JPS636826B2 - - Google Patents

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JPS636826B2
JPS636826B2 JP55078435A JP7843580A JPS636826B2 JP S636826 B2 JPS636826 B2 JP S636826B2 JP 55078435 A JP55078435 A JP 55078435A JP 7843580 A JP7843580 A JP 7843580A JP S636826 B2 JPS636826 B2 JP S636826B2
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JP
Japan
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circuit
signal
detector
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supplied
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JP55078435A
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English (en)
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JPS564036A (en
Inventor
Fuiritsupu Shupeeto Teiruman
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOODENZEEUERUKU GEOJISUTEMU GmbH
Original Assignee
BOODENZEEUERUKU GEOJISUTEMU GmbH
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Publication date
Application filed by BOODENZEEUERUKU GEOJISUTEMU GmbH filed Critical BOODENZEEUERUKU GEOJISUTEMU GmbH
Publication of JPS564036A publication Critical patent/JPS564036A/ja
Publication of JPS636826B2 publication Critical patent/JPS636826B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光源から発したビーム束が被検試料
を通つて検出器に達し、フイルタ装置によつて、
異なつたスペクトル透過度を有する2個のフイル
タが、交互にビーム束のビーム路中に可動である
ようにした被検試料の吸光度測定計測器用の信号
評価回路であつて、前記検出器からは、2つの成
分を含む検出器信号が送出され該両成分のうち一
方の成分は、両フイルタのうち一方がビーム束の
ビーム路中にある時、検出器に当たるビームに基
づく基準信号を形成し、検出器信号の他方の成分
は、2個のフイルタのうち他方がビーム束のビー
ム路中にある時、測定信号を形成し、前記信号評
価回路は、積分回路と該積分回路の出力信号の供
給される対数化回路と、該対数化回路の出力信号
が供給可能である第1と第2の蓄積回路と、逐次
制御回路と差動増幅器とを有しており、逐次制御
回路から供給される制御信号によつて、検出器信
号は実質的に上記基準信号を印加接続可能ならし
める基準時間間隔ないし実質的に上記測定信号を
印加接続可能ならしめる測定時間間隔の間、積分
回路に供給可能であり、各基準ないし測定時間間
隔の後、対数化回路の出力信号は、第1ないし第
2の蓄積回路に伝送可能であり、ひき続いて、そ
のつど積分回路はリセツト可能であり、更に差動
増幅器は第1と第2の蓄積回路に蓄積された信号
を供給され、かつ出力信号を送出するようにした
信号評価回路に関する。
この計測器は、吸光度測定によつて被検試料中
の求める物質の濃度を決定するために使われ得
る。この目的のため、両フイルタのうちの1方
は、求める物質の吸収バンドと重なる波長領域を
透過させ、他方のフイルタは、求める物質の吸収
バンドの外側にある領域を透過させる。後者のフ
イルタがビーム束のビーム路中に位置する時、バ
ツクグランド吸収の考慮、あるいは光源光度ない
し検出器感度の変動を考慮する基準信号が得られ
る。前者のフイルタがビーム束のビーム路中に位
置する時、被検試料によるビームの吸光度、ひい
ては被検試料中の求める物質の濃度に依存する測
定信号が、検出器に得られる。
前述のような公知の装置において、基準信号と
測定信号は、次のようにして得られる。すなわ
ち、検出器信号はフイルタ装置と同期して、基準
