JPS6380968A - プラズマア−クの発生方法及び発生装置 - Google Patents
プラズマア−クの発生方法及び発生装置Info
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- JPS6380968A JPS6380968A JP61224325A JP22432586A JPS6380968A JP S6380968 A JPS6380968 A JP S6380968A JP 61224325 A JP61224325 A JP 61224325A JP 22432586 A JP22432586 A JP 22432586A JP S6380968 A JPS6380968 A JP S6380968A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、マイクロプラズマアーク溶接、微小部品のア
ーク焼入れ、微細加工等に使用するプラズマアークを発
生させる方法及びその発生装置に関するものである。
ーク焼入れ、微細加工等に使用するプラズマアークを発
生させる方法及びその発生装置に関するものである。
最近の先端技術分野においては、各種機器部品の微小化
が求められており、溶接手段でもμm級の厚さ、直径の
微小部材に適合する溶接技術の開発が望まnている。
が求められており、溶接手段でもμm級の厚さ、直径の
微小部材に適合する溶接技術の開発が望まnている。
μm級の微小な金属部材の溶接には従来、を子ヒーム溶
接法、レーザ溶接法、マイクロプラズマ(ニードルアー
ク)溶接法が用いられているが。
接法、レーザ溶接法、マイクロプラズマ(ニードルアー
ク)溶接法が用いられているが。
現在のところ板物(箔)における溶接可能な最小厚さは
20μm(特公昭60−3911号)、線材のものでは
約125μm (E、F、ボルマンら、「ウールディン
グ J、 J (E、 F、 Gorman at a
lWelding J、 ) &11.1966 )で
ある。
20μm(特公昭60−3911号)、線材のものでは
約125μm (E、F、ボルマンら、「ウールディン
グ J、 J (E、 F、 Gorman at a
lWelding J、 ) &11.1966 )で
ある。
また、電子ビーム溶接機、レーザ溶接機はいずれも高価
であシ、工業上利用し難いものである。
であシ、工業上利用し難いものである。
他方、マイクロプラズマ溶接機はアーク溶接機の一種と
して比較的安価なものであり、利用し易い状況にある。
して比較的安価なものであり、利用し易い状況にある。
しかしながら、このマイクロプラズマアーク溶接罠よシ
現在工業的に利用できる最小電流値は0.1アンペアに
留まってお〕、この電流値では25μm厚のステンレス
板の重ね継手の縁の溶接が限度であシ、これよシ厚さの
小さい板(箔)の溶接は困難である。
現在工業的に利用できる最小電流値は0.1アンペアに
留まってお〕、この電流値では25μm厚のステンレス
板の重ね継手の縁の溶接が限度であシ、これよシ厚さの
小さい板(箔)の溶接は困難である。
以上のように、0.1アンペア以下のアーク電流を安定
して発生させることができる方法が得られていない。
して発生させることができる方法が得られていない。
本発明は、0.1アンペア以下の非常に低いプラズマア
ーク電流を安定に発生させる方法及び発生装置を提供し
ようとするものである。
ーク電流を安定に発生させる方法及び発生装置を提供し
ようとするものである。
本第1発明のプラズマアークの発生方法は。
キセノンガス、あるい轄50体積%以上のキセノンと残
部アルゴン、ネオン、ヘリウムのうちの1種または2種
以上との混合ガスからなるプラズマガスを、タングステ
ンを素材とする直径が0.5 fl以下のvl極に供給
する工程と、上記tiK電圧を印加することにより、プ
フズマアークを発生させる工程とからなることを特徴と
するものである。
部アルゴン、ネオン、ヘリウムのうちの1種または2種
以上との混合ガスからなるプラズマガスを、タングステ
ンを素材とする直径が0.5 fl以下のvl極に供給
する工程と、上記tiK電圧を印加することにより、プ
フズマアークを発生させる工程とからなることを特徴と
するものである。
また1本第2発明のプラズマアークの発生装置は、キセ
ノンガス、あるいは50体積%以上のキセノンと残部ア
