JPS6382443A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

Info

Publication number
JPS6382443A
JPS6382443A JP22941586A JP22941586A JPS6382443A JP S6382443 A JPS6382443 A JP S6382443A JP 22941586 A JP22941586 A JP 22941586A JP 22941586 A JP22941586 A JP 22941586A JP S6382443 A JPS6382443 A JP S6382443A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
atoms
film
gas
oxygen
flow rate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22941586A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shuji Iino
修司 飯野
Mochikiyo Osawa
大澤 以清
Hideo Yasutomi
英雄 保富
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Minolta Co Ltd filed Critical Minolta Co Ltd
Priority to JP22941586A priority Critical patent/JPS6382443A/en
Publication of JPS6382443A publication Critical patent/JPS6382443A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08285Carbon-based
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/043Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure
    • G03G5/0433Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure all layers being inorganic

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To form a photosensitive layer which has excellent photosensitive characteristics and is extremely thin in film thickness by forming an electric charge transfer layer of a hydrogenated amorphous carbon film contg. oxygen and halogen atoms and an electric charge generating layer of a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film contg. oxygen and at least either of phosphorus or boron atoms, respectively. CONSTITUTION:The charge transfer layer 2 of a function sepn. type photosensitive body having the charge transfer layer 2 and the charge generating layer 3 is formed of the hydrogenated amorphous carbon a-C film which is formed by glow discharge and contains the oxygen atoms and halogen atoms and the charge generating layer 3 is formed of the hydrogenated or fluorinated amorphous silicon a-Si film which contains at least either of the phosphorus atoms or boron atoms and contains the oxygen atoms. The content of the oxygen in the a-Ci film is specified to <=7atom% and the content of the halogens to 0.1-25%. The content of the oxygen in the a-Si film is specified to 0.001-1% and the content of the phosphorus or boron to <=20,000ppm. The charge transfer layer 2 is thereby improved in transferability, electric chargeability, durability and translucency, and the charge generating layer 3 is provided with the excellent photoconductivity of visible light and wavelength light near laser light and is extremely reduced in the film thickness.

Description

【発明の詳細な説明】 崖!上Ω刊里は野 本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する感光体に
関する。
[Detailed description of the invention] Cliff! The present invention relates to a photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer.

従米挾匝 カールソン法の発明以来、電子写真の応用分野は著しい
発展を続け、電子写真用感光体にも様々な材料が開発さ
れ実用化されてきた。
Since the invention of the Carlson method, the field of electrophotography has continued to make remarkable progress, and various materials have been developed and put into practical use for photoreceptors for electrophotography.

従来用いられて来た電子写真感光体材料の主なものとし
ては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫化
カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機
物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン、
ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリフ
ェニルメタン化合物、トリフェニルアミン化合物、ヒド
ラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリン化合物、オ
キサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有機
物質が挙げられる。また、その構成形態としては、これ
らの物質を単体で用いる単層型構成、結着材中に分散さ
せて用いるバインダー型構成、機能別に電荷発生層と電
荷輸送層とを設ける積層型構成等が挙げられる。
The main electrophotographic photoreceptor materials conventionally used include inorganic substances such as amorphous selenium, selenium arsenide, selenium telluride, cadmium sulfide, zinc oxide, amorphous silicon, polyvinyl carbazole, metal phthalocyanine,
Examples include organic substances such as disazo pigments, trisazo pigments, perylene pigments, triphenylmethane compounds, triphenylamine compounds, hydrazone compounds, styryl compounds, pyrazoline compounds, oxazole compounds, and oxadiazole compounds. In addition, the configurations include a single-layer structure in which these substances are used alone, a binder-type structure in which they are dispersed in a binder, and a laminated structure in which a charge generation layer and a charge transport layer are provided for each function. Can be mentioned.

しかしながら、従来用いられて来た電子写真感光体材料
にはそれぞれ欠点があワた。その一つとして人体への有
害性が挙げられるが、前述したアモルファスシリコンを
除く無機物質においては、何れも好ましくない性質を持
つものであった。また、電子写真感光体が実際に複写機
内で用いられるためには、帯電、露光、現像、転写、除
電、清掃等の苛酷な環境条件に曝された場合においても
、常に安定な性能を維持している必要があるが、前述し
た有機物質においては、何れも耐久性に乏しく、性能面
での不安定要素が多かった。
However, conventionally used electrophotographic photoreceptor materials each have their own drawbacks. One of these is their toxicity to the human body, and all inorganic substances, except for the amorphous silicon mentioned above, have unfavorable properties. In addition, in order for an electrophotographic photoreceptor to be actually used in a copying machine, it must always maintain stable performance even when exposed to harsh environmental conditions such as charging, exposure, development, transfer, neutralization, and cleaning. However, all of the organic substances mentioned above have poor durability and many unstable factors in terms of performance.

このような欠点を解消すべく、近年、有害性を改善し耐
久性に富んだ材料として、グロー放電法により生成され
るアモルファスシリコンの電子写真感光体への応用が進
九で来ている。しかし、アモルファスシリコンは、原料
としてシランガスを多量に必要とする反面、高価なガス
であることから、出来上がった電子写真感光体も従来の
感光体に比べ大幅に高価なものとなる。また、成膜速度
が遅く、成膜時間の増大に伴い爆発性を有するシラン未
分解生成物を粉塵状に発生する等、生産上の不都合も多
い。また、この粉塵が製造時に感光層中に混入した場合
には、画像品質に著しく悪影響を及ぼす。ざらに、アモ
ルファスシリコンは、元来、比誘電率が嘉いため帯電性
能が低く、複写機内で所定の表面電位に帯電するために
は膜厚を厚くする必要があり、高価なアモルファスシリ
コン膜を長時間堆積させなくてはならない。
In order to overcome these drawbacks, in recent years, amorphous silicon produced by a glow discharge method has been increasingly applied to electrophotographic photoreceptors as a material with improved toxicity and high durability. However, while amorphous silicon requires a large amount of silane gas as a raw material, it is an expensive gas, so the resulting electrophotographic photoreceptor is also significantly more expensive than a conventional photoreceptor. In addition, there are many inconveniences in production, such as the slow film formation rate and the generation of explosive silane undecomposed products in the form of dust as the film formation time increases. Furthermore, if this dust gets mixed into the photosensitive layer during manufacturing, it will have a significant negative effect on image quality. Generally speaking, amorphous silicon has low charging performance due to its low dielectric constant, and it is necessary to increase the thickness of the film in order to charge it to a predetermined surface potential in a copying machine. You have to accumulate time.

ところでアモルファスカーボン膜自体は、プラズマ有機
重合膜として古くより知られており、例えばジエン(M
、5hen)及びベル(A、T。
By the way, the amorphous carbon film itself has been known for a long time as a plasma organic polymerized film, for example, diene (M
, 5hen) and Bell (A, T.

Be l l)により、1973年発行ののジャーナル
・オブ・アプライド・ポリマー・サイエンス(Jour
nal  of  Applied  P。
Journal of Applied Polymer Science, published in 1973 by
nal of Applied P.

lymer  5cience)第17巻の第885頁
乃至第892頁において、あらゆる有機化合物のガスか
ら作製され得る事が、また、同著者により、1979年
のアメリカンケミカルソサエティ  (Amer 1c
an  Chemica l5ociety)発行によ
るプラズマボリマライゼーション(Plasma  P
olymerization)の中でもその成膜性が論
じられている。
lymer 5science), Volume 17, pages 885 to 892, it was also reported by the same author that all organic compounds can be produced from gases, in the 1979 American Chemical Society (Amer 1c).
Plasma Volumarization (Plasma P
Even in the field of polymerization, its film formability has been discussed.

しかしながら従来の方法で作製したプラズマ有機重合膜
は絶縁性を前提とした用途に限って用いられ、即ちそれ
らの膜は通常のポリエチレン膜の如<1018Ωcm程
度の比抵抗を有する絶m膜と考えられ、或は、少なくと
もそのような膜であるとの認識のもとに用いられていた
。実際に電子写真感光体への用途にしても同様の認識か
ら、保護層、接着層、ブロッキング層もしくは絶縁層に
限られており、所謂アンダーコート層もしくはオーバー
コート層としてしか用いられていなかった。
However, plasma organic polymer films prepared by conventional methods are used only for applications requiring insulating properties, that is, they are considered to be absolute films with a specific resistance of about <1018 Ωcm, like ordinary polyethylene films. , or at least it was used with the recognition that it was such a membrane. Due to the same recognition, its actual use in electrophotographic photoreceptors has been limited to protective layers, adhesive layers, blocking layers, or insulating layers, and has only been used as so-called undercoat layers or overcoat layers.

例えば、特開昭59−28161号公報には、基板上に
ブロッキング層及び接着層としてプラズマ重合された網
目構造を有する高分子層を設け、その上にアモルファス
シリコン層を設けた感光体が開示されている。特開昭5
9−38753号公報には、基板上にブロッキング層及
び接着層として酸素と窒素と炭化水素の混合ガスから生
成される1013〜1015Ωcmの高抵抗のプラズマ
重合膜を10人〜100人設けた上にアモルファスシリ
コン層を設けた感光体が開示されている。特開昭59−
136742号公報には、アルミ基板上に設けたアモル
ファスシリコン層内へ光照射時にアルミ原子が拡散する
のを防止するための保護層として1〜5μm程度の炭素
膜を基板表面に形成せしめた感光体が開示されている。
For example, JP-A-59-28161 discloses a photoreceptor in which a plasma-polymerized polymer layer having a network structure is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer, and an amorphous silicon layer is provided thereon. ing. Japanese Patent Application Publication No. 5
Publication No. 9-38753 discloses that a plasma polymerized film with a high resistance of 1013 to 1015 Ωcm, which is generated from a mixed gas of oxygen, nitrogen, and hydrocarbon, is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer by 10 to 100 people. A photoreceptor is disclosed that includes an amorphous silicon layer. Unexamined Japanese Patent Publication 1987-
Publication No. 136742 discloses a photoreceptor in which a carbon film of approximately 1 to 5 μm is formed on the surface of the substrate as a protective layer to prevent aluminum atoms from diffusing into the amorphous silicon layer provided on the aluminum substrate during light irradiation. is disclosed.

特開昭60−63541号公報には、アルミ基板とその
上に設けたアモルファスシリコン層との接着性を改善す
るために、接着層として200人〜2μmのダイヤモン
ド状炭素膜を中間に設けた感光体が開示され、残留電荷
の面から膜厚ば2μm以下が好ましいとされている。
Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-63541 discloses a photosensitive material in which a diamond-like carbon film with a thickness of 200 to 2 μm is provided in the middle as an adhesive layer in order to improve the adhesion between an aluminum substrate and an amorphous silicon layer provided thereon. It is said that a film thickness of 2 μm or less is preferable from the viewpoint of residual charge.

これらの開示は、何れも基板とアモルファスシリコン層
との間に、所謂アンダーコート層を設けた発明であり、
電荷輸送性についての開示は全くなく、また、a−Si
の有する前記した本質的問題を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called undercoat layer is provided between the substrate and the amorphous silicon layer,
There is no disclosure regarding charge transport properties, and a-Si
However, it does not solve the above-mentioned essential problems.

また、例えば、特開昭50−20728号公報には、ポ
リビニルカルバゾール−セレン系感光体の表面に保護層
としてグロー放電重合によるポリマー膜を0.1〜1μ
m設けた感光体が開示されている。特開昭59−214
859号公報には、アモルファスシリコン感光体の表面
に保護層としてスチレンやアセチレン等の有機炭化水素
モノマーをプラズマ重合させて5μm程度の膜を形成さ
せる技術が開示されている。特開昭60−61761号
公報には、表面保護層として、500人〜2μmのダイ
ヤモンド状炭素薄膜を設けた感光体が開示され、透光性
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされてている。
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 50-20728 discloses that a polymer film of 0.1 to 1 μm formed by glow discharge polymerization is applied as a protective layer on the surface of a polyvinylcarbazole-selenium photoreceptor.
A photoreceptor is disclosed. Japanese Patent Publication No. 59-214
Japanese Patent No. 859 discloses a technique for forming a protective layer on the surface of an amorphous silicon photoreceptor by plasma polymerizing an organic hydrocarbon monomer such as styrene or acetylene to form a film of about 5 μm. JP-A No. 60-61761 discloses a photoreceptor provided with a diamond-like carbon thin film of 500 to 2 μm as a surface protective layer, and it is said that the film thickness is preferably 2 μm or less in terms of light transmission. ing.

特開昭60−249115号公報には、0.05〜5μ
m程度の無定形炭素または硬質炭素膜を表面保護層とし
て用いる技術が開示され、膜厚が5μmを越えると感光
体活性に悪影響が及ぶとされている。
JP-A-60-249115 discloses that 0.05 to 5μ
A technique has been disclosed in which an amorphous carbon or hard carbon film with a thickness of about 5 μm is used as a surface protective layer, and it is said that if the film thickness exceeds 5 μm, the photoreceptor activity will be adversely affected.

これらの開示は、何れも感光体表面に所謂オーバーコー
ト層を設けた発明であり、電荷輸送性についての開示は
全くなく、また、a−3iの有する前記した本質的問題
を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called overcoat layer is provided on the surface of a photoreceptor, and there is no disclosure of charge transport properties, and they do not solve the above-mentioned essential problems of a-3i. .

また、特開昭51−46130号公報には、ポリビニル
カルバゾール系電子写真感光体の表面にグロー放電重合
を行なって0.001〜3μmのポリマー膜を形成せし
めた電子写真感光板が開示されているが、電荷輸送性に
ついては全く言及されていないし、a−Siの持つ前記
した本質的問題を解決するものではない。
Further, JP-A-51-46130 discloses an electrophotographic photosensitive plate in which a polymer film of 0.001 to 3 μm is formed on the surface of a polyvinyl carbazole electrophotographic photoreceptor by glow discharge polymerization. However, there is no mention of charge transport properties, and it does not solve the above-mentioned essential problems of a-Si.

