JPS6381486A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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JPS6381486A
JPS6381486A JP22939286A JP22939286A JPS6381486A JP S6381486 A JPS6381486 A JP S6381486A JP 22939286 A JP22939286 A JP 22939286A JP 22939286 A JP22939286 A JP 22939286A JP S6381486 A JPS6381486 A JP S6381486A
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Japan
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atoms
gas
film
flow rate
photoreceptor
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JP22939286A
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Japanese (ja)
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Shuji Iino
修司 飯野
Mochikiyo Osawa
大澤 以清
Hideo Yasutomi
英雄 保富
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To provide adequate transferability and excellent photoconductivity to the titled photosensitive body by using a hydrogenated amorphous carbon film contg. oxygen atoms and halogen atoms to form an electric charge transfer layer and using a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film contg. nitrogen atoms and either of phosphorus atoms or boron atoms to form an electric charge generating layer. CONSTITUTION:This function sepn. type photosensitive body having the charge generating layer 3 and the charge transfer layer 2 is provided with the hydrogenated amorphous carbon film which is formed by glow discharge and into which at least the oxygen atoms and halogen atoms are incorporated as the charge transfer layer 2 and the hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film which is likewise formed by the glow discharge and into which at least either of the phosphorus atoms or boron atom are incorporated and the nitrogen atoms are incorporated as the charge generating layer 3. High dark resistance and excellent electric charge transferability are thereby provided to the charge transfer layer 2 so that said layer can make contribution to bright attenuation.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する感光体に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer.

従来技術 カールソン法の発明以来、電子写真の応用分野は著しい
発展を続け、電子写真用感光体にも様々な材料が開発さ
れ実用化きれてきた。
BACKGROUND OF THE INVENTION Since the invention of the Carlson method, the application field of electrophotography has continued to make remarkable progress, and various materials have been developed and put into practical use for electrophotographic photoreceptors.

従来用いられて来た電子写真感光体材料の主なものとし
ては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫化
カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機
物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン、
ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリフ
ェニルメタン化合物、トリフェニルアミン化合物、ヒド
ラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリン化合物、オ
キサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有機
物質が挙げられる。また、その構成形態としては、これ
らの物質を単体で用いる単層型構成、結着材中に分散き
せて用いるバインダー型構成、機能別に電荷発生層と電
荷輸送層とを設ける積層型構成等が挙げられる。
The main electrophotographic photoreceptor materials conventionally used include inorganic substances such as amorphous selenium, selenium arsenide, selenium telluride, cadmium sulfide, zinc oxide, amorphous silicon, polyvinyl carbazole, metal phthalocyanine,
Examples include organic substances such as disazo pigments, trisazo pigments, perylene pigments, triphenylmethane compounds, triphenylamine compounds, hydrazone compounds, styryl compounds, pyrazoline compounds, oxazole compounds, and oxadiazole compounds. In addition, the configurations include a single-layer structure in which these substances are used alone, a binder-type structure in which they are dispersed in a binding material, and a laminated structure in which a charge generation layer and a charge transport layer are provided for each function. Can be mentioned.

しかしながら、従来用いられて来た電子写真感光体材料
にはそれぞれ欠点があった。その一つとして人体への有
害性が挙げられるが、前述したアモルフガスシリコンを
除く無機物質においては、何れも好ましくない性質を持
つものであった。また、電子写真感光体が実際に複写機
内で用いられるためには、帯電、露光、現像、転写、除
電、清掃等の苛酷な環境条件に曝された場合においても
、常に安定な性能を維持している必要があるが、前述し
た有機物質においては、何れも耐久性に乏しく、性能面
での不安定要素が多かった。
However, the electrophotographic photoreceptor materials conventionally used each have drawbacks. One of these is their toxicity to the human body, and all inorganic substances, except for the amorphous gas silicon mentioned above, have unfavorable properties. In addition, in order for an electrophotographic photoreceptor to be actually used in a copying machine, it must always maintain stable performance even when exposed to harsh environmental conditions such as charging, exposure, development, transfer, neutralization, and cleaning. However, all of the organic substances mentioned above have poor durability and many unstable factors in terms of performance.

このような欠点を解消すべく、近年、有害性を改善し耐
久性に富んだ材料として、グロー放電法により生成され
るアモルファスシリコンの電子写真感光体への応用が進
んで来ている。しかし、アモルファスシリコンは、原料
としてシランガスを多量に必要とする反面、高価なガス
であることから、出来上がった電子写真感光体も従来の
感光体に比べ大幅に高価なものとなる。また、成膜速度
が遅く、成膜時間の増大に伴い爆発性を有するシラン未
分解生成物を粉塵状に発生する等、生産上の不都合も多
い。また、この粉塵が製造時に感光層中に混入した場合
には、画像品質に著しく悪影響を及ぼす。ざらに、アモ
ルファスシリコンは、元来、比誘電率が高いため帯電性
能が低く、複写機内で所定の表面電位に帯電するために
は膜厚を厚くする必要があり、高価なアモルファスシリ
コン膜を長時間堆積させなくてはならない。
In order to eliminate such drawbacks, in recent years, amorphous silicon produced by a glow discharge method has been increasingly applied to electrophotographic photoreceptors as a material with improved toxicity and high durability. However, while amorphous silicon requires a large amount of silane gas as a raw material, it is an expensive gas, so the resulting electrophotographic photoreceptor is also significantly more expensive than a conventional photoreceptor. In addition, there are many inconveniences in production, such as the slow film formation rate and the generation of explosive silane undecomposed products in the form of dust as the film formation time increases. Furthermore, if this dust gets mixed into the photosensitive layer during manufacturing, it will have a significant negative effect on image quality. Generally, amorphous silicon has low charging performance due to its high specific dielectric constant, and in order to charge it to a predetermined surface potential in a copying machine, it is necessary to increase the thickness of the film. You have to accumulate time.

ところでアモルファスカーボン膜自体は、プラズマ有機
重合膜として古くより知られており、例えばジエン(M
、5hen)及びベル(A、T。
By the way, the amorphous carbon film itself has been known for a long time as a plasma organic polymerized film, for example, diene (M
, 5hen) and Bell (A, T.

Be1l)により、1973年発行ののジャーナル・オ
ブ・アプライド・ポリマー・サイエンス(Journa
l  of  Applied  P。
Journal of Applied Polymer Science (Journa Be1l), published in 1973.
l of Applied P.

lymer  Sc 1ence)第17巻の第885
頁乃至第892頁において、あらゆる有機化合物のガス
から作製され得る事が、また、同著者により、1979
年のアメリカンケミカルソサエティー(America
n  ChemicalSociety)発行によるプ
ラズマボリマライゼーション(Plasma  Pol
ymerization)の中でもその成膜性が論じら
れている。
lymer Sc 1ence) Volume 17, No. 885
Pages 892 to 892, it is also reported by the same author in 1979 that any organic compound can be prepared from gas.
American Chemical Society (America)
Plasma Pol
ymerization), its film formability has been discussed.

しかしながら従来の方法で作製したプラズマ有機重合膜
は絶縁性を前提とした用途に限って用いられ、即ちそれ
らの膜は通常のポリエチレン膜の如<1016Ωcm程
度の比抵抗を有する絶縁膜と考えられ、或は、少な(と
もそのような膜であるとの認識のもとに用いられていた
。実際に電子写真感光体への用途にしても同様の認識か
ら、保護層、接着層、ブロッキング層もしくは絶縁層に
限られており、所謂アンダーコート層もしくはオーバー
コート層としてしか用いられていなかった。
However, plasma organic polymer films prepared by conventional methods are used only for applications that assume insulation properties, that is, they are considered to be insulating films with a specific resistance of about <1016 Ωcm, like ordinary polyethylene films. Or, it was used based on the recognition that it was such a film.In actual use for electrophotographic photoreceptors, from the same recognition, protective layers, adhesive layers, blocking layers, or It has been limited to insulating layers, and has only been used as so-called undercoat layers or overcoat layers.

例えば、特開昭59−28161号公報には、基板上に
ブロッキング層及び接着層としてプラズマ重合された網
目構造を有する高分子層を設け、その上にアモルファス
シリコン層を設けた感光体が開示されている。特開昭5
9−38753号公報には、基板上にブロッキング層及
び接着層として酸素と窒素と炭化水素の混合ガスから生
成される1013〜1015Ωcmの高抵抗のプラズマ
重合膜を10人〜100人設けた上にアモルファスシリ
コン層を設けた感光体が開示されている。特開昭59−
136742号公報には、アルミ基板上に設けたアモル
ファスシリコン層内へ光照射時にアルミ原子が拡散する
のを防止するための保護層として1〜5μm程度の炭素
膜を基板表面に形成せしめた感光体が開示されている。
For example, JP-A-59-28161 discloses a photoreceptor in which a plasma-polymerized polymer layer having a network structure is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer, and an amorphous silicon layer is provided thereon. ing. Japanese Patent Application Publication No. 5
Publication No. 9-38753 discloses that a plasma polymerized film with a high resistance of 1013 to 1015 Ωcm, which is generated from a mixed gas of oxygen, nitrogen, and hydrocarbon, is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer by 10 to 100 people. A photoreceptor is disclosed that includes an amorphous silicon layer. Unexamined Japanese Patent Publication 1987-
Publication No. 136742 discloses a photoreceptor in which a carbon film of approximately 1 to 5 μm is formed on the surface of the substrate as a protective layer to prevent aluminum atoms from diffusing into the amorphous silicon layer provided on the aluminum substrate during light irradiation. is disclosed.

特開昭60−63541号公報には、アルミ基板とその
上に設けたアモルファスシリコン層との接着性を改善す
るために、接着層として200人〜2μmのダイヤモン
ド状炭素膜を中間に設けた感光体が開示され、残留電荷
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされている。
Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-63541 discloses a photosensitive material in which a diamond-like carbon film with a thickness of 200 to 2 μm is provided in the middle as an adhesive layer in order to improve the adhesion between an aluminum substrate and an amorphous silicon layer provided thereon. It is said that the film thickness is preferably 2 μm or less in terms of residual charge.

これらの開示は、何れも基板とアモルファスシリコン層
との間に、所謂アンダーコート層を設けた発明であり、
電荷輸送性についての開示は全くなく、また、a−Si
の有する前記した本質的問題を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called undercoat layer is provided between the substrate and the amorphous silicon layer,
There is no disclosure regarding charge transport properties, and a-Si
However, it does not solve the above-mentioned essential problems.

また、倒えば、特開昭50−20728号公報には、ポ
リビニルカルバゾール−セレン系感光体の表面に保護層
としてグロー放電重合によるポリマー膜を0.1〜1μ
m設けた感光体が開示されている。特開昭59−214
859号公報には、アモルファスシリコン感光体の表面
に保護層としてスチレンやアセチレン等の有機炭化水素
モノマーをプラズマ重合きせて5μm程度の膜を形成さ
せる技術が開示されている。特開昭60−61761号
公報には、表面保護層として、500人〜2μmのダイ
ヤモンド状炭素薄膜を設けた感光体が開示され、透光性
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされてている。
In addition, Japanese Patent Application Laid-Open No. 50-20728 discloses that a polymer film of 0.1 to 1 μm formed by glow discharge polymerization is formed as a protective layer on the surface of a polyvinylcarbazole-selenium photoreceptor.
A photoreceptor is disclosed. Japanese Patent Publication No. 59-214
Japanese Patent No. 859 discloses a technique for forming a protective layer on the surface of an amorphous silicon photoreceptor by plasma polymerizing an organic hydrocarbon monomer such as styrene or acetylene to form a film of about 5 μm. JP-A No. 60-61761 discloses a photoreceptor provided with a diamond-like carbon thin film of 500 to 2 μm as a surface protective layer, and it is said that the film thickness is preferably 2 μm or less in terms of light transmission. ing.

特開昭60−249115号公報には、0.05〜5μ
m程度の無定形炭素または硬質炭素膜を表面保護層とし
て用いる技術が開示され、膜厚が5μmを越えると感光
体活性に悪影響が及ぶときれている。
JP-A-60-249115 discloses that 0.05 to 5μ
A technique has been disclosed in which an amorphous carbon or hard carbon film with a thickness of about 5 μm is used as a surface protective layer, and it is said that if the film thickness exceeds 5 μm, the photoreceptor activity will be adversely affected.

これらの開示は、何れも感光体表面に所謂オーバーコー
ト層を設けた発明であり、電荷輸送性についての開示は
全くなく、また、a−3iの有する前記した本質的問題
を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called overcoat layer is provided on the surface of a photoreceptor, and there is no disclosure of charge transport properties, and they do not solve the above-mentioned essential problems of a-3i. .

また、特開昭51−46130号公報には、ポリビニル
カルバゾール系電子写真感光体の表面にグロー放電重合
を行なって0.001〜3μmのポリマー膜を形成せし
めた電子写真感光板が開示されているが、電荷輸送性に
ついては全く言及されていないし、a−Siの持つ前記
した本質的問題を解決するものではない。
Further, JP-A-51-46130 discloses an electrophotographic photosensitive plate in which a polymer film of 0.001 to 3 μm is formed on the surface of a polyvinyl carbazole electrophotographic photoreceptor by glow discharge polymerization. However, there is no mention of charge transport properties, and it does not solve the above-mentioned essential problems of a-Si.

一方、アモルファスシリコン膜については、スピア(W
、E、5pear)及びレコンバ(P。
On the other hand, regarding the amorphous silicon film, Spear (W
, E, 5pear) and Recomba (P.

