JP2005266146A - Optical element holding device, lens barrel, exposure device, and device manufacturing method - Google Patents

Optical element holding device, lens barrel, exposure device, and device manufacturing method Download PDF

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Tatsuhiko Endo
竜彦 遠藤
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide; an optical element holding device and a lens barrel which allow assembling errors to be reduced to minimize aberrations and allow compatibility by holding to be enhanced; an exposure device improved in exposure precision; and a device manufacturing method of manufacturing devices having a high degree of integration, with a good yield. <P>SOLUTION: An optical element holding device 38 has: an annularly formed frame body 41 arranged in a peripheral edge of an optical element 37; and an annularly formed clamp member 42 arranged on an upper surface side of the optical element 37. The frame body 41 has a seat 44 for supporting a lower surface of the optical element 37. The clamp member 42 has an outer diameter made larger than that of the optical element 37, and also has a press part in a lower surface thereof. Since the press part and the seat 44 are in positions of the same phase, which are opposed to each other through the optical element 37 between them, the press part presses the optical element 37 to the seat 44 from the above to hold the optical element 37. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、例えば半導体素子、液晶表示素子、撮像素子、薄膜磁気ヘッド等のデバイス、あるいはレチクル、フォトマスク等のマスクなどの製造プロセスにおけるリソグラフィ工程で使用される露光装置の光学素子を保持する光学素子保持装置に関するものである。また、本発明は、その光学素子保持装置を備えた鏡筒及び露光装置に関するものである。さらに、本発明は、その露光装置を用いたデバイスの製造方法に関するものである。   The present invention provides an optical device for holding an optical element of an exposure apparatus used in a lithography process in a manufacturing process of a device such as a semiconductor element, a liquid crystal display element, an imaging element, a thin film magnetic head, or a mask such as a reticle or a photomask. The present invention relates to an element holding device. The present invention also relates to a lens barrel and an exposure apparatus provided with the optical element holding device. Furthermore, the present invention relates to a device manufacturing method using the exposure apparatus.

露光装置では、所定のパターンが形成されたレチクル、フォトマスク等のマスクを所定の露光光で照明し、投影光学系を介して所定のパターンの像をフォトレジスト等の感光性樹脂が塗布されたウエハ、ガラスプレート等の基板上に露光するようになっている(特許文献1参照)。また、このような露光装置では、近年の回路パターンの微細化に対応すべく、露光光の短波長化が進められてきている。最近では、遠紫外光、例えばKrFエキシマレーザ(λ=248nm)、さらに真空紫外域のArFエキシマレーザ(λ=193nm)、F2レーザ(λ=157nm)等を露光光としたものが開発されている。   In an exposure apparatus, a reticle such as a reticle or a photomask on which a predetermined pattern is formed is illuminated with predetermined exposure light, and an image of the predetermined pattern is coated with a photosensitive resin such as a photoresist via a projection optical system. Exposure is performed on a substrate such as a wafer or a glass plate (see Patent Document 1). In such an exposure apparatus, the wavelength of exposure light has been shortened to cope with the recent miniaturization of circuit patterns. Recently, far ultraviolet light, for example, KrF excimer laser (λ = 248 nm), vacuum ultraviolet ArF excimer laser (λ = 193 nm), F2 laser (λ = 157 nm) and the like have been developed. .

ところで、この種の露光装置における光学素子保持装置としては、例えば図8及び図9に示すような構成のものが知られている。この従来構成においては、光学素子等の光学素子201を収容するための枠体202が円環状に形成されている。その枠体202の内周面には、光学素子201を支持するための幅の狭い3つの座面204が等角度間隔おきに形成されている。それらの座面204と対応するように、枠体202の上面にはねじ孔205が形成されている。また、枠体202の上面には、3つのクランプ部材206が各ねじ孔205に対するボルト207の螺合により等角度間隔おきに取り付けられている。   By the way, as an optical element holding device in this type of exposure apparatus, for example, one having a structure as shown in FIGS. 8 and 9 is known. In this conventional configuration, a frame 202 for accommodating an optical element 201 such as an optical element is formed in an annular shape. On the inner peripheral surface of the frame 202, three narrow seating surfaces 204 for supporting the optical element 201 are formed at equal angular intervals. A screw hole 205 is formed on the upper surface of the frame 202 so as to correspond to the seating surfaces 204. Further, three clamp members 206 are attached to the upper surface of the frame body 202 at equal angular intervals by screwing bolts 207 into the respective screw holes 205.

そして、これらのボルト207がそれぞれ押圧力が調整されながら締め付けられ、光学素子201の外周フランジ部201aが各クランプ部材206と座面204との間で所定の押圧力で挟み込まれる。これにより、光学素子201が枠体202内で所定位置に保持されるようになっている。
特開2003−307660
These bolts 207 are tightened while adjusting the pressing force, and the outer peripheral flange portion 201a of the optical element 201 is sandwiched between the clamp members 206 and the seating surface 204 with a predetermined pressing force. As a result, the optical element 201 is held at a predetermined position in the frame body 202.
JP2003-307660

このような光学素子保持装置を備える露光装置を用いた露光工程では、ウエハ上に塗布されるレジスト層としては一般的に感光性樹脂(例えば、ノボラックレジン)が用いられている。そのため、投影露光時にはその感光性樹脂から発生する揮発物質等が投影光学系の最もウエハ側に位置する光学素子の表面に付着して、この光学素子の表面を汚染してしまうことがあった。この光学素子表面の汚染は、投影光学系の光学特性が変化してしまい露光不良を招きかねないため、この光学素子を鏡筒から取り外し、光学素子を洗浄又は交換していた。   In an exposure process using an exposure apparatus including such an optical element holding device, a photosensitive resin (for example, a novolak resin) is generally used as a resist layer applied on the wafer. For this reason, at the time of projection exposure, volatile substances generated from the photosensitive resin may adhere to the surface of the optical element located closest to the wafer in the projection optical system and contaminate the surface of the optical element. The contamination on the surface of the optical element changes the optical characteristics of the projection optical system and may cause exposure failure. Therefore, the optical element is removed from the lens barrel and the optical element is cleaned or replaced.

しかし、従来の3つの部材によってクランプする方法では、3つの部材がそれぞれ独立しており、これらのクランプ部材のばね定数等の物理的特性を厳密に揃えることは不可能であり個体差が生じていた。また、位置再現性を確保することが困難であった。この光学素子は通常平行平板、若しくは極めて曲率の小さなレンズであり、光軸に垂直な方向への変位は光学性能に殆ど影響を与えないため、この方向には拘束せず、光軸に平行な方向にのみ拘束する。よって、光軸に垂直な方向(図9における水平方向)の取り付け誤差は許容されるとしても、光軸に平行な方向(図9における垂直方向)については、光学素子が斜めに傾いたりして歪まない程度に適度にホールドする必要がある。しかしながら、部品点数が多いことも起因して、組み付け時の光学素子の光学特性が、選択するクランプ部材によって一致しないという問題が生じていた。そのため、光学素子に収差が生じ、高精度のマスクパターンの形成が阻害されていた。さらに、組み付けによる位置再現性が確保されていないために、組み付け作業が煩雑であり時間がかかってしまい、組み付け生産性を損なうという問題もあった。   However, in the conventional method of clamping with three members, the three members are independent of each other, and it is impossible to strictly align physical characteristics such as the spring constant of these clamp members, resulting in individual differences. It was. Further, it has been difficult to ensure position reproducibility. This optical element is usually a parallel plate or a lens with a very small curvature, and displacement in the direction perpendicular to the optical axis has little effect on the optical performance, so it is not constrained in this direction and is parallel to the optical axis. Restrain only in direction. Therefore, even if a mounting error in the direction perpendicular to the optical axis (horizontal direction in FIG. 9) is allowed, the optical element is inclined obliquely in the direction parallel to the optical axis (vertical direction in FIG. 9). It is necessary to hold it moderately so as not to be distorted. However, due to the large number of parts, there has been a problem that the optical characteristics of the optical element at the time of assembly do not match with the selected clamp member. For this reason, aberration occurs in the optical element, and formation of a highly accurate mask pattern has been hindered. Furthermore, since the position reproducibility by assembling is not ensured, the assembling work is complicated and takes time, and there is also a problem that the assembling productivity is impaired.

本発明は、このような従来の技術に存在する問題点に着目してなされたものである。その目的としては、露光装置における光学素子を、組み付け誤差を少なくし収差を最小限に留めるとともに、ホールドによる互換性を高めることができる光学素子保持装置及び鏡筒を提供することにある。また、本発明のその他の目的は、露光精度の向上可能な露光装置を提供することにある。さらに、本発明のその上の目的は、高集積度のデバイスを歩留まりよく生産することのできるデバイスの製造方法を提供することにある。   The present invention has been made paying attention to such problems existing in the prior art. An object of the present invention is to provide an optical element holding device and a lens barrel that can reduce the assembly error and minimize the aberration of the optical element in the exposure apparatus, and can improve the compatibility by holding. Another object of the present invention is to provide an exposure apparatus capable of improving exposure accuracy. A further object of the present invention is to provide a device manufacturing method capable of producing a highly integrated device with a high yield.