一方、アモルファスシリコン膜については、スピア(W
、E、5pear)及びレコンパ(P。
On the other hand, regarding the amorphous silicon film, Spear (W
, E, 5pear) and Recompa (P.

G、LeComber)により1976年発行のフィロ
ンフィカル・マガジン(Philosophical 
 Magazine)第33巻の第935頁乃至第94
9頁において、極性制御が可能な材料である事が報じら
れて以来、種々の光電デバイスへの応用が試みられて来
た。感光体への応用に関しては、例えば、特開昭56−
62254号公報、特開昭57−119356号公報、
特開昭57−177147号公報、特開昭57−119
3579公報、特開昭57−177149号公報、特開
昭57−119357号公報、特開昭57−17714
6号公報、特開昭57−177148号公報、特開昭5
7−174448号公報、特開昭57−174449号
公報、特開昭57−174450号公報、等に、炭素原
子を含有したアモルファスシリコン感光体が開示されて
いるが、何れもアモルファスシリコンの光導電性を炭素
原子により調整する事を目的としたものであり、また、
アモルファスシリコン自体厚い膜を必要としている。
Philosophical Magazine published in 1976 by
Magazine) Volume 33, pages 935 to 94
Since it was reported on page 9 that it is a material whose polarity can be controlled, attempts have been made to apply it to various photoelectric devices. Regarding the application to photoreceptors, for example,
No. 62254, Japanese Patent Application Laid-open No. 119356/1983,
JP-A-57-177147, JP-A-57-119
3579, JP 57-177149, JP 57-119357, JP 57-17714
Publication No. 6, JP-A-57-177148, JP-A-5
Amorphous silicon photoreceptors containing carbon atoms are disclosed in JP-A No. 7-174448, JP-A-57-174449, JP-A-57-174450, etc., but all of them are amorphous silicon photoconductors. The purpose is to adjust the properties using carbon atoms, and
Amorphous silicon itself requires a thick film.

、が解決しようとする問題点 以上のように、従来、電子写真感光体に用いられている
プラズマ有機重合膜は所謂アンダーコート層もしくはオ
ーバーコート層として使用されていたが、それらはキャ
リアの輸送機能を必要としない膜であって、有機重合膜
が絶縁性で有るとの判断にたって用いられている。従っ
てその膜厚も高々5um程度の極めて簿い膜としてしか
用いられず、キャリアはトンネル効果で膜中を通過する
か、トンネル効果が期待できない場合には、残留電位の
発生に関して事実上問題にならずに済む程度の薄い膜で
しか用いられていない。また、従来、電子写真に用いら
れているアモルファスシリコン膜は所謂厚膜で使用され
ており、価格或は生産性等に、不都合な点が多い。
As mentioned above, plasma organic polymer films conventionally used in electrophotographic photoreceptors have been used as so-called undercoat layers or overcoat layers, but they have a carrier transport function. It is a film that does not require an organic polymer film, and is used based on the judgment that the organic polymer film is insulating. Therefore, it is only used as a very thin film with a thickness of about 5 um at most, and carriers either pass through the film by tunneling effect, or if tunneling effect cannot be expected, there is virtually no problem with the generation of residual potential. It is only used in thin films that can be used without any damage. Furthermore, amorphous silicon films conventionally used in electrophotography are so-called thick films, which have many disadvantages in terms of cost, productivity, and the like.

本発明者らは、アモルファスカーボン膜の電子写真感光
体への応用を検討しているうちに、本来絶縁性であると
考えられていた水素化アモルファスカーボン膜が酸素原
子とハロゲン原子とを含有せしめる事により、燐原子及
び硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に酸素
原子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファスシリ
コン膜との積層においては電荷輸送性を有し、容易に好
適な電子写真特性を示し始める事を見出した。その理論
的解釈には本発明者においても不明確な点が多く詳細に
亙り言及はできないが、酸素原子とハロゲン原子とを含
有してなる水素化アモルファスカーボン膜中に捕捉され
ている比較的不安定なエネルギー状態の電子、例えばπ
電子、不対電子、残存フリーラジカル等が形成するバン
ド構造が、燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を
含有すると共に酸素原子を含有してなる水素化或は弗素
化アモルファスシリコン膜が形成するバンド構造と電導
帯もしくは荷電子帯において近似したエネルギー準位を
有するため、燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方
を含有すると共に酸素原子を含有してなる水素化或は弗
素化アモルファスシリコン膜中で発生したキャリアが容
易に酸素原子とハロゲン原子とを含有してなる水素化ア
モルファスカーボン膜中へ注入され、さらに、このキャ
リアは前述の比較的不安定なエネルギー状態の電子の作
用により酸素原子とハロゲン原子とを含有してなる水素
化アモルファスカーボン膜中を好適に走行し得るためと
推定される。
While considering the application of amorphous carbon films to electrophotographic photoreceptors, the present inventors discovered that hydrogenated amorphous carbon films, which were originally thought to be insulating, contained oxygen atoms and halogen atoms. In some cases, when laminated with a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms and oxygen atoms, it has charge transport properties and is easily suitable for electrophotography. It was discovered that the characteristics began to be shown. Although the theoretical interpretation has many unclear points even for the present inventors, it is not possible to discuss it in detail. An electron in a stable energy state, e.g. π
The band structure formed by electrons, unpaired electrons, residual free radicals, etc. is a band formed by a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms as well as oxygen atoms. It occurs in a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film that contains at least one of phosphorus atoms and boron atoms as well as oxygen atoms because it has similar energy levels in the structure and conduction band or valence band. The carriers are easily injected into the hydrogenated amorphous carbon film containing oxygen atoms and halogen atoms, and furthermore, these carriers are injected into oxygen atoms and halogen atoms by the action of the electrons in the relatively unstable energy state mentioned above. It is presumed that this is because the hydrogenated amorphous carbon film can run suitably through the hydrogenated amorphous carbon film containing the above.

本発明はその新たな知見を利用することにより、アモル
ファスシリコン感光体の持つ前述の如き本質的問題点を
全て解消し、また従来とは全く使用目的も特性も異なる
、有機プラズマ重合膜、特に酸素原子とハロゲン原子と
を含有してなる水素化アモルファスカーボン膜を電荷輸
送層として使用し、かつ、燐原子及び硼素原子のうち少
なくとも一方を含有すると共に酸素原子を含有してなる
水素化或は弗素化アモルファスシリコンの薄膜を電荷発
生層として使用した感光体を提供する事を目的とする。
By utilizing this new knowledge, the present invention solves all the above-mentioned essential problems of amorphous silicon photoreceptors, and also uses organic plasma polymerized films, especially oxygen A hydrogenated amorphous carbon film containing atoms and halogen atoms is used as a charge transport layer, and hydrogenated or fluorine containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms as well as oxygen atoms. An object of the present invention is to provide a photoreceptor using a thin film of amorphous silicon as a charge generation layer.

ゴ題弘を解°するための 段 即ち、本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する機
能分離型感光体において、該電荷輸送層がプラズマ重合
反応から生成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜であり
、かつ、該電荷発生層が燐原子及び硼素原子のうち少な
くとも一方を含有すると共に酸素原子を含有してなる水
素化或は弗素化アモルファスシリコン膜であることを特
徴とする感光体に関する(以下、本発明による電荷輸送
層をa−C膜及び電荷発生層をa−Si膜と称する)。
To solve this problem, the present invention provides a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, in which the charge transport layer contains at least oxygen atoms and halogen atoms generated from a plasma polymerization reaction. hydrogenated or fluorinated amorphous silicon in which the charge generation layer contains at least one of phosphorus atoms and boron atoms and also contains oxygen atoms; The present invention relates to a photoreceptor characterized in that it is a film (hereinafter, the charge transport layer according to the present invention will be referred to as an a-C film and the charge generation layer will be referred to as an a-Si film).

本発明は、従来のアモルファスシリコン感光体において
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能さえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用していたため発生してい
たこれらの問題点を解決すべく成されたものである。
The present invention was developed because, in conventional amorphous silicon photoreceptors, amorphous silicon, which has an excellent function as a charge generation layer, is also used as a charge transport layer, which requires only charge transport ability even if it does not have charge generation ability. This was done to solve these problems.

即ち、本発明は、電荷輸送層としてグロー放電により生
成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じくグロー放電により生成される燐原
子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に
酸素原子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファス
シリコン膜を設けた事を特徴とする機能分離型感光体に
関する。該電荷輸送層は、可視光もしくは半導体レーザ
ー光付近の波長の光に対しては明確なる光導電性は有き
ないが、好適な輸送性を有し、ざらに、帯電能、耐久性
、耐候性、耐環境汚染性等の電子写真感光体性能に優れ
、しかも透光性にも優れるため、機能分離型感光体とし
ての積層構造を形成する場合においても極めて高い自由
度が得られるものである。また、該電荷発生層は、可視
光もしくは半導体レーザー光付近の波長の光に対して優
れた光導電性を有し、しかも従来のアモルファスシリコ
ン感光体に比べて極めて薄い膜厚で、その機能を活かす
事ができるものである。
That is, the present invention provides a hydrogenated amorphous carbon film containing at least oxygen atoms and halogen atoms produced by glow discharge as a charge transport layer, and a hydrogenated amorphous carbon film containing at least oxygen atoms and halogen atoms produced by glow discharge as a charge generation layer. The present invention relates to a functionally separated photoreceptor characterized by being provided with a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film containing at least one of atoms and boron atoms and oxygen atoms. Although the charge transport layer does not have clear photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, it has suitable transport properties, and has good charging ability, durability, and weather resistance. It has excellent electrophotographic photoreceptor performance such as durability and environmental pollution resistance, and is also excellent in light transmission, so it provides an extremely high degree of freedom when forming a laminated structure as a function-separated photoreceptor. . In addition, the charge generation layer has excellent photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, and has an extremely thin film thickness compared to conventional amorphous silicon photoreceptors. It is something that can be put to good use.

本発明においては、a−C膜を形成するために有機化合
物ガス、特に炭化水素ガスが用いられる。
In the present invention, an organic compound gas, particularly a hydrocarbon gas, is used to form the a-C film.

該炭化水素におけるイ■状態は常温常圧において必ずし
も気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、
蒸発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相でも
固相でも使用可能である。
The a state of the hydrocarbon does not necessarily have to be in the gas phase at normal temperature and pressure, but can be melted by heating or reduced pressure, etc.
As long as it can be vaporized through evaporation, sublimation, etc., either liquid phase or solid phase can be used.

使用可能な炭化水素には種類が多いが、飽和炭化水素と
しては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、
ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、テ
°カン、ウンデカン、トチ゛カン、トリデカン、テトラ
デカン、ペンタデカン、ヘキサデカン、ヘプタデカン、
オクタデカン、ノナデカン、エイコサン、ヘンエイコサ
ン、トコサン、トリコサン、テトラコサン、ペンタコサ
ン、ヘキサコサン、ヘプタコサン、オクタコサン、ノナ
コサン、トリアコンタン、トドリアコンタン、ペンタト
リアコンタン、等のノルマルパラフィン並びに、イソブ
タン、イソペンタン、ネオペンタン、イソヘキサン、ネ
オヘキサン、2.3−ジメチルブタン、2−メチルヘキ
サン、3−エチルペンタン、2.2−ジメチルペンタン
、2.4−ジメチルペンタン、3,3−ジメチルペンタ
ン、トリブタン、2−メチルへブタン、3−メチルヘブ
タン、2.2−ジメチルヘキサン、2,2.5−ジメチ
ルヘキサン、2,2.3−トリメチルペンタン、2.°
2,4−トリメチルペンタン、2,3゜3−トリメチル
ペンタン、2.3.4−トリメチルペンタン、イソナノ
ン、等のイソパラフィン、等が用いられる。不飽和炭化
水素としては、例えば、エチレン、プロピレン、インブ
チレン、1−ブテン、2−ブテン、1−ペンテン、2−
ペンテン、2−メチル−1−ブテン、3−メチル−1−
ブテン、2−メチル−2−ブテン、1−ヘキセン、テト
ラメチルエチレン、1−ヘプテン、1−オクテン、1−
ノネン、1−デセン、等のオレフィン、並びに、アレン
、メチルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、ヘキサジ
エン、シクロペンタジェン、等のジオレフィン、並びに
、オシメン、アロオシメン、ミルセン、ヘキサトリ玉ン
、等のトリオレフイン、並びに、アセチレン、ブタジイ
ン、1゜3−ペンタジイン、2.4−ヘキサジイン、メ
チルアセチレン、1−ブチン、2−ブチン、1−ペンチ
ン、l−ヘキシン、l−ヘプチン、1−オクチン、1−
ノニン、1−デシン、等が用いられる。
There are many types of hydrocarbons that can be used, but examples of saturated hydrocarbons include methane, ethane, propane, butane,
Pentane, hexane, heptane, octane, nonane, tetracane, undecane, tridecane, tridecane, tetradecane, pentadecane, hexadecane, heptadecane,
Normal paraffins such as octadecane, nonadecane, eicosane, heneicosane, tocosane, tricosane, tetracosane, pentacosane, hexacosane, heptacosane, octacosane, nonacosane, triacontane, todoriacontane, pentatriacontane, isobutane, isopentane, neopentane, isohexane, neo Hexane, 2,3-dimethylbutane, 2-methylhexane, 3-ethylpentane, 2,2-dimethylpentane, 2,4-dimethylpentane, 3,3-dimethylpentane, tributane, 2-methylhebutane, 3- Methylhebutane, 2.2-dimethylhexane, 2,2.5-dimethylhexane, 2,2.3-trimethylpentane, 2. °
Isoparaffins such as 2,4-trimethylpentane, 2,3°3-trimethylpentane, 2,3,4-trimethylpentane, isonanone, etc. are used. Examples of unsaturated hydrocarbons include ethylene, propylene, imbutylene, 1-butene, 2-butene, 1-pentene, 2-
Pentene, 2-methyl-1-butene, 3-methyl-1-
Butene, 2-methyl-2-butene, 1-hexene, tetramethylethylene, 1-heptene, 1-octene, 1-
Olefins such as nonene, 1-decene, diolefins such as allene, methylalene, butadiene, pentagene, hexadiene, cyclopentadiene, and triolefins such as ocimene, alloocimene, myrcene, hexatritamine, and the like; , acetylene, butadiyne, 1゜3-pentadiyne, 2.4-hexadiyne, methylacetylene, 1-butyne, 2-butyne, 1-pentyne, l-hexyne, l-heptyne, 1-octyne, 1-
Nonine, 1-decyne, etc. are used.