G、LeComber)により1976年発行のフィロ
ソフィカル・マガジン(Philosoph ica 
I  Magaz 1ne)第33巻の第935頁乃至
第949頁において、極性制御が可能な材料である事が
報じられて以来、種々の光電デバイスへの応用が試みら
れて来た。感光体への応用に関しては、例えば、特開昭
56−62254号公報、特開昭57−119356号
公報、特開昭57−177147号公報、特開昭57−
119357号公報、特開昭57−177149号公報
、特開昭57−119357号公報、特開昭57−17
7146号公報、特開昭57−177148号公報、特
開昭57−174448号公報、特開昭57−1744
49号公報、特開昭57−174450号公報、等に、
炭素原子を含有したアモルファスシリコン感光体が開示
されているが、何れもアモルファスシリコンの光導電性
を炭素原子により調整する事を目的としたものであり、
また、アモルファスシリコン自体厚い膜を必要としてい
る。
Philosophical Magazine (Philosophical Magazine) published in 1976 by
Since it was reported in Vol. 33, pages 935 to 949 of I Magaz 1ne) that it is a material whose polarity can be controlled, attempts have been made to apply it to various photoelectric devices. Regarding application to photoreceptors, for example, JP-A-56-62254, JP-A-57-119356, JP-A-57-177147, JP-A-57-
119357, JP 57-177149, JP 57-119357, JP 57-17
7146, JP 57-177148, JP 57-174448, JP 57-1744
No. 49, JP-A-57-174450, etc.
Amorphous silicon photoreceptors containing carbon atoms have been disclosed, but all of them are aimed at adjusting the photoconductivity of amorphous silicon with carbon atoms.
Furthermore, amorphous silicon itself requires a thick film.

■が 2しようと る 今 以上のように、従来、電子写真感光体に用いられている
プラズマ有機重合膜は所謂アンダーコート層もしくはオ
ーバーコート層として使用されていたが、それらはキャ
リアの輸送機能を必要としない膜であって、有機重合膜
が絶縁性で有るとの判断にたって用いられている。従っ
てその膜厚も高々5μm程度の極めて薄い膜としてしか
用いられず、キャリアはトンネル効果で膜中を通過する
か、トンネル効果が期待できない場合には、残留電位の
発生に関して事実上問題にならずに済む程度の薄い膜で
しか用いられていない。また、従来、電子写真に用いら
れているアモルファスシリコン膜は所謂厚膜で使用され
ており、価格或は生産性等に、不都合な点が多い。
As mentioned above, the plasma organic polymer films conventionally used in electrophotographic photoreceptors have been used as so-called undercoat layers or overcoat layers, but they have a carrier transport function. This film is not necessary and is used based on the judgment that the organic polymer film is insulating. Therefore, it can only be used as an extremely thin film with a thickness of about 5 μm at most, and carriers either pass through the film by tunneling effect, or if a tunneling effect cannot be expected, there is virtually no problem with the generation of residual potential. It is only used in thin films that are only small enough to last. Furthermore, amorphous silicon films conventionally used in electrophotography are so-called thick films, which have many disadvantages in terms of cost, productivity, and the like.

本発明者らは、アモルファスカーボン膜の電子写真感光
体への応用を検討しているうちに、本来絶縁性であると
考えられていた水素化アモルファスカーボン膜が酸素原
子とハロゲン原子とを含有せしめる事により、燐原子及
び硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に窒素
原子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファスシリ
コンゲルマニウム膜との積層においては電荷輸送性を有
し、容易に好適な電子写真特性を示し始める事を見出し
た。その理論的解釈には本発明者においても不明確な点
が多く詳細に亙り言及はできないが、酸素原子とハロゲ
ン原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜
中に捕捉されている比較的不安定なエネルギー状態の電
子、例えばπ電子、不対電子、残存フリーラジカル等が
形成するバンド構造が、燐原子及び硼素原子のうち少な
くとも一方を含有すると共に窒素原子を含有してなる水
素化或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜が
形成するバンド構造と電導帯もしくは荷電子帯において
近似したエネルギー準位を有するため、燐原子及び硼素
原子のうち少なくとも一方を含有すると共に窒素原子を
含有してなる水素化或は弗素化アモルファスシリコンゲ
ルマニウム膜中で発生したキャリアが容易に酸素原子と
ハロゲン原子とを含有してなる水素化アモルファスカー
ボン膜中へ注入され、さらに、このキャリアは前述の比
較的不安定なエネルギー状態の電子の作用により酸素原
子とハロゲン原子とを含有してなる水素化アモルファス
カーボン膜中を好適に走行し得るためと推定きれる。
While considering the application of amorphous carbon films to electrophotographic photoreceptors, the present inventors discovered that hydrogenated amorphous carbon films, which were originally thought to be insulating, contained oxygen atoms and halogen atoms. In some cases, when laminated with a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms and nitrogen atoms, it has charge transport properties and can easily become a suitable electron source. It was discovered that the material began to exhibit photographic properties. Although the theoretical interpretation has many unclear points even for the present inventors, it is not possible to discuss it in detail. Hydrogenated or Since the band structure formed by the fluorinated amorphous silicon germanium film has a similar energy level in the conduction band or valence band, hydrogenation containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms as well as nitrogen atoms is possible. Alternatively, carriers generated in the fluorinated amorphous silicon germanium film are easily injected into the hydrogenated amorphous carbon film containing oxygen atoms and halogen atoms, and furthermore, these carriers are absorbed by the relatively unstable energy described above. It is presumed that this is because the hydrogenated amorphous carbon film containing oxygen atoms and halogen atoms can travel suitably through the action of state electrons.

本発明はその新たな知見を利用することにより、アモル
ファスシリコン感光体の持つ前述の如き本質的問題点を
全て解消し、また従来とは全く使用目的も特性も異なる
、有機プラズマ重合膜、特に酸素原子とハロゲン原子と
を含有してなる水素化アモルファスカーボン膜を電荷輸
送層として使用し、かつ、燐原子及び硼素原子のうち少
なくとも一方を含有すると共に窒素原子を含有してなる
水素化或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウムの
r4膜を電荷発生層として使用した感光体を提供する事
を目的とする。
By utilizing this new knowledge, the present invention solves all the above-mentioned essential problems of amorphous silicon photoreceptors, and also uses organic plasma polymerized films, especially oxygen A hydrogenated amorphous carbon film containing atoms and halogen atoms is used as a charge transport layer, and hydrogenated or fluorine containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms as well as nitrogen atoms. An object of the present invention is to provide a photoreceptor using an R4 film of amorphous silicon germanium as a charge generation layer.

L′貞を解°するための;r 即ち、本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する機
能分離型感光体において、該電荷輸送層がプラズマ重合
反応から生成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜であり
、かつ、該電荷発生層が燐原子及び硼素原子のうち少な
くとも一方を含有すると共に窒素原子を含有してなる水
素化或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜で
あることを特徴とする感光体に関する(以下、本発明に
よる電荷輸送層をa −C膜及び電荷発生層をa−Si
膜と称する)。
In other words, the present invention provides a function-separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, in which the charge transport layer has at least oxygen atoms generated from a plasma polymerization reaction. A hydrogenated amorphous carbon film containing a halogen atom, and a hydrogenated or fluorinated amorphous carbon film containing at least one of a phosphorus atom and a boron atom as well as a nitrogen atom. Regarding a photoreceptor characterized in that it is a silicon germanium film (hereinafter, the charge transport layer according to the present invention is an a-C film and the charge generation layer is an a-Si germanium film).
(referred to as a membrane).

本発明は、従来のアモルファスシリコン感光体において
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能さえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用していたため発生してい
たこれらの問題点を解決すべく成されたものである。
The present invention was developed because, in conventional amorphous silicon photoreceptors, amorphous silicon, which has an excellent function as a charge generation layer, is also used as a charge transport layer, which requires only charge transport ability even if it does not have charge generation ability. This was done to solve these problems.

即ち、本発明は、電荷輸送層としてグロー放電により生
成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じくグロー放電により生成きれる燐原
子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に
窒素原子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファス
シリコンゲルマニウム膜を設けた事を特徴とする機能分
離型感光体に関する。該電荷輸送層は、可視光もしくは
半導体レーザー光付近の波長の光に対しては明確なる光
導電性は有ざないが、好適な輸送性を有し、ざらに、帯
電能、耐久性、耐候性、耐環境汚染性等の電子写真感光
体性能に優れ、しかも透光性にも優れるため、機能分離
型感光体としての積層構造を形成する場合に8いても極
めて高い自由度が得られるものである。また、該電荷発
生層は、可視光もしくは半導体レーザー光付近の波長の
光に対して優れた光導電性を有し、しかも従来のアモル
ファスシリコン感光体に比べて極めて薄い膜厚で、その
機能を活かす事ができるものである。
That is, the present invention provides a hydrogenated amorphous carbon film containing at least oxygen atoms and halogen atoms generated by glow discharge as a charge transport layer, and a hydrogenated amorphous carbon film containing at least oxygen atoms and halogen atoms generated by glow discharge as a charge generation layer. The present invention relates to a functionally separated photoreceptor characterized by being provided with a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film containing at least one of boron atoms and nitrogen atoms. Although the charge transport layer does not have clear photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, it has suitable transport properties, and has good charging ability, durability, and weather resistance. It has excellent electrophotographic photoreceptor performance such as durability and environmental pollution resistance, and is also excellent in light transmission, so it can provide an extremely high degree of freedom when forming a laminated structure as a functionally separated photoreceptor. It is. In addition, the charge generation layer has excellent photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, and has an extremely thin film thickness compared to conventional amorphous silicon photoreceptors. It is something that can be put to good use.

本発明においては、a−C膜を形成するために有機化合
物ガス、特に炭化水素ガスが用いられる。
In the present invention, an organic compound gas, particularly a hydrocarbon gas, is used to form the a-C film.

該炭化水素における相状態は常温常圧におし1て必ずし
も気相である必要はなく、加熱或は減圧等(こより溶融
、蒸発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相で
も固相でも使用可能である。
The phase state of the hydrocarbon does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure, but may be a liquid phase as long as it can be vaporized through heating, reduced pressure, etc. (melting, evaporation, sublimation, etc.). A solid phase can also be used.

使用可能な炭化水素には種類が多し)が、飽和炭化水素
としては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン
、ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、
デカン、ウンデカン、ドデカン、トリテ゛カン、テトラ
デカン、ペンタデカン、ヘキサコサン、ヘブタテ″カン
、オクタコサン、ノナデカン、エイコサン、ヘンエイコ
サン、トコサン、トリコサン、テトラコサン、ペンタコ
サン、ヘキサコサン、ヘプタコサン、オクタコサン、ノ
ナコサン、トリアコンタン、トドリアコンタン、ペンタ
トリアコンタン、等のノルマルtiラフイン並びに、イ
ソブタン、イソペンタン、ネオペンタン、イソヘキサン
、ネオヘキサン、2.3−ジメチルブタン、2−メチル
ヘキサン、3−エチルベブタン、2,2−ジメチルペン
タン、2,4−ジメチルペンタン、3,3−ジメチルペ
ンタン、トリブタン、2−メチルへブタン、3−メチル
へブタン、2.2−ジメチルヘキサン、2.2.5−ジ
メチルヘキサン、2,2.3−トリメチルペンタン、2
,2.4−)ジメチルペンタン、2,3゜3−トリメチ
ルペンタン、2,3.4−トリメチルペンタン、イソナ
ノン、等のイソパラフィン、等が用いられる。不飽和炭
化水素としては、例え′ば、エチレン、プロピレン、イ
ソブチレン、1−ブテン、2−ブテン、1−ペンテン、
2−ペンテン、2−メチル−1−ブテン、3−メチル−
1−ブテン、2−メチル−2−ブテン、1−ヘキセン、
テトラメチルエチレン、1−ヘプテン、1−オクテン、
1−ノネン、1−デセン、等のオレフィン、並びに、ア
レン、メチルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、ヘキ
サジエン、シクロペンタジェン、等のジオレフィン、並
びに、オシメン、アロオシメン、ミルセン、ヘキサトリ
エン、等のトリオレフイン、並びに、アセチレン、ブタ
ジイン、1.゛3−ペンタジイン、2.4−へキサジイ
ン、メチルアセチレン、1−ブチン、2−ブチン、1−
ベンヂン、1−ヘキシン、1−ヘプチン、1−オクチン
、1−ノニン、1−デシン、等が用いられる。
There are many types of hydrocarbons that can be used), but examples of saturated hydrocarbons include methane, ethane, propane, butane, pentane, hexane, heptane, octane, nonane,
Decane, undecane, dodecane, tritecane, tetradecane, pentadecane, hexacosane, hebutatecane, octacosane, nonadecane, eicosane, heneicosane, tocosane, tricosane, tetracosane, pentacosane, hexacosane, heptacosane, octacosane, nonacosane, triacontane, todoriacontane, pentacosane Normal ti rough ins such as triacontane, isobutane, isopentane, neopentane, isohexane, neohexane, 2,3-dimethylbutane, 2-methylhexane, 3-ethylbebutane, 2,2-dimethylpentane, 2,4-dimethylpentane , 3,3-dimethylpentane, tributane, 2-methylhebutane, 3-methylhebutane, 2.2-dimethylhexane, 2.2.5-dimethylhexane, 2,2.3-trimethylpentane, 2
, 2.4-)dimethylpentane, 2,3°3-trimethylpentane, 2,3.4-trimethylpentane, isonanone, and other isoparaffins. Examples of unsaturated hydrocarbons include ethylene, propylene, isobutylene, 1-butene, 2-butene, 1-pentene,
2-pentene, 2-methyl-1-butene, 3-methyl-
1-butene, 2-methyl-2-butene, 1-hexene,
Tetramethylethylene, 1-heptene, 1-octene,
Olefins such as 1-nonene, 1-decene, diolefins such as allene, methylalene, butadiene, pentadiene, hexadiene, cyclopentadiene, and triolefins such as ocimene, allocimene, myrcene, hexatriene, Also, acetylene, butadiine, 1.゛3-pentadiyne, 2,4-hexadiyne, methylacetylene, 1-butyne, 2-butyne, 1-
Benzene, 1-hexyne, 1-heptyne, 1-octyne, 1-nonine, 1-decyne, etc. are used.

