JPS6411143B2 - - Google Patents

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JPS6411143B2
JPS6411143B2 JP56189172A JP18917281A JPS6411143B2 JP S6411143 B2 JPS6411143 B2 JP S6411143B2 JP 56189172 A JP56189172 A JP 56189172A JP 18917281 A JP18917281 A JP 18917281A JP S6411143 B2 JPS6411143 B2 JP S6411143B2
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JP
Japan
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reflected
pulse
reflector
probe
transmitting
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Expired
Application number
JP56189172A
Other languages
Japanese (ja)
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JPS5892857A (en
Inventor
Shoichi Naito
Itsuo Yamamoto
Akisuke Naruse
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Engineering Co Ltd
Priority to JP56189172A priority Critical patent/JPS5892857A/en
Publication of JPS5892857A publication Critical patent/JPS5892857A/en
Publication of JPS6411143B2 publication Critical patent/JPS6411143B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/26Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
    • G01N29/265Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the sensor relative to a stationary material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

〔産業上の利用分野〕 本発明は、超音波探傷方法、特に超音波パルス
探傷方法に関する。 〔従来の技術〕 パルス法による超音波探傷はその取り扱いが簡
便であること等の種々の長所を有しているので、
鋼材中に存在する欠陥の探知等に広く用いられて
いる。 以下に鋼材中に存在する欠陥を探知する従来の
超音波パルス探傷方法を説明する。 第1図において、被検査体(鋼材)10中には
反射体(欠陥)12が存在している。 探触子14は第2図に示される走査ラインL1
L2,L……j,Lj+1,……上に所定間隔で定めら
れた送受波位置で被検査体10に向けて超音波パ
ルスビームを送波し、被検査体10内に存在する
反射体12からの反射パルスビームを受波するこ
とができる。 本例では被検査体10が板状のものであると
し、第1図、第2図に示すようにその幅方向をy
方向、長さ方向をx方向、そして深さ方向をz方
向と定めるものとする。 第1図に示されるように超音波パルスビームは
探触子14から被検査体10に向けて屈折角θで
送波され、その波形は第3図でTで示されるよう
に方形状となり、またその時のビーム広がりは第
4図に示されるようになる。hは探触子音場の強
さ、δは中心ビームの偏角である。 被検査体10内に存在する反射体12を検出す
るために、探触子14は第2図の走査ラインLに
沿つて移動しながら各走査ラインL上に所定間隔
で定められた各送受波位置で超音波ビームの送受
波を行なう。この時、探触子14に受波された反
射パルスの波形は第3図に示されるように三角形
となり、走査ラインLj上の送受波位置Uiでは反射
パルスはRijとなり、送受波位置Ui+1ではRi+1,j
なり、反射パルスRij,Ri+1,jの波高値はそれぞれ
Pij,Pi+1,jとなる。 本例では第3図の波形はAスコープに表示さ
れ、この表示によつて反射体12に関する情報、
例えばその位置及び大きさを以下のように求める
ことができる。 即ち、Aスコープの表示画面を探触子14の繰
り返し移動を行ないながら観察し、その時の反射
パルスRの波高値Pの変化の様子を観察する。こ
の時、該波高値Pが最大(第3図においてPi+1,j
となると探触子14は第1図に示されるようにそ
の中心ビームが反射体12に照射する送受波位置
に位置するので、この時の位置yi+1、伝播時間
ti+1,jから反射体12が存在する座標が求められ、
また波高値Pi+1,jから被検査体12の大きさが求
められる。 以上のように、従来方法によれば、被検査体1
0内に存在する反射体12の位置及び大きさを知
ることができる。 〔発明が解決しようとする課題〕 しかしながら、従来では、被検査体内に複数の
反射体が存在した場合には、反射パルスの波高値
包絡線200(第3図参照)が複数Aスコープ上
に描かれることになり、反射パルスの波高値最大
値を探知することが困難であつた。 このため従来では、繰り返して探触子を移動さ
せていずれの反射体によるものか見当をつけてお
り、被検査体内に存在する反射体の正確な情報を
得ることが難しいこと及びそのために長時間を要
するという問題があつた。 尚、自動的に反射体情報を読み取る超音波探傷
器では、第4図に示される探触子音場の強さhが
中心ビームの偏角δの関数になることを利用して
幾何学的に反射体位置を求めるようにしている