脂環式炭化水素としては、例えば、シクロプロパン、シ
クロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロノナン、シクロデカ
ン、シクロウンデカン、シクロドデカン、シクロトリデ
カン、シクロテトラデカン、シクロペンタデカン、シク
ロヘキサデカン、等のシクロパラフィン並びに、シクロ
プロペン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプテン、シクロオクテン、シクロノネン
、シクロデセン、等のシクロオレフィン並びに、リモネ
ン、テルビルン、フエランドレン、シルベストレン、ツ
エン、カレン、ピネン、ボルニレン、カンフエン、フエ
ンチェン、シクロウンデカン、トリシクレン、ビサボレ
ン、ジンギベレン、クルクメン、フムレン、カジネンセ
スキベニヘン、セリネン、カリオフィレン、サンタレン
、セドレン、カンホレン、フィロクラテン、ボドカルブ
レン、ミレン、等のテルペン並びに、ステロイド等が用
いられる。芳香族炭化水素としては、例えば、ベンゼン
、トルエン、キシレン、ヘミメリテン、プソイドクメン
、メシチレン、プレニテン、イソジュレン、ジュレン、
ペンタメチルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エチル
ベンゼン、プロピルベンゼン、クメン、スチレン、ピフ
ェニル、テルフェニル、ジフェニルメタン、トリフェニ
ルメタン、ジベンジル、スチルベン、インデン、ナフタ
リン、テトラリン、アントラセン、フェナントレン、等
が用いられる。
Examples of alicyclic hydrocarbons include cyclopropane, cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cyclohebutane, cyclooctane, cyclononane, cyclodecane, cycloundecane, cyclododecane, cyclotridecane, cyclotetradecane, cyclopentadecane, cyclohexadecane, Cycloparaffins such as cyclopropene, cyclobutene, cyclopentene, cyclohexene, cycloheptene, cyclooctene, cyclononene, cyclodecene, and cycloolefins such as limonene, tervirun, phelandrene, sylvestrene, thuene, carene, pinene, bornylene, kamphuen, fuenchen , cycloundecane, tricyclene, bisabolene, zingiberene, curcumene, humulene, kajinensesesquivenichen, selinene, caryophyllene, santarene, cedrene, campholene, phylloclatene, bodocarbrene, mirene, and other terpenes, steroids, and the like are used. Examples of aromatic hydrocarbons include benzene, toluene, xylene, hemimelithene, pseudocumene, mesitylene, prenitene, isodurene, durene,
Pentamethylbenzene, hexamethylbenzene, ethylbenzene, propylbenzene, cumene, styrene, piphenyl, terphenyl, diphenylmethane, triphenylmethane, dibenzyl, stilbene, indene, naphthalene, tetralin, anthracene, phenanthrene, etc. are used.

ざらに、炭化水素以外でも、例えば、アルコール類、ケ
トン類、エーテル類、エステル類、等炭素と成りうる化
合物であれば使用可能である。
In general, any compound other than hydrocarbons that can be converted into carbon, such as alcohols, ketones, ethers, and esters, can be used.

本発明におけるa −C膜中に含まれる水素原子の量は
グロー放電を用いるというその製造面から必然的に定ま
るが、炭素原子と水素原子の総量に対して、概ね30乃
至60原子%含有される。ここで、炭素原子並びに水素
原子の膜中含有量は、有機元素分析の常法、例えばCN
H分析を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms contained in the a-C film of the present invention is inevitably determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but it is approximately 30 to 60 atomic percent contained in the a-C film based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. Ru. Here, the content of carbon atoms and hydrogen atoms in the film is determined by a conventional method of organic elemental analysis, for example, CN
This can be determined by using H analysis.

本発明におけるa −C膜中に含まれる水素原子の量は
、成膜装置の形態並びに成膜時の条件により変化するが
、例えば、基板温度を高くする、圧力を低くする、原料
炭化水素ガスの希釈率を低くする、印加電力を高(する
、交番電界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめ
た直流電界強度を高くする、等の手段、或は、これらの
組合せ操作は、含有水素量を低くする効果を有する。
The amount of hydrogen atoms contained in the a-C film in the present invention varies depending on the form of the film forming apparatus and the conditions during film forming, but for example, increasing the substrate temperature, lowering the pressure, using the raw material hydrocarbon gas, etc. Measures such as lowering the dilution rate of hydrogen, increasing the applied power, lowering the frequency of the alternating electric field, increasing the strength of the direct current electric field superimposed on the alternating electric field, or a combination of these methods can reduce the hydrogen content. It has the effect of lowering the amount.

本発明における電荷輸送層としてのa −C膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、5乃至5
0 u m s特に7乃至20μmが適当であり、5μ
mより薄いと、帯電電位が低いため充分な複写画像濃度
を得る事ができない。また、50μmより厚いと、生産
性の面で好ましくない。
The thickness of the a-C film as the charge transport layer in the present invention is 5 to 5
0 μm s, especially 7 to 20 μm is suitable, and 5 μm
If it is thinner than m, the charged potential will be low, making it impossible to obtain a sufficient density of the copied image. Moreover, if it is thicker than 50 μm, it is not preferable in terms of productivity.

このa−C膜は、高透光性、高暗抵抗を有するとともに
電荷輸送性に富み、膜厚を上記の様に5μm以上として
もキャリアはトラップされる事無く輸送され明減衰に寄
与する事が可能である。
This a-C film has high light transmittance, high dark resistance, and is rich in charge transport properties, and even if the film thickness is 5 μm or more as mentioned above, carriers are transported without being trapped and contribute to bright attenuation. is possible.

本発明における原料気体からa −C膜を形成する過程
としては、原料気体が、直流、低周波、高周波、或はマ
イクロ波等を用いたプラズマ法により生成されるプラズ
マ状態を経て形成される方法が最も好ましいが、その他
にも、イオン化蒸着法、或はイオンビーム蒸着法等によ
り生成されるイオン状態を経て形成きれてもよいし、真
空蒸着法、或はスパッタリング法等により生成される中
性粒子から形成されてもよいし、ざらには、これらの組
み合わせにより形成されてもよい。
The process of forming an a-C film from a raw material gas in the present invention is a method in which the raw material gas is formed through a plasma state generated by a plasma method using direct current, low frequency, high frequency, microwave, etc. is the most preferable, but it may also be formed through an ionic state generated by ionization vapor deposition, ion beam vapor deposition, etc., or a neutral state generated by vacuum vapor deposition, sputtering, etc. It may be formed from particles or a combination thereof.

本発明においては炭化水素の他に、a −C膜中に少な
くとも酸素原子を添加するために酸素化合物が使用され
る。該酸素化合物における相状態は常温常圧において必
ずしも気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶
融、蒸発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相
でも固相でも使用可能である。酸素化合物としては、例
えば、酸素、オゾン、水蒸気、−酸化炭素、二酸化炭素
、亜酸化炭素、等の無機化合物、水酸基(−OH) 、
アルデヒド基(−COH) 、アシル基(RCO−、−
CRO)、ケトン基(>Co) 、エーテル結合(−〇
−)、エステル結合(−Coo−) 、酸素を含む複素
環、等の官能基或は結合を有する有機化合物、等が用い
られる。水酸基を有する有機化合物としては、例えば、
メタノール、エタノール、プロパツール、ブタノール、
フリルアルコール、フルオロエタノール、フルオロブタ
ノール、フェノール、シクロヘキサノール、ベンジルア
ルコール、フルフリルアルコール、等が用いられる。ア
ルデヒド基を有する有機化合物としては、例えば、ホル
ムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオアルデヒド
、ブチルアルデヒド、グリオキサール、アクロレイン、
ベンズアルデヒド、フルフラール、等が用いられる。ア
シル基を有する有機化合物としては、例えば、ギ酸、酢
酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、パルミチン酸、ステ
アリン酸、オレイン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸
、安息香酸、トルイル酸、サリチル酸、ケイヒ酸、ナフ
トエ酸、フタル酸、フラン酸、等が用いられる。ケトン
基を有する有機化合物としては、例えば、アセトン、エ
チルメチルケトン、メチルプロピルケトン、ブチルメチ
ルケトン、ビナコロン、ジエチルケトン、メチルビニル
ケトン、メシチルオキシド、メチルヘプテノン、シクロ
ブタノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、アセ
トフェノン、プロピオフェノン、ブチロフェノン、バレ
ロフエノン、ジベンジルケトン、アセトナフトン、アセ
トチェノン、アセトフロン、等が用いられる。エーテル
結合を有する有機化合物としては、例えば、メチルエー
テル、エチルエーテル、プロピルエーテル、ブチルエー
テル、アミルエーテル、エチルメチルエーテル、メチル
プロピルエーテル、メチルブチルエーテル、メチルアミ
ルエーテル、エチルプロピルエーテル、エチルブチルエ
ーテル、エチルアミルエーテル、ビニルエーテル、アリ
ルエーテル、メチルビニルエーテル、メチルフリルエー
テル、エチルビニルエーテル、エチルフリルエーテル、
アニソール、フエネトール、フェニルエーテル、ベンジ
ルエーテル、フェニルベンジルエーテル、ナフチルエー
テル、酸化エチレン、酸化プロピレン、酸化トリメチレ
ン、テトラヒドロフラン、テトラヒドロビラン、ジオキ
サン、等が用いられる。エステル結合を有する有機化合
物とじては、例えば、ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ酸プ
ロピル、ギ酸ブチル、ギ酸アミル、#酸メチル、酢酸エ
チル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、酢酸アミル、プロピ
オン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸ブa
ビル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸アミル、酪酸
メチル、酪酸エチル、酪酸プロピル、酪酸ブチル、酪酸
アミル、吉草酸メチル、吉草酸エチル、吉草酸プロピル
、吉草酸ブチル、吉草酸アミル、安息香酸メチル、安息
香酸エチル、ケイ皮酸メチル、ケイ皮酸エチル、ケイ皮
酸プロピル、サリチル酸メチル、サリチル酸エチル、サ
リチル酸プロピル、サリチル酸ブチル、サリチル酸アミ
ル、アントラニル酸メチル、アントラニル酸エチル、ア
ントラニル酸ブチル、アントラニル酸アミル、フタル酸
メチル、フタル酸エチル、フタル酸ブチル、等が用いら
れる。酸素を含む複素環化合物としては、フラン、オキ
サゾール、フラザン、ビラン、オキサジン、モルホリン
、ベンゾフラン、バンゾオキサゾール、クロメン、クロ
マン、ジベンゾフラン、キサンチン、フエノキサジン、
オキソラン、ジオキソラン、オキサチオラン、オキサジ
アジン、ベンゾイソオキサゾール、等が用いられる。
In the present invention, in addition to hydrocarbons, oxygen compounds are used to add at least oxygen atoms into the a-C film. The phase state of the oxygen compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is. Examples of oxygen compounds include oxygen, ozone, water vapor, -carbon oxide, carbon dioxide, carbon suboxide, and other inorganic compounds, hydroxyl groups (-OH),
Aldehyde group (-COH), acyl group (RCO-, -
Organic compounds having functional groups or bonds such as CRO), ketone groups (>Co), ether bonds (-〇-), ester bonds (-Coo-), and oxygen-containing heterocycles are used. Examples of organic compounds having a hydroxyl group include:
methanol, ethanol, propatool, butanol,
Furyl alcohol, fluoroethanol, fluorobutanol, phenol, cyclohexanol, benzyl alcohol, furfuryl alcohol, etc. are used. Examples of organic compounds having an aldehyde group include formaldehyde, acetaldehyde, propionaldehyde, butyraldehyde, glyoxal, acrolein,
Benzaldehyde, furfural, etc. are used. Examples of organic compounds having an acyl group include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, palmitic acid, stearic acid, oleic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, benzoic acid, toluic acid, salicylic acid, and cinnamon. Acid, naphthoic acid, phthalic acid, furanic acid, etc. are used. Examples of organic compounds having a ketone group include acetone, ethyl methyl ketone, methyl propyl ketone, butyl methyl ketone, binacolon, diethyl ketone, methyl vinyl ketone, mesityl oxide, methyl heptenone, cyclobutanone, cyclopentanone, cyclohexanone, acetophenone, Propiophenone, butyrophenone, valerophenone, dibenzylketone, acetonaphthone, acetochenone, acetofuron, etc. are used. Examples of organic compounds having an ether bond include methyl ether, ethyl ether, propyl ether, butyl ether, amyl ether, ethyl methyl ether, methyl propyl ether, methyl butyl ether, methyl amyl ether, ethyl propyl ether, ethyl butyl ether, and ethyl amyl ether. , vinyl ether, allyl ether, methyl vinyl ether, methyl furyl ether, ethyl vinyl ether, ethyl furyl ether,
Anisole, phenethole, phenyl ether, benzyl ether, phenylbenzyl ether, naphthyl ether, ethylene oxide, propylene oxide, trimethylene oxide, tetrahydrofuran, tetrahydrobilane, dioxane, and the like are used. Examples of organic compounds having an ester bond include methyl formate, ethyl formate, propyl formate, butyl formate, amyl formate, methyl #acid, ethyl acetate, propyl acetate, butyl acetate, amyl acetate, methyl propionate, and ethyl propionate. , propionate a
Byl, butyl propionate, amyl propionate, methyl butyrate, ethyl butyrate, propyl butyrate, butyl butyrate, amyl butyrate, methyl valerate, ethyl valerate, propyl valerate, butyl valerate, amyl valerate, methyl benzoate, benzoate Ethyl acid, methyl cinnamate, ethyl cinnamate, propyl cinnamate, methyl salicylate, ethyl salicylate, propyl salicylate, butyl salicylate, amyl salicylate, methyl anthranilate, ethyl anthranilate, butyl anthranilate, amyl anthranilate, phthalate Methyl acid, ethyl phthalate, butyl phthalate, etc. are used. Examples of heterocyclic compounds containing oxygen include furan, oxazole, furazane, biran, oxazine, morpholine, benzofuran, banzoxazole, chromene, chroman, dibenzofuran, xanthine, phenoxazine,
Oxolane, dioxolane, oxathiolane, oxadiazine, benzisoxazole, etc. are used.