ルゴン、ネオン、ヘリウムのうちの1種または2種以上
との混合ガスからなるプラズマガスを噴出するためのプ
ラズマノズルと。
ノンガス、あるいは50体積%以上のキセノンと残部ア
ルゴン、ネオン、ヘリウムのうちの1種または2種以上
との混合ガスからなるプラズマガスを噴出するためのプ
ラズマノズルと。
プラズマノズル中に配置され、タングステンを素材とす
る直径が0.5ff以下であるタングステン電極と1発
生するプラズマアークを包囲するシールドガスを噴出す
るためのシールドノズルとを具備したプラズマアークト
ーチ及び、プラズマガスをプラズマノズルに供給するた
めのプラズマガス供給手段及び、シールドガスをシール
ドノズルに供給するためのシールドガス供給手段及び、
」二記ブのである。
る直径が0.5ff以下であるタングステン電極と1発
生するプラズマアークを包囲するシールドガスを噴出す
るためのシールドノズルとを具備したプラズマアークト
ーチ及び、プラズマガスをプラズマノズルに供給するた
めのプラズマガス供給手段及び、シールドガスをシール
ドノズルに供給するためのシールドガス供給手段及び、
」二記ブのである。
本発明では、アーク発生の雰囲気を電離しやすい、いわ
ゆる電till!!圧の低い気体とし、しかも陰極とな
るタングステン電極を細径とすることによりタングステ
ン電極■熱電子放出が容易となり。
ゆる電till!!圧の低い気体とし、しかも陰極とな
るタングステン電極を細径とすることによりタングステ
ン電極■熱電子放出が容易となり。
かつアーク放電しやすくなるために電流値が0.1アン
ペア以下という極めて低いプラズマアーク電流を安定九
発生できるのである。
ペア以下という極めて低いプラズマアーク電流を安定九
発生できるのである。
以下0本発明をより詳細に説明する。
本発明の発生装置の一例を第1図に示す。本例のプラズ
マアークの発生装置は、プラズマアークトーチ1と被溶
接材料(被加工材料)5との間に0.1アンペア以下の
移行形のメインアーク(プラズマアーク)aを発生する
ためのものであって。
マアークの発生装置は、プラズマアークトーチ1と被溶
接材料(被加工材料)5との間に0.1アンペア以下の
移行形のメインアーク(プラズマアーク)aを発生する
ためのものであって。
プラズマアークトーチ1と、プラズマガス供給手段2と
、シールドガス供給手段5と、定電流特性を有する主電
源4とからなる。
、シールドガス供給手段5と、定電流特性を有する主電
源4とからなる。
上記プラズマアークトーチ1は、銅あるいはクロム銅等
の導電材料からなるプラズマノズル11とタングステン
電極12と0発生するプラズマアーク(メインアーク)
aをシールドガス102K〕 より包囲するためのシールドガス/v13とから構成さ
れる。
の導電材料からなるプラズマノズル11とタングステン
電極12と0発生するプラズマアーク(メインアーク)
aをシールドガス102K〕 より包囲するためのシールドガス/v13とから構成さ
れる。
上記タングステンを樺12は、i!l常のThO。
が2%含有するタングステン袈の電極の他、2市販の各
種タングステン電極を用いることができる。
種タングステン電極を用いることができる。
本発明においては、該タングステンKffsの寸法とし
て、その直径を0.5n以下にする。直径が0.5Wを
越える電極では、0.1アンペア以下のプラズマアーク
乞発生させることができない。
て、その直径を0.5n以下にする。直径が0.5Wを
越える電極では、0.1アンペア以下のプラズマアーク
乞発生させることができない。
また、タングステンtli12とプフズマノズ/L/1
1とは電気的に遮断する必要があシ9図示しない絶縁部
材を介して互いに固定してなる。またシールドノズル1
3はプラズマノズ/I/11と同軸に配置し、シールド
ガス102によるメインアークーの包囲を確実にしであ
る。なお上記シールドノズA/15もセラミックス等の
絶縁材料を素材とする。更にプラズマノズル11は9図
示しない冷却系により冷却してアーク熱による過熱をし
ないようKしである。
1とは電気的に遮断する必要があシ9図示しない絶縁部
材を介して互いに固定してなる。またシールドノズル1
3はプラズマノズ/I/11と同軸に配置し、シールド
ガス102によるメインアークーの包囲を確実にしであ
る。なお上記シールドノズA/15もセラミックス等の
