JPS646411B2 - - Google Patents

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JPS646411B2
JPS646411B2 JP54096593A JP9659379A JPS646411B2 JP S646411 B2 JPS646411 B2 JP S646411B2 JP 54096593 A JP54096593 A JP 54096593A JP 9659379 A JP9659379 A JP 9659379A JP S646411 B2 JPS646411 B2 JP S646411B2
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JP
Japan
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circuit
signal
terminal
memory circuit
inputs
Prior art date
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Application number
JP54096593A
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Japanese (ja)
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JPS5619459A (en
Inventor
Takashi Serizawa
Tadao Totsuka
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Nissan Motor Co Ltd
Original Assignee
Nissan Motor Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nissan Motor Co Ltd filed Critical Nissan Motor Co Ltd
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Publication of JPS5619459A publication Critical patent/JPS5619459A/en
Publication of JPS646411B2 publication Critical patent/JPS646411B2/ja
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電気回路の故障診断装置、更に詳細に
は工作機械等の電気制御回路を内蔵している電気
制御盤等に含まれている各種センサやリミツトス
イツチ等の要素の故障或いは劣化の診断装置に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a failure diagnosis device for electric circuits, and more particularly, to a failure diagnosis device for electric circuits, and more specifically, a device for diagnosing failures in electric circuits, and more specifically, for detecting elements such as various sensors and limit switches included in electric control panels containing electric control circuits of machine tools, etc. The present invention relates to a failure or deterioration diagnostic device.

従来例えば工作機械、専用機、トランスフアマ
シン(以下工作機械等という)の電気制御盤の故
障に対する保全は、保全員の技術によつて行なつ
ていたため1日に数回しか発生しないような偶発
的な故障に対する適切な診断及び対策がなかなか
とれなかつた。また、故障件数の50%をも占めて
いるセンサ、リミツトスイツチ等の故障に対して
の予知的保全は現ではほとんど不可能であつた。
Conventionally, for example, maintenance of electrical control panels for machine tools, special-purpose machines, and transfer machines (hereinafter referred to as machine tools, etc.) was carried out by the technical skills of maintenance personnel, which caused accidents that only occurred several times a day. It was difficult to take appropriate diagnosis and countermeasures against such failures. Furthermore, predictive maintenance for failures of sensors, limit switches, etc., which account for 50% of failures, is currently almost impossible.

本発明はかかる事情に鑑みてなされたもので、
工作機械等の電気制御回路に含まれている要素、
例えばリレー接点の故障原因を明確に表示しその
保全を効率化するばかりでなく、その要素の劣化
をも検出表示して故障の予知保全を可能にしたも
のである。
The present invention was made in view of such circumstances,
Elements included in electrical control circuits of machine tools, etc.
For example, it not only clearly displays the cause of a failure in a relay contact to make its maintenance more efficient, but also detects and displays deterioration of the element, making predictive maintenance possible.

本発明では工作機械等の電気制御回路における
多数のセンサ、リミツトスイツチ等の要素例えば
リレー接点の電圧を入力し、この入力信号の状態
を機械の動作ステツプに応じて自動的に記憶さ
せ、その記憶されたデータと、以後入力されるデ
ータとを比較し、各要素に関連するセンサ、リミ
ツトスイツチ等の動作の状態を知り、その良否を
判定し、必要に応じ不一致の際は異常として、異
常要素の番号等を表示するものである。
In the present invention, the voltage of many sensors, limit switches, etc., elements such as relay contacts in an electrical control circuit of a machine tool, etc. is input, and the state of this input signal is automatically memorized according to the operation step of the machine, and the memorized state is automatically memorized according to the operating steps of the machine. Compare the data that was input with the data that will be input later, find out the operating status of sensors, limit switches, etc. related to each element, judge whether it is good or bad, and if necessary, mark it as an abnormality if there is a discrepancy, and set the number of the abnormal element. etc. are displayed.

また上記要素のオン或いはオフ時の電気信号例
えば電圧を検出し、この検出電気信号を任意に可
変な設定値例えば基準電圧と比較してその良、不
良或いはその劣化を故障を起す前に予知するもの
である。したがつて本発明は上記要素としてリレ
ー接点のみならず、コンデンサ、コイル或いはそ
の他の要素までその良否或いは劣化を診断しうる
ものである。
In addition, an electric signal, such as a voltage, is detected when the above element is turned on or off, and this detected electric signal is compared with an arbitrarily variable set value, such as a reference voltage, to predict whether it is good, bad, or deteriorated before a failure occurs. It is something. Therefore, the present invention is capable of diagnosing the quality or deterioration of not only the relay contacts but also capacitors, coils, and other elements.

以下図面につき本発明の一実施例を詳削に説明
する。
An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図においてEは診断すべき工作機械等の電
気制御回路、e0,e1……enは電気制御回路Eにお
けるリミツトスイツチ等の要素例えばリレー接点
でこれらの電気的信号例えば端子間電圧V0,V1
……Vo-2を電線により本発明装置に入力する。
In Fig. 1, E is an electric control circuit of a machine tool to be diagnosed, e 0 , e 1 . 0 , V1
...V o-2 is input to the device of the present invention via an electric wire.