本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子の量は、全構成原子に対して7.0原子%以下である
。ここで酸素原子の膜中含有量は、元素分析の常法、例
えばオージェ分析により知る事ができる。酸素原子の量
が7.0原子%より窩い場合には、少量の添加では好適
な輸送性を保証していた酸素原子が、逆に膜の低抵抗化
を招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。また、酸素
源ガスの一部のもの、例えば、酸素ガス、オゾンガス、
−酸化炭素ガス等においては、エツチング効果が強く現
れ、その流量を増やす事により酸素原子の膜中への添加
量を増加させようとすると、成膜速度が低下し、ある程
度の膜厚が必要とされる電荷輸送層の成膜においては不
都合となる。従フて、本発明における酸素原子添加量の
範囲は重要である。
In the present invention, the amount of oxygen atoms contained as a chemical modifier is 7.0 at % or less based on all constituent atoms. Here, the content of oxygen atoms in the film can be determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis. When the amount of oxygen atoms is less than 7.0 at%, the oxygen atoms, which had guaranteed good transport properties when added in small amounts, conversely exhibit the effect of lowering the resistance of the film, causing a decrease in charging ability. cause a decline. In addition, some oxygen source gases, such as oxygen gas, ozone gas,
- Carbon oxide gas has a strong etching effect, and if you try to increase the amount of oxygen atoms added to the film by increasing the flow rate, the film formation rate will decrease and a certain film thickness will be required. This is inconvenient when forming a charge transport layer. Therefore, the range of the amount of oxygen atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への前述
の酸素化合物の導入量を増減することにより制御するこ
とが可能である。酸素化合物の導入量を増大させれば、
本発明によるa −C膜中への酸素原子の添加量を高く
することが可能であり、逆に酸素化合物の導入量を減少
させれば、本発明によるa −C膜中への酸素原子の添
加量を低くすることが可能である。
In the present invention, the amount of oxygen atoms contained as a chemical modifier can be controlled mainly by increasing or decreasing the amount of the aforementioned oxygen compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. If the amount of oxygen compound introduced is increased,
It is possible to increase the amount of oxygen atoms added to the a-C film according to the present invention, and conversely, if the amount of oxygen compounds introduced is decreased, the amount of oxygen atoms added to the a-C film according to the present invention can be increased. It is possible to reduce the amount added.

本発明においては炭化水素の他に、a−CM中に少なく
ともハロゲン原子を添加するためにハロゲン化合物が使
用される。ここでハロゲン原子とは、弗素原子、塩素原
子、臭素原子、及び沃素原子をいう。該ハロゲン化合物
における相状態は常温常圧において必ずしも気相である
必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸発、昇華等
を経て気化しうるものであれば、液相でも固相でも使用
可能である。ハロゲン化合物としては、例えば、弗素、
塩素、臭素、沃素、弗化水素、弗化塩素、弗化臭素、弗
化沃素、塩化水素、塩化臭素、塩化沃素、臭化水素、臭
化沃素、沃化水素、等の無機化合物、ハロゲン化アルキ
ル、ハロゲン化アリール、ハロゲ化スチレン、ハロゲン
化ポリメチレン、へロホルム、等の有機化合物が用いら
れる。ハロゲン化アルキルとしては、例えば、フッ化メ
チル、塩化メチル、臭化メチル、ヨウ化メチル、フッ化
エチル、塩化エチル、臭化エチル、ヨウ化エチル、フッ
化プロピル、塩化プロピル、臭化プロピル、ヨウ化プロ
ピル、フッ化ブチル、塩化ブチル、臭化ブチル、ヨウ化
ブチル、フッ化アミル、塩化アミル、臭化アミル、ヨウ
化アミル、フッ化ヘキシル、塩化ヘキシル、臭化ヘキシ
ル、ヨウ化ヘキシル、フッ化へブチル、塩化ヘプチル、
臭化へブチル、ヨウ化へブチル、フッ化オクチル、塩化
オクチル、臭化オクチル、ヨウ化オクチル、フッ化ノニ
ル、塩化ノニル、臭化ノニル、ヨウ化ノニル、フッ化デ
シル、塩化デシル、臭化デシル、ヨウ化デシル、等が用
いられる。ハロゲン化アリールとしては、例えば、フル
オルベンゼン、クロルベンゼン、ブロムベンゼン、ヨー
ドベンゼン、クロルトルエン、ブロムトルエン、クロル
ナフタリン、ブロムナフタリン、等が用いられる。ハロ
ゲン化スチレンとしては、例えば、クロルスチレン、ブ
ロムスチレン、ヨードスチレン、フルオルスチレン、等
が用いられる。ハロゲン化ポリメチレンとしては、例え
ば、塩化メチレン、臭化メチレン、ヨウ化メチレン、塩
化エチレン、臭化エチレン、ヨウ化エチレン、塩化トリ
メチレン、臭化トリメチレン、ヨウ化トリメチレン、ジ
塩化ブタン、ジ臭化ブタン、ショウ化ブタン、ジ塩化ペ
ンタン、ジ臭化ペンタン、ショウ化ペンタン、ジ塩化ヘ
キサン、ジ臭化ヘキサン、ショウ化ヘキサン、ジ塩化へ
ブタン、ジ臭化へブタン、ショウ化へブタン、ジ塩化オ
クタン、ジ臭化オクタン、ショウ化オクタン、ジ塩化ノ
ナン、ジ臭化ノナン、ジ塩化デカン、ジヨウ化デカン、
等が用いられる。へロホルムとしては、例えば、フルオ
ロホルム、クロロホルム、ブロモホルム、ヨードホルム
、等が用いられる。
In the present invention, in addition to hydrocarbons, halogen compounds are used to add at least halogen atoms to a-CM. Here, the halogen atom refers to a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom. The phase state of the halogen compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is. Examples of halogen compounds include fluorine,
Inorganic compounds such as chlorine, bromine, iodine, hydrogen fluoride, chlorine fluoride, bromine fluoride, iodine fluoride, hydrogen chloride, bromine chloride, iodine chloride, hydrogen bromide, iodine bromide, hydrogen iodide, etc., and halogenated Organic compounds such as alkyl, halogenated aryl, halogenated styrene, halogenated polymethylene, and heroform are used. Examples of alkyl halides include methyl fluoride, methyl chloride, methyl bromide, methyl iodide, ethyl fluoride, ethyl chloride, ethyl bromide, ethyl iodide, propyl fluoride, propyl chloride, propyl bromide, and Propyl chloride, butyl fluoride, butyl chloride, butyl bromide, butyl iodide, amyl fluoride, amyl chloride, amyl bromide, amyl iodide, hexyl fluoride, hexyl chloride, hexyl bromide, hexyl iodide, fluoride Hebutyl, heptyl chloride,
Hebutyl bromide, hebutyl iodide, octyl fluoride, octyl chloride, octyl bromide, octyl iodide, nonyl fluoride, nonyl chloride, nonyl bromide, nonyl iodide, decyl fluoride, decyl chloride, decyl bromide , decyl iodide, etc. are used. As the aryl halide, for example, fluorobenzene, chlorobenzene, brombenzene, iodobenzene, chlorotoluene, bromotoluene, chlornaphthalene, bromnaphthalene, etc. are used. As the halogenated styrene, for example, chlorstyrene, bromustyrene, iodostyrene, fluorostyrene, etc. are used. Examples of halogenated polymethylene include methylene chloride, methylene bromide, methylene iodide, ethylene chloride, ethylene bromide, ethylene iodide, trimethylene chloride, trimethylene bromide, trimethylene iodide, butane dichloride, butane dibromide, Butane dichloride, pentane dichloride, pentane dibromide, pentane dichloride, hexane dichloride, hexane dibromide, hexane dichloride, hebutane dichloride, hebutane dibromide, hebutane dichloride, octane dichloride, Octane dibromide, octane shoide, nonane dichloride, nonane dibromide, decane dichloride, decane diiodide,
etc. are used. Examples of heloform include fluoroform, chloroform, bromoform, iodoform, and the like.

本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、全構成原子に対して0゜1乃至25原子
%である。ここで、膜中に含有されるハロゲン原子の量
は、元素分析の常法、例えばオージェ分析により知る事
ができる。ハロゲン原子の量が0.1原子%より低い場
合には、必ずしも好適な電荷輸送性が保証されず、感度
低下もしくは残留電位の発生等を生じ易くなり、また、
経時的感度安定性も保証されなくなる。ハロゲン原子の
量が25原子%より高い場合には、適量の添加では好適
な電荷輸送性と残留電位発生防止を保証していたハロゲ
ン原子が、逆に、帯電能の低下、ざらには経時後の暗抵
抗を低くする作用を示し、数カ月単位の保管中に電荷保
持能の低下を招く。また、必ずしも成膜性が保証されな
くなり、膜の剥離、油状化もしくは粉体化を招く。従っ
て、本発明におけるハロゲン原子添加量の範囲は重要で
ある。
In the present invention, the amount of halogen atoms contained as a chemical modifier is 0.1 to 25 at.% based on the total constituent atoms. Here, the amount of halogen atoms contained in the film can be determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis. If the amount of halogen atoms is lower than 0.1 atomic %, suitable charge transport properties are not necessarily guaranteed, and sensitivity decreases or residual potential is likely to occur, and
Sensitivity stability over time is also no longer guaranteed. When the amount of halogen atoms is higher than 25 at%, the halogen atoms, which had guaranteed suitable charge transport properties and prevention of residual potential generation when added in an appropriate amount, will conversely cause a decrease in charging ability, and even worse over time. It has the effect of lowering the dark resistance of the cell, leading to a decrease in charge retention ability during storage for several months. Furthermore, film-forming properties are not necessarily guaranteed, leading to peeling of the film, oily state, or powdery state. Therefore, the range of the amount of halogen atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への
前述のハロゲン化合物の導入量を増減することにより制
御することが可能である。
In the present invention, the amount of halogen atoms contained as a chemical modifier can be controlled mainly by increasing or decreasing the amount of the halogen compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed.

ハロゲン化合物の導入量を増大させれば、本発明による
a −CF2中へのハロゲン原子の添加量を高くするこ
とが可能であり、逆にハロゲン化合物の導入量を減少さ
せれば、本発明によるa −C膜中へのハロゲン原子の
添加量を低くすることが可能である。
By increasing the amount of halogen compound introduced, it is possible to increase the amount of halogen atoms added to a-CF2 according to the present invention, and conversely, by decreasing the amount of halogen compound introduced, it is possible to increase the amount of halogen atoms added to a-CF2 according to the present invention. It is possible to reduce the amount of halogen atoms added to the a-C film.

本発明においては、a−8iPAを形成するためにシラ
ンガス、ジシランガス、或は、弗化シランガスが用いら
れる。また、化学的修飾物質として燐原子或は硼素原子
を膜中に含有せしめるための原料ガスとして、ホスフィ
ンガス或はジボランガス等が用いられる。ざらに、化学
的修飾物質として酸素原子を膜中に含有せしめるための
原料ガスとして、酸素ガス、亜酸化窒素ガス、オゾンガ
ス、或は、−酸化炭素ガス、等の酸素化合物ガスが用い
られる。
In the present invention, silane gas, disilane gas, or fluorinated silane gas is used to form a-8iPA. Furthermore, phosphine gas, diborane gas, or the like is used as a raw material gas for incorporating phosphorus atoms or boron atoms as chemical modifiers into the film. In general, an oxygen compound gas such as oxygen gas, nitrous oxide gas, ozone gas, or -carbon oxide gas is used as a raw material gas for containing oxygen atoms as a chemical modifier in the film.