脂環式炭化水素としては、例えば、シクロプロパン、シ
クロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロノナン、シクロデカ
ン、シクロウンデカン、シクロドデカン、シクロトリデ
カン、シクロテトラデカン、シクロペンタデカン、シク
ロヘキサデカン、等のシクロパラフィン並びに、シクロ
プロペン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプテン、シクロオクテン、シクロノネン
、シクロデセン、等のシクロオレフィン並びに、リモネ
ン、テルビルン、フエランドレン、シルベストレン、ツ
エン、カレン、ピネン、ボルニレン、カンフエン、フエ
ンチェン、シクロウンデカン、トリシクレン、ビサボレ
ン、ジンギベレン、クルクメン、フムレン、カジネンセ
スキベニヘン、セリネン、カリオフィレン、サンタレン
、セドレン、カンホレン、フィロクラテン、ボドカルブ
レン、ミレン、等のテルペン並びに、ステロイド等が用
いられる。芳香族炭化水素としては、例えば、ベンゼン
、トルエン、キシレン、ヘミメリテン、プソイドクメン
、メシチレン、プレニテン、イソジュレン、ジュレン、
ペンタメチルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エチル
ベンゼン、プロピルベンゼン、クメン、スチレン、ビフ
ェニル、テルフェニル、ジフェニルメタン、トリフェニ
ルメタン、ジベンジル、スチルベン、インデン、ナフタ
リン、テトラリン、アントラセン、フェナントレン、等
が用いられる。
Examples of alicyclic hydrocarbons include cyclopropane, cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cyclohebutane, cyclooctane, cyclononane, cyclodecane, cycloundecane, cyclododecane, cyclotridecane, cyclotetradecane, cyclopentadecane, cyclohexadecane, Cycloparaffins such as cyclopropene, cyclobutene, cyclopentene, cyclohexene, cycloheptene, cyclooctene, cyclononene, cyclodecene, and cycloolefins such as limonene, tervirun, phelandrene, sylvestrene, thuene, carene, pinene, bornylene, kamphuen, fuenchen , cycloundecane, tricyclene, bisabolene, zingiberene, curcumene, humulene, kajinensesesquivenichen, selinene, caryophyllene, santarene, cedrene, campholene, phylloclatene, bodocarbrene, mirene, and other terpenes, steroids, and the like are used. Examples of aromatic hydrocarbons include benzene, toluene, xylene, hemimelithene, pseudocumene, mesitylene, prenitene, isodurene, durene,
Pentamethylbenzene, hexamethylbenzene, ethylbenzene, propylbenzene, cumene, styrene, biphenyl, terphenyl, diphenylmethane, triphenylmethane, dibenzyl, stilbene, indene, naphthalene, tetralin, anthracene, phenanthrene, etc. are used.

ざらに、炭化水素以外でも、例えば、アルコール類、ケ
トン類、エーテル類、エステル類、等炭素と成りうる化
合物であれば使用可能である。
In general, any compound other than hydrocarbons that can be converted into carbon, such as alcohols, ketones, ethers, and esters, can be used.

本発明におけるa −C膜中に含まれる水素原子の量は
グロー放電を用いるというその製造面から必然的に定ま
るが、炭素原子と水素原子の総量に対して、概ね30乃
至60原子%含有される。ここで、炭素原子並びに水素
原子の膜中含有量は、有機元素分析の常法、例えばCN
H分析を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms contained in the a-C film of the present invention is inevitably determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but it is approximately 30 to 60 atomic percent contained in the a-C film based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. Ru. Here, the content of carbon atoms and hydrogen atoms in the film is determined by a conventional method of organic elemental analysis, for example, CN
This can be determined by using H analysis.

本発明におけるa −C膜中に含まれる水素原子の量は
、成膜装置の形態並びに成膜時の条件により変化するが
、例えば、基板温度を高くする、圧力を低くする、原料
炭化水素ガスの希釈率を低くする、印加電力を高くする
、交番電界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめ
た直流電界強度を高くする、等の手段、或は、これらの
組合せ操作は、含有水素量を低くする効果を有する。
The amount of hydrogen atoms contained in the a-C film in the present invention varies depending on the form of the film forming apparatus and the conditions during film forming, but for example, increasing the substrate temperature, lowering the pressure, using the raw material hydrocarbon gas, etc. Measures such as lowering the dilution rate of hydrogen, increasing the applied power, lowering the frequency of the alternating electric field, increasing the strength of the direct current electric field superimposed on the alternating electric field, or combinations thereof, can reduce the amount of hydrogen contained. It has the effect of lowering

本発明における電荷輸送層としてのa −C膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、5乃至5
oμm、特に7乃至20μmが適当であり、5μmより
薄いと、帯電電位が低いため充分な複写画像濃度を得る
事ができない。また、50μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。
The thickness of the a-C film as the charge transport layer in the present invention is 5 to 5
0 .mu.m, especially 7 to 20 .mu.m, is suitable; if it is thinner than 5 .mu.m, the charged potential will be low, making it impossible to obtain a sufficient density of the copied image. Moreover, if it is thicker than 50 μm, it is not preferable in terms of productivity.

このa−CM、は、高透光性、高暗抵抗を有するととも
に電荷輸送性に富み、膜厚を上記の様に5μm以上とし
てもキャリアはトラップされる事無く輸送され明減衰に
寄与する事が可能である。
This a-CM has high light transmittance, high dark resistance, and is rich in charge transport properties, and as mentioned above, even if the film thickness is 5 μm or more, carriers are transported without being trapped and contribute to bright attenuation. is possible.

本発明における原料気体からa −CPIを形成する過
程としては、原料気体が、直流、低周波、高周波、或は
マイクロ波等を用いたプラズマ法により生成されるプラ
ズマ状態を経て形成される方法が最も好ましいが、その
他にも、イオン化蒸看法、或はイオンビーム蒸着法等に
より生成されるイオン状態を経て形成されてもよいし、
真空蒸着法、或はスパッタリング法等により生成される
中性粒子から形成されてもよいし、ざらには、これらの
′組み合わせにより形成されてもよい。
The process of forming a-CPI from a raw material gas in the present invention includes a method in which the raw material gas undergoes a plasma state generated by a plasma method using direct current, low frequency, high frequency, microwave, etc. Although it is most preferred, it may also be formed through an ion state generated by ionization vaporization method, ion beam vaporization method, etc.
It may be formed from neutral particles produced by a vacuum evaporation method, a sputtering method, or the like, or it may be formed by a combination of these.

本発明においては炭化水素の他に、a −C膜中に少な
くとも酸素原子を添加するために酸素化合物が使用され
る。該酸素化合物における相状態は常温常圧において必
ずしも気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶
融、蒸発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相
でも固相でも使用可能である。酸素化合物としては、例
えば、酸素、オゾン、水蒸気、−酸化炭素、二酸化炭素
、亜酸化炭素、等の無機化合物、水酸基(−OH) 、
アルデヒド基(−COH) 、7シ)tt基(RCO−
、−CRO) 、ケトン基(>Co)、エーテル結合(
−〇−)、エステル結合(−Coo−) 、酸素を含む
複素環、等の官能基或は結合を有する有機化合物、等が
用いられる。水酸基を有する有機化合物としては、例え
ば、メタノール、エタノール、プロパツール、ブタノー
ル、フリルアルコール、フルオロエタノール、フルオロ
ブタノール、フェノール、シクロヘキサノール、ベンジ
ルアルコール、フルフリルアルコール、等が用いられる
。アルデヒド基を有する有機化合物としては、例えば、
ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオアルデ
ヒド、ブチルアルデヒド、グリオキサール、アクロレイ
ン、ベンズアルデヒド、フルフラール、等が用いられる
。アシル基を有する有機化合物としては、例えば、ギ酸
、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、パルミチン酸、
ステアリン酸、オレイン酸、シュウ酸、マロン酸、コハ
ク酸、安息香酸、トルイル酸、サリチル酸、ケイヒ酸、
ナフトエ酸、フタル酸、フラン酸、等が用いられる。ケ
トン基を有する有機化合物としては、例えば、ア七トン
、エチルメチルケトン、メチルプロピルケトン、ブチル
メチルケトン、ビナコロン、ジエチルケトン、メチルビ
ニルケトン、メシチルオキシド、メチルヘプテノン、シ
クロブタノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、
アセトフェノン、プロピオフェノン、ブチロフェノン、
パレロフエノン、ジベンジルケトン、アセトナフトン、
アセトチェノン、アセトフロン、等が用いられる。エー
テル結合を有する有機化合物としては、例えば、メチル
エーテル、エチルエーテル、プロピルエーテル、ブチル
エーテル、アミルエーテル、エチルメチルエーテル、メ
チルプロピルエーテル、メチルブチルエーテル、メチル
アミルエーテル、エチルプロピルエーテル、エチルブチ
ルエーテル、エチルアミルエーテル、ビニルエーテル、
アリルエーテル、メチルビニルエーテル、メチルフリル
エーテル、エチルビニルエーテル、エチルフリルエーテ
ル、アニソール、フエネトール、フェニルエーテル、ベ
ンジルエーテル、フェニルベンジルエーテル、ナフチル
エーテル、酸化エチレン、酸化プロピレン、酸化トリメ
チレン、テトラヒドロフラン、テトラヒドロビラン、ジ
オキサン、等が用いられる。エステル結合を有する有機
化合物としては、例えば、ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ
酸プロピル、ギ酸ブチル、ギ酸アミル、酢酸メチル、酢
酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、酢酸アミル、プ
ロピオン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸
プロピル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸アミル、
酪酸メチル、酪酸エチル、酪酸プロピル、酪酸ブチル、
酪酸アミル、吉草酸メチル、吉草酸エチル、吉草酸プロ
ピル、吉草酸ブチル、吉草酸アミル、安息香酸メチル、
安息香酸エチル、ケイ皮酸メチル、ケイ皮酸エチル、ケ
イ皮酸プロピル、サリチル酸メチル、サリチル酸エチル
、サリチル酸プロピル、サリチル酸ブチル、サリチル酸
アミル、アントラニル酸メチル、アントラニル酸エチル
、アントラニル酸ブチル、アントラニル酸アミル、フタ
ル酸メチル、フタル酸エチル、フタル酸ブチル、等が用
いられる。酸素を含む複素環化合物としては、フラン、
オキサゾ−ル、フラザン、ビラン、オキサジン、モルホ
リン、ベンゾフラン、パンジオキサゾール、クロメン、
クロマン、ジベンゾフラン、キサンチン、フェノキサジ
ン、オキソラン、ジオキンラン、オキサチオラン、オキ
サジアジン、ベンゾイソオキサゾール、等が用いられる
In the present invention, in addition to hydrocarbons, oxygen compounds are used to add at least oxygen atoms into the a-C film. The phase state of the oxygen compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is. Examples of oxygen compounds include oxygen, ozone, water vapor, -carbon oxide, carbon dioxide, carbon suboxide, and other inorganic compounds, hydroxyl groups (-OH),
Aldehyde group (-COH), 7)tt group (RCO-
, -CRO), ketone group (>Co), ether bond (
Organic compounds having functional groups or bonds such as -0-), ester bonds (-Coo-), and oxygen-containing heterocycles are used. As the organic compound having a hydroxyl group, for example, methanol, ethanol, propatool, butanol, furyl alcohol, fluoroethanol, fluorobutanol, phenol, cyclohexanol, benzyl alcohol, furfuryl alcohol, etc. are used. Examples of organic compounds having an aldehyde group include:
Formaldehyde, acetaldehyde, propionaldehyde, butyraldehyde, glyoxal, acrolein, benzaldehyde, furfural, etc. are used. Examples of organic compounds having an acyl group include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, palmitic acid,
Stearic acid, oleic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, benzoic acid, toluic acid, salicylic acid, cinnamic acid,
Naphthoic acid, phthalic acid, furanic acid, etc. are used. Examples of organic compounds having a ketone group include a7tone, ethyl methyl ketone, methyl propyl ketone, butyl methyl ketone, binacolon, diethyl ketone, methyl vinyl ketone, mesityl oxide, methyl heptenone, cyclobutanone, cyclopentanone, cyclohexanone,
Acetophenone, propiophenone, butyrophenone,
Parellofoenone, dibenzyl ketone, acetonaphthone,
Acetochenone, acetofuron, etc. are used. Examples of organic compounds having an ether bond include methyl ether, ethyl ether, propyl ether, butyl ether, amyl ether, ethyl methyl ether, methyl propyl ether, methyl butyl ether, methyl amyl ether, ethyl propyl ether, ethyl butyl ether, and ethyl amyl ether. , vinyl ether,
Allyl ether, methyl vinyl ether, methyl furyl ether, ethyl vinyl ether, ethyl furyl ether, anisole, phenetol, phenyl ether, benzyl ether, phenylbenzyl ether, naphthyl ether, ethylene oxide, propylene oxide, trimethylene oxide, tetrahydrofuran, tetrahydrobilane, dioxane, etc. are used. Examples of organic compounds having an ester bond include methyl formate, ethyl formate, propyl formate, butyl formate, amyl formate, methyl acetate, ethyl acetate, propyl acetate, butyl acetate, amyl acetate, methyl propionate, ethyl propionate, and propion. propyl acid, butyl propionate, amyl propionate,
Methyl butyrate, ethyl butyrate, propyl butyrate, butyl butyrate,
Amyl butyrate, methyl valerate, ethyl valerate, propyl valerate, butyl valerate, amyl valerate, methyl benzoate,
Ethyl benzoate, methyl cinnamate, ethyl cinnamate, propyl cinnamate, methyl salicylate, ethyl salicylate, propyl salicylate, butyl salicylate, amyl salicylate, methyl anthranilate, ethyl anthranilate, butyl anthranilate, amyl anthranilate, Methyl phthalate, ethyl phthalate, butyl phthalate, etc. are used. Examples of heterocyclic compounds containing oxygen include furan,
Oxazole, furazane, biran, oxazine, morpholine, benzofuran, pandioxazole, chromene,
Chroman, dibenzofuran, xanthine, phenoxazine, oxolane, dioquinrane, oxathiolane, oxadiazine, benzisoxazole, etc. are used.

