JPS6374358A - Speech path usually testing method - Google Patents

Speech path usually testing method

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JPS6374358A
JPS6374358A JP21802786A JP21802786A JPS6374358A JP S6374358 A JPS6374358 A JP S6374358A JP 21802786 A JP21802786 A JP 21802786A JP 21802786 A JP21802786 A JP 21802786A JP S6374358 A JPS6374358 A JP S6374358A
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JP
Japan
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parity
circuit
test
time slot
switch
Prior art date
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JP21802786A
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Japanese (ja)
Inventor
Isamu Fujitsuka
藤塚 勇
Koji Kogure
木暮 光司
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp, Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication of JPS6374358A publication Critical patent/JPS6374358A/en
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  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Abstract

PURPOSE:To detect even the fault of multi-connection by setting a semi fixed bus to a test time slot and adding the parity of inverse logic to a prescribed logic at the incoming side of a speech path as to the test data inserted thereto and checking the parity at the outgoing side by inverse logic. CONSTITUTION:In an incoming highway 16 from a subscriber circuit, when a timing signal 1 takes place in a prescribed timing to a control input 30 from a timing generating circuit 32 by a fixed time slot insertion circuit 24, a test pattern generated by a test pattern generating circuit 28 is inserted to the test time slot specified in the highway. Then it is transformed into a parallel data by a serial-parallel transforming circuit and a parity generating circuit 34 together with the serial data of the time slot of other usual talking and the result is inputted to a line concentration switch 10. In such a case, an odd parity is added at the time slot of the usual talking data and an even parity is added at the test time slot. In the parallel high way, the call is exchanged by the switch 10, a distribution switch 12 and a relay switch 14 and an odd parity is checked by a parallel/serial transforming circuit and a parity check circuit 68.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は通話路常時試験法、より具体的には、ディジタ
ル交換機の通話路装置の常時試験方法に関するものであ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a method for constantly testing a communication path, and more specifically, to a method for constantly testing a communication path device of a digital exchange.

(従来の技術) ディジタル交換機の通話路装置の常時試験には従来、た
とえば日本電信電話株式会社発行の[ディジタル交換機
[IV]ハードウェアの応用(l〕」第24〜28.4
8.86.37頁に記載の方式がある。この従来方式で
は、加入者装置と中継局の間にある加入者線交換機の入
側および出側のハイウェイにパリティチェック試験およ
びパイロット試験のための回路が配設されている。より
具体的には、加入者回路から中継局に向う方向に集線ス
イッチ・分配スイッチおよび中継スイッチの順に配設さ
れた通話路スイッチからなる通話路装置のパス設定の正
常性を確認するため、パリティチェック試験およびパイ
ロット試験の2種類の常時試験が行なわれている。
(Prior Art) Conventionally, for the constant testing of the communication line equipment of a digital exchange, for example, the "Digital Switch [IV] Hardware Applications (l)" published by Nippon Telegraph and Telephone Corporation, Volumes 24 to 28.4 are used.
There is a method described on page 8.86.37. In this conventional system, circuits for parity check tests and pilot tests are provided on the incoming and outgoing highways of the subscriber line exchange between the subscriber equipment and the relay station. More specifically, in order to confirm the normality of the path setting of the communication path equipment, which consists of communication path switches arranged in the order of concentrator switch, distribution switch, and relay switch in the direction from the subscriber circuit to the relay station, parity Two types of tests are constantly being conducted: check tests and pilot tests.

上りハイウェイのパリティチェック試験は、集線スイッ
チの入側にパリティ作成回路が、また集線スイッチ、分
配スイッチおよび中継スイッチのそれぞれの出側にパリ
ティチェック回路がそれぞれ設けられ、前者で作成した
パリティが正常に受信されたか否かを後者で検査するこ
とによって行なっている。同様に下り゛ハイウェイのパ
リティチェック試験は、中継スイッチの入側にパリティ
作成回路が、また各スイッチの出側にパリティチェック
回路がそれぞれ設けられ、前者で作成したパリティの正
常性を後者で検査することによって行なっている。これ
によって、通話路のビットスタックや通話路メモリ異常
などの検査が行なゎれる。
In the up-highway parity check test, a parity creation circuit is installed on the input side of the concentrator switch, and a parity check circuit is installed on the output side of each of the concentrator switch, distribution switch, and relay switch. This is done by checking with the latter whether or not it has been received. Similarly, in the down-highway parity check test, a parity generation circuit is installed on the input side of the relay switch, and a parity check circuit is installed on the output side of each switch, and the normality of the parity generated by the former is checked by the latter. This is done by doing this. This allows inspection of the bit stack of the communication path, abnormalities in the communication path memory, and the like.

