JPS6373642A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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Publication number
JPS6373642A
JPS6373642A JP21732186A JP21732186A JPS6373642A JP S6373642 A JPS6373642 A JP S6373642A JP 21732186 A JP21732186 A JP 21732186A JP 21732186 A JP21732186 A JP 21732186A JP S6373642 A JPS6373642 A JP S6373642A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cell
wiring
cells
cell columns
column
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP21732186A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazusumi Kuwano
桑野 一純
Hiroki Korenaga
是永 浩喜
Kazuyuki Kawachi
河内 一往
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP21732186A priority Critical patent/JPS6373642A/ja
Publication of JPS6373642A publication Critical patent/JPS6373642A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 スタンダードセル方式の半4体集積回路装置であって、
2列のセル列(Ai、Bi)を1組単位として有し、咳
組単位のセル列を複数組配列することにより、スタンダ
ードセル方式の利点を保つと共に、レイアウト上の自由
度を拡張する。
(産業上の利用分野〕 本発明は、スタンダードセル方式の半導体集積回路装置
に関し、特にスタンダードセルを用いて論理LSI(大
規模集積回路)を構成する場合のレイアウト技術に関す
る。
〔従来の技術〕
論理LSIを設計する場合のレイアウト手法として、上
述したスタンダードセル方式のほかにゲートアレイ方式
がある。以下、スタンダードセル方式と対比するために
ゲートアレイ方式について説明する。
第2図にはゲートアレイの一例としてのセル配列図が示
される。図中、20はチップを示し、このチップ20上
には2人力NAND等の基本ゲートを構成する4個のト
ランジスタからなるベーシックセルBCが一列に配列さ
れ、さらにこのベーシックセル列が複数列BG、〜BC
,配列されている。この場合、各セル列BC,〜BC,
,は互いに固定幅の配線チャネルWCoを介在して配列
される、各ベーシックセル列においては、連続する複数
のベーシックセル間を配線することにより1つの論理機
能を実現した部分(破線21で示す)がハードマクロと
して形成される。ゲートアレイにおけるこのハードマク
ロは、後述するスタンダードセルの各セルに相当する構
成要素である。
このように、ゲートアレイにおいては配線前チップの状
態までが標準化されて用意されており、各ハードマクロ
間、言い換えると各ゲート間に適宜配線を行うことによ
り所望の論理LSIが構成され得る。従って、開発費お
よび開発期間という点から見れば、ゲートアレイ方式に
よる設計は好適である。しかしながら、論理回路の規模
が大きくなり、複雑化してくると、配線チャネルWC。
の幅が固定化されているので配線チャネルの不足の事態
が生じ、場合によっては結線できないという不都合が生
じる。また、ベーシックセル上を通過配線領域として使
用することも必要になるので、モルの無駄が生じ、セル
の使用率を低下させるという問題がある。このような点
に鑑みて、最近ではスタンダードセル方式が開発され、
盛んに用いられている。
第3図には従来形の一例としてのスタンダードセル方式
によるセル配列図が示される。第3図の例示はポリセル
型の場合を示す。図中、3oはチップを示し、このチッ
プ30の上には予め設計しである1つの論理機能を有す
るスタンダードセルs c、、 s c、、・・・、S
C,がアレイ状に配列されている。この場合、セルSC
1およびSC2によりセル列PCIが構成され、以下同
様にして各セル列P CI−P CRが構成され、各セ
ル列の間には配線プログラムに基づき配線に必要とする
幅に設定された配線チャネルWC3〜WCM−,が介在
されている。スタンダードセル方式においては、ゲート
アレイ方式と異なり、セルの配置から設計が始まるので
手間はかかるが、セルのレイアウト時に配線チャネルが
適当な幅に設定されるので、ゲートアレイ方式における
配線チャネルの不足あるいはセルの無駄といった問題を
回避することができ、同時にチップの大きさを小さくで
きるという利点がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来のスタンダードセル方式においては、例え
ばシフトレジスタのように多くのトランジスタを必要す
るセル、すなわち第3図の配列図において縦長のセル(
例えば5Cz)を考えた場合、Q、の部分とQ、の部分
とでは動作に遅延が生じる。このため、セルの配置また
は長さに起因して生じる論理素子の動作の遅延を防止す
る観点から、セルのレイアウトに制約をかける必要が生
じ、これによってレイアウト上の自由度が縮小するとい
う問題があった。
本発明は、上述した従来形における問題点に鑑み創作さ
れたもので、スタンダードセル方式の利点を保つと共に
、レイアウト上の自由度を拡張することができる半導体
集積回路装置を提供することを目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、例えば第1図の一実施例に示されるように、
スタンダードセル方式の半導体集積回路装置であって、
固定幅の配線チャネルWoを挾んで配置された2列のセ
ル列Ai、Biを1組単位として有し、この組単位のセ
ル列A i+  E3 tを所定の幅の配線チャネルW
iを介在して複数組配列したことを特徴とするものであ
るが、その構成および作用の詳細は図示の実施例と共に
