JPS643950B2 - - Google Patents
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- JPS643950B2 JPS643950B2 JP57172826A JP17282682A JPS643950B2 JP S643950 B2 JPS643950 B2 JP S643950B2 JP 57172826 A JP57172826 A JP 57172826A JP 17282682 A JP17282682 A JP 17282682A JP S643950 B2 JPS643950 B2 JP S643950B2
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- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 21
- 230000035699 permeability Effects 0.000 claims description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 15
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 7
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 7
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000012811 non-conductive material Substances 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
- C23C16/517—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using a combination of discharges covered by two or more of groups C23C16/503 - C23C16/515
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は例えばアルミニウム円筒上の表面にア
モルフアス(非晶質)シリコン膜(以下「a−Si
膜」という)などを生成させて、レーザラインプ
リンタ用感光材料等を製造する場合に用いられる
プラズマCVD装置に関するものである。
モルフアス(非晶質)シリコン膜(以下「a−Si
膜」という)などを生成させて、レーザラインプ
リンタ用感光材料等を製造する場合に用いられる
プラズマCVD装置に関するものである。
従来この種のプラズマCVD装置として減圧空
間内に1種類または数種類の原料ガスを連続的に
導入し、この原料ガスを前記減圧空間内に形成し
たプラズマ放電場を通過させてプラズマ分解し、
その分解したガスを加熱した基板の成膜面に導い
て該成膜面に非昌質膜を生成させるようにしたも
のがある。
間内に1種類または数種類の原料ガスを連続的に
導入し、この原料ガスを前記減圧空間内に形成し
たプラズマ放電場を通過させてプラズマ分解し、
その分解したガスを加熱した基板の成膜面に導い
て該成膜面に非昌質膜を生成させるようにしたも
のがある。
しかしながら、従来の装置では原料ガスを単一
のプラズマ放電場を通過させた後、直ちに基板の
成膜面へ導くようにしているので、比較的大形の
基板に良質の非昌質膜を短時間に生成させること
は困難であつた。
のプラズマ放電場を通過させた後、直ちに基板の
成膜面へ導くようにしているので、比較的大形の
基板に良質の非昌質膜を短時間に生成させること
は困難であつた。
第1図は従来の装置の縦断面図である。すなわ
ち内部に減圧空間aを形成する減圧容器bの非金
属材料からなる側面の外側に、たとえばコイル状
の電極Cを配設させて、前記減圧容器bの内側に
プラズマ放電場dを形成してあり、前記減圧容器
b内に成膜面を前記プラズマ放電場に対向させた
円筒状基板eと、この基板eの背面(内側面)に
添設させた熱板fが配設されている。そして前記
減圧容器bの上端部から減圧容器b内に入口ノズ
ルgを通して導入した原料ガスhを前記プラズマ
放電場dを通して基板eの成膜面へ導入するよう
になつている。しかしこのような構成の装置では
ノズルgの形状や寸法についてまたその配置等に
関して十分研究をした後でないと、一般的には減
圧空間内に導入された原料ガスが基板e上に逐次
成膜するので、入口からの距離の遠近によつて成
膜膜厚に差を生じる結果均一な厚さでもつて成膜
することが難しいという欠点がある。この欠点を
除去するため大量の原料ガスを導入する方法も試
みられているが、大量にガスを導入すれば、その
原料ガスは未反応のまゝ排出されることとなり、
一般には高価とされる原料ガスを低効率で消費す
