JPS644257B2 - - Google Patents
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- JPS644257B2 JPS644257B2 JP57039944A JP3994482A JPS644257B2 JP S644257 B2 JPS644257 B2 JP S644257B2 JP 57039944 A JP57039944 A JP 57039944A JP 3994482 A JP3994482 A JP 3994482A JP S644257 B2 JPS644257 B2 JP S644257B2
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- recording
- lens
- laser beam
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- light
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- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1359—Single prisms
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ビデオ、PCMオーデイオ等の情報
を、高密度に記録原盤上に記録する際、記録原盤
からの反射光をモニターし、精度良く、レーザー
光束を記録原盤上に収束させる手段を有せしめた
光学的情報記録装置に関し、高い開口数の記録レ
ンズを用いた場合でも、焦点合わせを精度良く行
うことができる光学的情報記録装置を提供するの
を目的とする。
を、高密度に記録原盤上に記録する際、記録原盤
からの反射光をモニターし、精度良く、レーザー
光束を記録原盤上に収束させる手段を有せしめた
光学的情報記録装置に関し、高い開口数の記録レ
ンズを用いた場合でも、焦点合わせを精度良く行
うことができる光学的情報記録装置を提供するの
を目的とする。
近年、ビデオデイスク、PCMオーデイオデイ
スクの情報記録容量は、従来のメモリーに比べる
と、はるかに大きな容量となつてきているが、高
密度記録を実現するためには、高い開口数(N.
A)を有する記録レンズを用い、極めて精度良く
焦点制御を行う必要がある。例えば、N.A=0.93
の記録レンズを用いてアルゴンレーザー光(λ=
0.4579μm)で記録するとすれば、焦点深度Δは、 Δ=±λ/2(N.A)2 =±0.4579/2×(0.93)2=±0.26μm となり、少なくとも、焦点深度内に焦点位置を制
御する必要がある。しかし、従来の光学的情報記
録装置によると、実際には焦点深度内にあるにも
かかわらず精度が十分でないという場合も出てき
ており、記録原盤を回転させた時、必ず面振れを
生じている。ところで、この面振れに対応して、
記録レンズを十分な精度で追従させることは、現
在のサーボ技術をもつてすれば、比較的容易に実
現できる。しかし、問題なのは、焦点の絶対位置
を高精度に合わせる方法である。
スクの情報記録容量は、従来のメモリーに比べる
と、はるかに大きな容量となつてきているが、高
密度記録を実現するためには、高い開口数(N.
A)を有する記録レンズを用い、極めて精度良く
焦点制御を行う必要がある。例えば、N.A=0.93
の記録レンズを用いてアルゴンレーザー光(λ=
0.4579μm)で記録するとすれば、焦点深度Δは、 Δ=±λ/2(N.A)2 =±0.4579/2×(0.93)2=±0.26μm となり、少なくとも、焦点深度内に焦点位置を制
御する必要がある。しかし、従来の光学的情報記
録装置によると、実際には焦点深度内にあるにも
かかわらず精度が十分でないという場合も出てき
ており、記録原盤を回転させた時、必ず面振れを
生じている。ところで、この面振れに対応して、
記録レンズを十分な精度で追従させることは、現
在のサーボ技術をもつてすれば、比較的容易に実