絶縁材料を素材とする。更にプラズマノズル11は9図
示しない冷却系により冷却してアーク熱による過熱をし
ないようKしである。
また、プラズマガス供給手段2は、高圧ガスボンベある
いは集中配管によるガス供給設備等からなシ、該プラズ
マガス供給手段2から供給されたプラズマガス101は
、導入管6を通りで、ガス調節器21によυ導入量が調
節されてプラズマノズμm1に導入されるようKしであ
る。またプ7 スマ/ yeyv 11 内に配置され
たタングステン電[12にもプラズマガスが供給され、
タングステン電極12の先端部121へ導かれる。この
1フズマガtスが発生するタングステン電極の先端部へ
プラズマガスを供給することが重要である。
いは集中配管によるガス供給設備等からなシ、該プラズ
マガス供給手段2から供給されたプラズマガス101は
、導入管6を通りで、ガス調節器21によυ導入量が調
節されてプラズマノズμm1に導入されるようKしであ
る。またプ7 スマ/ yeyv 11 内に配置され
たタングステン電[12にもプラズマガスが供給され、
タングステン電極12の先端部121へ導かれる。この
1フズマガtスが発生するタングステン電極の先端部へ
プラズマガスを供給することが重要である。
また、シールドガス供給手段3は、高圧ガスボンベある
いは集中配管罠よるガス供給設備等からなシ、該シール
ドガス供給手段3から供給され九V−A/)’ガス10
2は、導入管6を通って―ガス調節器31によシ導入量
が調節されてシールドノズ/L/13Ki入されるよう
にしである。該シールドガス15はいかなる極類のシー
ルドガスも利用可能である。
いは集中配管罠よるガス供給設備等からなシ、該シール
ドガス供給手段3から供給され九V−A/)’ガス10
2は、導入管6を通って―ガス調節器31によシ導入量
が調節されてシールドノズ/L/13Ki入されるよう
にしである。該シールドガス15はいかなる極類のシー
ルドガスも利用可能である。
上記プラズマガス及びシールドガスの流量は。
プラズマノズル及びシールドノズルの噴出口径によつて
異なるが、プラズマガスの場合な0:05〜α5e/分
、シールドガスの場合は5〜10e/分の範囲内で供給
するのが望ましい。
異なるが、プラズマガスの場合な0:05〜α5e/分
、シールドガスの場合は5〜10e/分の範囲内で供給
するのが望ましい。
また、主電源4は、パイロットアーク電源A1と高周波
発生装置42とに接続されてなる。すなわち、パイロッ
トアーク環jjfA41および主電源402次側マイナ
ス極は高周波発生装置42の一方の出力極と共にデフズ
マアークトーチ1のタングステン電極12に電気的VC
接続し、パイロットアーク電源41の2次側プラス極は
高周波発生装置42C)他方の出力極と共にデフズマノ
ズル12Vc電気的に接続してなる。主電源4の2次側
プラス極は被加工材料5に接続してなる。また、パイロ
ットアーク電源41と、主電源4と、高周波発生装fi
!42は各々図示しない1次入力をONにして動作させ
る。
発生装置42とに接続されてなる。すなわち、パイロッ
トアーク環jjfA41および主電源402次側マイナ
ス極は高周波発生装置42の一方の出力極と共にデフズ
マアークトーチ1のタングステン電極12に電気的VC
接続し、パイロットアーク電源41の2次側プラス極は
高周波発生装置42C)他方の出力極と共にデフズマノ
ズル12Vc電気的に接続してなる。主電源4の2次側
プラス極は被加工材料5に接続してなる。また、パイロ
ットアーク電源41と、主電源4と、高周波発生装fi
!42は各々図示しない1次入力をONにして動作させ
る。
以上の構成によ)0次のようにプラズマアークを発生さ
せる。
せる。
プラズマガス供給手段2によりプラズマガス101がブ
ヲズマノズ/L11内に供給され、同時にプラズマノズ
Iv11内のタングステンを極12にも供給され、タン
グステン電FM12の先端部丸溝かれる。更罠プラズマ
ノズIv11よシ上記ガスが噴出される。また、シール
ドガス供給手段3によりシールドガス102がシー〜ド
ノズ/L/13内に供給され、更にシールドノズ/%’
13より上記ガスが噴出される。
ヲズマノズ/L11内に供給され、同時にプラズマノズ
Iv11内のタングステンを極12にも供給され、タン
グステン電FM12の先端部丸溝かれる。更罠プラズマ
ノズIv11よシ上記ガスが噴出される。また、シール
