JPH0862094A - 光変調器のαパラメータの計測方法 - Google Patents
光変調器のαパラメータの計測方法Info
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- JPH0862094A JPH0862094A JP19811094A JP19811094A JPH0862094A JP H0862094 A JPH0862094 A JP H0862094A JP 19811094 A JP19811094 A JP 19811094A JP 19811094 A JP19811094 A JP 19811094A JP H0862094 A JPH0862094 A JP H0862094A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】小さい振幅の高周波電圧によってαパラメータ
を精度良く計測することを目的とする。 【構成】印加される交流電圧に応じて強度変調された出
力光が得られる光変調器１２のαパラメータの計測方法
であって、光変調器１２に、中心電圧が光変調器の電気
−光特性の最大点若しくは最小点又はそれらの近傍とな
るように交流電圧を印加し、得られた出力光の波長スペ
クトルを解析し、前記出力光の第０次波長光と第１次波
長光の強度の比と、交流電圧の振幅との関係から、αパ
ラメータを求める方法である。
を精度良く計測することを目的とする。 【構成】印加される交流電圧に応じて強度変調された出
力光が得られる光変調器１２のαパラメータの計測方法
であって、光変調器１２に、中心電圧が光変調器の電気
−光特性の最大点若しくは最小点又はそれらの近傍とな
るように交流電圧を印加し、得られた出力光の波長スペ
クトルを解析し、前記出力光の第０次波長光と第１次波
長光の強度の比と、交流電圧の振幅との関係から、αパ
ラメータを求める方法である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光変調器のαパラメー
タの計測方法に関する。近年において、光通信又は情報
処理の分野での利用のために、ニオブ酸リチウム（Ｌｉ
ＮｂＯ3 ）の結晶からなる基板上にチタン（Ｔｉ）の拡
散による光導波路を形成した光変調器の研究開発がなさ
れている。
タの計測方法に関する。近年において、光通信又は情報
処理の分野での利用のために、ニオブ酸リチウム（Ｌｉ
ＮｂＯ3 ）の結晶からなる基板上にチタン（Ｔｉ）の拡
散による光導波路を形成した光変調器の研究開発がなさ
れている。
【０００２】光変調器において、光ファイバの非線形光
学効果などの影響が無視できない場合には、光変調器か
らの出力光波形の波長チャーピングの値をある範囲内に
抑える必要がある。そのためには、まず、光変調器の波
長チャーピングの量を把握する必要があり、これを表す
パラメータとしてαパラメータがある。したがって、こ
のαパラメータの値を精度良く計測することが望まれ
る。
学効果などの影響が無視できない場合には、光変調器か
らの出力光波形の波長チャーピングの値をある範囲内に
抑える必要がある。そのためには、まず、光変調器の波
長チャーピングの量を把握する必要があり、これを表す
パラメータとしてαパラメータがある。したがって、こ
のαパラメータの値を精度良く計測することが望まれ
る。
【０００３】なお、波長チャーピングは波長のゆらぎで
あり、これによって波形の劣化などをもたらし、通信に
悪影響を及ぼす。
あり、これによって波形の劣化などをもたらし、通信に
悪影響を及ぼす。
【０００４】
【従来の技術】従来におけるαパラメータの計測方法に
ついて、本発明に係る計測装置１を示す図１を参照して
説明する。
ついて、本発明に係る計測装置１を示す図１を参照して
説明する。
【０００５】図６は光変調器のパラメータを示す図、図
７は従来の解析シートを示す図、図８は光変調器のＶ−
Ｉ特性を示す図である。図１において、レーザ光源１１
