JPS6379292A - スタテイツク型メモリ - Google Patents

スタテイツク型メモリ

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JPS6379292A
JPS6379292A JP61226797A JP22679786A JPS6379292A JP S6379292 A JPS6379292 A JP S6379292A JP 61226797 A JP61226797 A JP 61226797A JP 22679786 A JP22679786 A JP 22679786A JP S6379292 A JPS6379292 A JP S6379292A
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JP
Japan
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Pending
Application number
JP61226797A
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English (en)
Inventor
Toshio Saito
斉藤 寿男
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明は半導体メモリ装置に関し、特に書込み可能なス
タティック型メモリ(以後SRAMと記す)に関する。
〔従来の技術〕
第3図は従来のSRAMの回路図、第4図はその書込み
動作を示すダイミングチャートである。
プリチャージ信号107によりPチャネルMOSトラン
ジスタ105をオンし、データライン101をハイレベ
ルに充電したくプリチャージ)後、−)込みデータ11
1に応じデータライン102を放電することによりデー
タライン101.102に書込みデータをセットする。
一方、データラインブリチセージ後ワード線103をハ
イレベルにすることでRAMセル104にデータを書込
む。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来のSRAM回路では、書込み前にデータラ
イン101.102を必ずプリチャージするため、m込
み時間、消費電力が大きくなる。
また、書込みデータと逆のデータがRAMセル104に
ラッチされているときは、第2図の破線のタイミングの
ように書込み時瞬間的にデータライン101の電位がR
AMセル104内の電位に引き込まれ、このときデータ
ライン101のハイレベル電位はデータライン101の
寄生容■で保持されているので、電位の低下がおこる。
このため、RAMセル104のデータを反転さゼるため
にはRAMセル104内のPチャネルMOSトランジス
タを通して電位低下したデータライン101を再充電し
なければならない。通常RAMセル内のPチャネルトラ
ンジスタの能力は低く、データラインの負荷は大きいの
で1込み時間が増大する。
また、データラインの電位低下が著しい時には、データ
ラインプリチャージが愚昧を持たなくなる。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のSRAM回路は、を込みデータを同アドレスの
直前の読出しデータと比較し、両データが異なる場合の
みデータ線の充放電を行なわせる回路を有する。
(実施例〕 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。第1図は本発明のスタティック型メモリの一実施例の
回路図、第2図はその内込みのタイミングチャートであ
る。
本実施例のスタティック型メモリは、RAMセル内の現
デークをラッチする内部出力ラッチ112と、出込みデ
ータ111と内部出力ラッチ112の0(データライン
101′)出力を入力とするする排他的ノア回路113
と、内部出力ラッチ112のD(データライン102)
出力とノア回路113の出力と書込み信号110を入力
とし、出力が放電用NチャネルMO8t−ランジスタ 
108に接続されたノア回路114と、内部出力ラッチ
112の0出力とノア回路113の出力と占込み信号1
10を入力とし、出力が放電用NチャネルMOSトラン
ジスタ109に接続されたノア回路115を新たに備え
ている。
書込み信号110をハイレベルとした状態で、ワード線
103およびYセレクタ106を選択し、選択されたR
AMセル104のデータをデータライン101.102
に読出す。このデータを内部出力ラッチ112にラッチ
した後に書込み信号110をローレベルとする。いま、
ラッチ112にラッチされた直前の読出しデータが占込
みデータ111と同じ時は排他的ノア回路113の出力
はハイレベル、ノア回路114および115の出力はロ
ーレベルとなり、データライン放電用NチャネルMOS
トランジスタ108.109は共にオフしデータライン
101.102は以前のデータを保持したままとなりR
AMセル内のデータは変化しない。一方、直前の読出し
データが四込みデータ111と異なる時は鎖他的ノア回
路113の出力はローレベルとなり、ノア回路114゜
115のうち一方の出力がハイレベルとなる。このため
NジャネルMOSトランジスタ108または109がオ
ンし、データラインを放゛心することでRAMセル10
4のデータが反転される。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、占込み時に臨込みデータ
と同アドレスの直前の読出しを比較し、両データが異な
る場合のみデータラインの充放電を行なうことにより、
従来のデータラインプリチャージを省き書込み時の消g
t電力を減らすと同時にみ込みスピードを上げる効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のスタティック型メモリの一実施例の回
路図、第2図はその書込みのタイミングチャート、第3
図は従来例の回路図、第4図はその占込みのタイミング
チャートである。 101.102・・・データライン、 103・・・ワード線、   104・・−RAMセル
、106・・・Yセレクタ、 108.109・・・放電用NチャネルMOSトランジ
スタ 110・・・四込み信号、 111・・・書込みデータ
、112・・・内部出力ラッチ、 113・・・排他的ノア回路、 114.115・・・ノア回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  スタティック型メモリにおいて、書込みデータを同ア
    ドレスの直前の読出しデータと比較し、両データが異な
    る場合のみデータ線の充放電を行なわせる回路を有する
    ことを特徴とするスタティック型メモリ。
JP61226797A 1986-09-24 1986-09-24 スタテイツク型メモリ Pending JPS6379292A (ja)

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JP61226797A JPS6379292A (ja) 1986-09-24 1986-09-24 スタテイツク型メモリ

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JP61226797A JPS6379292A (ja) 1986-09-24 1986-09-24 スタテイツク型メモリ

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JPS6379292A true JPS6379292A (ja) 1988-04-09

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06203571A (ja) * 1992-10-22 1994-07-22 American Teleph & Telegr Co <Att> ランダムアクセスメモリとその読取り・書込み方法
JPH06208795A (ja) * 1992-10-22 1994-07-26 American Teleph & Telegr Co <Att> ランダムアクセスメモリとその読取り・書込み回路、およびデータパケットの読取り・書込み方法
WO2004059499A3 (en) * 2002-12-30 2004-09-02 Koninkl Philips Electronics Nv Memory controller and method for writing to a memory

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JPH06208795A (ja) * 1992-10-22 1994-07-26 American Teleph & Telegr Co <Att> ランダムアクセスメモリとその読取り・書込み回路、およびデータパケットの読取り・書込み方法
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