JPWO2005062100A1 - Optical element holding device, lens barrel, exposure apparatus, and device manufacturing method - Google Patents

Optical element holding device, lens barrel, exposure apparatus, and device manufacturing method Download PDF

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Abstract

光学素子の姿勢を細かく調整することのできるとともに、内部の気密性を高く保つことのできる光学素子保持装置を提供する。光学素子保持装置は、枠部材(41)と、該枠部材の内側に設けられ、光学素子を保持するレンズ枠体とを備える。枠部材に設けられた変位モジュール(82)は、光学素子の位置をレンズ枠体を介して調整する。Oリング(88,90)が、変位モジュールと枠部材との間に設けられている。Provided is an optical element holding device capable of finely adjusting the attitude of an optical element and maintaining high internal airtightness. The optical element holding device includes a frame member (41) and a lens frame body that is provided inside the frame member and holds the optical element. The displacement module (82) provided on the frame member adjusts the position of the optical element via the lens frame. An O-ring (88, 90) is provided between the displacement module and the frame member.

Description

本発明は、例えば半導体素子、液晶表示素子、撮像素子、薄膜磁気ヘッド等のデバイス、あるいはレチクル、フォトマスク等のマスクの製造プロセスにおけるリソグラフィ工程で使用される露光装置の光学素子を保持する光学素子保持装置に関する。また、本発明は、その光学素子保持装置を備えた鏡筒及び露光装置に関する。さらに、本発明は、その露光装置を用いたデバイスの製造方法に関する。   The present invention relates to an optical element for holding an optical element of an exposure apparatus used in a lithography process in a manufacturing process of a device such as a semiconductor element, a liquid crystal display element, an imaging element, a thin film magnetic head, or a mask such as a reticle or a photomask. The present invention relates to a holding device. The present invention also relates to a lens barrel and an exposure apparatus provided with the optical element holding device. Furthermore, the present invention relates to a device manufacturing method using the exposure apparatus.

例えば、特許文献1に示すように、光学素子を保持するレンズ枠体と、そのレンズ枠体を、等間隔で配置されたフレクシャ部材を介して支持する枠体とを備える光学素子保持装置が知られている。フレクシャ部材は、レンズ枠体に接続される接続ブロックと、接続ブロックを支持し、かつ枠体に固定されるフレクシャ固定部とを備える。このフレクシャ部材によって光学素子は、光学素子の略中心を原点とする極座標系内で、光学素子の径方向、周方向、光軸方向の各軸に沿った移動及び回転が可能となる。すなわち、光学素子は、6つの運動自由度が確保された状態、つまりキネマチックに保持されている。   For example, as shown in Patent Document 1, there is known an optical element holding device including a lens frame that holds an optical element and a frame that supports the lens frame via flexure members arranged at equal intervals. It has been. The flexure member includes a connection block connected to the lens frame, and a flexure fixing portion that supports the connection block and is fixed to the frame. The flexure member enables the optical element to move and rotate along each of the optical element in the radial direction, the circumferential direction, and the optical axis direction in a polar coordinate system with the approximate center of the optical element as the origin. That is, the optical element is held in a state where six degrees of freedom of movement are secured, that is, kinematically.

ところで、近年における半導体素子の著しい高度集積化に伴って、配線のパターンがますます微細化してきている。このため、特に半導体装置製造用の露光装置では、波面収差及びディストーションの極めて少ない投影光学系が要求されるようになってきており、鏡筒の内部に収容される各光学素子の相対位置を細かく制御する必要がある。   By the way, with the recent high integration of semiconductor devices, wiring patterns are becoming increasingly finer. For this reason, particularly in an exposure apparatus for manufacturing a semiconductor device, a projection optical system with extremely small wavefront aberration and distortion is required, and the relative position of each optical element housed in the lens barrel is finely defined. Need to control.

200nm以下の極めて短波長の露光光を使用するような場合には、その露光光が通過する鏡筒内に、例えば水又は酸素などの吸光物質が存在すると、露光光が大きく減衰される。露光装置内には、例えば各種電動機器への給電及びセンサとの間での信号通信のために、被覆線が使用されている。これらの被覆線からは極微量の有機物質が徐々に揮散しており、この有機物質は、汚染物質となり得る。   When exposure light having an extremely short wavelength of 200 nm or less is used, exposure light is greatly attenuated if a light-absorbing substance such as water or oxygen is present in the lens barrel through which the exposure light passes. In the exposure apparatus, for example, a covered wire is used for power supply to various electric devices and signal communication with a sensor. A very small amount of organic material is gradually volatilized from these covered wires, and this organic material can become a pollutant.

このため、鏡筒の内部のガスを窒素又は希ガス等の不活性ガスで置換する必要がある。しかしながら、鏡筒には、光学素子の位置調整等のため開口部が多く形成されていることがある。また、1つまたは複数の光学素子を保持する多数の枠体を積層して、鏡筒を構成する場合には、各枠体の接合部分を介して、鏡筒外の気体が鏡筒内に侵入する可能性があった。
米国特許出願公開第2002/0163741号明細書
For this reason, it is necessary to replace the gas inside the lens barrel with an inert gas such as nitrogen or a rare gas. However, the lens barrel may have many openings for adjusting the position of the optical element. When a large number of frames holding one or a plurality of optical elements are stacked to form a lens barrel, the gas outside the lens barrel enters the lens barrel via the joint portion of each frame. There was a possibility of intrusion.
US Patent Application Publication No. 2002/0163441

本発明は、このような従来の技術に存在する問題点に着目してなされたものである。その目的としては、光学素子の姿勢を細かく調整しつつ、内部の気密性を高く保つことのできる光学素子保持装置及び鏡筒を提供することにある。   The present invention has been made paying attention to such problems existing in the prior art. An object of the invention is to provide an optical element holding device and a lens barrel that can keep the internal airtightness high while finely adjusting the posture of the optical element.

また、本発明のその他の目的は、露光精度が向上された露光装置を提供することにある。
さらに、本発明のその上の目的は、高集積度のデバイスの歩留まりを向上することのできるデバイスの製造方法を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide an exposure apparatus with improved exposure accuracy.
It is a further object of the present invention to provide a device manufacturing method capable of improving the yield of highly integrated devices.

本発明の第1の態様は、枠部材と、枠部材の内側に設けられ、光学素子を保持する保持部材とを備える光学素子保持装置において、枠部材に設けられ、光学素子の位置を保持部材を介して調整する調整部材と、調整部材と枠部材との間に設けられた第1のシール部材とを備える光学素子保持装置を特徴とする。   A first aspect of the present invention is an optical element holding device including a frame member and a holding member that is provided inside the frame member and holds the optical element. An optical element holding device including an adjusting member that is adjusted via the first sealing member and a first seal member that is provided between the adjusting member and the frame member.

本発明の第1の態様において、枠部材は、他の枠部材と積層され、他の枠部材に対して接合する接合部を有し、枠部材は、他の枠部材と接合部との間に設けられた第2のシール部材を備えてもよい。さらに、第2のシール部材が、光学素子の光軸を中心とする円に沿って配置されるOリングを含んでもよい。さらに、Oリングが、接合部に密着され、弾性変形可能な中空構造を有してもよい。   In the first aspect of the present invention, the frame member is laminated with another frame member and has a joint portion that is joined to the other frame member, and the frame member is between the other frame member and the joint portion. A second seal member may be provided. Furthermore, the second seal member may include an O-ring arranged along a circle centered on the optical axis of the optical element. Furthermore, the O-ring may have a hollow structure that is in close contact with the joint and is elastically deformable.

本発明の第1の態様において、枠部材は、開口部を有し、調整部材は、光学素子の位置を変位させる変位機構を有し、変位機構は、枠部材の開口部内に、変位可能に収容されてもよい。さらに、変位機構は、開口部内に並んで配置される第1の調整部品と第2の調整部品とを有し、第1の調整部品を開口部から取り外した際、第2の調整部品が開口部内に留置されてもよい。さらに、第1の調整部品は、異なる複数の第1の調整部品の一つであり、第1の調整部品を交換することにより、光学素子の変位量が調整されてもよい。さらに、第1のシール部材は、第2の調整部品と、開口部の内周面との間に配置されてもよい。さらに、第1の調整部品は、光学素子の変位量を粗調整する粗調整部品と、光学素子の変位量を微調整する微調整部品とを含んでもよい。   In the first aspect of the present invention, the frame member has an opening, the adjustment member has a displacement mechanism for displacing the position of the optical element, and the displacement mechanism can be displaced in the opening of the frame member. It may be accommodated. Furthermore, the displacement mechanism has a first adjustment component and a second adjustment component arranged side by side in the opening, and when the first adjustment component is removed from the opening, the second adjustment component opens. It may be placed in the department. Furthermore, the first adjustment component is one of a plurality of different first adjustment components, and the displacement amount of the optical element may be adjusted by replacing the first adjustment component. Furthermore, the first seal member may be disposed between the second adjustment component and the inner peripheral surface of the opening. Furthermore, the first adjustment component may include a coarse adjustment component that coarsely adjusts the amount of displacement of the optical element and a fine adjustment component that finely adjusts the amount of displacement of the optical element.

本発明の第1の態様において、光学素子保持装置は、調整部材を収容する筒状体を備え、第1のシール部材は、調整部材と筒状体との間に設けられたシール部を含んでもよい。
本発明の第1の態様において、光学素子保持装置は、変位機構の少なくとも一部を取り外したとき、保持部材を所定位置に復帰させる付勢部材を備えてもよい。
In the first aspect of the present invention, the optical element holding device includes a cylindrical body that accommodates the adjustment member, and the first seal member includes a seal portion provided between the adjustment member and the cylindrical body. But you can.
In the first aspect of the present invention, the optical element holding device may include an urging member that returns the holding member to a predetermined position when at least a part of the displacement mechanism is removed.

本発明の第2の態様は、少なくとも1つの光学素子を収容する鏡筒において、光学素子の少なくとも1つを保持する本発明の第1の態様の光学素子保持装置を備える鏡筒を特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a lens barrel that includes the optical element holding device according to the first aspect of the present invention that holds at least one of the optical elements in a lens barrel that houses at least one optical element. .

