JPS645237Y2 - - Google Patents
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- JPS645237Y2 JPS645237Y2 JP1981000750U JP75081U JPS645237Y2 JP S645237 Y2 JPS645237 Y2 JP S645237Y2 JP 1981000750 U JP1981000750 U JP 1981000750U JP 75081 U JP75081 U JP 75081U JP S645237 Y2 JPS645237 Y2 JP S645237Y2
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- JP
- Japan
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- flux
- resistance value
- detection circuit
- value detection
- electrodes
- Prior art date
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- Expired
Links
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- RSWGJHLUYNHPMX-UHFFFAOYSA-N Abietic-Saeure Natural products C12CCC(C(C)C)=CC2=CCC2C1(C)CCCC2(C)C(O)=O RSWGJHLUYNHPMX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KHPCPRHQVVSZAH-HUOMCSJISA-N Rosin Natural products O(C/C=C/c1ccccc1)[C@H]1[C@H](O)[C@@H](O)[C@@H](O)[C@@H](CO)O1 KHPCPRHQVVSZAH-HUOMCSJISA-N 0.000 description 1
- 239000012190 activator Substances 0.000 description 1
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の目的〕
(産業上の利用分野)
本考案は、フラツクス劣化検出装置に関するも
のである。
のである。
(従来の技術)
はんだ付けにあたつて使用されるフラツクス
は、水分の混入によつて劣化する。すなわち、水
分は全体量の3wt%の混入によつてフラツクスの
使用を不可能にし、この水分の全体量に占める割
合を正確に計測することによつてフラツクスの劣
化の度合がわかる。
は、水分の混入によつて劣化する。すなわち、水
分は全体量の3wt%の混入によつてフラツクスの
使用を不可能にし、この水分の全体量に占める割
合を正確に計測することによつてフラツクスの劣
化の度合がわかる。
(考案が解決しようとする問題点)
ところが従来は、フラツクス中の水分の含有率
を正確に計測できるものがなく、使用時間によつ
て定期的にフラツクスを交換しているが、これで
は使用可能のものを廃棄したり、使用不可能のも
のを使用したりすることがある問題がある。
を正確に計測できるものがなく、使用時間によつ
て定期的にフラツクスを交換しているが、これで
は使用可能のものを廃棄したり、使用不可能のも
のを使用したりすることがある問題がある。
本考案の目的は、フラツクス中の水分の含有率
に応じてフラツクスの電気抵抗値が変化する現象
に注目し、フラツクス中の水分の含有率を正確に
測定して、限界に達したフラツクスを警告できる
ようにすることにある。
に応じてフラツクスの電気抵抗値が変化する現象
に注目し、フラツクス中の水分の含有率を正確に
測定して、限界に達したフラツクスを警告できる
ようにすることにある。
(問題点を解決するための手段)
本考案は、フラツクス4に浸漬される一対の電
極3と、この一対の電極3に接続した抵抗値検出
回路5と、この抵抗値検出回路5に接続した警告
部6,7とを有するものである。
極3と、この一対の電極3に接続した抵抗値検出
回路5と、この抵抗値検出回路5に接続した警告
部6,7とを有するものである。
(作用)
本考案は、フラツクス4中に含有される水分が
多くなると、抵抗値が下がるので、その変化を抵
抗値検出回路5によつて検出し、そして、フラツ
クス中の水分が限界(3wt%)に達したら、フラ
ツクス4の劣化が限界であるから、抵抗値検出回
路5より出力される信号により警告部6,7を作
動する。
多くなると、抵抗値が下がるので、その変化を抵
抗値検出回路5によつて検出し、そして、フラツ
クス中の水分が限界(3wt%)に達したら、フラ
ツクス4の劣化が限界であるから、抵抗値検出回
路5より出力される信号により警告部6,7を作
動する。
(実施例)
以下、本考案を図面に示される実施例を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第1図に示されるように、噴流ノズル1を備え
たフラツクス槽2に一対の電極3を挿入し、この
電極3の所定長さ部分をフラツクス槽2内のフラ
ツクス4に浸漬する。
たフラツクス槽2に一対の電極3を挿入し、この
電極3の所定長さ部分をフラツクス槽2内のフラ
ツクス4に浸漬する。
上記電極3は、フラツクス槽2に固定しておい
てもよく、また着脱自在に設けておいて必要なと