本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子の量は、全構成原子に対して7.0原子%以下である
。ここで酸素原子の膜中含有量は、元素分析の常法、例
えばオージェ分析により知る事ができる。酸素原子の量
が7.0原子%より高い場合には、少量の添加では好適
な輸送性を保証していた酸素原子が、逆に膜の低抵抗化
を招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。また、酸素
源ガスの一部のもの、例えば、酸素ガス、オゾンガス、
−酸化炭素ガス等においては、エツチング効果が強く現
れ、その流量を増やす事により酸素原子の膜中への添加
量を増加させようとすると、成膜速度が低下し、ある程
度の膜厚が必要とぎれる1i荷輸送層の成膜においては
不都合となる。従って、本発明における酸素原子添加量
の範囲は重要である。
In the present invention, the amount of oxygen atoms contained as a chemical modifier is 7.0 at % or less based on all constituent atoms. Here, the content of oxygen atoms in the film can be determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis. When the amount of oxygen atoms is higher than 7.0 at%, the oxygen atoms, which had ensured suitable transport properties when added in small amounts, conversely exhibit the effect of lowering the resistance of the film, resulting in a decrease in charging ability. will come. In addition, some oxygen source gases, such as oxygen gas, ozone gas,
- Carbon oxide gas has a strong etching effect, and if you try to increase the amount of oxygen atoms added to the film by increasing the flow rate, the film formation rate will decrease and a certain film thickness will be required. This is inconvenient when forming a 1i cargo transport layer. Therefore, the range of the amount of oxygen atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への前述
の酸素化合物の導入量を増減することにより制御するこ
とが可能である。酸素化合物の導入量を増大させれば、
本発明によるa −C膜中への酸素原子の添加量を高(
することが可能であり、逆に酸素化合物の導入量を減少
きせれば、本発明によるa −C膜中への酸素原子の添
加量を低くすることが可能である。
In the present invention, the amount of oxygen atoms contained as a chemical modifier can be controlled mainly by increasing or decreasing the amount of the aforementioned oxygen compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. If the amount of oxygen compound introduced is increased,
The amount of oxygen atoms added to the a-C film according to the present invention is increased (
On the other hand, if the amount of oxygen compounds introduced can be reduced, it is possible to reduce the amount of oxygen atoms added to the a-C film according to the present invention.

本発明においては炭化水素の他に、a−C膜中に少なく
ともハロゲン原子を添加するためにハロゲン化合物が使
用される。ここでハロゲン原子とは、弗素原子、塩素原
子、臭素原子、及び沃素原子をいう。該ハロゲン化合物
における相状態は常温常圧において必ずしも気相である
必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸発、昇華等
を経て気化しうるものであれば、液相でも固相でも使用
可能である。ハロゲン化合物としては、例えば、弗素、
塩素、臭素、沃素、弗化水素、弗化塩素、弗化臭素、弗
化沃素、塩化水素、塩化臭素、塩化沃素、臭化水素、臭
化沃素、沃化水素、等の無機化合物、ハロゲン化アルキ
ル、ハロゲン化アリール、ハロゲ化スチレン、ハロゲン
化ポリメチレン、ハロホルム、等の有機化合物が用いら
れる。ハロゲン化アルキルとしては、例えば、フッ化メ
チル、塩化メチル、臭化メチル、ヨウ化メチル、フッ化
エチル、塩化エチル、臭化エチル、ヨウ化エチル、フッ
化プロピル、塩化プロピル、臭化プロピル、ヨウ化プロ
ピル、フッ化ブチル、塩化ブチル、臭化ブチル、ヨウ化
ブチル、フッ化アミル、塩化アミル、臭化アミル、ヨウ
化アミル、フッ化ヘキシル、塩化ヘキシル、臭化ヘキシ
ル、ヨウ化ヘキシル、フッ化ヘプチル、塩化へブチル、
臭化ヘブチル、ヨウ化へブチル、フッ化オクチル、塩化
オクチル、臭化オクチル、ヨウ化オクチル、フッ化ノニ
ル、塩化ノニル、臭化ノニル、ヨウ化ノニル、フッ化デ
シル、塩化デシル、臭化デシル、ヨウ化デシル、等が用
いられる。ハロゲン化アリールとしては、例えば、フル
オルベンゼン、クロルベンゼン、ブロムベンゼン、ヨー
ドベンゼン、クロルトルエン、ブロムトルエン、クロル
ナフタリン、ブロムナフタリン、等が用いられる。ハロ
ゲン化スチレンとしては、例えば、クロルスチレン、ブ
ロムスチレン、ヨードスチレン、フルオルスチレン、等
が用いられる。ハロゲン化ポリメチレンとしては、例え
ば、塩化メチレン、臭化メチレン、ヨウ化メチレン、塩
化エチレン、臭化エチレン、ヨウ化エチレン、塩化トリ
メチレン、臭化トリメチレン、ヨウ化トリメチレン、ジ
塩化ブタン、ジ臭化ブタン、ショウ化ブタン、ジ塩化ペ
ンタン、ジ臭化ペンタン、ショウ化ペンタン、ジ塩化ヘ
キサン、ジ臭化へキサン、ショウ化ヘキサン、ジ塩化へ
ブタン、ジ臭化へブタン、ショウ化へブタン、ジ塩化オ
クタン、ジ臭化オクタン、ショウ化オクタン、ジ塩化ノ
ナン、ジ臭化ノナン、ジ塩化デカン、ジヨウ化デカン、
等が用いられる。ハロホルムとしては、例えば、フルオ
ロホルム、クロロホルム、ブロモホルム、ヨードホルム
、等が用いられる。
In the present invention, in addition to hydrocarbons, halogen compounds are used to add at least halogen atoms into the a-C film. Here, the halogen atom refers to a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom. The phase state of the halogen compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is. Examples of halogen compounds include fluorine,
Inorganic compounds such as chlorine, bromine, iodine, hydrogen fluoride, chlorine fluoride, bromine fluoride, iodine fluoride, hydrogen chloride, bromine chloride, iodine chloride, hydrogen bromide, iodine bromide, hydrogen iodide, etc., and halogenated Organic compounds such as alkyl, halogenated aryl, halogenated styrene, halogenated polymethylene, and haloform are used. Examples of alkyl halides include methyl fluoride, methyl chloride, methyl bromide, methyl iodide, ethyl fluoride, ethyl chloride, ethyl bromide, ethyl iodide, propyl fluoride, propyl chloride, propyl bromide, and Propyl chloride, butyl fluoride, butyl chloride, butyl bromide, butyl iodide, amyl fluoride, amyl chloride, amyl bromide, amyl iodide, hexyl fluoride, hexyl chloride, hexyl bromide, hexyl iodide, fluoride heptyl, hebutyl chloride,
Hebutyl bromide, hebutyl iodide, octyl fluoride, octyl chloride, octyl bromide, octyl iodide, nonyl fluoride, nonyl chloride, nonyl bromide, nonyl iodide, decyl fluoride, decyl chloride, decyl bromide, Decyl iodide, etc. are used. As the aryl halide, for example, fluorobenzene, chlorobenzene, brombenzene, iodobenzene, chlorotoluene, bromotoluene, chlornaphthalene, bromnaphthalene, etc. are used. As the halogenated styrene, for example, chlorstyrene, bromustyrene, iodostyrene, fluorostyrene, etc. are used. Examples of halogenated polymethylene include methylene chloride, methylene bromide, methylene iodide, ethylene chloride, ethylene bromide, ethylene iodide, trimethylene chloride, trimethylene bromide, trimethylene iodide, butane dichloride, butane dibromide, Butane dichloride, pentane dichloride, pentane dibromide, pentane dichloride, hexane dichloride, hexane dibromide, hexane dichloride, hexane dichloride, hebutane dibromide, hebutane dichloride, octane dichloride , octane dibromide, octane shoide, nonane dichloride, nonane dibromide, decane dichloride, decane diiodide,
etc. are used. As the haloform, for example, fluoroform, chloroform, bromoform, iodoform, etc. are used.

本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、全構成原子に対して0゜1乃至25原子
%である。ここで、膜中に含有されるハロゲン原子の量
は、元素分析の常法、例えばオージェ分析により知る事
ができる。ハロゲン原子の量が0.1原子%より低い場
合には、必ずしも好適な電荷輸送性が保証されず、感度
低下もしくは残留電位の発生等を生じ易くなり、また、
゛経時的感度安定性も保証されな(なる。ハロゲン原子
の量が25原子%より高い場合には、適量の添加では好
適な電荷輸送性と残留電位発生防止を保証していたハロ
ゲン原子が、逆に、帯電能の低下、ざらには経時後の暗
抵抗を低くする作用を示し、数カ月単位の保管中に電荷
保持能の低下を招く。また、必ずしも成膜性が保証され
なくなり、膜の剥離、油状化もしくは粉体化を招く。従
って、本発明におけるハロゲン原子添加量の範囲は重要
である。
In the present invention, the amount of halogen atoms contained as a chemical modifier is 0.1 to 25 at.% based on the total constituent atoms. Here, the amount of halogen atoms contained in the film can be determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis. If the amount of halogen atoms is lower than 0.1 atomic %, suitable charge transport properties are not necessarily guaranteed, and sensitivity decreases or residual potential is likely to occur, and
゛Sensitivity stability over time is not guaranteed.If the amount of halogen atoms is higher than 25 at%, the halogen atoms, which would have guaranteed suitable charge transport properties and prevention of residual potential generation when added in an appropriate amount, On the contrary, it has the effect of lowering the charging ability, or even lowering the dark resistance after aging, leading to a decrease in the charge retention ability during storage for several months.Furthermore, film formation properties are not necessarily guaranteed, and the film's This results in peeling, oily formation, or pulverization. Therefore, the range of the amount of halogen atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への
前述のハロゲン化合物の導入量を増減することにより制
御することが可能である。
In the present invention, the amount of halogen atoms contained as a chemical modifier can be controlled mainly by increasing or decreasing the amount of the halogen compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed.

ハロゲン化合物の導入量を増大させれば、本発明による
a−C膜中へのハロゲン原子の添加量を高くすることが
可能であり、逆にハロゲン化合物の導入量を減少させれ
ば、本発明によるa −C膜中へのハロゲン原子の添加
量を低くすることが可能である。
By increasing the amount of halogen compound introduced, it is possible to increase the amount of halogen atoms added to the a-C film according to the present invention, and conversely, by decreasing the amount of halogen compound introduced, it is possible to increase the amount of halogen atoms added to the a-C film according to the present invention. It is possible to reduce the amount of halogen atoms added to the a-C film.

本発明においては、a−Si膜を形成するためにシラン
ガス、ジシランガス、或は、弗化シランガスが用いられ
る。また、化学的修飾物質として燐原子或は硼素原子を
膜中に含有せしめるための原料ガスとして、ホスフィン
ガス或はジボランガス等が用いられる。ざらに、化学的
修飾物質として窒素原子を膜中に含有せしめるための原
料ガスとして、窒素ガス、アンモニアガス、亜酸化窒素
ガス、或は、二酸化窒素ガス、等の窒素化合物ガスが用
いられる。また、ゲルマニウム原子を含有させるために
、ゲルマンガスが用いられる。
In the present invention, silane gas, disilane gas, or fluorinated silane gas is used to form the a-Si film. Furthermore, phosphine gas, diborane gas, or the like is used as a raw material gas for incorporating phosphorus atoms or boron atoms as chemical modifiers into the film. In general, a nitrogen compound gas such as nitrogen gas, ammonia gas, nitrous oxide gas, or nitrogen dioxide gas is used as a raw material gas for containing nitrogen atoms as a chemical modifier in the film. Furthermore, germane gas is used to contain germanium atoms.