本発明において化学的修飾物質として含有される燐原子
或は硼素原子の量は、全構成原子に対して20000原
子ppm以下である。ここで燐原子或は硼素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析或はI
MA分析により知る事ができる。燐原子或は硼素原子の
膜中含有量が2oooo原子ppmより高い場合には、
少量の添加では好適な輸送性、或は、極性制御効果を保
証していた燐原子或は硼素原子が、逆に膜の低抵抗化を
招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。従って、本発
明における燐原子或は硼素原子添加量の範囲は重要であ
る。
In the present invention, the amount of phosphorus atoms or boron atoms contained as a chemical modifier is 20,000 atomic ppm or less based on all constituent atoms. Here, the content of phosphorus atoms or boron atoms in the film is determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis or I
This can be known through MA analysis. When the content of phosphorus atoms or boron atoms in the film is higher than 200 atoms ppm,
Phosphorus atoms or boron atoms, which, when added in small amounts, ensure suitable transport properties or polarity control effects, conversely exhibit the effect of lowering the resistance of the film, resulting in a decrease in charging ability. Therefore, the range of the amount of phosphorus atoms or boron atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子の量は、全構成原子に対して0.001乃至1原子%
である。ここで酸素原子の膜中含有量は、元素分析の常
法、例えばオージェ分析或はIMA分析により知る事が
できる。酸素原子の膜中含有量が0.001原子%より
低い場合には、a−Si膜の電気抵抗値が低くなる事か
らa−3iFJにコロナ帯電等による電界がかかりにく
くなり、光励起キャリアが必ずしも効率よ<a−C膜中
に注入されなくなり感度の低下を招く。また、帯電能も
低下する。酸素原子の膜中含有量が1原子%より高い場
合には、逆にa−Sivの電気抵抗値が高くなりすぎる
事から、光励起キャリアの発生効率並びに易動速度が低
下し、感度の低下を招く。従フて、本発明における酸素
原子添加量の範囲は重要である。
In the present invention, the amount of oxygen atoms contained as a chemical modifier is 0.001 to 1 atomic% based on the total constituent atoms.
It is. Here, the content of oxygen atoms in the film can be determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis or IMA analysis. When the content of oxygen atoms in the film is lower than 0.001 at%, the electric resistance value of the a-Si film becomes low, making it difficult for a-3iFJ to be subjected to electric fields due to corona charging, etc., and photoexcited carriers are not necessarily Efficiency <a-C is no longer injected into the film, resulting in a decrease in sensitivity. Furthermore, the charging ability is also reduced. If the content of oxygen atoms in the film is higher than 1 atomic %, the electrical resistance of a-Siv becomes too high, which reduces the generation efficiency and mobile speed of photoexcited carriers, leading to a decrease in sensitivity. invite Therefore, the range of the amount of oxygen atoms added in the present invention is important.

本発明におけるa−3i膜中に含まれる水素原子或は弗
素原子の量はグロー放電を用いるというその製造面から
必然的に定まるが、シリコン原子と水素原子或はシリコ
ン原子と弗素原子の総量に対して、概ね10乃至35原
子%含有される。ここで、水素原子或は弗素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えば○NH分析、オージ
ェ分析等を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms or fluorine atoms contained in the a-3i film of the present invention is necessarily determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but the total amount of silicon atoms and hydrogen atoms or silicon atoms and fluorine atoms On the other hand, the content is approximately 10 to 35 at%. Here, the content of hydrogen atoms or fluorine atoms in the film can be determined by using conventional methods of elemental analysis, such as ◯NH analysis and Auger analysis.

本発明における電荷発生層としてのa−3i膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、0.1乃
至5μmが適当であり、0.1μmより薄いと、光吸収
が不十分となり充分な電荷発生が行なわれなくなり、感
度の低下を招く。また、5μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。このa−5i膜は電荷発生能に富み、
ざらに、本発明の最も特徴とするところのa−C膜との
積層構成において効率よ<a−C膜中に発生キャリアを
注入せしめ、好適な明減衰に寄与する事が可能である。
The appropriate thickness of the a-3i film as the charge generation layer in the present invention is 0.1 to 5 μm for use in a normal electrophotographic process, and if it is thinner than 0.1 μm, light absorption is insufficient. As a result, sufficient charge generation is not performed, resulting in a decrease in sensitivity. Moreover, if it is thicker than 5 μm, it is not preferable in terms of productivity. This a-5i film has a rich charge generation ability,
In general, in the laminated structure with the a-C film, which is the most characteristic feature of the present invention, generated carriers can be efficiently injected into the a-C film, contributing to suitable bright attenuation.

本発明における原料気体からa−5i膜を形成する過程
は、a−C膜を形成する場合と同様にして行なわれる。
The process of forming the a-5i film from the raw material gas in the present invention is carried out in the same manner as the case of forming the a-C film.

本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子、燐原子、或は、硼素原子の量は、主に、プラズマ反
応を行なう反応室への前述の酸素化合物ガス、ホスフィ
ンガス、或は、ジボランガスの導入量を増減することに
より刷部することが可能である。酸素化合物ガス、ホス
フィンガス、或は、ジボランガスの導入量を増大させれ
ば、本発明によるa−3iN中への酸素原子、燐原子、
或は、硼素原子の添加量を高くすることが可能であり、
逆に酸素化合物ガス、糸スフィンガス、或は、ジボラン
ガスの導入量を減少させれば、本発明によるa−Si膜
中への酸素原子、燐原子、或、は、硼素原子の添加量を
低くすることが可能である。
In the present invention, the amount of oxygen atoms, phosphorus atoms, or boron atoms contained as chemical modifiers is mainly determined by the amount of oxygen compound gas, phosphine gas, or diborane gas introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. It is possible to change the printing area by increasing or decreasing the amount of introduced. By increasing the amount of oxygen compound gas, phosphine gas, or diborane gas introduced, oxygen atoms, phosphorus atoms,
Alternatively, it is possible to increase the amount of boron atoms added,
On the other hand, if the amount of oxygen compound gas, filamentous gas, or diborane gas introduced is reduced, the amount of oxygen atoms, phosphorus atoms, or boron atoms added to the a-Si film according to the present invention can be reduced. Is possible.

本発明における感光体は、電荷発生層と電荷輸送層から
成る機能分離型の構成とするのが最適で、該電荷発生層
と該電荷輸送層の積層構成は、必要に応じて適宜選択す
ることが可能である。
It is optimal for the photoreceptor in the present invention to have a functionally separated structure consisting of a charge generation layer and a charge transport layer, and the laminated structure of the charge generation layer and the charge transport layer may be appropriately selected as necessary. is possible.

第1図は、その一形態として、導電性基板(1)上に電
荷輸送層(2)と電荷発生M(3)を順次積層してなる
構成を示したものである。第2図は、別の一形態として
、導電性基板(1)上に電荷発生層(3)と電荷輸送層
(2)を順次積層してなる構成を示したものである。第
3図は、別の一形態として、導電性基板(1)上に、電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。
FIG. 1 shows, as one form thereof, a structure in which a charge transport layer (2) and a charge generation M (3) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 2 shows, as another embodiment, a structure in which a charge generation layer (3) and a charge transport layer (2) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 3 shows, as another embodiment, a charge transport layer (2), a charge generation layer (3), and a charge transport layer (2) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which these are sequentially laminated.

感光体表面を、例えばコロナ帯電器等により正帯電した
後、画像露光して使用する場合においては、第1図では
電荷発生層(3)で発生した正孔が電荷輸送層(2)中
を導電性基板(1)に向は走行し、第2図では電荷発生
層(3)で発生した電子が電荷輸送層(2)中を感光体
表面に向は走行し、第3図では電荷発生層(3)で発生
した正孔が導電性基板側の電荷輸送層(2)中を導電性
基板(1)に向は走行すると共に、同時に電荷発生層(
3)で発生した電子が表面側の電荷輸送層(2)中を感
光体表面に向は走行し、好適な明減衰に保証された静電
潜像の形成が行なわれる。反対に感光体表面を負帯電し
た後、画像露光して使用する場合においては、電子と正
孔の挙動を入れ代えて、キャリアーの走行性を解すれば
よい。第2図及び第3図では、画像露光用の照射光が電
荷輸送層中を通過する事になるが、本発明による電荷輸
送層は透光性に優れることから、好適な潜像形成を行な
うことが可能である。
When the surface of the photoreceptor is positively charged using a corona charger or the like and then used for image exposure, in FIG. 1, holes generated in the charge generation layer (3) pass through the charge transport layer (2). In Figure 2, electrons generated in the charge generation layer (3) travel towards the surface of the photoreceptor in the charge transport layer (2), and in Figure 3, electrons are generated in the conductive substrate (1). Holes generated in the layer (3) travel toward the conductive substrate (1) through the charge transport layer (2) on the conductive substrate side, and at the same time travel through the charge generation layer (2) toward the conductive substrate (1).
The electrons generated in step 3) travel toward the surface of the photoreceptor through the charge transport layer (2) on the front side, forming an electrostatic latent image guaranteed to have suitable brightness attenuation. On the other hand, when the surface of the photoreceptor is negatively charged and then used for image exposure, the behavior of electrons and holes can be exchanged to understand the mobility of carriers. In FIGS. 2 and 3, the irradiation light for image exposure passes through the charge transport layer, but since the charge transport layer according to the present invention has excellent translucency, it forms a suitable latent image. Is possible.

第4図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と表面保護層(
4)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第1図の形態に表面保護層を設けた形態に相当するが、
第1図の形態では、最表面が耐湿性に乏しいa−Si膜
で有ることから、多くの場合実用上の対湿度安定性を確
保するために表面保護層を設けることが好ましい。第2
図及び第3図の構成の場合、最表面が耐久性に優れたa
−C膜であるため表面保護層を設けなくてもよいが、例
えば現像剤の付着による感光体表面の汚れを防止するよ
うな、複写機内の各種エレメントに対する整合性を調整
する目的から、表面保護層を設けることもさらなる一形
態と成りうる。
FIG. 4 shows a conductive substrate (1), a charge transport layer (2), a charge generation layer (3) and a surface protective layer (
4) is shown in a structure formed by sequentially stacking them. In other words, it corresponds to the form shown in Fig. 1 with a surface protective layer provided, but
In the form of FIG. 1, since the outermost surface is an a-Si film with poor moisture resistance, in many cases it is preferable to provide a surface protective layer in order to ensure practical humidity stability. Second
In the case of the configurations shown in Figures and Figure 3, the outermost surface is a with excellent durability.
- Since it is a C film, there is no need to provide a surface protective layer, but for the purpose of adjusting the consistency with various elements in the copying machine, such as preventing stains on the surface of the photoreceptor due to adhesion of developer, surface protection Providing layers can also be a further embodiment.

第5図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷発生層(3)と電荷輸送N(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。即ち第2
図の形態に中間層を設けた形態に相当するが、第2図の
形態では、導電性基板との接合面がa−Si膜である事
から、多くの場合接着性及び注入阻止効果を確保するた
めに中間層を設ける事が好ましい。第1図及び第3図の
構成の場合、導電性基板との接合面が、接着性及び注入
阻止効果に優れた、本発明による電荷輸送層であるため
、中間層を設けなくてもよいが、例えば導電性基板の前
処理方法のような、感光層形成以前の製造工程との整合
性を調整する目的から、中間層を設けることもざらなる
一形態と成りうる。
FIG. 5 shows an intermediate layer (5), a charge generation layer (3), and a charge transport N (2) on a conductive substrate (1) as a rough form.
This figure shows a structure in which these are sequentially laminated. That is, the second
This corresponds to the form shown in the figure with an intermediate layer provided, but in the form shown in Fig. 2, the bonding surface with the conductive substrate is an a-Si film, which ensures adhesiveness and injection blocking effect in most cases. It is preferable to provide an intermediate layer for this purpose. In the case of the configurations shown in FIGS. 1 and 3, since the bonding surface with the conductive substrate is the charge transport layer according to the present invention, which has excellent adhesiveness and injection blocking effect, it is not necessary to provide an intermediate layer. For example, an intermediate layer may be provided for the purpose of adjusting compatibility with a manufacturing process before forming a photosensitive layer, such as a pretreatment method for a conductive substrate.

第6図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)
と表面保護Pi(4)を順次積層してなる構成を示した
ものである。即ち第1図の形態に中間層と表面保護層を
設けた形態に相当する。
FIG. 6 shows, as a rough form, an intermediate layer (5), a charge transport layer (2), and a charge generation layer (3) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which surface protection Pi (4) is sequentially laminated. That is, it corresponds to the form shown in FIG. 1 with an intermediate layer and a surface protective layer provided.

中間層と表面保護層の設置理由は前述と同様であり、従
って第2図及び第3図の構成において中間層と表面保M
層を設けることもざらなる一形態と成りうる。
The reason for installing the intermediate layer and the surface protective layer is the same as described above, so in the configurations shown in FIGS.
Providing layers can also be an alternative form.

本発明において中間層と表面保護層は、材料的にも、製
法的にも、特に限定を受けるものではなく所定の目的が
達せられるものであれば、適宜選択することが可能であ
る。本発明によるa−C膜を用いてもよい。但し、用い
る材料が、例えば従来例で述べた如き絶縁性材料である
場合には、残留電位発生の防止のため膜厚は5μm以下
に留める必要がある。
In the present invention, the intermediate layer and the surface protective layer are not particularly limited in terms of material or manufacturing method, and can be appropriately selected as long as a predetermined purpose can be achieved. An a-C film according to the invention may also be used. However, if the material used is, for example, an insulating material as described in the conventional example, the film thickness must be kept at 5 μm or less to prevent generation of residual potential.

本発明による感光体の電荷輸送層は、気相状態の分子を
減圧下で放電分解し、発生したプラズマ雰囲気中に含ま
れる活性中性種あるいは荷電種を基板上に拡散、電気力
、あるいは磁気力等により誘導し、基板上での再結合反
応により固相として堆積きせる、所謂プラズマ重合反応
から生成きれる事が好ましい。
The charge transport layer of the photoreceptor according to the present invention decomposes molecules in a gas phase by discharge decomposition under reduced pressure, and diffuses active neutral species or charged species contained in the generated plasma atmosphere onto the substrate, using electric force or magnetic force. It is preferable that the material be generated through a so-called plasma polymerization reaction, which is induced by force or the like and deposited as a solid phase by a recombination reaction on a substrate.