1はパルス発振器で、回路全体を同期させるた
めのクロツクパルスCKを出力するもので実際に
は分周回路により周波数を落して用いる。
1 is a pulse oscillator that outputs a clock pulse CK for synchronizing the entire circuit, and is actually used by lowering the frequency using a frequency dividing circuit.

2は上記クロツクパルスCKを反転させ、パル
スの立上り時期を180゜遅らせたパルスを出力
するインバータ回路である。
2 is an inverter circuit which inverts the clock pulse CK and outputs a pulse whose rise time is delayed by 180 degrees.

3は前記パルス発振器1から出力されるクロツ
クパルスCKの立上り毎に、それをカウントして
多重のアドレス信号A0〜Ao-2と、カウントn-1
nでそれぞれタイミングパルスn-1,nとを出力
するアドレスカウンタである。
3 counts each rise of the clock pulse CK output from the pulse oscillator 1 and generates multiple address signals A 0 to A o-2 , counts n -1 ,
This is an address counter that outputs timing pulses n -1 and n at n, respectively.

4は機械装置の動作ステツプに伴なつて変化す
る前記電気制御回路Eの要素e0,e1……enの電圧
V0〜Vo-2と内部に設定された任意に可変の基準
値例えば基準電圧レベルを比較し、デジタル信号
D0〜Do-2として出力する比較回路である。
4 is the voltage of the elements e 0 , e 1 . . . e n of the electrical control circuit E that changes with the operation steps of the mechanical device.
Compare V 0 to V o-2 with an internally set arbitrarily variable reference value, such as a reference voltage level, and then
This is a comparison circuit that outputs D 0 to D o-2 .

5は前記比較回路4から出力されるデジタル信
号D0〜Do-2のデータ端子をX0〜Xo-2に入力し、
これらの信号を前記アドレスカウンタ3のアドレ
ス信号A0〜Ao-2によつて1つづつ順次選択する
データセレクタで、アドレス信号A0〜Ao-2によ
つて選択された端子X0o-2への入力レベルを、
端子Zに伝達し、その端子Zから後述する記憶回
路6等への入力信号Aを出力するものである。
5 inputs the data terminals of the digital signals D 0 to D o-2 outputted from the comparison circuit 4 to X 0 to X o-2 ;
A data selector that sequentially selects these signals one by one according to the address signals A 0 to A o-2 of the address counter 3, and selects the terminals X 0 to X 0 selected by the address signals A 0 to A o-2 . The input level to o-2 is
The input signal A is transmitted to a terminal Z, and an input signal A to a storage circuit 6, etc., which will be described later, is output from the terminal Z.

6は前記アドレスカウンタ3からのアドレス信
号A0〜Ao-2を受ける入力端子Fと後述するステ
ツプカウンタ13の出力即ちステツプ信号S0〜So
を受ける入力端子Gを持つ記憶回路で前記電気回
路の各要素の数に見合うアドレス信号A0〜Ao-2
の数×前記工作機械等のステツプの数に見合うス
テツプ信号S0〜Soの数の相乗値に相当する数のビ
ツトの記憶容量を持つ記憶回路である。端子W1N
が“1”信号を受けるとき、端子D1Nの入力レベ
ルをアドレス信号A0〜Ao-2とステツプ信号S0
Soとによつて指定された場所に書込み(記憶し)、
端子W1Nに“0”信号が入力されるとき、前記指
定された場所に書込まれた記憶レベルを端子Dput
から後述する論理和回路7への入力信号Bとして
出力する(読出す)ものである。
Reference numeral 6 indicates an input terminal F for receiving address signals A 0 to A o-2 from the address counter 3, and an output terminal F for receiving address signals A 0 to A o-2 from the address counter 3, and outputs of a step counter 13, ie, step signals S 0 to S o, which will be described later.
A storage circuit having an input terminal G that receives address signals A 0 to A o-2 corresponding to the number of each element of the electric circuit.
The storage circuit has a storage capacity of a number of bits corresponding to the multiplier value of the number of step signals S0 to S0 corresponding to the number of steps of the machine tool, etc. Terminal W 1N
When the terminal receives a “1” signal, the input level of the terminal D1N is changed to the address signal A0 ~ Ao-2 and the step signal S0 ~
Write (memorize) the location specified by S o and
When a “0” signal is input to the terminal W 1N , the memory level written to the specified location is transferred to the terminal D put
It is output (read) as an input signal B to an OR circuit 7, which will be described later.

7は2つの入力端子への2つの入力信号AとB
とが同じならば出力信号Xは“0”信号になり、
入力信号AとBとが一致しなければ出力信号Xは
“1”信号になる排他的論理和回路で、記号で説
明するとA=BならばX=0,A≠BならばX=
1となる。
7 is two input signals A and B to two input terminals
If they are the same, the output signal X becomes a “0” signal,
If input signals A and B do not match, the output signal
It becomes 1.