現できる。しかし、問題なのは、焦点の絶対位置
を高精度に合わせる方法である。
第1図および第2図に従来の光学的情報記録装
置の光学系を示す。いずれも従来からの焦点合わ
せ方法を用いたものである。第1図は、平行系の
場合で、入射光束1を光路中に挿入されている平
行平板2および反射ミラー3を介して記録レンズ
4に入射させ、この記録レンズ4により記録原盤
5上に焦点を結ばせ、この反射光を再び同じ光路
を通して、前記平行平板2の両面で反射させてシ
エアリングを行い、2光束を干渉パターン観測ス
クリーン6上で干渉させる。そして干渉縞を観察
し、干渉縞間隔が最大になる位置を最適焦点位置
とするものである。なお、入射光束1の平行性が
保証されておれば、反射光束も平行になつた時が
最適焦点位置であると言つて良い。
置の光学系を示す。いずれも従来からの焦点合わ
せ方法を用いたものである。第1図は、平行系の
場合で、入射光束1を光路中に挿入されている平
行平板2および反射ミラー3を介して記録レンズ
4に入射させ、この記録レンズ4により記録原盤
5上に焦点を結ばせ、この反射光を再び同じ光路
を通して、前記平行平板2の両面で反射させてシ
エアリングを行い、2光束を干渉パターン観測ス
クリーン6上で干渉させる。そして干渉縞を観察
し、干渉縞間隔が最大になる位置を最適焦点位置
とするものである。なお、入射光束1の平行性が
保証されておれば、反射光束も平行になつた時が
最適焦点位置であると言つて良い。
第2図は、スポツトを実際に観測する光学系を
備えた場合で、入射光束1を、光路中に挿入され
ているウエツジ板7および反射ミラー3を介して
記録レンズ4に入射させ、この記録レンズ4によ
り記録原盤5上に焦点を結ばせ、この反射光を再
び同じ光路を通して、前記ウエツジ板7で反射さ
せて収束レンズ8に入射させ、これを顕微鏡9に
より観察するものである。係る場合、収容レンズ
8と顕微鏡9の対物レンズ10との位置関係を、
収束レンズ8に平行光が入射した時に顕微鏡9の
接眼レンズ11を通して観察した際に、観察され
るスポツト径が最小になるように予めオートコリ
メーター等で、記録レーザー光と同波長を用いて
セツトされている。係る構成で、記録原盤5から
反射された光束によるスポツトが最小になるよう
に焦点調整を行えば、記録原盤5上で入射光束1
が最適焦点位置になるというものである。
備えた場合で、入射光束1を、光路中に挿入され
ているウエツジ板7および反射ミラー3を介して
記録レンズ4に入射させ、この記録レンズ4によ
り記録原盤5上に焦点を結ばせ、この反射光を再
び同じ光路を通して、前記ウエツジ板7で反射さ
せて収束レンズ8に入射させ、これを顕微鏡9に
より観察するものである。係る場合、収容レンズ
8と顕微鏡9の対物レンズ10との位置関係を、
収束レンズ8に平行光が入射した時に顕微鏡9の
接眼レンズ11を通して観察した際に、観察され
るスポツト径が最小になるように予めオートコリ
メーター等で、記録レーザー光と同波長を用いて
セツトされている。係る構成で、記録原盤5から
反射された光束によるスポツトが最小になるよう
に焦点調整を行えば、記録原盤5上で入射光束1
が最適焦点位置になるというものである。
しかしながら、このような従来の光学的情報記
録装置によると、記録レンズ4のN.Aが低い状態
では焦点合わせを有効に行えるが、記録レンズ4
のN.Aが高くなつてくると、特にN.A>0.9にな
つてくると、入射光束1の偏波面が記録レンズ4
の半径位置により、回転が生じるという現象を起
こしていた。出力の比較的大きいレーザーは、一
般的に外部鏡式であり、レーザーチユーブの端面
はブリユスター窓になつている。従つて、直線偏
光している。この光束を、記録レンズ4に入射さ
せ、記録原盤5からの反斜光を観測する場合、一
様な強度の光を入射させたとしても、記録レンズ
4を構成する各群のレンズへの入射角度や第1図
の平行平板2、第2図のウエツジ板7の表面反射
における垂直Sおよび平行P成分の反射率の違い
が生じ、第2図の顕微鏡9の肉眼12による観測
では、一様な明るさのスポツトが得られず、暗十
