JPS6411902B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6411902B2
JPS6411902B2 JP61225184A JP22518486A JPS6411902B2 JP S6411902 B2 JPS6411902 B2 JP S6411902B2 JP 61225184 A JP61225184 A JP 61225184A JP 22518486 A JP22518486 A JP 22518486A JP S6411902 B2 JPS6411902 B2 JP S6411902B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultrasonic
transducer
focusing lens
spherical
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP61225184A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS62142267A (en
Inventor
Fumio Uchino
Isao Momii
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP61225184A priority Critical patent/JPS62142267A/en
Publication of JPS62142267A publication Critical patent/JPS62142267A/en
Publication of JPS6411902B2 publication Critical patent/JPS6411902B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は超音波顕微鏡に用いる超音波集束レ
ンズの構造に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] This invention relates to the structure of an ultrasonic focusing lens used in an ultrasonic microscope.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

超音波顕微鏡は、原理的には細く絞つた超高周
波超音波ビームによつて試料面を機械的に走査
し、その試料により散乱された超音波を集音して
電気信号に変換し、その信号を陰極線管の表示面
に二次元的に表示し、顕微鏡像を得るのであり、
構成として透過型と反射型とに分けられる。
In principle, an ultrasound microscope mechanically scans the surface of a sample with a narrowly focused ultrahigh-frequency ultrasound beam, collects the ultrasound waves scattered by the sample, converts them into electrical signals, and converts them into electrical signals. is displayed two-dimensionally on the display surface of a cathode ray tube to obtain a microscopic image.
The structure can be divided into transmission type and reflection type.

第1図は従来の超音波集束レンズを使用した反
射型の超音波顕微鏡の原理図で、高周波発振器1
からの信号は方向性結合器2により上部及び下部
電極3a,3b及び圧電体3cから成る送受兼用
トランスデユーサ3へ供給される。この信号は超
音波に変換されてこれが貼着された送受波兼用の
サフアイア等の超音波伝搬媒体材から成る超音波
集束レンズ4の平面状の一面より内部に放射され
る。該超音波集束レンズ4の他面は球面状にえぐ
られて球面レンズ部4aとされ、球面レンズ部4
aと対向して試料保持板5が配される。
Figure 1 shows the principle of a reflection-type ultrasound microscope using a conventional ultrasound focusing lens.
The signal is supplied by a directional coupler 2 to a transmitting/receiving transducer 3 comprising upper and lower electrodes 3a, 3b and a piezoelectric body 3c. This signal is converted into an ultrasonic wave, and the ultrasonic wave is radiated into the interior from one plane surface of the ultrasonic focusing lens 4 made of an ultrasonic propagation medium material such as sapphire for both transmitting and receiving waves. The other surface of the ultrasonic focusing lens 4 is hollowed out into a spherical shape to form a spherical lens portion 4a.
A sample holding plate 5 is arranged opposite to a.

超音波集束レンズ4と前記保持板5との間には
水等の音場媒体6が介在され、前記球面レンズ部
4aの焦点において試料7が保持板5に取付けら
れる。保持板5は走査装置8でX及びY方向に移
動される。勿論、保持板5の代わりに超音波レン
ズ4をX及びY方向に移動することも可能であ
る。走査装置8は走査回路9により制御される。
そこで、前記トランスデユーサ3より超音波集束
レンズ4内に入射された平面状の超音波は前記球
面レンズ部4aに伝播し、該球面レンズ部4aに
より集束されて試料7へ到達する。その反射波は
再び超音波集束レンズ4で集音され、トランスデ
ユーサ3で電気信号に変換されて、前記方向性結
合器2を通つて表示装置10へ供給される。
A sound field medium 6 such as water is interposed between the ultrasonic focusing lens 4 and the holding plate 5, and the sample 7 is attached to the holding plate 5 at the focal point of the spherical lens portion 4a. The holding plate 5 is moved in the X and Y directions by the scanning device 8. Of course, it is also possible to move the ultrasonic lens 4 in the X and Y directions instead of the holding plate 5. The scanning device 8 is controlled by a scanning circuit 9.
Therefore, the planar ultrasonic waves incident from the transducer 3 into the ultrasonic focusing lens 4 propagate to the spherical lens section 4a, are focused by the spherical lens section 4a, and reach the sample 7. The reflected waves are again collected by the ultrasonic focusing lens 4, converted into electrical signals by the transducer 3, and supplied to the display device 10 through the directional coupler 2.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