るという別異の欠点も生じる。さらに第1図の従
来装置では減圧容器bの側面は電極cが当該側面
の外側に配設してあるため石英ガラス等の非金
属、少透過性の耐気密、高純度材料でなければな
らず、そのため生産用装置としては強度確保、生
産コストの点でも問題がある。
ち内部に減圧空間aを形成する減圧容器bの非金
属材料からなる側面の外側に、たとえばコイル状
の電極Cを配設させて、前記減圧容器bの内側に
プラズマ放電場dを形成してあり、前記減圧容器
b内に成膜面を前記プラズマ放電場に対向させた
円筒状基板eと、この基板eの背面(内側面)に
添設させた熱板fが配設されている。そして前記
減圧容器bの上端部から減圧容器b内に入口ノズ
ルgを通して導入した原料ガスhを前記プラズマ
放電場dを通して基板eの成膜面へ導入するよう
になつている。しかしこのような構成の装置では
ノズルgの形状や寸法についてまたその配置等に
関して十分研究をした後でないと、一般的には減
圧空間内に導入された原料ガスが基板e上に逐次
成膜するので、入口からの距離の遠近によつて成
膜膜厚に差を生じる結果均一な厚さでもつて成膜
することが難しいという欠点がある。この欠点を
除去するため大量の原料ガスを導入する方法も試
みられているが、大量にガスを導入すれば、その
原料ガスは未反応のまゝ排出されることとなり、
一般には高価とされる原料ガスを低効率で消費す
るという別異の欠点も生じる。さらに第1図の従
来装置では減圧容器bの側面は電極cが当該側面
の外側に配設してあるため石英ガラス等の非金
属、少透過性の耐気密、高純度材料でなければな
らず、そのため生産用装置としては強度確保、生
産コストの点でも問題がある。
第2図は特に上記後者の欠点を除去した従来装
置の要部縦断面図である。
置の要部縦断面図である。
すなわち第1図との差異は電極c′が減圧容器
b′内に配設されていることで、そのため減圧容器
b′の構成材料は非金属である必要はなく堅固な構
造とすることが可能である。しかしてこの場合に
は電極c′と基板e′の間の電位には種々の組合せが
考えられ、実施されている。第3図は基板e′に対
する電極c′の配置、形状、電圧印加状態をしめす
略示図である。すなわち第3図a,b、およびc
に示す如き組合せで、aを除いてb,cは共に電
極c′と基板e′の間に高周波電場を形成し、この間
で一様な放電空間、ひいては均一な膜厚を得よう
とするものであつて、これに伴いガスの吹出し口
g′もたとえば分割または一体化された電極c′の各
所に設けた小孔に分散することにより均一な膜厚
を得ようとするものであるが、このような構成で
あつても各部に均一な放電状態を期待するには
c′,e′間の距離をあまり大きくすることはでき
ず、そのため放電場d′の厚さの増大化には限界が
ある。したがつて原料ガスの前記プラズマ放電電
場d′に対する通過距離を十分に確保することはむ
づかしく、プラズマ分解の不十分なガスが基板に
供給されがちになる。この結果、先に述べたよう
に高価な原料ガスが未反応のまゝ排出されたり、
膜の生成に長時間を要するという欠点がある。
b′内に配設されていることで、そのため減圧容器
b′の構成材料は非金属である必要はなく堅固な構
造とすることが可能である。しかしてこの場合に
は電極c′と基板e′の間の電位には種々の組合せが
考えられ、実施されている。第3図は基板e′に対
する電極c′の配置、形状、電圧印加状態をしめす
略示図である。すなわち第3図a,b、およびc
に示す如き組合せで、aを除いてb,cは共に電
極c′と基板e′の間に高周波電場を形成し、この間
で一様な放電空間、ひいては均一な膜厚を得よう
とするものであつて、これに伴いガスの吹出し口
g′もたとえば分割または一体化された電極c′の各
所に設けた小孔に分散することにより均一な膜厚
を得ようとするものであるが、このような構成で
あつても各部に均一な放電状態を期待するには
c′,e′間の距離をあまり大きくすることはでき
ず、そのため放電場d′の厚さの増大化には限界が
ある。したがつて原料ガスの前記プラズマ放電電
場d′に対する通過距離を十分に確保することはむ
づかしく、プラズマ分解の不十分なガスが基板に
供給されがちになる。この結果、先に述べたよう
に高価な原料ガスが未反応のまゝ排出されたり、
膜の生成に長時間を要するという欠点がある。
前述の如く従来装置ではいずれの形式の場合に
も欠点があり、比較的大形の基板に良質の非昌質
薄膜を短時間に生成させたいとする要求を同時に
満足することができない。
も欠点があり、比較的大形の基板に良質の非昌質
薄膜を短時間に生成させたいとする要求を同時に
満足することができない。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、減
圧空間内にグロー放電による複数のプラズマ放電
場を形成するよう電極を設け、原料ガスをこれら
のプラズマ放電場に供給することによつて比較的