字(アイソジヤイア)を有するスポツトしか得ら
れないのである。従つて、平行平板2による干渉
では、干渉縞の可視度が下がり、正確な焦点合わ
せは不可能である。
録装置によると、記録レンズ4のN.Aが低い状態
では焦点合わせを有効に行えるが、記録レンズ4
のN.Aが高くなつてくると、特にN.A>0.9にな
つてくると、入射光束1の偏波面が記録レンズ4
の半径位置により、回転が生じるという現象を起
こしていた。出力の比較的大きいレーザーは、一
般的に外部鏡式であり、レーザーチユーブの端面
はブリユスター窓になつている。従つて、直線偏
光している。この光束を、記録レンズ4に入射さ
せ、記録原盤5からの反斜光を観測する場合、一
様な強度の光を入射させたとしても、記録レンズ
4を構成する各群のレンズへの入射角度や第1図
の平行平板2、第2図のウエツジ板7の表面反射
における垂直Sおよび平行P成分の反射率の違い
が生じ、第2図の顕微鏡9の肉眼12による観測
では、一様な明るさのスポツトが得られず、暗十
字(アイソジヤイア)を有するスポツトしか得ら
れないのである。従つて、平行平板2による干渉
では、干渉縞の可視度が下がり、正確な焦点合わ
せは不可能である。
第3図は、高いN.Aを有する記録レンズ4に直
線偏光13を入射させた場合の後側焦点面4aで
の、直線偏光13の偏光状態を示し、第4図は、
記録原盤5から反射されてもう一度記録レンズ4
を通つて戻つて来た直線偏光13の後側焦点面4
aでの偏光状態を示す。この図からも明らかなよ
うに、記録レンズ4を通過した直線偏光13は、
特に入射角度の大きいガラス面で、S偏光とP偏
光の透過率が異なつてきて、直線偏光13を入射
させても、記録レンズ4を通過した直線偏光13
の偏波面は第4図の如く回転し、第1図の平行平
板2や第2図のウエツジ板7で反射された光は、
偏波面の角度回転量に応じて、反射率が異なつて
きて、ちようどアナライザーと同様の作用をす
る。従つて、観測される記録原盤5からの反射光
によるスポツトは、暗十字を有する状態になり、
記録レンズ4からの光束が、記録原盤5上で最も
絞れた場合を確認するのには、精度不十分とな
り、再現性良く、最良焦点位置に接定するという
ことは不可能に近くなるのである。
線偏光13を入射させた場合の後側焦点面4aで
の、直線偏光13の偏光状態を示し、第4図は、
記録原盤5から反射されてもう一度記録レンズ4
を通つて戻つて来た直線偏光13の後側焦点面4
aでの偏光状態を示す。この図からも明らかなよ
うに、記録レンズ4を通過した直線偏光13は、
特に入射角度の大きいガラス面で、S偏光とP偏
光の透過率が異なつてきて、直線偏光13を入射
させても、記録レンズ4を通過した直線偏光13
の偏波面は第4図の如く回転し、第1図の平行平
板2や第2図のウエツジ板7で反射された光は、
偏波面の角度回転量に応じて、反射率が異なつて
きて、ちようどアナライザーと同様の作用をす
る。従つて、観測される記録原盤5からの反射光
によるスポツトは、暗十字を有する状態になり、
記録レンズ4からの光束が、記録原盤5上で最も
絞れた場合を確認するのには、精度不十分とな
り、再現性良く、最良焦点位置に接定するという
ことは不可能に近くなるのである。
本発明はこのような問題を解決することを目的
とし、記録レーザー光源と、情報信号に応じて記
録レーザー光束を変調する変調手段と、記録レー
ザー光束を記録原盤上に集束させる記録レンズ
と、前記記録原盤から反射し前記記録レンズを通
つた反射レーザー光を前記記録レーザー光束と分
離する分離手段と、前記分離手段により分離さた
反射レーザー光を収束させる収束手段と、前記収
束手段により収束された反射レーザー光スポツト
の収束状態をモニターすることによつて前記記録
レーザー光束の前記記録原盤上での集束状態をモ
ニターするモニター手段と、少なくとも前記モニ
ター手段による集束状態モニター時に、前記記録
レンズに前記記録レーザー光源からの記録レーザ
ー光束を円偏光として入射させる直線偏光・円偏
光変換手段と、前記モニター手段によるモニター