本発明の第2の態様において、光学素子は、マスク上に形成された所定のパターンの像を基板上に投影する投影光学系を構成する複数の光学素子の一つであってもよい。
本発明の第3の態様は、マスク上に形成された所定のパターンの像を基板上に転写する露光装置において、所定のパターンの像を基板上に転写するための本発明の第2の態様の鏡筒を備える露光装置を特徴とする。
In the second aspect of the present invention, the optical element may be one of a plurality of optical elements constituting a projection optical system that projects an image of a predetermined pattern formed on the mask onto the substrate.
According to a third aspect of the present invention, in an exposure apparatus for transferring an image of a predetermined pattern formed on a mask onto a substrate, the second aspect of the present invention for transferring the image of the predetermined pattern onto the substrate. An exposure apparatus having a lens barrel is characterized.

本発明の第4の態様は、本発明の第3の態様の露光装置を用いて露光を行うリソグラフィ工程を備えるデバイスの製造方法を特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a device manufacturing method including a lithography process for performing exposure using the exposure apparatus according to the third aspect of the present invention.

本発明の露光装置の一実施形態を示す概略構成図。1 is a schematic block diagram showing an embodiment of an exposure apparatus of the present invention. 図1の光学素子保持装置を示す斜視図。The perspective view which shows the optical element holding | maintenance apparatus of FIG. 図1の光学素子保持装置を示す平面図。The top view which shows the optical element holding | maintenance apparatus of FIG. 図3の4−4線に沿う断面図。Sectional drawing which follows the 4-4 line of FIG. 図2の枠部材の一対のアームを中心に示す拡大平面図。FIG. 3 is an enlarged plan view centered on a pair of arms of the frame member of FIG. 2. 図2の枠部材の一対のアームをさらに拡大して示す平面図。The top view which expands and further shows a pair of arm of the frame member of FIG. 図5の7−7線に沿う断面図。Sectional drawing which follows the 7-7 line | wire of FIG. 図2の枠部材における光学素子の光軸との直交平面での断面図。Sectional drawing in a plane orthogonal to the optical axis of the optical element in the frame member of FIG. 変更例の変位モジュールを示す断面図。Sectional drawing which shows the displacement module of the example of a change. デバイスの製造例のフローチャート。The flowchart of the manufacture example of a device. 半導体デバイスの場合における図10の基板処理に関する詳細なフローチャート。11 is a detailed flowchart regarding the substrate processing of FIG. 10 in the case of a semiconductor device.

以下に、本発明の露光装置及び鏡筒、光学素子保持装置を、半導体素子製造用の露光装置及びその投影光学系を収容する鏡筒、そして投影光学系の一部のレンズを保持する光学素子保持装置に具体化した一実施形態について図1〜図8に基づいて説明する。   The exposure apparatus, lens barrel, and optical element holding apparatus of the present invention will be described below. An exposure apparatus for manufacturing a semiconductor element and a lens barrel that houses the projection optical system thereof, and an optical element that holds a part of the lenses of the projection optical system. An embodiment embodied in a holding device will be described with reference to FIGS.

図1は、露光装置31の概略構成を、その投影光学系35を中心として示している。図1に示すように、この実施形態の露光装置31は、光源32と、照明光学系33と、マスクとしてのレチクルRtを保持するレチクルステージ34と、投影光学系35と、基板としてのウエハWを保持するウエハステージ36とを備える。   FIG. 1 shows a schematic configuration of the exposure apparatus 31 with the projection optical system 35 as the center. As shown in FIG. 1, an exposure apparatus 31 of this embodiment includes a light source 32, an illumination optical system 33, a reticle stage 34 that holds a reticle Rt as a mask, a projection optical system 35, and a wafer W as a substrate. And a wafer stage 36 for holding the wafer.

光源32は、例えば波長193nmのArFエキシマレーザ、あるいは波長157nmのFレーザを発振する。照明光学系33は、図示しないフライアイレンズ及びロッドレンズ等のオプティカルインテグレータ、リレーレンズ、コンデンサレンズ等の各種レンズ系及び開口絞りを含む。光源32から出射される露光光ELが、この照明光学系33を通過することにより、レチクルRt上のパターンを均一に照明するように調整される。The light source 32 oscillates, for example, an ArF excimer laser with a wavelength of 193 nm or an F 2 laser with a wavelength of 157 nm. The illumination optical system 33 includes an optical integrator (not shown) such as a fly-eye lens and a rod lens, various lens systems such as a relay lens and a condenser lens, and an aperture stop. The exposure light EL emitted from the light source 32 is adjusted so as to uniformly illuminate the pattern on the reticle Rt by passing through the illumination optical system 33.

レチクルステージ34は、照明光学系33と、後述する投影光学系35との間において、そのレチクルRtの載置面が投影光学系35の光軸方向とほぼ直交するように配置されている。投影光学系35は、互いの光軸が一致するように配列された複数のレンズ等の光学素子37を含む。この投影光学系35は、各光学素子37が光学素子保持装置38によりほぼ水平(いわゆる横置きタイプ)に保持された状態で、鏡筒39内に収容されている。この鏡筒39は、複数の鏡筒モジュール39aが積層された分割鏡筒構造を有している。   The reticle stage 34 is arranged between the illumination optical system 33 and a projection optical system 35 described later so that the mounting surface of the reticle Rt is substantially orthogonal to the optical axis direction of the projection optical system 35. The projection optical system 35 includes optical elements 37 such as a plurality of lenses arranged so that their optical axes coincide with each other. The projection optical system 35 is housed in a lens barrel 39 in a state where each optical element 37 is held almost horizontally (so-called horizontal type) by an optical element holding device 38. The lens barrel 39 has a divided lens barrel structure in which a plurality of lens barrel modules 39a are stacked.

ウエハステージ36は、投影光学系35の像面側(露光光ELの射出側)において、ウエハWの載置面が投影光学系35の光軸方向と交差するように配置されている。露光光ELにて照明されたレチクルRt上のパターンの像は、投影光学系35を通して所定の縮小倍率に縮小され、ウエハステージ36上のウエハWに転写される。   The wafer stage 36 is disposed on the image plane side of the projection optical system 35 (exposing side of the exposure light EL) so that the mounting surface of the wafer W intersects the optical axis direction of the projection optical system 35. The pattern image on the reticle Rt illuminated with the exposure light EL is reduced to a predetermined reduction magnification through the projection optical system 35 and transferred to the wafer W on the wafer stage 36.

次に、光学素子保持装置38の詳細構成について説明する。
図2は、光学素子保持装置38を示す斜視図であり、図3は、光学素子保持装置38の平面図であり、図4は、図3の4−4線における断面図である。光学素子37は、合成石英、蛍石等の所定以上の破壊強度を有する硝材からなり、光学素子37の周縁部には、図4に示すように、フランジ37aが形成されている。図2に示すように、光学素子保持装置38は、積層される他の鏡筒モジュール39aとの接合部としての役割を有する締結部40を有する枠部材41と、支持部材42を介して光学素子37を保持する保持部材としての役割を有するレンズ枠体43とを備える。
Next, the detailed configuration of the optical element holding device 38 will be described.
2 is a perspective view showing the optical element holding device 38, FIG. 3 is a plan view of the optical element holding device 38, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line 4-4 of FIG. The optical element 37 is made of a glass material having a predetermined or higher breaking strength such as synthetic quartz or fluorite, and a flange 37a is formed on the periphery of the optical element 37 as shown in FIG. As shown in FIG. 2, the optical element holding device 38 includes a frame member 41 having a fastening portion 40 having a role as a joint portion with another stacked lens barrel module 39 a, and an optical element via a support member 42. And a lens frame 43 having a role as a holding member for holding 37.

図2及び図3に示すように、枠部材41とレンズ枠体43とは、ともに略円環状に形成されている。図4に示すように、レンズ枠体43は、枠部材41の内部(後述するインナリング51)に取り付けられ、その枠部材41の内周面上に形成された段部44に対し複数のボルト45により固定されている。図3に示すように、そのレンズ枠体43上には、等角度間隔をおいて3つの支持部材42が設けられている。   As shown in FIGS. 2 and 3, the frame member 41 and the lens frame 43 are both formed in a substantially annular shape. As shown in FIG. 4, the lens frame 43 is attached to the inside of the frame member 41 (an inner ring 51 to be described later), and a plurality of bolts are attached to the stepped portion 44 formed on the inner peripheral surface of the frame member 41. 45 is fixed. As shown in FIG. 3, three support members 42 are provided on the lens frame 43 at equal angular intervals.

この支持部材42は、光学素子37のフランジ37aを挟持する基台部材46(図4参照)と、クランプ部材47とを含む。この基台部材46は、支持部材42の外部の装置から支持部材42に伝達され、光学素子37の光学面の状態に影響を与える要因(例えば露光装置31の本体、枠部材41の締結部40等の微小な表面荒れ、表面うねり等)を吸収するためのフレクシャ構造を有する。このため、光学素子37を支持部材42を介してレンズ枠体43に保持した状態では、そのレンズ枠体43を枠部材41を介して外部の装置に装着したとしても光学素子37の光学面が良好な状態に保たれる。   The support member 42 includes a base member 46 (see FIG. 4) that holds the flange 37 a of the optical element 37, and a clamp member 47. The base member 46 is transmitted from the device outside the support member 42 to the support member 42, and causes factors that affect the state of the optical surface of the optical element 37 (for example, the main body of the exposure device 31, the fastening portion 40 of the frame member 41). A flexure structure for absorbing fine surface roughness such as surface waviness and the like. Therefore, in a state where the optical element 37 is held on the lens frame 43 via the support member 42, the optical surface of the optical element 37 remains even if the lens frame 43 is attached to an external device via the frame member 41. Keep in good condition.

