JPWO2007060740A1 - 放射線撮像装置 - Google Patents

Abstract

この発明の放射線撮像装置は、装置不使用時に放射線検出手段の温度を所定範囲に維持して保温する保温手段を備えているので、装置不使用に起因した放射線検出ユニットの所定範囲外の温度変化を防止することができ、その結果、放射線検出手段を安定に保温することができる。なお、保温手段を装置不使用時に機能させるために、装置を駆動するための電力供給の制御とは独立して保温手段への電力供給の制御を行っている。このような制御を行うことで、装置を駆動するための電力供給を装置不使用時に停止したとしても、保温手段への電力供給を引き続いて行うことができる。

Description

この発明は、医療分野、工業分野、さらには原子力分野などに用いられる放射線撮像装置に係り、特に、放射線検出手段の保護のための構造に関する。

放射線撮像装置は、放射線を検出する放射線検出ユニットを備え、放射線検出ユニットは、放射線検出器と、それを収容した筐体とを有している。放射線検出器としてＸ線検出器を例に採って説明する。Ｘ線検出器はＸ線感応型のＸ線変換層（半導体層）を備えており、Ｘ線の入射によりＸ線変換層はキャリア（電荷情報）に変換し、その変換されたキャリアを読み出すことでＸ線を検出する。Ｘ線変換層としては非晶質のアモルファスセレン（ａ−Ｓｅ）膜が用いられる。また、Ｘ線検出器を上述した筐体内に収容する際にはエポキシ樹脂などで封入してモールド封止する。かかるアモルファスセレンやエポキシ樹脂は熱に弱く、高温あるいは低温によってＸ線検出ユニットが正常に機能しなくなって、Ｘ線撮像に支障を来たす。

そこで、Ｘ線検出器に吸熱・発熱素子を配設して、Ｘ線撮像時にＸ線検出器の温度が所定範囲内に維持するように保温する技術などがある（例えば、特許文献１参照）。また、ファンをＸ線検出ユニットに配設することで、Ｘ線検出器のみならずＸ線検出ユニット全体を保温することが可能である。
特開２００２−３４１０４４号公報（第２−５頁、図１−４，６−８）

しかしながら、Ｘ線撮像時にＸ線検出ユニットを保温するのにも関わらずＸ線検出ユニットが正常に機能しなくなるという問題点がある。

この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、放射線検出手段を安定に保温することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。

この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、この発明の放射線撮像装置は、放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、装置不使用時に前記放射線検出手段の温度を所定範囲に維持して保温する保温手段とを備えることを特徴とするものである。

放射線撮像時に放射線検出手段を保温したとしても、装置不使用によって放射線検出手段が保温できなくなる恐れがある。したがって、放射線検出ユニットの所定範囲外の温度変化は、放射線撮像時のみならず、装置不使用時にも発生すると考えることができる。そこで、この発明の放射線撮像装置によれば、装置不使用時に放射線検出手段の温度を所定範囲に維持して保温する保温手段を備えることで、装置不使用に起因した放射線検出ユニットの所定範囲外の温度変化を防止することができ、その結果、放射線検出手段を安定に保温することができる。本明細書中での『装置不使用』とは、単に『放射線非撮像』を意味するのではなく、装置を駆動するための電力供給を停止することを意味する。したがって、装置不使用時とは、装置を駆動するための電力供給の停止期間（例えば半日や１日や数日）を意味する。

また、この発明の放射線撮像装置の一例は、上述した放射線検出手段は、放射線の入射により放射線の情報を電荷情報に変換する変換層、その変換層で変換された電荷情報を読み出す読み出し回路を有した放射線検出器と、それを収容する筐体とを備え、放射線検出器とともに保温手段を上述した筐体内に収容することである。このように収容することで、装置不使用に起因した放射線検出器の所定範囲外の温度変化を筐体内で防止することができ、その結果、放射線検出手段の筐体内に収容された放射線検出器を安定に保温することができる。

また、これら発明の放射線撮像装置の他の一例は、装置は、上述した放射線検出手段を収容する収容スペースを設け、その収容スペースを保温することで保温手段を構成することである。このように構成することで、収容スペースとともに放射線検出手段を安定に保温することができる。