結果に基づいて前記記録レンズからの出射光を前
記記録原盤上に正しく集束させるように前記記録
レンズを制御する焦点合わせ手段とを備えた光学
的情報記録装置を提供することによつて、その目
的を達成するものであり、これにより高い開口数
の記録レンズを用いた場合でも、暗十字のない状
態で精度良く焦点合わせを行うことができるもの
である。
とし、記録レーザー光源と、情報信号に応じて記
録レーザー光束を変調する変調手段と、記録レー
ザー光束を記録原盤上に集束させる記録レンズ
と、前記記録原盤から反射し前記記録レンズを通
つた反射レーザー光を前記記録レーザー光束と分
離する分離手段と、前記分離手段により分離さた
反射レーザー光を収束させる収束手段と、前記収
束手段により収束された反射レーザー光スポツト
の収束状態をモニターすることによつて前記記録
レーザー光束の前記記録原盤上での集束状態をモ
ニターするモニター手段と、少なくとも前記モニ
ター手段による集束状態モニター時に、前記記録
レンズに前記記録レーザー光源からの記録レーザ
ー光束を円偏光として入射させる直線偏光・円偏
光変換手段と、前記モニター手段によるモニター
結果に基づいて前記記録レンズからの出射光を前
記記録原盤上に正しく集束させるように前記記録
レンズを制御する焦点合わせ手段とを備えた光学
的情報記録装置を提供することによつて、その目
的を達成するものであり、これにより高い開口数
の記録レンズを用いた場合でも、暗十字のない状
態で精度良く焦点合わせを行うことができるもの
である。
以下、本発明の構成をその一実施例を示す図面
に基づいて詳細に説明する。なお、前記第1図お
よび第2図と同じ作用をなすものは同一番号を付
して説明を略した。
に基づいて詳細に説明する。なお、前記第1図お
よび第2図と同じ作用をなすものは同一番号を付
して説明を略した。
第5図は、本発明に係る光学的情報記録装置の
光学系を示す。すなわち、第2図に示した光学系
に加え、反射光観測系のウエツジ板7と記録レン
ズ4との間の光路中にλ/4板14を挿入し、入
射光束1を直線偏光から円偏光に変えて記録レン
ズ4に入射させるように構成されている。λ/4
板14自体は、焦点合わせ時のみ光路中に挿入し
てもよく、常時入れておいても問題はない。ま
た、λ/4板14を挿入する位置は、反射光観測
系と記録レンズ4間以外のウエツジ板7手前の光
路中でもよい。これにより、λ/4板14が円偏
光を入射させるので、記録レンズ4通過後の、空
間的偏光面の傾きの分布はなくなり、ウエツジ板
7または平行平板で反射された光束1も、空間的
な非対称性を持たなくなり、収束レンズ8および
顕微鏡9の対物レンズ10と接眼レンズ11で構
成される観測系で観測されるスポツトは、暗十字
のない明瞭なスポツトとなつて、最適焦点位置を
精度良く決定することが可能となる。
光学系を示す。すなわち、第2図に示した光学系
に加え、反射光観測系のウエツジ板7と記録レン
ズ4との間の光路中にλ/4板14を挿入し、入
射光束1を直線偏光から円偏光に変えて記録レン
ズ4に入射させるように構成されている。λ/4
板14自体は、焦点合わせ時のみ光路中に挿入し
てもよく、常時入れておいても問題はない。ま
た、λ/4板14を挿入する位置は、反射光観測
系と記録レンズ4間以外のウエツジ板7手前の光
路中でもよい。これにより、λ/4板14が円偏
光を入射させるので、記録レンズ4通過後の、空
間的偏光面の傾きの分布はなくなり、ウエツジ板
7または平行平板で反射された光束1も、空間的
な非対称性を持たなくなり、収束レンズ8および
顕微鏡9の対物レンズ10と接眼レンズ11で構
成される観測系で観測されるスポツトは、暗十字
のない明瞭なスポツトとなつて、最適焦点位置を
精度良く決定することが可能となる。
第6図は、VHD方式ビデオデイスクに本発明
に係る光学的情報記録装置を用いたところの光学
系を示す。光学的ビデオデイスク、PCMデジタ
ルオーデイオデイスク等の記録の場合は、記録レ
ーザー光束は1ビームで偏光面も1種類である
が、第6図に示すように偏波面の異なる2光束を
