JPS6382463A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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JPS6382463A
JPS6382463A JP22943586A JP22943586A JPS6382463A JP S6382463 A JPS6382463 A JP S6382463A JP 22943586 A JP22943586 A JP 22943586A JP 22943586 A JP22943586 A JP 22943586A JP S6382463 A JPS6382463 A JP S6382463A
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JP
Japan
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atoms
gas
film
layer
flow rate
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JP22943586A
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Japanese (ja)
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Shuji Iino
修司 飯野
Mochikiyo Osawa
大澤 以清
Hideo Yasutomi
英雄 保富
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To improve the transferability of an electric charge transfer layer by using the charge transfer layer consisting of hydrogenated amorphous carbon contg. oxygen and halogen and an electric charge generating layer contg. specific atoms. CONSTITUTION:The charge transfer layer 2 and the charge generating layer 3 are successively laminated on a conductive substrate 1. The layer 2 consists of the hydrogenated amorphous carbon film contg. at least the oxygen and halogen. The layer 3 consists of the hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film contg. phosphorus or/and fluorine. The layers 2, 3 can be formed by glow discharge. The charge transfer layer having the adequate transferability and excellent electric chargeability, durability, etc., is thereby obtd. The charge generating layer which has excellent photoconductivity and the functions of which can be best utilized in spite of the reduction in the thickness thereof is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 産朶上Ω利里分団 本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する感光体に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer.

従米技街 カールソン法の発明以来、電子写真の応用分野は著しい
発展を続け、電子写真用感光体にも様々な材料が開発き
れ実用化されてきた。
Since the invention of the Carlson method, the application field of electrophotography has continued to make remarkable progress, and various materials have been developed and put into practical use for photoreceptors for electrophotography.

従来用いられて来た電子写真感光体材料の主なものとし
ては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫化
カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機
物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン、
ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリフ
ェニルメタン化合物、トリフェニルアミン化合物、ヒド
ラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリン化合物、オ
キサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有機
物質が挙げられる。また、その構成形態としては、これ
らの物質を単体で用いる単層型構成、結着材中に分散さ
せて用いるバインダー型構成、機能別に電荷発生層と電
荷輸送層とを設ける積層型構成等が挙げられる。
The main electrophotographic photoreceptor materials conventionally used include inorganic substances such as amorphous selenium, selenium arsenide, selenium telluride, cadmium sulfide, zinc oxide, amorphous silicon, polyvinyl carbazole, metal phthalocyanine,
Examples include organic substances such as disazo pigments, trisazo pigments, perylene pigments, triphenylmethane compounds, triphenylamine compounds, hydrazone compounds, styryl compounds, pyrazoline compounds, oxazole compounds, and oxadiazole compounds. In addition, the configurations include a single-layer structure in which these substances are used alone, a binder-type structure in which they are dispersed in a binder, and a laminated structure in which a charge generation layer and a charge transport layer are provided for each function. Can be mentioned.

しかしながら、従来用いられて来た電子写真感光体材料
にはそれぞれ欠点があった。その一つとして人体への有
害性が挙げられるが、前述したアモルファスシリコンを
除く無機物質においては、何れも好ましくない性質を持
つものであった。また、電子写真感光体が実際に複写機
内で用いられるためには、帯電、露光、現像、転写、除
電、清掃等の苛酷な環境条件に曝された場合においても
、常に安定な性能を維持している必要があるが、前述し
た有機物質においては、何れも耐久性に乏しく、性能面
での不安定要素が多かった。
However, the electrophotographic photoreceptor materials conventionally used each have drawbacks. One of these is their toxicity to the human body, and all inorganic substances, except for the amorphous silicon mentioned above, have unfavorable properties. In addition, in order for an electrophotographic photoreceptor to be actually used in a copying machine, it must always maintain stable performance even when exposed to harsh environmental conditions such as charging, exposure, development, transfer, neutralization, and cleaning. However, all of the organic substances mentioned above have poor durability and many unstable factors in terms of performance.

このような欠点を解消すべく、近年、有害性を改善し耐
久性に富んだ材料として、グロー放電法により生成され
るアモルファスシリコンの電子写真感光体への応用が進
んで来ている。しかし、アモルファスシリコンは、原料
としてシランガスを多量に必要とする反面、高価なガス
であることから、出来上がった電子写真感光体も従来の
感光体に比べ大幅に高価なものとなる。また、成膜速度
が遅く、成膜時間の増大に伴い爆発性を有するシラン未
分解生成物を粉塵状に発生する等、生産上の不都合も多
い。また、この粉塵が製造時に感光層中に混入した場合
には、画像品質に著しく悪影響を及ぼす。ざらに、アモ
ルファスシリコンは、元来、比誘電率が高いため帯電性
能が低く、複写機内で所定の表面電位に帯電するために
は膜厚を厚くする必要があり、高価なアモルファスシリ
コン膜を長時間堆積させなくてはならない。
In order to eliminate such drawbacks, in recent years, amorphous silicon produced by a glow discharge method has been increasingly applied to electrophotographic photoreceptors as a material with improved toxicity and high durability. However, while amorphous silicon requires a large amount of silane gas as a raw material, it is an expensive gas, so the resulting electrophotographic photoreceptor is also significantly more expensive than a conventional photoreceptor. In addition, there are many inconveniences in production, such as the slow film formation rate and the generation of explosive silane undecomposed products in the form of dust as the film formation time increases. Furthermore, if this dust gets mixed into the photosensitive layer during manufacturing, it will have a significant negative effect on image quality. Generally, amorphous silicon has low charging performance due to its high specific dielectric constant, and in order to charge it to a predetermined surface potential in a copying machine, it is necessary to increase the thickness of the film. You have to accumulate time.

できるものである。It is possible.

ところでアモルファスカーボン膜自体は、プラズマ有機
重合膜として古(より知られており、例えばジエン(M
、5hen)及びベル(A、T。
By the way, the amorphous carbon film itself is known as a plasma organic polymer film, for example, diene (M
, 5hen) and Bell (A, T.

Be1l)により、1973年発行ののジャーナル・オ
ブ・アプライド・ポリマー・サイエンス(Journa
l  of  Applied  P。
Journal of Applied Polymer Science (Journa Be1l), published in 1973.
l of Applied P.

lymer  5cience)第17巻の第885頁
乃至第892頁において、あらゆる有機化合物のガスか
ら作製され得る事が、また、同著者により、1979年
のアメリカンケミカルンサエテイ  (America
n  ChemicalSociety)発行によるプ
ラズマボリマライゼーシ3ン(Plasma  Pol
ymerization)の中でもその成膜性が論じら
れている。
lymer 5science), Volume 17, pages 885 to 892, the same author also reported in the 1979 American Chemical Society that all organic compounds can be prepared from gases.
Plasma Pol
ymerization), its film formability has been discussed.

しかしながら従来の方法で作製したプラズマ有機重合膜
は絶縁性を前提とした用途に限って用いられ、即ちそれ
らの膜は通常のポリエチレン膜の如<1018Ωcm程
度の比抵抗を有する絶縁膜と考えられ、或は、少なくと
もそのような膜であるとの認識のもとに用いられていた
。実際に電子写真感光体への用途にしても同様の認識か
ら、保護層、接着層、ブロッキング層もしくは絶縁層に
限られており、所謂アンダーコート層もしくはオーバー
コート層としてしか用いられていなかった。
However, plasma organic polymer films prepared by conventional methods are used only for applications that assume insulation properties, that is, they are considered to be insulating films with a specific resistance of about <1018 Ωcm, like ordinary polyethylene films. Or at least it was used with the recognition that it was such a membrane. Due to the same recognition, its actual use in electrophotographic photoreceptors has been limited to protective layers, adhesive layers, blocking layers, or insulating layers, and has only been used as so-called undercoat layers or overcoat layers.

例えば、特開昭59−28161号公報には、基板上に
ブロッキング層及び接着層としてプラズマ重合された網
目構造を有する高分子層を設け、その上にアモルファス
シリコン層を設けた感光体が開示されている。特開昭5
9−38753号公報には、基板上にブロッキング層及
び接着層として酸素と窒素と炭化水素の混合ガスから生
成される1013〜1015Ωcmの高抵抗のプラズマ
重合膜を10人〜100人設けた上にアモルファスシリ
コン層を設けた感光体が開示されている。特開昭59−
’136742号公報には、アルミ基板上に設けたアモ
ルファスシリコン層内へ光照射時にアルミ原子が拡散す
るのを防止するための保護層として1〜5μm程度の炭
素膜を基板表面に形成せしめた感光体が開示されている
。特開昭60−63541号公報には、アルミ基板とそ
の上に設けたアモルファスシリコン層との接着性を改善
するために、接着層として200人〜2μmのダイヤモ
ンド状炭素膜を中間に設けた感光体が開示され、残留電
荷の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされている。
For example, JP-A-59-28161 discloses a photoreceptor in which a plasma-polymerized polymer layer having a network structure is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer, and an amorphous silicon layer is provided thereon. ing. Japanese Patent Application Publication No. 5
Publication No. 9-38753 discloses that a plasma polymerized film with a high resistance of 1013 to 1015 Ωcm, which is generated from a mixed gas of oxygen, nitrogen, and hydrocarbon, is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer by 10 to 100 people. A photoreceptor is disclosed that includes an amorphous silicon layer. Unexamined Japanese Patent Publication 1987-
'136742 discloses a photosensitive material in which a carbon film of approximately 1 to 5 μm is formed on the surface of the substrate as a protective layer to prevent aluminum atoms from diffusing into the amorphous silicon layer provided on the aluminum substrate during light irradiation. The body is revealed. Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-63541 discloses a photosensitive material in which a diamond-like carbon film with a thickness of 200 to 2 μm is provided in the middle as an adhesive layer in order to improve the adhesion between an aluminum substrate and an amorphous silicon layer provided thereon. It is said that the film thickness is preferably 2 μm or less in terms of residual charge.

これらの開示は、何れも基板とアモルファスシリコン層
との間に、所謂アンダーコート層を設けた発明であり、
電荷輸送性についての開示は全くなく、また、a−Si
の有する前記した本質的問題を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called undercoat layer is provided between the substrate and the amorphous silicon layer,
There is no disclosure regarding charge transport properties, and a-Si
However, it does not solve the above-mentioned essential problems.

また、例えば、特開昭50−20728号公報には、ポ
リビニルカルバゾール−セレン系感光体の表面に保護層
としてグロー放電重合によるポリマー膜を0.1〜1μ
m設けた感光体が開示されている。特開昭59−214
859号公報には、アモルファスシリコン感光体の表面
に保護層としてスチレンやアセチレン等の有機炭化水素
モノマーをプラズマ重合きせて5μm程度の膜を形成さ
せる技術が開示されている。特開昭60−61761号
公報には、表面保護層として、500人〜2μmのダイ
ヤモンド状炭素薄膜を設けた感光体が開示され、透光性
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされてている。
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 50-20728 discloses that a polymer film of 0.1 to 1 μm formed by glow discharge polymerization is applied as a protective layer on the surface of a polyvinylcarbazole-selenium photoreceptor.
A photoreceptor is disclosed. Japanese Patent Publication No. 59-214
Japanese Patent No. 859 discloses a technique for forming a protective layer on the surface of an amorphous silicon photoreceptor by plasma polymerizing an organic hydrocarbon monomer such as styrene or acetylene to form a film of about 5 μm. JP-A No. 60-61761 discloses a photoreceptor provided with a diamond-like carbon thin film of 500 to 2 μm as a surface protective layer, and it is said that the film thickness is preferably 2 μm or less in terms of light transmission. ing.

特開昭60−249115号公報には、0.05〜5μ
m程度の無定形炭素または硬質炭素膜を表面保護層とし
て用いる技術が開示され、膜厚が5μmを越えると感光
体活性に悪影響が及ぶとされている。
JP-A-60-249115 discloses that 0.05 to 5μ
A technique has been disclosed in which an amorphous carbon or hard carbon film with a thickness of about 5 μm is used as a surface protective layer, and it is said that if the film thickness exceeds 5 μm, the photoreceptor activity will be adversely affected.

これらの開示は、何れも感光体表面に所謂オーバーコー
ト層を設けた発明であり、電荷輸送性についての開示は
全くなく、また、a−5iの有する前記した本質的問題
を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called overcoat layer is provided on the surface of a photoreceptor, and there is no disclosure of charge transport properties, and they do not solve the above-mentioned essential problems of a-5i. .

また、特開昭51−46130号公報には、ポリビニル
カルバゾール系電子写真感光体の表面にグロー放電重合
を行なって0.001〜3μmのポリマー膜を形成せし
めた電子写真感光板が開示されているが、電荷輸送性に
ついては全く言及されていないし、a−siの持つ前記
した本質的問題を解決するものではない。
Further, JP-A-51-46130 discloses an electrophotographic photosensitive plate in which a polymer film of 0.001 to 3 μm is formed on the surface of a polyvinyl carbazole electrophotographic photoreceptor by glow discharge polymerization. However, there is no mention of charge transport properties at all, and it does not solve the above-mentioned essential problems of a-si.