ところで、一般に装置使用時には、上述した特許文献１以外の手法として、室内にはエアコンディショナ（以下、「エアコン」と略記する）を稼動させて、さらに空冷や水冷などの冷却機構を動作させることで保温する工夫がなされている。そして、装置不使用時には、エネルギーの使用過剰を防止するために、装置を駆動するための電力供給を停止する。すると、その電力供給の停止に連動して、室内のエアコンや冷却機構をも停止してしまう。さらには、電力供給の停止に連動して、保温手段への電力供給も停止してしまって、装置不使用時にも関わらず保温手段が機能しなくなる。

そこで、エネルギーの使用過剰を防止し、かつ保温手段を装置不使用時に機能させるために、装置を駆動するための電力供給の制御とは独立して保温手段への電力供給の制御を行うのが好ましい。このような制御を行うことで、装置を駆動するための電力供給を装置不使用時に停止したとしても、保温手段への電力供給を引き続いて行うことができる。したがって、装置を駆動するための電力供給の装置不使用時における停止によって、エネルギーの使用過剰を防止することができ、装置不使用時における保温手段への電力供給によって、保温手段を装置不使用時でも機能させることができる。

この発明に係る放射線撮像装置によれば、装置不使用時に放射線検出手段の温度を所定範囲に維持して保温する保温手段を備えることで、装置不使用に起因した放射線検出ユニットの所定範囲外の温度変化を防止することができ、その結果、放射線検出手段を安定に保温することができる。

実施例に係るＸ線透視撮影装置のブロック図である。 Ｘ線透視撮影装置に用いられている側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。 平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。 フラットパネル型Ｘ線検出器を有したフラットパネル型Ｘ線検出ユニットの概略断面図である。 フラットパネル型Ｘ線検出器や共通電極に供給する各電力との関係を示したブロック図である。 ペルチェ素子の概略図である。 変形例に係るフラットパネル型Ｘ線検出器とペルチェ素子との収容状態を示した概略側面図である。 ペルチェ素子や温度センサとともに、第２コントローラを断熱材で構成された外枠で収容した概略断面図である。

符号の説明

２ … Ｘ線管
３ … フラットパネル型Ｘ線検出ユニット（ＦＰＤユニット）
３Ａ … フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）
３Ｂ … 外枠
３Ｃ … ペルチェ素子
３４ … Ｘ線感応型半導体

放射線撮像装置において、装置不使用時に電源をＯＦＦにする電力源と、装置不使用時でも電源をＯＮにする電力源とを備え、前者の電力源は装置を駆動するための電力供給を行い、後者の電力源はフラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）に代表される放射線検出手段を保温するペルチェ素子に代表される保温手段への電力供給を行うように制御する。このように、装置を駆動するための電力供給の制御とは独立して保温手段への電力供給の制御を行うことで、装置不使用時に放射線検出手段の温度を保温手段は所定範囲に維持して保温し、装置不使用に起因した放射線検出ユニットの所定範囲外の温度変化を防止することができ、その結果、放射線検出手段を安定に保温するという目的を実現した。

以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。図１は、実施例に係るＸ線透視撮影装置のブロック図であり、Ｘ線透視撮影装置に用いられている側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路であり、図３は、平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路であり、図４は、フラットパネル型Ｘ線検出器を有したフラットパネル型Ｘ線検出ユニットの概略断面図であり、図５は、フラットパネル型Ｘ線検出器や共通電極に供給する各電力との関係を示したブロック図であり、図６は、ペルチェ素子の概略図である。本実施例では、放射線検出器としてフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、適宜「ＦＰＤ」という）を例に採るとともに、放射線検出手段としてフラットパネル型Ｘ線検出ユニット（以下、適宜「ＦＰＤユニット」という）を例に採り、放射線撮像装置としてＸ線透視撮影装置を例に採って説明する。

本実施例に係るＸ線透視撮影装置は、図１に示すように、被検体Ｍを載置する天板１と、その被検体Ｍに向けてＸ線を照射するＸ線管２と、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するＦＰＤ３Ａなどを有したＦＰＤユニット３とを備えている。Ｘ線管２は、この発明における放射線照射手段に相当し、ＦＰＤユニット３は、この発明における放射線検出手段に相当し、ＦＰＤ３Ａは、この発明における放射線検出器に相当する。