上記目的を達成するため、請求項1に係る光学素子保持装置は、枠体と、当該枠体の内周に設けられ光学素子の下面を支持する座と、前記光学素子の上面側に配置され、その外径が前記光学素子の外径よりも大きな外径で形成された環状のクランプ部材とを備え、当該クランプ部材は前記座に対して前記光学素子を押圧する押圧部を備えることを要旨とする。   In order to achieve the above object, an optical element holding device according to claim 1 is disposed on a frame, a seat provided on an inner periphery of the frame and supporting a lower surface of the optical element, and an upper surface side of the optical element. And an annular clamp member having an outer diameter larger than the outer diameter of the optical element, and the clamp member includes a pressing portion that presses the optical element against the seat. And

従って、請求項1に係る光学素子保持装置では、座に対して光学素子を押圧する押圧部を備える環状のクランプ部材を備えることにより、複数のクランプ部材を用いる場合と比較して、ばね定数等の物理的特性の固体差による誤差が排除され、より組み付け誤差が低減されることとなり、安定した光学特性を得ることができる。また、光学素子の交換毎におけるホールドの互換性を高めることができる。さらに、組み付けによる作業が簡単になり、組み付け生産性を向上させることができるという効果がある。   Therefore, in the optical element holding device according to the first aspect, by providing an annular clamp member that includes a pressing portion that presses the optical element against the seat, the spring constant or the like is compared with the case where a plurality of clamp members are used. The error due to the individual difference in the physical characteristics is eliminated, the assembly error is further reduced, and stable optical characteristics can be obtained. In addition, it is possible to improve the hold compatibility at each replacement of the optical element. Further, the work by assembling is simplified, and the assembling productivity can be improved.

請求項2に係る光学素子保持装置は、請求項1に記載の光学素子保持装置の構成において、前記押圧部は、前記光学素子を光軸と平行な方向に押圧することを特徴とする。
従って、請求項2に係る光学素子保持装置では、押圧部が光学素子を光軸と平行な方向に真っ直ぐに押圧するため平面性を損なうことが少なく、光学素子の歪みや変形がより少なくてすみ、光学素子の結像性能を低下させずに保持することができるという効果がある。
An optical element holding device according to a second aspect is the optical element holding device according to the first aspect, wherein the pressing portion presses the optical element in a direction parallel to the optical axis.
Therefore, in the optical element holding device according to claim 2, since the pressing portion presses the optical element straight in a direction parallel to the optical axis, the flatness is less likely to be lost, and the distortion and deformation of the optical element can be reduced. There is an effect that the imaging performance of the optical element can be maintained without deteriorating.

請求項3に係る光学素子保持装置は、請求項1又は請求項2に記載の光学素子保持装置の構成において、前記座は前記光学素子の下面に接触する突起部を有し、前記押圧部は前記光学素子の上面に接触する突起部を有し、前記座は、前記枠体の内周に等角度間隔をおいて3つ設けられ、前記押圧部は、前記光学素子を介して前記座と対向する同位相の位置にそれぞれ設けられており、前記光学素子を前記座と前記押圧部とで挟んで保持することを要旨とする。   The optical element holding device according to claim 3 is the configuration of the optical element holding device according to claim 1 or 2, wherein the seat has a protrusion that contacts a lower surface of the optical element, and the pressing portion is Protruding portions that contact the upper surface of the optical element, three seats are provided at equal angular intervals on the inner periphery of the frame body, and the pressing portion is connected to the seat via the optical element. The gist is that the optical elements are respectively held at opposite positions of the same phase and held between the seat and the pressing portion.

従って、請求項3に係る光学素子保持装置では、枠体の内周に等角度間隔をおいて設けられた3つの座と、これら3つの座と投影光学系の光軸に平行な方向に相対する同位相の位置に設けられる3つ押圧部によって挟むようにして光学素子を保持することができる。また、等角度間隔の3箇所を保持することで、より安定して保持することができるという効果がある。   Therefore, in the optical element holding device according to the third aspect, the three seats provided at equiangular intervals on the inner periphery of the frame, and the three seats and the relative direction in the direction parallel to the optical axis of the projection optical system. The optical element can be held so as to be sandwiched between the three pressing portions provided at the same phase position. Moreover, there is an effect that it can be held more stably by holding the three equiangular intervals.

請求項4に係る光学素子保持装置は、請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の光学素子保持装置の構成において、前記クランプ部材は、前記クランプ部材の内周端縁から概ね半径方向外側へ向けて切り込んだ一対のスリットに挟まれた部分において形成される板ばね部を有し、前記押圧部は当該板ばね部に設けられており、前記光学素子を保持する際には、前記板ばね部の前記光軸と平行な方向への付勢力によって前記押圧部が前記光学素子を前記光軸と平行な方向へ押圧することを要旨とする。   An optical element holding device according to a fourth aspect of the present invention is the optical element holding device according to any one of the first to third aspects, wherein the clamp member has a radius approximately from an inner peripheral edge of the clamp member. It has a leaf spring portion formed in a portion sandwiched between a pair of slits cut toward the outside in the direction, and the pressing portion is provided in the leaf spring portion, and when holding the optical element, The gist is that the pressing portion presses the optical element in a direction parallel to the optical axis by an urging force of the leaf spring portion in a direction parallel to the optical axis.

従って、請求項4に係る光学素子保持装置では、一対のスリットにより板ばね部を簡単に構成することができ、さらに、板ばね部に押圧部を設けることによって、板ばね部による付勢力を利用して押圧部によって光学素子を押圧することができるという効果がある。   Therefore, in the optical element holding device according to the fourth aspect, the leaf spring portion can be easily configured by the pair of slits, and the urging force by the leaf spring portion is utilized by providing the leaf spring portion with a pressing portion. Thus, the optical element can be pressed by the pressing portion.

請求項5に係る光学素子保持装置は、請求項4に記載の光学素子保持装置の構成において、前記クランプ部材と前記枠体とは、前記板ばね部とは異なる部分において固定されていることを要旨とする。   The optical element holding device according to claim 5 is the configuration of the optical element holding device according to claim 4, wherein the clamp member and the frame are fixed at a portion different from the leaf spring portion. The gist.

従って、請求項5に係る光学素子保持装置では、クランプ部材と枠体とを固定するのに、板ばね部を直接固定するのではなく、板ばね部とは異なる部分において固定するため、板ばね部に形成される押圧部に対する固定の影響が小さくできる。例えばボルト等の締付け固定の力の差や位置的な差があっても、その差が直接板ばね部に及ぼされないことにより、それぞれの押圧部における押圧力が変化することを防ぐことができるという効果がある。   Therefore, in the optical element holding device according to claim 5, in order to fix the clamp member and the frame body, the plate spring portion is not fixed directly, but is fixed at a portion different from the plate spring portion. The influence of fixing to the pressing part formed in the part can be reduced. For example, even if there is a difference in tightening and fixing force such as a bolt or a positional difference, the difference is not directly applied to the leaf spring part, so that the pressing force at each pressing part can be prevented from changing. effective.

請求項6に係る光学素子保持装置は、請求項4又は請求項5に記載の光学素子保持装置の構成において、前記板ばね部は、前記クランプ部材の前記板ばね部とは異なる部分よりも僅かに光学素子と離間する方向へ反った位置で前記光学素子を保持することを要旨とする。   The optical element holding device according to claim 6 is the configuration of the optical element holding device according to claim 4 or 5, wherein the leaf spring portion is slightly smaller than a portion different from the leaf spring portion of the clamp member. The gist of the invention is to hold the optical element at a position warped in a direction away from the optical element.

従って、請求項6に係る光学素子保持装置では、板ばね部には、常に光学素子に接近する方向へ付勢力が働くことになるため、板ばね部に形成された押圧部によって光学素子を押圧して保持することができるという効果がある。   Therefore, in the optical element holding device according to the sixth aspect, since the urging force always acts on the leaf spring portion in the direction approaching the optical element, the optical element is pressed by the pressing portion formed on the leaf spring portion. And can be held.

請求項7に係る光学素子保持装置は、請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の光学素子保持装置の構成において、前記クランプ部材と前記枠体とには、それぞれ対応する位置に位置決め用の穴が設けられていることを要旨とする。   An optical element holding device according to a seventh aspect is the optical element holding device according to any one of the first to sixth aspects, wherein the clamp member and the frame body are respectively in corresponding positions. The gist is that a hole for positioning is provided.

従って、請求項7に係る光学素子保持装置では、光学素子を保持する際に位置決め用の穴を設けたことで、クランプ部材の枠体に対する回転位相が正しいか否かがピンを挿入することにより確認でき、クランプ部材と枠体との固定作業において容易に位相を正しく組み付けることができ、組み付け生産性を向上させることができるという効果がある。   Therefore, in the optical element holding device according to the seventh aspect, by providing a positioning hole when holding the optical element, whether or not the rotational phase of the clamp member with respect to the frame is correct is inserted. It can be confirmed, and the phase can be easily assembled correctly in the fixing operation between the clamp member and the frame, and the assembly productivity can be improved.

請求項8に係る光学素子保持装置は、請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の光学素子保持装置の構成において、前記クランプ部材と前記枠体との間には、前記クランプ部材と前記枠体との間隔を調整する間隔調整部材が設けられていることを要旨とする。   The optical element holding device according to claim 8 is the configuration of the optical element holding device according to any one of claims 1 to 7, wherein the clamp member is interposed between the clamp member and the frame body. The gist is that a distance adjusting member for adjusting the distance between the frame and the frame is provided.

従って、請求項8に係る光学素子保持装置では、例えばワッシャー等の間隔調整部材によって、クランプ部材と枠体との間隔を所望に調整し、各押圧部での押圧を均一化することができるという効果がある。   Therefore, in the optical element holding device according to the eighth aspect, for example, the distance between the clamp member and the frame body can be adjusted as desired by a distance adjusting member such as a washer, and the pressure at each pressing portion can be made uniform. effective.

請求項9に係る光学素子保持装置は、請求項1乃至請求項8のいずれか1項に記載の光学素子保持装置の構成において、前記光学素子は、投影露光装置においてマスク上に形成されたパターンの像を基板上に投影する投影光学系を構成する複数の光学素子の1つであることを要旨とする。   The optical element holding device according to claim 9 is the configuration of the optical element holding device according to any one of claims 1 to 8, wherein the optical element is a pattern formed on a mask in the projection exposure apparatus. The gist of the present invention is that it is one of a plurality of optical elements constituting a projection optical system for projecting the image on the substrate.