一方、アモルファスシリコン膜については、スピア(W
、E、5pear)及びレコンバ(P。
On the other hand, regarding the amorphous silicon film, Spear (W
, E, 5pear) and Recomba (P.

G、LeComber)により1976年発行のフィロ
ソフィカル・マガジン(Philosophical 
 Magazine)第33巻の第935頁乃至第94
9頁において、極性制御が可能な材料である事が報じら
れて以来、種々の光電デバイスへの応用が試みられて来
た。感光体への応用に関しては、例えば、特開昭56−
62254号公報、特開昭57−119356号公報、
特開昭57−177147号公報、特開昭57−119
357号公報、特開昭57−177149号公報、特開
昭57−119357号公報、特開昭57−17714
6号公報、特開昭57−177148号公報、特開昭5
7−174448号公報、特開昭57−174449号
公報、特開昭57−174450号公報、等に、炭素原
子を含有したアモルファスシリコン感光体が開示されて
いるが、何れもアモルファスシリコンの光導電性を炭素
原子により調整する事を目的としたものであり、また、
アモルファスシリコン自体厚い膜を必要としている。
Philosophical Magazine published in 1976 by
Magazine) Volume 33, pages 935 to 94
Since it was reported on page 9 that it is a material whose polarity can be controlled, attempts have been made to apply it to various photoelectric devices. Regarding the application to photoreceptors, for example,
No. 62254, Japanese Patent Application Laid-open No. 119356/1983,
JP-A-57-177147, JP-A-57-119
357, JP 57-177149, JP 57-119357, JP 57-17714
Publication No. 6, JP-A-57-177148, JP-A-5
Amorphous silicon photoreceptors containing carbon atoms are disclosed in JP-A No. 7-174448, JP-A-57-174449, JP-A-57-174450, etc., but all of them are amorphous silicon photoconductors. The purpose is to adjust the properties using carbon atoms, and
Amorphous silicon itself requires a thick film.

「が “ しようとす制V占 以上のように、従来、電子写真感光体に用いられている
プラズマ有機重合膜は所謂アンダーコート層もしくはオ
ーバーコート層として使用されていたが、それらはキャ
リアの輸送機能を必要としない膜であって、有機重合膜
が絶縁性で有るとの判断にたって用いられている。従っ
てその膜厚も高々5μm程度の極めて薄い膜としてしか
用いられず、キャリアはトンネル効果で膜中を通過する
か、トンネル効果が期待できない場合には、残留電位の
発生に関して事実上問題にならずに済む程度の薄い膜で
しか用いられていない。また、従来、電子写真に用いら
れているアモルファスシリコン膜は所謂厚膜で使用され
ており、価格或は生産性、等に、不都合な点が多い。
As mentioned above, conventionally, plasma organic polymer films used in electrophotographic photoreceptors have been used as so-called undercoat layers or overcoat layers; It is a film that does not require any function, and is used based on the judgment that the organic polymer film is insulating. Therefore, it can only be used as an extremely thin film with a thickness of about 5 μm at most, and carriers either pass through the film by tunneling effect, or if a tunneling effect cannot be expected, there is virtually no problem with the generation of residual potential. It is only used in thin films that are only small enough to last. Furthermore, amorphous silicon films conventionally used in electrophotography are so-called thick films, which have many disadvantages in terms of cost, productivity, and the like.

本発明者らは、アモルファスカーボン膜の電子写真感光
体への応用を検討しているうちに、本来絶縁性であると
考えられていた水素化アモルファスカーボン膜が酸素原
子とハロゲン原子とを含有せしめる事により、燐原子及
び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してなる水素化
或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜との積
層においては電荷輸送性を有し、容易に好適な電子写真
特性を示し始める事を見出した。その理論的解釈には本
発明者においても不明確な点が多く詳細に亙り言及はで
きないが、酸素原子とハロゲン原子とを含有してなる水
素化アモルファスカーボン膜中に捕捉されている比較的
不安定なエネルギー状態の電子、例えばπ電子、不対電
子、残存フリーラジカル等が形成するバンド構造が、燐
原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してなる
水素化或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜
が形成するバンド構造と電導帯もしくは荷電子帯におい
て近似したエネルギー準位を有するため、燐原子及び硼
素原子のうち少なくとも一方を含有してなる水素化或は
弗素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜中で発生し
たキャリアが容易に酸素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜中へ注入され、ざ
らに、このキャリアは前述の比較的不安定なエネルギー
状態の電子の作用により酸素原子とハロゲン原子とを含
有してなる水素化アモルファスカーボン膜中を好適に走
行し得るためと推定される。
While considering the application of amorphous carbon films to electrophotographic photoreceptors, the present inventors discovered that hydrogenated amorphous carbon films, which were originally thought to be insulating, contained oxygen atoms and halogen atoms. Therefore, when laminated with a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms, it has charge transport properties and easily begins to exhibit suitable electrophotographic properties. I found out. Although the theoretical interpretation has many unclear points even for the present inventors, it is not possible to discuss it in detail. A hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film in which a band structure formed by electrons in a stable energy state, such as π electrons, unpaired electrons, residual free radicals, etc., contains at least one of phosphorus atoms and boron atoms. Because it has a similar energy level in the conduction band or valence band to the band structure formed by Carriers are easily injected into the hydrogenated amorphous carbon film containing oxygen atoms and halogen atoms, and roughly speaking, these carriers are combined with oxygen atoms and halogen atoms due to the action of the electrons in the relatively unstable energy state mentioned above. It is presumed that this is because the hydrogenated amorphous carbon film can run suitably through the hydrogenated amorphous carbon film containing the above.

本発明はその新たな知見を利用することにより、アモル
ファスシリコン感光体の持つ前述の如き本質的問題点を
全て解消し、また従来とは全く使用目的も特性も異なる
、有機プラズマ重合膜、特に酸素原子とハロゲン原子と
を含有してなる水素化アモルファスカーボン膜を電荷輸
送層として使用し、かつ、燐原子及び硼素原子のうち少
なくとも一方を含有してなる水素化或は弗素化アモルフ
ァスシリコンゲルマニウムの薄膜を電荷発生層として使
用した感光体を提供する事を目的とする。
By utilizing this new knowledge, the present invention solves all the above-mentioned essential problems of amorphous silicon photoreceptors, and also uses organic plasma polymerized films, especially oxygen A thin film of hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium using a hydrogenated amorphous carbon film containing atoms and halogen atoms as a charge transport layer, and containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms. It is an object of the present invention to provide a photoreceptor using as a charge generation layer.

丁番を °するための 。For adjusting the hinge.

即ち、本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する機
能分離型感光体において、該電荷輸送層がプラズマ重合
反応から生成きれる少なくとも酸素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜であり
、かつ、該電荷発生層が燐原子及び硼素原子のうち少な
くとも一方を含有してなる水素化或は弗素化アモルファ
スシリコンゲルマニウム膜であることを特徴とする感光
体に関する(以下、本発明による電荷輸送層をa −C
膜及び電荷発生層をa−3i膜と称する)。
That is, the present invention provides a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, in which the charge transport layer is made of hydrogenated amorphous carbon containing at least oxygen atoms and halogen atoms generated through a plasma polymerization reaction. The present invention relates to a photoconductor characterized in that the charge generation layer is a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms (hereinafter referred to as the present invention). charge transport layer by a-C
The film and charge generation layer are referred to as a-3i film).

本発明は、従来のアモルファスシリコン感光体において
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能さえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用していたため発生してい
たこれらの問題点を解決すべく成されたものである。
The present invention was developed because, in conventional amorphous silicon photoreceptors, amorphous silicon, which has an excellent function as a charge generation layer, is also used as a charge transport layer, which requires only charge transport ability even if it does not have charge generation ability. This was done to solve these problems.

即ち、本発明は、電荷輸送層としてグロー放電により生
成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じくグロー放電により生成きれる燐原
子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してなる水
素化或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜を
設けた事を特徴とする機能分離型感光体に関する。該電
荷輸送層は、可視光もしくは半導体レーザー光付近の波
長の光に対しては明確なる光導電性は有きないが、好適
な輸送性を有し、ざらに、帯電能、耐久性、耐候性、耐
環境汚染性等の電子写真感光体性能に優れ、しかも透光
性にも優れるため、機能分離型感光体としての積層構造
を形成する場合においても極めて高い自由度が得られる
ものである。
That is, the present invention provides a hydrogenated amorphous carbon film containing at least oxygen atoms and halogen atoms generated by glow discharge as a charge transport layer, and a hydrogenated amorphous carbon film containing at least oxygen atoms and halogen atoms generated by glow discharge as a charge generation layer. The present invention relates to a functionally separated photoreceptor characterized by being provided with a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film containing at least one of boron atoms. Although the charge transport layer does not have clear photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, it has suitable transport properties, and has good charging ability, durability, and weather resistance. It has excellent electrophotographic photoreceptor performance such as durability and environmental pollution resistance, and is also excellent in light transmission, so it provides an extremely high degree of freedom when forming a laminated structure as a function-separated photoreceptor. .

また、該電荷発生層は、可視光もしくは半導体レーザー
光付近の波長の光に対して優れた光導電性を有し、しか
も従来のアモルファスシリコン感光体に比べて極めて薄
い膜厚で、その機能を活かす事が 本発明においては、
a−C膜を形成するために有機化合物ガス、特に炭化水
素ガスが用いられる。該炭化水素における相状態は常温
常圧において必ずしも気相である必要はなく、加熱或は
減圧等により溶融、蒸発、昇華等を経て気化しうるもの
であれば、液相でも固相でも使用可能である。
In addition, the charge generation layer has excellent photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, and has an extremely thin film thickness compared to conventional amorphous silicon photoreceptors. In the present invention, it is important to take advantage of
Organic compound gases, especially hydrocarbon gases, are used to form the a-C film. The phase state of the hydrocarbon does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is.

使用可能な炭化水素には種類が多いが、飽和炭化水素と
しては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、
ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、デ
カン、ウンデカン、ドデカン、トリデカン、テトラデカ
ン、ペンタデカン、ヘキサコサン、ヘプタコサン、オク
タコサン、ノナデカン、エイコサン、ヘンエイコサン、
トコサン、トリコサン、テトラコサン、ペンタコサン、
ヘキサコサン、ヘプタコサン、オクタコサン、ノナコサ
ン、トリアコンタン、トドリアコンタン、ペンタトリア
コンタン、等のノルマルパラフィン並びに、イソブタン
、イソペンタン、ネオペンタン、イソヘキサン、ネオヘ
キサン、2,3−ジメチルブタン、2−メチルヘキサン
、3−エチルペンタン、2,2−ジメチルペンタン、2
,4−ジメチルペンタン、3.3−ジメチルペンタン、
トリブタン、2−メチルへブタン、3−メチルへブタン
、2,2−ジメチルヘキサン、2,2.5−ジメチルヘ
キサン、2,2.3−トリメチルペンタン、2.2.4
−トリメチルペンタン、2,3゜3−トリメチルペンタ
ン、2.3.4−トリメチルベンタン、イソナノン、等
のイソパラフィン、等が用いられる。不飽和炭化水素と
しては、例えば、エチレン、プロピレン、イソブチレン
、1−ブテン、2−ブテン、1−ペンテン、2−ペンテ
ン、2−メチル−1−ブテン、3−メチル−1−ブテン
、2−メチル−2−ブテン、1−ヘキセン、テトラメチ
ルエチレン、1−ヘプテン、1−オクテン、1−ノネン
、1−デセン、等のオレフィン、並びに、アレン、メチ
ルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、ヘキサジエン、
シクロペンタジェン、等のジオレフィン、並びに、オシ
メン、アロオシメン、ミルセン、ヘキサトリエン、等の
トリオレフイン、並びに、アセチレン、ブタジイン、1
゜3−ペンタジイン、2.4−へキサジイン、メチルア
セチレン、1−ブチン、2−ブチン、1−ペンチン、1
−ヘキシン、1−ヘプチン、1−オクチン、1−ノニン
、1−デシン、等が用いられる。
There are many types of hydrocarbons that can be used, but examples of saturated hydrocarbons include methane, ethane, propane, butane,
Pentane, hexane, heptane, octane, nonane, decane, undecane, dodecane, tridecane, tetradecane, pentadecane, hexacosane, heptacosane, octacosane, nonadecane, eicosane, heneicosane,
tocosan, tricosane, tetracosan, pentacosan,
Normal paraffins such as hexacosane, heptacosane, octacosane, nonacosane, triacontane, todoriacontane, pentatriacontane, etc., as well as isobutane, isopentane, neopentane, isohexane, neohexane, 2,3-dimethylbutane, 2-methylhexane, 3- Ethylpentane, 2,2-dimethylpentane, 2
, 4-dimethylpentane, 3.3-dimethylpentane,
Tributane, 2-methylhebutane, 3-methylhebutane, 2,2-dimethylhexane, 2,2.5-dimethylhexane, 2,2.3-trimethylpentane, 2.2.4
Isoparaffins such as -trimethylpentane, 2,3°3-trimethylpentane, 2.3.4-trimethylbentane, isonanone, etc. are used. Examples of unsaturated hydrocarbons include ethylene, propylene, isobutylene, 1-butene, 2-butene, 1-pentene, 2-pentene, 2-methyl-1-butene, 3-methyl-1-butene, 2-methyl -Olefins such as 2-butene, 1-hexene, tetramethylethylene, 1-heptene, 1-octene, 1-nonene, 1-decene, and allene, methylalene, butadiene, pentadiene, hexadiene,
Diolefins such as cyclopentadiene, triolefins such as ocimene, allocimene, myrcene, hexatriene, acetylene, butadiyne, etc.
゜3-pentadiyne, 2.4-hexadiyne, methylacetylene, 1-butyne, 2-butyne, 1-pentyne, 1
-Hexyne, 1-heptyne, 1-octyne, 1-nonine, 1-decyne, etc. are used.