ところで、超音波顕微鏡は音波の散乱が弾性的
性質の違いにより起ることを利用しており、一
方、光学顕微鏡においては光の散乱が光学的屈折
率の違いにより起ることを利用している。従つて
超音波顕微鏡は光学顕微鏡とは異なつた情報を得
ることができる。この点より超音波顕微鏡により
観察した試料内の微小部分の超音波像を、光学顕
微鏡による光学像と比較することが医学、生物
学、工学などの分野ではどうしても必要となる。
By the way, ultrasound microscopes utilize the fact that scattering of sound waves occurs due to differences in elastic properties, while optical microscopes utilize the fact that scattering of light occurs due to differences in optical refractive index. . Therefore, an ultrasound microscope can obtain different information than an optical microscope. From this point of view, it is absolutely necessary in fields such as medicine, biology, and engineering to compare an ultrasonic image of a minute portion within a sample observed using an ultrasonic microscope with an optical image obtained using an optical microscope.

このため従来においては超音波顕微鏡で観察し
た試料をその装置からとりはずして、それをあら
ためて光学顕微鏡の試料台にのせて観察してい
た。このとき広い試料面から超音波で観察した微
小な同一部分を探すのはかなりの苦労を要してい
た。一方、逆に試料中の観察したい部分が光学顕
微鏡の観察によりあらかじめ決定される場合に
は、その同一部分を超音波顕微鏡により探すため
に、該当する部分の近傍で超音波ビームの照射位
置を二次元的にわずかずつずらしながら、何回か
超音波顕微鏡像を撮つて始めて所望の部分の超音
波顕微鏡像が得られるのが普通であつた。
For this reason, in the past, a sample observed with an ultrasonic microscope was removed from the apparatus and placed on the sample stage of an optical microscope for observation. At this time, it was quite difficult to find the same tiny part observed using ultrasound from a wide sample surface. On the other hand, if the part of the sample to be observed is determined in advance by observation using an optical microscope, in order to search for the same part using an ultrasound microscope, the irradiation position of the ultrasound beam is set twice in the vicinity of the relevant part. Normally, an ultrasound microscope image of a desired area could only be obtained by taking ultrasound microscope images several times with slight dimensional shifts.

また何れの場合にも試料の着脱時に、試料を毀
損する危険性もあつた。
Furthermore, in either case, there was a risk of damaging the sample when attaching and detaching the sample.

本発明は、このような欠点を改善するもので、
試料をいちいち超音波顕微鏡の走査装置からはず
したり、或いは逆にその走査装置に装着したりす
ることなく、光学像と超音波像との比較を容易に
得ることができる超音波顕微鏡装置を提供するこ
とを目的とする。
The present invention aims to improve these drawbacks,
To provide an ultrasonic microscope device capable of easily obtaining a comparison between an optical image and an ultrasonic image without removing a sample from a scanning device of the ultrasonic microscope or attaching the sample to the scanning device. The purpose is to

〔問題点を解決するための手段及び作用〕[Means and actions for solving problems]

この発明は上記のような目的を達成するために
次のような手段を講じた。
This invention has taken the following measures to achieve the above objects.