用いた場合、λ/4板14の挿入位置は限定され
る。VHD方式ビデオデイスクの記録光学系を簡
単に説明すると、アルゴンレーザー15より出た
光束(λ=0.4579μm)は、反射ミラー16で、
メイン信号記録用ビーム17とパイロツト信号
(トラツキングピツト)記録用ビーム18とに分
かれる。メイン信号記録用ビーム17は光変調器
19を通りFM変調され、次に反射ミラー20を
介して光変調器21に入り、デイスク半径方向に
より変わる必要記録パワーのコントロールが行わ
れる。次に光束17は反射ミラー22を介してシ
リンドリカルレンズ23,24に入り、第1スリ
ツト25で絞り込まれるとともにその幅をコント
ロールされ、次にレンズ26に入つて平行光とな
り偏光ビームスプリツター27へと入る。一方、
トラツキングピツト記録用パイロツトビーム18
は、反射ミラー28を介して光変調器29を通
り、次に反射ミラー30,31を介してビーム拡
大光学系32,33を通り、次に反射ミラー41
を介して偏光ビームスプリツター27に到到り、
前記メイン信号記録用ビーム17と加算される。
偏光ビームスプリツター27に入るメイン信号記
録用ビーム17とパイロツト信号記録用ビーム1
8の偏光方向は図中イ,ロであらわす方向であ
る。偏光ビームスプリツター27を出たビーム3
4は、ウエツジ板7で一部反射され、ミラー35
に入射し、反射された後に、スポツト観測光学系
8,10,11に入る。ここで、入射ビーム34
の平行度を調整確認する。ウエツジ板7を出た光
は、反射ミラー3を介した後、第2スリツト36
により第1スリツト25で発生した高次回析光を
制御し、ピツト形状をコントロールする。記録レ
ンズ4を通り記録原盤5表面で反射したビーム
は、再び同じ光路を通り、入射光と同時にスポツ
ト観測系8,10,11に入る。入射光34は記
録レンズ4を通過する前にスポツト観測光学系
8,10,11に入射するため、偏光面の回転な
しに正確に観測できる。しかし、この構成では記
録原盤5からの反射光は、やはり暗十字を生じ
る。そこで本実施例においては、反射光観測系の
ウエツジ板7と前記第2スリツト36との間に
λ/4板14を挿入することにより暗十字の発生
しない状態で、反射光によるスポツトを観測する
構成とした。この場合、2つの直交した偏光面の
ビーム17,18が入射するため、いずれか一方
のビームを最良に見えるようにすることはできる
が、両方同時に最も良く見えるようにすることは
できない。しかし実際には、メイン信号記録用ビ
ーム17のみ最良にすれば、パイロツトビーム1
8の方は、自動的に最良になる。またメインビー
ム17およびパイロツトビーム18の位置関係
は、記録中は、終始モニターする必要があるの
で、焦点合わせ時以外はλ/4板14は、その光
路中から外しておくことが必要である。
に係る光学的情報記録装置を用いたところの光学
系を示す。光学的ビデオデイスク、PCMデジタ
ルオーデイオデイスク等の記録の場合は、記録レ
ーザー光束は1ビームで偏光面も1種類である
が、第6図に示すように偏波面の異なる2光束を
用いた場合、λ/4板14の挿入位置は限定され
る。VHD方式ビデオデイスクの記録光学系を簡
単に説明すると、アルゴンレーザー15より出た
光束(λ=0.4579μm)は、反射ミラー16で、
メイン信号記録用ビーム17とパイロツト信号
(トラツキングピツト)記録用ビーム18とに分
かれる。メイン信号記録用ビーム17は光変調器
19を通りFM変調され、次に反射ミラー20を
介して光変調器21に入り、デイスク半径方向に
より変わる必要記録パワーのコントロールが行わ
れる。次に光束17は反射ミラー22を介してシ
リンドリカルレンズ23,24に入り、第1スリ
ツト25で絞り込まれるとともにその幅をコント
ロールされ、次にレンズ26に入つて平行光とな
り偏光ビームスプリツター27へと入る。一方、
トラツキングピツト記録用パイロツトビーム18
は、反射ミラー28を介して光変調器29を通
り、次に反射ミラー30,31を介してビーム拡
大光学系32,33を通り、次に反射ミラー41