第7図は本発明に係わる感光体の製造装置を示い図中(
701)〜(706)は常温において気相状態にある原
料化合物及びキャリアガスを密封した第1乃至第6タン
クで、各々のタンクは第1乃至第6FI節弁(707)
〜(712)と第1乃至第6流量制′a器(713)〜
(718)に接続されている。図中(719)〜(72
1)は常温において液相または固相状態にある原料化合
物を封入した第1乃至第3容器で、各々の容器は気化の
ため第1乃至第3温調器(722)〜(724)により
与熱可能であり、ざらに各々の容器は第7乃至第9調節
弁(725)〜(727)と第7乃至第9流量制御器(
728)〜(730)に接続されている。これらのガス
は混合器(731)で混合された後、主管(732)を
介して反応室(733)に送り込まれる。途中の配管は
、常温において液相または固相状態にあった原料化合物
が気化したガスが、途中で凝結しないように、適宜配置
された配管加熱器(734)により、与熱可能とされて
いる。反応室内には接地電極(735)と電力印加電極
(736)が対向して設置され、各々の電極は電極加熱
器(737)により与熱可能とされている。電力印加電
極(736)には、窩周波電力用整合器(738)を介
して高周波電源(739)、低周波電力用整合器(74
0)を介して低周波電源(741)、ローパスフィルタ
(742)を介して直流電源(743)が接続されてお
り、接続選択スイッチ(744)により周波数の異なる
電力が印加可能とされている。反応室(733)内の圧
力は圧力制御弁(745)により調整可能であり、反応
室(733)内の減圧は、排気系選択弁(746)を介
して、拡散ポンプ(747) 、油回転ポンプ(748
) 、或は、冷却除外装置(749) 、メカニカルブ
ースターポンプ(750) 、油回転ポンプ(748)
により行なわれる。排ガスについては、さらに適当な除
外装置(753)により安全無害化した後、大気中に排
気される。これら排気系配管についても、常温において
液相または固相状態にあった原料化合物が気化したガス
が、途中で凝結しないように、適宜配置された配管加熱
器(734)により、与熱可能とされている。反応室(
733)も同様の理由から反応室加熱器(751)によ
り与熱可能ときれ、内部に配された電極上に導電性基板
(752)が設置される。第7図において導電性基板(
752)は接地電極(735)に固定して配されている
が、電力印加電極(736)に固定して配されてもよく
、ざらに双方に配されてもよい。
FIG. 7 shows a photoreceptor manufacturing apparatus according to the present invention.
701) to (706) are the first to sixth tanks in which raw material compounds and carrier gas which are in a gas phase at room temperature are sealed, and each tank is connected to the first to sixth FI control valves (707).
~(712) and the first to sixth flow rate controllers (713)~
(718). (719) to (72) in the figure
1) are first to third containers containing raw material compounds that are in a liquid or solid state at room temperature, and each container is heated by the first to third temperature regulators (722) to (724) for vaporization. Roughly each container has seventh to ninth control valves (725) to (727) and seventh to ninth flow rate controllers (725) to (727).
728) to (730). These gases are mixed in a mixer (731) and then sent into a reaction chamber (733) via a main pipe (732). The pipes along the way can be heated by appropriately placed pipe heaters (734) so that the gas, which is the vaporized raw material compound that is in a liquid or solid state at room temperature, does not condense on the way. . A ground electrode (735) and a power application electrode (736) are installed facing each other in the reaction chamber, and each electrode can be heated by an electrode heater (737). The power application electrode (736) is connected to a high frequency power source (739) and a matching box for low frequency power (74) via a matching box for frequency power (738).
A low frequency power source (741) is connected through a low-frequency power source (741) and a DC power source (743) is connected through a low-pass filter (742), and power with different frequencies can be applied by a connection selection switch (744). The pressure inside the reaction chamber (733) can be adjusted by a pressure control valve (745), and the pressure inside the reaction chamber (733) can be reduced through an exhaust system selection valve (746), a diffusion pump (747), and an oil rotary valve. Pump (748
), or cooling exclusion device (749), mechanical booster pump (750), oil rotary pump (748)
This is done by The exhaust gas is further rendered safe and harmless by an appropriate exclusion device (753) before being exhausted into the atmosphere. These exhaust system piping can also be heated by appropriately placed piping heaters (734) to prevent the vaporized gas of the raw material compound, which is in a liquid or solid phase state at room temperature, from condensing on the way. ing. reaction chamber (
733) can also be heated by the reaction chamber heater (751) for the same reason, and a conductive substrate (752) is installed on the electrode arranged inside. In Figure 7, the conductive substrate (
752) are fixedly disposed on the ground electrode (735), but may be fixedly disposed on the power application electrode (736), or may be disposed roughly on both sides.

第8図は本発明に係わる感光体の製造装置の別の一形態
を示し、反応室(833)内部の形態以外は、第7図に
示した本発明に係わる感光体の製造装置と同様であり、
付記された番号は、700番台のものを800番台に置
き換えて解すればよい。第8図において、反応室(83
3)内部には、第7図における接地電極(735)を兼
ねた円筒形の導電性基板(852)が設置され、内側に
ば電極加熱器(837)が配されている。導電性基板(
852)周囲には同じく円筒形状をした電力印加電極(
836)が配され、外側には電極加熱器(837)が配
されている。導電性基板(852)は、外部より駆動モ
ータ(854)を用いて自転可能となっている。
FIG. 8 shows another embodiment of the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, which is similar to the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention shown in FIG. 7 except for the internal configuration of the reaction chamber (833). can be,
The appended numbers can be understood by replacing the 700s with 800s. In FIG. 8, the reaction chamber (83
3) A cylindrical conductive substrate (852) that also serves as the ground electrode (735) in FIG. 7 is installed inside, and an electrode heater (837) is placed inside. Conductive substrate (
852) There is also a cylindrical power application electrode (
836) is arranged, and an electrode heater (837) is arranged outside. The conductive substrate (852) is rotatable using an external drive motor (854).

感光体製造に供する反応室は、拡散ポンプにより予め1
0−4乃至1O−6Torr程度にまで減圧し、真空度
の確認と装置内部に吸着したガスの脱着を行なう。同時
に電極加熱器により、電極並びに電極に固定して配され
た導電性基板を所定の温度まで昇温する。導電性基板に
は、前述の如き感光体構成の中から所望の構成を得るた
めに、必要であれば、予めアンダーコート層或は電荷発
生層を設けて置いてもよい。アンダーコート層或は電荷
発生層の設置には、本装置を用いてもよいし別装置を用
いてもよい。次いで、第1乃至第6タンク及び第1乃至
第3容器から、原料ガスを適宜第1乃至第9流量制御器
を用いて定流量化しながら反応室内に導入し、圧力調節
弁により反応室内を一定の減圧状態に保つ。ガス流量が
安定化した後、接続選択スイッチにより、例えば高周波
電源を選択し、電力印加電極に高周波電力を投入する。
The reaction chamber used for photoreceptor production is preliminarily heated by a diffusion pump.
The pressure is reduced to about 0-4 to 10-6 Torr, and the degree of vacuum is confirmed and the gas adsorbed inside the device is desorbed. At the same time, an electrode heater heats the electrode and the conductive substrate fixedly disposed on the electrode to a predetermined temperature. If necessary, an undercoat layer or a charge generation layer may be provided in advance on the conductive substrate in order to obtain a desired photoreceptor structure from among those described above. The present apparatus or a separate apparatus may be used to provide the undercoat layer or the charge generation layer. Next, the raw material gases are introduced into the reaction chamber from the first to sixth tanks and the first to third containers while being kept at a constant flow rate using the first to ninth flow rate controllers, and the inside of the reaction chamber is kept constant using the pressure control valve. Maintain a reduced pressure. After the gas flow rate is stabilized, a connection selection switch is used to select, for example, a high frequency power source, and high frequency power is applied to the power application electrode.

両電極間には放電が開始され、時間と共に基板上に固相
の膜が形成される。a−3i膜或はa−C膜は、原料ガ
スを代える事により任意に形成可能である。放電を一旦
停止し、原料ガス組成を変更した後、再び放電を再開す
れば異なる組成の膜を積層する事ができる。また、放電
を持続させながら原料ガス流量だけを徐々に代え、異な
る組成の膜を勾配を持たせながら積層する事も可能であ
る。
A discharge is started between the two electrodes, and a solid phase film is formed on the substrate over time. The a-3i film or the a-C film can be formed arbitrarily by changing the raw material gas. Films with different compositions can be laminated by once stopping the discharge, changing the source gas composition, and then restarting the discharge. It is also possible to gradually change only the raw material gas flow rate while sustaining the discharge, and to stack films of different compositions with a gradient.

反応時間により膜厚を制唾し、所定の膜厚並びに積層構
成に達したところで放電を停止し、本発明による感光体
を得る。次いで、第1乃至第9調節弁を閉じ、反応室内
を充分に排気する。ここで所望の感光体構成が得られる
場合には反応室内の真空を破り、反応室より本発明によ
る感光体を取り出す。更に所望の感光体構成において、
電荷発生層或はオーバーコート層が必要とされる場合に
は、そのまま本装置を用いるか、或は同様に一旦真空を
破り取り出して別装置に移してこれらの層を設け、本発
明による感光体を得る。
The film thickness is controlled by the reaction time, and when a predetermined film thickness and laminated structure are reached, the discharge is stopped to obtain a photoreceptor according to the present invention. Next, the first to ninth control valves are closed to sufficiently exhaust the inside of the reaction chamber. If the desired photoreceptor configuration is obtained, the vacuum in the reaction chamber is broken and the photoreceptor according to the present invention is taken out from the reaction chamber. Furthermore, in a desired photoreceptor configuration,
If a charge generation layer or an overcoat layer is required, the photoreceptor according to the present invention can be fabricated by using the present device as is, or by breaking the vacuum and transferring it to another device to provide these layers. get.

以下実施例を挙げながら、本発明を説明する。The present invention will be explained below with reference to Examples.

X旅例よ 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの頭に設けた
本発明感光体を作製した。
As shown in FIG. 1, using the manufacturing apparatus according to the present invention,
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided on the head.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び71O)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りアセチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス
、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々
出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及
び第4流量制御器(713,714,715、及び71
6)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整
して、水素ガスの流量を180secm1アセチレンガ
スの流量を40secm、酸素ガスの流量を4secm
、及び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるよう
に設定して、途中混合器(731)を介して、主管(7
32)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Fourth control valve (7
07, 708, 709, and 71O), hydrogen gas from the first tank (701), acetylene gas from the second tank (702), oxygen gas from the third tank (703), and fourth tank (704). The first, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 71
6) Allowed to flow into the interior. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 180 seconds, the acetylene gas flow rate to 40 seconds, and the oxygen gas flow rate to 4 seconds.
, and the flow rate of carbon tetrafluoride gas is set to 10105e, and the main pipe (7
32) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) is 2.0T.
The pressure control valve (745) was adjusted so that the

一方、導電性基板(752)としては、樅50×横50
X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め250℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
予め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた
高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(736
)に200Wattの電力を周波数13.56MHzの
下で印加して約3時間プラズマ重合反応を行ない、導電
性基板(752)上に厚ざ15μmのa −C膜を電荷
輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止
し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気し
た。
On the other hand, as a conductive substrate (752), 50 fir x 50
Using an aluminum substrate with a thickness of 3 mm, heat it to 250°C in advance.
After heating to , and with the gas flow and pressure stable,
Turn on the high frequency power supply (739) that has been connected in advance using the connection selection switch (744), and connect the power application electrode (736).
) was applied with a power of 200 Watts at a frequency of 13.56 MHz to carry out a plasma polymerization reaction for about 3 hours, thereby forming an a-C film with a thickness of 15 μm as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して34原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の量
は全構成原子に対して2.0原子%、ざらに、酸素原子
の量は全構成原子に対して1.1原子%であフた。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 34 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 2.0 at% based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was roughly 1.1 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第5調節弁(711)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第Sタンク
(705)から亜酸化窒素ガス、及び第6タンク(70
6)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第
1、第5、及び第6流′!#、制tM器(713,71
7、及び718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁
(710)を解放し、第4タンク(704)より水素ガ
スで10ppmに希釈されたホスフィンガスを、出力圧
1.5Kg/cm2の下で第4流量制御器(716)内
へ、流入させた。各流量制御器の目盛を調整して水素ガ
スの流量を200secm、亜酸化窒素ガスの流量を1
0105e、シランガスの流量を2003CCm%水素
ガスで1100ppに希釈されたホスフィンガスの流量
を10105eに設定し、反応室(733)内に流入さ
せた。各々の流量が安定した後に、反応室(733)内
の圧力が0.8Torrとなるように圧力調節弁(74
5)を調整した。一方、a−C膜が形成されている導電
性基板(752)は、230℃に加熱しておき、ガス流
量及び圧力が安定した状態で、高周波電源(739)よ
り周波数13.56MHzの下で電力印加電極(736
)に35Wattの電力を印加し、グロー放電を発生き
せた。この放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷
発生層を得た。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The fifth control valve (711) and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), nitrous oxide gas is supplied from the S tank (705), and the sixth tank (70
6) into the first, fifth and sixth streams'! under an output pressure of IKg/cm2. #, control tM device (713, 71
7, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is opened, and phosphine gas diluted to 10 ppm with hydrogen gas is supplied from the fourth tank (704) to the fourth flow rate controller (716) under an output pressure of 1.5 kg/cm2. I let it flow inside. Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200 sec and the nitrous oxide gas flow rate to 1 sec.
At 0105e, the flow rate of silane gas was set to 10105e, and the flow rate of phosphine gas diluted to 1100 pp with 2003 CCm% hydrogen gas was flowed into the reaction chamber (733). After each flow rate is stabilized, the pressure regulating valve (74) is adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) becomes 0.8 Torr.
5) was adjusted. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 230°C, and is heated at a frequency of 13.56 MHz from a high frequency power source (739) while the gas flow rate and pressure are stable. Power application electrode (736
) was applied with a power of 35 Watts to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−3i膜につき、金属中○NH分析(板場製
作所製EMGA−1300)、オージェ分析、及びIM
A分析を行なったところ、含有される水素原子は全構成
原子に対して22原子%、燐原子は10原子ppmz酸
素原子は1.0原子%であった。
The obtained a-3i film was subjected to ○NH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and IM.
Analysis A revealed that the hydrogen atoms contained were 22 at %, the phosphorus atoms were 10 at ppmz, and the oxygen atoms were 1.0 at % based on the total constituent atoms.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯M電位は一790V (+950V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は52■/μm (62V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest M potential is -790V (+950V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 52 .mu./.mu.m (62 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約22秒(約28
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたとこる必要とされた光量は4.0ルツク
ス・秒(12,9ルツクス・秒)であり、このことから
充分な光感度性能を有する事が理#された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 22 seconds (approximately 28
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential.The amount of light required was 4.0 lux·sec (12.9 lux・Seconds), and from this it was concluded that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