パイロット試験は次のようにして行なっていた。上りハ
イウェイについては、集線スイッチの入側でパリティ作
成回路の前に試験パターン作晟回路と、その試験パター
ンをハイウェイの固定タイムスロットに挿入する固定タ
イムスロット挿入回路が、また中継スイッチの出側のパ
リティチェック回路の後に試験パターンをハイウェイの
固定タイムスロットから抽出する固定タイムスロット抽
出回路と、試験パターンチェック回路がそれぞれ設けら
れている。また、下りハイウェイについては、中継スイ
ッチの入側でパリティ作成回路の前に試験パターン作成
回路と固定タイムスロット挿入回路が、また集線スイッ
チの出側のパリティチェック回路の後に固定タイムスロ
ット抽出回路と試験パターンチェック回路がそれぞれ設
けられている。
The pilot test was conducted as follows. For uplink highways, there is a test pattern creation circuit before the parity creation circuit on the input side of the concentrator switch, and a fixed time slot insertion circuit that inserts the test pattern into the fixed time slot of the highway, and a fixed time slot insertion circuit on the output side of the relay switch. After the parity check circuit, a fixed time slot extraction circuit for extracting a test pattern from the fixed time slot of the highway and a test pattern check circuit are provided, respectively. Regarding the down highway, a test pattern generation circuit and a fixed time slot insertion circuit are installed before the parity generation circuit on the input side of the relay switch, and a fixed time slot extraction circuit and test circuit are installed after the parity check circuit on the output side of the concentrator switch. A pattern check circuit is provided for each.

そこで通話路立上げの際、各ハイウェイの入側試験用固
定タイムスロットと出側試験用固定タイムスロットとの
間を半固定的な通話パスを設定して接続しておき、常時
、試験パターンのチェックを行なって通話パス接続の異
常の有無を監視していた。
Therefore, when starting up a call route, a semi-fixed call path is set up and connected between the fixed time slot for entrance tests and the fixed time slot for exit tests of each highway, and the test pattern is always on. Checks were conducted to monitor whether there were any abnormalities in the call path connection.

(発明が解決しようとする問題点) しかしこのような従来方式では次のような問題があった
。まず、各スイッチにおけるマルチ接続が検出できなか
った。つまり、1つの入側タイムスロットが誤接続によ
り複数の出、側タイムスロットに出力される異常接続状
態が検出されない、これは、半固定的な接続パスを設定
して特定のタイムスロットでしかパイロット監視が行な
われないためである。
(Problems to be Solved by the Invention) However, such conventional systems have the following problems. First, multiple connections at each switch could not be detected. In other words, an abnormal connection state in which one incoming time slot is output to multiple outgoing time slots due to an incorrect connection cannot be detected. This is because no monitoring is performed.

次に、ハイウェイの数が増えると、それに応じて固定タ
イムスロット抽出回路や試験パターンチェック回路など
の必要なハードウェアを増やさなければならなかった。
Second, as the number of highways increased, the necessary hardware, such as fixed time slot extraction circuits and test pattern checking circuits, had to increase accordingly.

したがって、ハイウェイ数に応じてハードウェア量が増
加する。
Therefore, the amount of hardware increases according to the number of highways.

第3に、パイロット試験については、入側の試験パター
ン挿入位置から出側の試験パターン検出位置までの範囲
が障害検出単位となっているので、障害検出の分解能が
低い欠点がある。つまり、その範囲より細かい障害位置
の特定はできなかった。
Thirdly, in the pilot test, since the fault detection unit is the range from the test pattern insertion position on the input side to the test pattern detection position on the output side, there is a drawback that the resolution of failure detection is low. In other words, it was not possible to pinpoint the fault location in detail beyond that range.

最後に、パリティチェック試験とパイロット試験におけ
る障害検出ポイントが異なるため、ハードウェア量が多
く、ソフトウェアの処理量も多い。
Finally, since the failure detection points in the parity check test and the pilot test are different, the amount of hardware and software processing is large.

本発明はこのような従来技術の欠点を解消し、簡略な構
成でより適切に通話路の正常性を確認できる通話路常時
試験法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to eliminate the drawbacks of the prior art and to provide a method for constantly testing a communication path that can more appropriately confirm the normality of the communication path with a simple configuration.

(問題点を解決するための手段) 本発明は上述の問題点を解決するために、通話路スイッ
チの入側と出側との間でハイウェイのタイムスロットの
データについて所定の論理にてパリティの付加および検
査が行なわれてハイウェイ交換が行なわれるディジタル
交換機の通話路を常時試験する通話路常時試験法は、ハ
イウェイの固定のタイムスロットに試験用タイムスロッ
トを割り付けて通話路スイッチに接続パスを半固定的に
設定し、通話路スイッチの入側で試験用タイムスロット
に所定パターンの試験データを挿入し・試験データにつ
いては、前記所定の論理とは逆論理のパリティを通話路
スイッチの入側で付加し、通話路スイッチの出側では、
試験データについては逆論理でパリティを検査する。
(Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problems, the present invention establishes parity between the input side and the output side of the communication path switch using a predetermined logic for highway time slot data. The call path continuous testing method, which constantly tests the call path of a digital exchange that is added and inspected and then replaced with a highway, is to allocate a test time slot to a fixed time slot on the highway and half the connection path to the call path switch. The test data is fixedly set and a predetermined pattern of test data is inserted into the test time slot on the input side of the channel switch.For the test data, a parity with a logic opposite to the predetermined logic is set at the input side of the channel switch. In addition, on the output side of the communication path switch,
The parity of the test data is checked using reverse logic.

(作 用) 本発明によれば、通話路に半固定パスを設定しておき、
通話路の入側で試験用固定タイムスロットに試験パター
ンが挿入される0通話路の入側におけるパリティ作成回
路では試験用固定タイムスロットに他のタイムスロット
とは逆の論理のパリティが付加され、通話路の各スイッ
チの出側におけるパリティチェック回路では、試験用固
定タイムスロットについて逆論理にてパリティチェック
が行なわれる。これによって、パリティチェック試験と
パイロット試験を合せた形の常時試験が行なわれる。
(Function) According to the present invention, a semi-fixed path is set in the communication path,
A test pattern is inserted into the test fixed time slot on the input side of the communication path.0 In the parity generation circuit on the input side of the communication path, a parity with a logic opposite to that of other time slots is added to the test fixed time slot. A parity check circuit on the output side of each switch in the communication path performs a parity check using reverse logic for the fixed time slot for testing. This results in a constant test that combines a parity check test and a pilot test.