が、この場合には深い専門的知識が要求されるこ
と及びそのための計算式が極めて複雑となつて長
い演算時間が必要となること等の不都合がある。 以上説明したように、従来の超音波パルス探傷
方法には、被検査体内に複数個の反射体が存在す
るとき、反射体に関する情報を正確にかつ容易に
求めることができないという欠点があつた。 本発明は上記従来の課題に鑑みて為されたもの
であり、その目的は、被検査体内に複数の反射体
が存在する場合であつても反射体に関する情報を
正確にかつ容易に求めることができる超音波パル
ス探傷方法を提供することにある。 〔課題を解決するための手段〕 上記目的を達成するために、本発明は、被検査
体表面に整列設定した複数の走査ライン上に所定
間隔で定められた各送受波位置で探触子に被検査
体へ向けての超音波パルスビームの送波と被検査
体内に存在する反射体からの反射パルスビームの
受波とを行なわせ、探触子の送受波位置情報と各
反射パルスの波高値とに基づいて前記反射体に関
する情報を得る超音波パルス探傷方法において、
隣接する超音波ビームが走査ライン上及び走査ラ
イン間で十分に重なるように各送受波位置間隔及
び各走査ライン間隔を設定して各超音波ビームの
送受波を行ない、走査ライン上で隣接する2送受
波位置での反射パルスビーム路程の差が両送受波
位置間隔に、予め定められ、探触子間距離Δdと
その条件での同一グループとすべき反射パルスの
ビーム路程差Δlの比Δl/Δdであるライン内グル
ープ化定数を乗算した値以下となりかつ走査ライ
ン間で隣接する2送受波位置での反射パルスビー
ム路程の差が走査ライン間隔に、予め定められ、
探触子間距離Δdとその条件での同一グループと
すべき反射パルスのビーム路程差Δlの比Δl/Δd
であるライン間グループ化定数を乗算した値以下
となる条件を満たす反射パルス群を同一の反射体
から得られたものと判定し、該判定により得られ
た反射パルス群の波高値と該反射パルス群につい
ての探触子の位置情報とに基づいて反射体の中心
位置及び大きさを検出することを特徴とする。 〔作用および実施例〕 以下図面に基づいて本発明の作用と好適な実施
例を説明する。 第5図には本発明方法が適用された超音波探傷
器のブロツク構成が示されている。 図において探触子14は第2図にように移動制
御されており、その位置は位置検出器20によつ
て検出されている。そして探触子14は送受波回
路22に接続されており、送受波回路22は探触
子14に超音波パルスビームの送波と反射体12
からの反射パルスビームの受波とを行なわせるこ
とができる。送受波回路22には探触子14で受
信された反射パルスRが供給されており、送受波
回路22は該反射パルスRを検波することがで
き、デジタル化回路24は検波された反射パルス
Rをデジタル化して出力することができる。 上記位置検出器20、デジタル化回路24の出
力データはデータメモリ26に供給されており、
データメモリ26は位置検出器20で検出された
探触子14の位置(x、y)と反射パルスRを記
憶することができる。また、該データメモリ26
には探触子14の屈折角θ、被検査体10の厚さ
H、超音波ビームの伝播速度V、さらに後述する
ライン内グループ化定数C1及びライン間グルー
プ化定数C2が記憶されている。 このデータメモリ26には探触子14の位置
(x、y)と、該位置で受波された反射パルスR
の波高値P及び該波高値Pの反射波の伝播時間t
が順次配列記憶される。 演算処理器28はデータメモリ26の内容を適
宜選択読み出し、第6図、第7図、第8図に示さ
れた一連のフローチヤートに従つた処理を行なう
ことができる。 本発明の好適な実施例の作用を以下に詳細に説
明する。 探触子14は第2図の始点(x0、y0)から終点
(xn、yo)まで各走査ラインL1,L2……Lj,Lj+1
……に沿つて移動制御され、この移動時に各ライ
ンL上の各送受波位置で超音波ビームの送受波を
行なう。 本発明では隣接する超音波ビームが十分に重な
り合うように各ラインLの間隔及び各送受波位置
が設定される。従つて、第2図において、各ライ
ンL上(xの値は一定)の隣接する超音波ビーム
は十分に重なり合い、また各ラインL間で(yの
値は一定)隣接する超音波ビームは十分に重なり
合つている。 以上のように各ラインL上及び各ラインL間で
超音波ビームが十分に重なり合うような走査が行
なわれると、その時の反射パルスR及び送受波位
置がデータメモリ26に記憶される。 本実施例では演算処理器28が、最初に第6図
のフローチヤート処理を行ない、次いで第7図の
フローチヤート処理を行ない、最終に第8図のフ
ローチヤート処理を行なう。すなわち、探傷装置
による被検査体の探傷を終了し、全ての送信波、
反射波、探触子位置がデータメモリに記憶された
のち、演算処理が行なわれて、反射体の位置、大
きさが検出、表示される。 第6図のフローチヤートでは、同一ラインL内
の反射パルスRが被検査体10内に存在する反射
体12別にグループ化される判定動作が実行され
る。 第6図のステツプ100では走査ラインLj内で送
受波位置(探触子位置)yij(Uijのy座標をyij、x
座標をxijと表現する。y方向を問題とするとき
は位置をy座標で表わし、x方向を問題とすると
きは位置をx座標で表わす。)の時の反射パルス
Rが読み出され、次のステツプ101では同一走査
ラインLjで送受波位置(yi+1,j)のときの反射パル
スRが読み出される。このときの探触状態が第9
図に、探触子14が送受波位置Uijの位置にある
ときの反射パルスRの波形が第10図に、そして
探触子14が送受波位置Ui+1,jにあるときの反射
パルスRの波形が第11図に示されている。従つ
て、第10図の場合には、異なる位置にある複数
の反射体からの反射パルス、例えばRij,1、Rij,2
Rij,3の反射パルス列Rが得られ、第11図の場合
には、同様に複数の反射体(Rijの場合と必ずし
も同一ではない)から反射される、例えば、
Ri+1j,1、Ri+1j,2、Ri+1j,3、Ri+1j,4の反射パルス列R
が得られ、これらが読み出される。 ステツプ102では隣接する送受波位置Uij
Ui+1,jについて上記ステツプ100、101で得られた