すなわち、超音波集束レンズと超音波集束レン
ズのトランスデユーサ及びこのトランスデユーサ
の電極を透明材料で構成すると共に、このトラン
スデユーサ及び電極に対向して光学顕微鏡の光学
レンズ部を配設するようにしたものである。その
ため、試料の超音波像と共に、試料の光学像を超
音波集束レンズ、トランスデユーサ、電極を通し
て得ることができ、両者の像を容易に比較するこ
とができる。
That is, the ultrasonic focusing lens, the transducer of the ultrasonic focusing lens, and the electrode of this transducer are made of a transparent material, and the optical lens part of the optical microscope is disposed opposite to this transducer and the electrode. This is how it was done. Therefore, together with the ultrasonic image of the sample, an optical image of the sample can be obtained through the ultrasonic focusing lens, the transducer, and the electrode, and the two images can be easily compared.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明による超音波顕微鏡装置の一実
施例を図面により説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of an ultrasonic microscope apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

第2図a,bにおいて、4はサフアイア等の超
音波伝搬媒体材から成る超音波集束レンズで、該
集束レンズ4の一面は外方に突出した球面部4
d、他面は球面状にえぐられた球面レンズ部4a
となつている。なお、球面部4dの曲率半径r1
球面レンズ部4aの曲率半径r2との曲率中心0は
予め一致させておく。3は前記集束レンズ4の球
面部4d上に形成されたトランスデユーサで、該
トランスデユーサ3はSnO,in2O3等の透明導電
材またはAu,Al等の不透明導電材からなる下部
電極3b,ZnO,PVF2等の圧電体3c及び下部
電極3bと同一材料の上部電極3aから構成さ
れ、これらの電極3a,3b及び圧電体3cは前
記球面部4d上に順次スパツタリング、蒸着等の
方法により形成される。
In FIGS. 2a and 2b, reference numeral 4 denotes an ultrasonic focusing lens made of an ultrasonic propagation medium material such as sapphire, and one surface of the focusing lens 4 has a spherical portion 4 projecting outward.
d. The other surface is a spherical lens portion 4a hollowed out into a spherical shape.
It is becoming. Note that the centers of curvature 0 of the radius of curvature r 1 of the spherical portion 4d and the radius of curvature r 2 of the spherical lens portion 4a are made to coincide in advance. Reference numeral 3 denotes a transducer formed on the spherical portion 4d of the focusing lens 4, and the transducer 3 has a lower electrode made of a transparent conductive material such as SnO, in 2 O 3 or an opaque conductive material such as Au or Al. 3b, a piezoelectric material 3c made of ZnO, PVF 2, etc., and an upper electrode 3a made of the same material as the lower electrode 3b. formed by.

次にこの超音波集束レンズ4の作用について説
明する。高周波発振器からの信号がトランスデユ
ーサ3により超音波に変換され、この超音波は超
音波集束レンズ4の球面部4dより球面レンズ部
4aに向けて球面状に伝播される。そして、この
超音波は球面レンズ部で集束され試料に向けて放
射される。
Next, the function of this ultrasonic focusing lens 4 will be explained. A signal from a high frequency oscillator is converted into an ultrasonic wave by the transducer 3, and this ultrasonic wave is propagated spherically from the spherical part 4d of the ultrasonic focusing lens 4 toward the spherical lens part 4a. This ultrasonic wave is then focused by the spherical lens section and radiated toward the sample.

上記実施例における超音波集束レンズ4の場合
には、球面部4dと球面レンズ部4aとのそれぞ
れの曲率中心0が一致しているために、トランス
デユーサ3から放出される超音波は総べて球面レ
ンズ部4aに到達する。そのため、トランスデユ
ーサ3の上・下部電極3a,3bの面積は前記球
面レンズ部4aの開口径に係わらず、任意の大き
さに設定でき、電極3a,3b面積を大きくする
ことによりパワーの高い超音波ビームを得ること
ができる。
In the case of the ultrasonic focusing lens 4 in the above embodiment, since the curvature centers 0 of the spherical surface portion 4d and the spherical lens portion 4a coincide with each other, the ultrasonic waves emitted from the transducer 3 are transmitted in total. and reaches the spherical lens portion 4a. Therefore, the areas of the upper and lower electrodes 3a and 3b of the transducer 3 can be set to any size regardless of the aperture diameter of the spherical lens portion 4a, and by increasing the area of the electrodes 3a and 3b, high power can be achieved. Ultrasonic beams can be obtained.