を介して偏光ビームスプリツター27に到到り、
前記メイン信号記録用ビーム17と加算される。
偏光ビームスプリツター27に入るメイン信号記
録用ビーム17とパイロツト信号記録用ビーム1
8の偏光方向は図中イ,ロであらわす方向であ
る。偏光ビームスプリツター27を出たビーム3
4は、ウエツジ板7で一部反射され、ミラー35
に入射し、反射された後に、スポツト観測光学系
8,10,11に入る。ここで、入射ビーム34
の平行度を調整確認する。ウエツジ板7を出た光
は、反射ミラー3を介した後、第2スリツト36
により第1スリツト25で発生した高次回析光を
制御し、ピツト形状をコントロールする。記録レ
ンズ4を通り記録原盤5表面で反射したビーム
は、再び同じ光路を通り、入射光と同時にスポツ
ト観測系8,10,11に入る。入射光34は記
録レンズ4を通過する前にスポツト観測光学系
8,10,11に入射するため、偏光面の回転な
しに正確に観測できる。しかし、この構成では記
録原盤5からの反射光は、やはり暗十字を生じ
る。そこで本実施例においては、反射光観測系の
ウエツジ板7と前記第2スリツト36との間に
λ/4板14を挿入することにより暗十字の発生
しない状態で、反射光によるスポツトを観測する
構成とした。この場合、2つの直交した偏光面の
ビーム17,18が入射するため、いずれか一方
のビームを最良に見えるようにすることはできる
が、両方同時に最も良く見えるようにすることは
できない。しかし実際には、メイン信号記録用ビ
ーム17のみ最良にすれば、パイロツトビーム1
8の方は、自動的に最良になる。またメインビー
ム17およびパイロツトビーム18の位置関係
は、記録中は、終始モニターする必要があるの
で、焦点合わせ時以外はλ/4板14は、その光
路中から外しておくことが必要である。
以上のように本発明によれば、従来の光学的情
報記録装置が、高いN.Aのレンズを用いてレーザ
ー記録を行う場合、直線偏光を記録レンズに入射
させると、レンズ面の曲率によりS偏波とP偏波
の透過率が異なり、記録原盤(デイスク)からの
反射光を光学的にモニターして最良焦点位置に設
定する場合、精度的に不十分なものであつたのに
対し、記録レーザー光源からの記録レーザー光束
を直線偏光・円偏光手段により円偏光として記録
レンズに入射させるようにしたので、暗十字(ア
イソジヤイア)のない状態でモニター手段による
モニター結果に基づいて記録レンズからの出射光
を記録原盤上に正しく集束させるように焦点合わ
せ手段により記録レンズを制御することによつて
精度よく焦点合わせを行うことができるものであ
る。
報記録装置が、高いN.Aのレンズを用いてレーザ
ー記録を行う場合、直線偏光を記録レンズに入射
させると、レンズ面の曲率によりS偏波とP偏波
の透過率が異なり、記録原盤(デイスク)からの
反射光を光学的にモニターして最良焦点位置に設
定する場合、精度的に不十分なものであつたのに
対し、記録レーザー光源からの記録レーザー光束
を直線偏光・円偏光手段により円偏光として記録
レンズに入射させるようにしたので、暗十字(ア
イソジヤイア)のない状態でモニター手段による
モニター結果に基づいて記録レンズからの出射光
を記録原盤上に正しく集束させるように焦点合わ
せ手段により記録レンズを制御することによつて
精度よく焦点合わせを行うことができるものであ
る。
第1図および第2図は従来例を示し、第1図は
平行平板により焦点合わせを行う記録光学系をあ
らわす図、第2図はスポツトを実際に観測する光
学系を備えた記録光学系をあらわす図、第3図は
記録レンズ後側焦点面でのビームの偏光状態をあ
らわす図、第4図は記録原盤から反射されて記録
レンズを2回通つた後の記録レンズ後側焦点面で
の偏光面の回転状態をあらわす図、第5図および
第6図は本発明の一実施例を示し、第5図は第2
図の構成にλ/4板を挿入した記録光学系をあら
わす図、第6図はλ/4板を挿入した状態の
VHD方式記録光学系をあらわす図である。 1……入射光束、2……平行平板、4……記録
レンズ、5……記録原盤、7……ウエツジ板、8