ドガス供給手段3によりシールドガス102がシー〜ド
ノズ/L/13内に供給され、更にシールドノズ/%’
13より上記ガスが噴出される。
上記状態において、高周波発生装置42と。
主電源4と、パイロットアーク電源41が各々動作する
ことによp、中空構造のプラズマノズ/l/11とタン
グステン電FM12との間にパイロットアークbが発生
する。このパイロットアークbにより。
ことによp、中空構造のプラズマノズ/l/11とタン
グステン電FM12との間にパイロットアークbが発生
する。このパイロットアークbにより。
タングステン電極12と被溶接材料(被加工材料)5と
の間でメインアーク1が発生する。
の間でメインアーク1が発生する。
本発明においては、上記プラズマノズル11よシ噴出す
るプラズマガス101として電離電圧■低イキセノンま
たはその混合ガスを用いる。キセノンに混合するガスと
しては、アルゴン、ネオン、ヘリウムのうちの1種また
は2種以上を用いる。
るプラズマガス101として電離電圧■低イキセノンま
たはその混合ガスを用いる。キセノンに混合するガスと
しては、アルゴン、ネオン、ヘリウムのうちの1種また
は2種以上を用いる。
すなわち、プラズマガスの一部は電離状態のままプラズ
マガス/L/101よシ図示しないプラズマ炎として噴
出する。このプラズマ炎の雰囲気内でのアーク特性は第
2図足示すように低電流域までほぼ一定OK圧を示し、
低電圧下で微小電流を発生できる。なお、第2図は、プ
ラズマガスとしてアルゴン(Ar)100%のものを用
いた場合と。
マガス/L/101よシ図示しないプラズマ炎として噴
出する。このプラズマ炎の雰囲気内でのアーク特性は第
2図足示すように低電流域までほぼ一定OK圧を示し、
低電圧下で微小電流を発生できる。なお、第2図は、プ
ラズマガスとしてアルゴン(Ar)100%のものを用
いた場合と。
キセノン(Xe)100%のものを用いた場合とを示す
。しかるにこの場合発生可能な最低電流iは。
。しかるにこの場合発生可能な最低電流iは。
使用するデフズマガヌ組成てよって異なシ従来よル広く
用いられているアルゴン100%の場合は45mAであ
るのく対しアルゴンよりも電離電圧の低いキセノン10
0%を用いる場合は5 mAとなる。アルゴンとキセノ
ンの混合ガスを用いた場合の混合比と発生可能なメイン
アーク電流値の関係を第3図に示す。第5図よシ、電流
値の低減に効果が認められるのはキセノンが50体積%
(wag%)以上の範囲であることがわかる。
用いられているアルゴン100%の場合は45mAであ
るのく対しアルゴンよりも電離電圧の低いキセノン10
0%を用いる場合は5 mAとなる。アルゴンとキセノ
ンの混合ガスを用いた場合の混合比と発生可能なメイン
アーク電流値の関係を第3図に示す。第5図よシ、電流
値の低減に効果が認められるのはキセノンが50体積%
(wag%)以上の範囲であることがわかる。
メインアーク電流値の微小化はこのようにパイロットア
ークbKよるプラズマ炎の発生で達成されるが、一方で
このプラズマ炎の熱量が問題で。
ークbKよるプラズマ炎の発生で達成されるが、一方で
このプラズマ炎の熱量が問題で。
これをメインアークーのそれようも小さくしないとメイ
ンアークa’に微小化する意味がなくなる。
ンアークa’に微小化する意味がなくなる。
そのためKはパイロットアークb自体の電流値を低減す
る必要がある。
る必要がある。
この点に関し2種々試験、検討した結果、パイロットア
ークbのスタート性と、持続最低電流値は第4図に示す
ようにタングステン電極12の径とプラズマガス101
の種類によって大きく影響されることが判明した。
ークbのスタート性と、持続最低電流値は第4図に示す
ようにタングステン電極12の径とプラズマガス101
の種類によって大きく影響されることが判明した。
第4図において、・はMを用いた場合■パイロットアー
クスタート可能最低電流値、マはXat−用いた場合の
パイロットアークスタート可能最低電流値、0はArを
用いた場合のパイロ、)アーク持続最低電流値、&IX
eを用いた場合のパイロシトアーク持続最低電流値を示
す。微小電流アークの利用を考える時アークスタートと
いえども低電流状態で達成すべきであシ、その効果は直
径051以下のタングステン電極の使用とプラズマガス
なお、主電源4およびパイロットアーク電源41の電源