さらに、トランスデユーサ3の各部分から曲率
中心0までの距離は総べて等しく、従つて、前記
トランスデユーサ3の各部分から放出された曲率
中心0に到達する超音波の位相はそれぞれ一致す
る。また、超音波は球面レンズ部4aの総べての
面に対して垂直に到達して曲率中心0の集束する
ため、球面レンズ部4aと音場媒体6との境界面
において超音波の屈折がなく、よつて、球面収差
も除かれる。
Further, the distances from each part of the transducer 3 to the center of curvature 0 are all equal, and therefore the phases of the ultrasonic waves emitted from each part of the transducer 3 and reaching the center of curvature 0 are the same. do. Furthermore, since the ultrasonic waves reach all surfaces of the spherical lens section 4a perpendicularly and are focused at the center of curvature 0, the ultrasonic waves are refracted at the interface between the spherical lens section 4a and the sound field medium 6. Therefore, spherical aberration is also eliminated.

そのため、試料により生ずる位相差について正
確な情報が得られ、球面収差が除かれることによ
り高分解能が得られる。
Therefore, accurate information about the phase difference caused by the sample can be obtained, and high resolution can be obtained by removing spherical aberration.

なお、第3図は超音波集束レンズ4の球面部4
d側に光学顕微鏡の光学レンズ部11を配設した
もので、試料7を前記集束レンズ4を介して光学
的に観察することができ、試料7の超音波像と光
学像との対比が簡単に行える。この時、集束レン
ズ4の球面部4dが光学系の凸レンズの役目も果
し、試料7を光学的に拡大することにもなるの
で、光学レンズ部11の作成が容易になる。な
お、その際、トランスデユーサ3の上・下部電極
3a,3bは透明導電材料を用いる必要がある。
Note that FIG. 3 shows the spherical part 4 of the ultrasonic focusing lens 4.
The optical lens section 11 of the optical microscope is disposed on the d side, and the sample 7 can be observed optically through the focusing lens 4, making it easy to compare the ultrasonic image and optical image of the sample 7. can be done. At this time, the spherical part 4d of the focusing lens 4 also serves as a convex lens of the optical system and optically magnifies the sample 7, making it easier to create the optical lens part 11. In this case, it is necessary to use a transparent conductive material for the upper and lower electrodes 3a and 3b of the transducer 3.

なお、上記実施例においては、球面レンズ部4
aの曲率中心と球面部4dの曲率中心を一致させ
た超音波集束レンズ4としたが、必ずしも曲率中
心を一致させる必要はない。すなわち、超音波集
束レンズ4の球面状に突出した球面部4dに超音
波を発生するトランスデユーサ3を設け、このト
ランスデユーサ3の面積を球面レンズ部4aの開
口径以上の大きさとすればよいものである。
In addition, in the above embodiment, the spherical lens portion 4
Although the ultrasonic focusing lens 4 is made such that the center of curvature of a and the center of curvature of the spherical portion 4d are made to coincide, the centers of curvature do not necessarily have to be made to coincide. That is, if the transducer 3 that generates ultrasonic waves is provided on the spherical portion 4d of the ultrasonic focusing lens 4, and the area of the transducer 3 is made larger than the aperture diameter of the spherical lens portion 4a. It's good.