説明する。
〔作用および実施例〕
第1図には本発明の一実施例としてのスタンダードセル
方式の半導体集積回路装置が示される。
第1図の例示はビルディング・ブロック型の場合を示す
0図中、10は半導体のチップを示し、このチップ10
の上には0MO3(相補型金属酸化膜半導体)スタンダ
ードセルによって構成されたセル列AI+BI+・・・
A i B a 、およびPLA (プログラマブルロ
ジックアレイ) 、RAM (ランダムアクセスメモリ
) 、ROM (リードオンリメモリ)等によって構成
されたカスタムセル11.12および13が配置されて
いる。この場合、セル列AI とB、 、AtとBz、
AsとB3、およびA4とB4はそれぞれ、固定幅(本
実施例では3グリフト(=13.5μm))の配線チャ
ネルWOを挾んで2列1組として配置されている。また
、各組単位のセル列(A+、B+)、 (Az、Bt)
、(Az。
B、)および(AlB2)の間には配線プログラムに基
づき配線に必要とする所定の幅にコンパクションされた
配線チャネルW、、W!およびW、が介在されている。
C,、C,、・・・、C7は予め設計しである1つの論
理機能、例えばフリップフロツブ、ラッチ、カウンタ等
、を有するスタンダードセルを示し、各セルは各セル列
At、Bi(i=l〜4)上に配列されている。また、
図中破線で示されるCCV。
CC,およびCC,は、C3〜C,、と同様のスタンダ
ードセルであって、この場合には例えばシフトレジスタ
等の多くのトランジスタ、すなわち多くのベーシックセ
ルを必要とするスタンダードセルを示し、各組単位のセ
ル列(A1.BI)、  (AIBり、  (A4.8
4)にまたがって配置されている。
従って、同じベーシックセル数を用いてスタンダードセ
ルを構成する場合について第3図の従来構成例(1列構
成)と本実施例(2列構成)構成例とを比較すると、本
実施例の場合にはセル列の長さが半分で済む、このこと
は、当該セルの論理動作における遅延の縮小を意味する
ものである。
このように本実施例装置によれば、セルのレイアウト時
に配線チャネルW1〜W、を必要な所定幅に設定するこ
とができるので、ゲートアレイ方式に見られるような配
線チャネルの不足あるいはセルの無駄といった問題を回
避し、かつチップ全体の大きさを小さくすることができ
ると共に、必要に応じて2列構成のセル列にまたがって
スタンダードセルを形成することができるので、従来形
の1列構成に比べてセル列の長さを等価的に半減させ、
これによって動作の遅延を防止することが可能になる。
従って、セルのレイアウトに際しては、従来形と比べて
かなりの自由度をもって対応することができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、スタンダードセル
方式の利点を維持すると共に、レイアウト上の自由度を
拡張することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による半導体集積回路装置の一実施例に
おけるセル配列図、 第2図はゲートアレイの一例を示すセル配列図、第3図
は従来形の一例としてのスタンダード方式によるセル配
列図、 である。 (符号の説明) Ai、Bi  (i=l〜4)・・・セル列、01〜C
Il、CC,〜CC3・・・スタンダードセル、Wo・
・・固定幅の配線チャネル、 W1〜W、・・・所定幅の配線チャネル。 本発明の一実施例におけるセル配列図 01〜co、C01〜CC50,スタンダードセルAi
、B、(↓=1〜4)・・・セル列WO−・固定幅の配
線チャネル W1〜W3・・・所定幅の配線チャネル10−・・チッ
プ ゲートアレイの一例を示すセル配列図 BC・・・ベーシックセル BC+〜BC,・・・セル列 WCo・・・固定幅の配線チャネル 2o・・・チップ 21・・・ハードマクロ 従来形の一例としてのスタンダードセル方式によるセル
配列図 第3図 3o・・・チッグ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 スタンダードセル方式の半導体集積回路装置であって、 固定幅の配線チャネル(Wo)を挾んで配置された2列
    のセル列(Ai、Bi)を1組単位として有し、 該組単位のセル列(Ai、Bi)を所定の幅の配線チャ
    ネル(Wi)を介在して複数組配列してなる半導体集積
    回路装置。
JP21732186A 1986-09-17 1986-09-17 半導体集積回路装置 Pending JPS6373642A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21732186A JPS6373642A (ja) 1986-09-17 1986-09-17 半導体集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21732186A JPS6373642A (ja) 1986-09-17 1986-09-17 半導体集積回路装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6373642A true JPS6373642A (ja) 1988-04-04

Family

ID=16702339

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21732186A Pending JPS6373642A (ja) 1986-09-17 1986-09-17 半導体集積回路装置

Country Status (1)

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JP (1) JPS6373642A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5124273A (en) * 1988-06-30 1992-06-23 Kabushiki Kaisha Toshiba Automatic wiring method for semiconductor integrated circuit devices

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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