特性としては、無負荷電圧50ポルト以上、電流調整範
囲0.001〜3.0アンペアを有する定電流特性(第
5図)とするのが好ましい。
クスタート可能最低電流値、マはXat−用いた場合の
パイロットアークスタート可能最低電流値、0はArを
用いた場合のパイロ、)アーク持続最低電流値、&IX
eを用いた場合のパイロシトアーク持続最低電流値を示
す。微小電流アークの利用を考える時アークスタートと
いえども低電流状態で達成すべきであシ、その効果は直
径051以下のタングステン電極の使用とプラズマガス
なお、主電源4およびパイロットアーク電源41の電源
特性としては、無負荷電圧50ポルト以上、電流調整範
囲0.001〜3.0アンペアを有する定電流特性(第
5図)とするのが好ましい。
本発明においては、上記構成により、0.1〜1.0ア
ンペアの低電流パイロットアーク、o、ooi〜0.1
アンペアの微小電流ブフズマアークを形成することが可
能である。
ンペアの低電流パイロットアーク、o、ooi〜0.1
アンペアの微小電流ブフズマアークを形成することが可
能である。
本発明によれば、プフズマアーク発生に必要なメインア
ークの電流を従来技術における下限よりもさらに低減せ
しめ、かつ従来技術では得られナカつ之O01アンペア
以下の微小電流のメインアークを安定して発生させるこ
とができる。
ークの電流を従来技術における下限よりもさらに低減せ
しめ、かつ従来技術では得られナカつ之O01アンペア
以下の微小電流のメインアークを安定して発生させるこ
とができる。
こnは、キセノンの’Qi&電圧が低く、キセノ乙
ンガスあ為いはキセノンガスと不活性ガλ命の混合ガス
の雰囲気下でのアーク放tは従来法におけるアルゴンガ
ス下の場合よ)も容易であシ、またタングステンNFi
を小径fヒすることにより、微小アークによって?[先
端部分は容易に温度上昇し。
の雰囲気下でのアーク放tは従来法におけるアルゴンガ
ス下の場合よ)も容易であシ、またタングステンNFi
を小径fヒすることにより、微小アークによって?[先
端部分は容易に温度上昇し。
熱電子放出が起こシ易くなり、微小電流のアークスター
トとアーク接続とを可能にするためである。
トとアーク接続とを可能にするためである。
以下8本発明の詳細な説明する。
実施例1゜
前述の第1図て示すプラズマアーク発生装置音用いてス
テンレス箔2枚の重ね継手の溶接を打破加工材としては
、2枚の諷h304ステンレス箔51を用い、第6図に
示すように該ステンレス箔2枚の重ね継手を銅製押え金
52で固定し。
テンレス箔2枚の重ね継手の溶接を打破加工材としては
、2枚の諷h304ステンレス箔51を用い、第6図に
示すように該ステンレス箔2枚の重ね継手を銅製押え金
52で固定し。
ノンガス100%を0.05 g / minで流し、
タングステン電極12としてφ0.2鯛の2%The、
入シタングステンを用い、シールドガス102として7
%水素入りアルゴンガスt 6 e / rnin流し
た。
タングステン電極12としてφ0.2鯛の2%The、
入シタングステンを用い、シールドガス102として7
%水素入りアルゴンガスt 6 e / rnin流し
た。
/<、(ロットアーク電流0.35アンペア、メインア
ーク電流50ミリアンペア、溶接速度I Q cm /
frIin条件で溶接を行なった。その結果、第7図に
示すごとき、極めて良好なピード形状の溶接部を形成す
ることができた。
ーク電流50ミリアンペア、溶接速度I Q cm /
frIin条件で溶接を行なった。その結果、第7図に
示すごとき、極めて良好なピード形状の溶接部を形成す
ることができた。
実施例2゜
前述の第1図に示すブヲズマアーク発生装置を用いて2
2:のニクロム線の溶V:を行なった。
2:のニクロム線の溶V:を行なった。
第8図に示すように、直径5 p pmのニグロク
ム線55をヒートシン≠を兼ねた銅板54上に押え具5
5で固定し、交点Xで、ニクロムfIをT字形赳接触さ
せ、ここにプラズマアークを当てることにした。プラズ
マガスとしてキセノンガス100%を13.05 g
/minで流し、タングステン電極12としてφ0.2
mの2%The、入りタングステンを用い、シールド
ガスとして7%水素入シア〜ゴンガス”t−6J/rf
lin流した。パイロットアーク電流0.35アンペア
、メインアーク電流60ミリアンペア、アークタイム4