からの光は光ファイバ１９を通って光変調器１２に入射
し、光変調を受けて光ファイバ２０から出力される。光
変調器１２からの出力光は、掃引型のファブリ・ペロー
干渉計１５によって分光され、その出力光が光ディテク
タ１６によって検出され、オシロスコープ１７のＹ軸端
子に入力される。
７は従来の解析シートを示す図、図８は光変調器のＶ−
Ｉ特性を示す図である。図１において、レーザ光源１１
からの光は光ファイバ１９を通って光変調器１２に入射
し、光変調を受けて光ファイバ２０から出力される。光
変調器１２からの出力光は、掃引型のファブリ・ペロー
干渉計１５によって分光され、その出力光が光ディテク
タ１６によって検出され、オシロスコープ１７のＹ軸端
子に入力される。
【０００６】ファブリ・ペロー干渉計１５は、２つのミ
ラーが互いに平行に向かい合うように配置されており、
これらのミラーの間に光変調器１２からの出力光が入射
する。ファブリ・ペロー干渉計１５からは、ミラー間の
距離に応じた波長の光が取り出されるが、一方のミラー
が、発信器１８から出力されるノコギリ波信号Ｓ１に応
じて軸方向に往復移動を繰り返すので、ノコギリ波信号
Ｓ１の振幅に応じてスイープされた波長成分の光が連続
的に繰り返して取り出される。
ラーが互いに平行に向かい合うように配置されており、
これらのミラーの間に光変調器１２からの出力光が入射
する。ファブリ・ペロー干渉計１５からは、ミラー間の
距離に応じた波長の光が取り出されるが、一方のミラー
が、発信器１８から出力されるノコギリ波信号Ｓ１に応
じて軸方向に往復移動を繰り返すので、ノコギリ波信号
Ｓ１の振幅に応じてスイープされた波長成分の光が連続
的に繰り返して取り出される。
【０００７】オシロスコープ１７のＸ軸端子には、上述
のノコギリ波信号Ｓ１が入力されているので、オシロス
コープ１７の画面には、Ｘ軸を光の波長とし、Ｙ軸を光
の強度とした出力光の波長スペクトルが表示される。
のノコギリ波信号Ｓ１が入力されているので、オシロス
コープ１７の画面には、Ｘ軸を光の波長とし、Ｙ軸を光
の強度とした出力光の波長スペクトルが表示される。
【０００８】この波長スペクトルの中の第０次波長光と
第１次波長光の強度の比に基づいて、αパラメータが計
測される。ここで、αパラメータについて説明する。
第１次波長光の強度の比に基づいて、αパラメータが計
測される。ここで、αパラメータについて説明する。
【０００９】αパラメータは、強度変調ファクターと位
相変調ファクターとの度合いを表したものであり、一般
的に次の（１）式で定義される。 α＝∂ｎa ／∂ｎb ……（１） ここで、ｎa 及びｎb は、複素屈折率ｎの実数部分と虚
数部分であり、次の（２）式で表される。
相変調ファクターとの度合いを表したものであり、一般
的に次の（１）式で定義される。 α＝∂ｎa ／∂ｎb ……（１） ここで、ｎa 及びｎb は、複素屈折率ｎの実数部分と虚
数部分であり、次の（２）式で表される。
【００１０】ｎ＝ｎa ＋ｊ・ｎb ……（２） ｎa は位相変化に関係し、ｎb は強度変化に関係する。
（１）式は次の（３）式のように変形される。
（１）式は次の（３）式のように変形される。
【００１１】 α＝（ｄφ／ｄｔ）／（１／Ｅ・ｄＥ／ｄｔ） ……（３） ここで、φは位相であり、Ｅは電界強度成分である。図
６に示す光変調器１２において、光変調器１２への入力
光及び光導波路３１，３２への入力光の各電界成分をＥ
ｉ、Ｅａ、Ｅｂとすると、これらは次の（４）（５）
（６）式で表される。
６に示す光変調器１２において、光変調器１２への入力
光及び光導波路３１，３２への入力光の各電界成分をＥ
ｉ、Ｅａ、Ｅｂとすると、これらは次の（４）（５）
（６）式で表される。
【００１２】
【数１】
【００１３】ここで、Γ（ｔ）は変調の深さを示し、
ａ，ｂは各光導波路における変調効率を示す。ａ＋ｂ＝
１である。また、光変調器１２の出力光の電界成分Ｅｃ
は、次の（７）式で表される。
ａ，ｂは各光導波路における変調効率を示す。ａ＋ｂ＝