きにフラツクス槽2に取付けるようにしてもよ
く、またフラツクス槽2に取付けることなくフラ
ツクス4中に挿入するようにしてもよい。
てもよく、また着脱自在に設けておいて必要なと
きにフラツクス槽2に取付けるようにしてもよ
く、またフラツクス槽2に取付けることなくフラ
ツクス4中に挿入するようにしてもよい。
また上記一対の電極3に抵抗値検出回路5を接
続する。
続する。
この抵抗値検出回路5はブリツジ回路と出力増
巾回路とからなり、ブリツジ回路のひとつの抵抗
が、一対の電極3間のフラツクス4が有する抵抗
となるようにする。
巾回路とからなり、ブリツジ回路のひとつの抵抗
が、一対の電極3間のフラツクス4が有する抵抗
となるようにする。
また上記抵抗値検出回路5に警告部としての警
報器6および抵抗値表示器7を並列に接続する。
報器6および抵抗値表示器7を並列に接続する。
警報器6としては警報ブザーや警報ランプを用
い、また抵抗値表示器7としては表示メータなど
を用いる。
い、また抵抗値表示器7としては表示メータなど
を用いる。
そうして、フラツクス4の水分に含有率が変化
することによつて、このフラツクス4の電気抵抗
値が変化するので、フラツクス4の水分の含有率
がたとえば3wt%以上のときの電気抵抗値におい
て、抵抗値検出回路5のブリツジ回路が増巾回路
を経て警告を発することができるだけの不平衡電
流を出力するように、ブリツジ回路を設定する。
したがつてフラツクス4の水分の含有率が3wt%
に達したら、たとえば警報ブザーや警報ランプが
作動するので、フラツクス4は再生不可能のため
廃棄する。
することによつて、このフラツクス4の電気抵抗
値が変化するので、フラツクス4の水分の含有率
がたとえば3wt%以上のときの電気抵抗値におい
て、抵抗値検出回路5のブリツジ回路が増巾回路
を経て警告を発することができるだけの不平衡電
流を出力するように、ブリツジ回路を設定する。
したがつてフラツクス4の水分の含有率が3wt%
に達したら、たとえば警報ブザーや警報ランプが
作動するので、フラツクス4は再生不可能のため
廃棄する。
第2図に、フラツクス中に水を添加して、フラ
ツクスの単位断面積、単位長さ当りの電気抵抗す
なわち比抵抗の変化を測定した実験結果を示す。
なお、この実験で用いた試料a,bは、ロジン系
のプリント基板用フラツクスである。
ツクスの単位断面積、単位長さ当りの電気抵抗す
なわち比抵抗の変化を測定した実験結果を示す。
なお、この実験で用いた試料a,bは、ロジン系
のプリント基板用フラツクスである。
第2図より、フラツクス中の水分の増大に伴い
フラツクスの比抵抗が低下してゆくことがわか
る。したがつて組成の異なるフラツクス毎にこの
ような水分含有量と比抵抗の関係を求めておけ
ば、フラツクスの比抵抗を測定することにより簡
単に水分含有量を知ることができる。なお、試料
a,bについて測定値が異なるのは、フラツクス
中に含まれる活性剤の種類および添加量が異なる
ためである。
フラツクスの比抵抗が低下してゆくことがわか
る。したがつて組成の異なるフラツクス毎にこの
ような水分含有量と比抵抗の関係を求めておけ
ば、フラツクスの比抵抗を測定することにより簡
単に水分含有量を知ることができる。なお、試料
a,bについて測定値が異なるのは、フラツクス
中に含まれる活性剤の種類および添加量が異なる
ためである。
本考案によれば、フラツクスに浸漬される一対
の電極に抵抗値検出回路を接続し、この抵抗値検
出回路に警告部を接続したから、フラツクスの電
気抵抗値を検出して、フラツクス中の水分の含有
率を正確に測定し、この水分によるフラツクスの
劣化の限界を警告することができ、従来のよう
に、劣化の限界の不正確な判断を有効に防止でき
る。
の電極に抵抗値検出回路を接続し、この抵抗値検
出回路に警告部を接続したから、フラツクスの電
気抵抗値を検出して、フラツクス中の水分の含有
率を正確に測定し、この水分によるフラツクスの
劣化の限界を警告することができ、従来のよう
に、劣化の限界の不正確な判断を有効に防止でき
る。
第1図は本考案のフラツクス劣化検出装置の一
実施例を示す断面図およびブロツク図、第2図は
フラツクスの水分含有量と比抵抗との関係を示す
グラフである。 3……電極、4……フラツクス、5……抵抗値
検出回路、6,7……警告部としての警報器およ
び表示器。
実施例を示す断面図およびブロツク図、第2図は
フラツクスの水分含有量と比抵抗との関係を示す
グラフである。 3……電極、4……フラツクス、5……抵抗値
検出回路、6,7……警告部としての警報器およ
び表示器。
Claims (1)
- フラツクスに浸漬される一対の電極と、この一
対の電極に接続した抵抗値検出回路と、この抵抗
値検出回路に接続した警告部とを具備したことを
特徴とするフラツクス劣化検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1981000750U JPS645237Y2 (ja) | 1981-01-07 | 1981-01-07 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1981000750U JPS645237Y2 (ja) | 1981-01-07 | 1981-01-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57114959U JPS57114959U (ja) | 1982-07-16 |
JPS645237Y2 true JPS645237Y2 (ja) | 1989-02-09 |
Family