従って、請求項9に係る光学素子保持装置では、光学素子を投影光学系として組み付ける際の誤差を少なくし収差を最小限に留めることができるという効果がある。
請求項10に係る光学素子保持装置は、請求項9に記載の光学素子保持装置の構成において、前記光学素子は、前記投影露光装置における投影光学系の最も基板側の光学素子であることを要旨とする。
Therefore, in the optical element holding device according to the ninth aspect, there is an effect that an error when assembling the optical element as a projection optical system can be reduced and aberration can be minimized.
An optical element holding apparatus according to a tenth aspect is the optical element holding apparatus according to the ninth aspect, wherein the optical element is an optical element closest to the substrate of a projection optical system in the projection exposure apparatus. And

従って、請求項10に係る光学素子保持装置では、投影光学系における光学素子のうち、ウエハ上に塗布された感光性樹脂から発生する揮発物質等によって汚染されやすい最もウエハ側に位置する光学素子に対して、組み付け誤差を少なくし収差を最小限に留めることができるという効果がある。   Therefore, in the optical element holding device according to the tenth aspect, among the optical elements in the projection optical system, the optical element located closest to the wafer is easily contaminated by a volatile substance generated from the photosensitive resin applied on the wafer. On the other hand, there is an effect that the assembling error can be reduced and the aberration can be minimized.

請求項11に係る鏡筒は、少なくとも1つの光学素子保持装置を備えて構成される鏡筒において、請求項1乃至請求項10のいずれか1項に記載の光学素子保持装置を備えたことを要旨とする。   A lens barrel according to an eleventh aspect of the present invention is a lens barrel configured to include at least one optical element holding device, and includes the optical element holding device according to any one of claims 1 to 10. The gist.

従って、請求項11に記載の鏡筒では、収差が少なく、また、ホールドによる光学素子の互換性の高い鏡筒とすることができるという効果がある。
請求項12に係る露光装置は、露光光のもとで、マスク上に形成された所定のパターンの像を基板上に露光する露光装置において、前記所定のパターンの像を請求項11に記載の鏡筒における投影光学系を介して前記基板上に転写することを要旨とする。
Therefore, the lens barrel according to the eleventh aspect has an effect that the aberration can be reduced and the lens barrel can have a high compatibility of the optical element by the hold.
An exposure apparatus according to a twelfth aspect of the invention is an exposure apparatus that exposes an image of a predetermined pattern formed on a mask on a substrate under exposure light, and the image of the predetermined pattern according to claim 11. The gist is to transfer onto the substrate via a projection optical system in the lens barrel.

従って、請求項12に係る露光装置では、光学素子の組み付け誤差を少なくし収差を最小限に留めることにより、光学特性の安定した露光装置とすることができるという効果がある。   Therefore, the exposure apparatus according to the twelfth aspect has an effect that an exposure apparatus with stable optical characteristics can be obtained by reducing the assembly error of the optical elements and minimizing the aberration.

請求項13に係るデバイスの製造方法は、リソグラフィ工程を含むデバイスの製造方法において、前記リソグラフィ工程で請求項12に記載の露光装置を用いて露光を行うことを要旨とする。   A device manufacturing method according to a thirteenth aspect is characterized in that, in the device manufacturing method including a lithography step, the exposure is performed using the exposure apparatus according to the twelfth aspect in the lithography step.

従って、請求項13に係るデバイスの製造方法では、組み付け誤差を少なくし収差を最小限に留める露光装置を用いることにより品質の高いデバイスを歩留まり良く製造することができるという効果がある。   Therefore, the device manufacturing method according to the thirteenth aspect has an effect that a high-quality device can be manufactured with a high yield by using an exposure apparatus that reduces the assembly error and minimizes the aberration.

次に、前記各請求項に記載の発明にさらに含まれる技術的思想について、それらの作用とともに以下に記載する。
(ア)前記押圧部は、その外形形状が略半球形状であることを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれか1項に記載の光学素子保持装置。
Next, the technical ideas further included in the invention described in the above claims will be described below together with their actions.
(A) The optical element holding device according to any one of claims 1 to 10, wherein the outer shape of the pressing portion is substantially hemispherical.

従って、この(ア)に係る光学素子保持装置では、略半球形状の押圧部の先端が光学素子と接触する部分となるため、より略点接触と同等な微少な接触面積とすることができ、押圧部の角度変化によるストレスが生じず、光学素子の変形のために光学素子の結像性能が低下しないようにすることができるという効果がある。   Therefore, in the optical element holding device according to (a), since the tip of the substantially hemispherical pressing portion is a part in contact with the optical element, the contact area can be made to be a minute contact area substantially equivalent to the point contact, There is an effect that stress due to a change in the angle of the pressing portion does not occur, and the imaging performance of the optical element can be prevented from deteriorating due to deformation of the optical element.

(イ)前記位置決め用のピン穴は、前記クランプ部材と前記枠体とにそれぞれ2つずつ設けられていることを特徴とする請求項7に記載の光学素子保持装置。
従って、この(イ)に係る光学素子保持装置では、光学素子を保持する際に位置決め用の穴にピンを挿入しておけば、クランプ部材は、クランプ部材の中心軸(光軸AX)に対する回転方向及び垂直方向の位置決めがなされることとなる。よって、位置再現性が確保され、クランプ部材と枠体とのボルト等による固定作業を容易にすることができるという効果がある。
(B) The optical element holding device according to claim 7, wherein two pin holes for positioning are provided in each of the clamp member and the frame body.
Therefore, in the optical element holding device according to (a), if the pin is inserted into the positioning hole when holding the optical element, the clamp member rotates relative to the central axis (optical axis AX) of the clamp member. Positioning in the direction and the vertical direction will be performed. Therefore, there is an effect that position reproducibility is ensured, and fixing work by a bolt or the like between the clamp member and the frame can be facilitated.

(ウ)請求項1乃至請求項10又は(ア)若しくは(イ)に記載の光学素子保持装置において、前記クランプ部材が一体に形成されたことを特徴とする光学素子保持装置。
従って、クランプ部材が備えるそれぞれの押圧部が同一の材質で形成されるため、含有成分や焼き入れによる結晶構造などが同一になりばね定数等が均一化され、バランス良く光学素子を保持できる。また、クランプ部材を交換したような場合でも、クランプ部材が同一の材質から形成されていることから、それぞれの押圧部を調整することなく簡易な作業で交換することができる。従って、クランプ部材の互換性を高めることができる。
(C) The optical element holding device according to any one of claims 1 to 10, or (a) or (b), wherein the clamp member is integrally formed.
Accordingly, since the respective pressing portions included in the clamp member are formed of the same material, the contained components, the crystal structure due to quenching, and the like are the same, the spring constant is made uniform, and the optical element can be held in a well-balanced manner. Further, even when the clamp members are replaced, the clamp members are formed of the same material, and therefore can be replaced with simple work without adjusting the respective pressing portions. Therefore, the compatibility of the clamp member can be improved.

以上、詳述したように、本発明によれば、露光装置における光学素子を、組み付け誤差を少なくし収差を最小限に留めるとともに、ホールドによる互換性を高めることができる光学素子保持装置及び鏡筒を提供することができる。また、露光精度の高い露光装置を提供することができる。さらに、高集積度のデバイスを歩留まりよく生産することのできるデバイスの製造方法を提供することができる。   As described above in detail, according to the present invention, an optical element holding device and a lens barrel that can reduce the assembly error and minimize the aberration and can improve the compatibility by the holding, in the optical element in the exposure apparatus. Can be provided. In addition, an exposure apparatus with high exposure accuracy can be provided. Furthermore, it is possible to provide a device manufacturing method capable of producing a highly integrated device with a high yield.

以下、本発明の露光装置及び鏡筒、光学素子保持装置を、半導体素子製造用の露光装置及びその投影光学系を収容する鏡筒、そして投影光学系の最も感光基板側の光学素子を保持する光学素子保持装置に具体化した一実施形態について図1〜図7にしたがって説明する。   Hereinafter, the exposure apparatus, the barrel, and the optical element holding apparatus of the present invention hold the exposure apparatus for manufacturing a semiconductor element and the barrel that houses the projection optical system, and the optical element closest to the photosensitive substrate of the projection optical system. An embodiment embodied in an optical element holding device will be described with reference to FIGS.

図1は、露光装置31の概略構成を、その投影光学系35を中心として示している。図1に示すように、この実施形態の露光装置31は、光源32と、照明光学系33と、マスクとしてのレチクルRtを保持するレチクルステージ34と、投影光学系35と、基板としてのウエハWを保持するウエハステージ36とから構成されている。   FIG. 1 shows a schematic configuration of the exposure apparatus 31 with the projection optical system 35 as the center. As shown in FIG. 1, an exposure apparatus 31 of this embodiment includes a light source 32, an illumination optical system 33, a reticle stage 34 that holds a reticle Rt as a mask, a projection optical system 35, and a wafer W as a substrate. And a wafer stage 36 for holding the wafer.

光源32は、本実施形態では、波長157nmのFレーザを発振する。その他、波長248nmのKrFエキシマレーザや波長193nmのArFエキシマレーザなども使用できる。 In this embodiment, the light source 32 oscillates an F 2 laser having a wavelength of 157 nm. In addition, a KrF excimer laser with a wavelength of 248 nm, an ArF excimer laser with a wavelength of 193 nm, or the like can also be used.

照明光学系33は、図示しないフライアイレンズやロッドレンズ等のオプティカルインテグレータ、リレーレンズ、コンデンサレンズ等の各種レンズ系及び開口絞り等を含んで構成されている。そして、光源32から出射される露光光ELが、この照明光学系33を通過することにより、レチクルRt上のパターンを均一に照明するように調整される。   The illumination optical system 33 includes an optical integrator (not shown) such as a fly-eye lens and a rod lens, various lens systems such as a relay lens and a condenser lens, an aperture stop, and the like. The exposure light EL emitted from the light source 32 is adjusted so as to uniformly illuminate the pattern on the reticle Rt by passing through the illumination optical system 33.