１である。また、光変調器１２の出力光の電界成分Ｅｃ
は、次の（７）式で表される。
【００１４】
【数２】
【００１５】この（７）式に上述の（５）（６）式を代
入して整理すると次の（８）式が得られる。
入して整理すると次の（８）式が得られる。
【００１６】
【数３】
【００１７】（８）式から、振幅Ｅと位相φの成分を抜
き出すと次の（９）（１０）式が得られる。
き出すと次の（９）（１０）式が得られる。
【００１８】
【数４】
【００１９】（９）（１０）式から（ｄφ／ｄｔ）及び
（１／Ｅ・ｄＥ／ｄｔ）を求め、上述の（３）式に代入
すると、次の（１１）式が得られる。
（１／Ｅ・ｄＥ／ｄｔ）を求め、上述の（３）式に代入
すると、次の（１１）式が得られる。
【００２０】
【数５】
【００２１】また、光の強度は電界成分の絶対値の２乗
であるから、（９）式の右辺を２乗することにより、規
格化された光の強度Ｉは、次の（１２）式のように示す
ことができる。
であるから、（９）式の右辺を２乗することにより、規
格化された光の強度Ｉは、次の（１２）式のように示す
ことができる。
【００２２】
【数６】
【００２３】ここで、cot ＝cos/sin であるから、（１
２）式からcot を求めて（１１）式に代入すると、次の
（１３）式が得られる。
２）式からcot を求めて（１１）式に代入すると、次の
（１３）式が得られる。
【００２４】
【数７】
【００２５】ここで、光変調器は、実用時にはＩ＝０．
５で使用されるので、αパラメータをＩ＝０．５におけ
るものと定義し、ａ＋ｂ＝１であることを考慮すると、
結局、αの値は次の（１４）式によって定義される。
５で使用されるので、αパラメータをＩ＝０．５におけ
るものと定義し、ａ＋ｂ＝１であることを考慮すると、
結局、αの値は次の（１４）式によって定義される。
【００２６】α＝｜ａ−ｂ｜ ……（１４） αを種々の値に決定すると、そのαの値に応じてａ，ｂ
が決定される。一方、Γ（ｔ）＝θ0 ＋Δθsin ωm t
、ａ＋ｂ＝１として、上述の（７）式に代入し、それ
を整理することによって次の（１５）式が得られる。
が決定される。一方、Γ（ｔ）＝θ0 ＋Δθsin ωm t
、ａ＋ｂ＝１として、上述の（７）式に代入し、それ
を整理することによって次の（１５）式が得られる。
【００２７】
【数８】
【００２８】なお、θ0 はバイアス電圧ＶDCの大きさ
に、Δθは強度変調のために印加する交流電圧ＶACの振
幅に、それぞれ比例する。光の強度は電界成分の絶対値
の２乗であるから、（１５）式から電界成分を抜き出し
て各周波数成分ｆn についての光強度を求めると、次の
（１６）式が得られる。
に、Δθは強度変調のために印加する交流電圧ＶACの振
幅に、それぞれ比例する。光の強度は電界成分の絶対値
の２乗であるから、（１５）式から電界成分を抜き出し
て各周波数成分ｆn についての光強度を求めると、次の
（１６）式が得られる。
【００２９】
【数９】
【００３０】（１６）式から、種々のαの値について、
第０次波長光と第１次波長光の強度の比ｆ1 ／ｆ0 （＝
Ｒｓ）を求めることができる。図８に示すように、従来
においては、光変調器を実際に使用するときと同じバイ
アス電圧ＶDCを与えて動作点とし、つまり（１６）式に
おけるθ0 ＝π／２とし、正弦波の高周波電圧ＶACを印
加し、その出力光を解析していた。なお、θ0＝π／２
においてはＩ＝０．５である。
第０次波長光と第１次波長光の強度の比ｆ1 ／ｆ0 （＝
Ｒｓ）を求めることができる。図８に示すように、従来
においては、光変調器を実際に使用するときと同じバイ
アス電圧ＶDCを与えて動作点とし、つまり（１６）式に
おけるθ0 ＝π／２とし、正弦波の高周波電圧ＶACを印
加し、その出力光を解析していた。なお、θ0＝π／２
においてはＩ＝０．５である。
【００３１】その場合には、図７に示すように、第０次
波長光と第１次波長光の強度の比ｆ 1 ／ｆ0 は、印加す
る高周波電圧ＶACの振幅が小さいとき、例えばＶπ程度