大面積の基板にも良質の非昌質薄膜を短時間に、
しかも原料ガスの高利用率により経済的に生成さ
せることができるようにしたプラズマCVD装置
を提供することを目的とする。
圧空間内にグロー放電による複数のプラズマ放電
場を形成するよう電極を設け、原料ガスをこれら
のプラズマ放電場に供給することによつて比較的
大面積の基板にも良質の非昌質薄膜を短時間に、
しかも原料ガスの高利用率により経済的に生成さ
せることができるようにしたプラズマCVD装置
を提供することを目的とする。
以下本発明の実施例を図面に従つて説明する。
第4図は本発明に係るプラズマCVD装置の縦
断面図であり第5図は同じく横断面図である。
断面図であり第5図は同じく横断面図である。
この装置は内部に減圧空間1を形成する減圧容
器2を設け、この減圧容器2内の中間位置に網状
または櫛状の通気性を有する円筒状共通電極3を
その軸を垂直にして配設する。そして前記減圧容
器2内に前記共通電極3の外側に第1の円筒状電
極4を前記共通電極3と同軸に配設すると共に前
記共通電極の内側に前記共通電極3と同軸に第2
の円筒状電極5を配設する。そして前記共通電極
3を高周波電源6に接続すると共に前記第1の電
極4と第2の電極5をそれぞれ所定の直流電源
7,8に接続し、第1の電極4と共通電極3との
間に第1のプラズマ放電場9を形成すると共に第
2の電極5と共通電極3との間に第2のプラズマ
放電場10を形成する。この場合に於て、第2の
電極5が基板でもあるときには基板が電極を兼ね
ることになるが、基板が非導電性物質の場合には
電極5の上に当該基板を覆いかぶせるようにす
る。11は基板の加熱を目的とした加熱装置であ
つて前記第2の電極5の内側に配置されている。
器2を設け、この減圧容器2内の中間位置に網状
または櫛状の通気性を有する円筒状共通電極3を
その軸を垂直にして配設する。そして前記減圧容
器2内に前記共通電極3の外側に第1の円筒状電
極4を前記共通電極3と同軸に配設すると共に前
記共通電極の内側に前記共通電極3と同軸に第2
の円筒状電極5を配設する。そして前記共通電極
3を高周波電源6に接続すると共に前記第1の電
極4と第2の電極5をそれぞれ所定の直流電源
7,8に接続し、第1の電極4と共通電極3との
間に第1のプラズマ放電場9を形成すると共に第
2の電極5と共通電極3との間に第2のプラズマ
放電場10を形成する。この場合に於て、第2の
電極5が基板でもあるときには基板が電極を兼ね
ることになるが、基板が非導電性物質の場合には
電極5の上に当該基板を覆いかぶせるようにす
る。11は基板の加熱を目的とした加熱装置であ
つて前記第2の電極5の内側に配置されている。
なお、第1の円筒状電極4は減圧容器2内に原
料ガスを供給するために、外壁41と内壁42と
からなる袋状に形成されており、内壁42には前
記共通電極3側に原料ガスを供給する小孔4aが
多数設けられてあつて、原料ガス16が導管12
を経て導管12に連結された電極4の外側のジヤ
ケツト13に到達し、次いで電極4の内側面に穿
設された前記多数の小孔4aを通してプラズマ放
電場9及び10に逸散し得るようになつている。
なお前記減圧容器2の上端部には原料ガス16の
導入用の導管12が接続されており、下端または
他の適宜な位置に真空ポンプ15を含む排気経路
14が接続されている。
料ガスを供給するために、外壁41と内壁42と
からなる袋状に形成されており、内壁42には前
記共通電極3側に原料ガスを供給する小孔4aが
多数設けられてあつて、原料ガス16が導管12
を経て導管12に連結された電極4の外側のジヤ
ケツト13に到達し、次いで電極4の内側面に穿
設された前記多数の小孔4aを通してプラズマ放
電場9及び10に逸散し得るようになつている。
なお前記減圧容器2の上端部には原料ガス16の
導入用の導管12が接続されており、下端または
他の適宜な位置に真空ポンプ15を含む排気経路
14が接続されている。
各部分の好ましい寸法は次の通りである。即
ち、減圧容器の外径Aは約300mm、第2の円筒状
電極の外径Bは80〜100mm、袋状にした部分の高
さCは400mm、減圧容器の高さEは約500mm、第1
の放電場と第2の放電場の加えた厚さDは40〜50
mmであり、第1の放電場と第2の放電場の間に共
通電極3が存在している。また前記小孔の直径Φ
は3〜5mm程度が適切である。
ち、減圧容器の外径Aは約300mm、第2の円筒状
電極の外径Bは80〜100mm、袋状にした部分の高
さCは400mm、減圧容器の高さEは約500mm、第1
の放電場と第2の放電場の加えた厚さDは40〜50
mmであり、第1の放電場と第2の放電場の間に共
通電極3が存在している。また前記小孔の直径Φ
は3〜5mm程度が適切である。
次に本発明に係るプラズマCVD装置の作動に
ついて説明する。
ついて説明する。
まづ、真空ポンプ15を作動させて減圧容器2
内を10-3torrあるいはそれ以下の圧力にしたあ