脂環式炭化水素としては、例えば、シクロプロパン、シ
クロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロノナン、シクロデカ
ン、シクロウンデカン、シクロドデカン、シクロウンデ
カン、シクロテトラテ。
Examples of alicyclic hydrocarbons include cyclopropane, cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cyclohebutane, cyclooctane, cyclononane, cyclodecane, cycloundecane, cyclododecane, cycloundecane, and cyclotetrate.

カン、シクロペンタデカン、シクロヘキサデカン、等の
シクロパラフィン並びに、シクロプロペン、シクロブテ
ン、シクロペンテン、シクロヘキセン、シクロヘプテン
、シクロオクテン、シクロノネン、シクロデセン、等の
シクロオレフィン並びに、リモネン、テルピノレン、フ
エランドレン、シルベストレン、ツエン、カレン、ピネ
ン、ボルニレン、カンフエン、フェンチェン、シクロウ
ンデカン、トリシクレン、ビサボレン、ジンギベレン、
クルクメン、フムレン、カジネンセスキベニヘン、セリ
ネン、カリオフィレン、サンタレン、セドレン、カンホ
レン、フィロクラテン、ボドカルブレン、ミレン、等の
テルペン並びに、ステロイド等が用いられる。芳香族炭
化水素としては、例えば、ベンゼン、トルエン、キシレ
ン、ヘミメリテン、プソイドクメン、メシチレン、プレ
ニテン、イソジュレン、ジュレン、ペンタメチルベンゼ
ン、ヘキサメチルベンゼン、エチルベンゼン、プロピル
ベンゼン、クメン、スチレン、ビフェニル、テルフェニ
ル、ジフェニルメタン、トリフェニルメタン、ジベンジ
ル、スチルベン、インデン、ナフタリン、テトラリン、
アントラセン、フェナントレン、等が用いられる。
Cycloparaffins such as can, cyclopentadecane, cyclohexadecane, cycloolefins such as cyclopropene, cyclobutene, cyclopentene, cyclohexene, cycloheptene, cyclooctene, cyclononene, cyclodecene, limonene, terpinolene, phelandrene, silvestrene, thuene, karene. , pinene, bornylene, camphuene, fenchen, cycloundecane, tricyclene, bisabolene, zingiberene,
Terpenes such as curcumene, humulene, kajinensesesquivenichen, selinene, caryophyllene, santarene, cedrene, campholene, phylloclatene, bodocarbrene, mirene, and steroids are used. Examples of aromatic hydrocarbons include benzene, toluene, xylene, hemimelithene, pseudocumene, mesitylene, prenitene, isodurene, durene, pentamethylbenzene, hexamethylbenzene, ethylbenzene, propylbenzene, cumene, styrene, biphenyl, terphenyl, diphenylmethane. , triphenylmethane, dibenzyl, stilbene, indene, naphthalene, tetralin,
Anthracene, phenanthrene, etc. are used.

ざらに、炭化水素以外でも、例えば、アルコール類、ケ
トン類、エーテル類、エステル類、等炭素と成りうる化
合物であれば使用可能である。
In general, any compound other than hydrocarbons that can be converted into carbon, such as alcohols, ketones, ethers, and esters, can be used.

本発明におけるa −C膜中に含まれる水素原子の量は
グロー放電を用いるというその製造面から必然的に定ま
るが、炭素原子と水素原子の総量に対して、概ね30乃
至60原子%含有きれる。ここで、炭素原子並びに水素
原子の膜中含有量は、有機元素分析の常法、例えばCN
H分析を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms contained in the a-C film of the present invention is inevitably determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but it is approximately 30 to 60 at% of the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. . Here, the content of carbon atoms and hydrogen atoms in the film is determined by a conventional method of organic elemental analysis, for example, CN
This can be determined by using H analysis.

本発明におけるa−C膜中に含まれる水素原子の量は、
成膜装置の形態並びに成膜時の条件により変化するが、
例えば、基板温度を高くする、圧力を低くする、原料炭
化水素ガスの希釈率を低(する、印加電力を高くする、
交番電界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめた
直流電界強度を高くする、等の手段、或は、これらの組
合せ操作は、含有水素量を低くする効果を有する。
The amount of hydrogen atoms contained in the a-C film in the present invention is
It varies depending on the form of the film-forming equipment and the conditions during film-forming, but
For example, increasing the substrate temperature, lowering the pressure, lowering the dilution rate of the raw material hydrocarbon gas, increasing the applied power,
Measures such as lowering the frequency of the alternating electric field, increasing the strength of the DC electric field superimposed on the alternating electric field, or a combination thereof have the effect of lowering the amount of hydrogen contained.

本発明における電荷輸送層としてのa −C膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、5乃至5
0μm1特に7乃至20umが適当であり、5μmより
薄いと、帯電電位が低いため充分な複写画像濃度を得る
事ができない。また、50μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。
The thickness of the a-C film as the charge transport layer in the present invention is 5 to 5
A suitable thickness is 0 μm, especially 7 to 20 μm, and if it is thinner than 5 μm, sufficient copying image density cannot be obtained because the charging potential is low. Moreover, if it is thicker than 50 μm, it is not preferable in terms of productivity.

このa−C膜は、高透光性、高暗抵抗を有するとともに
電荷輸送性に富み、膜厚を上記の様に5μm以上として
もキャリアはトラップされる事無く輸送され明減衰に寄
与する事が可能である。
This a-C film has high light transmittance, high dark resistance, and is rich in charge transport properties, and even if the film thickness is 5 μm or more as mentioned above, carriers are transported without being trapped and contribute to bright attenuation. is possible.

本発明における原料気体からa −C膜を形成する過程
としては、原料気体が、直流、低周波、高周波、或はマ
イクロ波等を用いたプラズマ法により生成されるプラズ
マ状態を経て形成きれる方法が最も好ましいが、その他
にも、イオン化蒸着法、或はイオンビーム蒸着法等によ
り生成されるイオン状態を経て形成されてもよいし、真
空蒸着法、或はスパッタリング法等により生成される中
性粒子から形成されてもよいし、さらには、これらの組
み合わせにより形成されてもよい。
In the process of forming the a-C film from the raw material gas in the present invention, there is a method in which the raw material gas is formed through a plasma state generated by a plasma method using direct current, low frequency, high frequency, microwave, etc. Most preferably, neutral particles may also be formed through an ion state generated by ionization vapor deposition, ion beam vapor deposition, etc., or neutral particles generated by vacuum vapor deposition, sputtering, etc. or a combination thereof.

本発明においては炭化水素の他に、a −C膜中に少な
くとも酸素原子を添加するために酸素化合物が使用され
る。該酸素化合物における相状態は常温常圧において必
ずしも気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶
融、蒸発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相
でも同相でも使用可能である。酸素化合物としては、例
えば、酸素、オゾン、水蒸気、−酸化炭素、二酸化炭素
、亜酸化炭素、等の無機化合物、水酸基(−OH) 、
アルデヒド基(−COH) 、7’シ)It基(RCO
−、−CRO) 、ケトン基(>Co)、エーテル結合
(−〇−)、エステル結合(−Coo−) 、酸素を含
む複素環、等の官能基或は結合を有する有機化合物、等
が用いられる。水酸基を有する有機化合物としては、例
えば、メタノール、エタノール、プロパツール、ブタノ
ール、フリルアルコール、フルオロエタノール、フルオ
ロブタノール、フェノール、シクロヘキサノール、ベン
ジルアルコール、フルフリルアルコール、等が用いられ
る。アルデヒド基を有する有機化合物としては、例えば
、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオアル
デヒド、ブチルアルデヒド、グリオキサール、アクロレ
イン、ベンズアルデヒド、フルフラール、等が用いられ
る。アシル基を有する有機化合物としては、例えば、ギ
酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、バルミチン酸
、ステアリン酸、オレイン酸、シュウ酸、マロン酸、コ
ハク酸、安思香酸、トルイル酸、サリチル酸、ケイと酸
、ナフトエ酸、フタル酸、フラン酸、等が用いられる。
In the present invention, in addition to hydrocarbons, oxygen compounds are used to add at least oxygen atoms into the a-C film. The phase state of the oxygen compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or the same phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. be. Examples of oxygen compounds include oxygen, ozone, water vapor, -carbon oxide, carbon dioxide, carbon suboxide, and other inorganic compounds, hydroxyl groups (-OH),
Aldehyde group (-COH), 7'It group (RCO
-, -CRO), a ketone group (>Co), an ether bond (-〇-), an ester bond (-Coo-), an oxygen-containing heterocycle, or an organic compound having a functional group or bond, etc. It will be done. As the organic compound having a hydroxyl group, for example, methanol, ethanol, propatool, butanol, furyl alcohol, fluoroethanol, fluorobutanol, phenol, cyclohexanol, benzyl alcohol, furfuryl alcohol, etc. are used. Examples of the organic compound having an aldehyde group include formaldehyde, acetaldehyde, propionaldehyde, butyraldehyde, glyoxal, acrolein, benzaldehyde, and furfural. Examples of organic compounds having an acyl group include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, valmitic acid, stearic acid, oleic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, benzoic acid, toluic acid, and salicylic acid. , silica and acid, naphthoic acid, phthalic acid, furanic acid, etc. are used.

ケトン基を有する有機化合物としては、例えば、アセト
ン、エチルメチルケトン、メチルプロピルケトン、ブチ
ルメチルケトン、ビナコロン、ジエチルケトン、メチル
ビニルケトン、メシチルオキシド、メチルへブテノン、
シクロブタノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン
、アセトフェノン、プロピオフェノン、ブチロフェノン
、パレロフエノン、ジベンジルケトン、アセトナフトン
、アセトチェノン、アセトフロン、等が用いられる。エ
ーテル結合を有する有機化合物としては、例えば、メチ
ルエーテル、エチルエーテル、プロピルエーテル、ブチ
ルエーテル、アミルエーテル、エチルメチルエーテル、
メチルプロピルエーテル、メチルブチルエーテル、メチ
ルアミルエーテル、エチルプロピルエーテル、エチルブ
チルエーテル、エチルアミルエーテル、ビニルエーテル
、アリルエーテル、メチルビニルエーテル、メチルフリ
ルエーテル、エチルビニルエーテル、エチルフリルエー
テル、アニソール、フエネトール、フェニルエーテル、
ベンジルエーテル、フェニルベンジルエーテル、ナフチ
ルエーテル、酸化エチレン、酸化プロピレン、酸化トリ
メチレン、テトラヒドロフラン、テトラヒドロビラン、
ジオキサン、等が用いられる。エステル結合を有する有
機化合物としては、例えば、ギ酸メチル、ギ酸エチル、
ギ酸プロピル、ギ酸ブチル、ギ酸アミル、酢酸メチル、
酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、酢酸アミル、
プロピオン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン
酸プロピル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸アミル
、酪酸メチル、酪酸エチル、酪酸プロピル、酪酸ブチル
、酪酸アミル、吉草酸メチル、吉草酸エチル、吉草酸プ
ロピル、吉草酸ブチル、吉草酸アミル、安息香酸メチル
、安息香酸エチル、ケイ皮酸メチル、ケイ皮酸エチル、
ケイ皮酸プロピル、サリチル酸メチル、サリチル酸エチ
ル、サリチル酸プロピル、サリチル酸ブチル、サリチル
酸アミル、アントラニル酸メチル、アントラニル酸エチ
ル、アントラニル酸ブチル、アントラニル酸アミル、フ
タル酸メチル、フタル酸エチル、フタル酸ブチル、等が
用いられる。酸素を含む複素環化合物としては、フラン
、オキサゾール、フラザン、ピラン、オキサジン、モル
ホリン、ベンゾフラン、バンゾオキサゾール、クロメン
、クロマン、ジベンゾフラン、キサンチン、フェノキサ
ジン、オキソラン、ジオキソラン、オキサチオラン、オ
キサジアジン、ベンゾイソオキサゾール、等が用いられ
る。
Examples of organic compounds having a ketone group include acetone, ethyl methyl ketone, methyl propyl ketone, butyl methyl ketone, binacolon, diethyl ketone, methyl vinyl ketone, mesityl oxide, methyl hebutenone,
Cyclobutanone, cyclopentanone, cyclohexanone, acetophenone, propiophenone, butyrophenone, parellophenone, dibenzylketone, acetonaphtone, acetochenone, acetofuron, etc. are used. Examples of organic compounds having an ether bond include methyl ether, ethyl ether, propyl ether, butyl ether, amyl ether, ethyl methyl ether,
Methyl propyl ether, methyl butyl ether, methyl amyl ether, ethyl propyl ether, ethyl butyl ether, ethyl amyl ether, vinyl ether, allyl ether, methyl vinyl ether, methyl furyl ether, ethyl vinyl ether, ethyl furyl ether, anisole, phenetol, phenyl ether,
Benzyl ether, phenylbenzyl ether, naphthyl ether, ethylene oxide, propylene oxide, trimethylene oxide, tetrahydrofuran, tetrahydrobilane,
Dioxane, etc. are used. Examples of organic compounds having an ester bond include methyl formate, ethyl formate,
Propyl formate, butyl formate, amyl formate, methyl acetate,
Ethyl acetate, propyl acetate, butyl acetate, amyl acetate,
Methyl propionate, ethyl propionate, propyl propionate, butyl propionate, amyl propionate, methyl butyrate, ethyl butyrate, propyl butyrate, butyl butyrate, amyl butyrate, methyl valerate, ethyl valerate, propyl valerate, butyl valerate , amyl valerate, methyl benzoate, ethyl benzoate, methyl cinnamate, ethyl cinnamate,
Propyl cinnamate, methyl salicylate, ethyl salicylate, propyl salicylate, butyl salicylate, amyl salicylate, methyl anthranilate, ethyl anthranilate, butyl anthranilate, amyl anthranilate, methyl phthalate, ethyl phthalate, butyl phthalate, etc. used. Examples of heterocyclic compounds containing oxygen include furan, oxazole, furazane, pyran, oxazine, morpholine, benzofuran, banzoxazole, chromene, chroman, dibenzofuran, xanthine, phenoxazine, oxolane, dioxolane, oxathiolane, oxadiazine, benzisoxazole, etc. are used.