8は前後2段のフリツプフロツプ8a,8bを
持つ一時記憶回路で前段のフリツプフロツプ8a
は第2図に示すように前記アドレス信号A0
Ao-2が発せられている間に前記排他的論理和回
路7からA≠BでX=1の信号がS1端子に入力さ
れると“1”信号(第2図中符号M)を記憶し、
アドレスカウンタ3のタイミングパルス信号n-1
が後段のフリツプフロツプ8bの入力端子Cに入
力された時に後段のフリツプフロツプ8bを動作
させ、その出力端子Q2に“1”信号(第2図中
符号N)を出力し保持する。前段のフリツプフロ
ツプ8aの記憶は上記パルス信号n-1より1パル
スだけ遅れて来るタイミングパルス信号nがその
入力端子Rへ入力されることによつてリセツトさ
れる。そしてその端子Q2の出力は前記リセツト
後端子S1への入力がアドレス信号A0〜Ao-2の間
連続して“0”信号にならないかぎり“1”信号
(第2図中符号N)を出力し、連続して“0”信
号を発したときパルス信号n-1の立上りで端子Q2
の出力は“0”信号となる(第2図中符号Pで示
す立下りにより)。
Reference numeral 8 denotes a temporary memory circuit having two stages of flip-flops 8a and 8b, the front and rear flip-flops 8a and 8b.
is the address signal A 0 ~ as shown in FIG.
If a signal of A≠B and X=1 is input from the exclusive OR circuit 7 to the S1 terminal while A o-2 is being generated, a “1” signal (symbol M in Fig. 2) is generated. remember,
Address counter 3 timing pulse signal n -1
When input to the input terminal C of the flip-flop 8b in the subsequent stage, the flip-flop 8b in the latter stage is operated, and a "1" signal (reference numeral N in FIG. 2 ) is output and held at its output terminal Q2. The memory of the flip-flop 8a in the previous stage is reset by inputting the timing pulse signal n, which is delayed by one pulse from the pulse signal n - 1, to its input terminal R. The output of the terminal Q2 is a " 1 " signal (symbol N in FIG. ), and when the “0” signal is output continuously, the terminal Q 2 is output at the rising edge of the pulse signal n -1 .
The output becomes a "0" signal (due to the fall indicated by the symbol P in FIG. 2).

9は書込み−診断動作切替スイツチで接点K1
側に切替つた時、書込み動作となり、接点K2
に切替つた時、診断動作となる。
9 is the write-diagnosis operation selector switch and contact K1
When it switches to the contact K2 side, it becomes a write operation, and when it switches to the contact K2 side, it becomes a diagnostic operation.

10は前記切替スイツチ9の書込動作時に有効
となるアンド回路で、前記一時記憶回路8の端子
Q2の出力が“1”信号にあるとき、切替スイツ
チ9の接点K1を通して加えられる“1”信号と
パルス信号とを入力した時に前記記憶回路6
の端子W1Nへ書込み指令パルスを出力するもので
ある。
Reference numeral 10 denotes an AND circuit which becomes effective during the write operation of the changeover switch 9, and is connected to the terminal of the temporary storage circuit 8.
When the output of Q 2 is a "1" signal, when the "1" signal and pulse signal applied through the contact K 1 of the changeover switch 9 are input, the memory circuit 6
This outputs a write command pulse to terminal W 1N of .

11はオア回路で、切替スイツチ9が接点K1
側にあるときは一時記憶回路8の端子Q2の出力
が“1”信号で入力されたとき、又は切替スイツ
チ9が接点K2側にあるときは一時記憶回路8の
端子Q2の出力が“0”信号でこれがインバータ
14で反転され、“1”信号として入力されたと
きに歩進信号SHを出力し、これをスイツチ12
の接点C2を通して後述のステツプをカウンタ1
3の端子Hへ送るものである。
11 is an OR circuit, and switch 9 is the contact point K1
When the output of the terminal Q 2 of the temporary memory circuit 8 is input as a “1” signal, or when the switch 9 is on the contact K 2 side, the output of the terminal Q 2 of the temporary memory circuit 8 is input as a “1” signal. This is inverted by the inverter 14 when it is a "0" signal, and when it is input as a "1" signal, it outputs a step signal SH, which is sent to the switch 12.
Counter 1 through the contact point C2 of
It is sent to terminal H of No.3.

12は本装置の運転−停止スイツチで、接点
C1側(停止側)にあるとき、図で下段の接点C1
を介してリセツト回路信号REを後述するステツ
プカウンタ13の端子Rに与え、ステツプカウン
タ13のセレクト信号をS0に戻し、接点C2
(運転側)にあるとき、前記オア回路11からの
歩進信号SHをステツプカウンタ13の端子Hへ
送るものである。
12 is the operation/stop switch of this device, and the contact
When on the C 1 side (stop side), the lower contact C 1 in the diagram
A reset circuit signal RE is applied to the terminal R of the step counter 13, which will be described later, through the step counter 13 , and the select signal of the step counter 13 is returned to S0 . This is to send the advance signal SH to the terminal H of the step counter 13.