衷旅鑓旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−’To r r程度の扁
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び71Q)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りエチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス及
び第4タンク(704)より四塩化炭素ガスを各々出力
圧1゜0Kg/am2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を60secm、工チレンガスの流量
を60secm、酸素ガスの流量を4secms及び四
塩化炭素ガスの流量が20secmとなるように設定し
て、途中混合器(731)を介して、主管(732)よ
り反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安定し
た後に、反応室(733)内の圧力が2.0Torrと
なるように圧力調節弁(745)を調整した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. and the fourth control valve (7
07, 708, 709, and 71Q), hydrogen gas from the first tank (701), ethylene gas from the second tank (702), oxygen gas from the third tank (703), and oxygen gas from the fourth tank (704). The first, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 716) each supply carbon tetrachloride gas under an output pressure of 1°0 Kg/am2.
It flowed inside. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 60 seconds, the flow rate of hydrogen gas to 60 seconds, the flow rate of oxygen gas to 4 seconds, and the flow rate of carbon tetrachloride gas to 20 seconds. It flowed into the reaction chamber (733) from the main pipe (732) via the mixer (731). After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 2.0 Torr.

一方、導電性基板(752)としては、!50X横50
X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め230℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
予め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた
高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(736
)に200 W allの電力を周波数13.56MH
zの下で印加して約3時聞手プラズマ重合反応を行ない
、導電性基板(752)上に厚き15μmのa −C膜
を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加
を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に
排気した。
On the other hand, as the conductive substrate (752),! 50X horizontal 50
Using an aluminum substrate with a thickness of 3 mm, heat it to 230°C in advance.
After heating to , and with the gas flow and pressure stable,
Turn on the high frequency power supply (739) that has been connected in advance using the connection selection switch (744), and connect the power application electrode (736).
) with a power of 200 W all at a frequency of 13.56 MH
A plasma polymerization reaction was carried out for about 3 hours by applying voltage under z, and a 15 μm thick a-C film was formed as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して42原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、塩素原子の量
は全構成原子に対して4.9原子%、ざらに、酸素原子
の量は全構成原子に対して1.0原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 42 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, chlorine atoms, was 4.9 at% based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was roughly 1.0 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(7o7)、
第5調節弁(711)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第5タンク
(705)から亜酸化窒素ガス、及び第6タンク(70
6)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第
1、第5、及び第6流量制御器(713,717、及び
718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710
)を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで11
00ppに希釈されたジボランガスを、出力圧1.5K
g/cm2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入
きせた。各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量
を200secm、亜酸化窒素ガスの流量を0.01s
ecm、シランガスの流量を1001005e水素ガス
で1100ppに希釈されたジボランガスの流量を10
105eとなるように設定し、反応室(733)内に流
入させた。各々の流量が安定した後に、反応室(733
)内の圧力が0.8Torrとなるように圧力調節弁(
745)を調整した。一方、a −C膜が形成されてい
る導電性基板(752)は、250℃に加熱しておき、
ガス流量及び圧力が安定した状態で、高周波電源(73
9)より周波数13.56MHzの下で電力印加電極(
736)に35Wattの電力を印加し、グロー放電を
発生させた。この放電を5分間行ない、厚き0.3μm
の電荷発生層を得た。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks were replaced, and the first control valve (7o7)
The fifth control valve (711) and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), nitrous oxide gas is supplied from the fifth tank (705), and the sixth tank (70
6) was flowed into the first, fifth, and sixth flow controllers (713, 717, and 718) under an output pressure of IKg/cm2. At the same time, the fourth control valve (710
) and 11 with hydrogen gas from the 4th tank (704).
Diborane gas diluted to 00pp is output at an output pressure of 1.5K.
g/cm2 into the fourth flow controller (716). Adjust the scale of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 200 seconds and the flow rate of nitrous oxide gas to 0.01 seconds.
ecm, the flow rate of silane gas is 1001005e the flow rate of diborane gas diluted to 1100pp with hydrogen gas is 10
105e, and was allowed to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the reaction chamber (733
) so that the pressure in the pressure control valve ( ) becomes 0.8 Torr
745) was adjusted. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 250°C.
With the gas flow rate and pressure stable, turn on the high frequency power supply (73
9), the power application electrode (
736) to generate a glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes, and a thickness of 0.3 μm was formed.
A charge generation layer was obtained.

得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して22原子%、硼素原子は10原子ppm
、酸素原子は0.001原子%であった。
The obtained a-Si film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 22 atomic% and the boron atoms were 10 atomic ppm based on the total constituent atoms.
, oxygen atoms were 0.001 atomic %.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一600V (+610V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は39V/μm (40V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解きれ
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -600V (+610V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 39 V/.mu.m (40 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxカーらVmaXの90%の表面
電位にまで暗減衰するのに要した時間は約15秒(約1
5秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有す
る事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した
後、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位に
まで明減衰させたとこる必要とされた光景は1.6ルツ
クス・秒(1,5ルツクス・秒)であり、このことから
充分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for the surface potential to darken from Vmax to 90% of Vmax in the dark is approximately 15 seconds (approximately 1
5 seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, bright decay was performed using white light to a surface potential of 20% of the highest charging potential.・seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
From the above, it can be understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールンンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using a commonly used curling process, a clear image was obtained.

大旌例旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第3、及び第4調節弁(707,
709、及び710)を解放し、第1タンク(701)
より水素ガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/cm2の下で第1、第3、及び第4流量
制御器(713,715、及び716)内へ流入させた
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Valve (707,
709 and 710), and the first tank (701)
Hydrogen gas, oxygen gas from the third tank (703), and carbon tetrafluoride gas from the fourth tank (704) are controlled at the first, third, and fourth flow rates under an output pressure of 1.0 Kg/cm2, respectively. into the vessels (713, 715, and 716).

同時に、第1容器(719)よりスチレンガスを第1温
調器(722)温度35℃のもとで第7流量$1S器(
728)内へ流入させた。モして各流量制御器の目盛を
調整して、水素ガスの流量を60secm、スチレンガ
スの流量を30sccrr+。
At the same time, styrene gas is supplied from the first container (719) to the first temperature controller (722) at a temperature of 35°C and to the seventh flow rate $1S unit (
728). Then adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 60 sec and the styrene gas flow rate to 30 sccrr+.

酸素ガスの流量を8sccrrb及び四弗化炭素ガスの
流量が30sccmとなるように設定して、途中混合!
(731)を介して、主管(732)より反応室(73
3)内へ流入した。各々の流量が安定した後に、反応室
(733)内の圧力が2゜0Torrとなるように圧力
調節弁(745)を調整した。一方、導電性基板(75
2)としては、縦50×横50X厚3mmのアルミニウ
ム基板を用いて、予め180℃に加熱しておき、ガス流
量及び圧力が安定した状態で、予め接続選択スイッチ(
744)により接続しておいた低周波電源(741)を
投入し、電力印加電極(736)に200Wattの電
力を周波数120KHzの下で印加して約45分間プラ
ズマ重合反応を行ない、導電性基板(752)上に厚さ
15μmのa−C膜を電荷輸送層として形成した。成膜
完了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(
733)内を充分に排気した。
Set the flow rate of oxygen gas to 8 sccrrb and the flow rate of carbon tetrafluoride gas to 30 sccm, and mix in the middle!
(731) from the main pipe (732) to the reaction chamber (73).
3) It flowed into the interior. After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 2°0 Torr. On the other hand, a conductive substrate (75
For 2), use an aluminum substrate measuring 50 mm long x 50 mm wide x 3 mm thick, heat it to 180 degrees Celsius in advance, and with the gas flow rate and pressure stable, press the connection selection switch (
The low frequency power source (741) connected to the conductive substrate (744) is turned on, and 200 Watts of power is applied to the power application electrode (736) at a frequency of 120 KHz to perform a plasma polymerization reaction for about 45 minutes. 752), a 15 μm thick a-C film was formed thereon as a charge transport layer. After film formation is complete, stop applying power, close the control valve, and close the reaction chamber (
733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して48原子%、また、オージ
ェ分析より含有きれるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して6.1原子%、ざらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して2.3原子%であフた。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 48 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 6.1 atomic % based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was 2.3 atomic % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第5FIff15弁(711)、及び第6調節弁(71
2)を解放し、第1タンク(701)から水素ガス、第
5タンク(705)から酸素ガス、及び第6タンク(7
06)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で
第1、第5、及び第6流量制御器(713,717、及
び718)内へ流入させた。同時に、第4調茹弁(71
0)を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで1
100ppに希釈きれたジボランガスを、出力圧1゜5
Kg/cm2の下で第4流量制御器(716)内へ、流
入させた。各流量制御器の目盛をFA整して水素ガスの
流量を200secm、酸素ガスの流量を0.5sec
msシランガスの流量を11005ca、水素ガスで1
100ppに希釈されたジボランガスの流量を1010
5eに設定し、反応室(733)内に流入させた。各々
の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0
.9Torrとなるように圧力調節弁(745)を調整
した。一方、a−C膜が形成されている導電性基板(7
52)は、230℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力
が安定した状態で、高周波電源(739)より周波数1
3.56MHzの下で電力印加電極(736)に35W
attの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この
放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層を得
た。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
5th FIff15 valve (711) and 6th control valve (71
2), hydrogen gas is supplied from the first tank (701), oxygen gas is supplied from the fifth tank (705), and sixth tank (705) is released.
06) was flowed into the first, fifth, and sixth flow controllers (713, 717, and 718) under an output pressure of IKg/cm2. At the same time, the fourth boiled valve (71
0) and 1 with hydrogen gas from the fourth tank (704).
Diborane gas diluted to 100 pp is heated to an output pressure of 1°5.
It was allowed to flow into the fourth flow controller (716) under Kg/cm2. Adjust the scale of each flow rate controller to FA to set the hydrogen gas flow rate to 200 sec and the oxygen gas flow rate to 0.5 sec.
The flow rate of ms silane gas is 11005ca, and the flow rate of hydrogen gas is 1
The flow rate of diborane gas diluted to 100pp is 1010
5e and flowed into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure in the reaction chamber (733) becomes 0.
.. The pressure control valve (745) was adjusted to 9 Torr. On the other hand, a conductive substrate (7
52) is heated to 230°C, and when the gas flow rate and pressure are stable, the high frequency power supply (739) is heated to a frequency of 1.
35W to the power application electrode (736) under 3.56MHz
Att power was applied to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−3i膜につき、金属中○NH分析(板場製
作所tAEMGA−1300) 、オージェ分析、及び
IMA分析を行なったところ、含有される水素原子は全
構成原子に対して20原子%、硼素原子は12原子pI
)rrh酸素原子は0.1原子%であった。
When the obtained a-3i film was subjected to ○NH analysis in metal (Itaba Seisakusho tAEMGA-1300), Auger analysis, and IMA analysis, it was found that the hydrogen atoms contained were 20 atomic% based on the total constituent atoms. Boron atom has 12 atom pI
) rrh oxygen atoms were 0.1 atomic %.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一740V (+720V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は48■/μm(47V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -740V (+720V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 48 .mu./.mu.m (47 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約17秒(約19
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は1.フルック
ス・秒(1,4ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 17 seconds (approximately 19 seconds).
seconds), and from this we can understand that it has sufficient charge retention performance. Furthermore, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated to a surface potential of 20% of the highest charging potential using white light, and the amount of light required was 1. flux-second (1.4 lux-second), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

去施健4 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの頭に設けた
本発明感光体を作製した。
As shown in FIG. 1, using the manufacturing apparatus according to the present invention,
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided on the head.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−’Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(707
,708,709、及び710)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブ
タジェンガス、第3タンク(703)より二酸化炭素ガ
ス、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各
々出力圧1.0Kg/am2の下で第1、第2、第3、
及び第4流量制御器(713,714,715、及び7
16)内へ流入きせた。そして各流量制御器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を60sccm、ブタジェンガ
スの流量を60secm、二酸化炭素ガスの流量を12
secm、及び四弗化炭素ガスの流量が160secm
となるように設定して、途中混合器(731)を介して
、主管(732)より反応室(733)内へ流入した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 4 control valve (707
, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), butadiene gas from the second tank (702), carbon dioxide gas from the third tank (703), and carbon dioxide gas from the fourth tank (704). Carbon tetrafluoride gas was supplied to the first, second, third, and
and fourth flow rate controller (713, 714, 715, and 7
16) It flowed inside. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 60 sccm, the flow rate of butadiene gas to 60 seconds, and the flow rate of carbon dioxide gas to 12 seconds.
secm, and the flow rate of carbon tetrafluoride gas is 160 sec
The mixture was set so as to flow into the reaction chamber (733) from the main pipe (732) via an intermediate mixer (731).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が1.6Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、導電性基板(752)としては、縦5
0X横50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予
め120℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続
しておいた低周波電源(741)を投入し、電力印加電
極(736)に130Wattの電力を周波数700K
Hzの下で印加して約1時間半プラズマ重合反応を行な
い、導電性基板(752)上に厚ざ15μmのa−C膜
を電荷輸送層として形成した。
After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 1.6 Torr. On the other hand, as a conductive substrate (752),
Using an aluminum substrate of 0x width 50x thickness 3mm, heat it in advance to 120°C, and with the gas flow rate and pressure stable, connect the low frequency power supply (741) with the connection selection switch (744) in advance. ) and apply 130W of power to the power application electrode (736) at a frequency of 700K.
Plasma polymerization reaction was carried out for about 1.5 hours under application of Hz, and an a-C film having a thickness of 15 μm was formed as a charge transport layer on the conductive substrate (752).