位置情報から探触子14の移動量Δyが次の第(1)
式により求められる。 Δy=yi+1,j−yij …第(1)式 次のステツプ103では、反射パルス列Rijの第1
パルスRij,1と反射パルス列Ri+1,jの伝播時間差が
次の第(2)式により求められる。 Δtn=ti,1−ti+1,n ……第(2)式 但、m=1〜n、nはパルス列Ri+1,jのパルス
数このΔtnは、ある位置で発信された超音波ビー
ムの複数の反射波それぞれの伝播時間と、その位
置からΔyだけ離れた位置で発信された超音波ビ
ームに対する複数の反射波それぞれの伝播時間と
の差を示しており、のちに述べるように、比較さ
れた二つの反射波が同一の反射体か反射されたも
のであるには、このΔtnがある値以下である必要
がある。 次のステツプ104では上記第(1)式、第(2)式で求
められた送受波位置の移動量Δyと反射パルスR
の伝播時間差Δtとに基づいて同一ラインLj内で
同一反射体12からの反射パルスRであるか否か
が判定される。 上記判定は次の第(3)式により求められる。 0≦Wi≦C1Δy ……第(3)式 C1:ライン内グループ化定数 次に上記第(3)式の意味を説明する。第9図では
同一走査ラインLで送受波位置が移動され、超音
波ビームが屈折角θで傾角入射されるが、送受波
位置Uijの時のビーム広がり範囲(、iと、
Biに囲まれる範囲)と送受波位置Ui+1,jの時のビ
ーム広がり範囲(i+1,ji+1i+1,ji+1に囲
まれる範囲が重なり合う範囲(、i+1と、i
に囲まれる範囲)、即ち送受波位置Uij,Ui+1jで超
音波ビームが重なり合う範囲内において同一の反
射体12からの反射パルスRij,Ri+1,jの第1パル
スRij,1,Ri+1j,1のビーム路程長はlij、li+1jとなる。 このとき、第(1)式により移動量Δyが求められ
ると、ビーム路程長lij、li+1jの差、即ちビーム路
程差Wiは次式の範囲内に納まることが理解され
る。 O≦Wi≦Δy ……第(4)式 したがつて、上記第(4)式の条件が成立するとき
に同一の反射体12からの反射パルスRであると
して取り扱うことができる。 本発明では上記第(4)式の条件のみでは、超音波
ビームの広がりにより同一反射体12とする範囲
が広くなつて位置評定の分解能が悪化してしまう
ことに鑑み、前述の第(3)式のように、移動量Δy
にライン内グループ化定数C1を乗算し、同一反
射体12と判定する範囲を絞り込むこととしてい
る。 上記ライン内グループ化定数C1は探触子14
の特性、屈折角θ、被検査体10の厚さHなどを
考慮して求めるべきものであるが、本実施例では
次の第(5)式によりこの定数C1を求めている。 C1=Δl/Δd ……第(5)式 Δd:超音波ビームの少くとも一部が重なる探触
子間距離 Δl:Δdなる間隔をおいて発信された超音波ビー
ムの反射波が、同一反射体から反射されたもの
で同一グループに属するものだと判定すべき該
反射波相互のビーム路程差で、Δl≦Δdである。 なお、第(5)式において、上記Δd、Δlを任意に
選定することにより、位置評定分解能を変化させ
ることができる。 上記第(5)式を書き改めれば、 Δl=C1Δd、 探傷の際の探触子の移動量は、超音波ビームが
重なり合うように定められるから、Δd=Δyとす
る。また探触子移動量がΔd(=Δy)のとき、同
一反射体からの反射波と見なされる反射波のビー
ム路程差はΔl以下であるから、反射パルス列Rij
の第1パルスRij,1と反射パルス列Ri+1,jの第mパ
ルスRi+1,j,nのビーム路程差をWiとすると、Δl≧
Wiが同一の反射体からの反射波である条件であ
る。すると、 Wi≦Δl=C1Δd=C1Δy O≦Wi/V≦C1Δy/V Wi/Vは第2式よりΔtnであるから、 O≦Δtn≦C1Δy/V ……第(6)式 となり、ステツプ104ではこの条件が成立したと
きに同一反射体12からの反射パルスである旨の
判定が行なわれる。 さらに次のステツプ105では、各ラインLiで各
反射体12毎にグループ化されたライン内グルー
プ化データGijがデータメモリ26に格納される。 ステツプ106では、パルス列RijとRi+1,j間におけ
る全てのパルスRについて各反射体12毎のグル
ープ化が行なわれる。例えば、パルスRij,1とパル
スRij+1,1〜4が実行され、次にパルスRij2とパルス
Rij+1,1〜4が実行されるというように処理が順次進
行して行く。 そしてステツプ107では上記ライン内グループ
化判定が各ラインLjの全反射パルスRについて実
行され、ステツプ108ではライン内グループ化判
定が全ラインLについて実行される。 以上のようにして第6図のライン内グループ化
判定が実行され、各ラインL内で反射パルスRが
各反射体12毎にグループ化されると、第7図の
フローチヤートが実行される。 第7図のフローチヤートでは、各ライン間で反
射パルスRのグループ化判定が実行される。この
判定は前述第6図の判定がy方向に対して行なわ
れたのに対しx方向に対して行なわれるものであ
り、第12図にはこのときの探傷状態断面が、第
13図には探触子14が送受波位置Uijのときの
反射パルスRの波形が、そして第14図には探触
子14が送受波位置Uij+1のときの反射パルスR
の波形が示されている。 第7図のステツプ109ではラインLjのグループ
化データGijが読み出され、次いでステツプ110で
はラインLjと隣接するラインLj+1のグループ化デ
ータGij+1が読み出される。 次のステツプ111ではこれらグループ化データ
Gij,Gij+1の送受波位置xij,xij+1の移動量Δxが第
(7)式から求められる。 Δx=xij+1−xij ……第(7)式 さらにステツプ112では、グループ化データ
Gij,Gij+1の反射パルスRij(第13図参照)と反射
パルスRij+1(第14図参照)の伝播時間差Δtが次
の第(7)式から求められる。 Δt=tij−tij+1 ……第(8)式 ここで、反射パルスRij,Rij+1のライン内送受
波位置yij,yij+1はx方向に対して同一位置であ
る。また、本実施例では上記グループ化データ
Gij,Gij+1で同一の送受波位置が存在しない場合