Ｘ線透視撮影装置は、他に、天板１の昇降および水平移動を制御する天板制御部４や、ＦＰＤ３Ａの走査を制御するＦＰＤ制御部５や、Ｘ線管２の走査を制御するＸ線管制御部６や、ＦＰＤ３Ａから出力された電荷信号であるＸ線検出信号に基づいて種々の処理を行う画像処理部７や、これらの各構成部を統括する第１コントローラ８や、処理された画像などを記憶するメモリ部９や、オペレータが入力設定を行う入力部１０や、処理された画像などを表示するモニタ１１などを備えている。この第１コントローラ８は、第１電力源１２に電気的に接続されており、第１コントローラ８は第１電力源１２を電源制御し、第１電力源１２は、第１コントローラ８を介して、各構成部に電力を供給する。

ＦＰＤユニット３は、上述したＦＰＤ３Ａ以外に、外枠３Ｂやペルチェ素子３Ｃや温度センサ３Ｄなどを備えている。ＦＰＤユニット３の具体的な構成については、図４で後述する。温度センサ３ＤからのＦＰＤ３Ａの温度に基づいてＦＰＤ３Ａの温度を所定範囲に維持して保持するようにペルチェ素子３Ｃを操作してＦＰＤ３Ａの保温を制御する第２コントローラ１３を、第１コントローラ８とは独立して備えている。この第２コントローラ１３も、第１コントローラ８と同様に、第２電力源１４に電気的に接続されており、第２コントローラ１３は第２電力源１４を電源制御し、第２電力源１４は、第２コントローラ１３を介して、ペルチェ素子３Ｃに電力を供給する。

この他に、Ｘ線管２の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部１５を備え、高電圧発生部１５は、第３電力源１６に電気的に接続されている。第３電力源１６は、高電圧発生部１５に電力を供給する。各電力源１２，１４，１６は互いに独立してそれぞれ電力を供給するように構成されており、第１電力源１２および第３電力源１６は、装置不使用時に電源をＯＦＦにして、装置使用時（例えばＸ線撮像時）には電源をＯＮにする。一方、第２電力源１４は、装置使用時および装置不使用時でも電源をＯＮにする。高電圧発生部１５は、この発明における電圧発生手段に相当する。

ここで、本明細書中での『装置不使用』とは、単に『放射線非撮像』（本実施例ではＸ線非撮像）を意味するのではなく、装置を駆動するための電力供給を停止することを意味する。したがって、装置不使用時とは、装置を駆動するための電力供給の停止期間（例えば半日や１日や数日）を意味する。

第１電力源１２および第３電力源１６は、このように装置を駆動するための電力供給を行い、第２電力源１４は、ＦＰＤユニット３のペルチェ素子３Ｃへの電力供給を行うように制御する。したがって、本実施例では、装置不使用時に電源をＯＦＦにする第１および第３電力源１２，１６と、装置不使用時でも電源をＯＮにする第２電力源１４とを備える。このように、装置を駆動するための電力供給の制御とは独立してペルチェ素子３Ｃへの電力供給の制御を行う。ペルチェ素子３Ｃは、この発明における保温手段に相当する。

天板制御部４は、天板１を水平移動させて被検体Ｍを撮像位置にまで収容したり、昇降、回転および水平移動させて被検体Ｍを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。ＦＰＤ制御部５は、ＦＰＤユニット３を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部１５は、Ｘ線を照射させるための管電圧や管電流を発生してＸ線管２に与え、Ｘ線管制御部６は、Ｘ線管２を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御や、Ｘ線管２側のコリメータ（図示省略）の照視野の設定の制御などを行う。なお、Ｘ線管２やＦＰＤユニット３の走査の際には、Ｘ線管２から照射されたＸ線をＦＰＤ３Ａが検出できるようにＸ線管２およびＦＰＤユニット３が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。

第１コントローラ８および第２コントローラ１３は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されており、メモリ部９は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random-Access Memory）などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部１０は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。Ｘ線透視撮影装置では、被検体Ｍを透過したＸ線をＦＰＤ３Ａが検出して、検出されたＸ線に基づいて画像処理部７で画像処理を行うことで被検体Ｍの撮像を行う。また、第１コントローラ８および第２コントローラ１３は、この発明における制御手段に相当する。

ＦＰＤ３Ａは、図２に示すように、ガラス基板３１と、ガラス基板３１上に形成された薄膜トランジスタＴＦＴとから構成されている。薄膜トランジスタＴＦＴについては、図２、図３に示すように、縦・横式２次元マトリクス状配列でスイッチング素子３２が多数個（例えば、1024個×1024個）形成されており、キャリア収集電極３３ごとにスイッチング素子３２が互いに分離形成されている。すなわち、ＦＰＤ３Ａは、２次元アレイ放射線検出器でもある。