のときには、すなわちΔθが０．５π程度のときには、
αパラメータの値の違いによる特性の相違がほとんど現
れない。換言すれば、αパラメータを評価するに際し
て、高周波電圧ＶACの振幅がＶπ程度では評価が困難で
ある。αパラメータを正確に評価するには、振幅を２Ｖ
πに近い値、すなわちΔθをπに近い値まで上げる必要
がある。
波長光と第１次波長光の強度の比ｆ 1 ／ｆ0 は、印加す
る高周波電圧ＶACの振幅が小さいとき、例えばＶπ程度
のときには、すなわちΔθが０．５π程度のときには、
αパラメータの値の違いによる特性の相違がほとんど現
れない。換言すれば、αパラメータを評価するに際し
て、高周波電圧ＶACの振幅がＶπ程度では評価が困難で
ある。αパラメータを正確に評価するには、振幅を２Ｖ
πに近い値、すなわちΔθをπに近い値まで上げる必要
がある。
【００３２】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
においては、θ0 ＝π／２となるようにバイアス電圧Ｖ
DCを与えてαパラメータを計測していたので、高周波電
圧ＶACの振幅が小さいときにはαパラメータの計測精度
が悪く、計測精度を高めるためには高周波電圧Ｖ ACの振
幅を大きくする必要がある。
においては、θ0 ＝π／２となるようにバイアス電圧Ｖ
DCを与えてαパラメータを計測していたので、高周波電
圧ＶACの振幅が小さいときにはαパラメータの計測精度
が悪く、計測精度を高めるためには高周波電圧Ｖ ACの振
幅を大きくする必要がある。
【００３３】高周波電圧ＶACとして、比較的低い周波数
の高周波電圧ＶACであれば、振幅の大きい電圧ＶACを印
加することはそれ程困難ではない。しかし、波長スペク
トルの分解能は、ファブリ・ペロー干渉計１５の分解能
及び光源の波長広がりに依存し、ある程度高い周波数の
電圧ＶACを用いる必要がある。そうすると、振幅の大き
い高周波電圧ＶACを得ることが困難となり、従来の計測
方法ではαパラメータを精度良く計測することができな
かった。
の高周波電圧ＶACであれば、振幅の大きい電圧ＶACを印
加することはそれ程困難ではない。しかし、波長スペク
トルの分解能は、ファブリ・ペロー干渉計１５の分解能
及び光源の波長広がりに依存し、ある程度高い周波数の
電圧ＶACを用いる必要がある。そうすると、振幅の大き
い高周波電圧ＶACを得ることが困難となり、従来の計測
方法ではαパラメータを精度良く計測することができな
かった。
【００３４】本発明は、上述の問題に鑑みてなされたも
ので、小さい振幅の高周波電圧によってαパラメータを
精度良く計測することを目的とする。
ので、小さい振幅の高周波電圧によってαパラメータを
精度良く計測することを目的とする。
【００３５】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係る方
法は、印加される交流電圧に応じて強度変調された出力
光が得られる光変調器のαパラメータの計測方法であっ
て、前記光変調器に、中心電圧が前記光変調器の電気−
光特性の最大点若しくは最小点又はそれらの近傍となる
ように交流電圧を印加し、得られた出力光の波長スペク
トルを解析し、前記出力光の第０次波長光と第１次波長
光の強度の比と、前記交流電圧の振幅との関係から、前
記αパラメータを求める方法である。
法は、印加される交流電圧に応じて強度変調された出力
光が得られる光変調器のαパラメータの計測方法であっ
て、前記光変調器に、中心電圧が前記光変調器の電気−
光特性の最大点若しくは最小点又はそれらの近傍となる
ように交流電圧を印加し、得られた出力光の波長スペク
トルを解析し、前記出力光の第０次波長光と第１次波長
光の強度の比と、前記交流電圧の振幅との関係から、前
記αパラメータを求める方法である。
【００３６】請求項２の発明に係る方法は、印加される
交流電圧に応じて強度変調された出力光が得られる光変
調器のαパラメータの計測方法であって、前記光変調器
に交流電圧を印加する交流電源と、前記交流電圧の動作