と、減圧容器2への原料ガスの例えばニードルバ
ルブの如き微調整バルブの調節により1torr内外
の圧力および必要なガス流速を維持するととも
に、加熱装置11を作動させて、第2の電極5を
所定温度にまで加熱する。また電極3,4,5に
夫々所定の電圧を印加して第1の電極4と共通電
極3との間、および第2の電極5と共通電極3と
の間にプラズマ放電場9および10を形成させて
おく。
内を10-3torrあるいはそれ以下の圧力にしたあ
と、減圧容器2への原料ガスの例えばニードルバ
ルブの如き微調整バルブの調節により1torr内外
の圧力および必要なガス流速を維持するととも
に、加熱装置11を作動させて、第2の電極5を
所定温度にまで加熱する。また電極3,4,5に
夫々所定の電圧を印加して第1の電極4と共通電
極3との間、および第2の電極5と共通電極3と
の間にプラズマ放電場9および10を形成させて
おく。
上記状態にしたあと、導管12から前記減圧容
器2内へモノシランその他の適当な原料ガス16
を供給すると、この原料ガス16が第1の電極4
の小孔4aを通して第1の放電場9に流入しプラ
ズマ分解が起り、しかる後、原料ガス16は共通
電極3を通過して第2のプラズマ放電場10に導
入され、さらにプラズマ分解が行われる。
器2内へモノシランその他の適当な原料ガス16
を供給すると、この原料ガス16が第1の電極4
の小孔4aを通して第1の放電場9に流入しプラ
ズマ分解が起り、しかる後、原料ガス16は共通
電極3を通過して第2のプラズマ放電場10に導
入され、さらにプラズマ分解が行われる。
こうして分解されたガスは前記加熱された第2
の電極5上に逐次供給され、5の表面上にa−Si
膜などが堆積される。しかして不要となつた原料
ガスは排気経路14を通つて減圧容器外へ排出さ
れる。
の電極5上に逐次供給され、5の表面上にa−Si
膜などが堆積される。しかして不要となつた原料
ガスは排気経路14を通つて減圧容器外へ排出さ
れる。
本発明のプラズマCVD装置は、減圧容器内に
配設した網状または櫛状の通気性を有する円筒状
共通電極と、この円筒状共通電極の外側に対向す
る位置に配設されて前記円筒状共通電極との間に
第1のプラズマ放電場を形成する第1の円筒状電
極と、前記共通電極の内側に対向する位置に配設
されて前記共通電極との間に第2のプラズマ放電
場を形成する第2の円筒状電極とを具備してお
り、且つ前記共通電極と第1の円筒状電極と第2
の円筒状電極は同軸に位置決めされているととも
に、前記第1の円筒状電極は減圧容器内に原料ガ
スを供給するために外壁と内壁とからなる袋状に
形成されており、内壁には前記共通電極側に原料
ガスを供給する小孔が多数設けられており、かつ
前記第2の円筒状電極が成膜のための基板とされ
ているので、基板の大小にかかわらず、殆どの原
料ガスは前記小孔を介して充分均一に放電場に分
散されることになり、均一なプラズマ放電場から
のエネルギーを受けてプラズマ分解されることに
なる。その結果極めて均一な成膜を得ることが可
能となつた。従つて原料ガスの節約に繋がるとと
もに良好な成膜を短い時間で得ることが可能であ
る。
配設した網状または櫛状の通気性を有する円筒状
共通電極と、この円筒状共通電極の外側に対向す
る位置に配設されて前記円筒状共通電極との間に
第1のプラズマ放電場を形成する第1の円筒状電
極と、前記共通電極の内側に対向する位置に配設
されて前記共通電極との間に第2のプラズマ放電
場を形成する第2の円筒状電極とを具備してお
り、且つ前記共通電極と第1の円筒状電極と第2
の円筒状電極は同軸に位置決めされているととも
に、前記第1の円筒状電極は減圧容器内に原料ガ
スを供給するために外壁と内壁とからなる袋状に
形成されており、内壁には前記共通電極側に原料
ガスを供給する小孔が多数設けられており、かつ
前記第2の円筒状電極が成膜のための基板とされ
ているので、基板の大小にかかわらず、殆どの原
料ガスは前記小孔を介して充分均一に放電場に分
散されることになり、均一なプラズマ放電場から
のエネルギーを受けてプラズマ分解されることに
なる。その結果極めて均一な成膜を得ることが可
能となつた。従つて原料ガスの節約に繋がるとと
もに良好な成膜を短い時間で得ることが可能であ
る。
また本装置の場合、電極間距離(すなわち共通
電極3と第1の電極4との間、共通電極3と第2
の電極5との間のいづれか、または両方)を電源
導入部の設置位置部への絶縁距離(片方接地電源
の場合)またはその2倍(両出力浮上電源の場
合)にそれぞれ近い寸法より小さく設定すれば、
電源導入部における無効(または有害)放電を防
止することができる。
電極3と第1の電極4との間、共通電極3と第2
の電極5との間のいづれか、または両方)を電源
導入部の設置位置部への絶縁距離(片方接地電源
の場合)またはその2倍(両出力浮上電源の場
合)にそれぞれ近い寸法より小さく設定すれば、