には、別の反射体12であるとの判定が行なわれ
る。 次のステツプ113では上記第(7)式、第(8)式で求
められた反射パルスRの伝播時間差Δtと移動量
Δxとを用いてラインL間において同一の反射体
12からの反射パルスRであるか否かが判定され
る。 このステツプ113で行なわれる上記判定は前記
のラインL内に関しての判定と同様にして行なわ
れるので、以下に簡単に説明する。 第12図は走査ラインLj,Lj+1に関する断面図
であり、第12図は探触子14の送受波位置xij
xij+1のy方向位置が同一である場合を示してい
る。 前述のライン内グループ化と同様に、ここで
は、送受波位置Uij,Uij+1で超音波ビームが重な
り合う範囲(、i+1と、iに囲まれる範囲)
内に存在する同一の反射体12の反射パルスRij
Rij+1がグループ化判定の対象とされ、さらに位
置評定の分解能を高めるために移動量Δxからビ
ーム路程差Wiの範囲を決定するライン間グルー
プ化定数C2が用いられる。 これを式にて示すと、 O≦Wj≦C2Δx ……第(9)式 となる。 なお、位置Uij,Uij+1における反射パルスRij
Rij+1のビーム路程差Wjは、ライン内の判定の場
合と比較した場合、両超音波ビームが平行となる
ので小さくなる。 上記第(9)式を書き改めると次の第(10)式のように
なる。 O≦Δt≦C2Δx/V ……第(10)式 次のステツプ114では、ライン間で各反射体1
2毎にグループ化されたグループ化データGiがデ
ータメモリ26に格納され、ステツプ115では、
このライン間グループ化判定が全てのライン内グ
ループ化データについて実行される。 以上のようにして、ライン内及びライン間のグ
ループ化判定が行なわれると、第8図のフローチ
ヤートが実行され、各反射体12の位置及び大き
さが求められる。 第8図のステツプ116では前記ライン間グルー
プ化データGiが読み出され、ステツプ117ではグ
ループ化データGiの反射パルスRの数が基準個数
N以下のときにはこれがノイズ等によるパルスと
して無効とする処理が実行される。 そしてステツプ118では上記グループ化データ
Giにより、最大波高値の反射パルスRから反射体
の中心位置(X、Y、Z)が次の式により求めら
れる。 X=x ……第(11) Y=l sinθ+y ……第(12)式 Z=l cosθ ……第(13)式 なお、上式において、x、yは最大波高値が検
出された送受波位置のx座標及びy座標であり、
lは伝播時間と伝播速度から得られたビーム路程
度である。 またステツプ119では、反射体の大きさを求め
ている。つまり、波高値分布の所定の大きさの両
端の反射パルスRから第(11)〜(13)式により、反
射体の両端の位置を求めその大きさを求めてい
る。 第1表に、本発明を適用して行なつた超音波探
傷の演算結果の一例を示す。この超音波探傷は、
ライン内グループ化定数C1=0.8、ライン間グル
ープ化定数C2=1.0、Δd=3.0mmとして行なわれた
もので、ライン内及びライン間のグループ化処理
により形成された反射波のグループ番号がNo欄
に示され、それぞれの番号が検出された反射体を
代表している。それぞれの反射体について、
XMAX、YM、は最大波高値Pが検出されたx
座標、y座標の値を示し、MAX%は最大波高値
をDAC%で示している。また、x1〜x6、y1〜y6
は第15図に示すように、最大波高値検出位置A
を原点とするx軸、y軸上の距離であつて、それ
ぞれの反射体に属する反射波の波高値がDAC%
で、順に、20、50、100、100、50、20である距離
を示している。この数値から反射体の大きさが判
定される。またW1〜W6はy方向の波高値20、
50、100、100、50、20である反射波のビーム路程
差を示している。第16図は、グループ化された
[Industrial Field of Application] The present invention relates to an ultrasonic flaw detection method, particularly an ultrasonic pulse flaw detection method. [Prior art] Ultrasonic flaw detection using the pulse method has various advantages such as ease of handling.
It is widely used for detecting defects in steel materials. A conventional ultrasonic pulse flaw detection method for detecting defects in steel materials will be explained below. In FIG. 1, a reflector (defect) 12 is present in an object (steel material) 10 to be inspected. The probe 14 is connected to the scanning line L 1 shown in FIG.
L 2 , L... j , L j+1 , ... An ultrasonic pulse beam is transmitted toward the object to be inspected 10 at wave transmitting/receiving positions determined at predetermined intervals on the object 10 to be detected. The reflected pulse beam from the reflector 12 can be received. In this example, it is assumed that the object to be inspected 10 is plate-shaped, and its width direction is y as shown in FIGS. 1 and 2.