点を決めるためのバイアス電圧を印加する直流電源と、
前記光変調器からの出力光の波長スペクトルを解析する
解析手段と、種々のαパラメータについて、出力光の第
０次波長光と第１次波長光の強度の比と、前記交流電圧
の振幅との関係をグラフに示した解析シートと、を備
え、前記解析手段によって得られた第０次波長光と第１
次波長光の強度の比と、前記交流電圧の振幅とのデータ
を前記解析シート上にプロットし、プロットされた位置
に応じて前記光変調器のαパラメータを求める方法であ
る。
交流電圧に応じて強度変調された出力光が得られる光変
調器のαパラメータの計測方法であって、前記光変調器
に交流電圧を印加する交流電源と、前記交流電圧の動作
点を決めるためのバイアス電圧を印加する直流電源と、
前記光変調器からの出力光の波長スペクトルを解析する
解析手段と、種々のαパラメータについて、出力光の第
０次波長光と第１次波長光の強度の比と、前記交流電圧
の振幅との関係をグラフに示した解析シートと、を備
え、前記解析手段によって得られた第０次波長光と第１
次波長光の強度の比と、前記交流電圧の振幅とのデータ
を前記解析シート上にプロットし、プロットされた位置
に応じて前記光変調器のαパラメータを求める方法であ
る。
【００３７】請求項３の発明に係る方法は、前記バイア
ス電圧を、前記光変調器の電気−光特性の最大点若しく
は最小点、又はそれらの近傍となるように設定する方法
である。
ス電圧を、前記光変調器の電気−光特性の最大点若しく
は最小点、又はそれらの近傍となるように設定する方法
である。
【００３８】
【作用】光変調器のＶ−Ｉ特性の最大点（山の頂点）又
は最小点（谷の頂点）又はその近傍を動作点として交流
電圧を印加するので、従来と比較して強度変調の大きさ
が小さくなり、その分、位相変調の量が増加する。
は最小点（谷の頂点）又はその近傍を動作点として交流
電圧を印加するので、従来と比較して強度変調の大きさ
が小さくなり、その分、位相変調の量が増加する。
【００３９】αパラメータは位相変調の度合いを示すパ
ラメータであるため、従来と比較して振幅の小さい交流
電圧によって同じだけの位相変調量を得ることができ、
交流電圧の振幅を同じとすると、本発明の方法による方
がαパラメータを精度良く測定することができる。
ラメータであるため、従来と比較して振幅の小さい交流
電圧によって同じだけの位相変調量を得ることができ、
交流電圧の振幅を同じとすると、本発明の方法による方
がαパラメータを精度良く測定することができる。
【００４０】
【実施例】図１は本発明に係る計測装置１を示すブロッ
ク図、図２は光変調器１２へのバイアス電圧ＶDC及び高
周波電圧ＶACの印加方法を示す図、図３は光変調器のＶ
−Ｉ特性及び動作点を示す図である。なお、従来の技術
の項で説明した事項については、ここでの説明を省略し
又は簡略化する。
ク図、図２は光変調器１２へのバイアス電圧ＶDC及び高
周波電圧ＶACの印加方法を示す図、図３は光変調器のＶ
−Ｉ特性及び動作点を示す図である。なお、従来の技術
の項で説明した事項については、ここでの説明を省略し
又は簡略化する。
【００４１】図１において、レーザ光源１１からの光は
光変調器１２に入射し、光変調を受けてファブリ・ペロ
ー干渉計１５に入射する。ファブリ・ペロー干渉計１５
には発信器１８からのノコギリ波信号Ｓ１が入力され、
このノコギリ波信号Ｓ１に応じた波長の光がファブリ・
ペロー干渉計１５から出力され、光ディテクタ１６によ
って各波長の光強度が検出され、オシロスコープ１７の
Ｙ軸端子に入力される。
光変調器１２に入射し、光変調を受けてファブリ・ペロ
ー干渉計１５に入射する。ファブリ・ペロー干渉計１５
には発信器１８からのノコギリ波信号Ｓ１が入力され、
このノコギリ波信号Ｓ１に応じた波長の光がファブリ・
ペロー干渉計１５から出力され、光ディテクタ１６によ
って各波長の光強度が検出され、オシロスコープ１７の
Ｙ軸端子に入力される。
【００４２】オシロスコープ１７のＸ軸端子には、上述