レチクルステージ34は、照明光学系33の射出側、すなわち、後述する投影光学系35の物体面側(露光光ELの入射側)において、そのレチクルRtの載置面が投影光学系35の光軸AX方向とほぼ直交するように配置されている。   In the reticle stage 34, on the exit side of the illumination optical system 33, that is, on the object plane side (incident side of the exposure light EL) of the projection optical system 35 described later, the mounting surface of the reticle Rt is the optical axis of the projection optical system 35. They are arranged so as to be substantially orthogonal to the AX direction.

投影光学系35は、複数の光学素子37、例えばレンズ等からなっている。投影光学系35は、複数の鏡筒モジュール39aが積層されて構成された鏡筒39内に光学素子37が光軸AXが一致するように収容されている。複数の鏡筒モジュール39aのそれぞれは、1つ又は2つ以上の光学素子37を保持する。   The projection optical system 35 includes a plurality of optical elements 37 such as lenses. In the projection optical system 35, an optical element 37 is accommodated in a lens barrel 39 formed by stacking a plurality of lens barrel modules 39a so that the optical axes AX coincide with each other. Each of the plurality of lens barrel modules 39 a holds one or more optical elements 37.

複数の鏡筒モジュール39aのうち、特定の鏡筒モジュール39aは、本発明の光学素子保持装置38(図2参照)を介して、光学素子37を保持している。なお、他の鏡筒モジュール39aも本発明の光学素子保持装置を介して保持してもよいし、あるいは、他の機構で構成されている光学素子保持装置で保持してもよい。なお、本実施形態においては、光学素子37は、投影光学系35の内、最も基板(ウエハW)側の光学素子とされて、平行平板若しくは曲率はほとんど付いておらずほぼ平行平板の光学素子とされる。なお、平行平板の場合は厳密な意味では光軸は存在しないが、便宜的に光学素子の中心軸を光軸とみなして説明する。   Among the plurality of lens barrel modules 39a, a specific lens barrel module 39a holds the optical element 37 via the optical element holding device 38 (see FIG. 2) of the present invention. Note that the other lens barrel module 39a may also be held via the optical element holding device of the present invention, or may be held by an optical element holding device configured by another mechanism. In the present embodiment, the optical element 37 is the optical element closest to the substrate (wafer W) in the projection optical system 35, and is a parallel plate or an almost parallel plate optical element with almost no curvature. It is said. In the case of a parallel plate, an optical axis does not exist in a strict sense, but for the sake of convenience, description will be made assuming that the central axis of the optical element is the optical axis.

ウエハステージ36は、投影光学系35の像面側(露光光ELの射出側)において、ウエハWの載置面が投影光学系35の光軸方向と交差するように配置されている。そして、露光光ELにて照明されたレチクルRt上のパターンの像が、投影光学系35を通して所定の縮小倍率に縮小された状態で、ウエハステージ36上のウエハWに投影転写されるようになっている。   The wafer stage 36 is disposed on the image plane side of the projection optical system 35 (exposing side of the exposure light EL) so that the mounting surface of the wafer W intersects the optical axis direction of the projection optical system 35. Then, the image of the pattern on the reticle Rt illuminated with the exposure light EL is projected and transferred onto the wafer W on the wafer stage 36 in a state of being reduced to a predetermined reduction magnification through the projection optical system 35. ing.

次に、光学素子保持装置38の詳細構成について説明する。図2は、光学素子保持装置38を示す分解斜視図であり、図3は光学素子保持装置38を示す平面図であり、図4は図3の4−4線における矢視断面図である。さらに、図5は、クランプ部材の一部を下側(図2における下側)から見た図である。   Next, the detailed configuration of the optical element holding device 38 will be described. 2 is an exploded perspective view showing the optical element holding device 38, FIG. 3 is a plan view showing the optical element holding device 38, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line 4-4 of FIG. Further, FIG. 5 is a view of a part of the clamp member as viewed from the lower side (lower side in FIG. 2).

図2に示すように、光学素子保持装置38は、光学素子37の周縁に配置される円環状に形成された枠体41と、光学素子37の上面側に配置され、その外径が光学素子37の外径よりも大きく形成された同じく円環状のクランプ部材42とを備える。光学素子37は、クランプ部材42によって枠体41にクランプされ、クランプ部材42と枠体41との間に保持される。   As shown in FIG. 2, the optical element holding device 38 is arranged on the upper surface side of the optical element 37 and the frame body 41 formed in an annular shape arranged on the periphery of the optical element 37, and the outer diameter thereof is the optical element. And an annular clamp member 42 formed larger than the outer diameter of 37. The optical element 37 is clamped to the frame body 41 by the clamp member 42 and is held between the clamp member 42 and the frame body 41.

枠体41には、枠体41の内周に受け部43がフランジ状に形成されており、その受け部43の上面には等角度間隔をおいて3つの座44が突起部として突出形成されている。この座44は、光学素子37の下面に対して、微少な面積で接触する微少平面座で構成される。この3つの座44によって、光学素子37の下面が支持される。また、枠体41の上面の内周端縁近傍には、ねじ孔45が複数個(本実施形態では一対のねじ孔45が、等角度間隔をおいて3対の合計6つ)形成されている。このねじ孔45には、クランプ部材42と枠体41を固定するためのボルト46が挿入される。さらに、クランプ部材42を枠体41に固定する際の位置決め用のピン孔47が、同じく枠体41の上面の内周端縁近傍に、180度対称位置に2つ形成されている(なお、図2の図面上では1つしか表れていない。)。   The frame body 41 is formed with a receiving portion 43 in the form of a flange on the inner periphery of the frame body 41, and three seats 44 project from the upper surface of the receiving portion 43 at regular angular intervals as protrusions. ing. The seat 44 is constituted by a minute plane seat that contacts the lower surface of the optical element 37 with a minute area. The three seats 44 support the lower surface of the optical element 37. In addition, a plurality of screw holes 45 (in the present embodiment, a pair of screw holes 45, three pairs in total of six pairs at equal angular intervals) are formed near the inner peripheral edge of the upper surface of the frame body 41. Yes. Bolts 46 for fixing the clamp member 42 and the frame body 41 are inserted into the screw holes 45. Furthermore, two pin holes 47 for positioning when fixing the clamp member 42 to the frame body 41 are formed in the vicinity of the inner peripheral edge of the upper surface of the frame body 41 at 180 ° symmetrical positions (note that Only one appears in the drawing of FIG. 2).

一方、クランプ部材42は、例えば鋼などの弾性部材により形成される。このクランプ部材42には、内周端縁から概ね半径方向外側へ向けて一対のスリット(このスリットは、互いに平行であることが望ましい。)が切り込み形成されており、その一対のスリットに挟まれた部分によって板ばね部49が形成されている。スリットは、クランプ部材42に等角度間隔をおいて3対形成され、これにより3つの板ばね部49が等角度間隔をおいて形成されている。さらに、3つの板ばね部49の下面には、光学素子37の上面の周縁近傍を押圧する押圧部50が設けられている(図5参照)。押圧部50は、板ばね部49から突出形成された突起部として形成され、その外形形状は略半球形状となっている。また、この3つの押圧部50は、枠体41の受け部43の上面に形成される3つの座と光学素子37を介して対向する位置に形成されている。なお、押圧部50は、クランプ部材42の上面側から先端の細い棒状の部材によってプレスされて得られた突起部であって、プレス後その突起部を研削等することによって突起高さを均一に揃えられて形成される。   On the other hand, the clamp member 42 is formed of an elastic member such as steel. The clamp member 42 is formed with a pair of slits (desirably parallel to each other) from the inner peripheral edge to the outside in the radial direction, and is sandwiched between the pair of slits. A leaf spring portion 49 is formed by the portion. Three pairs of slits are formed on the clamp member 42 at equiangular intervals, whereby three leaf spring portions 49 are formed at equiangular intervals. Furthermore, a pressing portion 50 that presses the vicinity of the periphery of the upper surface of the optical element 37 is provided on the lower surfaces of the three leaf spring portions 49 (see FIG. 5). The pressing portion 50 is formed as a protruding portion that protrudes from the leaf spring portion 49, and the outer shape thereof is substantially hemispherical. Further, the three pressing portions 50 are formed at positions facing the three seats formed on the upper surface of the receiving portion 43 of the frame body 41 with the optical element 37 interposed therebetween. The pressing portion 50 is a protruding portion obtained by pressing from the upper surface side of the clamp member 42 with a bar-shaped member having a thin tip, and the protruding height is made uniform by grinding the protruding portion after pressing. Aligned and formed.

また、クランプ部材42には、ねじ孔(ただし、その直径がボルト46より大きい孔で、俗にいう馬鹿穴)51が複数個(本実施形態では一対のねじ孔51が、等角度間隔をおいて3対の合計6つ)形成されている。また、このねじ孔51は、板ばね部49からある程度離れた位置に、かつ、枠体41側に形成されるねじ孔45と対応する位置に形成されている。さらに、クランプ部材42を枠体41に固定する際の位置決め用のピン孔52が、枠体41側に形成されるピン孔47と対応する位置に、180度対称位置に2つ形成されている。   Further, the clamp member 42 has a plurality of screw holes (however, the diameter of the screw holes 51 is larger than that of the bolt 46 and is commonly referred to as an idiot hole) 51 (in this embodiment, the pair of screw holes 51 are spaced at equal angular intervals). A total of 6 pairs of 3 pairs). The screw hole 51 is formed at a position away from the leaf spring portion 49 to some extent and at a position corresponding to the screw hole 45 formed on the frame body 41 side. Further, two pin holes 52 for positioning when fixing the clamp member 42 to the frame body 41 are formed at positions corresponding to the pin holes 47 formed on the frame body 41 side, at 180 ° symmetrical positions. .

