JPS6390180A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS6390180A
JPS6390180A JP61234583A JP23458386A JPS6390180A JP S6390180 A JPS6390180 A JP S6390180A JP 61234583 A JP61234583 A JP 61234583A JP 23458386 A JP23458386 A JP 23458386A JP S6390180 A JPS6390180 A JP S6390180A
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Japan
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inp
quantum well
semiconductor crystal
band
layer
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Takaro Kuroda
崇郎 黒田
Akisada Watanabe
渡辺 明禎
Shinji Sakano
伸治 坂野
Takao Miyazaki
隆雄 宮崎
Hiroyoshi Matsumura
宏善 松村
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は化合物半導体のヘテロ接合により形成される量
子井戸構造を有する半導体装置に関する。
特に、該構造の井戸層内にドナー及びアクセプタが空間
的に不均一にドーピングされた構造に関する。
〔従来の技術〕
化合物半導体の量子井戸構造は、多重量子井戸型半導体
レーザの活性層や、電界による複素屈折率の高速変調を
利用した光スィッチ等に応用されている(r半導体超格
子の物理と応用J日本物理学会編、培風館昭和59年)
。これらに用いられた構造は第3図(a)に示したよう
に、バンドギャップで差の異なる化合物半導体のヘテロ
接合からなり、伝導帯のバンド不連続ΔEc及び価電子
帯のバンド不連続ΔEVがそれぞれ伝導帯の電子と、価
電子帯の正孔に対するポテンシャル障壁を形成している
。第3図(b)は同一の半導体に周期的にドナーとこの
セプタをドーピングしたいわゆるドーピング超格子で、
第3図に模式的に示した如く、電子と正孔が空間的に分
離されている。
この系では、光吸収によって伝導帯の電子数及び価電子
帯の正孔数が変化すると、電気的中性条件をみたすべく
ポテンシャル障壁の形がセルフコンシステントに変化す
る。そのため、量子レベルが入射励起光の強度により順
次変化するために、L 、 L 、 Chang他「シ
ンセティックモジュレーテッドストラクチャー」、アカ
デミツク プレス刊。
1985年、第241頁(” S yntheticM
odulated  5tract、ure”  、 
 Academic  Press。
(1985)p、241)に示されるように光吸収係数
発光スペクトルが外部光でチューニングできることにな
る。第3図(c)は、同図(b)において電子、正孔に
対するポケット量子井戸をつけ加えた例である。
第3図(a)の例では、量子井戸全体に外部電界を印加
すると、同図(a)の右側に示されるように電子波動関
数と正孔の波動関数が逆方向にシフトして、外部光に対
する複素屈折率応答が変化するが、第3図(b)の例に
比べると井戸内に閉じこめられている電子正孔の量子レ
ベルは余り変化しないために、波長のチューニング特性
といえるほどの変化はない。。
〔間頭点を解決するための手段〕
本発明の目的は、従来の組成型量子井戸とドーピング型
量子井戸の特徴をかねそなえた。すなわち、空間的に不
均一にドープされた半導体結晶を。
この結晶よりも禁制帯幅が大きくかつ、伝導帯および価
電子帯でのバンド不連続性が説結晶内に障壁を形成する
ような第2の半導体ではさんだ新しい量子井戸構造を導
入なことにより達成される。
〔作用〕
本発明の基本的作用を説明する概念図を第1図(、)に
示した。ここに示した例では、井戸層がlコのp / 
n接合からなりたっており、面側がΔEc、ΔEVの大
きいアンドープヘテロ障壁層ではさまれている。伝導帯
の電子は、井戸層のn型ドープ領域に、価電子帯の正孔
は、井戸層のP型ドープ領域に、それぞれ量子レベルを
つくって閉じこめられることになる。井戸内の電気的中
性条件は同図に示したイオン化ドナー、アクセプターと
自由電子、正孔のバランスで満たされ、井戸層のポテン
シャルはポアソン方程式とシュレジンガ一方程式をセル
フコンシステントに解くことにより求められる。多重量
子井戸の場合の近似的なポテンシャル分布を第1図(b
)に示した。ここで、エネルギーE1の光の入射により
、正孔の基底準位から伝導帯に上がった電子は、電子の
基底準位に緩和するが、このレベルから価電子帯に発光
遷移(エネルギーE2〉El)しようとしても価電子帯
がつまっているために遷移できず、その結果井戸層内に
は大量の電子と正孔が空間的に分離された状態でたまる
ことになる。それによって井戸層内のポテンシャルは再
び電気的条件をみたすようセルフコンシステントに変化
し、電子、正孔の量子レベルも大きく変化することにな
る。
このように、本発明の量子井戸では、第3図に示した2
つのタイプの量子井戸の特徴が共にとりこまれた結果、
より設計自由度が、拡大された非線形光−光相互作用機
能を実現できるようになる。
〔実施例〕
以下、本発明の内容を実施例に基づいて説明する。第1
図(a)の量子井戸構造の1例として、InPを障壁層
とし、井戸層に、InPに格子整合したI n 0.5
3Ga 0.47Asのp / n接合を用いた例を、
InGaAsPの4元系を作製可能な減圧MOCVD装
置で結晶成長した。さらに、InPに格子整合したIn