枠部材41には、インナリング51と、アウタリング52と、アーム53a1,53a2,53b1,53b2,53c1,53c2と、レバー54と、支持リンク55とが形成されている。アーム53a1,53a2,53b1,53b2,53c1,53c2とレバー54とは、インナリング51の姿勢を調整することにより、光学素子37の姿勢を調節する姿勢調整機構50を形成している。これらインナリング51、アウタリング52、アーム53a1,53a2,53b1,53b2,53c1,53c2、レバー54及び支持リンク55は、ワイヤカット及び放電加工により一つの構造体からなる枠部材41に形成されている。インナリング51とアウタリング52とは、アーム53a1,53a2,53b1,53b2,53c1,53c2とレバー54と支持リンク55とを介して、相対移動可能に連結されている。   The frame member 41 is formed with an inner ring 51, an outer ring 52, arms 53 a 1, 53 a 2, 53 b 1, 53 b 2, 53 c 1, 53 c 2, a lever 54, and a support link 55. The arms 53 a 1, 53 a 2, 53 b 1, 53 b 2, 53 c 1, 53 c 2 and the lever 54 form a posture adjusting mechanism 50 that adjusts the posture of the optical element 37 by adjusting the posture of the inner ring 51. The inner ring 51, outer ring 52, arms 53 a 1, 53 a 2, 53 b 1, 53 b 2, 53 c 1, 53 c 2, lever 54 and support link 55 are formed on a frame member 41 made of one structure by wire cutting and electric discharge machining. . The inner ring 51 and the outer ring 52 are connected to each other through arms 53a1, 53a2, 53b1, 53b2, 53c1, 53c2, a lever 54, and a support link 55 so as to be relatively movable.

図5は、枠部材41における一対のアーム53a1,53a2とその周辺を示す拡大平面図である。図6は、そのアーム53a1をさらに拡大して示した平面図であり、図7は、図5の7−7線における断面図である。   FIG. 5 is an enlarged plan view showing the pair of arms 53a1 and 53a2 in the frame member 41 and the periphery thereof. 6 is an enlarged plan view showing the arm 53a1, and FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line 7-7 in FIG.

図3に示すように、枠部材41には、6つのアーム53a1,53a2,53b1,53b2,53c1,53c2が、3つの対をなすように設けられている。アーム53a1とアーム53a2とが第1のリンク機構53aを構成し、アーム53b1とアーム53b2とが第2のリンク機構53bを構成し、アーム53c1とアーム53c2とが第3のリンク機構53cを構成している。これら3個のリンク機構53a,53b,53cは、光学素子37の光軸AXを中心とする円の円周上において等角度間隔をおいて配置されている。   As shown in FIG. 3, the frame member 41 is provided with six arms 53a1, 53a2, 53b1, 53b2, 53c1, and 53c2 so as to form three pairs. The arm 53a1 and the arm 53a2 constitute a first link mechanism 53a, the arm 53b1 and the arm 53b2 constitute a second link mechanism 53b, and the arm 53c1 and the arm 53c2 constitute a third link mechanism 53c. ing. These three link mechanisms 53a, 53b, 53c are arranged at equal angular intervals on the circumference of a circle centered on the optical axis AX of the optical element 37.

なお、第1〜第3のリンク機構53a,53b,53cは同様の構成をなしているため、以下、第1のリンク機構53aを例にとって説明する。図5及び図6に示すように、各アーム53a1,53a2の第1端部には、一対の貫通孔56が形成され、その貫通孔56から一対のスリット57が延びている。一対の貫通孔56と一対のスリット57は素子側ピボット58を形成する。各アーム53a1,53a2の第1端部は、素子側ピボット58を介してインナリング51に対して回転可能に連結されている。各アーム53a1,53a2の第2端部には、一対の貫通孔56が形成され、その一対の貫通孔56と、一対の貫通孔56と連通する一対のスリット57とにより枠側ピボット59が形成される。各アーム53a1,53a2の第2端部は、枠側ピボット59を介してレバー54に対して回転可能に連結されている。   Since the first to third link mechanisms 53a, 53b, and 53c have the same configuration, the first link mechanism 53a will be described below as an example. As shown in FIGS. 5 and 6, a pair of through holes 56 are formed in the first ends of the arms 53 a 1 and 53 a 2, and a pair of slits 57 extend from the through holes 56. The pair of through holes 56 and the pair of slits 57 form an element side pivot 58. The first ends of the arms 53a1 and 53a2 are rotatably connected to the inner ring 51 via the element side pivot 58. A pair of through holes 56 are formed at the second end of each arm 53a1, 53a2, and a frame-side pivot 59 is formed by the pair of through holes 56 and a pair of slits 57 communicating with the pair of through holes 56. Is done. The second ends of the arms 53a1 and 53a2 are rotatably connected to the lever 54 via the frame side pivot 59.

図5の7−7線に沿った断面図である図7に示すように、枠部材41における光学素子37の光軸AXに対して略直交する第1面60には、素子側ピボット58と対応して、放電加工により掘り込まれた小開口凹部61aが形成されている。また、その第1面60には、枠側ピボット59と対応して、小開口凹部61aより大きな開口部を有する大開口凹部62aが形成されている。枠部材41において、第1面60と平行で第1面60と反対側の第2面63には、素子側ピボット58と対応して、第1面60に形成された大開口凹部62aと同様のサイズの大開口凹部62bが形成されている。また、その第2面63には、枠側ピボット59と対応して、第1面60に形成された小開口凹部61aと同様のサイズの小開口凹部61bが形成されている。   As shown in FIG. 7, which is a cross-sectional view taken along line 7-7 of FIG. 5, the first surface 60 of the frame member 41 that is substantially orthogonal to the optical axis AX of the optical element 37 has an element-side pivot 58 and Correspondingly, a small opening recess 61a dug by electric discharge machining is formed. A large opening recess 62 a having an opening larger than the small opening recess 61 a is formed on the first surface 60 corresponding to the frame side pivot 59. In the frame member 41, the second surface 63 parallel to the first surface 60 and opposite to the first surface 60 corresponds to the element side pivot 58 and is similar to the large opening recess 62 a formed in the first surface 60. A large opening recess 62b of the size is formed. Further, a small opening recess 61 b having the same size as the small opening recess 61 a formed in the first surface 60 is formed on the second surface 63 corresponding to the frame side pivot 59.

小開口凹部61a,61bは、第1面60または第2面63から浅く掘り込まれているのに対し、大開口凹部62a,62bは、第2面63または第1面60から深く掘り込まれている。従って、素子側ピボット58は、第1面60の近傍に首部として形成され、枠側ピボット59は、第2面63の近傍に首部として形成されている。このため、各アーム53a1,53a2は、枠部材41の厚さの範囲内において、光学素子37の光軸AXに対して傾斜した状態で配置された剛体と等価である。   The small opening recesses 61a and 61b are dug shallowly from the first surface 60 or the second surface 63, while the large opening recesses 62a and 62b are dug deeply from the second surface 63 or the first surface 60. ing. Accordingly, the element-side pivot 58 is formed as a neck near the first surface 60, and the frame-side pivot 59 is formed as a neck near the second surface 63. For this reason, each arm 53a1 and 53a2 is equivalent to a rigid body arranged in a state inclined with respect to the optical axis AX of the optical element 37 within the range of the thickness of the frame member 41.

そして、各アーム53a1,53a2の剛体が、光学素子37の光軸AXを中心とする円の接線を含みかつ光軸AXに平行な面に対して実質的に平行な接平面内に配置されている。また、アーム53a1の剛体とアーム53a2の剛体とは、光学素子37の光軸AXを含み、かつ接平面Ptと直交する放射平面Pr(つまり光学素子37の径方向に延びる第2平面)に対して、略対称に配置されている。   The rigid bodies of the arms 53a1 and 53a2 are arranged in a tangential plane that includes a tangent of a circle centered on the optical axis AX of the optical element 37 and is substantially parallel to a plane parallel to the optical axis AX. Yes. Further, the rigid body of the arm 53a1 and the rigid body of the arm 53a2 are with respect to a radiation plane Pr (that is, a second plane extending in the radial direction of the optical element 37) that includes the optical axis AX of the optical element 37 and is orthogonal to the tangential plane Pt. Are arranged approximately symmetrically.

図3に示すように、レバー54は、隣接するリンク機構53a,53b,53cの間に配置されており、略直方体状をなしている。図5に示すように、このレバー54の第1端部における枠部材41の内周に近接する部分は、枠側ピボット59を介して各アーム53a1,53a2の第2端部に回転可能に連結されている。また、このレバー54の第1端部における枠部材41の外周に近接する部分は、支点ピボット66を介してアウタリング52に対し回転可能に連結されている。この支点ピボット66は、枠部材41に形成された一対の貫通孔67と、各貫通孔67から延びる一対のスリット68とにより形成される。この支点ピボット66は、各アーム53a1,53a2の枠側ピボット59と素子側ピボット58とを結ぶ直線と直交する直線上に配置されている。   As shown in FIG. 3, the lever 54 is disposed between the adjacent link mechanisms 53a, 53b, and 53c, and has a substantially rectangular parallelepiped shape. As shown in FIG. 5, a portion of the first end of the lever 54 adjacent to the inner periphery of the frame member 41 is rotatably connected to the second end of each arm 53a1, 53a2 via a frame side pivot 59. Has been. A portion of the first end portion of the lever 54 adjacent to the outer periphery of the frame member 41 is rotatably connected to the outer ring 52 via a fulcrum pivot 66. The fulcrum pivot 66 is formed by a pair of through holes 67 formed in the frame member 41 and a pair of slits 68 extending from each through hole 67. The fulcrum pivot 66 is arranged on a straight line orthogonal to a straight line connecting the frame side pivot 59 and the element side pivot 58 of each arm 53a1, 53a2.

図8は、枠部材41を光学素子37の光軸AXに直交する平面で切った断面図である。図8に示すように、レバー54の第2端部の近傍には、支持リンク55が連結されている。この支持リンク55は、第1支持リンク69と第2支持リンク70とを備える。第1及び第2支持リンク69,70は、枠部材41に形成された複数対の貫通孔71と、貫通孔71から延びる複数のスリット72とにより形成される。   FIG. 8 is a cross-sectional view of the frame member 41 taken along a plane orthogonal to the optical axis AX of the optical element 37. As shown in FIG. 8, a support link 55 is connected in the vicinity of the second end of the lever 54. The support link 55 includes a first support link 69 and a second support link 70. The first and second support links 69 and 70 are formed by a plurality of pairs of through holes 71 formed in the frame member 41 and a plurality of slits 72 extending from the through holes 71.