秒間の条件で溶接全行なった。その結果、第9図に示す
ごとき、良好な1字の溶接ができた。
5で固定し、交点Xで、ニクロムfIをT字形赳接触さ
せ、ここにプラズマアークを当てることにした。プラズ
マガスとしてキセノンガス100%を13.05 g
/minで流し、タングステン電極12としてφ0.2
mの2%The、入りタングステンを用い、シールド
ガスとして7%水素入シア〜ゴンガス”t−6J/rf
lin流した。パイロットアーク電流0.35アンペア
、メインアーク電流60ミリアンペア、アークタイム4
秒間の条件で溶接全行なった。その結果、第9図に示す
ごとき、良好な1字の溶接ができた。
比較例1゜
プラズマガスとしてアルゴン100%を0.2g/mi
nの流量で流し、タングステン電極として41.0Mの
2%Thaw入りタングステンを用い。
nの流量で流し、タングステン電極として41.0Mの
2%Thaw入りタングステンを用い。
パイロットアーク電流1.9アンペア、メインアーク電
流90ミリアンペア、溶接速度23 cm / min
の溶接条件とした以外は、実施例1と同様にしてUS 厚さ5μmO嗣ムステンレス箔2枚の重ね継手溶接を行
なった。その結果、第10図に示すごとき。
流90ミリアンペア、溶接速度23 cm / min
の溶接条件とした以外は、実施例1と同様にしてUS 厚さ5μmO嗣ムステンレス箔2枚の重ね継手溶接を行
なった。その結果、第10図に示すごとき。
溶接部は溶は落ち状態になった。
比較例2゜
パイロシトアーク電流を0.6アンペアとした以外は、
比較例1と同様にして直径50μmのニクロム線の1字
溶接を行なった。その結果、ニクロム線はメインアーク
発生後瞬時に溶断し、溶接できなかった。
比較例1と同様にして直径50μmのニクロム線の1字
溶接を行なった。その結果、ニクロム線はメインアーク
発生後瞬時に溶断し、溶接できなかった。
第1図は2本発明にかかるプラズマアーク発生装置の一
例を示す断面図、第2図はプラズマガスとプラズマアー
ク特性との関係を示す線図、第3図はプラズマガスとし
てのアルゴンへのキセノン混合比とパイロットアーク発
生電流値との関係を示す線図、第4図はタングステン電
極の直径とパイロットアーク発生電流値との関係を示す
線図。 第5図はパイロットアーク電源と主電源との電源特性を
示す線図、第6図は実施例1における溶接状態を示す断
面図、第7図は実施例1において溶接したステンレス箔
の溶接部を示す斜視図、第8図は実施例2における溶接
状態を示す斜視図、第9図は実施例2において溶接した
ニクロム線O溶接部を示す斜視図、第10図は比較例1
において溶接したステンレス箔の溶接部を示す斜視図で
ある。 1・・・・・ プラズマアークトーチ、11・・・・・
プラズマノズル ¥・、 ・、 タングステン電極。 13・・・・・ シールドノズル、4・・・・・主KM
。
例を示す断面図、第2図はプラズマガスとプラズマアー
ク特性との関係を示す線図、第3図はプラズマガスとし
てのアルゴンへのキセノン混合比とパイロットアーク発
生電流値との関係を示す線図、第4図はタングステン電
極の直径とパイロットアーク発生電流値との関係を示す
線図。 第5図はパイロットアーク電源と主電源との電源特性を
示す線図、第6図は実施例1における溶接状態を示す断
面図、第7図は実施例1において溶接したステンレス箔
の溶接部を示す斜視図、第8図は実施例2における溶接
状態を示す斜視図、第9図は実施例2において溶接した
ニクロム線O溶接部を示す斜視図、第10図は比較例1
において溶接したステンレス箔の溶接部を示す斜視図で
ある。 1・・・・・ プラズマアークトーチ、11・・・・・
プラズマノズル ¥・、 ・、 タングステン電極。 13・・・・・ シールドノズル、4・・・・・主KM
。
Claims (2)
- (1)キセノンガス、あるいは50体積%以上のキセノ
ンと残部アルゴン、ネオン、ヘリウムのうちの1種また
は2種以上との混合ガスからなるプラズマガスを、タン
グステンを素材とする直径が0.5mm以下の電極に供
給する工程と、上記電極に電圧を印加することにより、
プラズマアークを発生させる工程とからなることを特徴
とするプラズマアークの発生方法。 - (2)キセノンガス、あるいは50体積%以上のキセノ
ンと残部アルゴン、ネオン、ヘリウムのうちの1種また
は2種以上との混合ガスからなるプラズマガスを噴出す