図２に示すようにキャリア収集電極３３の上にはＸ線感応型半導体３４が積層形成されており、図２、図３に示すようにキャリア収集電極３３は、スイッチング素子３２のソースＳに接続されている。ゲートドライバ３５からは複数本のゲートバスライン３６が接続されているとともに、各ゲートバスライン３６はスイッチング素子３２のゲートＧに接続されている。一方、図３に示すように、電荷信号を収集して１つに出力するマルチプレクサ３７には増幅器３８を介して複数本のデータバスライン３９が接続されているとともに、図２、図３に示すように各データバスライン３９はスイッチング素子３２のドレインＤに接続されている。また、マルチプレクサ３７には、電荷信号であるＸ線検出器信号をディジタル化して取り出すＡ／Ｄ変換器４０が接続されている。Ｘ線感応型半導体３４は、非晶質のアモルファスセレン（ａ−Ｓｅ）膜などで形成され、Ｘ線の入射によりＸ線をキャリアである電荷情報に変換する。Ｘ線感応型半導体３４は、この発明における変換層に相当する。

共通電極３Ｅ（図４および図５を参照）にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートバスライン３６の電圧を印加（または０Ｖに）することでスイッチング素子３２のゲートがＯＮされて、キャリア収集電極３３は、検出面側で入射したＸ線からＸ線感応型半導体３４を介して変換された電荷信号（キャリア）を、スイッチング素子３２のソースＳとドレインＤとを介してデータバスライン３９に読み出す。なお、スイッチング素子がＯＮされるまでは、電荷信号はキャパシタ（図示省略）で暫定的に蓄積されて記憶される。各データバスライン３９に読み出された電荷信号を増幅器３８で増幅して、マルチプレクサ３７で１つの電荷信号にまとめて出力する。出力された電荷信号をＡ／Ｄ変換器４０でディジタル化してＸ線検出信号として出力する。このように、薄膜トランジスタＴＦＴやキャリア収集電極３３やデータバスライン３９によってＸ線検出信号を読み出し、薄膜トランジスタＴＦＴやキャリア収集電極３３やデータバスライン３９は、この発明における読み出し回路に相当する。

ＦＰＤユニット３は、図４に示すように、Ｘ線感応型半導体３４、薄膜トランジスタＴＦＴやキャリア収集電極３３やデータバスライン３９などからなる読み出し回路などを有したＦＰＤ３Ａ（図２および図３を参照）と、筐体状の外枠３Ｂと、ペルチェ素子３Ｃと、温度センサ３Ｄと、共通電極３Ｅと、信号処理用回路３Ｆと、フレキシブル基板３Ｇとを備えている。ＦＰＤ３Ａとともに、ペルチェ素子３Ｃや温度センサ３Ｄや共通電極３Ｅや信号処理用回路３Ｆやフレキシブル基板３Ｇを外枠３Ｂ内に収容している。そして、外枠３Ｂ内にＦＰＤ３Ａなどを収容する際にはエポキシ樹脂などで封入してモールド封止する。ペルチェ素子３Ｃを、ＦＰＤ３Ａのガラス基板３１（図２を参照）の下面（Ｘ線入射面とは逆側の面）に４隅に配設し、温度センサ３Ｄを、ガラス基板３１の下面のいずれか（例えば中央部分）に配設する。外枠３Ｂは、この発明における筐体に相当する。

フレキシブル基板３Ｇは、上述したゲートバスライン３６やデータバスライン３９（図２および図３を参照）に電気的に接続されており、ＦＰＤ３Ａの下面（Ｘ線入射面とは逆側の面）に配設された信号処理用回路３Ｆに電気的に接続されている。この信号処理用回路３Ｆは、上述したゲートドライバ３５や増幅器３８やマルチプレクサ３７やＡ／Ｄ変換器４０（図３を参照）を搭載している。

共通電極３Ｅに印加するバイアス電圧は、数千ボルト〜数万ボルト程度の直流高電圧であって、図５に示すように、ＦＰＤ制御部５の高電圧供給用電源５Ａから供給される。一方、信号処理用回路３Ｆ（図４を参照）に搭載されたゲートドライバ３５や増幅器３８やマルチプレクサ３７やＡ／Ｄ変換器４０を駆動させる駆動電圧は、数ボルト〜数十ボルト程度の直流低電圧であって、図５に示すように、ＦＰＤ制御部５の駆動用低電圧電源５Ｂから供給される。