また、クランプ部材42と枠体41とをボルト46によって固定する部分(本実施形態では6箇所)には、クランプ部材42と枠体41との間隔を所望に調整するためのワッシャー53がそれぞれ設けられている。   In addition, washers 53 for adjusting the distance between the clamp member 42 and the frame body 41 as desired are provided at portions (6 places in the present embodiment) where the clamp member 42 and the frame body 41 are fixed by the bolts 46. It has been.

さらに、光学素子37の側面には、光学素子37を枠体41に保持させる際の位置決め用の刻線54が形成され、同様に枠体41の上面には刻線55が形成されている。この刻線54,55が揃うように目視によって調整し、光学素子37の中心軸(投影光学系35の光軸AX)に対する回転方向の位置決めができるようになっている。そして、枠体41の3つの座44に光学素子37を載置した状態で、クランプ部材42のねじ孔51を介して、枠体41のねじ孔45にボルト46を螺合することによって、クランプ部材42を枠体41に固定する。   Further, a marking line 54 for positioning when holding the optical element 37 on the frame body 41 is formed on the side surface of the optical element 37, and similarly, a marking line 55 is formed on the upper surface of the frame body 41. The markings 54 and 55 are adjusted by visual observation so that they can be aligned, and the optical element 37 can be positioned in the rotational direction with respect to the center axis (the optical axis AX of the projection optical system 35). Then, with the optical element 37 placed on the three seats 44 of the frame body 41, the bolts 46 are screwed into the screw holes 45 of the frame body 41 via the screw holes 51 of the clamp member 42, thereby clamping The member 42 is fixed to the frame body 41.

クランプ部材42が枠体41に固定されると、クランプ部材42の3つの板ばね部49がクランプ部材42の板ばね部49とは異なる部分に対して、僅かに上方へ弾性変形する。板ばね部49はクランプ部材42と一体に形成されているため、この弾性変形による上方への力は、クランプ部材42の板ばね部49とは異なる部分に対して対抗する力である。よって、板ばね部49にはこの力の発生によって常に下方への付勢力が働くことになり、この付勢力が、光学素子37を枠体41の3つの座44に押し付けるための押圧力となる。   When the clamp member 42 is fixed to the frame body 41, the three leaf spring portions 49 of the clamp member 42 are elastically deformed slightly upward with respect to a portion different from the leaf spring portion 49 of the clamp member 42. Since the leaf spring portion 49 is formed integrally with the clamp member 42, the upward force due to this elastic deformation is a force that opposes a portion different from the leaf spring portion 49 of the clamp member 42. Therefore, a downward biasing force always acts on the leaf spring portion 49 due to the generation of this force, and this biasing force becomes a pressing force for pressing the optical element 37 against the three seats 44 of the frame body 41. .

図4に示すように、光学素子37がクランプ部材42と枠体41との間に保持されている状態では、先にも述べたように光学素子37の下面は枠体41の受け部43に形成された3つの座44によって支持されている。一方、クランプ部材42の3つの板ばね部49は、クランプ部材42の板ばね部49とは異なる部分よりも僅かに上方(光学素子37と離間する方向)へ沿った位置で光学素子37を保持している。この僅かに上方へ沿った板ばね部49は、常に光軸AXと平行でかつ下向き(光学素子37側)に付勢されていることから、板ばね部49の下面に形成される押圧部50(図5参照)が光学素子37を光軸AXと平行な方向へ押圧する。ここで、3つの押圧部50は、枠体41の3つの座44と光学素子37を介して対向する同位相の位置(投影光学系35の光軸AXに平行な方向に相対する位置。)に設けられている。そのため、光学素子37はその下面を3つの座44に支持され、座44に支持された位置と対応する同位相の上面の位置にて押圧部50によって押圧されている。すなわち、3組の座44と押圧部50によって挟まれるようにして保持されている。これは、座に対して押圧部50の突起部を同位相とし、略平行平板に構成された光学素子37を平面に垂直に押圧することで、光学素子37の変形を極小化するためである。また、押圧部50の突起部が半球状に形成されている理由は、光学素子37に対してストレスを与えないためである。そして、これらによって、光学素子37の結像性能が低下しないようにするためである。   As shown in FIG. 4, when the optical element 37 is held between the clamp member 42 and the frame body 41, the lower surface of the optical element 37 is placed on the receiving portion 43 of the frame body 41 as described above. It is supported by the three seats 44 formed. On the other hand, the three leaf spring portions 49 of the clamp member 42 hold the optical element 37 at a position slightly above the portion different from the leaf spring portion 49 of the clamp member 42 (in a direction away from the optical element 37). doing. The leaf spring portion 49 extending slightly upward is always urged parallel to the optical axis AX and downward (on the optical element 37 side), so that the pressing portion 50 formed on the lower surface of the leaf spring portion 49. (See FIG. 5) presses the optical element 37 in a direction parallel to the optical axis AX. Here, the three pressing portions 50 are in-phase positions facing the three seats 44 of the frame body 41 via the optical element 37 (positions facing in a direction parallel to the optical axis AX of the projection optical system 35). Is provided. Therefore, the lower surface of the optical element 37 is supported by the three seats 44 and is pressed by the pressing portion 50 at the position of the upper surface in the same phase corresponding to the position supported by the seat 44. That is, it is held so as to be sandwiched between the three sets of seats 44 and the pressing portion 50. This is for minimizing the deformation of the optical element 37 by pressing the optical element 37 configured in a substantially parallel plate perpendicularly to the plane with the projections of the pressing part 50 in phase with the seat. . The reason why the protrusions of the pressing part 50 are formed in a hemispherical shape is that no stress is applied to the optical element 37. This is to prevent the imaging performance of the optical element 37 from deteriorating.

次に、上記説明した光学素子保持装置38を用いて光学素子37を保持する手順について説明する。
まず、光学素子37の側面に形成された刻線54と枠体41の上面に形成された刻線55との位置が揃うようにして、枠体41の受け部43に光学素子37を載置する。この時、光学素子37の下面は、受け部43の上面に形成された3つの座44によって支持される。次に、クランプ部材42と枠体41の間にワッシャー53を介して、クランプ部材42をボルト46によって枠体41に固定する。この際、クランプ部材42と枠体41の中心軸(光軸AX)が同軸となるように、かつそれぞれに形成されるピン孔47,52が同位置となるようにし、双方のピン孔47,52にピンを挿入しておく。2箇所でピンによって固定されることによって、クランプ部材42は、クランプ部材42の中心軸(光軸AX)に対する回転方向及び垂直方向の位置決めがなされることとなる。よって、ボルト46によるクランプ部材42と枠体41との固定作業を容易にすることができ、組み付け生産性を向上させることができる。
Next, a procedure for holding the optical element 37 using the optical element holding device 38 described above will be described.
First, the optical element 37 is placed on the receiving portion 43 of the frame body 41 so that the positions of the marking line 54 formed on the side surface of the optical element 37 and the marking line 55 formed on the upper surface of the frame body 41 are aligned. To do. At this time, the lower surface of the optical element 37 is supported by three seats 44 formed on the upper surface of the receiving portion 43. Next, the clamp member 42 is fixed to the frame body 41 with a bolt 46 via a washer 53 between the clamp member 42 and the frame body 41. At this time, the central axis (optical axis AX) of the clamp member 42 and the frame body 41 is coaxial, and the pin holes 47 and 52 formed in the respective positions are at the same position. A pin is inserted into 52. The clamp member 42 is positioned in the rotational direction and the vertical direction with respect to the central axis (optical axis AX) of the clamp member 42 by being fixed by the pins at two locations. Therefore, the fixing work of the clamp member 42 and the frame body 41 by the bolt 46 can be facilitated, and the assembly productivity can be improved.

なお、このように構成された光学素子保持装置38及びこれを備えた鏡筒モジュール39a、これにより構成された鏡筒39を用いた図1に示す露光装置31は、例えば次のように製造される。   The optical element holding device 38 configured as described above, the lens barrel module 39a including the optical element holding device 38, and the exposure apparatus 31 shown in FIG. 1 using the lens barrel 39 configured thereby are manufactured as follows, for example. The

まず、投影光学系35を構成する最も基板(ウエハW)側の光学素子37を前記実施形態の光学素子保持装置38で保持し、この投影光学系35を露光装置31の本体に組み込み、光学調整を行う。   First, the optical element 37 on the most substrate (wafer W) side constituting the projection optical system 35 is held by the optical element holding device 38 of the above-described embodiment, and this projection optical system 35 is incorporated in the main body of the exposure apparatus 31 to perform optical adjustment. I do.

次いで、多数の機械部品からなるウエハステージ36(スキャンタイプの露光装置の場合は、レチクルステージ34も含む)を露光装置31の本体に取り付けて配線を接続する。そして、露光光の光路内にガスを供給するガス供給配管を接続した上で、鏡筒内のパージを行う。この場合、鏡筒内のO、水分を徹底的に排除した上でNを充填する。さらに総合調整(電気調整、動作確認など)を行う。 Next, a wafer stage 36 (including a reticle stage 34 in the case of a scan type exposure apparatus) made up of a large number of mechanical parts is attached to the main body of the exposure apparatus 31 to connect wiring. After the gas supply pipe for supplying gas is connected to the optical path of the exposure light, the inside of the lens barrel is purged. In this case, N 2 is filled after thoroughly removing O 2 and moisture in the lens barrel. Furthermore, comprehensive adjustment (electric adjustment, operation check, etc.) is performed.