第1支持リンク69の第1端部は、一対の貫通孔71と一対のスリット72とにより形成される先端側支持ピボット73を介して、レバー54の第2端部のへこみ部分に回転可能に連結されている。また、第1支持リンク69の第2端部は、一対の貫通孔71と一対のスリット72とにより形成される中間支持ピボット74を介して、第2支持リンク70の第1端部に回転可能に連結されている。この第2支持リンク70は、第1支持リンク69に対し、直角方向に延びるように配置されている。なお、先端側支持ピボット73と中間支持ピボット74と支点ピボット66とは、一直線上に並んでいる。   The first end portion of the first support link 69 is rotatable to the indented portion of the second end portion of the lever 54 via the front end side support pivot 73 formed by the pair of through holes 71 and the pair of slits 72. It is connected. The second end portion of the first support link 69 can rotate to the first end portion of the second support link 70 via an intermediate support pivot 74 formed by the pair of through holes 71 and the pair of slits 72. It is connected to. The second support link 70 is disposed so as to extend in a direction perpendicular to the first support link 69. The front end side support pivot 73, the intermediate support pivot 74, and the fulcrum pivot 66 are aligned on a straight line.

第2支持リンク70の第2端部は、一対の貫通孔71と一対のスリット72とにより形成される基端側支持ピボット75を介して、枠部材41に回転可能に連結されている。基端側支持ピボット75は、先端側支持ピボット73及び中間支持ピボット74に比べて肉厚に形成されている。   A second end of the second support link 70 is rotatably connected to the frame member 41 via a base end side support pivot 75 formed by a pair of through holes 71 and a pair of slits 72. The proximal end side support pivot 75 is formed thicker than the distal end side support pivot 73 and the intermediate support pivot 74.

図3に示すように、枠部材41の第1面60及び第2面63上において、レバー54の第2端部の近傍には、ばね収容凹部76が設けられている。このばね収容凹部76内において、レバー54の第2端部をアウタリング52に向かって付勢する一対の付勢ばね77が、レバー54とアウタリング52との間に掛け渡されている。   As shown in FIG. 3, a spring accommodating recess 76 is provided in the vicinity of the second end of the lever 54 on the first surface 60 and the second surface 63 of the frame member 41. In the spring accommodating recess 76, a pair of urging springs 77 that urge the second end of the lever 54 toward the outer ring 52 are stretched between the lever 54 and the outer ring 52.

図2に示すように、アウタリング52の外周縁から一対の締結部40が所定間隔をおいて突出している。この締結部40には、複数のボルト孔80が穿設されており、このボルト孔80を利用して、複数の鏡筒モジュール39aが図示しないボルトにより締結され、積層される。枠部材41の第1面60における締結部40の内周部分には、環状溝81が形成されている。この環状溝81には、複数の鏡筒モジュール39aが積層された状態で鏡筒39の内部の気密性を維持するための第2のシール部材としての中空Oリング81aが収容される。つまり、中空Oリング81aは、光学素子37の光軸AXを中心とする円に沿って配置されている。   As shown in FIG. 2, a pair of fastening portions 40 protrude from the outer peripheral edge of the outer ring 52 at a predetermined interval. A plurality of bolt holes 80 are formed in the fastening portion 40, and a plurality of lens barrel modules 39 a are fastened and stacked using bolts (not shown) using the bolt holes 80. An annular groove 81 is formed in the inner peripheral portion of the fastening portion 40 on the first surface 60 of the frame member 41. The annular groove 81 accommodates a hollow O-ring 81a as a second seal member for maintaining the airtightness inside the lens barrel 39 in a state where a plurality of lens barrel modules 39a are stacked. That is, the hollow O-ring 81a is disposed along a circle centered on the optical axis AX of the optical element 37.

図2に示すように、アウタリング52の側面には、付勢ばね77と対応する位置に、調整部材及び変位機構を構成する変位モジュール82を収容するための開口部としての変位モジュール取付孔83(図8参照)が透設されている。図8に示すように、変位モジュール82は、第2の調整部品としての変位ロッド84と、微調整部品としての役割を有する調整ワッシャ85と、粗調整部品としての役割を有する調整ボタン86と、調整ベース板87とを含む。調整ワッシャ85と調整ボタン86は、第1調整部品を形成する。   As shown in FIG. 2, a displacement module mounting hole 83 serving as an opening for accommodating a displacement module 82 constituting an adjustment member and a displacement mechanism is provided on a side surface of the outer ring 52 at a position corresponding to the biasing spring 77. (See FIG. 8) is provided. As shown in FIG. 8, the displacement module 82 includes a displacement rod 84 as a second adjustment component, an adjustment washer 85 having a role as a fine adjustment component, an adjustment button 86 having a role as a coarse adjustment component, And an adjustment base plate 87. The adjustment washer 85 and the adjustment button 86 form a first adjustment part.

変位モジュール取付孔83内には、その外周面上に一対の第1のシール部材としてのOリング88が装着された変位ロッドハウジング89(筒状体)が挿嵌されている。変位ロッド84は、第1のシール部材及びシール部としてのOリング90を介して摺動可能に変位ロッドハウジング89内に挿入されている。これらのOリング88,90により、枠部材41の内部の気密性が維持される。変位ロッド84は、平面状の両端面を有する略円柱状に形成されている。レバー54の第2端部の近傍には、スタッドボルト91を介して、球面ボス92が取付けられており、変位ロッド84の先端面は、その球面ボス92に当接している。   In the displacement module mounting hole 83, a displacement rod housing 89 (cylindrical body) in which an O-ring 88 as a pair of first seal members is mounted is fitted on the outer peripheral surface thereof. The displacement rod 84 is slidably inserted into the displacement rod housing 89 via the first seal member and an O-ring 90 as a seal portion. By these O-rings 88 and 90, the airtightness inside the frame member 41 is maintained. The displacement rod 84 is formed in a substantially cylindrical shape having both planar end faces. A spherical boss 92 is attached in the vicinity of the second end portion of the lever 54 via a stud bolt 91, and the distal end surface of the displacement rod 84 is in contact with the spherical boss 92.

調整ベース板87の中央には、支持ボルト93がその調整ベース板87を貫くように螺着されている。この支持ボルト93の先端は、調整ワッシャ85及び調整ボタン86に挿嵌されている。この調整ボタン86の先端は略球面状に形成されいる。調整ベース板87は位置決めピン94により枠部材41に取着され、調整ボタン86の先端が変位ロッド84の基端面に当接している。   A support bolt 93 is screwed to the center of the adjustment base plate 87 so as to penetrate the adjustment base plate 87. The tip of the support bolt 93 is inserted into the adjustment washer 85 and the adjustment button 86. The tip of the adjustment button 86 is formed in a substantially spherical shape. The adjustment base plate 87 is attached to the frame member 41 by positioning pins 94, and the distal end of the adjustment button 86 is in contact with the proximal end surface of the displacement rod 84.

1μm単位で厚さの異なる複数の調整ワッシャ85が用意されている。また、0.1mm単位で高さの異なる複数の調整ボタン86が用意されている。これら複数の調整ワッシャ85及び複数の調整ボタン86から変位ロッド84に所定の変位量を設定可能なものを適宜選択して、支持ボルト93の先端に嵌合する。ここで、変位ロッド84は、変位モジュール取付孔83の長手方向に沿って移動可能であり、この変位ロッド84の移動によりレバー54に加えられる変位力を変更することができる。ここで、変位力とは、変位モジュール82において、既に装着されている調整ワッシャ85及び調整ボタン86を別の調整ワッシャ85及び調整ボタン86に交換して変位ロッド84を移動させたときに発生する力であり、以降「駆動力F」とする。調整ボタン86はその駆動力Fを粗調整し、調整ワッシャ85はその駆動力Fを微調整する役割を担っている。   A plurality of adjustment washers 85 having different thicknesses in units of 1 μm are prepared. Also, a plurality of adjustment buttons 86 having different heights in units of 0.1 mm are prepared. From the plurality of adjustment washers 85 and the plurality of adjustment buttons 86, those capable of setting a predetermined displacement amount to the displacement rod 84 are appropriately selected and fitted to the tip of the support bolt 93. Here, the displacement rod 84 is movable along the longitudinal direction of the displacement module mounting hole 83, and the displacement force applied to the lever 54 can be changed by the movement of the displacement rod 84. Here, the displacement force is generated when the displacement rod 84 is moved by replacing the adjustment washer 85 and the adjustment button 86 that are already mounted in the displacement module 82 with another adjustment washer 85 and the adjustment button 86. Hereinafter, it is referred to as “driving force F”. The adjustment button 86 roughly adjusts the driving force F, and the adjustment washer 85 plays a role of finely adjusting the driving force F.

図8に示すように、アウタリング52の側面には、変位モジュール取付孔83に隣接して、ジャッキアップモジュール(以下「JUモジュール」という)97を収容するためのJUモジュール取付孔98が形成されている。JUモジュール97は、ジャッキアップロッド(以下「JUロッド」という)99と、ジャッキアップハウジング(以下「JUハウジング」という)100と、位置調整ねじ101とを含む。   As shown in FIG. 8, a JU module mounting hole 98 for accommodating a jack-up module (hereinafter referred to as “JU module”) 97 is formed on the side surface of the outer ring 52 adjacent to the displacement module mounting hole 83. ing. The JU module 97 includes a jackup rod (hereinafter referred to as “JU rod”) 99, a jackup housing (hereinafter referred to as “JU housing”) 100, and a position adjusting screw 101.

JUロッド99は、JUモジュール取付孔98内に複数のOリング102を介して摺動可能に挿通されている。このOリング102により、枠部材41の内部の気密性が維持される。このJUロッド99の先端は球面状をなしており、JUロッド99がレバー54に向かって移動された時に、JUロッド99の先端がレバー54の側面に当接する。JUロッド99には、その軸線に沿って基端側からねじ孔103が穿設されている。JUロッド99の基端部には、JUモジュール取付孔98の内周面に係合してJUロッド99の回転を阻止する回り止め部104が形成されている。   The JU rod 99 is slidably inserted into the JU module mounting hole 98 via a plurality of O-rings 102. The O-ring 102 maintains the airtightness inside the frame member 41. The tip of the JU rod 99 has a spherical shape, and when the JU rod 99 is moved toward the lever 54, the tip of the JU rod 99 abuts against the side surface of the lever 54. A screw hole 103 is formed in the JU rod 99 from the base end side along the axis. The base end portion of the JU rod 99 is formed with a detent portion 104 that engages with the inner peripheral surface of the JU module mounting hole 98 and prevents the rotation of the JU rod 99.