(実施例) 次に添付図面を参照して本発明による通話路常時試験法
の実施例を詳細に説明する。
(Example) Next, an example of the communication channel constant testing method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

第1図を参照すると、本発明の実施例では、加入者装置
と中継局の間にある加入者線交!!!!機において、東
線スイッチ10.分配スイッチ12および中琳スイッチ
14からなる通話路装置にパリティチェック試験および
パイロット試験の2種類を合せた形の常時試験を行なっ
て通話パス設定の正常性を確認する。
Referring to FIG. 1, in an embodiment of the present invention, a subscriber line intersection between a subscriber unit and a relay station! ! ! ! On the plane, press the east line switch 10. A constant test combining two types of parity check tests and pilot tests is performed on the communication path device consisting of the distribution switch 12 and the central switch 14 to confirm the normality of the communication path setting.

加入者回路からの上りハイウェイ(HW) 1Bは、基
本的には集線スイッチlO1分配スイッチ12および中
継スイッチ14を通って中継局への上りハイウェイ18
に接続される。同様に、中継局からの下りハイウェイ2
0は、中継スイッチ14、分配スイッチ12および東線
スイッチ10を通って加入者回路への下りハイウェイ2
2に接続される。
The upstream highway (HW) 1B from the subscriber circuit is basically the upstream highway 18 to the relay station via the concentration switch lO1 distribution switch 12 and the relay switch 14.
connected to. Similarly, down highway 2 from the relay station
0 is the downstream highway 2 to the subscriber circuit through the relay switch 14, the distribution switch 12 and the east line switch 10.
Connected to 2.

加入者回路からの上りハイウェイ16は直列転送ハイウ
ェイであるが、これには固定タイムスロッ) (TS)
挿入回路24が配設されている。固定タイムスロット挿
入回路24は、一方の入力に上り/%イウエイ1Bが挿
入され、他方の入力2Bに試験パターン作成回路28の
出力が接続されている。固定タイムスロット挿入回路2
4は、制御入力30にタイミング作成回路32から供給
されるタイミング信号■に応動じて試験用タイムスロッ
トに、試験パターン作成回路28で作成された試験パタ
ーンを挿入する選択回路である。試験パターンは1本実
施例ではたとえば16進数r55. AAJが交互に繰
り返す所定のパターンが有利に使用される。
The upstream highway 16 from the subscriber circuit is a serial transfer highway, which includes a fixed time slot (TS).
An insertion circuit 24 is provided. The fixed time slot insertion circuit 24 has the upstream/% Iway 1B inserted into one input, and the output of the test pattern creation circuit 28 is connected to the other input 2B. Fixed time slot insertion circuit 2
Reference numeral 4 denotes a selection circuit that inserts the test pattern created by the test pattern creation circuit 28 into the test time slot in response to the timing signal (2) supplied from the timing creation circuit 32 to the control input 30. In this embodiment, the test pattern is, for example, hexadecimal number r55. A predetermined pattern of alternating AAJs is advantageously used.

加入者回路からの上りハイウェイ16にはまた、固定タ
イムスロット挿入回路24の後に直並列変換回路および
パリティ作成回路34が配設され、その8ビツト出力3
Bが集線スイッチ10に収容されている。直並列変換回
路およびパリティ作成回路34は、入力の直列転送ハイ
ウェイを並列転送ハイウェイに変換し、そのハイウェイ
データに応じて所定のパリティピッ)Pを発生する回路
である。パリティ発生期は本実施例では、通常は奇数パ
リティであ41  試験用タイムスロットの場合のみ偶
数パリティをとっている。集線スイッチlO1分配スイ
ッチ12および中継スイッチ14では、並列9ビツトの
ハイウェイが交換される。
The upstream highway 16 from the subscriber circuit is also provided with a serial/parallel converter circuit and a parity generator circuit 34 after the fixed time slot inserter circuit 24, whose 8-bit output 3
B is housed in the concentrator switch 10. The serial/parallel conversion circuit and parity generation circuit 34 is a circuit that converts an input serial transfer highway into a parallel transfer highway and generates a predetermined parity bit (P) according to the highway data. In this embodiment, the parity generation period is normally odd parity, and even parity is used only in the test time slot. Parallel 9-bit highways are exchanged in the concentrator switch lO1 distribution switch 12 and the relay switch 14.

そのパリティ出力3Bが排他的論理和(EOR)回路4
0の一方の入力に接続されている。 EOR回路40の
他方の入力42には、タイミング作成回路32からタイ
ミング信号■が入力される。 EOR回路40の出力4
4は、直列変換回路およびパリティ作成回路34からの
8ビツト出力3Bとともに東線スイッチ10に入力され
る。
The parity output 3B is the exclusive OR (EOR) circuit 4
Connected to one input of 0. The other input 42 of the EOR circuit 40 receives the timing signal ■ from the timing generation circuit 32 . Output 4 of EOR circuit 40
4 is input to the east line switch 10 along with the 8-bit output 3B from the serial conversion circuit and parity creation circuit 34.