本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子の量は、全構成原子に対して7.0原′子%以下であ
る。ここで酸素原子の膜中含有量は、元素分析の常法、
例えばオージェ分析により知る事がで参る。酸素原子の
量が7.0原子%より高い場合には、少量の添加では好
適な輸送性を保証していた酸素原子が、逆に膜の低抵抗
化を招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。また、酸
素源ガスの一部のもの、例えば、酸素ガス、オゾンガス
、−酸化炭素ガス等においては、エツチング効果が強く
現れ、その流量を増やす事により酸素原子の膜中への添
加量を増加きせようとすると、成膜速度が低下し、ある
程度の膜厚が必要とされる電荷輸送層の成膜においては
不都合となる。従って、本発明における酸素原子添加量
の範囲は重要である。
In the present invention, the amount of oxygen atoms contained as a chemical modifier is 7.0 atom % or less based on the total constituent atoms. Here, the content of oxygen atoms in the film is determined by the standard method of elemental analysis.
For example, we can learn this through Auger analysis. When the amount of oxygen atoms is higher than 7.0 at%, the oxygen atoms, which had ensured suitable transport properties when added in small amounts, conversely exhibit the effect of lowering the resistance of the film, resulting in a decrease in charging ability. will come. In addition, some oxygen source gases, such as oxygen gas, ozone gas, and carbon oxide gas, have a strong etching effect, and by increasing their flow rate, the amount of oxygen atoms added to the film can be increased. If this is attempted, the film formation rate decreases, which is inconvenient when forming a charge transport layer that requires a certain thickness. Therefore, the range of the amount of oxygen atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への前述
の酸素化合物の導入量を増減することにより11I御す
ることが可能である。酸素化合物の導入量を増大させれ
ば、本発明によるa−C膜中への酸素原子の添加量を高
くすることが可能であり、逆に酸素化合物の導入量を減
少させれば、本発明によるa −C膜中への酸素原子の
添加量を低くすることが可能である。
In the present invention, the amount of oxygen atoms contained as a chemical modifier can be controlled mainly by increasing or decreasing the amount of the aforementioned oxygen compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. By increasing the amount of oxygen compounds introduced, it is possible to increase the amount of oxygen atoms added to the a-C film according to the present invention, and conversely, by decreasing the amount of oxygen compounds introduced, the amount of oxygen atoms added to the a-C film according to the present invention can be increased. It is possible to reduce the amount of oxygen atoms added to the a-C film due to the a-C film.

本発明においては炭化水素の他に、a −Clll中に
少なくともハロゲン原子を添加するためにハロゲン化合
物が使用される。ここでハロゲン原子とは、弗素原子、
塩素原子、臭素原子、及び沃素原子をいう。該ハロゲン
化合物における相状態は常温常圧において必ずしも気相
である必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸発、
昇華等を経て気化しうるものであれば、液相でも固相で
も使用可能である。ハロゲン化合物としては、例えば、
弗素、塩素、臭素、沃素、弗化水素、弗化塩素、弗化臭
素、弗化沃素、塩化水素、塩化臭素、塩化沃素、臭化水
素、臭化沃素、沃化水素、等の無機化合物、ハロゲン化
アルキル、ハロゲン化アリール、へ〇ゲ化スチレン、ハ
ロゲン化ポリメチレン、ハロホルム、等の有機化合物が
用いられる。ハロゲン化アルキルとしては、例えば、フ
ッ化メチル、塩化メチル、臭化メチル、ヨウ化メチル、
フッ化エチル、塩化エチル、臭化エチル、ヨウ化エチル
、フッ化プロピル、塩化プロピル、臭化プロピル、ヨウ
化プロピル、フッ化ブチル、塩化ブチル、臭化ブチル、
ヨウ化ブチル、フッ化アミル、塩化アミル、臭化アミル
、ヨウ化アミル、フッ化ヘキシル、塩化ヘキシル、臭化
ヘキシル、ヨウ化ヘキシル、フッ化ヘプチル、塩化へブ
チル、臭化へブチル、ヨウ化ヘプチル、フッ化オクチル
、塩化オクチル、臭化オクチル、ヨウ化オクチル、フッ
化ノニル、塩化ノニル、臭化ノニル、ヨウ化ノニル、フ
ッ化デシル、塩化デシル、臭化デシル、ヨウ化デシル、
等が用いられる。ハロゲン化アリールとしては、例えば
、フルオルベンゼン、クロルベンゼン、ブロムベンゼン
、ヨードベンゼン、クロルトルエン、ブロムトルエン、
クロルナフタリン、ブロムナフタリン、等が用いられる
。ハロゲン化スチレンとしては、例えば、クロルスチレ
ン、ブロムスチレン、ヨードスチレン、フルオルスチレ
ン、等が用いられる。ハロゲン化ポリメチレンとしては
、例えば、塩化メチレン、臭化メチレン、ヨウ化メチレ
ン、塩化エチレン、臭化エチレン、ヨウ化エチレン、塩
化トリメチレン、臭化トリメチレン、ヨウ化トリメチレ
ン、ジ塩化ブタン、ジ臭化ブタン、ショウ化ブタン、ジ
塩化ペンタン、ジ臭化ペンタン、ショウ化ペンタン、ジ
塩化ヘキサン、ジ臭化ヘキサン、ジヨウ化ヘキサン、ジ
塩化へブタン、ジ臭化へブタン、ショウ化へブタン、ジ
塩化オクタン、ジ臭化オクタン、ショウ化オクタン、ジ
塩化ノナン、ジ臭化ノナン、ジ塩化デカン、ジヨウ化デ
カン、等が用いられる。へロホルムとしては、例えば、
フルオロホルム、クロロホルム、ブロモホルム、ヨード
ホルム、等が用いられる。
In the present invention, in addition to hydrocarbons, halogen compounds are used to add at least halogen atoms to a-Clll. Here, halogen atoms include fluorine atoms,
Refers to chlorine atoms, bromine atoms, and iodine atoms. The phase state of the halogen compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and pressure, but can be melted, evaporated, or evaporated by heating or reduced pressure.
As long as it can be vaporized through sublimation or the like, either liquid phase or solid phase can be used. Examples of halogen compounds include:
Inorganic compounds such as fluorine, chlorine, bromine, iodine, hydrogen fluoride, chlorine fluoride, bromine fluoride, iodine fluoride, hydrogen chloride, bromine chloride, iodine chloride, hydrogen bromide, iodine bromide, hydrogen iodide, etc. Organic compounds such as alkyl halide, aryl halide, styrene halide, polymethylene halide, and haloform are used. Examples of alkyl halides include methyl fluoride, methyl chloride, methyl bromide, methyl iodide,
Ethyl fluoride, ethyl chloride, ethyl bromide, ethyl iodide, propyl fluoride, propyl chloride, propyl bromide, propyl iodide, butyl fluoride, butyl chloride, butyl bromide,
Butyl iodide, amyl fluoride, amyl chloride, amyl bromide, amyl iodide, hexyl fluoride, hexyl chloride, hexyl bromide, hexyl iodide, heptyl fluoride, hebutyl chloride, hebutyl bromide, heptyl iodide , octyl fluoride, octyl chloride, octyl bromide, octyl iodide, nonyl fluoride, nonyl chloride, nonyl bromide, nonyl iodide, decyl fluoride, decyl chloride, decyl bromide, decyl iodide,
etc. are used. Examples of the halogenated aryl include fluorobenzene, chlorobenzene, bromobenzene, iodobenzene, chlorotoluene, bromotoluene,
Chlornaphthalene, bromnaphthalene, etc. are used. As the halogenated styrene, for example, chlorstyrene, bromustyrene, iodostyrene, fluorostyrene, etc. are used. Examples of halogenated polymethylene include methylene chloride, methylene bromide, methylene iodide, ethylene chloride, ethylene bromide, ethylene iodide, trimethylene chloride, trimethylene bromide, trimethylene iodide, butane dichloride, butane dibromide, Butane dichloride, pentane dichloride, pentane dibromide, pentane dichloride, hexane dichloride, hexane dibromide, hexane diiodide, hebutane dichloride, hebutane dibromide, hebutane dichloride, octane dichloride, Octane dibromide, octane shoide, nonane dichloride, nonane dibromide, decane dichloride, decane diiodide, etc. are used. Examples of heroform include:
Fluoroform, chloroform, bromoform, iodoform, etc. are used.

本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、全構成原子に対して0゜1乃至25原子
%である。ここで、膜中に含有されるハロゲン原子の量
は、元素分析の常法、例えばオージェ分析により知る事
ができる。ハロゲン原子の量が0.1原子%より低い場
合には、必ずしも好適な電荷輸送性が保証されず、感度
低下もしくは残留電位の発生等を生じ易くなり、また、
経時的感度安定性も保証されなくなる。ハロゲン原子の
量が25原子%より高い場合には、amの添加では好適
な電荷輸送性と残留電位発生防止を保証していたハロゲ
ン原子が、逆に、帯電能の低下、ざらには経時後の暗抵
抗を低くする作用を示し、数カ月単位の保管中に電荷保
持能の低下を招く。また、必ずしも成膜性が保証されな
くなり、膜の剥離、油状化もしくは粉体化を招く。従っ
て、本発明におけるハロゲン原子添加量の範囲は重要で
ある。
In the present invention, the amount of halogen atoms contained as a chemical modifier is 0.1 to 25 at.% based on the total constituent atoms. Here, the amount of halogen atoms contained in the film can be determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis. If the amount of halogen atoms is lower than 0.1 atomic %, suitable charge transport properties are not necessarily guaranteed, and sensitivity decreases or residual potential is likely to occur, and
Sensitivity stability over time is also no longer guaranteed. When the amount of halogen atoms is higher than 25 at %, the halogen atoms, which had guaranteed suitable charge transport properties and prevention of residual potential generation with the addition of am, will conversely cause a decrease in charging ability and, more particularly, after aging. It has the effect of lowering the dark resistance of the cell, leading to a decrease in charge retention ability during storage for several months. Furthermore, film-forming properties are not necessarily guaranteed, leading to peeling of the film, oily state, or powdery state. Therefore, the range of the amount of halogen atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有きれるハロゲ
ン原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への
前述のハロゲン化合物の導入量を増減することにより制
御することが可能である。
In the present invention, the amount of halogen atoms that can be contained as a chemical modifier can be controlled mainly by increasing or decreasing the amount of the halogen compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed.

ハロゲン化合物の導入量を増大させれば、本発明による
a−C膜中へのハロゲン原子の添加量を高くすることが
可能であり、逆にハロゲン化合物の導入量を減少させれ
ば、本発明によるa −C膜中へのハロゲン原子の添加
量を低くすることが可能である。
By increasing the amount of halogen compound introduced, it is possible to increase the amount of halogen atoms added to the a-C film according to the present invention, and conversely, by decreasing the amount of halogen compound introduced, it is possible to increase the amount of halogen atoms added to the a-C film according to the present invention. It is possible to reduce the amount of halogen atoms added to the a-C film.