JUハウジング100は、位置調整ねじ101を保持する保持板105と、その位置調整ねじ101の脱落を阻止する止め板106とを備える。保持板105の中央部には、段付きの収容孔107が形成されている。位置調整ねじ101は、その頭部101aが収容孔107の段部108に収容されるように保持板105に回転可能に挿通されている。位置調整ねじ101の頭部101aには、六角レンチ等のジグが係合されるレンチ孔101bが凹設されている。止め板106の中央部には、開口110が透設されている。その止め板106と保持板105とが接合され、ボルト109により枠部材41に固定される。この状態で、開口110を介してレンチ孔101bへジグを挿入することができる。この開口110の直径は、位置調整ねじ101の頭部101aの直径よりも小さく、止め板106を保持板105に接合した状態で枠部材41に固定することにより、位置調整ねじ101の脱落が阻止される。   The JU housing 100 includes a holding plate 105 that holds the position adjusting screw 101 and a stop plate 106 that prevents the position adjusting screw 101 from falling off. A stepped accommodation hole 107 is formed at the center of the holding plate 105. The position adjusting screw 101 is rotatably inserted into the holding plate 105 so that the head portion 101 a is accommodated in the step portion 108 of the accommodation hole 107. A wrench hole 101b into which a jig such as a hexagon wrench is engaged is recessed in the head 101a of the position adjusting screw 101. An opening 110 is formed through the central portion of the stopper plate 106. The retaining plate 106 and the holding plate 105 are joined and fixed to the frame member 41 by bolts 109. In this state, the jig can be inserted into the wrench hole 101b through the opening 110. The diameter of the opening 110 is smaller than the diameter of the head 101a of the position adjusting screw 101, and the position adjusting screw 101 is prevented from falling off by fixing the stopper plate 106 to the frame member 41 in a state of being joined to the holding plate 105. Is done.

従って、本実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
(1) この光学素子保持装置38では、光学素子37の位置を調整する変位モジュール82と枠部材41との間にOリング88,90が設けられている。このため、光学素子37の位置調整を行う際に、枠部材41の内部の気密性を維持することができる。これにより、露光装置31においては、露光精度を向上させることができる。
Therefore, according to the present embodiment, the following effects can be obtained.
(1) In the optical element holding device 38, O-rings 88 and 90 are provided between the displacement module 82 that adjusts the position of the optical element 37 and the frame member 41. For this reason, when the position of the optical element 37 is adjusted, the airtightness inside the frame member 41 can be maintained. Thereby, in the exposure apparatus 31, exposure accuracy can be improved.

(2) この光学素子保持装置38では、枠部材41が、隣接する他の枠部材41との接合に使用される締結部40が設けられ、隣接する枠部材41の締結部40間に介装される中空Oリング81aが設けられている。このため、積層される枠部材41間における気密性を高めることができる。   (2) In this optical element holding device 38, the frame member 41 is provided with a fastening portion 40 used for joining with another adjacent frame member 41, and is interposed between the fastening portions 40 of the adjacent frame members 41. A hollow O-ring 81a is provided. For this reason, the airtightness between the laminated frame members 41 can be improved.

(3) この光学素子保持装置38では、中空Oリング81aが、光学素子37の光軸AXを中心とする円に沿って配置されている。このため、枠部材41の全周にわたって気密性を高く維持することができる。   (3) In the optical element holding device 38, the hollow O-ring 81 a is arranged along a circle centered on the optical axis AX of the optical element 37. For this reason, high airtightness can be maintained over the entire circumference of the frame member 41.

(4) この光学素子保持装置38では、光学素子37に変位を与える変位モジュール82が、枠部材41に形成された変位モジュール取付孔83に収容され、その変位モジュール取付孔83の長手方向に沿って移動可能である。このため、変位モジュール取付孔83の開口径を小さくすることができて、小さなOリング88で枠部材41の気密性を確保することができる。   (4) In the optical element holding device 38, the displacement module 82 that applies displacement to the optical element 37 is accommodated in the displacement module attachment hole 83 formed in the frame member 41, and extends along the longitudinal direction of the displacement module attachment hole 83. Can be moved. For this reason, the opening diameter of the displacement module mounting hole 83 can be reduced, and the airtightness of the frame member 41 can be ensured by the small O-ring 88.

(5) この光学素子保持装置38では、変位モジュール82が、変位モジュール取付孔83の長手方向に並んで配置される変位ロッド84、調整ボタン86及び調整ワッシャ85を有している。調整ボタン86及び調整ワッシャ85を変位モジュール取付孔83から取り外した際、変位ロッド84が変位モジュール取付孔83内に留置される。このように変位ロッド84が変位モジュール取付孔83内に留置されるため、変位モジュール取付孔83を介して枠部材41の内外でガスが流通することがない。このため、例えば光学素子37の位置調整で、調整ボタン86及び調整ワッシャ85を交換するために取り外したとしても、枠部材41の内部の気密性を保つことができる。   (5) In the optical element holding device 38, the displacement module 82 includes the displacement rod 84, the adjustment button 86, and the adjustment washer 85 that are arranged in the longitudinal direction of the displacement module attachment hole 83. When the adjustment button 86 and the adjustment washer 85 are removed from the displacement module attachment hole 83, the displacement rod 84 is left in the displacement module attachment hole 83. Thus, since the displacement rod 84 is detained in the displacement module mounting hole 83, gas does not flow inside and outside the frame member 41 through the displacement module mounting hole 83. For this reason, even if it removes in order to replace | exchange the adjustment button 86 and the adjustment washer 85, for example by position adjustment of the optical element 37, the airtightness inside the frame member 41 can be maintained.

(6) この光学素子保持装置38では、Oリング88,90が、変位モジュール取付孔83内に留置される変位ロッド84と、変位モジュール取付孔83の内周面との間に配置されている。このため、調整ボタン86及び調整ワッシャ85を交換するために取り外したとしても、枠部材41の内部の気密性を確実に保つことができる。   (6) In the optical element holding device 38, the O-rings 88 and 90 are disposed between the displacement rod 84 placed in the displacement module mounting hole 83 and the inner peripheral surface of the displacement module mounting hole 83. . For this reason, even if it removes in order to replace | exchange the adjustment button 86 and the adjustment washer 85, the airtightness inside the frame member 41 can be maintained reliably.

(7) この光学素子保持装置38では、変位モジュール82が、光学素子37の変位を粗調整する調整ボタン86と、光学素子37の変位を微調整する調整ワッシャ85とを有している。このため、これら調整ボタン86及び調整ワッシャ85を用いて枠部材41内の光学素子37の位置を細かく調整することができる。   (7) In the optical element holding device 38, the displacement module 82 includes an adjustment button 86 that roughly adjusts the displacement of the optical element 37 and an adjustment washer 85 that finely adjusts the displacement of the optical element 37. For this reason, the position of the optical element 37 in the frame member 41 can be finely adjusted using the adjustment button 86 and the adjustment washer 85.

(8) この光学素子保持装置38では、変位モジュール82を、Oリング90を介して変位ロッドハウジング89の内部に収容し、その変位ロッドハウジング89を、Oリング88を介して枠部材41に取着している。Oリング90の存在により、枠部材41の内部の気密性を保ちつつ、調整ボタン86及び調整ワッシャ85を交換して、変位ロッド84を変位させることができる。また、変位ロッド84を変位させても、Oリング88が摺動されることがなく、Oリング88の耐久性を向上させることができる。   (8) In the optical element holding device 38, the displacement module 82 is accommodated inside the displacement rod housing 89 via the O-ring 90, and the displacement rod housing 89 is attached to the frame member 41 via the O-ring 88. I wear it. The presence of the O-ring 90 allows the displacement rod 84 to be displaced by exchanging the adjustment button 86 and the adjustment washer 85 while maintaining the airtightness inside the frame member 41. Further, even if the displacement rod 84 is displaced, the O-ring 88 is not slid, and the durability of the O-ring 88 can be improved.

(9) この光学素子保持装置38では、中空Oリング81aが、締結部40の全周にわたって密着され、弾性変形される中空構造を有している。このため、各枠部材41の締結部40に対する中空Oリング81aの密着性を高めることができる。また、中空Oリング81aはつぶれやすく、複数の鏡筒モジュール39aを積み重ねる際に、各鏡筒モジュール39aの芯出し作業を容易に行うことができる。   (9) In the optical element holding device 38, the hollow O-ring 81a has a hollow structure that is brought into close contact with the entire circumference of the fastening portion 40 and elastically deformed. For this reason, the adhesiveness of the hollow O-ring 81a with respect to the fastening part 40 of each frame member 41 can be improved. Moreover, the hollow O-ring 81a is easily crushed, and when the plurality of lens barrel modules 39a are stacked, the centering operation of each lens barrel module 39a can be easily performed.

(10) この光学素子保持装置38では、調整ボタン86及び調整ワッシャ85を取り外した状態では、光学素子37を変位させるレバー54を所定位置に復帰させる付勢ばね77が設けられている。このため、調整ボタン86及び調整ワッシャ85を取り外した状態では、レンズ枠体43を基準位置に配置することができて、光学素子37が安定して保持される。   (10) The optical element holding device 38 is provided with a biasing spring 77 for returning the lever 54 for displacing the optical element 37 to a predetermined position when the adjustment button 86 and the adjustment washer 85 are removed. For this reason, in a state in which the adjustment button 86 and the adjustment washer 85 are removed, the lens frame 43 can be disposed at the reference position, and the optical element 37 is stably held.