集線スイッチlOからの上りハイウェイ46には、パリ
ティチェック回路50、EOR回路52およびパリティ
エラーフリップフロップ(F/F) 54が図示のよう
に接続されている。同様に分配スイッチ12からの上り
ハイウェイ4Bには、パリティチェック回路50、EO
R回路58およびパリティエラーフリップフロップ80
が図示のように接続されている。
A parity check circuit 50, an EOR circuit 52, and a parity error flip-flop (F/F) 54 are connected to the upstream highway 46 from the concentrator switch IO as shown in the figure. Similarly, a parity check circuit 50, an EO
R circuit 58 and parity error flip-flop 80
are connected as shown.

パリティチェック回路50および56は、それぞれ上り
ハイウェイ46および48の並列9ビツトについて、通
常は奇数パリティで、試験用タイムスロットの場合は偶
数パリティでパリティエラーを検査する回路である。 
EOR回路52および58の入力62および64には、
タイミング作成回路32からタイミング信号■および■
がそれぞれ入力される。パリティエラーフリー、プフロ
ップ54および60は、パリティに誤りが生じたときに
セットされ、その旨を表示するフリップフロップである
Parity check circuits 50 and 56 are circuits for checking parity errors on the parallel 9 bits of uplink highways 46 and 48, respectively, with odd parity normally, and with even parity in the case of test time slots.
Inputs 62 and 64 of EOR circuits 52 and 58 include
Timing signals ■ and ■ from the timing generation circuit 32
are input respectively. Parity error free flip-flops 54 and 60 are flip-flops that are set when a parity error occurs to indicate that fact.

中継スイッチ14の出側の上りハイウェイ6Bには、並
直列変換回路およびパリティチェック回路68が接続さ
れ、同回路B8は9ビット並列ハイウェイ86に含まれ
るパリティビットを検出して奇数パリティで検査を行な
うとともに、残りの並列8ビツトを直列データに変換し
て8ビット直列ハイウェイ18として中継局へ出力する
回路である。パリティに誤りが生じたときはそのエラー
出力PEが出力される。パリティエラー出カフ0には、
 EOR回路58と同様のEOR回路72、およびパリ
ティエラーフリップフロップ60と同様のパリティエラ
ーフリップフロップ74が図示のように接続されている
。 EOR回路72の入カフ6には、タイミング作成回
路32からタイミング信号■が入力される。
A parallel-to-serial conversion circuit and a parity check circuit 68 are connected to the upstream highway 6B on the output side of the relay switch 14, and the circuit B8 detects the parity bit included in the 9-bit parallel highway 86 and performs an odd parity check. This circuit also converts the remaining parallel 8 bits into serial data and outputs it as an 8-bit serial highway 18 to the relay station. When an error occurs in parity, an error output PE is output. For parity error output cuff 0,
An EOR circuit 72 similar to EOR circuit 58 and a parity error flip-flop 74 similar to parity error flip-flop 60 are connected as shown. The input cuff 6 of the EOR circuit 72 receives the timing signal ■ from the timing generation circuit 32 .

同様に、中継局からの下りハイウェイ20はやはり直列
転送ハイウェイであるが、これには固定タイムスロット
挿入回路BOおよび試験パターン作成回路82が図示の
ように配設されている。固定タイムスロット挿入回路8
2は、固定タイムスロット挿入回路24と同様の選択回
路であり、制御入力84にタイミング作成回路32から
供給されるタイミング信号■に応動じて試験用タイムス
ロットに試験パターン作成回路82で作成された試験パ
ターンを挿入する。
Similarly, the downlink highway 20 from the relay station is also a serial transfer highway, but it is provided with a fixed time slot insertion circuit BO and a test pattern generation circuit 82 as shown. Fixed time slot insertion circuit 8
Reference numeral 2 designates a selection circuit similar to the fixed time slot insertion circuit 24, in which a test pattern is created in the test time slot by the test pattern creation circuit 82 in response to the timing signal 2 supplied from the timing creation circuit 32 to the control input 84. Insert test pattern.

中継局からの下りハイウェイ20にはまた、固定タイム
スロット挿入回路80の後に直並列変換回路およびパリ
ティ作成回路34と同様の直並列変換回路およびパリテ
ィ作成回路8Bが配設され、その8ビツト出力8日が中
継スイッチ14に収容されている。
Also, on the downlink highway 20 from the relay station, a serial-to-parallel conversion circuit and a parity creation circuit 8B similar to the serial-to-parallel conversion circuit and parity creation circuit 34 are arranged after the fixed time slot insertion circuit 80, and its 8-bit output 8 The day is stored in the relay switch 14.

そのパリティ出力92がEOR回路80の一方の入力に
接続されている。 EOR回路82の他方の入力84に
は、タイミング作成回路32からタイミング信号■が入
力される。 EOR回路40の出力96は、直列変換回
路およびパリティ作成回路8Bからの8ビツト出力88
とともに中継スイッチ14に入力される。
Its parity output 92 is connected to one input of the EOR circuit 80. The other input 84 of the EOR circuit 82 receives the timing signal {circle around (2)} from the timing generation circuit 32 . The output 96 of the EOR circuit 40 is the 8-bit output 88 from the serial conversion circuit and parity creation circuit 8B.
The signal is also input to the relay switch 14.