ID=29799304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1981000750U Expired JPS645237Y2 (ja) | 1981-01-07 | 1981-01-07 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS645237Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60257966A (ja) * | 1984-06-04 | 1985-12-19 | Tamura Kaken Kk | フラックスの品質管理方法および装置 |
Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4911159A (ja) * | 1972-05-29 | 1974-01-31 | ||
JPS5124556A (ja) * | 1974-08-23 | 1976-02-27 | Tamura Seisakusho Kk | Furatsukusutofusochi |
JPS5223546A (en) * | 1975-08-19 | 1977-02-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method of judging inferiority of flux |
JPS5257968A (en) * | 1975-11-07 | 1977-05-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Flux density controller |
JPS52132868A (en) * | 1976-04-29 | 1977-11-07 | Nippon Soken | Liquid level detector |
JPS52135767A (en) * | 1976-05-06 | 1977-11-14 | Noranda Mines Ltd | Bubble level monitor |
JPS52143060A (en) * | 1976-05-25 | 1977-11-29 | Nippon Steel Corp | Liquid level monitor |
JPS52145065A (en) * | 1976-05-27 | 1977-12-02 | Shimadzu Corp | Fluid flow suspension alarming device |
JPS5332713A (en) * | 1976-09-08 | 1978-03-28 | Kawai Musical Instr Mfg Co | Coupler for electronic instrument |
JPS5348697U (ja) * | 1976-09-29 | 1978-04-25 | ||
JPS5320083B2 (ja) * | 1972-05-25 | 1978-06-24 | ||
JPS5586443A (en) * | 1978-12-25 | 1980-06-30 | Tsuneshirou Takeshita | Method of giving alarm by utilizing principle of electroencephalograph |
JPS573465B2 (ja) * | 1978-01-27 | 1982-01-21 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5134149Y2 (ja) * | 1973-12-11 | 1976-08-24 | ||
JPS5320083U (ja) * | 1976-07-29 | 1978-02-20 | ||
JPS53108361U (ja) * | 1977-02-04 | 1978-08-30 | ||
JPS53127559U (ja) * | 1977-03-17 | 1978-10-11 | ||
JPS592937Y2 (ja) * | 1979-10-04 | 1984-01-26 | 権士 近藤 | フラツクス管理装置 |
JPS563103Y2 (ja) * | 1980-04-02 | 1981-01-23 | ||
JPS573465U (ja) * | 1980-06-10 | 1982-01-08 | ||
JPS57114960U (ja) * | 1981-01-07 | 1982-07-16 |
-
1981
- 1981-01-07 JP JP1981000750U patent/JPS645237Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (13)
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JPS5586443A (en) * | 1978-12-25 | 1980-06-30 | Tsuneshirou Takeshita | Method of giving alarm by utilizing principle of electroencephalograph |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57114959U (ja) | 1982-07-16 |
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