ここで、光学素子保持装置38を構成する各部品や、Oリング等のシール部材は、超音波洗浄などにより、加工油や、金属物質などの不純物を落とし、アウトガス放出源にならないように処理を行い、組み上げられる。なお、露光装置31の製造は、温度、湿度や気圧が制御され、かつクリーン度が調整されたクリーンルーム内で行うことが望ましい。   Here, each component constituting the optical element holding device 38 and a sealing member such as an O-ring are processed by ultrasonic cleaning or the like to remove impurities such as processing oil and metal substances so that they do not become an outgas emission source. Done and assembled. The exposure apparatus 31 is preferably manufactured in a clean room in which the temperature, humidity, and pressure are controlled and the cleanness is adjusted.

次に、上述した露光装置31をリソグラフィ工程で使用したデバイスの製造方法の実施形態について説明する。
図6は、デバイス(ICやLSI等の半導体素子、液晶表示素子、撮像素子(CCD等)、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン等)の製造例のフローチャートを示す図である。図6に示すように、まず、ステップS101(設計ステップ)において、デバイス(マイクロデバイス)の機能・性能設計(例えば、半導体デバイスの回路設計等)を行い、その機能を実現するためのパターン設計を行う。引き続き、ステップS102(マスク製作ステップ)において、設計した回路パターンを形成したマスク(レクチルRt等)を製作する。一方、ステップS103(基板製造ステップ)において、シリコン、ガラスプレート等の材料を用いて基板(シリコン材料を用いた場合にはウエハWとなる。)を製造する。
Next, an embodiment of a device manufacturing method using the exposure apparatus 31 described above in a lithography process will be described.
FIG. 6 is a flowchart showing a manufacturing example of a device (a semiconductor element such as an IC or LSI, a liquid crystal display element, an imaging element (CCD or the like), a thin film magnetic head, a micromachine, or the like). As shown in FIG. 6, first, in step S101 (design step), function / performance design (for example, circuit design of a semiconductor device) of a device (microdevice) is performed, and pattern design for realizing the function is performed. Do. Subsequently, in step S102 (mask manufacturing step), a mask (such as a reticle Rt) on which the designed circuit pattern is formed is manufactured. On the other hand, in step S103 (substrate manufacturing step), a substrate (wafer W when silicon material is used) is manufactured using a material such as silicon or glass plate.

次に、ステップS104(基板処理ステップ)において、ステップS101〜S103で用意したマスクと基板を使用して、後述するように、リソグラフィ技術等によって基板上に実際の回路等を形成する。次いで、ステップS105(デバイス組立ステップ)において、ステップS104で処理された基板を用いてデバイス組立を行う。このステップS105には、ダイシング工程、ボンディング工程、及びパッケージング工程(チップ封入等)等の工程が必要に応じて含まれる。   Next, in step S104 (substrate processing step), using the mask and substrate prepared in steps S101 to S103, an actual circuit or the like is formed on the substrate by lithography or the like, as will be described later. Next, in step S105 (device assembly step), device assembly is performed using the substrate processed in step S104. Step S105 includes processes such as a dicing process, a bonding process, and a packaging process (chip encapsulation or the like) as necessary.

最後に、ステップS106(検査ステップ)において、ステップS105で作製されたデバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行う。こうした工程を経た後にデバイスが完成し、これが出荷される。   Finally, in step S106 (inspection step), inspections such as an operation confirmation test and a durability test of the device manufactured in step S105 are performed. After these steps, the device is completed and shipped.

図7は、半導体デバイスの場合における、図6のステップS104の詳細なフローの一例を示す図である。図7において、ステップS111(酸化ステップ)では、ウエハWの表面を酸化させる。ステップS112(CVDステップ)では、ウエハW表面に絶縁膜を形成する。ステップS113(電極形成ステップ)では、ウエハW上に電極を蒸着によって形成する。ステップS114(イオン打込みステップ)では、ウエハWにイオンを打ち込む。以上のステップS111〜S114のそれぞれは、ウエハ処理の各段階の前処理工程を構成しており、各段階において必要な処理に応じて選択されて実行される。   FIG. 7 is a diagram showing an example of a detailed flow of step S104 of FIG. 6 in the case of a semiconductor device. In FIG. 7, in step S111 (oxidation step), the surface of the wafer W is oxidized. In step S112 (CVD step), an insulating film is formed on the surface of the wafer W. In step S113 (electrode formation step), an electrode is formed on the wafer W by vapor deposition. In step S114 (ion implantation step), ions are implanted into the wafer W. Each of the above steps S111 to S114 constitutes a pretreatment process at each stage of the wafer processing, and is selected and executed according to a necessary process at each stage.

ウエハプロセスの各段階において、上述の前処理工程が終了すると、以下のようにして後処理工程が実行される。この後処理工程では、まず、ステップS115(レジスト形成ステップ)において、ウエハWに感光剤を塗布する。引き続き、ステップS116(露光ステップ)において、先に説明したリソグラフィシステム(露光装置31)によってマスク(レチクルRt)の回路パターンをウエハW上に転写する。次に、ステップS117(現像ステップ)では露光されたウエハWを現像し、ステップS118(エッチングステップ)において、レジストが残存している部分以外の部分の露出部材をエッチングにより取り去る。そして、ステップS119(レジスト除去ステップ)において、エッチングが済んで不要となったレジストを取り除く。   At each stage of the wafer process, when the above pre-process is completed, the post-process is executed as follows. In this post-processing process, first, a photosensitive agent is applied to the wafer W in step S115 (resist formation step). Subsequently, in step S116 (exposure step), the circuit pattern of the mask (reticle Rt) is transferred onto the wafer W by the lithography system (exposure apparatus 31) described above. Next, in step S117 (developing step), the exposed wafer W is developed, and in step S118 (etching step), the exposed members other than the portion where the resist remains are removed by etching. In step S119 (resist removal step), the resist that has become unnecessary after the etching is removed.

これらの前処理工程と後処理工程とを繰り返し行うことによって、ウエハW上に多重に回路パターンが形成される。
以上説明した本実施形態のデバイス製造方法を用いれば、露光工程(ステップS116)において上記の露光装置31が用いられ、Fレーザの露光光ELにより解像力の向上が可能となり、しかも露光量制御を高精度に行うことができる。従って、結果的に最小線幅が0.1μmの高集積度のデバイスを歩留まりよく生産することができる。
Multiple circuit patterns are formed on the wafer W by repeatedly performing these pre-processing and post-processing steps.
By using the device manufacturing method of the embodiment described above, the exposure process the exposure device 31 (Step S116) is used, it is possible to improve the resolution by the exposure light EL of the F 2 laser, moreover exposure control It can be performed with high accuracy. Therefore, as a result, a highly integrated device having a minimum line width of 0.1 μm can be produced with high yield.

上記実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
(1)クランプ部材42の外径は、光学素子37の外径よりも大きく形成され、かつ、一体に形成された1つの部材であるため、3箇所の押圧部50によるホールド部分におけるばね定数などの物理特性の差による変形誤差が少なく、この誤差が少ないことにより光学素子37の結像性能のずれが生じにくいという効果がある。
In the above embodiment, the following effects can be obtained.
(1) Since the outer diameter of the clamp member 42 is larger than the outer diameter of the optical element 37 and is a single member formed integrally, the spring constant at the holding portion by the three pressing portions 50, etc. The deformation error due to the difference in the physical characteristics of the optical element 37 is small, and since this error is small, the imaging performance of the optical element 37 is hardly shifted.

(2)また、部品点数の削減により組み付け工程数も減るため、投影光学系35の組み付け作業が容易となり、生産性を向上させることができるという効果がある。
(3)クランプ部材42の内周端縁から概ね半径方向外側へ向けて切り込んだ一対のスリットによって板ばね部49を形成している。さらに、板ばね部49をクランプ部材42の板ばね部49とは異なる部分よりも僅かに光学素子37と離間する方向に沿った位置とすることで、所定の押圧力で付勢できる板ばねとしての機能を実現することができるという効果がある。
(2) Since the number of assembling steps is reduced by reducing the number of parts, the assembling work of the projection optical system 35 is facilitated, and the productivity can be improved.
(3) The leaf spring portion 49 is formed by a pair of slits cut from the inner peripheral edge of the clamp member 42 generally outward in the radial direction. Further, the leaf spring portion 49 is a plate spring that can be biased with a predetermined pressing force by being positioned slightly along the direction away from the optical element 37 from a portion different from the leaf spring portion 49 of the clamp member 42. There is an effect that the function can be realized.

(4)さらに、板ばね部49の下面に半球状の突起部としての押圧部50が形成されているため、板ばね部49が光軸AXと平行でかつ下向きに付勢されていることに伴い、押圧部50が光学素子37を上方から押圧して光学素子37をストレスなく保持することができるという効果がある。   (4) Further, since the pressing portion 50 as a hemispherical protrusion is formed on the lower surface of the leaf spring portion 49, the leaf spring portion 49 is biased downward in parallel with the optical axis AX. Accordingly, there is an effect that the pressing portion 50 can press the optical element 37 from above to hold the optical element 37 without stress.

(5)クランプ部材42と枠体41は、対応する位置にそれぞれ2つのピン孔47,52を有する。このため、ピン孔47,52にピンを挿入した状態でクランプ部材42を枠体41に固定することができる。すなわち、クランプ部材42は、クランプ部材42の中心軸に対する回転方向及び垂直方向の位置再現性が確保され、光学素子37の交換作業等をより効率良く行うことができるという効果がある。   (5) The clamp member 42 and the frame 41 have two pin holes 47 and 52 at corresponding positions, respectively. For this reason, the clamp member 42 can be fixed to the frame body 41 with the pins inserted into the pin holes 47 and 52. That is, the clamp member 42 has an effect that the position reproducibility in the rotation direction and the vertical direction with respect to the central axis of the clamp member 42 is ensured, and the optical element 37 can be exchanged more efficiently.