……収束レンズ、9……顕微鏡、14……λ/4
板、15……アルゴンレーザー、19,21,2
9……光変調器。
平行平板により焦点合わせを行う記録光学系をあ
らわす図、第2図はスポツトを実際に観測する光
学系を備えた記録光学系をあらわす図、第3図は
記録レンズ後側焦点面でのビームの偏光状態をあ
らわす図、第4図は記録原盤から反射されて記録
レンズを2回通つた後の記録レンズ後側焦点面で
の偏光面の回転状態をあらわす図、第5図および
第6図は本発明の一実施例を示し、第5図は第2
図の構成にλ/4板を挿入した記録光学系をあら
わす図、第6図はλ/4板を挿入した状態の
VHD方式記録光学系をあらわす図である。 1……入射光束、2……平行平板、4……記録
レンズ、5……記録原盤、7……ウエツジ板、8
……収束レンズ、9……顕微鏡、14……λ/4
板、15……アルゴンレーザー、19,21,2
9……光変調器。
Claims (1)
- 1 記録レーザー光源と、情報信号に応じて記録
レーザー光束を変調する変調手段と、記録レーザ
ー光束を記録原盤上に集束させる記録レンズと、
前記記録原盤から反射し前記記録レンズを通つた
反射レーザー光を前記記録レーザー光束と分離す
る分離手段と、前記分離手段により分離された反
射レーザー光を収束させる収束手段と、前記収束
手段により収束された反射レーザー光スポツトの
収束状態をモニターすることによつて前記記録レ
ーザー光束の前記記録原盤上での集束状態をモニ
ターするモニター手段と少なくとも前記モニター
手段による集束状態モニター時に、前記記録レン
ズに前記記録レーザー光源からの記録レーザー光
束を円偏光として入射させる直線偏光・円偏光変
換手段と、前記モニター手段によるモニター結果
に基づいて前記記録レンズからの出射光を前記記
録原盤上に正しく集束させるように前記記録レン
ズを制御する焦点合わせ手段とを備えた光学的情
報記録装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57039944A JPS58158049A (ja) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | 光学的情報記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57039944A JPS58158049A (ja) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | 光学的情報記録装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58158049A JPS58158049A (ja) | 1983-09-20 |
JPS644257B2 true JPS644257B2 (ja) | 1989-01-25 |
Family
ID=12567060
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57039944A Granted JPS58158049A (ja) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | 光学的情報記録装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58158049A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61157919U (ja) * | 1985-03-20 | 1986-09-30 |
-
1982
- 1982-03-12 JP JP57039944A patent/JPS58158049A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58158049A (ja) | 1983-09-20 |
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