(変形例)
なお、本発明の実施形態は、以下のように変形してもよい。
・ 前記実施形態では、変位モジュール82における駆動力Fを調整するために、調整ワッシャ85及び調整ボタン86を適宜選択して、調整ワッシャ85及び調整ボタン86を交換し、変位ロッド84を変位させる。これに対して、変位モジュール82内に、例えばマイクロメータを装備して、そのマイクロメータの進退により変位ロッド84を変位させてもよい。このようにした場合、駆動力Fの調整作業が容易なものとなるとともに、微調整も容易なものとすることができる。
(Modification)
The embodiment of the present invention may be modified as follows.
In the embodiment, in order to adjust the driving force F in the displacement module 82, the adjustment washer 85 and the adjustment button 86 are appropriately selected, the adjustment washer 85 and the adjustment button 86 are replaced, and the displacement rod 84 is displaced. On the other hand, for example, a micrometer may be provided in the displacement module 82, and the displacement rod 84 may be displaced by the advance and retreat of the micrometer. In this case, the adjustment of the driving force F can be easily performed, and fine adjustment can be easily performed.

また、図9に示すように、調整部材及び変位機構をなす変位モジュール121内に、ピエゾ素子等のアクチュエータ122を装備して、そのアクチュエータ122の駆動により変位ロッド84を変位させてもよい。このようにした場合、アクチュエータ122を遠隔操作することにより、光学素子37の姿勢制御を離れた位置で行うことができ便利である。また、例えば露光装置31の稼働中に、得られる収差情報、光学素子37の照射履歴、露光装置31の配置される環境条件の変化、照明条件等の露光条件の変化等に基づく所定の制御信号の入力により、光学素子37の姿勢を制御して、収差の補正をより細かく行うことができる。これにより、露光装置31における露光精度の向上と、ダウンタイムの短縮によるスループットの向上を図ることができる。   Further, as shown in FIG. 9, an actuator 122 such as a piezo element may be provided in a displacement module 121 that constitutes an adjustment member and a displacement mechanism, and the displacement rod 84 may be displaced by driving the actuator 122. In this case, it is convenient that the attitude control of the optical element 37 can be performed at a remote position by remotely operating the actuator 122. Further, for example, a predetermined control signal based on aberration information obtained during operation of the exposure apparatus 31, an irradiation history of the optical element 37, a change in environmental conditions in which the exposure apparatus 31 is arranged, a change in exposure conditions such as illumination conditions, and the like. With this input, the attitude of the optical element 37 can be controlled to finely correct the aberration. Thereby, the exposure accuracy in the exposure apparatus 31 can be improved and the throughput can be improved by reducing the downtime.

なお、アクチュエータとしては、流体圧アクチュエータ等を採用してもよい。
・ 前記実施形態において、光学素子37の姿勢を検出するセンサを光学素子保持装置38に設けてもよい。このようにした場合、光学素子37のより正確な姿勢制御ができる。
Note that a fluid pressure actuator or the like may be employed as the actuator.
In the embodiment, the optical element holding device 38 may be provided with a sensor that detects the attitude of the optical element 37. In this case, more accurate posture control of the optical element 37 can be performed.

特に、鏡筒39内の気密性を確保する必要がある場合には、枠部材41の外周面上に光学窓を設け、その光学窓介して光学素子37またはレンズ枠体43に取着したスケールを、鏡筒39外に配置したヘッドで読みとるような光学エンコーダ式、静電容量式等のセンサが好ましい。このように構成ことで、センサに接続されるコード及びセンサの基板を鏡筒39内に配置する必要がなくなり、鏡筒39内を清浄に保つことができる。   In particular, when it is necessary to ensure airtightness in the lens barrel 39, an optical window is provided on the outer peripheral surface of the frame member 41, and the scale is attached to the optical element 37 or the lens frame 43 through the optical window. Is preferably an optical encoder type sensor or a capacitance type sensor which can be read by a head arranged outside the lens barrel 39. With this configuration, it is not necessary to arrange the cord connected to the sensor and the sensor substrate in the lens barrel 39, and the inside of the lens barrel 39 can be kept clean.

・ 前記実施形態では、互いに接合される鏡筒モジュール39aの枠部材41の締結部40間で押圧されるように中空Oリング81aを設けている。これに対して、締結部40の接合面を高精度に加工及び仕上げすることにより、中空Oリング81aを省略してもよい。また、例えば締結部40の接合面間にガスケットを介装するとともに、締結部40の接合部分をカバーで覆い、そのカバーと締結部40の外周面との間にOリングを配置してもよい。   -In the said embodiment, the hollow O-ring 81a is provided so that it may press between the fastening parts 40 of the frame member 41 of the lens-barrel module 39a joined mutually. On the other hand, the hollow O-ring 81a may be omitted by processing and finishing the joint surface of the fastening portion 40 with high accuracy. Further, for example, a gasket may be interposed between the joint surfaces of the fastening portion 40, the joint portion of the fastening portion 40 may be covered with a cover, and an O-ring may be disposed between the cover and the outer peripheral surface of the fastening portion 40. .

また、この締結部40間に介装されるOリングを、中実構造のものとしてもよい。
・ 前記実施形態において、レンズ枠体43を省略して、アーム53a1,53a2,53b1,53b2,53c1,53c2の第1端部を、素子側ピボット58を介して支持部材42に直接連結してもよい。
Further, the O-ring interposed between the fastening portions 40 may have a solid structure.
In the above embodiment, the lens frame 43 may be omitted, and the first ends of the arms 53a1, 53a2, 53b1, 53b2, 53c1, and 53c2 may be directly connected to the support member 42 via the element side pivot 58. Good.

・ 前記実施形態では、変位ロッド84の外周面と変位ロッドハウジング89との間、及び変位ロッドハウジング89の外周面と変位モジュール取付孔83の内周面との間にOリング90,88が介装されている。このOリング90,88に代えて、例えば磁性流体シールを用いてもよい。このようにした場合、ヒステリシス要素が排除されるため、露光装置31の動作中に光学素子37の姿勢を制御するような構成において、特に有効である。   In the embodiment, O-rings 90 and 88 are interposed between the outer peripheral surface of the displacement rod 84 and the displacement rod housing 89 and between the outer peripheral surface of the displacement rod housing 89 and the inner peripheral surface of the displacement module mounting hole 83. It is disguised. Instead of the O-rings 90 and 88, for example, a magnetic fluid seal may be used. In such a case, since the hysteresis element is eliminated, it is particularly effective in a configuration in which the posture of the optical element 37 is controlled during the operation of the exposure apparatus 31.

・ 前記実施形態では、変位ロッド84を変位ロッドハウジング89内に収容した状態で枠部材41の変位モジュール取付孔83内に収容したが、変位ロッドハウジング89を省略して、変位ロッド84を直接変位モジュール取付孔83内に装着してもよい。   In the above embodiment, the displacement rod 84 is accommodated in the displacement module mounting hole 83 of the frame member 41 in a state of being accommodated in the displacement rod housing 89, but the displacement rod housing 89 is omitted and the displacement rod 84 is directly displaced. You may mount in the module attachment hole 83. FIG.

・ 前記実施形態では、変位ロッド84の光学素子37の径方向への移動(並進運動)により、レバー54に駆動力Fを与える。これに対して、例えば変位ロッド84を、回転させること、または光軸方向またはその他の方向に移動させること、または枠部材41の周方向に回動させることにより、レバー54に駆動力を与えてもよい。   In the embodiment, the driving force F is applied to the lever 54 by the movement (translational movement) of the optical element 37 in the radial direction of the displacement rod 84. On the other hand, for example, the displacement rod 84 is rotated, moved in the optical axis direction or other directions, or rotated in the circumferential direction of the frame member 41 to give a driving force to the lever 54. Also good.

・ 前記実施形態では、光学素子37としてレンズが例示されているが、この光学素子37は平行平板、ミラー、ハーフミラー等の他の光学素子であってもよい。
・ この発明の光学素子保持装置38は、前記実施形態の露光装置31の投影光学系35における横置きタイプの光学素子37の保持構成に限定されるものではない。例えば露光装置31の照明光学系33における光学素子の保持構成、縦置きタイプの光学素子37の保持構成に本発明を具体化してもよい。さらに、他の光学機械、例えば顕微鏡、干渉計等の光学系における光学素子の保持構成に本発明を具体化してもよい。
In the embodiment, a lens is exemplified as the optical element 37, but the optical element 37 may be another optical element such as a parallel plate, a mirror, or a half mirror.
The optical element holding device 38 according to the present invention is not limited to the holding configuration of the horizontal type optical element 37 in the projection optical system 35 of the exposure apparatus 31 of the above embodiment. For example, the present invention may be embodied in a holding configuration of an optical element in the illumination optical system 33 of the exposure apparatus 31 and a holding configuration of a vertically placed optical element 37. Furthermore, the present invention may be embodied in a configuration for holding an optical element in another optical machine, for example, an optical system such as a microscope or an interferometer.

・ また、露光装置として、投影光学系を用いることなく、マスクと基板とを密接させてマスクのパターンを基板に転写するするコンタクト露光装置、マスクと基板とを近接させてマスクのパターンを基板に転写するプロキシミティ露光装置の光学系にも本発明を適用することができる。また、投影光学系としては、全屈折タイプに限らず、反射屈折タイプであってもよい。   In addition, as an exposure apparatus, a contact exposure apparatus that transfers the mask pattern to the substrate by bringing the mask and the substrate into close contact with each other without using a projection optical system, and the mask pattern on the substrate by bringing the mask and the substrate close to each other. The present invention can also be applied to an optical system of a proximity exposure apparatus for transferring. Further, the projection optical system is not limited to the total refraction type, but may be a catadioptric type.