(6)クランプ部材42と枠体41の間に、ワッシャー53を設けることにより、クランプ部材42と枠体41との間隔を調整し、押圧部50による押圧力のバランスを調整することができるという効果がある。   (6) By providing the washer 53 between the clamp member 42 and the frame body 41, the distance between the clamp member 42 and the frame body 41 can be adjusted, and the balance of the pressing force by the pressing portion 50 can be adjusted. effective.

(7)クランプ部材42と枠体41とのボルト46による固定位置は、板ばね部49上ではなく、板ばね部49からある程度離れた位置とされるため、板ばね部49の付勢力(押圧部50による押圧力)やばね定数に与える影響を軽減することができるという効果がある。   (7) Since the fixing position of the clamp member 42 and the frame 41 by the bolt 46 is not on the leaf spring portion 49 but at a certain distance from the leaf spring portion 49, the biasing force (pressing force of the leaf spring portion 49) There is an effect that the influence on the pressing force by the portion 50) and the spring constant can be reduced.

(8)光学素子37は、投影光学系35を構成する光学素子の中で、最も基板(ウエハW)側の光学素子とされる。この光学素子は、平行平板若しくはほとんど曲率が付いておらずほぼ平行平板の光学素子であって、光軸AXに垂直な方向の位置の変位は、殆ど光学性能に影響を与えない。そのため、光軸AXに垂直な方向には拘束せず、光軸AXに平行な方向にのみ拘束する。上記実施形態では、板ばね部49の下面に形成された押圧部50(図5参照)が光学素子37を光軸AXと平行な方向へ押圧するため、光学素子37が光軸AXと平行な方向に対して傾いたり歪んだりしないようにホールドすることができるという効果がある。   (8) The optical element 37 is the optical element closest to the substrate (wafer W) among the optical elements constituting the projection optical system 35. This optical element is a parallel plate or an almost parallel plate optical element with almost no curvature, and the displacement in the direction perpendicular to the optical axis AX hardly affects the optical performance. Therefore, it is not restricted in the direction perpendicular to the optical axis AX, and is restricted only in the direction parallel to the optical axis AX. In the above embodiment, since the pressing portion 50 (see FIG. 5) formed on the lower surface of the leaf spring portion 49 presses the optical element 37 in a direction parallel to the optical axis AX, the optical element 37 is parallel to the optical axis AX. There is an effect that it can be held so as not to be inclined or distorted with respect to the direction.

なお、上記実施形態は以下のように変更してもよい。
○ クランプ部材42と枠体41とのボルト46による固定位置は、板ばね部49からある程度離れた位置としたが、これに代えて板ばね部49の部分にて固定しても良い。この場合、例えば一対のスリット間において、クランプ部材42の外周端縁近傍を固定すれば、板ばね部49のばね定数や内周端縁近傍に形成される押圧部50の押圧力に与える影響が少ないため、ボルト46等の部材点数を減らして固定することができる。
In addition, you may change the said embodiment as follows.
The fixing position of the clamp member 42 and the frame body 41 by the bolt 46 is set to a position away from the leaf spring portion 49 to some extent, but it may be fixed at the portion of the leaf spring portion 49 instead. In this case, for example, if the vicinity of the outer peripheral edge of the clamp member 42 is fixed between a pair of slits, the spring constant of the leaf spring portion 49 and the pressing force of the pressing portion 50 formed near the inner peripheral edge are affected. Therefore, the number of members such as the bolts 46 can be reduced and fixed.

○ 板ばね部49は、一対のスリットに挟まれた部分として構成したが、これに代えて、環状のクランプ部材42の内側の3箇所を中心に向って突出させる構成としても良い。
○ クランプ部材42を枠体41に固定する際の位置決め用のピン孔47,52は、180度対称位置に2つ設けられるものとしたが、これらの位置及び個数はなんら限定されるものではない。よって、例えば3つや、3つ以上の複数個設ける構成としても良い。
The leaf spring portion 49 is configured as a portion sandwiched between a pair of slits, but may instead be configured to protrude toward the center at three locations inside the annular clamp member 42.
○ Two pin holes 47 and 52 for positioning when fixing the clamp member 42 to the frame body 41 are provided at 180 ° symmetrical positions, but the positions and the number thereof are not limited at all. . Thus, for example, three or a plurality of three or more may be provided.

○ 本実施形態では、光学素子保持装置38を、投影光学系35のうち、最も基板側の光学素子を例にあげて説明したが、投影光学系35の他の光学素子に適用しても良い。また、投影光学系35だけでなく、照明光学系を構成する光学素子(反射鏡、レンズ等)に適用することも可能である。さらに、光学素子保持装置38で保持する光学素子は、平行平板の光学素子に限られず、曲率をもったレンズ、例えば、凹レンズや凸レンズに適用することも可能である。   In the present embodiment, the optical element holding device 38 has been described by taking the optical element closest to the substrate among the projection optical systems 35 as an example, but may be applied to other optical elements of the projection optical system 35. . Further, the present invention can be applied not only to the projection optical system 35 but also to optical elements (reflecting mirrors, lenses, etc.) constituting the illumination optical system. Furthermore, the optical element held by the optical element holding device 38 is not limited to a parallel plate optical element, and can be applied to a lens having a curvature, for example, a concave lens or a convex lens.

○ 露光装置として、投影光学系を用いることなく、マスクと基板とを密接させてマスクのパターンを露光するコンタクト露光装置、マスクと基板とを近接させてマスクのパターンを露光するプロキシミティ露光装置の光学系にも適用することができる。また、投影光学系としては、全屈折タイプに限らず、反射屈折タイプであってもよい。   ○ As an exposure device, without using a projection optical system, a contact exposure device that exposes the mask pattern by bringing the mask and substrate into close contact, and a proximity exposure device that exposes the mask pattern by bringing the mask and substrate close together It can also be applied to an optical system. Further, the projection optical system is not limited to the total refraction type, but may be a catadioptric type.

○ さらに、本発明の露光装置は、縮小露光型の露光装置に限定されるものではなく、例えば等倍露光型、拡大露光型の露光装置であってもよい。
○ また、半導体素子などのマイクロデバイスだけでなく、光露光装置、EUV露光装置、X線露光装置、及び電子線露光装置などで使用されるレチクルまたはマスクを製造するために、マザーレチクルからガラス基板やシリコンウエハなどへ回路パターンを転写する露光装置にも本発明を適用できる。ここで、DUV(深紫外)やVUV(真空紫外)光などを用いる露光装置では一般に透過型レチクルが用いられ、レチクル基板としては、石英ガラス、フッ素がドープされた石英ガラス、蛍石、フッ化マグネシウム、または水晶などが用いられる。また、プロキシミティ方式のX線露光装置や電子線露光装置などでは、透過型マスク(ステンシルマスク、メンブレンマスク)が用いられ、マスク基板としてはシリコンウエハなどが用いられる。
Further, the exposure apparatus of the present invention is not limited to a reduction exposure type exposure apparatus, and may be, for example, an equal exposure type exposure apparatus or an enlargement exposure type exposure apparatus.
○ Also, from a reticle to a glass substrate, not only for microdevices such as semiconductor elements, but also for manufacturing reticles or masks used in light exposure equipment, EUV exposure equipment, X-ray exposure equipment, electron beam exposure equipment, etc. The present invention can also be applied to an exposure apparatus that transfers a circuit pattern to a silicon wafer or the like. Here, in an exposure apparatus using DUV (deep ultraviolet) or VUV (vacuum ultraviolet) light, a transmission type reticle is generally used. As a reticle substrate, quartz glass, quartz glass doped with fluorine, fluorite, fluoride, and the like are used. Magnesium or quartz is used. In proximity type X-ray exposure apparatuses and electron beam exposure apparatuses, a transmission type mask (stencil mask, membrane mask) is used, and a silicon wafer or the like is used as a mask substrate.

○ さらに、露光装置としては、焦点深度を広く確保するために液浸法を用いた露光装置であってもよい。この液浸法とは、投影光学系の下面と基板表面との間を、所定の液体(水や有機溶媒等)で満たして液浸領域を形成し、液体中での露光光の波長が空気中の1/n(nは液体の屈折率で通常1.2〜1.6程度)になることを利用して解像度を向上すると共に、焦点深度を約n倍に拡大するものである。   Further, the exposure apparatus may be an exposure apparatus that uses an immersion method in order to ensure a wide depth of focus. In this immersion method, a space between the lower surface of the projection optical system and the substrate surface is filled with a predetermined liquid (such as water or an organic solvent) to form an immersion region, and the wavelength of exposure light in the liquid is air. The resolution is improved by utilizing 1 / n (n is the refractive index of the liquid, usually about 1.2 to 1.6), and the depth of focus is expanded about n times.

○ もちろん、半導体素子の製造に用いられる露光装置だけでなく、液晶表示素子(LCD)などを含むディスプレイの製造に用いられてデバイスパターンをガラスプレート上へ転写する露光装置にも、本発明を適用することができる。また、薄膜磁気ヘッド等の製造に用いられて、デバイスパターンをセラミックウエハ等へ転写する露光装置、及びCCD等の撮像素子の製造に用いられる露光装置などにも本発明を適用することができる。   Of course, the present invention is applied not only to an exposure apparatus used for manufacturing a semiconductor element but also to an exposure apparatus used for manufacturing a display including a liquid crystal display element (LCD) to transfer a device pattern onto a glass plate. can do. The present invention can also be applied to an exposure apparatus used for manufacturing a thin film magnetic head or the like and transferring a device pattern onto a ceramic wafer or the like, and an exposure apparatus used for manufacturing an image pickup device such as a CCD.