本発明におけるa−Si膜中に含有されるゲルマニウム
原子の含有量は、シリコン原子とゲルマニウム原子との
総和に対して、30原子%以下が好ましい。ここで、ゲ
ルマニウム原子及びシリコン原子の含有率は、元素分析
の常法、例えばオージェ分析により知る事ができる。ゲ
ルマニウム原子の含有量は、膜形成時に流入するゲルマ
ンガスの流量を増加する事により高くなる。ゲルマニウ
ム原子の含有量が高くなるにつれ本発明感光体の長波長
感度は向上し、短波長領域から長波長領域にまで幅広く
露光源が選択され得るようになり好ましいが、ゲルマニ
ウム原子が30原子%より多く含有されると帯電能の低
下を招くため、過剰の添加は好ましくない。従って、本
発明におけるa−3i膜中に含有されるゲルマニウム原
子の含有量は重要である。
The content of germanium atoms contained in the a-Si film in the present invention is preferably 30 at % or less with respect to the total of silicon atoms and germanium atoms. Here, the contents of germanium atoms and silicon atoms can be determined by a conventional method of elemental analysis, for example, Auger analysis. The content of germanium atoms can be increased by increasing the flow rate of germane gas flowing during film formation. As the content of germanium atoms increases, the long wavelength sensitivity of the photoreceptor of the present invention improves, and exposure sources can be selected from a wide range from short wavelength regions to long wavelength regions, which is preferable. Excessive addition is not preferable since a large content will lead to a decrease in charging ability. Therefore, the content of germanium atoms contained in the a-3i film in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有される燐原子
或は憫素原子の量は、全構成原子に対して20000原
子ppm以下である。ここで燐原子或は硼素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析或はI
MA分析により知る事ができる。燐原子或は硼素原子の
膜中含有量が2oO00原子ppmより高い場合には、
少量の添加では好適な輸送性、或は、極性制御効果を保
証していた燐原子或は硼素原子が、逆に膜の低抵抗化を
招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。従って、本発
明における燐原子或はFIA素原子添加量の範囲は重要
である。
In the present invention, the amount of phosphorus atoms or phosphorus atoms contained as chemical modifiers is 20,000 atomic ppm or less based on all constituent atoms. Here, the content of phosphorus atoms or boron atoms in the film is determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis or I
This can be known through MA analysis. When the content of phosphorus atoms or boron atoms in the film is higher than 2oO00 atomic ppm,
Phosphorus atoms or boron atoms, which, when added in small amounts, ensure suitable transport properties or polarity control effects, conversely exhibit the effect of lowering the resistance of the film, resulting in a decrease in charging ability. Therefore, the range of the amount of phosphorus atoms or FIA elementary atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有される窒素原
子の量は、全構成原子に対して0.001乃至3原子%
である。ここで窒素原子の膜中含有量は、元素分析の常
法、例えばオージェ分析或はIMA分析により知る事が
できる。窒素原子の膜中含有量が0.001原子%より
低い場合には、a−3i膜の電気抵抗値が低くなる事か
らa−Si膜にコロナ帯電等による電界がかかりにくく
なり、光励起キャリアが必ずしも効率よ<a−(4M中
に注入されなくなり感度の低下を招く。また、帯電能も
低下する。窒素原子の膜中含有量が3原子%より高い場
合には、微量の添加においては好適な帯電能を保証して
いた窒素原子が、過剰の添加ではa−3i膜を高抵抗化
し電荷の易動度を低下ならしめるため感度の低下を招く
。従って、本発明における窒素原子添加量の範囲は重要
である。
In the present invention, the amount of nitrogen atoms contained as a chemical modifier is 0.001 to 3 at% based on the total constituent atoms.
It is. Here, the content of nitrogen atoms in the film can be determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis or IMA analysis. When the content of nitrogen atoms in the film is lower than 0.001 at%, the electric resistance value of the a-3i film becomes low, making it difficult for the a-Si film to be subjected to electric fields due to corona charging, etc., and photoexcited carriers are Efficiency <a-(4M will not be injected, resulting in a decrease in sensitivity. Also, charging ability will also decrease. If the content of nitrogen atoms in the film is higher than 3 at%, it is suitable for adding a small amount of nitrogen atoms. Nitrogen atoms, which guarantee a good charging ability, increase the resistance of the a-3i film and reduce the mobility of charges when added in excess, resulting in a decrease in sensitivity.Therefore, the amount of nitrogen atoms added in the present invention is Range is important.

本発明におけるa−Si膜中に含まれる水素原子或は弗
素原子の量はグロー放電を用いるというその製造面から
必然的に定まるが、シリコン原子と水素原子或はシリコ
ン原子と弗素原子の総量に対して、概ね10乃至35原
子%含有される。ここで、水素原子或は弗素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばONH分析、オージ
ェ分析等を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms or fluorine atoms contained in the a-Si film of the present invention is necessarily determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but the total amount of silicon atoms and hydrogen atoms or silicon atoms and fluorine atoms On the other hand, the content is approximately 10 to 35 at%. Here, the content of hydrogen atoms or fluorine atoms in the film can be determined by using conventional methods of elemental analysis, such as ONH analysis and Auger analysis.

本発明における電荷発生層としてのa−3i膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、0.1乃
至5μmが適当であり、0.1μmより薄いと、光吸収
が不十分となり充分な電荷発生が行なわれなくなり、感
度の低下を招く。また、5μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。このa−Si膜は電荷発生能に富み、
ざらに、本発明の最も特徴とするところのa−C膜との
積層構成において効率よ<a−C膜中に発生キャリアを
注入せしめ、好適な明減衰に寄与する事が可能である。
The appropriate thickness of the a-3i film as the charge generation layer in the present invention is 0.1 to 5 μm for use in a normal electrophotographic process, and if it is thinner than 0.1 μm, light absorption is insufficient. As a result, sufficient charge generation is not performed, resulting in a decrease in sensitivity. Moreover, if it is thicker than 5 μm, it is not preferable in terms of productivity. This a-Si film has a rich charge generation ability,
In general, in the laminated structure with the a-C film, which is the most characteristic feature of the present invention, generated carriers can be efficiently injected into the a-C film, contributing to suitable bright attenuation.

本発明における原料気体からa−Sillを形成する過
程は、a−C膜を形成する場合と同様にして行なわれる
The process of forming the a-Sill from the raw material gas in the present invention is carried out in the same manner as the case of forming the a-C film.

本発明において化学的修飾物質として含有される窒素原
子、燐原子、或は、硼素原子の量は、主に、プラズマ反
応を行なう反応室への前述の窒素化合物ガス、ホスフィ
ンガス、或は、ジボランガスの導入量を増減することに
より制御することが可能である。窒素化合物ガス、ホス
フィンガス、或は、ジボランガスの導入量を増大させれ
ば、本発明によるa−3illiJ中への窒素原子、燐
原子、或は、硼素原子の添加量を高くすることが可能で
あり、逆に窒素化合物ガス、ホスフィンガス、或は、ジ
ボランガスの導入量を減少させれば、本発明によるa−
3iFJ中への窒素原子、燐原子、或は、硼素原子の添
加量を低くすることが可能である。
In the present invention, the amount of nitrogen atoms, phosphorus atoms, or boron atoms contained as chemical modifiers is mainly determined by the amount of nitrogen compound gas, phosphine gas, or diborane gas introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. It can be controlled by increasing or decreasing the amount of introduced. By increasing the amount of nitrogen compound gas, phosphine gas, or diborane gas introduced, it is possible to increase the amount of nitrogen atoms, phosphorus atoms, or boron atoms added to a-3illiJ according to the present invention. On the other hand, if the amount of nitrogen compound gas, phosphine gas, or diborane gas introduced is reduced, a-
It is possible to reduce the amount of nitrogen atoms, phosphorus atoms, or boron atoms added to 3iFJ.

本発明における感光体は、電荷発生層と電荷輸送層から
成る機能分離型の構成とするのが最適で、該電荷発生層
と該電荷輸送層の積層構成は、必要に応じて適宜選択す
ることが可能である。
It is optimal for the photoreceptor in the present invention to have a functionally separated structure consisting of a charge generation layer and a charge transport layer, and the laminated structure of the charge generation layer and the charge transport layer may be appropriately selected as necessary. is possible.

第1図は、その一形態として、導電性基板(1)上に電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)を順次積層してなる
構成を示したものである。第2図は、別の一形態として
、導電性基板(1)上に電荷発生層(3)と電荷輸送層
(2)を順次積層してなる構成を示したものである。第
3図は、別の一形態として、導電性基板(1)上に、電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。
FIG. 1 shows, as one embodiment, a structure in which a charge transport layer (2) and a charge generation layer (3) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 2 shows, as another embodiment, a structure in which a charge generation layer (3) and a charge transport layer (2) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 3 shows, as another embodiment, a charge transport layer (2), a charge generation layer (3), and a charge transport layer (2) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which these are sequentially laminated.

感光体表面を、例えばコロナ帯7!1器等により正帯電
した後、画像露光して使用する場合においては、第1図
では電荷発生層(3)で発生した正孔が電荷輸送層(2
)中を導電性基板(1)に向は走行し、第2図では電荷
発生層(3)で発生した電子が電荷輸送層(2)中を感
光体表面に向は走行し、第3図では電荷発生層(3)で
発生した正孔が導電性基板側の電荷輸送層(2)中を導
電性基板(1)に向は走行すると共に、同時に電荷発生
層(3)で発生した電子が表面側の電荷輸送層(2)中
を感光体表面に向は走行し、好適な明減衰に保証された
静電潜像の形成が行なわれる。反対に感光体表面を負帯
電した後、画像露光して使用する場合においては、電子
と正孔の挙動を入れ代えて、キャリアーの走行性を解す
ればよい。第2図及び第3図では、画像露光用の照射光
が電荷輸送層中を通過する事になるが、本発明による電
荷輸送層は透光性に優れることから、好適な潜像形成を
行なうことが可能である。
When the surface of the photoreceptor is used by imagewise exposure after being positively charged, for example, with a corona band 7!1 device, in FIG. 1, the holes generated in the charge generation layer (3) are
), electrons generated in the charge generation layer (3) travel through the charge transport layer (2) toward the photoreceptor surface, and in FIG. In this case, holes generated in the charge generation layer (3) travel toward the conductive substrate (1) through the charge transport layer (2) on the conductive substrate side, and at the same time, electrons generated in the charge generation layer (3) travel toward the conductive substrate (1). travels through the charge transport layer (2) on the front side toward the photoreceptor surface, forming an electrostatic latent image with proper brightness attenuation. On the other hand, when the surface of the photoreceptor is negatively charged and then used for image exposure, the behavior of electrons and holes can be exchanged to understand the mobility of carriers. In FIGS. 2 and 3, the irradiation light for image exposure passes through the charge transport layer, but since the charge transport layer according to the present invention has excellent translucency, it forms a suitable latent image. Is possible.

第4図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と表面保護層(
4)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第1図の形態に表面保護層を設けた形態に相当するが、
第1図の形態では、最表面がha性に乏しいa−3i膜
で有ることから、多くの場合実用上の対湿度安定性を確
保するために表面保護層を設けることが好ましい。第2
図及び第3図の構成の場合、最表面が耐久性に優れたa
−C膜であるため表面保護層を設けなくてもよいが、例
えば現像剤の付着による感光体表面の汚れを防止するよ
うな、複写機内の各種エレメントに対する整合性を調整
する目的から、表面保護層を設けることもざらなる一形
態と成りうる。
FIG. 4 shows a conductive substrate (1), a charge transport layer (2), a charge generation layer (3) and a surface protective layer (
4) is shown in a structure formed by sequentially stacking them. In other words, it corresponds to the form shown in Fig. 1 with a surface protective layer provided, but
In the form of FIG. 1, since the outermost surface is an a-3i film with poor halide properties, it is often preferable to provide a surface protective layer in order to ensure practical humidity stability. Second
In the case of the configurations shown in Figures and Figure 3, the outermost surface is a with excellent durability.
- Since it is a C film, there is no need to provide a surface protective layer, but for the purpose of adjusting the consistency with various elements in the copying machine, such as preventing stains on the surface of the photoreceptor due to adhesion of developer, surface protection Providing layers can also be an alternative form.

第5図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。即ち第2
図の形態に中間層を設けた形態に相当するが、第2図の
形態では、導電性基板との接合面がa−5i膜である事
から、多くの場合接着性及び注入阻止効果を確保するた
めに中間層を設ける事が好ましい。第1図及び第3図の
構成の場合、導電性基板との接合面が、接着性及び注入
阻止効果に優れた、本発明による電荷輸送層であるため
、中間層を設けなくてもよいが、例えば導電性基板の前
処理方法のような、感光層形成以前の製造工程との整合
性を調整する目的から、中間層を設けることもざらなる
一形態と成りうる。
FIG. 5 shows an intermediate layer (5), a charge generation layer (3), and a charge transport layer (2) on a conductive substrate (1) as a rough form.
This figure shows a structure in which these are sequentially laminated. That is, the second
This corresponds to the form shown in the figure with an intermediate layer provided, but in the form shown in Fig. 2, the bonding surface with the conductive substrate is an A-5I film, which ensures adhesiveness and injection blocking effect in most cases. It is preferable to provide an intermediate layer for this purpose. In the case of the configurations shown in FIGS. 1 and 3, since the bonding surface with the conductive substrate is the charge transport layer according to the present invention, which has excellent adhesiveness and injection blocking effect, it is not necessary to provide an intermediate layer. For example, an intermediate layer may be provided for the purpose of adjusting compatibility with a manufacturing process before forming a photosensitive layer, such as a pretreatment method for a conductive substrate.

第6図は、さらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)
と表面保護層(4)を順次積層してなる構成を示したも
のである。即ち第1図の形態に中間層と表面保護層を設
けた形態に相当する。
FIG. 6 shows, as a further embodiment, an intermediate layer (5), a charge transport layer (2) and a charge generation layer (3) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which a surface protection layer (4) and a surface protection layer (4) are sequentially laminated. That is, it corresponds to the form shown in FIG. 1 with an intermediate layer and a surface protective layer provided.

中間層と表面保護層の設置理由は前述と同様であり、従
って第2図及び第3図の構成において中間層と表面保護
層を設けることもざらなる一形態と成りうる。
The reason for providing the intermediate layer and the surface protective layer is the same as described above, and therefore, providing the intermediate layer and the surface protective layer in the configurations shown in FIGS. 2 and 3 can be an alternative form.

本発明において中間層と表面保護層は、材料的にも、製
法的にも、特に限定を受けるものではなく所定の目的が
達せられるものであれば、適宜選択することが可能であ
る。本発明によるa−CI’Aを用いてもよい。但し、
用いる材料が、例えば従来例で述べた如き絶縁性材料で
ある場合には、残留電位発生の防止のため膜厚は5μm
以下に留める必要がある。
In the present invention, the intermediate layer and the surface protective layer are not particularly limited in terms of material or manufacturing method, and can be appropriately selected as long as a predetermined purpose can be achieved. a-CI'A according to the invention may also be used. however,
For example, when the material used is an insulating material as described in the conventional example, the film thickness should be 5 μm to prevent the generation of residual potential.
It must be kept below.