のノコギリ波信号Ｓ１が入力されているので、オシロス
コープ１７の画面には、Ｘ軸を光の波長とし、Ｙ軸を光
の強度とした出力光の波長スペクトルが表示される。ま
た、図示しない演算装置によって、波長スペクトルの中
の第０次波長光と第１次波長光の強度の比が演算され、
演算結果が画面に表示される。
のノコギリ波信号Ｓ１が入力されているので、オシロス
コープ１７の画面には、Ｘ軸を光の波長とし、Ｙ軸を光
の強度とした出力光の波長スペクトルが表示される。ま
た、図示しない演算装置によって、波長スペクトルの中
の第０次波長光と第１次波長光の強度の比が演算され、
演算結果が画面に表示される。
【００４３】図２において、マッハツェンダ型の光変調
器１２は、ニオブ酸リチウム（ＬｉＮｂＯ3 ）の結晶か
らなる基板３０上に、チタン（Ｔｉ）の拡散によってＹ
分岐形の光導波路３１，３２を形成し、光導波路３１，
３２の上に、進行波用の電極３５及び接地用の電極３６
を装荷したものである。
器１２は、ニオブ酸リチウム（ＬｉＮｂＯ3 ）の結晶か
らなる基板３０上に、チタン（Ｔｉ）の拡散によってＹ
分岐形の光導波路３１，３２を形成し、光導波路３１，
３２の上に、進行波用の電極３５及び接地用の電極３６
を装荷したものである。
【００４４】進行波用の電極３５の入力側３５ａには、
フィルタ（バイアスＴ）４１を介して交流電源１３によ
る高周波電圧ＶACが印加され、出力側３５ｂには、フィ
ルタ４２を介して直流電源１４によるバイアス電圧ＶDC
が印加されている。これによって、バイアス電圧ＶDCと
高周波電圧ＶACとが重畳される。なお、フィルタ４２に
は５０オームの終端抵抗器が接続されている。
フィルタ（バイアスＴ）４１を介して交流電源１３によ
る高周波電圧ＶACが印加され、出力側３５ｂには、フィ
ルタ４２を介して直流電源１４によるバイアス電圧ＶDC
が印加されている。これによって、バイアス電圧ＶDCと
高周波電圧ＶACとが重畳される。なお、フィルタ４２に
は５０オームの終端抵抗器が接続されている。
【００４５】本実施例の計測方法においては、バイアス
電圧ＶDCを、動作点がＶ−Ｉ特性の山の頂点（最大点）
ＰＳ１又は谷の頂点（最小点）ＰＳ２となるように与え
る。頂点ＰＳ１ではＩ＝１、θ0 ＝０であり、頂点ＰＳ
２ではＩ＝０、θ0 ＝πである。
電圧ＶDCを、動作点がＶ−Ｉ特性の山の頂点（最大点）
ＰＳ１又は谷の頂点（最小点）ＰＳ２となるように与え
る。頂点ＰＳ１ではＩ＝１、θ0 ＝０であり、頂点ＰＳ
２ではＩ＝０、θ0 ＝πである。
【００４６】図３に示す例では、動作点が山の頂点ＰＳ
１となるようにバイアス電圧ＶDCを与えてある。図３に
示すように、高周波電圧ＶACによる変調光は、振幅が小
さくなるが、周波数は２倍となる。この状態で、種々の
振幅の高周波電圧ＶACについて、光ディテクタ１６で検
出される波長スペクトル中の第０次波長光と第１次波長
光の強度の比の値Ｒｓを求める。
１となるようにバイアス電圧ＶDCを与えてある。図３に
示すように、高周波電圧ＶACによる変調光は、振幅が小
さくなるが、周波数は２倍となる。この状態で、種々の
振幅の高周波電圧ＶACについて、光ディテクタ１６で検
出される波長スペクトル中の第０次波長光と第１次波長
光の強度の比の値Ｒｓを求める。
【００４７】図４及び図５は本実施例において用いられ
るαパラメータ解析シートＳＨ１，２を示す図である。
各αパラメータ解析シートＳＨ１，２は、それぞれ、θ
0 ＝０、θ0 ＝πの場合を示す。
るαパラメータ解析シートＳＨ１，２を示す図である。
各αパラメータ解析シートＳＨ１，２は、それぞれ、θ
0 ＝０、θ0 ＝πの場合を示す。
【００４８】図４に示すαパラメータ解析シートＳＨ１
上に、上で求めた強度の比の値Ｒｓをプロットし、プロ
ットされた点から想定される曲線の位置からαの値を決
定する。このとき、曲線が一致すれば、その一致した曲
線のαの値が求めるαの値であり、一致しない場合に
は、内挿又は外挿などによってαを決定する。