13はステツプカウンタで、前記スイツチ12
の接点C2を通して加えられる歩進信号SHの入力
によつて、その都度ステツプ信号S0〜Soを前記記
憶回路6の入力端子Gに入力し、書込み或は読み
出しの際のステツプを指定する。
13 is a step counter, and the switch 12
By inputting the step signal SH applied through the contact point C2 , step signals S0 to S0 are inputted to the input terminal G of the memory circuit 6 each time, and the step at the time of writing or reading is specified. .

14は動作切替スイツチ9が診断動作用の接点
K2側にある場合に、前記一時記憶回路8の端子
Q2の出力が“0”信号にあるときオア回路11
へその“0”信号を“1”信号に反転して供給す
るためのインバータ回路である。
14 is an operation changeover switch 9 which is a contact point for diagnostic operation.
K2 side, the terminal of the temporary memory circuit 8
OR circuit 11 when the output of Q 2 is at “0” signal
This is an inverter circuit for inverting the navel "0" signal to a "1" signal and supplying the inverted signal.

15は動作切替スイツチ9のスイツチが診断動
作用の接点K2側にあるとき一時記憶回路8の端
子Q2の出力が“1”信号のときのみその信号を
端子T1に入力して作動するタイマー回路で、あ
らかじめ設定された時間を経過すると警報信号
TOUTを端子T2から出力するものである。
15 operates by inputting that signal to the terminal T1 only when the output of the terminal Q2 of the temporary memory circuit 8 is a "1" signal when the switch of the operation changeover switch 9 is on the contact K2 side for diagnostic operation. A timer circuit generates an alarm signal after a preset time has elapsed.
This outputs T OUT from terminal T 2 .

16は本装置が異常を検出した時、即ち前記警
報信号TOUTが入力された時異常箇所のアドレス、
ステツプ(工程等)番号、異常の状態(HprL)
等を表示する表示回路である。
16 is the address of the abnormality point when this device detects an abnormality, that is, when the above-mentioned alarm signal T OUT is input;
Step (process, etc.) number, abnormality status (H pr L)
This is a display circuit that displays the following information.

次に上記装置の動作を次の3段階に分けて説明
する。
Next, the operation of the above device will be explained in the following three stages.

(1) 先づ診断すべき電気制御回路Eの正常の動作
を本発明装置に記憶させる。
(1) First, the normal operation of the electrical control circuit E to be diagnosed is stored in the device of the present invention.

このときには書込み−診断動作切替スイツチ
9は書込み動作用の接点K1の側に接続する。
すると切替スイツチ12は一旦接点C1に接続
された後接点C2の側に接続される。一旦接点
C1に接続されるので、リセツト信号REにより
ステツプカウンタ13からはステツプ信号S0
記憶回路に入力される。
At this time, the write-diagnostic operation changeover switch 9 is connected to the write operation contact K1 .
Then, the changeover switch 12 is once connected to the contact C1 and then connected to the contact C2 side. once the contact
Since it is connected to C1 , the step signal S0 is inputted from the step counter 13 to the memory circuit by the reset signal RE.

工作機械等の動作に伴ない、その電気制御回
路Eの要素e0,e1,e2,……enにあらわれる電
圧V0,V1,……Vo-2が常時比較回路4に送ら
れ、そこで設定基準レベルと比較され、その結
果がデジタルレベルに変換されてデジタル信号
D0〜Do-2となり、データセレクタ5の端子X0
〜Xo-2に常時入力される。一方、パルス発振
器1から送られたパルスCKによりアドレスカ
ウンタ3はアドレス信号A0〜Ao-2及びアドレ
ス選択には無関係なパルス信号n-1,nを繰返
して発し、そのうちアドレス信号A0…Ao-2
データセレクタ5と記憶回路6とに送られ、デ
ータセレクタ5の端子Zより、アドレス信号
A0〜Ao-2による指定に従つて、端子X0〜Xo-2
に入力されたデジタル信号D0〜Do-2が1つづ
つ順次記憶回路6の端子D1Nに入力されると同
時に排他的論理和回路7の一入力端子にも入力
信号Aとして入力される。
As the machine tool, etc. operates, the voltages V 0 , V 1 , ...V o-2 appearing at the elements e 0 , e 1 , e 2 , ... e n of the electric control circuit E are constantly supplied to the comparator circuit 4. There, it is compared with a set reference level, and the result is converted to a digital level to generate a digital signal.
D 0 to D o-2 , and the terminal X 0 of data selector 5
~X o-2 is always input. On the other hand, in response to the pulse CK sent from the pulse oscillator 1, the address counter 3 repeatedly issues address signals A 0 to A o-2 and pulse signals n -1 and n unrelated to address selection, among which the address signal A 0 . . . A o-2 is sent to the data selector 5 and the memory circuit 6, and the address signal is sent from the terminal Z of the data selector 5.
Terminals X 0 ~ X o-2 as specified by A 0 ~ A o-2
The digital signals D 0 to D o-2 inputted to are sequentially inputted one by one to the terminal D 1N of the memory circuit 6, and at the same time are inputted to one input terminal of the exclusive OR circuit 7 as the input signal A. .