本発明による感光体の電荷輸送層は、気相状態の分子を
減圧下で放電分解し、発生したプラズマ雰囲気中に含ま
れる活性中性種あるいは荷電種を基板上に拡散、電気力
、あるいは磁気力等により誘導し、基板上での再結合反
応により固相として堆積きせる、所謂プラズマ重合反応
から生成される事が好ましい。
The charge transport layer of the photoreceptor according to the present invention decomposes molecules in a gas phase by discharge decomposition under reduced pressure, and diffuses active neutral species or charged species contained in the generated plasma atmosphere onto the substrate, using electric force or magnetic force. It is preferable that the polymer be generated by a so-called plasma polymerization reaction, which is induced by force or the like and deposited as a solid phase by a recombination reaction on a substrate.

第7図は本発明に係わる感光体の製造装置を示し、図中
(701)〜(706)は常温において気相状態にある
原料化合物及びキャリアガスを密封した第1乃至第6タ
ンクで、各々のタンクは第1乃至第6調節弁(707)
〜(712)と第1乃至第6流量制御器(713)〜(
718)に接続きれている。図中(719)〜(721
)は常温において液相または固相状態にある原料化合物
を封入した第1乃至第3容器で、各々の容器は気化のた
め第1乃至第3温調器(722)〜(724)により与
熱可能であり、ざらに各々の容器は第7乃至第9調節弁
(725)〜(727)と第7乃至第9流量制mW (
728) 〜(730) に接続されている。これらの
ガスは混合器(731)で混合された後、主管(732
)を介して反応室(733)に送り込まれる。途中の配
管は、常温において液相または固相状態にあった原料化
合物が気化したガスが、途中で凝結しないように、適宜
配置された配管加熱器(734)により、与熱可能とさ
れている。反応室内には接地電極(735)と電力印加
電極(736)が対向して設置され、各々の電極は電極
加熱器(73?)により与熱可能とされている。電力印
加電極(736)には、高周波電力用整合器(738)
を介して高周波電源(739)、低周波電力用整合器(
740)を介して低周波型! (741) 、ローパス
フィルタ(742)を介して直流電源(743)が接続
されており、接続選択スイッチ(744)により周波数
の異なる電力が印加可能とされている。反応室(733
)内の圧力は圧力制御弁(745)により調整可能であ
り、反応室(733)内の減圧は、排気系選択弁(74
6)を介して、拡散ポンプ(747) 、油回転ポンプ
(748) 、或は、冷却除外装ffi (749) 
、メカニカルブースターポンプ(750)、油回転ポン
プ(748)により行なわれる。排ガスについては、ざ
らに適当な除外装置(753)により安全無害化した後
、大気中に排気される。これら排気系配管についても、
常温において液相または固相状態にあった原料化合物が
気化したガスが、途中で凝結しないように、適宜配置さ
れた配管加熱器(734)により、与熱可能とされてい
る。反応室(733)も同様の理由から反応室加熱M(
751)により与熱可能ときれ、内部に配された電極上
に導電性基板(752)が設置される。第7図において
導電性基板゛(752)は接地電極(735)に固定し
て配きれているが、電力印加電極(736)に固定して
配きれてもよく、ざらに双方に配されてもよい。
FIG. 7 shows a photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, and in the figure (701) to (706) are first to sixth tanks in which the raw material compound and carrier gas, which are in a gas phase at room temperature, are sealed, respectively. The tanks are the first to sixth control valves (707)
〜(712) and the first to sixth flow rate controllers (713)〜(
718) is not connected. (719) to (721) in the figure
) are first to third containers filled with raw material compounds that are in a liquid or solid state at room temperature, and each container is heated by the first to third temperature controllers (722) to (724) for vaporization. Roughly speaking, each container has seventh to ninth control valves (725) to (727) and seventh to ninth flow rate control valves (mW).
728) to (730). These gases are mixed in a mixer (731) and then passed through the main pipe (732).
) into the reaction chamber (733). The pipes along the way can be heated by appropriately placed pipe heaters (734) so that the gas, which is the vaporized raw material compound that is in a liquid or solid state at room temperature, does not condense on the way. . A ground electrode (735) and a power application electrode (736) are installed facing each other in the reaction chamber, and each electrode can be heated by an electrode heater (73?). A high frequency power matching device (738) is connected to the power application electrode (736).
High frequency power supply (739), matching box for low frequency power (
740) via low frequency type! (741), a DC power source (743) is connected via a low-pass filter (742), and power with different frequencies can be applied by a connection selection switch (744). Reaction chamber (733
) can be adjusted by a pressure control valve (745), and the pressure in the reaction chamber (733) can be reduced by an exhaust system selection valve (74).
6) via a diffusion pump (747), an oil rotary pump (748), or a cooling exclusion device ffi (749).
, a mechanical booster pump (750), and an oil rotary pump (748). The exhaust gas is made safe and harmless by a suitable exclusion device (753) and then exhausted into the atmosphere. Regarding these exhaust system piping,
Heat can be applied to the gas obtained by vaporizing the raw material compound, which is in a liquid or solid phase at room temperature, by an appropriately placed pipe heater (734) so as not to condense on the way. The reaction chamber (733) is also heated M(
751), and a conductive substrate (752) is installed on the electrode arranged inside. In FIG. 7, the conductive substrate (752) is fixed to the ground electrode (735), but it may also be fixed to the power application electrode (736), or it may be arranged roughly on both sides. Good too.

第8図は本発明に係わる感光体の製造装置の別の一形態
を示し、反応室(833)内部の形態以外は、第7図に
示した本発明に係わる感光体の製造装置と同様であり、
付記された番号は、700番台のものを800番台に置
き換えて解すればよい。第8図において、反応室(83
3)内部には、第7図における接地電極(735)を兼
ねた円筒形の導電性基板(852)が設置きれ、内側に
は電極加熱器(837)が配きれている。導電性基板(
852)周囲には同じく円筒形状をした電力印加電極(
836)が配され、外側には1tw1加熱器(837)
が配されている。導電性基板(852)は、外部より駆
動モータ(854)を用いて自転可能となっている。
FIG. 8 shows another embodiment of the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, which is similar to the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention shown in FIG. 7 except for the internal configuration of the reaction chamber (833). can be,
The appended numbers can be understood by replacing the 700s with 800s. In FIG. 8, the reaction chamber (83
3) A cylindrical conductive substrate (852) that also serves as the ground electrode (735) in FIG. 7 can be installed inside, and an electrode heater (837) is arranged inside. Conductive substrate (
852) There is also a cylindrical power application electrode (
836) is arranged, and a 1tw1 heater (837) is placed on the outside.
are arranged. The conductive substrate (852) is rotatable using an external drive motor (854).

感光体製造に供する反応室は、拡散ポンプにより予め1
o−4乃至1O−6Torr程度にまで減圧し、真空度
の確認と装置内部に吸着したガスの脱着を行なう。同時
に電極加熱器により、[極並びに電極に固定して配され
た導電性基板を所定の温度まで昇温する。導電性基板に
は、前述の如き感光体構成の中から所望の構成を得るた
めに、必要であれば、予めアンダーコート層或は電荷発
生層を設けて置いてもよい。アンダーコート層或は電荷
発生層の設置には、本装置を用いてもよいし別装置を用
いてもよい。次いで、第1乃至第6タンク及び第1乃至
第3容器から、原料ガスを適宜第1乃至第9流量制御器
を用いて定流量化しながら反応室内に導入し、圧力調節
弁により反応室内を一定の減圧状態に保つ。ガス流量が
安定化した後、接続選択スイッチにより、例えば高周波
電源を選択し、電力印加電極に高周波電力を投入する。
The reaction chamber used for photoreceptor production is preliminarily heated by a diffusion pump.
The pressure is reduced to about 0-4 to 10-6 Torr, and the degree of vacuum is confirmed and the gas adsorbed inside the device is desorbed. At the same time, the electrode heater and the conductive substrate fixedly disposed on the electrode are heated to a predetermined temperature. If necessary, an undercoat layer or a charge generation layer may be provided in advance on the conductive substrate in order to obtain a desired photoreceptor structure from among those described above. The present apparatus or a separate apparatus may be used to provide the undercoat layer or the charge generation layer. Next, the raw material gases are introduced into the reaction chamber from the first to sixth tanks and the first to third containers while being kept at a constant flow rate using the first to ninth flow rate controllers, and the inside of the reaction chamber is kept constant using the pressure control valve. Maintain a reduced pressure. After the gas flow rate is stabilized, a connection selection switch is used to select, for example, a high frequency power source, and high frequency power is applied to the power application electrode.

両型w3間には放電が開始され、時間と共に基板上に固
相の膜が形成される。a−3i膜或はa−C膜は、原料
ガスを代える事により任意に形成可能である。放電を一
旦停止し、原料ガス組成を変更した後、再び放電を再開
すれば異なる組成の膜を積層する事ができる。また、放
電を持続きせながら原料ガス流量だけを徐々に代え、異
なる組成の膜を勾配を持たせながら積層する事も可能で
ある。
A discharge is started between both molds w3, and a solid phase film is formed on the substrate over time. The a-3i film or the a-C film can be formed arbitrarily by changing the raw material gas. Films with different compositions can be laminated by once stopping the discharge, changing the source gas composition, and then restarting the discharge. It is also possible to gradually change only the raw material gas flow rate while continuing the discharge, and to stack films of different compositions with a gradient.

反応時間により膜厚を制御し、所定の膜厚並びに積層構
成に達したところで放電を停止し、本発明による感光体
を得る。次いで、第1乃至第9調節弁を閉じ、反応室内
を充分に排気する。ここで所望の感光体構成が得られる
場合には反応室内の真空を破り、反応室より本発明によ
る感光体を取り出す。更に所望の感光体構成において、
電荷発生層或はオーバーコート層が必要とされる場合に
は、そのまま本装置を用いるか、或は同様に一旦真空を
破り取り出して別装置に移してこれらの層を設け、本発
明による感光体を得る。
The film thickness is controlled by the reaction time, and when a predetermined film thickness and laminated structure are reached, the discharge is stopped to obtain a photoreceptor according to the present invention. Next, the first to ninth control valves are closed to sufficiently exhaust the inside of the reaction chamber. If the desired photoreceptor configuration is obtained, the vacuum in the reaction chamber is broken and the photoreceptor according to the present invention is taken out from the reaction chamber. Furthermore, in a desired photoreceptor configuration,
If a charge generation layer or an overcoat layer is required, the photoreceptor according to the present invention can be fabricated by using the present device as is, or by breaking the vacuum and transferring it to another device to provide these layers. get.

以下実施例を挙げながら、本発明を説明する。The present invention will be explained below with reference to Examples.

X施ガ↓ 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
By using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−’Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(707
,708,709、及ヒフ10)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりア
セチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を180secm1アセチレンガスの
流量を40secm、酸素ガスの流量を4secm1及
び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるように設
定して、途中混合器(731)を介して、主管(732
)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安
定した後に、反応室(733)内の圧力が2.○Tor
rとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一方
、導電性基板(752)としては、!50X横50X厚
3mmのアルミニウム基板を用いて、予め250℃に加
熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予め
接続選択スイッチ(744)により接続しておいた高周
波電源(739)を投入し、電力印加電極(736)に
200Wattの電力を周波数13.56MHzの下で
印加して約3時間プラズマ重合反応を行ない、導電性基
板(752)上に厚ざ15μmのa−〇膜を電荷輸送層
として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、調
節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 4 control valve (707
, 708, 709, and Hif 10), hydrogen gas from the first tank (701), acetylene gas from the second tank (702), oxygen gas from the third tank (703), and fourth tank (704). The first, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 716) each output carbon tetrafluoride gas under an output pressure of 1.0 Kg/cm2.
It flowed inside. Then, by adjusting the scale of each flow rate controller, set the flow rate of hydrogen gas to 180 seconds, the flow rate of acetylene gas to 40 seconds, the flow rate of oxygen gas to 4 seconds, and the flow rate of carbon tetrafluoride gas to 10105e. Through the mixer (731), the main pipe (732
) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) decreases to 2. ○Tor
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the temperature was r. On the other hand, as the conductive substrate (752),! Using an aluminum substrate of 50 x 50 x 3 mm thick, preheat it to 250°C, and with the gas flow rate and pressure stable, connect the high frequency power source (739) using the connection selection switch (744). A 200 Watt power was applied to the power application electrode (736) at a frequency of 13.56 MHz to perform a plasma polymerization reaction for about 3 hours, thereby forming an a-〇 film with a thickness of 15 μm on the conductive substrate (752). It was formed as a charge transport layer. After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して34原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して2.0原子%、ざらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.1原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 34 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 2.0 at% based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was roughly 1.1 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708) 、第5W節弁(711)、及び
第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)
から水素ガス、第2タンク(702)からゲルマンガス
、第5タンク(705)から窒素ガス、及び第6タンク
(706)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の
下で第1、第2、第5、及び第6流量制御器(713,
714,717、及び718)内へ流入きせた。同時に
、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(704
)より水素ガスで1100ppに希釈されたジボランガ
スを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量制御器
(716)内へ、流入させた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (708), the fifth W node valve (711), and the sixth control valve (712) are released, and the first tank (701) is opened.
Hydrogen gas from the second tank (702), nitrogen gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706) are supplied to the first, second, and third tanks under an output pressure of IKg/cm2. 5, and a sixth flow rate controller (713,
714, 717, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is released and the fourth tank (704
) Diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas was flowed into the fourth flow rate controller (716) under an output pressure of 1.5 Kg/cm2.