上に、上で求めた強度の比の値Ｒｓをプロットし、プロ
ットされた点から想定される曲線の位置からαの値を決
定する。このとき、曲線が一致すれば、その一致した曲
線のαの値が求めるαの値であり、一致しない場合に
は、内挿又は外挿などによってαを決定する。
【００４９】また、動作点が谷の頂点ＰＳ２となるよう
にバイアス電圧ＶDCを与えた場合には、図５に示すαパ
ラメータ解析シートＳＨ２を用い、この上に求めた強度
の比の値Ｒｓを同様にプロットしてαの値を決定する。
にバイアス電圧ＶDCを与えた場合には、図５に示すαパ
ラメータ解析シートＳＨ２を用い、この上に求めた強度
の比の値Ｒｓを同様にプロットしてαの値を決定する。
【００５０】上述の実施例によると、光変調器１２のＶ
−Ｉ特性の山の頂点ＰＳ１又は谷の頂点ＰＳ２を動作点
として高周波電圧ＶACを印加するので、従来と比較して
強度変調の大きさが小さくなり、その分、位相変調の量
が増加する。αパラメータは位相変調の度合いを示すパ
ラメータであるため、従来と比較して振幅の小さい高周
波電圧ＶACによって同じだけの位相変調量を得ることが
できる。したがって、高周波電圧ＶACの振幅を同じとす
ると、本実施例の方法による方がαパラメータを精度良
く測定することができる。
−Ｉ特性の山の頂点ＰＳ１又は谷の頂点ＰＳ２を動作点
として高周波電圧ＶACを印加するので、従来と比較して
強度変調の大きさが小さくなり、その分、位相変調の量
が増加する。αパラメータは位相変調の度合いを示すパ
ラメータであるため、従来と比較して振幅の小さい高周
波電圧ＶACによって同じだけの位相変調量を得ることが
できる。したがって、高周波電圧ＶACの振幅を同じとす
ると、本実施例の方法による方がαパラメータを精度良
く測定することができる。
【００５１】図４及び図５に示すαパラメータ解析シー
トＳＨ１，２で明らかなように、Δθが小さくても、例
えば０．５π程度であっても、αパラメータの値の違い
によって特性が大きく相違し、αパラメータを精度良く
計測することができる。したがって、小さい振幅の高周
波電圧ＶACによって、αパラメータを精度良く計測する
ことができる。
トＳＨ１，２で明らかなように、Δθが小さくても、例
えば０．５π程度であっても、αパラメータの値の違い
によって特性が大きく相違し、αパラメータを精度良く
計測することができる。したがって、小さい振幅の高周
波電圧ＶACによって、αパラメータを精度良く計測する
ことができる。
【００５２】上述の実施例においては、光変調器１２の
Ｖ−Ｉ特性の山の頂点ＰＳ１又は谷の頂点ＰＳ２を動作
点として高周波電圧ＶACを印加したが、頂点ＰＳ１又は
頂点ＰＳ２の近傍であってもよい。αパラメータ解析シ
ートＳＨ１，２を用いたが、得られた強度の比の値Ｒｓ
に基づいて、演算によってαパラメータの値を自動的に
演算するように構成してもよい。分光器としてファブリ
・ペロー干渉計１５を用いたが、これに代えて回折格子
を用いてもよい。その他、計測装置１の構成、操作方
法、手順などは、本発明の主旨に沿って種々変更するこ
とができる。
Ｖ−Ｉ特性の山の頂点ＰＳ１又は谷の頂点ＰＳ２を動作
点として高周波電圧ＶACを印加したが、頂点ＰＳ１又は
頂点ＰＳ２の近傍であってもよい。αパラメータ解析シ
ートＳＨ１，２を用いたが、得られた強度の比の値Ｒｓ
に基づいて、演算によってαパラメータの値を自動的に
演算するように構成してもよい。分光器としてファブリ
・ペロー干渉計１５を用いたが、これに代えて回折格子
を用いてもよい。その他、計測装置１の構成、操作方
法、手順などは、本発明の主旨に沿って種々変更するこ
とができる。
【００５３】
【発明の効果】請求項１乃至請求項３の発明によると、
小さい振幅の高周波電圧によってαパラメータを精度良
く計測することができる。
小さい振幅の高周波電圧によってαパラメータを精度良
く計測することができる。
【図１】本発明に係る計測装置を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】光変調器へのバイアス電圧ＶDC及び高周波電圧