本発明においては、a−3i膜を形成するためにシラン
ガス、ジシランガス、或は、弗化シランガスが用いられ
る。また、化学的修飾物質として燐原子或は硼素原子を
膜中に含有せしめるための原料ガスとして、ホスフィン
ガス或はジボランガスが用いられる。また、ゲルマニウ
ム原子を含有させるために、ゲルマンガスが用いられる
In the present invention, silane gas, disilane gas, or fluorinated silane gas is used to form the a-3i film. Furthermore, phosphine gas or diborane gas is used as a raw material gas for incorporating phosphorus atoms or boron atoms as chemical modifiers into the film. Furthermore, germane gas is used to contain germanium atoms.

本発明におけるa−3i膜中に含有されるゲルマニウム
原子の含有量は、シリコン原子とゲルマニウム原子との
総和に対して、30原子%以下が好ましい。ここで、ゲ
ルマニウム原子及びシリコン原子の含有率は、元素分析
の常法、例えばオージェ分析により知る事ができる。ゲ
ルマニウム原子の含有量は、膜形成時に流入するゲルマ
ンガスの流量を増加する事により高くなる。ゲルマニウ
ム原子の含有量が高くなるにつれ本発明感光体の長波長
感度は向上し、短波長領域から長波長領域にまで幅広(
露光源が選択され得るようになり好ましいが、ゲルマニ
ウム原子が30原子%より多(含有されると帯電能の低
下を招くため、過剰の添加は好ましくない。従って、本
発明におけるa−8i膜中に含有されるゲルマニウム原
子の含有量は重要である。
The content of germanium atoms contained in the a-3i film in the present invention is preferably 30 at % or less with respect to the total of silicon atoms and germanium atoms. Here, the contents of germanium atoms and silicon atoms can be determined by a conventional method of elemental analysis, for example, Auger analysis. The content of germanium atoms can be increased by increasing the flow rate of germane gas flowing during film formation. As the content of germanium atoms increases, the long-wavelength sensitivity of the photoreceptor of the present invention improves, and the sensitivity increases over a wide range from the short wavelength region to the long wavelength region (
Although it is preferable because the exposure source can be selected, it is not preferable to add germanium atoms in an amount greater than 30 at % (because if it is contained, the charging ability will be lowered. Therefore, in the a-8i film in the present invention, The content of germanium atoms contained in is important.

本発明において化学的修飾物質として含有される燐原子
或は硼素原子の量は、全構成原子に対して20000原
子ppm以下である。ここで燐原子或は硼素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析或はI
MA分析により知る事ができる。燐原子或は硼素原子の
膜中含有量が20000原子ppmより高い場合には、
少量の添加では好適な輸送性、或は、極性i!ftal
l効果を保証していた燐原子或は硼素原子が、逆に膜の
低抵抗化を招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。従
って、本発明における燐原子或は硼素原子添加量の範囲
は重要である。
In the present invention, the amount of phosphorus atoms or boron atoms contained as a chemical modifier is 20,000 atomic ppm or less based on all constituent atoms. Here, the content of phosphorus atoms or boron atoms in the film is determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis or I
This can be known through MA analysis. When the content of phosphorus atoms or boron atoms in the film is higher than 20,000 atomic ppm,
When added in small amounts, suitable transport properties or polar i! ftal
Phosphorus atoms or boron atoms, which had guaranteed the L effect, conversely exhibit an effect that lowers the resistance of the film, resulting in a decrease in charging ability. Therefore, the range of the amount of phosphorus atoms or boron atoms added in the present invention is important.

本発明におけるa−Si膜中に含まれる水素原子或は弗
素原子の量はグロー放電を用いるというその製造面から
必然的に定まるが、シリコン原子と水素原子或はシリコ
ン原子と弗素原子の総量に対して、概ね10乃至35原
子%含有きれる。ここで、水素原子或は弗素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばONH分析、オージ
ェ分析等を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms or fluorine atoms contained in the a-Si film of the present invention is necessarily determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but the total amount of silicon atoms and hydrogen atoms or silicon atoms and fluorine atoms On the other hand, the content can be approximately 10 to 35 at%. Here, the content of hydrogen atoms or fluorine atoms in the film can be determined by using conventional methods of elemental analysis, such as ONH analysis and Auger analysis.

本発明における電荷発生層としてのa−5i膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、0.1乃
至5μmが適当であり、0.1μmより薄いと、光吸収
が不十分となり充分な電荷発生が行なわれなくなり、感
度の低下を招く。また、5μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。このa−Si膜は電荷発生能に富み、
さらに、本発明の最も特徴とするところのa −C膜と
の積層構成において効率よ<a−C膜中に発生キャリア
を注入せしめ、好適な明減衰に寄与する事が可能である
The appropriate thickness of the a-5i film as the charge generation layer in the present invention is 0.1 to 5 μm for use in a normal electrophotographic process, and if it is thinner than 0.1 μm, light absorption is insufficient. As a result, sufficient charge generation is not performed, resulting in a decrease in sensitivity. Moreover, if it is thicker than 5 μm, it is not preferable in terms of productivity. This a-Si film has a rich charge generation ability,
Furthermore, in the laminated structure with the a-C film, which is the most characteristic feature of the present invention, generated carriers can be efficiently injected into the a-C film, contributing to suitable bright attenuation.

本発明における原料気体からa−5i膜を形成する過程
は、a−C膜を形成する場合と同様にして行なわれる。
The process of forming the a-5i film from the raw material gas in the present invention is carried out in the same manner as the case of forming the a-C film.

本発明において化学的修飾物質として含有される燐原子
或はEllll累原子の量は、主に、プラズマ反応を行
なう反応室への前述のホスフィンガス或はジボランガス
の導入量を増減することにより制御することが可能であ
る。ボスフィンガス或はジボランガスの導入量を増大さ
せれば、本発明によるa−Si膜中への燐原子或は硼素
原子の添加量を高くすることが可能であり、逆にホスフ
ィンガス或はジボランガスの導入量を減少させれば、本
発明によるa−Si膜中への燐原子或は硼素原子の添加
量を低くすることが可能である。
In the present invention, the amount of phosphorus atoms or Ellll atoms contained as a chemical modifier is mainly controlled by increasing or decreasing the amount of the aforementioned phosphine gas or diborane gas introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. Is possible. By increasing the amount of phosphine gas or diborane gas introduced, it is possible to increase the amount of phosphorus atoms or boron atoms added to the a-Si film according to the present invention. By reducing the amount of phosphorus atoms or boron atoms introduced into the a-Si film according to the present invention, it is possible to reduce the amount of phosphorus atoms or boron atoms added to the a-Si film according to the present invention.

本発明における感光体は、電荷発生層と電荷輸送層から
成る機能分離型の構成とするのが最適で、該電荷発生層
と該電荷輸送層の積層構成は、必要に応じて適宜選択す
ることが可能である。
It is optimal for the photoreceptor in the present invention to have a functionally separated structure consisting of a charge generation layer and a charge transport layer, and the laminated structure of the charge generation layer and the charge transport layer may be appropriately selected as necessary. is possible.

第1図は、その一形態として、導電性基板(1)上に電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)を順次積層してなる
構成を示したものである。第2図は、別の一形態として
、導電性基板(1)上に電荷発生層(3)と電荷輸送層
(2)を順次積層してなる構成を示したものである。第
3図は、別の一形態として、導電性基板(1)上に、電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。
FIG. 1 shows, as one embodiment, a structure in which a charge transport layer (2) and a charge generation layer (3) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 2 shows, as another embodiment, a structure in which a charge generation layer (3) and a charge transport layer (2) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 3 shows, as another embodiment, a charge transport layer (2), a charge generation layer (3), and a charge transport layer (2) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which these are sequentially laminated.

感光体表面を、例えばコロナ帯電器等により正帯電した
後、画像露光して使用する場合においては、第1図では
電荷発生層(3)で発生した正孔が電荷輸送層(2)中
を導電性基板(1)に向は走行し、第2図では電荷発生
N(3)で発生した電子が電荷輸送層(2)中を感光体
表面に向は走行し、第3図では電荷発生層(3)で発生
した正孔が導電性基板側の電荷輸送層(2)中を導電性
基板(1)に向は走行すると共に、同時に電荷発生層(
3)で発生した電子が表面側の電荷輸送層(2)中を感
光体表面に向は走行し、好適な明減衰に保証された静電
潜像の形成が行なわれる。反対に感光体表面を負帯電し
た後、画像露光して使用する場合においては、電子と正
孔の挙動を入れ代えて、キャリアーの走行性を解すれば
よい。第2図及び第3図では、画像露光用の照射光が電
荷輸送層中を通過する事になるが、本発明による電荷輸
送層は透光性に優れることから、好適な潜像形成を行な
うことが可能である。
When the surface of the photoreceptor is positively charged using a corona charger or the like and then used for image exposure, in FIG. 1, holes generated in the charge generation layer (3) pass through the charge transport layer (2). Electrons travel toward the conductive substrate (1), and in Figure 2, electrons generated by charge generation N (3) travel through the charge transport layer (2) toward the surface of the photoreceptor; Holes generated in the layer (3) travel toward the conductive substrate (1) through the charge transport layer (2) on the conductive substrate side, and at the same time travel through the charge generation layer (2) toward the conductive substrate (1).
The electrons generated in step 3) travel toward the surface of the photoreceptor through the charge transport layer (2) on the front side, forming an electrostatic latent image guaranteed to have suitable brightness attenuation. On the other hand, when the surface of the photoreceptor is negatively charged and then used for image exposure, the behavior of electrons and holes can be exchanged to understand the mobility of carriers. In FIGS. 2 and 3, the irradiation light for image exposure passes through the charge transport layer, but since the charge transport layer according to the present invention has excellent translucency, it forms a suitable latent image. Is possible.

第4図は、さらなる一形態として、導電性基板(1)上
に電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と表面保護層(
4)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第1図の形態に表面保護層を設けた形態に相当するが、
第1図の形態では、最表面が耐湿性に乏しいa−3i膜
で有ることから、多くの場合実用上の対湿度安定性を確
保するために表面保護層を設けることが好ましい。第2
図及び第3図の構成の場合、最表面が耐久性に優れたa
−C膜であるため表面保護層を設けなくてもよいが、例
えば現像剤の付着による感光体表面の汚れを防止するよ
うな、複写機内の各種エレメントに対する整合性を調整
する目的から、表面保護層を設けることもさらなる一形
態と成りうる。
FIG. 4 shows, as a further embodiment, a charge transport layer (2), a charge generation layer (3) and a surface protective layer (
4) is shown in a structure formed by sequentially stacking them. In other words, it corresponds to the form shown in Fig. 1 with a surface protective layer provided, but
In the form of FIG. 1, since the outermost surface is an a-3i film with poor moisture resistance, in many cases it is preferable to provide a surface protective layer in order to ensure practical humidity stability. Second
In the case of the configurations shown in Figures and Figure 3, the outermost surface is a with excellent durability.
- Since it is a C film, there is no need to provide a surface protective layer, but for the purpose of adjusting the consistency with various elements in the copying machine, such as preventing stains on the surface of the photoreceptor due to adhesion of developer, surface protection Providing layers can also be a further embodiment.

第5図は、さらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。即ち第2
図の形態に中間層を設けた形態に相当するが、第2図の
形態では、導電性基板との接合面がa−3i膜である事
から、多くの場合接着性及び注入阻止効果を確保するた
めに中間層を設ける事が好ましい。第1図及び第3図の
構成の場合、導電性基板との接合面が、接着性及び注入
阻止効果に優れた、本発明による電荷輸送層であるため
、中間層を設けなくてもよいが、例えば導電性基板の前
処理方法のような、感光層形成以前の製造工程との整合
性を調整する目的から、中間層を設けることもさらなる
一形態と成りうる。
FIG. 5 shows, as a further embodiment, an intermediate layer (5), a charge generation layer (3) and a charge transport layer (2) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which these are sequentially laminated. That is, the second
This corresponds to the form shown in the figure with an intermediate layer provided, but in the form shown in Fig. 2, the bonding surface with the conductive substrate is an a-3i film, which ensures adhesiveness and injection blocking effect in most cases. It is preferable to provide an intermediate layer for this purpose. In the case of the configurations shown in FIGS. 1 and 3, since the bonding surface with the conductive substrate is the charge transport layer according to the present invention, which has excellent adhesiveness and injection blocking effect, it is not necessary to provide an intermediate layer. For the purpose of adjusting compatibility with the manufacturing process before forming the photosensitive layer, such as a pre-treatment method for a conductive substrate, an intermediate layer may be provided as a further form.

第6図は、さらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)
と表面保護層(4)を順次積層してなる構成を示したも
のである。即ち第1図の形態に中間層と表面保護層を設
けた形態に相当する。
FIG. 6 shows, as a further embodiment, an intermediate layer (5), a charge transport layer (2) and a charge generation layer (3) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which a surface protection layer (4) and a surface protection layer (4) are sequentially laminated. That is, it corresponds to the form shown in FIG. 1 with an intermediate layer and a surface protective layer provided.

中間層と表面保護層の設置理由は前述と同様であり、従
って第2図及び第3図の構成において中間層と表面保護
層を設けることもざらなる一形態と成りうる。
The reason for providing the intermediate layer and the surface protective layer is the same as described above, and therefore, providing the intermediate layer and the surface protective layer in the configurations shown in FIGS. 2 and 3 can be an alternative form.