るためのプラズマノズルと、プラズマノズル内に配置さ
れ、タングステンを素材とする直径が0.5mm以下で
あるタングステン電極と、発生するプラズマアークを包
囲するシールドガスを噴出するシールドノズルとを具備
したプラズマアークトーチ及び、プラズマガスをプラズ
マノズルに供給するためのプラズマガス供給手段及び、
シールドガスをシールドノズルに供給するためのシール
ドガス供給手段及び、上記プラズマアークトーチに電圧
を印加するための定電流特性を有する主電源とからなる
ことを特徴とするプラズマアークの発生装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61224325A JPS6380968A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | プラズマア−クの発生方法及び発生装置 |
US07/095,427 US4851636A (en) | 1986-09-22 | 1987-09-11 | Method and apparatus for generating an ultra low current plasma arc |
EP87308340A EP0261914A3 (en) | 1986-09-22 | 1987-09-21 | Method and apparatus for generating a plasma arc |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61224325A JPS6380968A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | プラズマア−クの発生方法及び発生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6380968A true JPS6380968A (ja) | 1988-04-11 |
Family
ID=16811984
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61224325A Pending JPS6380968A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | プラズマア−クの発生方法及び発生装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4851636A (ja) |
EP (1) | EP0261914A3 (ja) |
JP (1) | JPS6380968A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2008518784A (ja) * | 2004-11-05 | 2008-06-05 | ジーケイエヌ ドライヴライン インターナショナル ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 焼入れ可能な鋼のプラズマ・タップホール溶接 |
JP2015062944A (ja) * | 2013-09-26 | 2015-04-09 | 株式会社ダイヘン | プラズマアーク溶接システム |
WO2023127626A1 (ja) * | 2021-12-28 | 2023-07-06 | 株式会社ダイヘン | 溶接トーチ |
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FI953965A (fi) * | 1994-08-24 | 1996-02-25 | Sony Corp | Plasmapurkauslaite |
JP4125406B2 (ja) * | 1997-08-08 | 2008-07-30 | 忠弘 大見 | フッ化不働態処理が施された溶接部材の溶接方法および再フッ化不働態処理方法ならびに溶接部品 |
US6489584B1 (en) | 2001-05-08 | 2002-12-03 | General Electric Company | Room-temperature surface weld repair of nickel-base superalloys having a nil-ductility range |