なお、アドレスA0〜Ao-2は表示回路16に
も入力される。
Note that the addresses A 0 to A o-2 are also input to the display circuit 16 .

前述したように、いまステツプカウンタ13
はステツプ信号S0を発しており、記憶回路6の
ステツプはS0にある。最初は書込みがなされて
いないのでA≠Bで、X=1であるから、端子
Q2の出力も“1”となり、その信号がW1Nに入
力されるので、記憶回路6は書込み動作となり
ステツプS0における最初の書込みが行なわれ
る。ステツプS0における1サイクル(A0
Ao-2)で最初の書込みが行なわれ、2サイク
ル(A0〜Ao-2)目になると、A=Bとなるか
ら、X=0端子Q2の出力は“0”となつて2
サイクル目からは書込み動作に替つて読出し動
作となる。そして、順次送られてくる信号Aが
記憶されている信号と同じときすなわちA=B
が続く限りステツプは歩進せず、ステツプS0
おける読出し動作が繰返される。
As mentioned above, the step counter 13 is now
emits a step signal S0 , and the step of the memory circuit 6 is at S0 . Initially, no writing has been done, so A≠B, and X=1, so the terminal
The output of Q2 also becomes "1" and that signal is input to W1N , so that the memory circuit 6 enters a write operation and the first write at step S0 is performed. One cycle at step S 0 (A 0 ~
The first write is performed at Ao -2 ), and in the second cycle ( A0 to Ao-2 ), A=B, so the output of the X=0 terminal Q2 becomes "0". 2
From the cycle, the write operation is replaced by a read operation. Then, when the signal A that is sent sequentially is the same as the stored signal, that is, A=B
As long as continues, the step does not advance, and the read operation at step S0 is repeated.

次に、送られてくる入力信号Aが、記憶され
ている入力信号Bと異なつたときすなわち、A
≠Bとなつた場合を説明する。
Next, when the input signal A that is sent is different from the stored input signal B, that is, A
The case where ≠B is satisfied will be explained.

A≠Bであれば、出力信号Xは“1”信号と
なり一時記憶回路8のフリツプフロツプ8aの
端子S1に“1”信号が入力され、フリツプフロ
ツプ8bはアドレスカウンタ3の出力パルス信
号n-1のタイミングパルスの立上り時点で端子
Q2に“1”信号を出力し切替スイツチ9の接
点K1を通してアンド回路10に“1”信号を
伝える。アンド回路10はパルス信号が
“1”の間、“1”信号を書込み指令として記憶
回路6の端子W1Nに入力し、記憶回路6は書込
み動作となり、端子D1Nの入力信号を指定され
たアドレスに書込む(記憶する)。パルス信号
CKが“0”になると同時に記憶回路6は読出
し動作となり、前記のように記憶回路6の記憶
を即ち入力信号Bを端子Dputより排他的論理和
回路7に送る。
If A≠ B , the output signal Terminal at the rising edge of the timing pulse
A "1" signal is output to Q2 , and the "1" signal is transmitted to the AND circuit 10 through the contact K1 of the changeover switch 9. While the pulse signal is "1", the AND circuit 10 inputs the "1" signal as a write command to the terminal W 1N of the memory circuit 6, and the memory circuit 6 enters the write operation, and the input signal of the terminal D 1N is specified. Write (remember) to an address. pulse signal
At the same time that CK becomes "0", the memory circuit 6 starts a read operation, and as described above, the memory of the memory circuit 6, that is, the input signal B is sent to the exclusive OR circuit 7 from the terminal D put .

一方、A≠Bになつたとき、前述のパルス信
号n-1のタイミングパルスの立上り時に出力さ
れる端子Q2が発する“1”信号出力がオア回
路11を経由してステツプカウンタ13に歩進
信号SHを与えるので、ステツプカウンタ13
からステツプ信号S1が発せられ、ステツプはS0
からS1にシフトする。一時記憶回路8は前述し
たように、その端子Q2の出力が“1”信号と
なつたとき、アドレスカウンタ3の発するアド
レス信号A0〜Ao-2の間連続して“1”信号に
保持され、その期間中は書き込み(新しい書き
込み)のみが行なわれる。
On the other hand, when A≠B, the "1" signal output from the terminal Q2 , which is output at the rising edge of the timing pulse of the pulse signal n -1 mentioned above, is incremented to the step counter 13 via the OR circuit 11. Since the signal SH is given, the step counter 13
A step signal S 1 is emitted from the step S 0 .
Shift from to S 1 . As mentioned above, when the output of the terminal Q2 of the temporary storage circuit 8 becomes a "1" signal, the temporary memory circuit 8 continuously becomes a "1" signal during the address signal A0 to Ao-2 issued by the address counter 3. It is held and only writes (new writes) are performed during that period.