The length direction is defined as the x direction, and the depth direction is defined as the z direction. As shown in FIG. 1, the ultrasonic pulse beam is transmitted from the probe 14 toward the object to be inspected 10 at a refraction angle θ, and its waveform is rectangular as shown by T in FIG. The beam spread at that time is as shown in FIG. h is the strength of the probe sound field, and δ is the deflection angle of the central beam. In order to detect the reflector 12 present in the object to be inspected 10, the probe 14 moves along the scanning line L in FIG. Ultrasonic beams are transmitted and received at the location. At this time, the waveform of the reflected pulse received by the probe 14 is triangular as shown in FIG. 3, and at the transmitting and receiving position U i on the scanning line L j , the reflected pulse becomes R ij , At U i+1 , it becomes R i+1,j , and the peak values of the reflected pulses R ij and R i+1,j are respectively
P ij , P i+1,j . In this example, the waveform of FIG. 3 is displayed on the A scope, and this display provides information regarding the reflector 12,
For example, its position and size can be determined as follows. That is, the display screen of the A scope is observed while repeatedly moving the probe 14, and the change in the peak value P of the reflected pulse R at that time is observed. At this time, the peak value P is maximum (P i+1,j in Figure 3)
Then, as shown in FIG. 1, the probe 14 is located at the transmitting/receiving position where its center beam irradiates the reflector 12, so the position y i+1 and the propagation time at this time are
The coordinates where the reflector 12 is located are determined from t i+1,j ,
Further, the size of the object to be inspected 12 is determined from the peak value P i+1,j . As described above, according to the conventional method, the object to be inspected 1
It is possible to know the position and size of the reflector 12 that exists within 0. [Problem to be Solved by the Invention] However, conventionally, when there are multiple reflectors inside the object to be inspected, the peak value envelope 200 of the reflected pulse (see FIG. 3) is drawn on multiple A scopes. Therefore, it was difficult to detect the maximum peak value of the reflected pulse. For this reason, in the past, the probe had to be moved repeatedly to get an idea of which reflector was causing the damage, which made it difficult to obtain accurate information about the reflectors that existed inside the body being inspected, and because of this it took a long time to move the probe. There was a problem that required . In addition, in an ultrasonic flaw detector that automatically reads reflector information, the strength h of the probe sound field shown in Fig. 4 is a function of the declination angle δ of the central beam. Although the position of the reflector is determined, there are disadvantages in that this requires deep specialized knowledge and the calculation formula is extremely complex, requiring a long calculation time. As explained above, the conventional ultrasonic pulse flaw detection method has a drawback in that when a plurality of reflectors are present in the body to be inspected, information regarding the reflectors cannot be obtained accurately and easily. The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and its purpose is to accurately and easily obtain information regarding the reflectors even when a plurality of reflectors exist inside the body to be inspected. The purpose of the present invention is to provide an ultrasonic pulse flaw detection method that can be used. [Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention provides a probe for transmitting and receiving waves at respective wave transmitting/receiving positions determined at predetermined intervals on a plurality of scanning lines aligned on the surface of an object to be inspected. The ultrasonic pulse beam is transmitted toward the object to be inspected and the reflected pulse beam is received from the reflector inside the object, and information on the transmitting/receiving position of the probe and the waves of each reflected pulse are obtained. In an ultrasonic pulse flaw detection method for obtaining information about the reflector based on a high value,
Each ultrasound beam is transmitted and received by setting the interval between each transmission/reception position and the interval between each scanning line so that the adjacent ultrasound beams overlap sufficiently on the scanning line and between the scanning lines. The difference in the reflected pulse beam path length at the transmitting and receiving positions is predetermined in the interval between the two transmitting and receiving positions, and the ratio of the distance between the probes Δd to the beam path difference Δl of the reflected pulses that should be in the same group under that condition is Δl/ The difference in reflected pulse beam path length at two adjacent transmitting/receiving positions between scanning lines that is less than or equal to the value multiplied by an intra-line grouping constant which is Δd is predetermined as the scanning line interval,
Ratio of the distance between the probes Δd and the beam path difference Δl of the reflected pulses that should be in the same group under that condition Δl/Δd
A reflected pulse group that satisfies the condition of being less than or equal to the value multiplied by the inter-line grouping constant is determined to be obtained from the same reflector, and the peak value of the reflected pulse group obtained by this determination and the reflected pulse The present invention is characterized in that the center position and size of the reflector are detected based on the position information of the probe for the group. [Operation and Examples] The operation and preferred embodiments of the present invention will be described below based on the drawings. FIG. 5 shows a block configuration of an ultrasonic flaw detector to which the method of the present invention is applied. In the figure, the probe 14 is controlled to move as shown in FIG. 2, and its position is detected by a position detector 20. The probe 14 is connected to a wave transmitting/receiving circuit 22, and the wave transmitting/receiving circuit 22 transmits an ultrasonic pulse beam to the probe 14 and sends an ultrasonic pulse beam to the reflector 12.
It is possible to receive the reflected pulse beam from the The wave transmitting/receiving circuit 22 is supplied with the reflected pulse R received by the probe 14, the wave transmitting/receiving circuit 22 can detect the reflected pulse R, and the digitizing circuit 24 can detect the reflected pulse R. can be digitized and output. The output data of the position detector 20 and the digitization circuit 24 are supplied to a data memory 26,
The data memory 26 can store the position (x, y) of the probe 14 detected by the position detector 20 and the reflected pulse R. In addition, the data memory 26
The refraction angle θ of the probe 14, the thickness H of the object to be inspected 10, the propagation velocity V of the ultrasonic beam, and an intra-line grouping constant C 1 and an inter-line grouping constant C 2 , which will be described later, are stored in . There is. This data memory 26 stores the position (x, y) of the probe 14 and the reflected pulse R received at that position.
The wave height value P and the propagation time t of the reflected wave of the wave height value P
are stored in a sequential array. The arithmetic processor 28 can appropriately select and read out the contents of the data memory 26 and perform processing according to a series of flowcharts shown in FIGS. 6, 7, and 8. The operation of the preferred embodiment of the present invention will be described in detail below. The probe 14 scans each scanning line L 1 , L 2 ... L j , L j+1 from the starting point (x 0 , y 0 ) to the ending point (x n , y o ) in FIG.
. . . During this movement, the ultrasonic beam is transmitted and received at each transmission and reception position on each line L. In the present invention, the interval between each line L and each transmitting/receiving position are set so that adjacent ultrasonic beams sufficiently overlap. Therefore, in FIG. 2, adjacent ultrasound beams on each line L (x value is constant) overlap sufficiently, and between each line L (y value is constant) adjacent ultrasound beams overlap sufficiently. are overlapping. As described above, when scanning is performed such that the ultrasonic beams sufficiently overlap on each line L and between each line L, the reflected pulse R and the transmission/reception position at that time are stored in the data memory 26. In this embodiment, the arithmetic processor 28 first performs the flowchart process shown in FIG. 6, then the flowchart process shown in FIG. 7, and finally the flowchart process shown in FIG. In other words, after completing the flaw detection of the object to be inspected by the flaw detection equipment, all transmitted waves,
After the reflected waves and the probe position are stored in the data memory, arithmetic processing is performed to detect and display the position and size of the reflector. In the flowchart of FIG. 6, a determination operation is performed in which the reflected pulses R within the same line L are grouped according to the reflectors 12 present in the object 10 to be inspected. In step 100 of FIG. 6, the wave transmitting/receiving position (probe position) y ij (the y coordinate of U ij is
Express the coordinates as x ij . When the problem is in the y direction, the position is represented by the y coordinate, and when the problem is in the x direction, the position is represented by the x coordinate. ) is read out, and in the next step 101, the reflected pulse R at the transmitting/receiving position (y i+1,j ) on the same scanning line L j is read out. The probe state at this time is 9th.