装置使用時に移行、あるいは装置不使用時に移行する際には、特開２００５−１１８３４８号公報のように各電圧を駆動させる。先ず、駆動用低電圧電源５Ｂから電圧をＯＮにして、ゲートドライバ３５や増幅器３８やマルチプレクサ３７やＡ／Ｄ変換器４０を駆動させる。ゲートドライバ３５や増幅器３８やマルチプレクサ３７やＡ／Ｄ変換器４０が安定したら、高電圧供給用電源５Ａから電圧をＯＮにして共通電極３Ｅにバイアス電圧を印加して、装置不使用状態から装置使用状態へ移行する。

逆に、装置使用状態から装置不使用状態へ移行する際には、先ず、高電圧供給用電源５Ａから電圧をＯＦＦにして共通電極３Ｅへのバイアス電圧の印加を停止し、その後、駆動用低電圧電源５Ｂから電圧をＯＦＦにしてゲートドライバ３５や増幅器３８やマルチプレクサ３７やＡ／Ｄ変換器４０の駆動を停止する。

なお、図面の図示の便宜上、図１では、第２コントローラ１３を、ペルチェ素子３Ｃや温度センサ３Ｄとは別枠で図示したが、実際には、図８に示すように、ペルチェ素子３Ｃや温度センサ３Ｄとともに、第２コントローラ１３を断熱材で構成された外枠Ｆで収容するのが好ましい。断熱材で構成された外枠Ｆでペルチェ素子３Ｃや温度センサ３Ｄや第２コントローラ１３を収容することで、外枠Ｆよりも外部からの熱的な影響（外乱）を第２コントローラ１３に及ぼさずに、第２コントローラ１３による保温制御を正確に実施することができる。外枠Ｆは、この発明における外枠に相当する。

ペルチェ素子３Ｃは、図６に示すように金属とＮ型半導体とＰ型半導体とで構成し、バイアス電圧を印加する。このバイアス電圧の印加に応じてペルチェ素子は吸熱あるいは放熱を行って、ＦＰＤ３Ａを保温する。温度センサ３Ｄは、抵抗素子などからなるサーミスタで構成され、ＦＰＤ３Ａの温度を測定する。予め設定されたＦＰＤ３Ａの所定範囲よりも温度が上回った場合には、温度センサ３ＤからのＦＰＤ３Ａの温度測定結果（この場合にはＦＰＤ３Ａの所定範囲よりも上回った温度）に基づいて、第２コントローラ１３は外枠Ｆの温度を下げるようにペルチェ素子３Ｃを操作する。逆に、予め設定されたＦＰＤ３Ａの所定範囲よりも温度が下回った場合には、温度センサ３ＤからのＦＰＤ３Ａの温度測定結果（この場合にはＦＰＤ３Ａの所定範囲よりも下回った温度）に基づいて、第２コントローラ１３は外枠Ｆの温度を上げるようにペルチェ素子３Ｃを操作する。これによって、装置使用時および装置不使用時の如何に関わらず、ペルチェ素子３Ｃは、ＦＰＤ３Ａを含むＦＰＤユニット３の温度を所定範囲に維持して保温することになる。

以上のように構成された本実施例によれば、装置不使用時にフラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３Ａを含むフラットパネル型Ｘ線検出ユニット（ＦＰＤユニット）３の温度を所定範囲に維持して保温するペルチェ素子３Ｃを備えることで、装置不使用に起因したＦＰＤユニット３の所定範囲外の温度変化を防止することができ、その結果、ＦＰＤ３Ａを含んだＦＰＤユニット３を安定に保温することができる。

本実施例では、ＦＰＤユニット３は、Ｘ線の入射によりＸ線をキャリアである電荷情報に変換するＸ線感応型半導体３４や、そのＸ線感応型半導体３４で変換されて電荷信号（Ｘ線検出信号）として読み出されたＸ線感応型半導体３４、薄膜トランジスタＴＦＴやキャリア収集電極３３やデータバスライン３９などからなる読み出し回路などを有したＦＰＤ３Ａと、それを収容する外枠３Ｂとを備え、ＦＰＤ３Ａとともにペルチェ素子３Ｃなどを外枠３Ｂ内に収容している。このように収容することで、装置不使用に起因したＦＰＤ３Ａの所定範囲外の温度変化を外枠３Ｂ内で防止することができ、その結果、ＦＰＤユニット３の外枠３Ｂ内に収容されたＦＰＤ３Ａを安定に保温することができる。