成膜完了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応
室(733)内を充分に排気した。
After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して51原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して18.o原子%、ざらに、酸素
原子の量は全構成原子に対して2.0原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 51 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, that is, fluorine atoms, is 18. Roughly speaking, the amount of oxygen atoms was 2.0 atom % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(7o7)、
第5調節弁(711)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第5タンク
(705)から亜酸化窒素ガス、及び第6タンク(70
6)からシランガスを、出力圧IKg/am2の下で第
1、第5、及び第6流量制御器(713,717、及び
718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710
)を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで11
00ppに希釈されたジボランガスを、出力圧1.5K
g/cm2の下で第4流量制郊器(716)内へ、流入
させた。各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量
を200se cm、亜酸化窒素ガスの流量を3sec
m、シランガスの流量を101005e、水素ガスで1
00 p pmに希釈されたジボランガスの流量を10
105eに設定し、反応室(733)内に流入させな。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks were replaced, and the first control valve (7o7)
The fifth control valve (711) and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), nitrous oxide gas is supplied from the fifth tank (705), and the sixth tank (70
6) was flowed into the first, fifth, and sixth flow controllers (713, 717, and 718) under an output pressure of IKg/am2. At the same time, the fourth control valve (710
) and 11 with hydrogen gas from the 4th tank (704).
Diborane gas diluted to 00pp is output at an output pressure of 1.5K.
It was made to flow into the fourth flow restrictor (716) under 1 g/cm2. Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200 sec cm and the nitrous oxide gas flow rate to 3 sec.
m, the flow rate of silane gas is 101005e, and the flow rate of hydrogen gas is 1
The flow rate of diborane gas diluted to 00 ppm was set to 10
105e, and do not allow it to flow into the reaction chamber (733).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が1.○Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、a−C膜が形成きれている導電性基板
(752)は、240℃に加熱しておき、ガス流量及び
圧力が安定した状態で、高周波電源(739)より周波
数13.56MHzの下で電力印加電極(736)に4
5Wattの電力を印加し、グロー放電を発生きせた。
After each flow rate stabilizes, the pressure in the reaction chamber (733) decreases to 1. The pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure was ○Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film has been completely formed is heated to 240°C, and with the gas flow rate and pressure stable, it is heated at a frequency of 13.56 MHz from a high frequency power source (739). 4 to the power application electrode (736)
A power of 5 Watts was applied to generate glow discharge.

この放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層
を得た。
This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−5i膜につき、金属中○NH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して21原子%、硼素原子は11原子ppm
、酸素原子は0.31原子%であった。
The obtained a-5i film was subjected to ○NH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 21 atomic % and the boron atoms were 11 atomic ppm based on the total constituent atoms.
, oxygen atoms were 0.31 at%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一400V (+370V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は26V/μm (24V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -400V (+370V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 26 V/.mu.m (24 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約6秒(約5秒)
であり、このことから充分な電荷保持性能を有する事が
理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後、白
色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にまで明
減衰させたとこる必要とされた光量は4.フルックス・
秒(4゜3ルツクス・秒)であり、このことから充分な
光感度性能を有する事が理解された。
Also, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark is approximately 6 seconds (approximately 5 seconds).
From this, it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential.The amount of light required was 4. Flux・
seconds (4°3 lux·seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

去施例旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
In the previous example, using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
袋M (733)の内部を1O−6Torr程度の高真
空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(70
7,708,709、及び710)を解放し、第1タン
ク(701)より水素ガス、第2タンク(702)より
ブタジインガス、第3タンク(703)より酸素ガス、
及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出
力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び
第4流量制御器(713,714,715、及び716
)内へ流入させた。そして各流量側wJ器の目盛を調整
して、水素ガスの流量を180secm1ブタジインガ
スの流量を40secm、酸素ガスの流量を4sccm
s及び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるよう
に設定して、途中混合器(731)を介して、主管(7
32)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 4 control valves (70
7, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), butadiene gas from the second tank (702), oxygen gas from the third tank (703),
And carbon tetrafluoride gas is supplied from the fourth tank (704) to the first, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 716) under an output pressure of 1.0 Kg/cm2, respectively.
). Then, adjust the scale of the wJ device on each flow rate side to set the hydrogen gas flow rate to 180 seconds, the butadiene gas flow rate to 40 seconds, and the oxygen gas flow rate to 4 sccm.
The flow rate of s and carbon tetrafluoride gas is set to 10105e, and the main pipe (7
32) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) is 2.0T.
The pressure control valve (745) was adjusted so that the

一方、導電性基板(752)としては、縦50X横50
X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め180℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
予め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた
低周波電源(739)を投入し、電力印加電極(741
)に200Wattの電力を周波数700KHzの下で
印加して約30分間プラズマ重合反応を行ない、導電性
基板(752)上に厚さ15μmのa−C膜を電荷輸送
層として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、
調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
On the other hand, the conductive substrate (752) is 50 x 50 x 50 x 50 x 50 x 50 x 50
Using an aluminum substrate with a thickness of 3 mm, heat it to 180°C in advance.
After heating to , and with the gas flow and pressure stable,
Turn on the low frequency power supply (739) that has been connected in advance using the connection selection switch (744), and connect the power application electrode (741).
) was applied with a power of 200 Watts at a frequency of 700 KHz to carry out a plasma polymerization reaction for about 30 minutes to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After completing the film formation, stop applying power and
The control valve was closed and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −CgQにつき有機元素
分析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素
原子と水素原子の総量に対して4o原子%、また、オー
ジェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子
の量は全構成原子に対して4.1原子%、ざらに、酸素
原子の量は全構成原子に対して1.8原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-CgQ obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 4o at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 4.1 atomic % based on the total constituent atoms, and the amount of oxygen atoms was roughly 1.8 atomic % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第3調節弁(709)、第5調節弁(711)、及び第
6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)か
ら水素ガス、第3タンク(703)から四弗化シランガ
ス、第5タンク(705)から亜酸化窒素ガス、及び第
6タンク(706)からシランガスを、出力圧IKg/
cm2の下で第1、第3、第5、及び第6流量制御器(
713,715,717、及び718)内へ流入させた
。同時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク
(704)より水素ガスで1100ppに希釈されたジ
ボランガスを、出力圧1゜5Kg/cm2の下で第4流
量制御器(716)内へ、流入させた。各流量制御器の
目盛を調整して水素ガスの流量を200secm−、四
弗化シランガスの流量を50secm、亜酸化窒素ガス
の流量をlsccmsシランガスの流量を50secm
1水素ガスで1100ppに希釈されたジボランガスの
流量を10105eとなるように設定し、反応室(73
3)内に流入させた。各々の流量が安定した後に、反応
室(733)内の圧力が0゜9Torrとなるように圧
力調節弁(745)を調整した。一方、a −C膜が形
成されている導電性基板(752)は、250℃に加熱
しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、高周波
電源(739)より周波数13.56MHzの下で電力
印加電極(736)に35Wattの電力を印加し、グ
ロー放電を発生させた。この放電を5分間行ない、厚ざ
0.3μmの電荷発生層を得た。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The third control valve (709), the fifth control valve (711), and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is released from the first tank (701), tetrafluorosilane gas is removed from the third tank (703), Nitrous oxide gas is supplied from the fifth tank (705) and silane gas is supplied from the sixth tank (706) at an output pressure of IKg/
The first, third, fifth, and sixth flow controllers (under cm2)
713, 715, 717, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is opened, and diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas is supplied from the fourth tank (704) into the fourth flow rate controller (716) under an output pressure of 1°5 Kg/cm2. I let it flow. Adjust the scale of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 200 sec, the flow rate of silane tetrafluoride gas to 50 sec, the flow rate of nitrous oxide gas to lsccms, and the flow rate of silane gas to 50 sec.
The flow rate of diborane gas diluted to 1100pp with hydrogen gas was set to 10105e, and the reaction chamber (73
3) It was allowed to flow into the interior. After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 0°9 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 250°C, and is heated at a frequency of 13.56 MHz from a high frequency power source (739) while the gas flow rate and pressure are stable. A power of 35 Watts was applied to the power application electrode (736) to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して22原子%、硼素原子は1o原子ppm
5弗素原子は5原子%、酸素原子は0.1原子%であっ
た。
The obtained a-Si film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 22 at% of the total constituent atoms, and the boron atoms were 10 attom ppm.
The content of 5 fluorine atoms was 5 at%, and the content of oxygen atoms was 0.1 at%.

・   特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一760V (+750V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は49V/μm(49V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解きれた
・Characteristics: When the obtained photoreceptor was used in a conventional Carlson process with both negative and positive charging, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -760V (+750V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 49 V/.mu.m (49 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約15秒(約17
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は3.9ルツク
ス・秒(3,3ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 15 seconds (approximately 17
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. Furthermore, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential, and the amount of light required was 3.9 lux · seconds (3.3 lux · seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図乃至第6図は本発明感光体の構成を示す図面、第
7図乃至第8図は本発明に係わる感光体の製造装置を示
す図面である。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1図 第3図 第5図 第2図 第4図 第6図 手続補正書 昭和62年IO月21日 1、事件の表示 昭和61年特許M1第(/−2’1)415号2、発明
の名称 感光体 3、補正をする者 事件との関係  出願人 住所 大阪市東区安土町2丁目30番地 大阪国際ビル
名称 (607)   ミ/ルタカメラ株式会社5、補
正の対象 図面 6、補正の内容 図面第8図を「訂正第8図」の通り補正します。
1 to 6 are drawings showing the structure of a photoreceptor according to the present invention, and FIGS. 7 to 8 are drawings showing an apparatus for manufacturing a photoreceptor according to the invention. Applicant: Minolta Camera Co., Ltd. Figure 1 Figure 3 Figure 5 Figure 2 Figure 4 Figure 6 Procedural amendment dated IO 21, 1985 1, Case Description 1988 Patent M1 No. (/-2') 1) No. 415 2, Name of the invention Photoreceptor 3, Relationship with the case of the person making the amendment Applicant address 2-30 Azuchi-cho, Higashi-ku, Osaka City Name of Osaka Kokusai Building (607) Mi/Ruta Camera Co., Ltd. 5, Subject of amendment Drawing 6, contents of amendment Drawing 8 will be corrected as shown in "Corrected Drawing 8".

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 電荷発生層と電荷輸送層とを有する機能分離型感光体に
おいて、該電荷輸送層は少なくとも酸素原子とハロゲン
原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜で
あり、かつ、該電荷発生層は酸素原子を含有すると共に
燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してな
る水素化アモルファスシリコン膜或は酸素原子を含有す
ると共に燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含
有してなる弗素化アモルファスシリコン膜であることを
特徴とする感光体。
In a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, the charge transport layer is a hydrogenated amorphous carbon film containing at least oxygen atoms and halogen atoms; Hydrogenated amorphous silicon film containing atoms and at least one of phosphorus atoms and boron atoms, or fluorinated amorphous silicon film containing oxygen atoms and at least one of phosphorus atoms and boron atoms A photoreceptor characterized by being a film.
JP22941586A 1986-09-26 1986-09-26 Photosensitive body Pending JPS6382443A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22941586A JPS6382443A (en) 1986-09-26 1986-09-26 Photosensitive body

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22941586A JPS6382443A (en) 1986-09-26 1986-09-26 Photosensitive body

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6382443A true JPS6382443A (en) 1988-04-13

Family

ID=16891867

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22941586A Pending JPS6382443A (en) 1986-09-26 1986-09-26 Photosensitive body

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6382443A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6382443A (en) Photosensitive body
JPS6382450A (en) Photosensitive body
JPS6382463A (en) Photosensitive body
JPS6382485A (en) Photosensitive body
JPS6382459A (en) Photosensitive body
JPS6381486A (en) Photosensitive body
JPS6382480A (en) Photosensitive body
JPS6382426A (en) Photosensitive body
JPS6382429A (en) Photosensitive body
JPS6381447A (en) Photosensitive body
JPS6381490A (en) Photosensitive body
JPS6382469A (en) Photosensitive body
JPS6382467A (en) Photosensitive body
JPS6382436A (en) Photosensitive body
JPS6382431A (en) Photosensitive body
JPS6381455A (en) Photosensitive body
JPS6381451A (en) Photosensitive body
JPS6373260A (en) Photosensitive body
JPS6381459A (en) Photosensitive body
JPS6382465A (en) Photosensitive body
JPS6382438A (en) Photosensitive body
JPS6382461A (en) Photosensitive body
JPS6382487A (en) Photosensitive body
JPS6382452A (en) Photosensitive body
JPS6381471A (en) Photosensitive body