その他、この発明の要旨を逸脱しない範囲で
種々変形可能であるのは勿論である。
It goes without saying that various other modifications can be made without departing from the gist of the invention.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したようにこの発明によれば、超音波
集束レンズと、超音波集束レンズのトランスデユ
ーサ及びこのトランスデユーサの電極を透明材料
で構成すると共に、このトランスデユーサ及び電
極に対向して光学顕微鏡の光学レンズ部を配設す
るようにしたものである。そのため、試料の超音
波像と共に、試料の光学像を超音波集束レンズ、
トランスデユーサ、電極を通して得ることがで
き、両者の像を容易に比較することができる。
As explained above, according to the present invention, the ultrasonic focusing lens, the transducer of the ultrasonic focusing lens, and the electrode of this transducer are made of transparent material, and the transducer and the electrode are made of a transparent material. The optical lens section of an optical microscope is arranged therein. Therefore, together with the ultrasonic image of the sample, the optical image of the sample can be captured using an ultrasonic focusing lens.
It can be obtained through a transducer and an electrode, and the images of both can be easily compared.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の超音波集束レンズを用いた反射
型超音波顕微鏡の原理を示す図、第2図a,bは
本発明の超音波集束レンズに係り、同図aはその
断面図、同図bはその上面図、第3図は光学レン
ズ部と超音波集束レンズとを組合わせた状態を説
明する説明図である。 3……トランスデユーサ、3a……上部電極、
3b……下部電極、3c……圧電体、4……超音
波集束レンズ、4a……球面レンズ部、4d……
球面部、4e……開口径。
Fig. 1 is a diagram showing the principle of a reflection type ultrasound microscope using a conventional ultrasonic focusing lens, Fig. 2 a and b relate to the ultrasonic focusing lens of the present invention, and Fig. 2a is a cross-sectional view thereof; Fig. b is a top view thereof, and Fig. 3 is an explanatory diagram illustrating a state in which the optical lens portion and the ultrasonic focusing lens are combined. 3...transducer, 3a...upper electrode,
3b...lower electrode, 3c...piezoelectric body, 4...ultrasonic focusing lens, 4a...spherical lens section, 4d...
Spherical part, 4e...Aperture diameter.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 超音波集束レンズと、超音波集束レンズのト
ランスデユーサ及びこのトランスデユーサの電極
を透明材料で構成すると共に、このトランスデユ
ーサ及び電極に対向して光学顕微鏡の光学レンズ
部を配設するようにしたことを特徴とする超音波
顕微鏡装置。
1. The ultrasonic focusing lens, the transducer of the ultrasonic focusing lens, and the electrodes of this transducer are made of a transparent material, and the optical lens part of the optical microscope is arranged opposite to this transducer and electrodes. An ultrasonic microscope device characterized by:
JP61225184A 1986-09-24 1986-09-24 Ultrasonic convergent lens Granted JPS62142267A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61225184A JPS62142267A (en) 1986-09-24 1986-09-24 Ultrasonic convergent lens

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61225184A JPS62142267A (en) 1986-09-24 1986-09-24 Ultrasonic convergent lens

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10041180A Division JPS5724998A (en) 1980-07-22 1980-07-22 Ultrasonic wave condensing lens

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62142267A JPS62142267A (en) 1987-06-25
JPS6411902B2 true JPS6411902B2 (en) 1989-02-27

Family

ID=16825278

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61225184A Granted JPS62142267A (en) 1986-09-24 1986-09-24 Ultrasonic convergent lens

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62142267A (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03175353A (en) * 1989-06-22 1991-07-30 Hitachi Constr Mach Co Ltd Ultrasonic probe and preparation thereof

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5359392A (en) * 1976-10-24 1978-05-29 Noritoshi Nakabachi Vhf band ultrasonic focusing recess transducer

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62142267A (en) 1987-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0254503B2 (en)
US4510810A (en) Ultrasonic microscope
EP0198944B1 (en) Scanning acoustic microscope
JPS59160755A (en) Acoustic microscope
JPS6070350A (en) Focal distance confirming method and apparatus therefor
JPS6411902B2 (en)
US4641530A (en) Acoustic microscope for analyzing an object in depth having aspherical lenses
JPS6255099B2 (en)
JPH0437379B2 (en)
SU832449A1 (en) Scanning acoustic microscope
JPS5819556A (en) Soundwave probe for ultrasonic microscope
JPS6145772B2 (en)
JPS6222838Y2 (en)
JPS5950936B2 (en) Ultrasonic microscope sample holding plate
JPS5831200Y2 (en) ultrasonic focusing lens
JPS5928361Y2 (en) Sample holder for ultrasonic microscope
JPS58132656A (en) Ultrasonic microscope
JPS58118958A (en) Ultrasonic microscope
Yamada et al. Planar-structure microscope-lens for simultaneous acoustic and optical imaging
JPS60355A (en) Ultrasonic microscope
JPH0338543B2 (en)
JPS6293656A (en) Ultrasonic microscope
JPS6188144A (en) Ultrasonic microscope
JPS60166858A (en) Ultrasonic microscope
JPH0233984B2 (en)