以上のように電気制御回路Eの要素e0,e1
…enからの信号電圧V0,V1……Vo-2が変らな
いときには書込みは行なわれず読出しのみが行
なわれ、工作機械等のステツプに応じて信号電
圧V0,V1……が変つたときのみステツプカウ
ンタ13が歩進し記憶回路6の新しいステツプ
にその状態を書込み、以上の動作のくり返し、
工作機械等の全ステツプに対応した書込み(記
憶)を完了する。
As described above, the elements e 0 , e 1 ... of the electric control circuit E
...signal voltages V 0 , V 1 ... from e n When V o-2 does not change, no writing is performed and only reading is performed, and the signal voltages V 0 , V 1 ... change depending on the steps of the machine tool, etc. Only when the state has changed, the step counter 13 increments and writes the state to a new step in the memory circuit 6, and the above operation is repeated.
Completes writing (memory) corresponding to all steps of machine tools, etc.

(2) 次に電気制御回路Eの動作を本発明装置の記
憶と比較して各その要素e0,e1……の診断を行
なう。このときには書込み−診断動作切替スイ
ツチ9を診断動作用の接点K2側に切替える。
すると切替スイツチ12は一たん接点C1に切
替つた後接点C2側に切替わる。そして接点C1
に切替つた時にリセツト信号REが入力するこ
とによりステツプカウンタ13はステツプ信号
S0を発し、ステツプアドレスはS0にもどる。
(2) Next, the operation of the electric control circuit E is compared with the memory of the device of the present invention to diagnose each of its elements e 0 , e 1 . At this time, the write-diagnostic operation changeover switch 9 is switched to the contact K2 side for diagnostic operation.
Then, the changeover switch 12 is once switched to the contact C1 , and then switched to the contact C2 side. and contact C 1
When the step counter 13 is switched to the step counter 13, the reset signal RE is input.
S 0 is issued and the step address returns to S 0 .

この場合も前の書込み動作の場合と同様にア
ドレスカウンタ3によつて指示されたデータセ
レクタ5からの入力信号Aと記憶回路6からの
入力信号Bがそれぞれ排他的論理和回路7に入
力される。
In this case, as in the case of the previous write operation, the input signal A from the data selector 5 and the input signal B from the memory circuit 6, which are instructed by the address counter 3, are respectively input to the exclusive OR circuit 7. .

若しA≠Bであれば、出力Xは“1”信号と
なり、一時記憶回路8のフリツプフロツプ8a
の端子S1に“1”信号を入力し、その端子Q1
に第2図イのグラフ中符号Mで示すような
“1”信号を出力する。この出力を受けたフリ
ツプフロツプ8bはアドレスカウンタ3の出力
パルスn-1の立上り時点で端子S2に“1”信号
を出力し、その端子Q2に第2図ロのグラフ中
符号Nで示すような信号を出力する。この出力
信号は切替スイツチ9の接点K2を通してイン
バータ回路14およびタイマー回路15に送ら
れる。これによつてインバータ回路14は上記
“1”信号を“0”信号に反転してオア回路1
1に送り、切替スイツチ12の接点C2を通し
てステツプカウンタ13に“0”信号が入力さ
れるので、ステツプカウンタ13に歩進信号
SHが入らない。一方タイマー15は動作を開
始する。而して第2図示のようにアドレス信号
A0〜Ao-2の1サイクルが完了し、次のサイク
ルにおいてA=Bとなるとアドレスカウンタ3
の出力パルス信号n-1の立上り時にフリツプフ
ロツプ8bの端子Q2出力は第2図ロのグラフ
中符号Pで示すように1→0に変化し、この変
化はインバータ回路14により反転して第3図
示のようにステツプカウンタ13には0→1に
変化して歩進信号SHが入力し、ステツプカウ
ンタ13は次のステツプ信号S1を発する。また
タイマー15には“0”信号が入力されるので
動作を停止し、かつリセツトされる。
If A≠B, the output X becomes a “1” signal, and the flip-flop 8a of the temporary storage circuit 8
Input a “1” signal to terminal S 1 of
Then, a "1" signal as shown by the symbol M in the graph of FIG. 2A is output. The flip-flop 8b receiving this output outputs a "1" signal to the terminal S2 at the rising edge of the output pulse n -1 of the address counter 3, and outputs a "1" signal to the terminal Q2 as shown by the symbol N in the graph in FIG. Outputs a signal. This output signal is sent to the inverter circuit 14 and the timer circuit 15 through the contact K2 of the changeover switch 9. As a result, the inverter circuit 14 inverts the above "1" signal to a "0" signal and inverts the OR circuit 1.
1, and a "0" signal is input to the step counter 13 through contact C2 of the changeover switch 12, so the step counter 13 receives a step signal.
SH does not enter. Meanwhile, the timer 15 starts operating. Then, as shown in the second diagram, the address signal
When one cycle of A 0 to A o-2 is completed and A=B in the next cycle, the address counter 3
At the rising edge of the output pulse signal n -1 of the flip-flop 8b, the terminal Q2 output of the flip-flop 8b changes from 1 to 0 as shown by the symbol P in the graph of FIG. As shown in the figure, the step counter 13 receives a step signal SH that changes from 0 to 1, and the step counter 13 issues the next step signal S1 . Also, since a "0" signal is input to the timer 15, the operation is stopped and reset.