本発明において中間層と表面保護層は、材料的にも、製
法的にも、特に限定を受けるものではなく所定の目的が
達せられるものであれば、適宜選択することが可能であ
る。本発明によるa−C膜を用いてもよい。但し、用い
る材料が、例えば従来例で述べた如き絶縁性材料である
場合には、残留電位発生の防止のため膜厚は5μm以下
に留める必要がある。
In the present invention, the intermediate layer and the surface protective layer are not particularly limited in terms of material or manufacturing method, and can be appropriately selected as long as a predetermined purpose can be achieved. An a-C film according to the invention may also be used. However, if the material used is, for example, an insulating material as described in the conventional example, the film thickness must be kept at 5 μm or less to prevent generation of residual potential.

本発明による感光体の電荷輸送層は、気相状態の分子を
減圧下で放電分解し、発生したプラズマ雰囲気中に含ま
れる活性中性種あるいは荷電種を基板上に拡散、電気力
、あるいは磁気力等により誘導し、基板上での再結合反
応により固相として堆積させる、所謂プラズマ重合反応
から生成される事が好ましい。
The charge transport layer of the photoreceptor according to the present invention decomposes molecules in a gas phase by discharge decomposition under reduced pressure, and diffuses active neutral species or charged species contained in the generated plasma atmosphere onto the substrate, using electric force or magnetic force. It is preferable that the polymer be generated by a so-called plasma polymerization reaction, which is induced by force or the like and deposited as a solid phase by a recombination reaction on a substrate.

第7図は本発明に係わる感光体の製造装置を示し、図中
(701)〜(706)は常温において気相状態にある
原料化合物及びキャリアガスを密封した第1乃至第6タ
ンクで、各々のタンクは第1乃至第6調節弁(707)
〜(712)と第1乃至第6流量制御器(713)〜(
718)に接続されている。図中(719)〜(721
)は常温において液相または固相状態にある原料化合物
を封入した第1乃至第3容器で、各々の容器は気化のた
め第1乃至第3温調器(722)〜(724)により与
熱可能であり、さらに各々の容器は第7乃至第9調節弁
(725)〜(727)と第7乃至第9流量制御器(7
28)〜(730)に接続されている。これらのガスは
混合器(731)で混合きれた後、主管(732)を介
して反応室(733)に送り込まれる。途中の配管は、
常温において液相または同相状態にあった原料化合物が
気化したガスが、途中で凝結しないように、適宜配置さ
れた配管加熱器(734)により、与熱可能とされてい
る。反応室内には接地電極(735)と電力印加電極(
736)が対向して設置され、各々の電極は電極加熱器
(737)により与熱可能とされている。電力印加電極
(736)には、高周波電力用整合器(738)を介し
て高周波電源(739)、低周波電力用整合器(740
)を介して低周波電源(741)、ローパスフィルタ(
742)を介して直流電源(743)が接続されており
、接続選択スイッチ(744)により周波数の異なる電
力が印加可能とされている。反応室(733)内の圧力
は圧力制御弁(745)により調整可能であり、反応室
(733)内の減圧は、排気系選択弁(746)を介し
て、拡散ポンプ(747) 、油回転ポンプ(748)
 、或は、冷却除外装置(749) 、メカニカルブー
スターポンプ(750)、油回転ポンプ(748)によ
り行なわれる。排ガスについては、ざらに適当な除外装
置(753)により安全無害化した後、大気中に排気さ
れる。これら排気系配管についても、常温において液相
または固相状態にあった原料化合物が気化したガスが、
途中で凝結しないように、適宜配!された配管加熱器(
734)により、与熱可能とされている。反応室(73
3)も同様の理由から反応室加熱器(751)により与
熱可能とされ、内部に配された電極上に導電性基板(7
52)が設置きれる。第7図において導電性基板(75
2)は接地型If+(735)に固定して配されている
が、電力印加量f!(736)に固定して配されてもよ
く、ざらに双方に配されてもよい。
FIG. 7 shows a photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, and in the figure (701) to (706) are first to sixth tanks in which the raw material compound and carrier gas, which are in a gas phase at room temperature, are sealed, respectively. The tanks are the first to sixth control valves (707)
〜(712) and the first to sixth flow rate controllers (713)〜(
718). (719) to (721) in the figure
) are first to third containers filled with raw material compounds that are in a liquid or solid state at room temperature, and each container is heated by the first to third temperature controllers (722) to (724) for vaporization. In addition, each container has seventh to ninth control valves (725) to (727) and seventh to ninth flow rate controllers (725) to (727).
28) to (730). After these gases are completely mixed in the mixer (731), they are sent into the reaction chamber (733) via the main pipe (732). The pipes along the way are
Heat can be applied to the gas obtained by vaporizing the raw material compound, which is in a liquid phase or the same phase state at room temperature, by an appropriately arranged pipe heater (734) so as not to condense on the way. Inside the reaction chamber, there is a ground electrode (735) and a power application electrode (
736) are installed facing each other, and each electrode can be heated by an electrode heater (737). A high frequency power supply (739) and a low frequency power matching box (740) are connected to the power applying electrode (736) via a matching box for high frequency power (738).
), low frequency power supply (741), low pass filter (
A DC power source (743) is connected via a power source (742), and power with different frequencies can be applied by a connection selection switch (744). The pressure inside the reaction chamber (733) can be adjusted by a pressure control valve (745), and the pressure inside the reaction chamber (733) can be reduced through an exhaust system selection valve (746), a diffusion pump (747), and an oil rotary valve. Pump (748)
, or by a cooling exclusion device (749), a mechanical booster pump (750), or an oil rotary pump (748). The exhaust gas is made safe and harmless by a suitable exclusion device (753) and then exhausted into the atmosphere. Regarding these exhaust system piping, the gas that is the vaporized raw material compound that was in the liquid or solid phase at room temperature is
Distribute appropriately to avoid condensation on the way! pipe heater (
734), heat can be applied. Reaction chamber (73
3) can also be heated by the reaction chamber heater (751) for the same reason, and a conductive substrate (751) is placed on the electrode arranged inside.
52) can be installed. In FIG. 7, a conductive substrate (75
2) is fixed to the ground type If+ (735), but the amount of power applied f! (736) may be fixedly arranged, or may be arranged roughly on both sides.

第8図は本発明に係わる感光体の製造装置の別の一形態
を示し、反応室(833)内部の形態以外は、第7図に
示した本発明に係わる感光体の製造装置と同様であり、
付記された番号は、700番台のものを800番台に置
き換えて解すればよい。第8図において、反応室(83
3)内部には、第7図における接地電極(735)を兼
ねた円筒形の導電性基板(852)が設置され、内側に
は電極加熱器(837)が配されている。導電性基板(
852)周囲には同じく円筒形状をした電力印加電極(
836)が配され、外側には電極加熱器(837)が配
きれている。導電性基板(852)は、外部より駆動モ
ータ(854)を用いて自転可能となっている。
FIG. 8 shows another embodiment of the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, which is similar to the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention shown in FIG. 7 except for the internal configuration of the reaction chamber (833). can be,
The appended numbers can be understood by replacing the 700s with 800s. In FIG. 8, the reaction chamber (83
3) A cylindrical conductive substrate (852) that also serves as the ground electrode (735) in FIG. 7 is installed inside, and an electrode heater (837) is placed inside. Conductive substrate (
852) There is also a cylindrical power application electrode (
836) is arranged, and an electrode heater (837) is arranged on the outside. The conductive substrate (852) is rotatable using an external drive motor (854).

感光体製造に供する反応室は、拡散ポンプにより予め1
0−4乃至1O−6Torr程度にまで減圧し、真空度
の確認と装置内部に吸着したガスの脱着を行なう。同時
に電極加熱器により、電極並びに電極に固定して配され
た導電性基板を所定の温度まで昇温する。導電性基板に
は、前述の如ぎ感光体構成の中から所望の構成を得るた
めに、必要であれば、予めアンダーコート層或は電荷発
生層を設けて置いてもよい。アンダーコート層或は電荷
発生層の設置には、本装置を用いてもよいし別装置を用
いてもよい。次いで、第1乃至第6タンク及び第1乃至
第3容器から、原料ガスを適宜第1乃至第9流量#都器
を用いて定流量化しながら反応室内に導入し、圧力調節
弁により反応室内を一定の減圧状態に保つ。ガス流量が
安定化した後、接続選択スイッチにより、例えば高周波
電源を選択し、電力印加電極に高周波電力を投入する。
The reaction chamber used for photoreceptor production is preliminarily heated by a diffusion pump.
The pressure is reduced to about 0-4 to 10-6 Torr, and the degree of vacuum is confirmed and the gas adsorbed inside the device is desorbed. At the same time, an electrode heater heats the electrode and the conductive substrate fixedly disposed on the electrode to a predetermined temperature. If necessary, an undercoat layer or a charge generation layer may be provided in advance on the conductive substrate in order to obtain a desired photoreceptor structure from among those described above. The present apparatus or a separate apparatus may be used to provide the undercoat layer or the charge generation layer. Next, the raw material gases are introduced into the reaction chamber from the first to sixth tanks and the first to third containers while being kept at a constant flow using the first to ninth flow rate devices, and the inside of the reaction chamber is controlled by the pressure regulating valve. Maintain constant vacuum. After the gas flow rate is stabilized, a connection selection switch is used to select, for example, a high frequency power source, and high frequency power is applied to the power application electrode.

両電極間には放電が開始され、時間と共に基板上に固相
の膜が形成される。a−Si膜或はa−C膜は、原料ガ
スを代える事により任意に形成可能である。放電を一旦
停止し、原料ガス組成を変更した後、再び放電を再開す
れば異なる組成の膜を積層する事ができる。また、放電
を持続させながら原料ガス流量だけを徐々に代え、異な
る組成の膜を勾配を持たせながら積層する事も可能であ
る。
A discharge is started between the two electrodes, and a solid phase film is formed on the substrate over time. The a-Si film or the a-C film can be formed arbitrarily by changing the source gas. Films with different compositions can be laminated by once stopping the discharge, changing the source gas composition, and then restarting the discharge. It is also possible to gradually change only the raw material gas flow rate while sustaining the discharge, and to stack films of different compositions with a gradient.

反応時間により膜厚を制御し、所定の膜厚並びに積層構
成に達したところで放電を停止し、本発明による感光体
を得る。次いで、第1乃至第9調節弁を閉じ、反応室内
を充分に排気する。ここで所望の感光体構成が得られる
場合には反応室内の真空を破り、反応室より本発明によ
る感光体を取り出す。更に所望の感光体構成において、
電荷発生層或はオーバーコート層が必要とされる場合に
は、そのまま本装置を用いるか、或は同様に一旦真空を
破り取り出して別装置に移してこれらの層を設け、本発
明による感光体を得る。
The film thickness is controlled by the reaction time, and when a predetermined film thickness and laminated structure are reached, the discharge is stopped to obtain a photoreceptor according to the present invention. Next, the first to ninth control valves are closed to sufficiently exhaust the inside of the reaction chamber. If the desired photoreceptor configuration is obtained, the vacuum in the reaction chamber is broken and the photoreceptor according to the present invention is taken out from the reaction chamber. Furthermore, in a desired photoreceptor configuration,
If a charge generation layer or an overcoat layer is required, the photoreceptor according to the present invention can be fabricated by using the present device as is, or by breaking the vacuum and transferring it to another device to provide these layers. get.

以下実施例を挙げながら、本発明を説明する。The present invention will be explained below with reference to Examples.