ＶACの印加方法を示す図である。
ＶACの印加方法を示す図である。
【図３】光変調器のＶ−Ｉ特性及び動作点を示す図であ
る。
る。
【図４】本実施例において用いられるαパラメータ解析
シートの例を示す図である。
シートの例を示す図である。
【図５】本実施例において用いられるαパラメータ解析
シートの例を示す図である。
シートの例を示す図である。
【図６】光変調器のパラメータを示す図である。
【図７】従来の解析シートを示す図である。
【図８】光変調器のＶ−Ｉ特性を示す図である。
１ 計測装置 １２ 光変調器 １３ 交流電源 １４ 直流電源 １５ ファブリ・ペロー干渉計（解析手段） １６ 光ディテクタ（解析手段） １７ オシロスコープ（解析手段） １８ 発信器（解析手段） ＳＨ１，２ αパラメータ解析シート（解析シート）
Claims (3)
- 【請求項１】印加される交流電圧に応じて強度変調され
た出力光が得られる光変調器のαパラメータの計測方法
であって、 前記光変調器に、中心電圧が前記光変調器の電気−光特
性の最大点若しくは最小点又はそれらの近傍となるよう
に交流電圧を印加し、得られた出力光の波長スペクトル
を解析し、 前記出力光の第０次波長光と第１次波長光の強度の比
と、前記交流電圧の振幅との関係から、前記αパラメー
タを求める、 ことを特徴とする光変調器のαパラメータの計測方法。 - 【請求項２】印加される交流電圧に応じて強度変調され
た出力光が得られる光変調器のαパラメータの計測方法
であって、 前記光変調器に交流電圧を印加する交流電源と、 前記交流電圧の動作点を決めるためのバイアス電圧を印
加する直流電源と、 前記光変調器からの出力光の波長スペクトルを解析する
解析手段と、 種々のαパラメータについて、出力光の第０次波長光と
第１次波長光の強度の比と、前記交流電圧の振幅との関
係をグラフに示した解析シートと、 を備え、 前記解析手段によって得られた第０次波長光と第１次波
長光の強度の比と、前記交流電圧の振幅とのデータを前
記解析シート上にプロットし、プロットされた位置に応
じて前記光変調器のαパラメータを求める、 ことを特徴とする光変調器のαパラメータの計測方法。 - 【請求項３】前記バイアス電圧を、前記光変調器の電気
−光特性の最大点若しくは最小点、又はそれらの近傍と
なるように設定する、 ことを特徴とする請求項２記載の光変調器のαパラメー
タの計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19811094A JPH0862094A (ja) | 1994-08-23 | 1994-08-23 | 光変調器のαパラメータの計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19811094A JPH0862094A (ja) | 1994-08-23 | 1994-08-23 | 光変調器のαパラメータの計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0862094A true JPH0862094A (ja) | 1996-03-08 |
Family
ID=16385648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19811094A Withdrawn JPH0862094A (ja) | 1994-08-23 | 1994-08-23 | 光変調器のαパラメータの計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0862094A (ja) |
-
1994
- 1994-08-23 JP JP19811094A patent/JPH0862094A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20011106 |