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US8367967B2 (en) * | 2004-10-29 | 2013-02-05 | United Technologies Corporation | Method and apparatus for repairing thermal barrier coatings |
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JP5992223B2 (ja) * | 2012-06-21 | 2016-09-14 | 株式会社ダイヘン | プラズマアーク溶接システム |
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US3809850A (en) * | 1972-05-17 | 1974-05-07 | Union Carbide Corp | Plasma arc power system for welding |
DE2435021A1 (de) * | 1974-07-20 | 1976-02-05 | Messer Griesheim Gmbh | Verfahren zum zusammenschweissen von duennen, insbesondere oxydbehafteten werkstuecken mittels eines lichtbogens, insbesondere eines mikroplasmalichtbogens |
FR2348168A1 (fr) * | 1976-04-14 | 1977-11-10 | Cables De Lyon Geoffroy Delore | Dispositif de soudage de fibres optiques bout a bout |
US4245768A (en) * | 1978-07-28 | 1981-01-20 | The Unites States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method of cold welding using ion beam technology |
DE2839485C2 (de) * | 1978-09-11 | 1982-04-29 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Brenner zum Mikroplasmaschweißen |
-
1986
- 1986-09-22 JP JP61224325A patent/JPS6380968A/ja active Pending
-
1987
- 1987-09-11 US US07/095,427 patent/US4851636A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-09-21 EP EP87308340A patent/EP0261914A3/en not_active Ceased
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2006015393A (ja) * | 2004-07-05 | 2006-01-19 | Komatsu Sanki Kk | プラズマ切断装置 |
JP4685377B2 (ja) * | 2004-07-05 | 2011-05-18 | コマツ産機株式会社 | プラズマ切断装置 |
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WO2023127626A1 (ja) * | 2021-12-28 | 2023-07-06 | 株式会社ダイヘン | 溶接トーチ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0261914A2 (en) | 1988-03-30 |
US4851636A (en) | 1989-07-25 |
EP0261914A3 (en) | 1989-05-17 |
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