各流量側mWの目盛を調整して水素ガスの流量を200
secm1ゲルマンガスの流量6sccm。
Adjust the mW scale on each flow rate side to set the hydrogen gas flow rate to 200.
secm1 germane gas flow rate 6 sccm.

を窒素ガスの流量を0.01secm、シランガスの流
量を101005e、水素ガスで1100ppに希釈さ
れたジボランガスの流量を1105CCとなるように設
定し、反応室(733)内に流入させた。各々の流量が
安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8To
rrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一
方、a−C膜が形成きれている導電性基板(752)は
、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、高周波電源(739)より周波数13.56
MHzの下で電力印加電8iii(736)に35Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放
電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層を得た
The flow rate of nitrogen gas was set to 0.01 sec, the flow rate of silane gas was set to 101005e, and the flow rate of diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas was set to 1105 CC, and these were flowed into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) becomes 0.8To
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that rr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film has been formed is heated to 250°C, and while the gas flow rate and pressure are stable, a high frequency power source (739) is applied to the conductive substrate (752) at a frequency of 13.56.
Power applied under MHz 35W to 8III (736)
A glow discharge was generated by applying a power of tt. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−St膜につき、金属中ONH分析(見場製
作所製EMGA−1300)、オージェ分析、及びIM
A分析を行なったところ、含有される水素原子は全構成
原子に対して23原子%、硼素原子は10原子ppm5
窒素原子は0.001原子%、ゲルマニウム原子は11
原子%であった。
The obtained a-St film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Miba Seisakusho), Auger analysis, and IM.
When A analysis was conducted, the hydrogen atoms contained were 23 at% of the total constituent atoms, and the boron atoms were 10 at ppm5.
Nitrogen atoms are 0.001 at%, germanium atoms are 11
It was atomic%.

特性; 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一610V(+580V)で有り、即ち、全
感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当りの
帯電能は40V/um (38V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used in a conventional Carlson process with both negative and positive charging, the following properties were obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -610V (+580V).In other words, since the total photoreceptor film thickness is 15°3μm, the charging ability per μm is 40V. /um (38V/μm), which was extremely high, and it was understood from this that it had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約20秒(約19
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は3.1ルツク
ス・秒(2,9ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 20 seconds (approximately 19
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential, and the amount of light required was 3.1 lux · seconds (2.9 lux · seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
From the above, it can be understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

^旅例旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層を′この順に設け
た本発明感光体を作製した。
^By using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in Fig. 1,
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−’To r r程度の高
真空にした後、第1、第3、及び第4調節弁(707,
709、及び710)を解放し、第1タンク(701)
より水素ガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/cm2の下で第1、第3、及び第4流量
制御器(713,715、及び716)内へ流入させた
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Control valve (707,
709 and 710), and the first tank (701)
Hydrogen gas, oxygen gas from the third tank (703), and carbon tetrafluoride gas from the fourth tank (704) are controlled at the first, third, and fourth flow rates under an output pressure of 1.0 Kg/cm2, respectively. into the vessels (713, 715, and 716).

同時に、第1容器(719)よりスチレンガスを第1温
調器(722)温度35℃のもとで第7流量制罪器(7
28)内へ流入させな。そして各流量制祁器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を60secm、スチレンガス
の流量を30secm。
At the same time, styrene gas is supplied from the first container (719) to the first temperature controller (722) at a temperature of 35°C and to the seventh flow rate suppressor (7
28) Don't let it flow inside. Then, the scales of each flow rate limiter were adjusted to set the hydrogen gas flow rate to 60 seconds and the styrene gas flow rate to 30 seconds.

酸素ガスの流量を8secm、及び四弗化炭素ガスの流
量が30secmとなるように設定して、途中混合器(
731)を介して、主管(732)より反応室(733
)内へ流入した。各々の流量が安定した後に、反応室(
733)内の圧力が2゜0Torrとなるように圧力調
節弁(745)を調整した。一方、導電性基板(752
)としては、950 X+!50 X53mmのアルミ
ニウム基板を用いて、予め180℃に加熱しておき、ガ
ス流量及び圧力が安定した状態で、予め接続選択スイッ
チ(744)により接続しておいた低周波電源(741
)を投入し、電力印加電極(736)に200Watt
の電力を周波v1120KHzの下で印加して約45分
間プラズマ重合反応を行ない、導電性基板(752)上
に厚き15μmのa −C膜を電荷輸送層として形成し
た。成膜完了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、
反応室(733)内を充分に排気した。
Set the flow rate of oxygen gas to 8 sec and the flow rate of carbon tetrafluoride gas to 30 sec, and mixer (
731) from the reaction chamber (733) from the main pipe (732).
) flowed into the interior. After each flow rate stabilizes, the reaction chamber (
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the pressure inside the tube (733) was 2°0 Torr. On the other hand, a conductive substrate (752
) is 950 X+! Using a 50 x 53 mm aluminum substrate, preheat it to 180°C, and with the gas flow rate and pressure stable, connect it to the low frequency power source (741) using the connection selection switch (744).
) and applied 200W to the power application electrode (736).
A plasma polymerization reaction was carried out for about 45 minutes by applying power at a frequency of 1120 KHz to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After the film formation is completed, stop applying power, close the control valve,
The inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して48原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の量
は全構成原子に対して6.1原子%、ざらに、酸素原子
の量は全構成原子に対して2.3原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 48 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 6.1 at% based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was roughly 2.3 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2:A節弁(708)、第5調節弁(711)、及び
第6調節弁(712)を解放い第1タンク(701)か
ら水素ガス、第2タンク(702)からゲルマンガス、
第5タンク(705)からアンモニアガス、及び第6タ
ンク(706)からシランガスを、出力圧IKg/am
2の下で第1、第2、第5、及び第6流量制都器(71
3,714,717、及び718)内へ流入させた。同
時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで1100ppに希釈されたジボラ
ンガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量制
御!(716)内へ、流入させた。各流量制御器の目盛
を調整して水素ガスの流量を180secm、ゲルマン
ガスの流量を8secm、アンモニアガスの流量を2s
ecm1シランガスの流量を101005e、水素ガス
で1100ppに希釈されたジボランガスの流量を10
105eに設定し、反応室(733)内に流入させた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
2nd: Open the A section valve (708), the 5th control valve (711), and the 6th control valve (712), hydrogen gas from the first tank (701), Germanic gas from the second tank (702),
Ammonia gas is supplied from the fifth tank (705) and silane gas is supplied from the sixth tank (706) at an output pressure of IKg/am.
2, the first, second, fifth, and sixth flow control devices (71
3,714, 717, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is released and the fourth tank (710) is released.
04) Diborane gas diluted to 1100pp with hydrogen gas is subjected to the fourth flow rate control under an output pressure of 1.5Kg/cm2! (716). Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 180 sec, the germane gas flow rate to 8 sec, and the ammonia gas flow rate to 2 sec.
The flow rate of ecm1 silane gas is 101005e, and the flow rate of diborane gas diluted to 1100pp with hydrogen gas is 10.
105e to flow into the reaction chamber (733).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が0.9Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、a−C膜が形成されている導電性基板
(752)は、240℃に加熱しておき、ガス流量及び
圧力が安定した状態で、高周波型1(739)より周波
数13.56MHzの下で電力印加電極(736)に4
5Wattの電力を印加し、グロー放電を発生させた。
After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 0.9 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 240°C, and when the gas flow rate and pressure are stable, the conductive substrate (752) is heated to a lower frequency of 13.56 MHz than the high frequency type 1 (739). 4 to the power application electrode (736) with
A power of 5 Watts was applied to generate glow discharge.

この放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層
を得た。
This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−5i膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して21原子%、硼素原子は11原子ppm
、窒素原子は0.3原子%、ゲルマニウム原子は13.
2原子%であった。
The obtained a-5i film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 21 atomic % and the boron atoms were 11 atomic ppm based on the total constituent atoms.
, nitrogen atoms are 0.3 at%, germanium atoms are 13.
It was 2 atom%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一610V(+580V)で有り、即ち、全
感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当りの
帯電能は40V/μm (38V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解きれた
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -610V (+580V).In other words, since the total photoreceptor film thickness is 15°3μm, the charging ability per μm is 40V. /μm (38V/μm), which is extremely high, and it can be understood from this that it has sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約14秒(約13
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰きせたとこる必要とされた光量は2.3ルツク
ス・秒(1,2ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 14 seconds (approximately 13 seconds).
seconds), and from this we can understand that it has sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated to a surface potential of 20% of the highest charging potential using white light.The amount of light required was 2.3 lux·sec (1.2 lux・seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

衷旅伝旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第3、及び第4調節弁(707,
709、及び710)を解放し、第1タンク(701)
より水素ガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1、OKg/cm2の下で第1、第3、及び第4流量
制御器(713,715、及び716)内へ流入きせた
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Valve (707,
709 and 710), and the first tank (701)
Hydrogen gas, oxygen gas from the third tank (703), and carbon tetrafluoride gas from the fourth tank (704) are controlled at the first, third, and fourth flow rates under an output pressure of 1 and OKg/cm2, respectively. The liquid flowed into the vessels (713, 715, and 716).

同時に、第1容器(719)よりスチレンガスを第1温
調器(722)温度35℃のもとで第7流量制御器(7
28)内へ流入させた。モして各流量制御器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を603CCm、スチレンガス
の流量を30secm。
At the same time, styrene gas is supplied from the first container (719) to the seventh flow rate controller (722) at a temperature of 35°C.
28) It was allowed to flow into the interior. The scales of each flow rate controller were adjusted to set the hydrogen gas flow rate to 603 CCm and the styrene gas flow rate to 30 seconds.

酸素ガスの流量を8secm1及び四弗化炭素ガスの流
量が30secmとなるように設定して、途中混合器(
731)を介して、主管(732)より反応室(733
)内へ流入した。各々の流量が安定した後に、反応室(
733)内の圧力が2゜○Torrとなるように圧力調
節弁(745)を調整した。一方、導電性基板(752
)としては、u50X横50×厚3mmのアルミニウム
基板を用いて、予め180℃に加熱しておき、ガス流量
及び圧力が安定した状態で、予め接続選択スイッチ(7
44)により接続しておいた低周波電源(741)を投
入し、電力印加電極(736)に200Wattの電力
を周波数120KHzの下で印加して約45分間プラズ
マ重合反応を行ない、導電性基板(752)上に厚ざ1
5μmのa −C膜を電荷輸送層として形成した。成膜
完了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(
733)内を充分に排気した。
Set the flow rate of oxygen gas to 8 sec1 and the flow rate of carbon tetrafluoride gas to 30 sec, and mixer (
731) from the reaction chamber (733) from the main pipe (732).
) flowed into the interior. After each flow rate stabilizes, the reaction chamber (
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the pressure inside the tube (733) was 2°○Torr. On the other hand, a conductive substrate (752
), use an aluminum substrate measuring 50 mm wide x 3 mm thick, heat it to 180°C in advance, and with the gas flow rate and pressure stable, connect the connection selection switch (7
44), the low frequency power source (741) connected to the conductive substrate ( 752) Thickness 1 on top
A 5 μm a-C film was formed as a charge transport layer. After film formation is complete, stop applying power, close the control valve, and close the reaction chamber (
733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有きれる水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して48原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の量
は全構成原子に対して6.1原子%、ざらに、酸素原子
の量は全構成原子に対して2.3原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms that could be contained was 48 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 6.1 atomic % based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was roughly 2.3 atomic % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、第5調節弁(711)、及び第
6:A節弁(712)を解放し、第1タンク(701)
から水素ガス、第2タンク(702)からゲルマンガス
、第5タンク(705)から窒素ガス、及び第6タンク
(706)からシランガスを、出力圧IKg/am2の
下で第1、第2、第5、及び第6流量制御器(713,
714,717、及び718)内へ流入させた。同時に
、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(704
)より水素ガスで1100ppに希釈きれたジボランガ
スを、出力圧1.5Kg/Cm2の下で第4流量制御器
(716)内へ、流入きせた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (708), the fifth control valve (711), and the sixth: A section valve (712) are released, and the first tank (701) is opened.
hydrogen gas from the second tank (702), germane gas from the second tank (702), nitrogen gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706). 5, and a sixth flow rate controller (713,
714, 717, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is released and the fourth tank (704
) diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas was allowed to flow into the fourth flow rate controller (716) under an output pressure of 1.5 Kg/Cm2.

各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量を200
secm、窒素ガスの流量を10105e。
Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200.
secm, and the flow rate of nitrogen gas is 10105e.