0.s 2 A Q 0.4 RAsを障壁層とし、井
戸層に同じく I n 0.s 3Ga 0.a 7 Asのp / 
n接合を用いた例を、MBE装置で作製した。どちらの
場合も第2図(a)に示したような光−光変調検出器の
作製を目標とし、n−InP基板上にアンドープInP
(又はI nA Q As)のクラッド2を1μm、本
発明の量子井戸構造3 : InP/ (p/n)In
GaAsPI n P又はInGAsP (p/n)I
nGaAs/InAQAsを1μm、アンドープInP
(又はI nA Q As)のクラッド4を1μm成長
したのち、基板のInPの一部を除去した。
量子井戸層に対して、垂直方向又は平行方向に入射光(
波長λ、)モニター検出光(波長λG)を入射させる配
置で、λ、の入射光強度をかえながら、λ。の光の透過
強度及び位相シフトを観測した1位相検出はマイケルソ
ン型の干渉検出方式を用いた。(第2図(、)の下の模
式図参照)波長λ、として、第1図(b)に示した井戸
内p型領域中の正孔基底準位から伝導帯への励起エネル
ギーE、に等しいものを選び、検出光の波長λ2として
第1図(b)の井戸内へ型領域中の電子基底準位から価
電子帯への遷移エネルギーECに等しいものを選んでお
いた。入射光強度の増大と共に。
井戸内に電子、正孔が空間分離されて蓄積される結果、
量子準位がシフトして、波長λ2でみた量子井戸の複素
屈折率は連続的に変化してゆき、透過光の減衰率でみて
も1位相シフトでみても同様の高感度で入射光の有無を
検出できることがわかった。入射光をパルスレーザとし
たときの応答速度は、従来のGaAs/GaAQAs系
量子井戸に電界を印加したタイプの光スィッチの速度と
同等以上であった。これは、本発明の量子井戸において
は、λ、の光で伝導帯に励起された電子が、高濃度のイ
オン化不純物の散乱と、内部電界勾配により速やかに基
底準位に緩和することを示している。
この他部2図(b)のように、従来のドーピング超格子
の例と同様に、量子井戸内のn”p層に独立にp”n型
オーミック電極をとることによって、光検出層を作成で
きることを確認した。
以上はInP基板上のI nP、InGaAs。
InAQAsを用いた量子井戸の例を示したが、本発明
の内容は材料については何ら制限を設けていないことは
明らかである。
また、井戸内も単一のp/n接合だけでなく、必要に応
じてp、n、i層等を一部に付は加えることにより、よ
り微妙な量子準位変調効果を期待できる。場合によって
は、井戸内にごく低いヘテロ障壁層をつくることにより
、電子正孔の空間分離をより効果的にすることも可能で
ある。
〔発明の効果〕
本発明によれば、正孔と電子を分離した状態で量子井戸
層内に閉じこめられるので、強い非線形性を有する新機
能光素子を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の量子井戸構造を示す図、第2図は、本
発明の実施例としてのr nP/ (p/n)InGa
As/I nP構造を示す図、第3図は従来の代表的な
2種の量子井戸構造を示す図である。 11りノT;(1 2工Xの;角関に 第2の 第3目

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、空間的に不均一にドープされた半導体結晶を、この
    結晶よりもバンドギャップが大きく、かつ伝導帯および
    価電子帯でのバンド不連続性が前者の半導体結晶に対し
    て障壁層となるような第2の半導体結晶のヘテロ接合で
    はさむことにより形成された量子井戸構造を有する半導
    体装置。 2、上記量子井戸構造の井戸層が単一のpn接合からな
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体
    装置。 3、上記量子井戸構造の井戸層を、InP基板に格子整
    合したGa_0_._4_7In_0_._5_3As
    とし、障壁層をInP又は、InPに格子整合した Al_0_._4_8In_0_._5_2Asとした
    ものとする特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5072272A (en) * 1990-01-11 1991-12-10 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor light modulator with pn layers

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6285227A (ja) * 1985-10-09 1987-04-18 Tokyo Inst Of Technol 光回路機能素子

Patent Citations (1)

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JPS6285227A (ja) * 1985-10-09 1987-04-18 Tokyo Inst Of Technol 光回路機能素子

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US5072272A (en) * 1990-01-11 1991-12-10 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor light modulator with pn layers

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JP2656476B2 (ja) 1997-09-24

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