MZ干渉計は,分波部と,2つのアームと,合波部と,電極とを含み,
前記2つのアームは,前記分波部と接続され,
前記合波部は,前記2つのアームと接続され,
前記電極は,前記2つのアームにバイアス電圧を印加でき,
前記電極は,前記2つのアームに変調信号を印加でき,
駆動信号を印加する工程と,バイアス電圧を掃引する工程と,出力強度を測定する工程と,特性を評価する工程とを含み,
前記駆動信号を印加する工程は,前記MZ干渉計に駆動信号を印加する工程であり;
前記バイアス電圧を掃引する工程は,前記MZ干渉計に印加されるバイアス電圧を掃引する工程であり;
前記出力強度を測定する工程は,前記バイアス電圧を掃引する工程でバイアス電圧を掃引しつつ,前記MZ干渉計からの出力強度を測定する工程であり;
前記特性を評価する工程は,前記出力強度を測定する工程で測定されたMZ干渉計からの出力のうち0次成分以外の成分の強度を用いて,前記MZ干渉計の特性を評価する工程である,
方法。 - 前記MZ干渉計を,第1のMZ干渉計とすると,
前記光変調器は,
さらに,第2のMZ干渉計を含み,
前記第2のMZ干渉計は,前記第1のMZ干渉計とは別のMZ干渉計である,
請求項1に記載の方法。 - 前記MZ干渉計の特性が,
前記2つのアーム間の光振幅のアンバランスに関する特性を含む,
請求項1に記載の方法。 - 前記MZ干渉計の特性が,
チャープパラメータに関する特性と,
変調指数に関する特性と,
を含む,
請求項1に記載の方法。 - 前記特性を評価する工程は,
前記出力強度を測定する工程で測定されたMZ干渉計からの出力のうち1次成分〜4次成分までのサイドバンド強度を求め,
求めた1次成分〜4次成分までのサイドバンド強度に基づいて,
MZ干渉計の特性を評価する工程である,
請求項1に記載の方法。 - マッハツェンダー干渉計(MZ干渉計)を含む,光変調器の特性を評価する方法であって,
前記MZ干渉計は,分波部と,2つのアームと,合波部と,電極とを含み,
前記2つのアームは,前記分波部と接続され,
前記合波部は,前記2つのアームと接続され,
前記電極は,前記2つのアームにバイアス電圧を印加でき,
前記電極は,前記2つのアームに変調信号を印加でき,
駆動信号を印加する工程と,バイアス電圧を調整する工程と,出力強度を測定する工程と,特性を評価する工程とを含み,
前記駆動信号を印加する工程は,前記MZ干渉計に駆動信号を印加する工程であり;
前記バイアス電圧を調整する工程は,前記MZ干渉計の2つのアームに印加するバイアス電圧の位相差をπとする工程か,又は前記MZ干渉計の2つのアームに印加するバイアス電圧の位相差を0とする工程であり;
前記出力強度を測定する工程は,前記バイアス電圧を調整する工程によりバイアス電圧が調整されたMZ計測系からの出力強度を測定する工程であり;
前記特性を評価する工程は,前記出力強度を測定する工程で測定されたMZ干渉計からの出力のうち2次成分のサイドバンド成分の強度を用いて,前記MZ干渉計の特性を評価する工程である,
方法。 - 前記MZ干渉計を,第1のMZ干渉計とすると,
前記光変調器は,
さらに,第2のMZ干渉計を含み,
前記第2のMZ干渉計は,前記第1のMZ干渉計とは別のMZ干渉計である,
請求項6に記載の方法。 - 前記MZ干渉計の特性が,
前記2つのアーム間の光振幅のアンバランスに関する特性を含む,
請求項6に記載の方法。 - 前記MZ干渉計の特性が,
チャープパラメータに関する特性と,
変調指数に関する特性と,
を含む,
請求項6に記載の方法。 - 前記MZ干渉計の2つのアームに印加するバイアス電圧の位相差をπとする工程は,
前記2つのアームにスキューを有する信号を印加する工程と,
前記スキューを掃引した場合の前記MZ干渉計からの出力を測定する工程と,
前記測定したMZ干渉計からの出力が対称性を維持しているか判断する工程と,
前記MZ干渉計からの出力が対称性を維持していると判断したときに,バイアス電圧の位相差がπであると判断し,前記MZ干渉計からの出力が対称性を維持していないと判断したときに,バイアス電圧の位相差がπでないと判断する工程と,
を含む,
請求項6に記載の方法。 - 前記MZ干渉計の2つのアームに印加するバイアス電圧の位相差をπとする工程は,
前記2つのアームにスキューを有する信号を印加する工程と,
前記スキューを掃引した場合の前記MZ干渉計からの出力を測定する工程と,
前記測定したMZ干渉計からの出力のうち1次成分の強度と−1次成分との強度の差が,一定の範囲内であるか判断する工程を含む,
請求項6に記載の方法。 - 前記MZ干渉計の2つのアームに印加するバイアス電圧の位相差をπとする工程は,
前記2つのアームにスキューを有する信号を印加する工程と,
前記スキューを掃引した場合の前記MZ干渉計からの出力を測定する工程と,
前記測定したMZ干渉計からの出力のうち2次成分の強度と−2次成分の強度の差が一定の範囲内であるか判断する工程を含む,
請求項6に記載の方法。 - 前記MZ干渉計の2つのアームに印加するバイアス電圧の位相差を0とする工程は,
前記2つのアームにスキューを有する信号を印加する工程と,
前記スキューを掃引した場合の前記MZ干渉計からの出力を測定する工程と,
前記測定したMZ干渉計からの出力が対称性を維持しているか判断する工程と,
前記MZ干渉計からの出力が対称性を維持していると判断したときに,バイアス電圧の位相差が0であると判断し,前記MZ干渉計からの出力が対称性を維持していないと判断したときに,バイアス電圧の位相差が0でないと判断する工程と,
を含む,
請求項6に記載の方法。 - 前記MZ干渉計の2つのアームに印加するバイアス電圧の位相差を0とする工程は,
前記2つのアームにスキューを有する信号を印加する工程と,
前記スキューを掃引した場合の前記MZ干渉計からの出力を測定する工程と,
前記測定したMZ干渉計からの出力のうち1次成分の強度と−1次成分との強度の差が,一定の範囲内であるか判断する工程を含む,
請求項6に記載の方法。 - 前記MZ干渉計の2つのアームに印加するバイアス電圧の位相差を0とする工程は,
前記2つのアームにスキューを有する信号を印加する工程と,
前記スキューを掃引した場合の前記MZ干渉計からの出力を測定する工程と,
前記測定したMZ干渉計からの出力のうち2次成分の強度と−2次成分の強度の差が一定の範囲内であるか判断する工程を含む,
請求項6に記載の方法。
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