電源導入部における無効(または有害)放電を防
止することができる。
なお前記実施例では各プラズマ放電場は連続構
成品である円筒状の電極より形成されたものとし
て説明したが、これに限定されず、他の実施例と
して例えば複数の分割された単位電極の集合体に
より形成されたものであつてもよい。
成品である円筒状の電極より形成されたものとし
て説明したが、これに限定されず、他の実施例と
して例えば複数の分割された単位電極の集合体に
より形成されたものであつてもよい。
また共通電極と第2の電極との間にさらに他の
電極を設置して、プラズマ放電場内のイオン等に
対する制御を行わしめるようなことも可能であ
る。成膜面を内方側に設定するようにしてもよ
い。
電極を設置して、プラズマ放電場内のイオン等に
対する制御を行わしめるようなことも可能であ
る。成膜面を内方側に設定するようにしてもよ
い。
第1図、第2図は従来装置の縦断面図、第3図
は第2図における基板に対する電極cの配置、形
状、電圧印加状態の略示図である。第4図は本発
明に係るプラズマCVD装置の縦断面図、第5図
は同じく横断面図である。 2……減圧容器、3……共通電極、4……第1
の円筒状電極、5……第2の円筒状電極、12…
…導管、13……ジヤケツト。
は第2図における基板に対する電極cの配置、形
状、電圧印加状態の略示図である。第4図は本発
明に係るプラズマCVD装置の縦断面図、第5図
は同じく横断面図である。 2……減圧容器、3……共通電極、4……第1
の円筒状電極、5……第2の円筒状電極、12…
…導管、13……ジヤケツト。
Claims (1)
- 1 減圧容器内に配設した網状または櫛状の通気
性を有する円筒状共通電極と、この円筒状共通電
極の外側に対向する位置に配設されて前記円筒状
共通電極との間に第1のプラズマ放電場を形成す
る第1の円筒状電極と、前記共通電極の内側に対
向する位置に配設されて前記共通電極との間に第
2のプラズマ放電場を形成する第2の円筒状電極
とを具備しており、且つ前記共通電極と第1の円
筒状電極と第2の円筒状電極は同軸に位置決めさ
れているとともに、前記第1の円筒状電極は減圧
容器内に原料ガスを供給するために外壁と内壁と
からなる袋状に形成されており、内壁には前記共
通電極側に原料ガスを供給する小孔が多数設けら
れており、かつ前記第2の円筒状電極が成膜のた
めの基板とされていることを特徴とするプラズマ
CVD装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57172826A JPS5964769A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | プラズマcvd装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57172826A JPS5964769A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | プラズマcvd装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5964769A JPS5964769A (ja) | 1984-04-12 |
| JPS643950B2 true JPS643950B2 (ja) | 1989-01-24 |
Family
ID=15949075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57172826A Granted JPS5964769A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | プラズマcvd装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5964769A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5745339A (en) * | 1980-09-01 | 1982-03-15 | Canon Inc | Production of deposited film |
| JPS58193361A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-11 | Shimadzu Corp | プラズマcvd装置 |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP57172826A patent/JPS5964769A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5964769A (ja) | 1984-04-12 |
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