さらに、本発明の露光装置は、縮小露光型の露光装置に限定されるものではなく、例えば等倍露光型、拡大露光型の露光装置であってもよい。
半導体素子などのマイクロデバイスだけでなく、光露光装置、EUV露光装置、X線露光装置、及び電子線露光装置などで使用されるレチクルまたはマスクを製造するために、マザーレチクルからガラス基板又はシリコンウエハへ回路パターンを転写する露光装置にも本発明を適用できる。例えば、DUV(深紫外)又はVUV(真空紫外)光を用いる露光装置では一般に透過型レチクルが用いられ、レチクル基板としては、石英ガラス、フッ素がドープされた石英ガラス、蛍石、フッ化マグネシウム、または水晶などが用いられる。例えば、プロキシミティ方式のX線露光装置又は電子線露光装置では、透過型マスク(ステンシルマスク、メンバレンマスク)が用いられ、マスク基板としてはシリコンウエハが用いられる。
Furthermore, the exposure apparatus of the present invention is not limited to a reduction exposure type exposure apparatus, and may be, for example, an equal magnification exposure type or an enlargement exposure type exposure apparatus.
A glass substrate or silicon wafer from a mother reticle is used to manufacture a reticle or mask used in not only microdevices such as semiconductor elements but also light exposure apparatuses, EUV exposure apparatuses, X-ray exposure apparatuses, and electron beam exposure apparatuses. The present invention can also be applied to an exposure apparatus that transfers a circuit pattern. For example, in an exposure apparatus using DUV (deep ultraviolet) or VUV (vacuum ultraviolet) light, a transmission type reticle is generally used. As a reticle substrate, quartz glass, quartz glass doped with fluorine, fluorite, magnesium fluoride, Or crystal etc. are used. For example, in a proximity type X-ray exposure apparatus or electron beam exposure apparatus, a transmission mask (stencil mask, member lens mask) is used, and a silicon wafer is used as a mask substrate.

半導体素子の製造に用いられる露光装置だけでなく、液晶表示素子(LCD)などを含むディスプレイの製造に用いられてデバイスパターンをガラスプレート上へ転写する露光装置にも、本発明を適用することができる。また、薄膜磁気ヘッドの製造に用いられて、デバイスパターンをセラミックウエハへ転写する露光装置、及びCCD等の撮像素子の製造に用いられる露光装置にも本発明を適用することができる。   The present invention can be applied not only to an exposure apparatus used for manufacturing a semiconductor element but also to an exposure apparatus used for manufacturing a display including a liquid crystal display element (LCD) to transfer a device pattern onto a glass plate. it can. The present invention can also be applied to an exposure apparatus that is used for manufacturing a thin film magnetic head and transfers a device pattern to a ceramic wafer, and an exposure apparatus that is used for manufacturing an imaging device such as a CCD.

さらに、本発明は、マスクと基板とが相対移動した状態でマスクのパターンを基板へ転写し、基板を順次ステップ移動させるスキャニング・ステッパに適用することができる。また、本発明は、マスクと基板とが静止した状態でマスクのパターンを基板へ転写し、基板を順次ステップ移動させるステップ・アンド・リピート方式のステッパにも適用することができる。   Furthermore, the present invention can be applied to a scanning stepper that transfers a mask pattern onto a substrate while the mask and the substrate are relatively moved, and sequentially moves the substrate stepwise. The present invention can also be applied to a step-and-repeat stepper in which the mask pattern is transferred to the substrate while the mask and the substrate are stationary, and the substrate is sequentially moved stepwise.

・ 露光装置の光源としては、前記実施形態に記載のArFエキシマレーザ(193nm)、Fレーザ(157nm)の他、例えばg線(436nm)、i線(365nm)、KrFエキシマレーザ(248nm)、Krレーザ(146nm)、Arレーザ(126nm)を用いてもよい。また、DFB半導体レーザまたはファイバレーザから発振される赤外域、または可視域の単一波長レーザ光を、例えばエルビウム(またはエルビウムとイッテルビウムの双方)がドープされたファイバアンプで増幅し、増幅されたレーザ光を非線形光学結晶を用いて紫外光に波長変換した高調波を光源として用いてもよい。As a light source of the exposure apparatus, in addition to the ArF excimer laser (193 nm) and the F 2 laser (157 nm) described in the above embodiment, for example, g line (436 nm), i line (365 nm), KrF excimer laser (248 nm), A Kr 2 laser (146 nm) or an Ar 2 laser (126 nm) may be used. Further, an infrared or visible single wavelength laser beam oscillated from a DFB semiconductor laser or a fiber laser is amplified by a fiber amplifier doped with, for example, erbium (or both erbium and ytterbium), and the laser is amplified. You may use as a light source the harmonic which wavelength-converted light into ultraviolet light using the nonlinear optical crystal.

なお、前記実施形態の露光装置31は、例えば次のように製造される。
すなわち、まず、照明光学系33、投影光学系35を構成する複数のレンズまたはミラー等の光学素子37の少なくとも一部を前記実施形態または前記各変形例の光学素子保持装置38で保持し、この照明光学系33及び投影光学系35を露光装置31の本体に組み込み、光学調整を行う。次いで、多数の機械部品からなるウエハステージ36(スキャンタイプの露光装置の場合は、レチクルステージ34も含む)を露光装置31の本体に取り付けて配線を接続する。そして、露光光の光路内にガスを供給するガス供給配管を接続した上で、さらに総合調整(電気調整、動作確認など)を行う。
In addition, the exposure apparatus 31 of the said embodiment is manufactured as follows, for example.
That is, first, at least a part of the optical elements 37 such as a plurality of lenses or mirrors constituting the illumination optical system 33 and the projection optical system 35 is held by the optical element holding device 38 of the embodiment or each of the modified examples. The illumination optical system 33 and the projection optical system 35 are incorporated in the main body of the exposure apparatus 31, and optical adjustment is performed. Next, a wafer stage 36 (including a reticle stage 34 in the case of a scan type exposure apparatus) made up of a large number of mechanical parts is attached to the main body of the exposure apparatus 31 to connect wiring. And after connecting the gas supply piping which supplies gas in the optical path of exposure light, further comprehensive adjustment (electric adjustment, operation check, etc.) is performed.

光学素子保持装置38を構成する各部品は、超音波洗浄により、加工油、及び金属物質などの不純物を落としたうえで、組み上げられる。露光装置31の製造は、温度、湿度及び気圧が制御され、かつクリーン度が調整されたクリーンルーム内で行うことが望ましい。   Each component constituting the optical element holding device 38 is assembled after removing impurities such as processing oil and metal substances by ultrasonic cleaning. The exposure apparatus 31 is preferably manufactured in a clean room in which the temperature, humidity, and atmospheric pressure are controlled and the cleanness is adjusted.

前記実施形態における硝材として、蛍石、石英などが使用される例を説明したが、フッ化リチウム、フッ化マグネシウム、フッ化ストロンチウム、リチウム−カルシウム−アルミニウム−フロオライド、及びリチウム−ストロンチウム−アルミニウム−フロオライド等の結晶、ジルコニウム−バリウム−ランタン−アルミニウムからなるフッ化ガラス、フッ素をドープした石英ガラス、フッ素に加えて水素もドープされた石英ガラス、OH基を含有させた石英ガラス、フッ素に加えてOH基を含有した石英ガラス等の改良石英を用いてもよい。   The example in which fluorite, quartz or the like is used as the glass material in the embodiment has been described, but lithium fluoride, magnesium fluoride, strontium fluoride, lithium-calcium-aluminum-fluoride, and lithium-strontium-aluminum-fluoride. Crystals such as zirconium-barium-lanthanum-aluminum, quartz glass doped with fluorine, quartz glass doped with hydrogen in addition to fluorine, quartz glass containing OH groups, OH in addition to fluorine Improved quartz such as quartz glass containing groups may be used.

次に、上述した露光装置31をリソグラフィ工程で使用したデバイスの製造方法の実施形態について説明する。
図10は、デバイス(例えば、IC又はLSI等の半導体素子、液晶表示素子、撮像素子(例えば、CCD)、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン等)の製造例を示すフローチャートである。図10に示すように、まず、ステップS201(設計ステップ)において、デバイス(マイクロデバイス)の機能及び性能設計(例えば、半導体デバイスの回路設計等)を行い、その機能を実現するためのパターン設計を行う。引き続き、ステップS202(マスク製作ステップ)において、設計した回路パターンを有するマスク(レクチルRt等)を製作する。ステップS203(基板製造ステップ)において、シリコン、ガラスプレート等の材料を用いて基板(シリコン材料を用いた場合にはウエハW)を製造する。
Next, an embodiment of a device manufacturing method using the above-described exposure apparatus 31 in a lithography process will be described.
FIG. 10 is a flowchart showing a manufacturing example of a device (for example, a semiconductor element such as an IC or LSI, a liquid crystal display element, an imaging element (for example, CCD), a thin film magnetic head, a micromachine, etc.). As shown in FIG. 10, first, in step S201 (design step), the function and performance design (for example, circuit design of a semiconductor device) of a device (microdevice) is performed, and a pattern design for realizing the function is performed. Do. Subsequently, in step S202 (mask manufacturing step), a mask (such as a reticle Rt) having the designed circuit pattern is manufactured. In step S203 (substrate manufacturing step), a substrate (wafer W in the case of using a silicon material) is manufactured using a material such as silicon or a glass plate.

次に、ステップS204(基板処理ステップ)において、ステップS201〜S203で用意したマスクと基板を使用して、後述するように、リソグラフィ技術等によって基板上に実際の回路等を形成する。次いで、ステップS205(デバイス組立ステップ)において、ステップS204で処理された基板を用いてデバイス組立を行う。このステップS205には、ダイシング工程、ボンディング工程、及びパッケージング工程(チップ封入等)等の複数の工程が必要に応じて含まれる。   Next, in step S204 (substrate processing step), using the mask and substrate prepared in steps S201 to S203, an actual circuit or the like is formed on the substrate by lithography or the like, as will be described later. Next, in step S205 (device assembly step), device assembly is performed using the substrate processed in step S204. This step S205 includes a plurality of processes such as a dicing process, a bonding process, and a packaging process (chip encapsulation or the like) as necessary.

最後に、ステップS206(検査ステップ)において、ステップS205で作製されたデバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行う。こうした工程を経た後にデバイスが完成し、これが出荷される。   Finally, in step S206 (inspection step), inspections such as an operation confirmation test and a durability test of the device manufactured in step S205 are performed. After these steps, the device is completed and shipped.