このように各要素e0,e1,……の信号電圧
V0,V1,……が記憶と一致するとステツプカ
ウンタ13はステツプ信号S0〜Soを発して記憶
回路6の次のステツプの記憶を読み出し、以下
同様にして順次各ステツプの診断を行うもので
ある。このくり返しにより書込み時に記憶され
ていたステツプまでの診断を行ない1サイクル
を完了し、診断動作はこのサイクルを続行す
る。そして一のステツプから次のステツプに歩
進する時間が予め設定した時間(タイマー15
の設定時間)内に行なわれている限り、上記サ
イクルが続行され、電気回路に異状がないこと
が確められるのである。
In this way, the signal voltage of each element e 0 , e 1 , ...
When V 0 , V 1 , . . . match the memory, the step counter 13 issues step signals S 0 to S o to read out the memory of the next step in the memory circuit 6, and thereafter diagnoses each step sequentially in the same manner. It is something. By repeating this, the diagnosis up to the step stored at the time of writing is completed, and one cycle is completed, and the diagnostic operation continues this cycle. The time it takes to advance from one step to the next is a preset time (timer 15).
As long as the above cycle is carried out within the set time period), the above cycle continues, and it is confirmed that there is no abnormality in the electric circuit.

(3) 故障或いは劣化が起つた場合 若し、電気制御回路Eの各要素e0,e1,……
の任意のものに故障或いは劣化が起ると信号電
圧V0,V1……が記憶と一致することがなく、
A=Bとならず第2図イの点線Wで示すような
“1”信号が生じ、したがつて第2図ロの点線
Uで示すようにフリツプフロツプ8bの端子
Q2は“1”信号の出力が持続する。したがつ
てタイマー15においてはタイマー設定時間内
に端子Q2の出力が“0”信号にならないので
タイマーアツプの信号即ち、警報信号TOUT
出力してこれを表示回路16に送り、表示回路
16はこのA≠Bにおける信号電圧V0〜Vo-2
アドレス信号A0〜Ao-2、ステツプS0〜So及び
信号AがHレベルかLレベルかをそれぞれ表示
する。したがつて上記故障或いは劣化した要素
及びその故障或いは劣化の状態を知ることがで
きるものである。
(3) In case of failure or deterioration, each element e 0 , e 1 , ... of the electric control circuit E
If a failure or deterioration occurs in any of the above, the signal voltages V 0 , V 1 ... will not match the memory,
A=B does not hold, and a "1" signal as shown by the dotted line W in FIG.
Q2 continues to output a "1" signal. Therefore, in the timer 15, since the output of the terminal Q2 does not become a "0" signal within the timer setting time, a timer up signal, that is, an alarm signal T OUT is outputted and sent to the display circuit 16. is the signal voltage V 0 ~V o-2 at this A≠B,
Whether address signals A 0 to A o-2 , steps S 0 to S o , and signal A are at H level or L level is displayed. Therefore, it is possible to know the failed or deteriorated element and the state of the failure or deterioration.

なお、上記実施例では本装置をワイヤードロ
ジツク回路で構成しているが、これはマイクロ
コンピユータによる制御機器で構成することも
できることは云うまでもない。また上記装置に
おいて、表示回路と共に警報装置を作動するよ
うにしてもよい。また、上記タイマー15の設
定時間は工作機械の作動ステツプの時間に合わ
せて適当に定め、少くとも工作機械の作動ステ
ツプが同じ状態を持続する時間よりは長くする
のが良い。
In the above embodiment, the present apparatus is constructed of a wire logic circuit, but it goes without saying that it can also be constructed of a control device using a microcomputer. Further, in the above device, an alarm device may be activated together with the display circuit. Further, the setting time of the timer 15 is appropriately determined in accordance with the time of the operating step of the machine tool, and is preferably set to be at least longer than the time during which the operating step of the machine tool continues in the same state.

以上のようにして本発明により電気回路の各要
素の良、不良或いは劣化を診断することができる
ものであるが、本発明の効果を摘記すると以下の
通りである。
As described above, according to the present invention, it is possible to diagnose whether each element of an electric circuit is good, bad, or deteriorated.The effects of the present invention can be summarized as follows.