本実施例では、エネルギーの使用過剰を防止し、かつペルチェ素子３Ｃを装置不使用時に機能させるために、装置を駆動するための電力供給の制御とは独立してペルチェ素子３Ｃへの電力供給の制御を行っている。このような制御を行うことで、装置を駆動するための電力供給を装置不使用時に停止したとしても、ペルチェ素子３Ｃへの電力供給を引き続いて行うことができる。したがって、装置を駆動するための電力供給の装置不使用時における停止によって、エネルギーの使用過剰を防止することができ、装置不使用時におけるペルチェ素子３Ｃへの電力供給によって、ペルチェ素子３Ｃを装置不使用時でも機能させることができる。

この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。

（１）上述した実施例では、図１に示すようなＸ線透視撮影装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばＣ型アームに配設されたＸ線透視撮影装置にも適用してもよい。また、この発明は、Ｘ線ＣＴ装置にも適用してもよい。

（２）上述した実施例では、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３Ａを例に採って説明したが、通常において用いられるＸ線検出器であれば、この発明は適用することができる。

（３）上述した実施例では、Ｘ線を検出するＸ線検出器を例に採って説明したが、この発明は、ＥＣＴ（Emission Computed Tomography）装置のように放射性同位元素（ＲＩ）を投与された被検体から放射されるγ線を検出するγ線検出器に例示されるように、放射線を検出する放射線検出器であれば特に限定されない。同様に、この発明は、上述したＥＣＴ装置に例示されるように、放射線を検出して撮像を行う装置であれば特に限定されない。

（４）上述した実施例では、ＦＰＤ３Ａは、放射線（実施例ではＸ線）感応型の半導体（実施例ではＸ線感応型半導体３４）を備え、入射した放射線を放射線感応型の半導体で直接的に電荷信号に変換する直接変換型の検出器であったが、放射線感応型の替わりに光感応型の半導体を備えるとともにシンチレータを備え、入射した放射線をシンチレータで光に変換し、変換された光を光感応型の半導体で電荷信号に変換する間接変換型の検出器であってもよい。

（５）上述した実施例では、第１電力源１２および第３電力源１６は互いに独立してそれぞれ電力を供給するように構成されていたが、第１電力源１２および第３電力源１６を同一の電力源で構成してもよい。また、第３電力源１６は、第１電力源１２と同様に装置不使用時には電源をＯＦＦにしたが、第３電力源１６は、第２電力源１６と同様に装置不使用時でも電源をＯＮにしてもよい。

（６）上述した実施例では、各電力源１２，１４，１６は互いに独立してそれぞれ電力を供給するように構成されていたが、同一の電力源でそれぞれ構成し、装置使用時には装置不使用時よりも高い電力を供給し、装置不使用時には低い電力を供給するように、電力源の電力を切り換えてもよい。すなわち、装置を駆動するための電力供給の制御とは連動してペルチェ素子３Ｃなどに代表される保温手段への電力供給の制御を行ってもよい。

（７）上述した実施例では、保温手段としてペルチェ素子を例に採って説明したが、放熱を単独で行う放熱素子と吸熱を単独で行う吸熱素子とで保温手段を構成してもよいし、装置不使用時にはＦＰＤ３Ａの温度が低下することから、加熱する手段（ヒータなど）のみで保温手段を構成してもよい。なお、装置使用時にはＦＰＤ３Ａの温度が上昇することから、装置使用時にもＦＰＤ３Ａを保温する場合には、実施例のように、加熱する手段と冷却する手段とで保温手段を構成するのがより好ましい。このように、通常において用いられる保温手段であれば、特に限定されない。