○ さらに、本発明は、マスクと基板とが相対移動した状態でマスクのパターンを基板へ転写し、基板を順次ステップ移動させるスキャニング・ステッパに適用することができる。また、本発明は、マスクと基板とが静止した状態でマスクのパターンを基板へ転写し、基板を順次ステップ移動させるステップ・アンド・リピート方式のステッパにも適用することができる。   Further, the present invention can be applied to a scanning stepper that transfers a mask pattern to a substrate while the mask and the substrate are relatively moved, and sequentially moves the substrate in steps. The present invention can also be applied to a step-and-repeat stepper in which the mask pattern is transferred to the substrate while the mask and the substrate are stationary, and the substrate is sequentially moved stepwise.

○ また、露光装置の光源としては、前記実施形態に記載のFレーザ(157nm)の他、ArFエキシマレーザ(193nm)、例えばg線(436nm)、i線(365nm)、KrFエキシマレーザ(248nm)、Krレーザ(146nm)、Arレーザ(126nm)等を用いてもよい。また、DFB半導体レーザまたはファイバレーザから発振される赤外域、または可視域の単一波長レーザ光を、例えばエルビウム(またはエルビウムとイッテルビウムの双方)がドープされたファイバアンプで増幅し、非線形光学結晶を用いて紫外光に波長変換した高調波を用いてもよい。 As a light source of the exposure apparatus, in addition to the F 2 laser (157 nm) described in the above embodiment, ArF excimer laser (193 nm), for example, g-line (436 nm), i-line (365 nm), KrF excimer laser (248 nm) ), Kr 2 laser (146 nm), Ar 2 laser (126 nm), or the like may be used. In addition, a single wavelength laser beam in the infrared region or visible region oscillated from a DFB semiconductor laser or fiber laser is amplified by, for example, a fiber amplifier doped with erbium (or both erbium and ytterbium), and a nonlinear optical crystal is obtained. It is also possible to use harmonics that have been converted into ultraviolet light.

本発明の露光装置の一実施形態を示す概略構成図。1 is a schematic block diagram showing an embodiment of an exposure apparatus of the present invention. 図1の光学素子保持装置を示す分解斜視図。The disassembled perspective view which shows the optical element holding | maintenance apparatus of FIG. 図1の光学素子保持装置を示す平面図。The top view which shows the optical element holding | maintenance apparatus of FIG. 図3の4−4線断面図。FIG. 4 is a sectional view taken along line 4-4 of FIG. クランプ部材の一部を下側から見た図。The figure which looked at a part of clamp member from the lower side. デバイス(ICやLSI等の半導体素子、液晶表示素子、撮像素子(CCD等)、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン等)の製造例のフローチャートを示す図。The figure which shows the flowchart of the manufacture example of devices (semiconductor elements, such as IC and LSI, a liquid crystal display element, an image pick-up element (CCD etc.), a thin film magnetic head, a micromachine, etc.). 半導体デバイスの場合における、図6のステップS104の詳細なフローの一例を示す図。The figure which shows an example of the detailed flow of step S104 of FIG. 6 in the case of a semiconductor device. 従来構成の光学素子保持装置を示す分解斜視図。The disassembled perspective view which shows the optical element holding | maintenance apparatus of a conventional structure. 図8の光学素子保持装置の断面図。Sectional drawing of the optical element holding | maintenance apparatus of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

31…露光装置(投影露光装置)、35…投影光学系、37…光学素子、38…光学素子保持装置、39…鏡筒、41…枠体、42…クランプ部材、44…座(突起部)、47…ピン孔(位置決め用の孔)、49…板ばね部、50…押圧部(突起部)、52…ピン孔(位置決め用の孔)、53…ワッシャー(間隔調整部材)、AX…光軸、Rt…マスクとしてのレチクル、W…基板としてのウエハ。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 31 ... Exposure apparatus (projection exposure apparatus), 35 ... Projection optical system, 37 ... Optical element, 38 ... Optical element holding apparatus, 39 ... Lens barrel, 41 ... Frame, 42 ... Clamp member, 44 ... Seat (projection part) , 47: Pin hole (positioning hole), 49: Leaf spring part, 50: Pressing part (projection part), 52 ... Pin hole (positioning hole), 53 ... Washer (space adjusting member), AX ... Light Axis, Rt ... reticle as mask, W ... wafer as substrate.

Claims (13)

枠体と、当該枠体の内周に設けられ光学素子の下面を支持する座と、前記光学素子の上面側に配置され、その外径が前記光学素子の外径よりも大きな外径で形成された環状のクランプ部材とを備え、
当該クランプ部材は前記座に対して前記光学素子を押圧する押圧部を備えることを特徴とする光学素子保持装置。
A frame, a seat provided on the inner periphery of the frame to support the lower surface of the optical element, and disposed on the upper surface side of the optical element, the outer diameter of which is larger than the outer diameter of the optical element An annular clamping member,
The said clamp member is provided with the press part which presses the said optical element with respect to the said seat, The optical element holding | maintenance apparatus characterized by the above-mentioned.
前記押圧部は、前記光学素子を光軸と平行な方向に押圧することを特徴とする請求項1に記載の光学素子保持装置。 The optical element holding device according to claim 1, wherein the pressing unit presses the optical element in a direction parallel to the optical axis. 前記座は前記光学素子の下面に接触する突起部を有し、前記押圧部は前記光学素子の上面に接触する突起部を有し、
前記座は、前記枠体の内周に等角度間隔をおいて3つ設けられ、前記押圧部は、前記光学素子を介して前記座と対向する同位相の位置にそれぞれ設けられており、
前記光学素子を前記座と前記押圧部とで挟んで保持することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光学素子保持装置。
The seat has a protrusion that contacts the lower surface of the optical element, and the pressing portion has a protrusion that contacts the upper surface of the optical element,
Three seats are provided at equiangular intervals on the inner periphery of the frame, and the pressing portions are provided at the same phase positions facing the seat via the optical element, respectively.
The optical element holding device according to claim 1, wherein the optical element is held between the seat and the pressing portion.
前記クランプ部材は、前記クランプ部材の内周端縁から概ね半径方向外側へ向けて切り込んだ一対のスリットに挟まれた部分において形成される板ばね部を有し、前記押圧部は当該板ばね部に設けられており、
前記光学素子を保持する際には、前記板ばね部の前記光軸と平行な方向への付勢力によって前記押圧部が前記光学素子を前記光軸と平行な方向へ押圧することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の光学素子保持装置。
The clamp member has a leaf spring portion formed at a portion sandwiched between a pair of slits cut from the inner peripheral edge of the clamp member generally outward in the radial direction, and the pressing portion is the leaf spring portion. It is provided in
When holding the optical element, the pressing portion presses the optical element in a direction parallel to the optical axis by an urging force of the leaf spring portion in a direction parallel to the optical axis. The optical element holding device according to any one of claims 1 to 3.
前記クランプ部材と前記枠体とは、前記板ばね部とは異なる部分において固定されていることを特徴とする請求項4に記載の光学素子保持装置。 The optical element holding device according to claim 4, wherein the clamp member and the frame are fixed at a portion different from the leaf spring portion. 前記板ばね部は、前記クランプ部材の前記板ばね部とは異なる部分よりも僅かに光学素子と離間する方向へ反った位置で前記光学素子を保持することを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の光学素子保持装置。 The said leaf | plate spring part hold | maintains the said optical element in the position slightly curved in the direction spaced apart from an optical element rather than the part different from the said leaf | plate spring part of the said clamp member. 5. The optical element holding device according to 5. 前記クランプ部材と前記枠体とには、それぞれ対応する位置に位置決め用の穴が設けられていることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の光学素子保持装置。 The optical element holding device according to any one of claims 1 to 6, wherein positioning holes are provided at corresponding positions in the clamp member and the frame body, respectively. 前記クランプ部材と前記枠体との間には、前記クランプ部材と前記枠体との間隔を調整する間隔調整部材が設けられていることを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の光学素子保持装置。 The space | interval adjustment member which adjusts the space | interval of the said clamp member and the said frame is provided between the said clamp member and the said frame, The any one of Claim 1 thru | or 7 characterized by the above-mentioned. The optical element holding device according to Item. 前記光学素子は、投影露光装置においてマスク上に形成されたパターンの像を基板上に投影する投影光学系を構成する複数の光学素子の1つであることを特徴とする請求項1乃至請求項8のいずれか1項に記載の光学素子保持装置。 2. The optical element according to claim 1, wherein the optical element is one of a plurality of optical elements constituting a projection optical system that projects an image of a pattern formed on a mask on a substrate in a projection exposure apparatus. 9. The optical element holding device according to any one of 8 above. 前記光学素子は、前記投影露光装置における投影光学系の最も基板側の光学素子であることを特徴とする請求項9に記載の光学素子保持装置。 The optical element holding device according to claim 9, wherein the optical element is an optical element closest to the substrate of a projection optical system in the projection exposure apparatus. 少なくとも1つの光学素子保持装置を備えて構成される鏡筒において、請求項1乃至請求項10のいずれか1項に記載の光学素子保持装置を備えたことを特徴とする鏡筒。 A lens barrel comprising at least one optical element holding device, wherein the lens barrel comprises the optical element holding device according to any one of claims 1 to 10. 露光光のもとで、マスク上に形成された所定のパターンの像を基板上に露光する露光装置において、前記所定のパターンの像を請求項11に記載の鏡筒における投影光学系を介して前記基板上に転写することを特徴とする露光装置。 12. An exposure apparatus that exposes an image of a predetermined pattern formed on a mask on a substrate under exposure light, the image of the predetermined pattern via a projection optical system in a lens barrel according to claim 11. An exposure apparatus for transferring onto the substrate. リソグラフィ工程を含むデバイスの製造方法において、前記リソグラフィ工程で請求項12に記載の露光装置を用いて露光を行うことを特徴とするデバイスの製造方法。 A device manufacturing method including a lithography process, wherein exposure is performed using the exposure apparatus according to claim 12 in the lithography process.
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