実施ガ1 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの頭に設けた
本発明感光体を作製した。
Implementation 1 Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided on the head.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
袋、[(733)の内部を10−’To r r程度の
貰真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(
707,708,709、及び710)を解放し、第1
タンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)
よりアセチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガ
ス、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各
々出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、
及び第4流量制御器(713,714,715、及び7
16)内へ流入きせた。そして各流量制御器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を180secm1アセチレン
ガスの流量を40secms酸素ガスの流量を4sec
m1及び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるよ
うに設定して、途中混合器(731)を介して、主管(
732)より反応室(733)内へ流入した。各々の流
量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0
Torrとなるように圧力調節弁(745)を調整した
。一方、導電性基板(752)としては、樅5’OX横
50 X43mmのアルミニウム基板を用いて、予め2
50℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状
態で、予め接続選択スイッチ(744)によ、り接続し
ておいた高周波電源(739)を投入し、電力印加電極
(736)に200Wattの電力を周波数13.56
MHzの下で印加して約3時間プラズマ重合反応を行な
い、導電性基板(752)上に厚き15μmのa −C
膜を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印
加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分
に排気した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 3, and the fourth control valve (
707, 708, 709, and 710), and
Hydrogen gas from tank (701), second tank (702)
Acetylene gas, oxygen gas from the third tank (703), and carbon tetrafluoride gas from the fourth tank (704) were supplied to the first, second, third, and third tanks under an output pressure of 1.0 Kg/cm2, respectively.
and fourth flow rate controller (713, 714, 715, and 7
16) It flowed inside. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 180 seconds, the acetylene gas flow rate to 40 seconds, and the oxygen gas flow rate to 4 seconds.
The flow rate of m1 and carbon tetrafluoride gas is set to 10105e, and the main pipe (
732) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) is 2.0.
The pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure was Torr. On the other hand, as the conductive substrate (752), an aluminum substrate of 5'OX x 50mm x 43mm was used in advance.
After heating to 50°C, and with the gas flow rate and pressure stable, turn on the high frequency power supply (739) that was previously connected using the connection selection switch (744), and connect the power application electrode (736). 200Watt power at frequency 13.56
A plasma polymerization reaction was carried out for about 3 hours by applying a voltage under MHz, and a 15 μm thick a-C was deposited on the conductive substrate (752).
The membrane was formed as a charge transport layer. After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して34原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の量
は全構成原子に対して2.0原子%、ざらに、酸素原子
の量は全構成原子に対して1.1原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 34 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 2.0 at% based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was roughly 1.1 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第2タンク
(702)からゲルマンガス、及び第6タンク(706
)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1
、第2、及び第6流量制御器(713,714、及び7
18)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710)
を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで110
0ppに希釈されたジボランガスを、出力圧1゜5Kg
/cm2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入さ
せた。各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量を
200secm、ゲルマンガスの流量を6sccm、シ
ランガスの流量を11003CC,水素ガスで1100
ppに希釈されたジボランガスの流量を10105eに
設定し、反応室(733)内に流入きせた。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が1.0T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (708) and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), Germanic gas is supplied from the second tank (702), and the sixth tank (706
) under an output pressure of IKg/cm2.
, second, and sixth flow rate controllers (713, 714, and 7
18) It was allowed to flow into the interior. At the same time, the fourth control valve (710)
110 with hydrogen gas from the fourth tank (704).
Diborane gas diluted to 0pp is output at an output pressure of 1°5Kg.
/cm2 into the fourth flow controller (716). Adjust the scale of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 200 sec, the flow rate of germane gas to 6 sccm, the flow rate of silane gas to 11003 cc, and the flow rate of hydrogen gas to 1100 cc.
The flow rate of diborane gas diluted to pp. 10105e was set to 10105e, and the diborane gas was allowed to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) is 1.0T.
The pressure control valve (745) was adjusted so that the

一方、a−C膜が形成されている導電性基板(752)
は、240℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定
した状態で、高周波電源(739)より周波数13.5
6MHzの下で電力印加型tm(736)に40Wat
tの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放電
を5分間行ない、厚さ0.3μmの電荷発生層を得た。
On the other hand, a conductive substrate (752) on which an a-C film is formed
is heated to 240°C, and when the gas flow rate and pressure are stable, the frequency is 13.5 from the high frequency power supply (739).
40W to power applied type TM (736) under 6MHz
A power of t was applied to generate a glow discharge. This discharge was performed for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して18原子%、硼素原子は10原子ppm
、ゲルマニウム原子は9.7原子%であった。
The obtained a-Si film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 18 atomic % and the boron atoms were 10 atomic ppm based on the total constituent atoms.
, germanium atoms were 9.7 at%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一590V (+580V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は39V/μm(38V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -590V (+580V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 39 V/.mu.m (38 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約19秒(約20
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたとこる必要とされた光量は3.1ルツク
ス・秒(2,9ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理gきれた。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 19 seconds (approximately 20 seconds).
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential.The amount of light required was 3.1 lux·sec (2.9 lux・Seconds), and from this, it was reasonable to have sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

火旅皿旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
By using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を1O−6Torr程度の寓真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(707
,708,709、及び710)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりエ
チレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス及び第
4タンク(704)より四塩化炭素ガスを各々出力圧1
゜0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第4流
量制御器(713,714,715、及び716)内へ
流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して、水
素ガスの流量を60secm1エチレンガスの流量を6
0secm1酸素ガスの流量を4secms及び四塩化
炭素ガスの流量が20secmとなるように設定して、
途中混合器(731)を介して、主管(732)より反
応室(733)内へ流入した。各々の流量が安定した後
に、反応室(733)内の圧力が2.0Torrとなる
ように圧力調節弁(745)を調整した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Control valve (707
, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), ethylene gas from the second tank (702), oxygen gas from the third tank (703), and hydrogen gas from the fourth tank (704). Each output pressure of carbon chloride gas is 1
It was allowed to flow into the first, second, third, and fourth flow controllers (713, 714, 715, and 716) under 0 Kg/cm2. Then, adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 60 seconds and the ethylene gas flow rate to 60 seconds.
Set the flow rate of oxygen gas to 4 seconds and the flow rate of carbon tetrachloride gas to 20 seconds,
It flowed into the reaction chamber (733) from the main pipe (732) via an intermediate mixer (731). After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 2.0 Torr.

一方、導電性基板(752) とり、−1、!50X横
50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め23
0℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態
で、予め接続選択スイッチ(744)により接続してお
いた高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(7
36)に200 W allの電力を周波数13.56
MHzの下で印加して約3時開平プラズマ重合反応を行
ない、導電性基板(752)上に厚き15μmのa −
C膜を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力
印加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充
分に排気した。
On the other hand, the conductive substrate (752) takes -1,! Using an aluminum substrate of 50 x width 50 x thickness 3 mm,
After heating the gas to 0°C and stabilizing the gas flow rate and pressure, turn on the high frequency power source (739) that was previously connected using the connection selection switch (744), and connect the power application electrode (7
36) 200 W all power at frequency 13.56
A plasma polymerization reaction with a thickness of 15 μm was performed on the conductive substrate (752) by applying a plasma at about 3 MHz.
A C film was formed as a charge transport layer. After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して42原子%、また、オージェ
分析より含有きれるハロゲン原子、即ち、塩素原子の量
は全構成原子に対して469原子%、ざらに、酸素原子
の量は全構成原子に対して1.0原子%であった。
When organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as above, the amount of hydrogen atoms contained was 42 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms, and according to Auger analysis, the amount of hydrogen atoms contained was The amount of halogen atoms, ie, chlorine atoms, was 469 atomic % based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was roughly 1.0 atomic % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第2タンク
(702)からゲルマンガス、及び第6タンク(706
)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1
、及び第6流量制(用益(713、及び718)内へ流
入させた。同時に、第4UfJ節弁(710)を解放し
、第4タンク(704)より水素ガスで1100ppに
希釈されたボスフィンガスを、出力圧1.5Kg/cm
2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入させた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (708) and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), Germanic gas is supplied from the second tank (702), and the sixth tank (706
) under an output pressure of IKg/cm2.
, and the 6th flow rate system (utilities (713 and 718). At the same time, the 4th UfJ control valve (710) was released, and the boss fin diluted to 1100pp with hydrogen gas from the 4th tank (704) Gas output pressure 1.5Kg/cm
2 into the fourth flow controller (716).

各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量を200
secm、ゲルマンガスの流量を6secm1シランガ
スの流量を101005e。
Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200.
secm, germane gas flow rate is 6secm, silane gas flow rate is 101005e.

水素ガスで1100ppに希釈されたホスフィンガスの
流量を10105eに設定し、反応室(733)内に流
入させた。各々の流量が安定した後に、反応室(733
)内の圧力が0.8Torrとなるように圧力調節弁(
745)を調整した。
The flow rate of phosphine gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas was set to 10105e, and the gas was allowed to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the reaction chamber (733
) so that the pressure in the pressure control valve ( ) becomes 0.8 Torr
745) was adjusted.

一方、a−C膜が形成されている導電性基板(752)
は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定
した状態で、高周波電源(739)より周波数13.5
6MHzの下で電力印加電極(736)に40Watt
の電力を印加し、グロー放電を発生きせた。この放電を
5分間行ない、厚さ0.3μmの電荷発生層を得た。
On the other hand, a conductive substrate (752) on which an a-C film is formed
is heated to 250°C, and when the gas flow rate and pressure are stable, the frequency is 13.5 from the high frequency power supply (739).
40Watt to the power application electrode (736) under 6MHz
electric power was applied to generate a glow discharge. This discharge was performed for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して20原子%、燐原子は11原子り pm
sゲルマニウム原子は10原子%であった。
The obtained a-Si film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 20 at % of the total constituent atoms, and the phosphorus atoms were 11 atoms pm.
The content of s-germanium atoms was 10 at.%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一390V (+610V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は26V/μm (40V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解きれ
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -390V (+610V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 26 V/.mu.m (40 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約10秒(約15
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は1.1ルツク
ス・秒(2,3ルックス番秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 10 seconds (approximately 15 seconds).
seconds), and from this we can understand that it has sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated to a surface potential of 20% of the highest charging potential using white light. seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

実施側温 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
On the implementation side, using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を1O−6Torr程度の高真空
にした後、第1、第3、及び第4調節弁(707,70
9、及び710)を解放し、第1タンク(701)より
水素ガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及び第
4タンク(T。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 707,70
9, and 710), hydrogen gas is supplied from the first tank (701), oxygen gas is supplied from the third tank (703), and the fourth tank (T.

4)より四弗化炭素ガスを各々出力圧1.0Kg/cm
2の下で第1、第3、及び第4流量制御器(713,7
15、及び716)内へ流入させた。
4) Each output pressure of carbon tetrafluoride gas is 1.0 Kg/cm.
2, the first, third, and fourth flow controllers (713, 7
15, and 716).

同時に、第1容器(719)よ怜スチレンガスを第1温
調器(722)温度35℃のもとで第7流量IIJln
器(728)内へ流入きせた。そして各流量制御器の目
盛を調整して、水素ガスの流量を60secmsスチレ
ンガスの流量を30secm。
At the same time, the styrene gas is transferred from the first container (719) to the first temperature controller (722) at a temperature of 35°C at a seventh flow rate IIJln.
The liquid flowed into the vessel (728). Then, the scales of each flow rate controller were adjusted to set the hydrogen gas flow rate to 60 seconds and the styrene gas flow rate to 30 seconds.

酸素ガスの流量を8secm、及び四弗化炭素ガスの流
量が30secmとなるように設定して、途中混合器(
731)を介して、主管(732)より反応室(733
)内へ流入した。各々の流量が安定した後に、反応室(
733)内の圧力が2゜0Torrとなるように圧力調
節弁(745)を調整した。一方、導電性基板(752
)としては、縦50×横50X厚3mmのアルミニウム
基板を用いて、予め180℃に加熱しておき、ガス流量
及び圧力が安定した状態で、予め接続選択スイッチ(7
44)により接続しておいた低周波電源(741)を投
入し、電力印加電極(736)に200Wattの電力
を周波数120KHzの下で印加して約45分間プラズ
マ重合反応を行ない、導電性基板(752)上に厚さ1
5μmのa−C膜を電荷輸送層として形成した。成膜完
了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(7
33)内を充分に排気した。
Set the flow rate of oxygen gas to 8 sec and the flow rate of carbon tetrafluoride gas to 30 sec, and mixer (
731) from the reaction chamber (733) from the main pipe (732).
) flowed into the interior. After each flow rate stabilizes, the reaction chamber (
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the pressure inside the tube (733) was 2°0 Torr. On the other hand, a conductive substrate (752
), use an aluminum substrate measuring 50 x 50 x 3 mm in thickness, heat it to 180°C in advance, and with the gas flow rate and pressure stable, connect the connection selection switch (7
44), the low frequency power source (741) connected to the conductive substrate ( 752) Thickness 1 on top
A 5 μm a-C film was formed as a charge transport layer. After the film formation is completed, stop applying power, close the control valve, and close the reaction chamber (7
33) Thoroughly evacuated the inside.

以上のようにして得られたa−C膜につ伊有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して48原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の量
は全構成原子に対して6.1原子%、さらに、酸素原子
の量は全構成原子に対して2.3原子%であった。
When organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, the amount of hydrogen atoms contained was 48 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, contained was 6.1 at% based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was 2.3 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、第3調節弁(709)、及び第
6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)か
ら水素ガス、第2タンク(702)から四弗化シランガ
ス、第3タンク(702)からゲルマンガス、及び第6
タンク(706)からシランガスを、出力圧IKg/c
m2の下で第11第2、第3、及び第6流量制tIE器
(713,714,715、及び718)内へ流入させ
た。同時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タン
ク(704)より水素ガスで1100ppに希釈された
ジボランガスを、出力圧1゜5Kg/cm2の下で第4
流量制御器(716)内へ、流入させた。各流量制御器
の目盛を調整して水素ガスの流量を200secms四
弗化シランガスの流量を50secm1ゲルマンガスの
流量を6scCmsシランガスの流量を50secm。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (708), the third control valve (709), and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is released from the first tank (701), tetrafluorosilane gas is removed from the second tank (702), Germanic gas from the third tank (702) and the sixth
Silane gas is supplied from the tank (706) at an output pressure of IKg/c.
m2 into the eleventh second, third, and sixth flow rate limiters (713, 714, 715, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is opened, and diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas is supplied from the fourth tank (704) to the fourth tank under an output pressure of 1°5 Kg/cm2.
It was made to flow into the flow rate controller (716). Adjust the scale of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 200 secms, the flow rate of silane tetrafluoride gas to 50 sec1, the flow rate of germane gas to 6 scCms, and the flow rate of silane gas to 50 sec.