1 電気回路の正常動作を自動的に記憶し、次に
要素の出力電圧をこの記憶したデータと比較し
て診断を行なつているので、汎用性に富むと共
にプログラミングの必要がなく、種々の電気回
路に直ちに適用できる。
1. Since the normal operation of the electrical circuit is automatically memorized and then the output voltage of the element is compared with this memorized data for diagnosis, it is highly versatile and does not require programming. Can be immediately applied to circuits.

2 電気回路の要素の出力電圧が変わらないとき
は書込みは行なわず、それが変わつたときに書
込みを行なつているので記憶量は最少必要限度
ですみ、記憶容量を節減しうる。
2. Writing is not performed when the output voltage of the electric circuit element does not change, but is performed when it changes, so the amount of memory is kept to the minimum necessary limit, and the storage capacity can be reduced.

3 要素の良、不良を常に自動的に監視できるの
で、保全員の人手を節減しうると共に故障が発
生すれば直ちに発見でき、また故障した要素は
直ちに表示されるので、修復を迅速に行なうこ
とができ、工作機械等の稼動率を向上できる。
3. Since it is possible to constantly and automatically monitor whether the elements are good or defective, maintenance personnel can be saved, and if a malfunction occurs, it can be detected immediately, and malfunctioning elements are immediately displayed, so repairs can be carried out quickly. It is possible to improve the operating rate of machine tools, etc.

4 要素の不良のみならず、その劣化も直ちに発
見できるので電気回路の故障を未然に防止で
き、工作機械の稼動率を更に向上しうる。
4. Not only defective elements but also their deterioration can be detected immediately, making it possible to prevent electrical circuit failures and further improve the operating rate of machine tools.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の概要を示すブロツ
ク図、第2図イはフリツプフロツプ8aのQ1
子の出力信号を示すグラフ、ロは同8bのQ2
子の出力信号を示すグラフ、第3図はステツプカ
ウンタ13の歩進を示す説明図である。 4……比較回路、6……記憶回路、7……回
路、16……表示回路。
FIG . 1 is a block diagram showing an outline of an embodiment of the present invention, FIG. FIG. 3 is an explanatory diagram showing the increment of the step counter 13. 4... Comparison circuit, 6... Memory circuit, 7... Circuit, 16... Display circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 工作機械等における電気制御回路の各要素の
電気的信号を入力し、これらを予め設定した基準
値と比較してデジタル信号を出力する比較回路
と、前記電気回路の各要素の数に見合うアドレス
の数及び前記工作機械等のステツプの数に見合う
ステツプの数の相乗値に相当する数のビツトの記
憶容量を有し前記比較回路の出力信号を順次入力
して記憶する記憶回路と、この記憶回路にアドレ
ス信号を入力するアドレスカウンタと、前記記憶
回路にステツプ信号を入力するステツプカウンタ
と、前記比較回路から発せられる入力信号と前記
記憶回路に記憶された入力信号とを入力する排他
的論理和回路と、この排他的論理和回路の出力を
入力する一時記憶回路と、この一時記憶回路と前
記ステツプカウンタ及び前記記憶回路との間に設
けた書込診断動作切替スイツチと、この書込診断
動作切替スイツチの診断動作側接点に接続された
タイマーと、このタイマーに接続された表示回路
とを備え、前記書込−診断動作切替スイツチを書
込動作側に切替えることにより前記電気制御回路
の各要素の正常状態を前記記憶回路に記憶し、前
記書込−診断動作切替スイツチを診断動作側に切
替えることにより前記電気制御回路の各要素の状
態を前記正常状態と比較して判断できるようにし
たことを特徴とする電気回路の故障診断装置。
1. A comparison circuit that inputs electrical signals from each element of an electrical control circuit in a machine tool, etc., compares them with a preset reference value, and outputs a digital signal, and an address corresponding to the number of each element of the electrical circuit. a memory circuit which has a storage capacity of a number of bits corresponding to the multiplier value of the number of steps corresponding to the number of steps of the machine tool, etc., and sequentially inputs and stores the output signals of the comparison circuit; an address counter that inputs an address signal to the circuit; a step counter that inputs a step signal to the memory circuit; and an exclusive OR that inputs the input signal generated from the comparison circuit and the input signal stored in the memory circuit. a temporary memory circuit that inputs the output of the exclusive OR circuit; a write diagnostic operation changeover switch provided between the temporary memory circuit and the step counter and the memory circuit; A timer connected to a diagnostic operation side contact of a changeover switch, and a display circuit connected to this timer, and each element of the electric control circuit is provided by switching the write-diagnosis operation changeover switch to the write operation side. By storing the normal state of the electrical control circuit in the memory circuit and switching the write-diagnosis operation changeover switch to the diagnostic operation side, the state of each element of the electric control circuit can be determined by comparing it with the normal state. An electrical circuit failure diagnosis device characterized by:
JP9659379A 1979-07-27 1979-07-27 Fault diagnostic unit for electric circuit Granted JPS5619459A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0333067U (en) * 1989-08-10 1991-04-02

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