Figure 10 shows the waveform of the reflected pulse R when the probe 14 is at the transmitting/receiving position U ij , and the waveform of the reflected pulse R when the probe 14 is at the transmitting/receiving position U i+1,j. The waveform of pulse R is shown in FIG. Therefore, in the case of FIG. 10, reflected pulses from a plurality of reflectors at different positions, for example R ij,1 , R ij,2 ,
A reflected pulse train R of R ij,3 is obtained, which in the case of FIG. 11 is similarly reflected from a plurality of reflectors (not necessarily the same as in the case of R ij ), e.g.
Reflected pulse train R of R i+1j,1 , R i+1j,2 , R i+1j,3 , R i+1j,4
are obtained and read out. In step 102, adjacent wave transmitting/receiving positions U ij ,
From the position information obtained in steps 100 and 101 for U i+1,j, the amount of movement Δy of the probe 14 is determined by the following (1)
It is determined by the formula. Δy=y i+1,j −y ij ...Equation (1) In the next step 103 , the first
The propagation time difference between the pulse R ij,1 and the reflected pulse train R i+1,j is determined by the following equation (2). Δt n = t i,1 −t i+1,n ...Equation (2) However, m = 1 to n, n is the number of pulses of the pulse train R i+1,j This Δt n is the number of pulses transmitted at a certain position. It shows the difference between the propagation time of each of the multiple reflected waves of the ultrasonic beam emitted at a distance of Δy from that position, and the propagation time of each of the multiple reflected waves of the ultrasonic beam emitted at a position Δy away from that position. As described above, in order for the two compared reflected waves to be reflected from the same reflector, this Δt n must be less than or equal to a certain value. In the next step 104, the amount of movement Δy of the wave transmitting/receiving position obtained by the above equations (1) and (2) and the reflected pulse R are calculated.
Based on the propagation time difference Δt, it is determined whether the reflected pulses R are from the same reflector 12 within the same line L j . The above determination is obtained by the following equation (3). 0≦W i ≦C 1 Δy Equation (3) C 1 : Intra-line grouping constant Next, the meaning of the above Equation (3) will be explained. In Fig. 9, the transmitting and receiving positions are moved on the same scanning line L, and the ultrasonic beam is incident at an oblique angle at a refraction angle θ, but the beam spread range (, i and
The range surrounded by B i ) and the beam spread range at the transmitting/receiving position U i+1,j ( i+1,j , the range where the range surrounded by i+1 and i+1,j , i+1 overlap) (, i+1 and, i
), that is, the first pulse R ij of the reflected pulses R ij , R i+1, j from the same reflector 12 within the range where the ultrasonic beams overlap at the transmitting/receiving positions U ij , U i+ 1j ,1 , R i+1j,1, the beam path lengths are l ij , l i+1j . At this time, it is understood that when the movement amount Δy is determined by equation (1), the difference between the beam path lengths l ij and l i+1j , that is, the beam path difference W i falls within the range of the following equation. O≦W i ≦Δy ... Equation (4) Therefore, when the condition of Equation (4) above is satisfied, it can be treated as a reflected pulse R from the same reflector 12. In the present invention, in view of the fact that if only the condition of formula (4) above is applied, the range of the same reflector 12 becomes wider due to the spread of the ultrasonic beam, and the resolution of position evaluation deteriorates, As shown in the formula, the amount of movement Δy
is multiplied by the intra-line grouping constant C1 to narrow down the range that is determined to be the same reflector 12. The above in-line grouping constant C 1 is the probe 14
The constant C 1 should be determined by taking into account the characteristics of , the refraction angle θ, the thickness H of the object to be inspected 10, etc. In this embodiment, this constant C 1 is determined by the following equation (5). C 1 = Δl/Δd ... Equation (5) Δd: Distance between probes where at least a portion of the ultrasound beams overlap Δl: The reflected waves of ultrasound beams emitted at an interval of Δd are the same This is the beam path difference between the reflected waves that are reflected from the reflector and should be determined to belong to the same group, and Δl≦Δd. Note that in Equation (5), the position evaluation resolution can be changed by arbitrarily selecting Δd and Δl. If we rewrite the above equation (5), Δl=C 1 Δd. Since the amount of movement of the probe during flaw detection is determined so that the ultrasonic beams overlap, Δd=Δy. Furthermore, when the probe movement amount is Δd (=Δy), the beam path difference between the reflected waves considered to be reflected waves from the same reflector is less than Δl, so the reflected pulse train R ij
Let W i be the beam path difference between the first pulse R ij,1 and the m-th pulse R i+1, j,n of the reflected pulse train R i+1,j , then Δl≧
This is the condition that W i is a reflected wave from the same reflector. Then, W i ≦∆l=C 1 ∆d=C 1 ∆y O≦W i /V≦C 1 ∆y/V W i /V is ∆t n from the second equation, so O≦∆t n ≦C 1 ∆y/ V...Equation (6) is obtained, and in step 104, when this condition is satisfied, it is determined that the pulses are reflected from the same reflector 12. In the next step 105, intra-line grouping data G ij grouped for each reflector 12 in each line L i is stored in the data memory 26 . In step 106, all pulses R between the pulse trains R ij and R i+1,j are grouped for each reflector 12. For example, pulse R ij,1 and pulse R ij+1,1 to 4 are executed, then pulse R ij2 and pulse
Processing proceeds sequentially, with R ij+1,1 to 4 being executed. Then, in step 107, the above-mentioned intra-line grouping determination is performed for the total reflection pulses R of each line Lj , and in step 108, the intra-line grouping determination is performed for all lines L. When the intra-line grouping determination of FIG. 6 is executed as described above and the reflected pulses R are grouped for each reflector 12 within each line L, the flowchart of FIG. 7 is executed. In the flowchart of FIG. 7, grouping determination of reflected pulses R is performed between each line. This judgment is made in the x direction, whereas the judgment in Fig. 6 was made in the y direction. Fig. 12 shows the cross section of the flaw detection state at this time, and Fig. 13 shows the The waveform of the reflected pulse R when the probe 14 is at the transmitting/receiving position U ij is shown in FIG. 14, and the reflected pulse R when the probe 14 is at the transmitting/receiving position U ij+1 is shown in FIG.