中継スイッチ14および分配スイッチ12からの下りハ
イウェイ98および10Gにはそれぞれ、パリティチェ
ック回路102および104. EOR回路108およ
び108.ならびにパリティエラーフリップフロップ1
10および112が図示のように接続されている。これ
らは上りハイウェイ4Bおよび48の場合と同様である
。  FOR回路10Bおよび108の入力114およ
び11Bには、タイミング作成回路32からタイミング
信号■および■がそれぞれ入力される。
Parity check circuits 102 and 104. EOR circuits 108 and 108. and parity error flip-flop 1
10 and 112 are connected as shown. These are the same as those for upbound highways 4B and 48. Timing signals ■ and ■ are input from the timing generation circuit 32 to inputs 114 and 11B of the FOR circuits 10B and 108, respectively.

東線スイッチ10の出側の下りハイウェイ118には、
並直列変換回路およびパリティチェック回路120が接
続され、これは並直列変換回路およびパリティチェック
回路68と同様の回路である。そのパリティエラー出力
122には、FOR回路106と同様のFOR回路12
4.およびパリティエラーフリップフロップ110と同
様のバリティエラーフリップフM  −−/ IすQ 
 re h7 +−一−1l−二 1− を自認−V 
 M  −r l−%  1    ffn(1回路1
24の入力128には、タイミング作成回路32からタ
イミング信号[相]が入力される。
On the downbound highway 118 on the exit side of the east line switch 10,
A parallel-serial converter and parity check circuit 120 is connected, and is a circuit similar to parallel-serial converter and parity check circuit 68. The parity error output 122 includes a FOR circuit 12 similar to the FOR circuit 106.
4. and a parity error flip-flop similar to parity error flip-flop 110.
re h7 +-1-1l-2 1- admittedly-V
M -r l-% 1 ffn (1 circuit 1
The timing signal [phase] is inputted from the timing generation circuit 32 to the input 128 of 24.

タイミング発生回路32は、木通話路装近の上下ハイウ
ェイのタイムスロットに同期してタイミング信号■〜[
相]を、たとえば第2図に例示するタイミングで発生す
る回路である。本実施例では、試験用タイムスロットは
固定であり、lタイムスロットについて8ビツトの時間
を占有する。
The timing generation circuit 32 generates timing signals ~[
This is a circuit that generates a phase with a timing as illustrated in FIG. 2, for example. In this embodiment, the test time slot is fixed and occupies 8 bits of time for l time slot.

加入者回路からの上りハイウェイ16はまず、上りハイ
ウェイ18における固定タイムスロット挿入回路24で
、タイミング作成回路32からその制御人力30に8ピ
ツIfのタイミング信号■が所定のタイミングで生起す
ると、これで規定される上りハイウェイ18の試験用タ
イムスロットに試験パターン作成回路28で作成した試
験パターンを挿入する。この試験パターンは、たとえば
「55、AAJなどの16進交互パターンが利用される
。これは、他の通常の通話のタイムスロットの直列デー
タとともに直並列変換回路およびパリティ作成回路34
にて並列データに変換され、集線スイッチlOに入力さ
れる。
The uplink highway 16 from the subscriber circuit is first inputted to the fixed time slot insertion circuit 24 in the uplink highway 18, and when the timing signal ■ of 8 pins If is generated at a predetermined timing from the timing generation circuit 32 to the control human power 30, this is done. The test pattern created by the test pattern creation circuit 28 is inserted into the specified test time slot of the up highway 18. For this test pattern, a hexadecimal alternating pattern such as "55, AAJ" is used.
The data is converted into parallel data and input to the concentrator switch IO.

その際、同回路34のパリティ出力38には奇数パリテ
ィとしてパリティビットが出力される。これはEOR回
路40の一方の入力からFOR回路に入力され、他方の
入力42のタイミング信号■が有意でないとき、すなわ
ち通常の通話データのタイムスロットでは奇数パリティ
としてその出力44に出力される。しかし、タイミング
■が有意のとき、すなわち試験用タイムスロットでは回
路34の奇数パリティが出力されないので、集線スイッ
チ10の入力ハイウェイ36にはEOR回路40の出力
44から偶数パリティが付加される。
At this time, a parity bit is outputted to the parity output 38 of the circuit 34 as odd parity. This is input to the FOR circuit from one input of the EOR circuit 40, and is output to its output 44 as odd parity when the timing signal 2 at the other input 42 is not significant, ie, in a normal speech data time slot. However, when the timing ■ is significant, that is, the odd parity of the circuit 34 is not output in the test time slot, so the even parity is added to the input highway 36 of the concentrator switch 10 from the output 44 of the EOR circuit 40.

要約すると、通常の通話データのタイムスロットでは奇
数パリティが付加され、試験用タイムスロットでは偶数
パリティが付加される。勿論1通常のタイムスロットで
偶数パリティを採用しているシステムでは試験用タイム
スロットに奇数パリティを適用すればよく、要は、試験
用タイムスロットについては他のタイムスロットと逆の
パリティ論理にてパリティの付加および検査を行なう。
To summarize, odd parity is added to normal call data time slots, and even parity is added to test time slots. Of course, in a system that uses even parity for normal time slots, it is sufficient to apply odd parity to test time slots.In short, for test time slots, parity is set using the opposite parity logic to other time slots. Add and inspect.