図11は、半導体デバイスの場合における、図10のステップS204の一例を詳細に示すフローチャートである。図11において、ステップS211(酸化ステップ)では、ウエハWの表面を酸化させる。ステップS212(CVDステップ)では、ウエハW表面に絶縁膜を形成する。ステップS213(電極形成ステップ)では、ウエハW上に電極を蒸着によって形成する。ステップS214(イオン打込みステップ)では、ウエハWにイオンを打ち込む。以上のステップS211〜S214のそれぞれは、ウエハ処理の各段階の前処理工程を構成しており、各段階において必要な処理に応じて選択されて実行される。   FIG. 11 is a flowchart showing in detail an example of step S204 of FIG. 10 in the case of a semiconductor device. In FIG. 11, in step S211 (oxidation step), the surface of the wafer W is oxidized. In step S212 (CVD step), an insulating film is formed on the wafer W surface. In step S213 (electrode formation step), an electrode is formed on the wafer W by vapor deposition. In step S214 (ion implantation step), ions are implanted into the wafer W. Each of the above steps S211 to S214 constitutes a pretreatment process at each stage of the wafer processing, and is selected and executed according to a necessary process at each stage.

ウエハプロセスの各段階において、上述の前処理工程が終了すると、以下のようにして後処理工程が実行される。この後処理工程では、まず、ステップS215(レジスト形成ステップ)において、ウエハWに感光剤を塗布する。引き続き、ステップS216(露光ステップ)において、先に説明したリソグラフィシステム(露光装置31)によってマスク(レチクルRt)の回路パターンをウエハW上に転写する。次に、ステップS217(現像ステップ)では露光されたウエハWを現像し、ステップS218(エッチングステップ)において、レジストが残存している部分以外のウエハWの部分をエッチングにより取り去る。そして、ステップS219(レジスト除去ステップ)において、エッチングが済んで不要となったレジストを取り除く。   At each stage of the wafer process, when the above pre-process is completed, the post-process is executed as follows. In this post-processing process, first, a photosensitive agent is applied to the wafer W in step S215 (resist formation step). Subsequently, in step S216 (exposure step), the circuit pattern of the mask (reticle Rt) is transferred onto the wafer W by the lithography system (exposure apparatus 31) described above. Next, in step S217 (development step), the exposed wafer W is developed, and in step S218 (etching step), the portion of the wafer W other than the portion where the resist remains is removed by etching. In step S219 (resist removal step), the resist that has become unnecessary after the etching is removed.

これらの前処理工程と後処理工程とを繰り返し行うことによって、ウエハW上に多重に回路パターンが形成される。
以上説明した本実施形態のデバイス製造方法を用いれば、露光工程(ステップS216)において上記の露光装置31が用いられ、真空紫外域の露光光ELにより解像力の向上が可能となり、しかも露光量制御を高精度に行うことができる。従って、結果的に最小線幅が0.1μm程度の高集積度のデバイスを歩留まりよく生産することができる。
Multiple circuit patterns are formed on the wafer W by repeatedly performing these pre-processing and post-processing steps.
If the device manufacturing method of this embodiment described above is used, the exposure apparatus 31 is used in the exposure step (step S216), the resolution can be improved by the exposure light EL in the vacuum ultraviolet region, and the exposure amount can be controlled. It can be performed with high accuracy. Therefore, as a result, a highly integrated device having a minimum line width of about 0.1 μm can be produced with a high yield.

Claims (15)

枠部材と、該枠部材の内側に設けられ、光学素子を保持する保持部材とを備える光学素子保持装置において、
前記枠部材に設けられ、前記光学素子の位置を前記保持部材を介して調整する調整部材と、前記調整部材と前記枠部材との間に設けられた第1のシール部材とを備えることを特徴とする光学素子保持装置。
In an optical element holding device comprising a frame member and a holding member that is provided inside the frame member and holds the optical element,
An adjustment member provided on the frame member for adjusting the position of the optical element via the holding member; and a first seal member provided between the adjustment member and the frame member. An optical element holding device.
前記枠部材は、他の枠部材と積層され、前記他の枠部材に対して接合する接合部を有し、前記枠部材は、前記他の枠部材と前記接合部との間に設けられた第2のシール部材を備えることを特徴とする請求項1に記載の光学素子保持装置。   The frame member is laminated with another frame member and has a joint portion that joins to the other frame member, and the frame member is provided between the other frame member and the joint portion. The optical element holding device according to claim 1, further comprising a second seal member. 前記第2のシール部材が、前記光学素子の光軸を中心とする円に沿って配置されるOリングを含むことを特徴とする請求項2に記載の光学素子保持装置。   The optical element holding device according to claim 2, wherein the second seal member includes an O-ring arranged along a circle centered on the optical axis of the optical element. 前記Oリングが、前記接合部に密着され、弾性変形可能な中空構造を有することを特徴とする請求項3に記載の光学素子保持装置。   The optical element holding device according to claim 3, wherein the O-ring has a hollow structure that is in close contact with the joint and is elastically deformable. 前記枠部材は、開口部を有し、前記調整部材は、前記光学素子の位置を変位させる変位機構を有し、前記変位機構は、前記枠部材の開口部内に、変位可能に収容されていることを特徴とする請求項1〜請求項4のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。   The frame member has an opening, the adjustment member has a displacement mechanism for displacing the position of the optical element, and the displacement mechanism is accommodated in the opening of the frame member in a displaceable manner. The optical element holding device according to any one of claims 1 to 4, wherein the optical element holding device is provided. 前記変位機構は、前記開口部内に並んで配置される第1の調整部品と第2の調整部品とを有し、前記第1の調整部品を前記開口部から取り外した際、前記第2の調整部品が前記開口部内に留置されることを特徴とする請求項5に記載の光学素子保持装置。   The displacement mechanism has a first adjustment component and a second adjustment component arranged side by side in the opening, and the second adjustment when the first adjustment component is removed from the opening. The optical element holding device according to claim 5, wherein a component is placed in the opening. 前記第1の調整部品は、異なる複数の第1の調整部品の一つであり、第1の調整部品を交換することにより、前記光学素子の変位量が調整されることを特徴とする請求項6に記載の光学素子保持装置。   The first adjustment component is one of a plurality of different first adjustment components, and the displacement amount of the optical element is adjusted by exchanging the first adjustment component. 7. The optical element holding device according to 6. 前記第1のシール部材は、前記第2の調整部品と、前記開口部の内周面との間に配置されることを特徴とする請求項7に記載の光学素子保持装置。   The optical element holding device according to claim 7, wherein the first seal member is disposed between the second adjustment component and an inner peripheral surface of the opening. 前記第1の調整部品は、前記光学素子の変位量を粗調整する粗調整部品と、前記光学素子の変位量を微調整する微調整部品とを含むことを特徴とする請求項8に記載の光学素子保持装置。   9. The first adjustment component includes a coarse adjustment component that roughly adjusts a displacement amount of the optical element, and a fine adjustment component that finely adjusts the displacement amount of the optical element. Optical element holding device. 前記調整部材を収容する筒状体を備え、前記第1のシール部材は、前記調整部材と前記筒状体との間に設けられたシール部を含むことを特徴とする請求項1〜請求項9のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。   The cylindrical body which accommodates the said adjustment member is provided, A said 1st seal member contains the seal | sticker part provided between the said adjustment member and the said cylindrical body, The Claim 1 characterized by the above-mentioned. 9. The optical element holding device according to claim 9. 前記変位機構の少なくとも一部を取り外したとき、前記保持部材を所定位置に復帰させる付勢部材を備えることを特徴とする請求項1〜請求項10のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置。   The optical element holding device according to claim 1, further comprising an urging member that returns the holding member to a predetermined position when at least a part of the displacement mechanism is removed. apparatus. 少なくとも1つの光学素子を収容する鏡筒において、
前記光学素子の少なくとも1つを保持する、請求項1〜請求項11のうちいずれか一項に記載の光学素子保持装置を備えることを特徴とする鏡筒。
In a lens barrel that houses at least one optical element,
A lens barrel comprising the optical element holding device according to claim 1, which holds at least one of the optical elements.
前記光学素子は、マスク上に形成された所定のパターンの像を基板上に投影する投影光学系を構成する複数の光学素子の一つであることを特徴とする請求項12に記載の鏡筒。   The lens barrel according to claim 12, wherein the optical element is one of a plurality of optical elements constituting a projection optical system that projects an image of a predetermined pattern formed on a mask onto a substrate. . マスク上に形成された所定のパターンの像を基板上に転写する露光装置において、
前記所定のパターンの像を前記基板上に転写するための請求項13に記載の鏡筒を備えることを特徴とする露光装置。
In an exposure apparatus that transfers an image of a predetermined pattern formed on a mask onto a substrate,
An exposure apparatus comprising: the lens barrel according to claim 13 for transferring an image of the predetermined pattern onto the substrate.
デバイスの製造方法において、
請求項14に記載の露光装置を用いて露光を行うリソグラフィ工程を備えることを特徴とするデバイスの製造方法。
In the device manufacturing method,
A device manufacturing method comprising a lithography step of performing exposure using the exposure apparatus according to claim 14.
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EP2444829A1 (en) * 2006-09-14 2012-04-25 Carl Zeiss SMT GmbH Optical element unit and method of supporting an optical element
DE102009044957A1 (en) * 2008-09-30 2010-04-08 Carl Zeiss Smt Ag Support elements for an optical element

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000195779A (en) * 1998-12-28 2000-07-14 Nikon Corp Aligner and manufacture of micro devices
JP2001035773A (en) * 1999-07-19 2001-02-09 Nikon Corp Illumination optical apparatus and aligner
JP2001343575A (en) * 2000-03-31 2001-12-14 Nikon Corp Optical element holding device, lens barrel, exposure device, and manufacturing method of microdevice
JP2002134384A (en) * 2000-10-20 2002-05-10 Nikon Corp Exposure method and projection aligner and device- manufacturing method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000195779A (en) * 1998-12-28 2000-07-14 Nikon Corp Aligner and manufacture of micro devices
JP2001035773A (en) * 1999-07-19 2001-02-09 Nikon Corp Illumination optical apparatus and aligner
JP2001343575A (en) * 2000-03-31 2001-12-14 Nikon Corp Optical element holding device, lens barrel, exposure device, and manufacturing method of microdevice
JP2002134384A (en) * 2000-10-20 2002-05-10 Nikon Corp Exposure method and projection aligner and device- manufacturing method

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