The waveform of is shown. In step 109 of FIG. 7, grouped data G ij of line L j is read out, and then in step 110, grouped data G ij+1 of line L j+1 adjacent to line L j is read out. In the next step 111, these grouped data
G ij , G ij+1 wave transmitting/receiving position x ij , moving amount Δx of x ij+1 is the
It is obtained from equation (7). Δx=x ij+1 −x ij ...Equation (7) Furthermore, in step 112, the grouped data
The propagation time difference Δt between the reflected pulses R ij (see FIG. 13) and the reflected pulses R ij +1 (see FIG. 14) of G ij and G ij+1 is obtained from the following equation (7). Δt=t ij −t ij+1 ...Equation (8) Here, the in-line transmission/reception positions y ij and y ij+1 of the reflected pulses R ij and R ij+1 are at the same position in the x direction. be. In addition, in this example, the above grouped data
If the same wave transmitting/receiving position does not exist at G ij and G ij+1 , it is determined that the reflector 12 is a different reflector 12 . In the next step 113, the reflected pulse R from the same reflector 12 between the lines L is calculated using the propagation time difference Δt and the movement amount Δx of the reflected pulse R obtained by the above equations (7) and (8). It is determined whether or not. The above judgment made in step 113 is made in the same manner as the judgment regarding the inside of line L, and will therefore be briefly explained below. FIG. 12 is a cross-sectional view regarding the scanning lines L j and L j+1 , and FIG. 12 is a cross-sectional view of the scanning lines L j and L j+1, and FIG .
A case is shown in which the positions of x ij+1 in the y direction are the same. Similar to the above-mentioned intra-line grouping, here, the range where the ultrasound beams overlap at the transmitting/receiving positions U ij , U ij+1 (the range surrounded by i+1 and i )
The reflected pulse R ij of the same reflector 12 existing within
R ij+1 is targeted for grouping determination, and in order to further improve the resolution of position estimation, an inter-line grouping constant C 2 is used that determines the range of the beam path difference W i from the movement amount Δx. Expressing this in a formula, O≦W j ≦C 2 Δx ...Equation (9). Note that the reflected pulses R ij at the positions U ij , U ij+1 ,
The beam path difference W j of R ij+1 is smaller when compared with the case of in-line determination because both ultrasonic beams are parallel. If we rewrite the above equation (9), we get the following equation (10). O≦∆t≦C 2 ∆x/V ...Equation (10) In the next step 114, each reflector 1
The grouped data G i grouped by 2 is stored in the data memory 26, and in step 115,
This inter-line grouping determination is performed for all intra-line grouping data. When grouping within a line and between lines is determined as described above, the flowchart of FIG. 8 is executed, and the position and size of each reflector 12 is determined. In step 116 of FIG. 8, the line-to-line grouping data G i is read out, and in step 117, if the number of reflected pulses R of the grouping data G i is less than the reference number N, this is invalidated as a pulse due to noise or the like. Processing is executed. Then, in step 118, the above grouped data
Using G i , the center position (X, Y, Z) of the reflector can be determined from the reflected pulse R having the maximum peak value using the following equation. X=x...Equation (11) Y=l sinθ+y...Equation (12) Z=l cosθ...Equation (13) In the above equation, x and y are the transmitted and received waves at which the maximum peak value was detected. are the x and y coordinates of the position,
l is the beam path degree obtained from the propagation time and propagation velocity. Also, in step 119, the size of the reflector is determined. That is, the positions of both ends of the reflector are determined from the reflected pulses R at both ends of a predetermined size of the peak value distribution using equations (11) to (13), and the magnitude thereof is determined. Table 1 shows an example of the calculation results of ultrasonic flaw detection performed by applying the present invention. This ultrasonic flaw detection
This was done with the intra-line grouping constant C 1 = 0.8, the inter-line grouping constant C 2 = 1.0, and Δd = 3.0 mm, and the group number of the reflected waves formed by the intra-line and inter-line grouping processing is Each number represents a detected reflector. For each reflector,
XMAX, YM, is the time at which the maximum wave height value P is detected
The coordinate and y-coordinate values are shown, and MAX% shows the maximum wave height value in DAC%. Also, x 1 ~ x 6 , y 1 ~ y 6
As shown in Fig. 15, is the maximum wave height value detection position A
The distance on the x-axis and y-axis from the origin, and the peak value of the reflected wave belonging to each reflector is DAC%
, which shows distances of 20, 50, 100, 100, 50, and 20 in order. The size of the reflector is determined from this value. In addition, W 1 to W 6 are wave height values in the y direction of 20,
The beam path differences of the reflected waves are shown as 50, 100, 100, 50, and 20. Figure 16 shows the grouped data

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、ライン
内グループ化定数、ライン間グループ化定数によ
つて高い位置評定分解能にて反射パルスデータが
反射体別にグループ化されるので、該グループ化