いずれにせよ、集線スイッチ10の入側にはパリティを
含めて9ビツトの並列ハイウェイが入力される。この並
列ハイウェイは、集線スイッチ10、分配スイッチ12
および中継スイッチ14で交換され、並直列変換回路お
よびパリティチェック回路68に入力される。同回路6
8で奇数パリティのチェックが行なわれ、データビット
は8ビット直列ハイウェイ18に変換されて中継局へ向
けて出力される。
In any case, a 9-bit parallel highway including parity is input to the input side of the concentrator switch 10. This parallel highway includes a concentration switch 10 and a distribution switch 12.
The signals are exchanged at the relay switch 14 and input to the parallel-to-serial conversion circuit and parity check circuit 68. Same circuit 6
An odd parity check is performed at 8, and the data bits are converted to an 8-bit serial highway 18 and output to the relay station.

ところで本実施例では、試験用タイムスロットは半固定
パスが設定されている。つまり、集線スイッチ10、分
配スイッチ12および中継スイッチHの出側における試
験用タイムスロットのタイミングが固定されている。タ
イミング作成回路32は、これらのスイッチの固定タイ
ミングに合わせてタイミング信号■〜■を発生する。
By the way, in this embodiment, a semi-fixed path is set for the test time slot. In other words, the timings of the test time slots on the output sides of the concentrator switch 10, distribution switch 12, and relay switch H are fixed. The timing generation circuit 32 generates timing signals (1) to (2) in accordance with the fixed timings of these switches.

パリティチェック回路50.5Bおよび68は、それぞ
れ上りハイウェイ48.48および66のデータについ
て奇数パリティでチェックを行なっている。パリティエ
ラーが発生すると、すなわち偶数パリティが検出される
と、それらの出力130.132または70、すなわち
EOR回路52.58または72の一方の入力がイネー
ブルされる。その際、それらのEOR回路の他方の入力
62.64または7Bのタイミンング信号■〜■のうち
対応するものが有意(たとえば高レベル)になっていな
いとき、換言すれば、試験用タイムスロット以外の通常
のタイムスロットでは、パリティエラーフリップフロッ
プ54.60および74の対応するものがセットされる
Parity check circuits 50.5B and 68 check data on uplink highways 48, 48 and 66, respectively, for odd parity. When a parity error occurs, ie even parity is detected, their outputs 130, 132 or 70, ie the inputs of one of the EOR circuits 52, 58 or 72, are enabled. At that time, when the corresponding one of the timing signals 62, 64 or 7B of the other inputs 62, 64 or 7B of those EOR circuits is not significant (for example, high level), in other words, In a normal time slot, the corresponding parity error flip-flops 54, 60 and 74 are set.

しかしこれらのFOR回路の他方の入力62.64およ
び7Bのタイミンング信号■〜■のうち対応するものが
有意になっていると、つまり試験用タイムスロットでは
、パリティチェック回路50.58または72で偶数パ
リティが検出されても、それらのEOR回路の出力が付
勢されないので、パリティエラーフリップフロップ54
.60および74の対応するものはセットされない0反
対に、それらのパリティチェック回路で奇数パリティが
検出されると、そのとき有意のタイミング信号によって
パリティエラーフリップフロップ54.60および74
の対応するものがセットされ、パリティエラーが表示さ
れる。
However, if the corresponding one of the timing signals ■ to ■ of the other inputs 62, 64 and 7B of these FOR circuits becomes significant, that is, in the test time slot, the parity check circuit 50, 58 or 72 detects an even number. Even if parity is detected, the outputs of their EOR circuits are not activated, so parity error flip-flops 54
.. 60 and 74 are not set to 0. Conversely, if odd parity is detected in their parity check circuits, then a significant timing signal causes the parity error flip-flops 54.60 and 74 to be set to zero.
The corresponding one is set and a parity error is displayed.

これかられかるように、本通話路装置の上りハイウェイ
において、通話用の通常のタイムスロットではこれらの
パリティチェック回路にて奇数パリティのチェックアウ
トにかかるとパリティエラー表示がなされ、試験用タイ
ムスロットでは偶数パリティにてエラー表示がなされる
As we will see, on the uplink highway of this communication path device, in normal time slots for calls, a parity error will be displayed if these parity check circuits check out odd parity, but in test time slots, even parity will be displayed. An error is displayed in parity.

中継局から加入者回路への下りハイウェイについても同
様に動作する。その詳細な説明は省略するが、固定タイ
ムスロット挿入回路80にて固定の試験用タイムスロッ
トに挿入された試験パターンには偶数パリティが、他の
通常のタイムスロットには奇数パリティが、並直列変換
回路およびパリティ作成回路86とEOR回路90によ
って付加され、パリティチェックがパリティチェック回
路102.104および120にて行なわれ、試験用タ
イムスロットについては偶数パリティの、また通常のり
イムスロットについては奇数パリティのエラー表示が、
それぞれFOR回路108.108および128.なら
びにパリティエラーフリップフロップ110.112お
よび12Bにて行なわれる。これらの動作は、タイミン
グ作成回路32で作成されるタイミング信号■〜[相]
によって規定される。
The same applies to the down-highway from the relay station to the subscriber circuit. Although a detailed explanation thereof will be omitted, the test pattern inserted into the fixed test time slot by the fixed time slot insertion circuit 80 has even parity, and the other normal time slots have odd parity. Parity checking is performed in parity check circuits 102, 104 and 120, with even parity for test time slots and odd parity for regular time slots. The error display is
FOR circuits 108.108 and 128., respectively. and parity error flip-flops 110, 112 and 12B. These operations are performed using the timing signals ■~[phase] created by the timing creation circuit 32.
defined by.