及び水素ガスで1100ppに希釈されたジボランガス
の流量を1105CCとなるように設定し、反応室(7
33)内に流入きせた。各々の流量が安定した後に、反
応室(733)内の圧力が0゜9Torrとなるように
圧力調節弁(745)を調整した。一方、 a−C膜が
形成されている導電性基板(752)は、230℃に加
熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、高周
波電源(739)より周波数13.56MHzの下で電
力印加電極(736)に35Wattの電力を印加し、
グロー放電を発生させた。この放電を5分間行ない、厚
さ0.3μmの電荷発生層を得た。
The flow rate of diborane gas diluted to 1100pp with hydrogen gas was set to 1105cc, and the reaction chamber (7
33) There was an inflow into the interior. After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 0°9 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 230°C, and is heated at a frequency of 13.56 MHz from a high frequency power source (739) while the gas flow rate and pressure are stable. Applying 35 Watts of power to the power application electrode (736),
Generated a glow discharge. This discharge was performed for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−5i膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して24原子%、硼素原子は10原子ppI
Th弗素原子は5原子%、ゲルマニウム原子は10.5
原子%であった。
The obtained a-5i film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 24 at% of the total constituent atoms, and the boron atoms were 10 at ppI.
Th fluorine atom is 5 at%, germanium atom is 10.5
It was atomic%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一590V (+590V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は39V/μm(39V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -590V (+590V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 39 V/.mu.m (39 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまでj#il衰するのに要した時間は約14秒(約
13秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有
する事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電し
た後、白色光を用いて最高帯iii位の20%の表面電
位にまで明減衰させたとこる必要とされた光量は1.5
ルツクス・秒(1,4ルツクス・秒)であり、このこと
から充分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for the surface potential to decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark is approximately 14 seconds (approximately 13 seconds), which indicates that it has sufficient charge retention performance. I completely understood. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest band III, and the required light amount was 1.5.
lux·sec (1.4 lux·sec), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。また、最高帯電電位に初期帯電した後、半導体レーザ
ー光(発光波長780nm)を用いて最高帯41位の2
0%の表面電位にまで明減衰させたところ必要とされた
光量は9、8erg/cm2(8,Oerg/cm2)
であや、このことから充分な長波長光感度性能を有する
事が理解された。
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained. In addition, after initial charging to the highest charging potential, a semiconductor laser beam (emission wavelength 780 nm) was used to charge the 2nd layer at the 41st highest band.
When light was attenuated to 0% surface potential, the amount of light required was 9.8 erg/cm2 (8.0erg/cm2).
From this, it was understood that it has sufficient long-wavelength photosensitivity performance.

叉旋週生 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
袋f!(733)の内部を10−6To r r程度の
高真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(
707,708,709、及び710)を解放し、第1
タンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)
よりブタジェンガス、第3タンク(703)より二酸化
炭素ガス、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガ
スを各々出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、
第3、及び第4流量制御器(713,714,715、
及び716)内へ流入させた。そして各流量制御器の目
盛を調整して、水素ガスの流量を60secm、ブタジ
ェンガスの流量を60sccmS二酸化炭素ガスの流量
を12secms及び四弗化炭素ガスの流量が160s
ecmとなるように設定して、途中混合器(731)を
介して、主管(732)より反応室(733)内へ流入
した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 7, first, the reaction bag f! After making the inside of (733) a high vacuum of about 10-6 Torr, the first, second, third, and fourth control valves (
707, 708, 709, and 710), and
Hydrogen gas from tank (701), second tank (702)
Butadiene gas, carbon dioxide gas from the third tank (703), and carbon tetrafluoride gas from the fourth tank (704) were supplied to the first, second, and second tanks under an output pressure of 1.0 Kg/cm2, respectively.
Third and fourth flow controllers (713, 714, 715,
and 716). Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 60 seconds, the flow rate of butadiene gas to 60 sccm, the flow rate of carbon dioxide gas to 12 seconds, and the flow rate of carbon tetrafluoride gas to 160 seconds.
ecm, and flowed into the reaction chamber (733) from the main pipe (732) via an intermediate mixer (731).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が1.6Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、導電性基板(752)としては、樅5
0X横50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予
め120℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続
しておいた低周波電源(741)を投入し、電力印加電
極(736)に130Wattの電力を周波数500K
Hzの下で印加して約1時間半プラズマ重合反応を行な
い、導電性基板(752)上に厚き15μmのa−C膜
を電荷輸送層として形成した。
After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 1.6 Torr. On the other hand, as the conductive substrate (752), fir 5
Using an aluminum substrate of 0x width 50x thickness 3mm, heat it in advance to 120°C, and with the gas flow rate and pressure stable, connect the low frequency power supply (741) with the connection selection switch (744) in advance. ) and apply 130W of power to the power application electrode (736) at a frequency of 500K.
Plasma polymerization reaction was carried out under Hz for about 1.5 hours to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752).

成膜完了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応
室(733)内を充分に排気した。
After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して51原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の量
は全構成原子に対して18.0原子%、さらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して2.0原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 51 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, that is, fluorine atoms, was 18.0 at% based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was 2.0 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1FI節弁(707)
、第2調節弁(708)、第3調節弁(709)、及び
第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)
から水素ガス、第2タンク(702)から四弗化シラン
ガス、第3タンク(703)からゲルマンガス、及び第
6タンク(706)からシランガスを、出力圧IKg/
cm2の下で第1、第2、第3、及び第6流量制御器(
713,714,715、及び718)内へ流入させた
。同時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク
(704)より水素ガスで1100ppに希釈されたホ
スフィンガスを、出力圧1゜5Kg/cm2の下で第4
流量制御器(716)内へ流入させた。各流fil#御
器の目盛を調整して水素ガスの流量を200secm、
ゲルマンガスの流量を6 s e c m N四弗化シ
ランガスの流量を5○S CCmzシランガスの流量を
50secm1水素ガスで1100ppに希釈されたホ
スフィンガスの流量を10105eに設定し、反応室(
733)内に流入させた。各々の流量が安定した後に、
反応室(733)内の圧力が0.8Torrとなるよう
に圧力調節弁(745)を調整した。
Charge generation layer forming step: Next, some tanks are replaced and the first FI control valve (707)
, the second control valve (708), the third control valve (709), and the sixth control valve (712) are released, and the first tank (701) is opened.
hydrogen gas from the tank, tetrafluorosilane gas from the second tank (702), germane gas from the third tank (703), and silane gas from the sixth tank (706) at an output pressure of IKg/
The first, second, third, and sixth flow controllers (under cm2)
713, 714, 715, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is opened, and phosphine gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas is supplied from the fourth tank (704) to the fourth tank under an output pressure of 1°5 Kg/cm2.
It was made to flow into the flow rate controller (716). Adjust the scale of each flow fil# control to set the hydrogen gas flow rate to 200 sec.
The flow rate of the germane gas was set to 6 s e cm The flow rate of the N tetrafluorosilane gas was set to 50 S CCmz The flow rate of the silane gas was 50 sec 1 The flow rate of the phosphine gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas was set to 10105e, and the reaction chamber (
733). After each flow rate stabilizes,
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 0.8 Torr.

一方、a−C膜が形成されている導電性基板(752)
は、240℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定
した状態で、高周波電源(739)より周波数13.5
6MHzの下で電力印加電極(736)に40Watt
の電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放電を
5分間行ない、厚さ0.3μmの電荷発生層を得た。
On the other hand, a conductive substrate (752) on which an a-C film is formed
is heated to 240°C, and when the gas flow rate and pressure are stable, the frequency is 13.5 from the high frequency power supply (739).
40Watt to the power application electrode (736) under 6MHz
electric power was applied to generate a glow discharge. This discharge was performed for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−SiNにつき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して26原子%、燐原子は13原子ppm%
弗素原子は5.6原子%、ゲルマニウム原子は9.8原
子%であった。
The obtained a-SiN was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 26 atomic% and the phosphorus atoms were 13 atomic ppm% of the total constituent atoms.
The content of fluorine atoms was 5.6 at%, and the content of germanium atoms was 9.8 at%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き−1が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一250V (+340V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は16■/μm (22V/μm)と高く、こ
のことから充分な帯電性能を有する事が理解された。ま
た、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電位
にまで暗減衰するのに要した時間は約5秒(約5秒)で
あり、このことから充分な電荷保持性能を有する事が理
解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後、白色
光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にまで明減
衰させたところ必要とされた光量は3.4ルツクス・秒
(5,フルックス・秒)であり、このことから充分な光
感度性能を有する事が理解きれた。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used in a conventional Carlson process with both negative and positive charging, the following -1 was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -250V (+340V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was as high as 16 .mu.m/.mu.m (22 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance. In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 5 seconds, which indicates that it has sufficient charge retention performance. Ta. Furthermore, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential, and the amount of light required was 3.4 lux sec (5. ), and from this it can be understood that it has sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

火施健旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの頭に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided on the head.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−’To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りブタジインガス、第3タンク(703)より酸素ガス
、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々
出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及
び第4流量制御器(713,714,715、及び71
6)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整
して、水素ガスの流量を180secm1ブタジインガ
スの流量を40secm、酸素ガスの流量を4 s c
 Crrh及び四弗化炭素ガスの流量が10105eと
なるように設定して、途中混合器(731)を介して、
主管(732)より反応室(733)内へ流入した。各
々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が
2.0Torrとなるように圧力調節弁(745)を調
整した。一方、導電性基板(752)としては、縦50
X横50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め
180℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した
状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続し
ておいた低周波電源(741)を投入し、電力印加電極
(736)に200Watt(7)電力を周波数600
KHz(7)下で印加して約30分間プラズマ重合反応
を行ない、導電性基板(752)上に厚さ15μmのa
−C膜を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電
力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を
充分に排気した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. and the fourth control valve (7
07, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), butadiene gas from the second tank (702), oxygen gas from the third tank (703), and oxygen gas from the fourth tank (704). The first, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 71
6) Allowed to flow into the interior. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 180 sec, the flow rate of butadiene gas to 40 sec, and the flow rate of oxygen gas to 4 sec.
The flow rates of Crrh and carbon tetrafluoride gas are set to 10105e, and the mixture is passed through an intermediate mixer (731).
It flowed into the reaction chamber (733) from the main pipe (732). After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 2.0 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) is
Using an aluminum substrate measuring 50 mm in width and 3 mm in thickness, it was preheated to 180°C, and with the gas flow rate and pressure stable, it was connected to a low frequency power source (741) using the connection selection switch (744). ) and apply 200 Watt (7) power to the power application electrode (736) at a frequency of 600.
A plasma polymerization reaction was performed for about 30 minutes by applying a voltage of KHz (7), and a 15 μm thick a
-C film was formed as a charge transport layer. After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して40原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の量
は全構成原子に対して4.1原子%、さらに、酸素原子
の量は全構成原子に対して1.8原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 40 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, that is, fluorine atoms, was 4.1 at% based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was 1.8 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、実施例1と同様にして本発明による感光体の電
荷発生層を形成した。
Charge generation layer forming step: Next, in the same manner as in Example 1, a charge generation layer of a photoreceptor according to the present invention was formed.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一520V (+490V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は33■/μm (32V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解きれ
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -520V (+490V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 33 .mu.m/.mu.m (32 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約13秒(約12
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理Mきれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要ときれた光量は2.6ルツク
ス・秒(1,2ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解きれた。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 13 seconds (approximately 12 seconds).
seconds), and from this it was reasonable to have sufficient charge retention performance. Furthermore, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential, and the required amount of light was 2.6 lux · seconds (1.2 lux · seconds), and from this we can understand that it has sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図乃至第6図は本発明感光体の構成を示す図面、第
7図乃至第8図は本発明に係わる感光体の製造装置を示
す図面である。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第7図 第Z 図 第4図 “ 第6図 手続補正書 昭和62年10月21 日
1 to 6 are drawings showing the structure of a photoreceptor according to the present invention, and FIGS. 7 to 8 are drawings showing an apparatus for manufacturing a photoreceptor according to the invention. Applicant: Minolta Camera Co., Ltd. Figure 7 Figure Z Figure 4 “ Figure 6 Procedural Amendments October 21, 1986

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 電荷発生層と電荷輸送層とを有する機能分離型感光体に
おいて、該電荷輸送層は少なくとも酸素原子とハロゲン
原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜で
あり、かつ、該電荷発生層は燐原子及び硼素原子のうち
少なくとも一方を含有してなる水素化アモルファスシリ
コンゲルマニウム膜或は燐原子及び硼素原子のうち少な
くとも一方を含有してなる弗素化アモルファスシリコン
ゲルマニウム膜であることを特徴とする感光体。
In a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, the charge transport layer is a hydrogenated amorphous carbon film containing at least oxygen atoms and halogen atoms; A photoreceptor characterized by being a hydrogenated amorphous silicon germanium film containing at least one of atoms and boron atoms, or a fluorinated amorphous silicon germanium film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms. .
JP22943586A 1986-09-26 1986-09-26 Photosensitive body Pending JPS6382463A (en)

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