ゲルマンガスの流量を10105e、シランガスの流量
を101005e、水素ガスで10oppmに希釈され
たジボランガスの流量を50secmに設定し、反応室
(733)内に流入させた。
The flow rate of germane gas was set to 10105e, the flow rate of silane gas was set to 101005e, and the flow rate of diborane gas diluted to 10 oppm with hydrogen gas was set to 50 seconds, and these were flowed into the reaction chamber (733).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が0.8Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、a −C膜が形成されている導電性基
板(752)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及
び圧力が安定した状態で、高周波電源(739)より周
波数13.56MH2の下で電力印加電極(736)に
40Wattの電力を印加し、グロー放電を発生させた
。この放電を5分間行ない、厚ざ0.3μmの電荷発生
層を得た。
After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 0.8 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 250°C, and is heated to 13.56 MH2 from a high frequency power source (739) under a stable gas flow rate and pressure. A power of 40 Watts was applied to the power application electrode (736) to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して24原子%、硼素原子は45原子pI’
mN窒素原子は1.0原子%、ゲルマニウム原子は15
.8原子%であった。
The obtained a-Si film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 24 at% of the total constituent atoms, and the boron atoms were 45 at pI'
mN nitrogen atoms are 1.0 at%, germanium atoms are 15
.. It was 8 atom%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一660V (+680V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は43V/μm(44V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -660V (+680V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 43 V/.mu.m (44 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約15秒(約17
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたとこる必要とされた光量は1.8ルツク
ス・秒(1,2ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。また、最高帯
電電位に初期帯電した後、半導体レーザー光(発光波長
780nm)を用いて最高帯電電位の20%の表面電位
にまで明減衰させたところ必要とされた光量は10.O
erg/am2(7,3erg/cm2)であり、この
ことから充分な長波長光感度性能を有する事が理解され
た。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 15 seconds (approximately 17
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential.The amount of light required was 1.8 lux·sec (1.2 lux・seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated to a surface potential of 20% of the highest charging potential using semiconductor laser light (emission wavelength 780 nm), and the amount of light required was 10. O
erg/am2 (7.3 erg/cm2), and from this it was understood that it had sufficient long wavelength light sensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

害施凹戟 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りブタジェンガス、第3タンク(703)より二酸化炭
素ガス、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガス
を各々出力圧1.0Kg/am2の下で第1、第2、第
3、及び第4流量制御器(713,714,715、及
び716)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛
を調整して、水素ガスの流量を60scam、ブタジェ
ンガスの流量を60secm、二酸化炭素ガスの流量を
12secm、及び四弗化炭素ガスの流量が160se
cmとなるように設定して、途中混合!(731)を介
して、主管(732)より反応室(733)内へ流入し
た。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Fourth control valve (7
07, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), butadiene gas from the second tank (702), carbon dioxide gas from the third tank (703), and fourth tank (704). Carbon tetrafluoride gas was then flowed into the first, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 716) under an output pressure of 1.0 Kg/am2, respectively. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 60scam, the butadiene gas flow rate to 60sec, the carbon dioxide gas flow rate to 12sec, and the carbon tetrafluoride gas flow rate to 160sec.
Set it so that it is cm, and mix it in the middle! (731) and flowed into the reaction chamber (733) from the main pipe (732).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が1.6Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、導電性基板(752)としては、樅5
0×横50X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予
め120℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続
しておいた低周波電源(741)を投入し、電力印加電
極(736)に130Wattの電力を周波数500K
Hzの下で印加して約1時間半プラズマ重合反応を行な
い、導電性基板(752)上に厚き15μmのa−C膜
を電荷輸送層として形成した。
After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 1.6 Torr. On the other hand, as the conductive substrate (752), fir 5
Using an aluminum substrate of 0 x width 50 x thickness 3 mm, it was preheated to 120°C, and with the gas flow rate and pressure stable, it was connected to the low frequency power source (741) using the connection selection switch (744). ) and apply 130W of power to the power application electrode (736) at a frequency of 500K.
Plasma polymerization reaction was carried out under Hz for about 1.5 hours to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752).

成膜完了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応
室(733)内を充分に排気した。
After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行な°ったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して51原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して21.0原子%、ざらに、酸素
原子の量は全構成原子に対して2.0原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and it was found that the amount of hydrogen atoms contained was 51 atomic% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, contained was 21.0 at % based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was roughly 2.0 at % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、第3調節弁(709)、第5調
節弁(711)、及び第6調節弁(712)を解放し、
第1タンク(701)から水素ガス、第2タンク(70
2)からゲルマンガス、第3タンク(703)から四弗
化シランガス、第5タンク(705)から窒素ガス、及
び第6タンク(706)からシランガスを、出力圧IK
g/cm2の下で第1、第2、第3、第5、及び第6流
量制御器(713,714,715,717、及び71
8)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710)を
解放し、第4タンク(704)より水素ガスで1100
ppに希釈されたジボランガスを、出力圧1.5Kg/
am2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入させ
た。各流量制師器の目盛を調整して水素ガスの流量を2
00sccm、ゲルマンガスの流量を6 s c Cm
s四弗化シランガスの流量を50secm1窒素ガスの
流量をlsecm、シランガスの流量を50secm1
水素ガスで1100ppに希釈されたジボランガスの流
量を101005eとなるように設定し、反応室(73
3)内に流入させた。各々の流量が安定した後に、反応
室(733)内の圧力が0.9Torrとなるように圧
力調節弁(745)を調整した。一方、a−C膜が形成
されている導電性基板(752)は、250℃に加熱し
ておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、高周波電
源(739)より周波数13.56MHzの下で電力印
加電極(736)に35Wattの電力を印加し、グロ
ー放電を発生させた。この放電を5分間行ない、厚ざ0
.3μmの電荷発生層を得た。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
releasing the second control valve (708), the third control valve (709), the fifth control valve (711), and the sixth control valve (712);
Hydrogen gas from the first tank (701), hydrogen gas from the second tank (70
2), germane gas from the third tank (703), tetrafluoride silane gas from the fifth tank (705), nitrogen gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706), at an output pressure of IK.
g/cm2 under the first, second, third, fifth, and sixth flow controllers (713, 714, 715, 717, and 71
8) It was allowed to flow into the interior. At the same time, the fourth control valve (710) is released and hydrogen gas is supplied from the fourth tank (704) to 1,100 yen.
Diborane gas diluted to pp.
am2 into the fourth flow controller (716). Adjust the scale of each flow rate controller to increase the hydrogen gas flow rate to 2.
00 sccm, and the flow rate of germane gas was 6 sc Cm.
sThe flow rate of silane tetrafluoride gas is 50 sec1, the flow rate of nitrogen gas is 1 secm, the flow rate of silane gas is 50 sec1
The flow rate of diborane gas diluted to 1100pp with hydrogen gas was set to 101005e, and the reaction chamber (73
3) It was allowed to flow into the interior. After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 0.9 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 250°C, and is heated at a frequency of 13.56 MHz from a high frequency power source (739) while the gas flow rate and pressure are stable. A power of 35 Watts was applied to the power application electrode (736) to generate glow discharge. This discharge was performed for 5 minutes, and the thickness was 0.
.. A charge generation layer of 3 μm was obtained.

得られたa−3i膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なワなところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して22原子%、硼素原子は95原子ppm
t弗素原子は5原子%、窒素原子は0.1原子%、ゲル
マニウム原子は10.3原子%であった。
The obtained a-3i film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When performing MA analysis, it was found that the hydrogen atoms contained were 22 at % of the total constituent atoms, and the boron atoms were 95 at ppm.
The content of fluorine atoms was 5 at%, the content of nitrogen atoms was 0.1 at%, and the content of germanium atoms was 10.3 at%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一330V (+340V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は21■/μm (22V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values at the time of positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -330V (+340V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 21 .mu./.mu.m (22 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaXの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約4秒(約4秒)
であり、このことから充分な電荷保持性能を有する事が
理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後、白
色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にまで明
減衰きせたとこる必要とされた光景は4.3ルツクス・
秒(3゜1ルツクス・秒)であり、このことから充分な
光感度性能を有する事が理解された。
Also, the time required for dark decay from Vmax to 90% of the surface potential of Vmax in the dark is approximately 4 seconds (approximately 4 seconds)
From this, it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated to a surface potential of 20% of the highest charging potential using white light.The required scene was 4.3 lux.
seconds (3°1 lux·sec), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

去施例旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
In the previous example, using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を1O−6Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(707
,708,709、及び710)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブ
タジインガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/am2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を180secm1ブタジインガスの
流量を40secm1酸素ガスの流量を4secm、及
び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるように設
定して、途中混合器(731)を介して、主管(732
)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安
定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0Tor
rとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一方
、導電性基板(752)としては、樅50X横50X厚
3mmのアルミニウム基板を用いて、予め180℃に加
熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予め
接続選択スイッチ(744)により接続しておいた低周
波電源(741)を投入し、電力印加電極(736)に
200Wattの電力を周波数400KHzの下で印加
して約30分間プラズマ重合反応を行ない、導電性基板
(752)上に厚ざ15μmのa −C膜を電荷輸送層
として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、調
節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Control valve (707
, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), butadiene gas from the second tank (702), oxygen gas from the third tank (703), and hydrogen gas from the fourth tank (704). First, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 716) each supplying fluorocarbon gas under an output pressure of 1.0 Kg/am2.
It flowed inside. Then, by adjusting the scale of each flow rate controller, set the flow rate of hydrogen gas to 180 seconds, the flow rate of butadiene gas to 40 seconds, the flow rate of oxygen gas to 4 seconds, and the flow rate of carbon tetrafluoride gas to 10105e, and mix in the middle. through the main pipe (732)
) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilized, the pressure inside the reaction chamber (733) reached 2.0 Torr.
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the temperature was r. On the other hand, as the conductive substrate (752), an aluminum substrate of 50 x 50 x 3 mm thick is used, heated to 180°C in advance, and when the gas flow rate and pressure are stable, connect the connection selection switch (744). The low-frequency power source (741) connected to the conductive substrate (752) is turned on, and 200 Watt power is applied to the power application electrode (736) at a frequency of 400 KHz to perform a plasma polymerization reaction for about 30 minutes. An a-C film having a thickness of 15 μm was formed thereon as a charge transport layer. After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa  C1l’j−につき有
機元素分析を行なったところ、含有される水素原子の量
は炭素原子と水素原子の総量に対して40原子%、また
、オージェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗
素原子の量は全構成原子に対して4.1原子%、ざらに
、酸素原子の量は全構成原子に対して1.8原子%であ
った。
Organic elemental analysis was performed on a C1l'j- obtained as above, and the amount of hydrogen atoms contained was 40 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 4.1 at% based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was roughly 1.8 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、第5調節弁(711)、及び第
6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)か
ら水素ガス、第2タンク(702)からゲルマンガス、
第5タンク(705)から窒素ガス、及び第6タンク(
706)からシランガスを、出力圧IKg/am2の下
で第1、第2、第5、及び第6流量制御器(713,7
14,717、及び718)内へ流入させた。同時に、
第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(704)
より水素ガスで10ppmに希釈きれたホスフィンガス
を、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量制御器(
716)内へ、流入させた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (708), the fifth control valve (711), and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is released from the first tank (701), germane gas is removed from the second tank (702),
Nitrogen gas from the fifth tank (705) and the sixth tank (
706) to the first, second, fifth, and sixth flow rate controllers (713, 7) under an output pressure of IKg/am2.
14, 717, and 718). at the same time,
Release the fourth control valve (710) and release the fourth tank (704).
The phosphine gas diluted to 10 ppm with hydrogen gas is passed through the fourth flow rate controller (
716).

各流量制陣器の目盛を調整して水素ガスの流量を200
secm、ゲルマンガスの流量を6secm1窒素ガス
の流量を3secm、シランガスの流量を200sec
m、水素ガスで1100ppに希釈されたホスフィンガ
スの流量を1105CCに設定し、反応室(733)内
に流入きせた。
Adjust the scale of each flow rate regulator to set the hydrogen gas flow rate to 200.
sec, the flow rate of germane gas is 6 sec, the flow rate of nitrogen gas is 3 sec, the flow rate of silane gas is 200 sec.
The flow rate of phosphine gas diluted to 1100 ppm with hydrogen gas was set to 1105 cc, and the flow rate was allowed to flow into the reaction chamber (733).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が0.9Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、a −C膜が形成されている導電性基
板(752)は、250℃に加熱しておき、ガス1ff
l及び圧力が安定した状態で、高周波電源(739)よ
り周波数13.56MH2の下で電力印加型1 (73
6)に35Wattの電力を印加し、グロー放電を発生
させた。この放電を5分間行ない、厚ざ0.3μmの電
荷発生層を得た。
After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 0.9 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 250°C, and 1ff of gas is heated.
When the l and pressure are stable, apply power type 1 (73
6), a power of 35 Watts was applied to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−3i膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージ工分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有きれる水素原子は全構
成原子に対して18原子%、燐原子は12原子ppm、
窒素原子は0.3原子%、ゲルマニウム原子は10.0
原子%であった。
The obtained a-3i film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), audio analysis, and I
According to MA analysis, the hydrogen atoms that can be contained are 18 at% of all constituent atoms, the phosphorus atoms are 12 at ppm,
Nitrogen atoms are 0.3 at%, germanium atoms are 10.0
It was atomic%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一500V (+770V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は33V/μm (50V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -500V (+770V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 33 V/.mu.m (50 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約12秒(約19
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は2.1ルツク
ス・秒(6,9ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 12 seconds (approximately 19
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. Furthermore, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential, and the amount of light required was 2.1 lux · seconds (6.9 lux · seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図乃至第6図は本発明感光体の構成を示す図面、第
7図乃至第8図は本発明に係わる感光体の製造装置を示
す図面である。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1図 第2図 第4図 第6図 手続補正書 昭和62年10月21 日
1 to 6 are drawings showing the structure of a photoreceptor according to the present invention, and FIGS. 7 to 8 are drawings showing an apparatus for manufacturing a photoreceptor according to the invention. Applicant: Minolta Camera Co., Ltd. Figure 1 Figure 2 Figure 4 Figure 6 Procedural amendment October 21, 1986

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 電荷発生層と電荷輸送層とを有する機能分離型感光体に
おいて、該電荷輸送層は少なくとも酸素原子とハロゲン
原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜で
あり、かつ、該電荷発生層は窒素原子を含有すると共に
燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してな
る水素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜或は窒素
原子を含有すると共に燐原子及び硼素原子のうち少なく
とも一方を含有してなる弗素化アモルファスシリコンゲ
ルマニウム膜であることを特徴とする感光体。
In a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, the charge transport layer is a hydrogenated amorphous carbon film containing at least oxygen atoms and halogen atoms; A hydrogenated amorphous silicon germanium film containing nitrogen atoms and at least one of phosphorus atoms and boron atoms, or a fluorinated amorphous film containing nitrogen atoms and at least one of phosphorus atoms and boron atoms. A photoreceptor characterized by having a silicon germanium film.
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