このように本実施例では、各スイッチ1O112および
14の出側では、試験用タイムスロットについては偶数
パリティでチェックし、通常のタイムスロットでは奇数
パリティでチェックしている。したがって、試験用タイ
ムスロー2トがスイッチングされない障害の他に、これ
らスイッチの出側に複数の試験用タイムスロットが出力
されるマルチ接続の障害を検出することができる。
As described above, in this embodiment, on the output side of each switch 1O112 and 14, even parity is checked for test time slots, and odd parity is checked for normal time slots. Therefore, in addition to a failure in which two test time slots are not switched, it is possible to detect a multi-connection failure in which a plurality of test time slots are output to the output side of these switches.

従来方式の通話路試験装置の例を第3図に示す、同図に
おいて第1図と同じ構成要素は同一の参照符号で示され
ている。この従来方式では、上りハイウェイのパリティ
チェック試験は、集線スイー2チ10の入側にパリティ
作成回路34が、また集線スイッチ10、分配スイッチ
12および中継スイッチ14のそれぞれの出側にパリテ
ィチェック回路50、5Elおよび68がそれぞれ設け
られ、パリティ作成回路34で作成したパリティが正常
に受信されたか否かをパリティチェック回路50.58
および68で検査することによって行なっている。同様
に下りハイウェイのパリティチェック試験は、中継スイ
ッチHの入側にパリティ作成回路86が、また各スイッ
チ14.12および10の出側にパリティチェック回路
102.104および120がそれぞれ設けられ、前者
で作成したパリティの正常性を後者で検査することによ
って行なっている。これらのパリティチェックは、通常
のタイムスロットも試験用タイムスロットも同じ奇数パ
リティにて行なっている。
An example of a conventional communication path testing device is shown in FIG. 3, in which the same components as in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. In this conventional method, the uplink highway parity check test is performed using a parity generation circuit 34 on the input side of the concentrator switch 10, and a parity check circuit 50 on the output side of each of the concentrator switch 10, the distribution switch 12, and the relay switch 14. , 5El and 68 are provided respectively, and parity check circuits 50 and 58 check whether the parity created by the parity creation circuit 34 has been received normally.
This is done by testing at 68 and 68. Similarly, for the down highway parity check test, a parity generation circuit 86 is provided on the input side of relay switch H, and parity check circuits 102, 104 and 120 are provided on the output side of each switch 14, 12 and 10, respectively. This is done by checking the normality of the created parity using the latter. These parity checks are performed using the same odd parity for both normal time slots and test time slots.

この従来方式でバイロー、ト試験は次のようにして行な
っていた。上りハイウェイについては、集線スイッチ1
0の入側でパリティ作成回路34の前に試験パターン作
成回路28と、その試験パターンをハイウェイの固定タ
イムスロットに挿入する固定タイムスロット挿入回路2
4が設けられ、また中継スイッチ14の出側のパリティ
チェック回路88の後に試験パターンをハイウェイの固
定タイムスロットから抽出する固定タイムスロット抽出
回路200と、試験パターンチェック回路202がそれ
ぞれ設けられている。また、下りハイウェイについては
、中継スイッチ14の入側でパリティ作成回路8Bの前
に試験パターン作成回路82と固定タイムスロット挿入
回路80が設けられ、また集線スイッチlOの出側のパ
リティチェック回路120の後に固定タイムスロット抽
出回路204と試験パターンチェック回路206がそれ
ぞれ設けられている。
In this conventional method, the buy-low test was conducted as follows. For the up-bound highway, turn on the line concentration switch 1.
0 input side and a test pattern generation circuit 28 before the parity generation circuit 34, and a fixed time slot insertion circuit 2 for inserting the test pattern into a fixed time slot of the highway.
Further, after the parity check circuit 88 on the output side of the relay switch 14, a fixed time slot extraction circuit 200 for extracting a test pattern from the fixed time slot of the highway and a test pattern check circuit 202 are provided, respectively. Regarding the down highway, a test pattern creation circuit 82 and a fixed time slot insertion circuit 80 are provided before the parity creation circuit 8B on the input side of the relay switch 14, and a parity check circuit 120 is provided on the output side of the concentrator switch IO. A fixed time slot extraction circuit 204 and a test pattern check circuit 206 are provided afterwards.

パイロット試験は、通話路装置を立ち上げる際、各ハイ
ウェイの入側試験用固定タイムスロットと出側試験用固
定タイムスロットとの間を半固定的な通話パスを設定し
て接続しておき、常時、試験パターンのチェックを行な
って通話パス接続の異常の有無を監視していた。
In the pilot test, when starting up the communication path equipment, a semi-fixed communication path is set up and connected between the fixed time slot for ingress test and the fixed time slot for egress test of each highway. , the test pattern was checked to monitor whether there were any abnormalities in the call path connection.

本発明の実施例では、この従来方式と比較して、固定タ
イムスロット抽出回路や試験パターンチェック回路を必
要とせず、また、増設によってスイッチが増加しても、
タイミング作成回路の出力タイミング信号を増やすだけ
でよく、ハードウェアの量が削減される。また、パイロ
ット試験については、各スイッチごとにスイッチングエ
ラーが検出できるので障害切分けの分解71が高い。
Compared to this conventional method, the embodiment of the present invention does not require a fixed time slot extraction circuit or a test pattern check circuit, and even if the number of switches increases due to expansion,
It is only necessary to increase the output timing signal of the timing generation circuit, and the amount of hardware is reduced. Further, regarding the pilot test, since switching errors can be detected for each switch, the decomposition 71 for fault isolation is high.