（８）上述した実施例では、ＦＰＤ３Ａとともにペルチェ素子３Ｃに代表される保温手段を外枠３Ｂに代表される筐体内に収容したが、図７に示すように保温手段（ペルチェ素子３Ｃ）を収容してもよい。図７に示すように、天板１の下面（Ｘ線検出面とは逆側の面）にＦＰＤユニット３を収容する収容スペースＳＰを設ける。この収容スペースＳＰ内にＦＰＤユニット３とともにペルチェ素子３Ｃを収容することで、その収容スペースＳＰを保温する。収容スペースＳＰを保温することでペルチェ素子３Ｃを含んだ収容スペースＳＰを保温手段として構成する。このように構成することで、収容スペースＳＰとともにＦＰＤユニット３を安定に保温することができる。なお、図７のように、ペルチェ素子３ＣをＦＰＤユニット３の外部に、かつ収容スペースＳＰの内部に配設してもよいし、実施例と組み合わせてペルチェ素子３ＣをＦＰＤユニット３の内部に、かつ収容スペースＳＰの内部に配設してもよい。また、ペルチェ素子３ＣをＦＰＤユニット３の外部に、かつ収容スペースＳＰの内部に配設するとともに、別のペルチェ素子３ＣをＦＰＤユニット３の内部に、かつ収容スペースＳＰの内部に配設してもよい。

以上のように、この発明は、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）を備えた放射線撮像装置に適している。

Claims (10)

1. 放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、装置不使用時に前記放射線検出手段の温度を所定範囲に維持して保温する保温手段とを備えることを特徴とする放射線撮像装置。
2. 請求項１に記載の放射線撮像装置において、前記放射線検出手段は、放射線の入射により放射線の情報を電荷情報に変換する変換層、その変換層で変換された電荷情報を読み出す読み出し回路を有した放射線検出器と、それを収容する筐体とを備え、前記放射線検出器とともに前記保温手段を前記筐体内に収容することを特徴とする放射線撮像装置。
3. 請求項１に記載の放射線撮像装置において、前記装置は、前記放射線検出手段を収容する収容スペースを設け、その収容スペースを保温することで前記保温手段を構成することを特徴とする放射線撮像装置。
4. 請求項１に記載の放射線撮像装置において、前記装置を駆動するための電力供給の制御とは独立して前記保温手段への電力供給の制御を行うことを特徴とする放射線撮像装置。
5. 請求項４に記載の放射線撮像装置において、少なくとも２つの電力源を備え、各電力源は互いに独立してそれぞれ電力を供給するように構成されており、一方の電力源は装置を駆動するための電力源であるとともに、他方の電力源は前記保温手段への電力供給を行うための電力源であって、装置を駆動するための電力源は装置不使用時に電力供給を行わずに、装置使用時に電力供給を行い、保温手段への電力供給を行うための電力源は、装置使用時および装置不使用時でも電力供給を行うことを特徴とする放射線撮像装置。
6. 請求項５に記載の放射線撮像装置において、前記装置を駆動するための電力源は、前記放射線照射手段の電圧を発生させる電圧発生手段に電力を供給する電力源と、それ以外の装置を駆動するための電力源とに区分され、各電力源は互いに独立してそれぞれ電力を供給するように構成されていることを特徴とする放射線撮像装置。
7. 請求項４に記載の放射線撮像装置において、少なくとも２つの制御手段を備え、一方の制御手段は前記装置を駆動するための電力供給の制御を行う制御手段であるとともに、他方の制御手段は前記保温手段への電力供給の制御を行う制御手段であることを特徴とする放射線撮像装置。
8. 請求項４に記載の放射線撮像装置において、少なくとも２つの電力源と少なくとも２つの制御手段を備え、各電力源は互いに独立してそれぞれ電力を供給するように構成されており、一方の電力源は装置を駆動するための電力源であるとともに、他方の電力源は前記保温手段への電力供給を行うための電力源であって、装置を駆動するための電力源は装置不使用時に電力供給を行わずに、装置使用時に電力供給を行い、保温手段への電力供給を行うための電力源は、装置使用時および装置不使用時でも電力供給を行い、一方の制御手段は前記装置を駆動するための電力供給の制御を行う制御手段であるとともに、他方の制御手段は前記保温手段への電力供給の制御を行う制御手段であって、前記保温手段への電力供給を行うための電力源と前記保温手段への電力供給の制御を行う制御手段とを断熱材で構成された外枠で収容することを特徴とする放射線撮像装置。
9. 請求項１に記載の放射線撮像装置において、前記保温手段は、加熱および冷却をともに行うように構成することを特徴とする放射線撮像装置。
10. 請求項９に記載の放射線撮像装置において、前記保温手段は、ペルチェ素子であることを特徴とする放射線撮像装置。

Images