データから任意波高値分布の反射体位置、その大
きさを容易にかつ正確でさらに短時間で評定する
ことができる。 特に本発明は、探触子の走査を目的に規則的に
走査させる超音波探傷装置に有効である。 なお、本発明を超音波診断装置などに用いるこ
とも好適である。
As explained above, according to the present invention, reflected pulse data is grouped by reflector with high position evaluation resolution using the intra-line grouping constant and the inter-line grouping constant. The position and size of the reflector in the arbitrary wave height distribution can be easily and accurately evaluated in a short time. In particular, the present invention is effective for an ultrasonic flaw detection device that regularly scans a probe for the purpose of scanning. Note that it is also suitable to use the present invention in an ultrasonic diagnostic device or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来の超音波パルス探傷方法の動作説
明図、第2図は探触子の走査軌跡図、第3図は第
1図従来方法における超音波パルス及び反射パル
スの波形を示すAスコープの表示図、第4図は超
音波パルスビームの拡がり特性図、第5図は本発
明に係る超音波探傷方法が適用された超音波探傷
装置のブロツク構成図、第6図、第7図、第8図
は第5図演算処理器のフローチヤート図、第9図
は第5図装置のY方向グループ化についての動作
説明図、第10図、第11図は第9図における超
音波パルスと反射パルスの波形図、第12図は第
5図装置のX方向グループ化についての動作説明
図、第13図、第14図は第12図における超音
波パルスと反射パルスの波形図、第15図は第1
表に示す符号の説明図であり、第16図は第1表
に示す結果を平面に展開して示す展開図である。 10……被検査体、12……反射体、14……
探触子、20……位置検出器、22……送受波回
路、24……デジタル回路、26……データメモ
リ、28……演算処理器。
Figure 1 is an explanatory diagram of the operation of the conventional ultrasonic pulse flaw detection method, Figure 2 is a scanning locus diagram of the probe, and Figure 3 is A scope showing the waveforms of ultrasonic pulses and reflected pulses in the conventional method. 4 is a spread characteristic diagram of an ultrasonic pulse beam, FIG. 5 is a block configuration diagram of an ultrasonic flaw detection apparatus to which the ultrasonic flaw detection method according to the present invention is applied, FIGS. 6, 7, 8 is a flowchart of the arithmetic processor in FIG. 5, FIG. 9 is an explanatory diagram of the operation of the device in FIG. Figure 12 is a waveform diagram of the reflected pulse. Figure 12 is an explanatory diagram of the operation of the X-direction grouping of the device in Figure 5. Figures 13 and 14 are waveform diagrams of the ultrasonic pulse and reflected pulse in Figure 12. Figure 15. is the first
FIG. 16 is an explanatory diagram of the symbols shown in the table, and FIG. 16 is a developed diagram showing the results shown in Table 1 developed on a plane. 10...Test object, 12...Reflector, 14...
Probe, 20... position detector, 22... wave transmitting/receiving circuit, 24... digital circuit, 26... data memory, 28... arithmetic processor.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 被検査体表面に整列設定した複数の走査ライ
ン上に所定間隔で定められた送受波位置で探触子
に被検査体へ向けての超音波パルスビームの送波
と被検査体内に存在する反射体からの反射パルス
ビームの受波とを行なわせ、探触子の送受波位置
情報と各反射パルスの波高値とに基づいて前記反
射体に関する情報を得る超音波パルス探傷方法に
おいて、隣接する超音波ビームが走査ライン上及
び走査ライン間で十分に重なるように各送受波位
置間隔及び各走査ライン間隔を設定して各超音波
ビームの送受波を行ない、走査ライン上で隣接す
る2送受波位置での反射パルスビーム路程の差が
両送受波位置間隔に、予め定められ、探触子間距
離Δdとその条件での同一グループとすべき反射
パルスのビーム路程差Δlの比Δl/Δdであるライ
ン内グループ化定数を乗算した値以下となりかつ
走査ライン間で隣接する2送受波位置での反射パ
ルスビーム路程の差が走査ライン間隔に、予め定
められ、探触子間距離Δdとその条件での同一グ
ループとすべき反射パルスのビーム路程差Δlの
比Δl/Δdであるライン間グループ化定数を乗算
した値以下となる条件を満たす反射パルス群を同
一の反射体から得られたものと判定し、該判定に
より得られた反射パルス群の波高値と該反射パル
ス群についての探触子の位置情報とに基づいて反
射体の中心位置と大きさを検出することを特徴と
する超音波パルス探傷方法。
1 Transmission of ultrasonic pulse beams toward the object to be inspected using a probe at transmitting/receiving positions determined at predetermined intervals on multiple scanning lines aligned on the surface of the object to be inspected, and ultrasonic pulse beams that are present inside the object to be inspected. In an ultrasonic pulse flaw detection method in which a reflected pulse beam is received from a reflector and information about the reflector is obtained based on the transmitting/receiving position information of the probe and the peak value of each reflected pulse, Each ultrasonic beam is transmitted and received by setting the interval between each transmitting/receiving position and the interval between each scanning line so that the ultrasound beams overlap sufficiently on the scanning line and between the scanning lines, and two adjacent transmitting/receiving waves on the scanning line are The difference in the path of the reflected pulse beam at the position is determined in advance by the distance between the transmitting and receiving positions, and is determined by the ratio Δl/Δd of the distance between the probes Δd and the beam path difference Δl of the reflected pulses that should be in the same group under that condition. The difference in reflected pulse beam path length at two adjacent transmitting/receiving positions between scanning lines that is less than or equal to a value multiplied by a certain intra-line grouping constant is predetermined as the scanning line interval, and the inter-probe distance Δd and its conditions A group of reflected pulses that satisfy the condition that the beam path difference Δl of the reflected pulses that should be in the same group is less than or equal to the value multiplied by the inter-line grouping constant, which is Δl/Δd, are considered to be obtained from the same reflector. and detecting the center position and size of a reflector based on the peak value of a group of reflected pulses obtained by the determination and position information of a probe regarding the group of reflected pulses. Pulse flaw detection method.
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