さらに、パリティチェック試験とパイロット試験の障害
ポイントが同じとなるので、ハードウェア量が少なく、
ソフトウェアの処理も簡潔である。また、本実施例では
、パリティチェック回路とそのEOR回路にて奇数パリ
ティと偶数パリティの両方を使い分けてチェックしてい
るので、パリティチェック回路のスタックを検出するこ
とができる。
Furthermore, since the failure points for the parity check test and the pilot test are the same, the amount of hardware is small.
Software processing is also simple. Furthermore, in this embodiment, since the parity check circuit and its EOR circuit selectively use both odd parity and even parity to check, it is possible to detect a stack of the parity check circuit.

(発明の効果) このように本発明では、各スイッチの出側で、試験用タ
イムスロットと通常のタイムスロットではパリティチェ
ック則が異なっているので、試験用タイムスロットのス
イッチング障害のみならずマルチ接続の障害も検出する
ことができる。また、従来方式と比較してハードウェア
量が削減され、パイロット試験については障害切分けの
分解能が高い。
(Effects of the Invention) In this way, in the present invention, on the output side of each switch, the parity check rules are different between the test time slot and the normal time slot, so not only the switching failure of the test time slot but also the multi-connection failures can also be detected. Additionally, the amount of hardware is reduced compared to conventional methods, and the resolution of fault isolation is high for pilot tests.

さらに、パリティチェック試験とパイロット試験の障害
ポイントが同じであることから、ハードウェア量が少な
く、ソフトウェアの処理も簡潔となる。また、パリティ
チェック回路のスタックを検出することができる。
Furthermore, since the failure points in the parity check test and the pilot test are the same, the amount of hardware is small and the software processing is simple. It is also possible to detect a stuck parity check circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、加入者装置と中継局の間にある加入者線交換
機に本発明を適用した実施例を示す機能ブロック図、 第2図は、第1図に示す実施例の各部に現われる信号の
例を示すタイミング図、 第3図は、従来方式の通話路常時試験方式の例を示す第
1図と同様の機能ブロック図である。 主要部 の符号の説明 10.12. 、スイッチ 16.18. 、ハイウェイ 24、、、固定タイムスロット挿入回路2B、、、試験
パターン作成回路 32、、、タイミング作成回路 34、、、直並列変換回路および パリティ作成回路 40.52. 、排他的論理和回路 54.60. 、パリティエラーフリップフロップ88
、、、並直列変換回路および パリティチェック回路 特許出願人 沖電気工業株式会社 日本電信電話株式会社 代 理 人 書取 孝雄 先山 隆夫
FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment in which the present invention is applied to a subscriber line exchange located between a subscriber equipment and a relay station, and FIG. 2 shows signals appearing in each part of the embodiment shown in FIG. FIG. 3 is a functional block diagram similar to FIG. 1 illustrating an example of a conventional communication path constant test method. Explanation of symbols of main parts 10.12. , switches 16.18. ,Highway 24, ,Fixed time slot insertion circuit 2B, ,Test pattern generation circuit 32, ,Timing generation circuit 34, ,Serial to parallel conversion circuit and parity generation circuit 40.52. , exclusive OR circuit 54.60. , parity error flip-flop 88
Parallel-serial conversion circuit and parity check circuit Patent applicant: Oki Electric Industry Co., Ltd. Nippon Telegraph and Telephone Corporation Agent: Writer: Takao Sakiyama

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、通話路スイッチの入側と出側との間でハイウェイの
タイムスロットのデータについて所定の論理にてパリテ
ィの付加および検査が行なわれてハイウェイ交換が行な
われるディジタル交換機の通話路を常時試験する通話路
常時試験法において、該試験法は、 前記ハイウェイの固定のタイムスロットに試験用タイム
スロットを割り付けて前記通話路スイッチに接続パスを
半固定的に設定し、 該通話路スイッチの入側で該試験用タイムスロットに所
定パターンの試験データを挿入し、該試験データについ
ては、前記所定の論理とは逆論理のパリティを該通話路
スイッチの入側で付加し、 該通話路スイッチの出側では、該試験データについては
該逆論理でパリティを検査することを特徴とする通話路
常時試験法。 2、特許請求の範囲第1項記載の試験法において、前記
通話路スイッチは従属接続された複数段のスイッチを含
み、前記パリティの検査は、該複数段のスイッチのそれ
ぞれの出側にて行なわれることを特徴とする通話路常時
試験法。
[Claims] 1. A digital switching system in which highway switching is performed by adding parity and checking data in highway time slots according to a predetermined logic between the input side and output side of a communication path switch. In the call route constant testing method for constantly testing the call route, the test method includes: allocating test time slots to fixed time slots on the highway, semi-fixably setting connection paths in the call route switch; Insert test data of a predetermined pattern into the test time slot on the input side of the communication path switch, add parity of logic opposite to the predetermined logic to the test data on the input side of the communication path switch, A communication path constant testing method characterized in that, on the output side of a communication path switch, parity of the test data is checked using the inverse logic. 2. In the test method according to claim 1, the communication path switch includes a plurality of cascaded switches, and the parity check is performed at the output side of each of the plurality of switches. A continuous test method for communication channels.
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