時間間隔の間と測定時間間隔の間積分され、その
際積分値は基準信号に対する、ないし測定信号に
対する尺度を与える。吸光度は理想的状態におい
て、基準信号と測定信号の比の対数、ないしこの
両信号の対数の差に等しい。その時、この吸光度
は求める物質の濃度に比例する。
しかし、このことが云えるのはベールの法則が
成立つことを前提としている。多くの物質ではこ
のベールの法則とのずれがある。つまり、対数化
された積分値の差形成によつて得られる出力信号
が、濃度と非線形的関係になり、これにより、測
定に著しい困難が生じる。
赤外線ビームの領域にて動作する計測器におい
ては、さらに計測器の各部分からも放射される固
有輻射による、測定結果への影響が生ずる。さら
にフイルタを透過する各ビーム領域において当該
フイルタの透過度が、大きさの点で両フイルタに
ついて異なるものとなることによる影響もある。
本発明の課題は、冒頭に述べた計測器のための
信号評価回路を、1方では固有輻射と“フイルタ
因子”とからの影響を補償することができ、他方
ではベールの法則とのずれがあつても、求める被
検試料の濃度と直線的関係を有する出力信号が得
られるように構成することにある。
本発明によると、この課題は以下のようにして
解決される。すなわち、 (a) 積分回路の入力側にて、基準ないし測定時間
間隔の間それぞれ調整可能な補正電圧が、検出
器信号に重畳され、 (b) 検出器信号がフイルタ装置と同期して交互
に、上記の基準信号の導かれる一方のチヤネル
と、上記の測定信号の導かれる他方のチヤネル
との切換わる2つの並列なチヤネル36,38
を経て積分回路10の入力側30に供給され、
前記チヤネルはそれぞれ抵抗40,42と制御
スイツチ44,46とを有しており、 (c) 前記抵抗のうち少なくとも1つが調整可能で
あり、また (d) 被制御スイツチを基準時間間隔の間、1方の
スイツチが、また測定時間間隔の間、他方のス
イツチが導通するように逐次制御回路により制
御されるように構成し、その際補正電圧と調整
可能な抵抗の調整を各装置部分の固有輻射とフ
イルタの異なつた透過度、ないしベールの法則
による吸光度のずれを考慮して、出力信号と濃
度の間の関係が大体において直線的になるよう
なものにするのである。
積分回路の入力側にて基準ないし測定信号へ調
整可能な調整電圧を重畳することによつて、ベー
ルの法則とのずれを生ずる吸光度―濃度―特性曲
線の曲がり特性が補償されうる。その際ひき起こ
される零点のオフセツトは、検出器により積分回
路の入力側に供給される各信号の比を変化させる
ことによつて補償される。
その場合そのような比の変化を次のように選定
した一定のフアクタだけ変化させて対数化させる
のである。すなわち対数化回路の出力信号が、濃
度の関数として表わされた座標においてその原点
を通る、つまり濃度零の時、出力信号も零になる
ように選定する。
それに対して同じ調整電圧を、装置の各構成部
分からの固有輻射の影響を補償するために用い得
る。その時、前述の直線化が、固有輻射の影響に
対して“欠点を伴う補償”にもかかわらず達成さ
れる。
同様にして、積分回路の入力側へと通ずるチヤ
ネルの1つにおける調整可能な抵抗の調整が、
“フイルタ因子”を考慮するために使用される。
ここにおいても、“欠点を伴う補償”にもかかわ
らず、直線的な濃度―出力信号特性が座標原点を
通るようにすることが達成できる。
本発明の、その他の実施例を特許請求の範囲第
2項に記載した。
次に本発明を図示の実施例を用いて詳細に説明
する。
信号評価回路は、被検試料の吸光度測定用計測
器(図示せず)に対して配置されており、この計
測器において光源から発したビーム束は、被検試
料を通つて検出器に達し、フイルタ装置によつ
て、異なつたスペクトル透過度を有する2個のフ
イルタは、交互にビーム束のビーム路中に可動で
ある。その時検出器に、2つの成分を含む検出器
信号が生ずる。第1の成分は、両フイルタのうち
の1つがビーム束のビーム路中にある時、検出器
に当たるビームに基づく。この成分を“基準信
号”と呼ぶ。検出器信号の第2の成分は、2個の
フイルタのうちのもう1方がビーム束のビーム路
中にある時、生じる。この成分を“測定信号”と
呼ぶ。その際被検試料は、きわだつた吸収バンド
を有する物質を含み、第2のフイルタはこの吸収
バンドの領域において透過性を示すものと、仮定
されている。従つて測定信号は、被検試料中の吸
収性物質の濃度の測定値を与える。第2のフイル
タは、求める被検試料の吸収バンドの外で透過性
を示す。このフイルタは、求める物質により影響
を及ぼされないまたはほとんど影響を及ぼされ
ず、よつて基準として使われる信号を与える。
信号評価回路は、リセツト可能な積分回路10
を有し、この積分回路に検出器信号は、基準時間
間隔の間と測定時間間隔の間、フイルタ装置と同
期して印加される。よつて、測定値は、固定の時
間間隔にわたつての検出器信号の積分をすること
によつて得られる。その際1方の時間間隔の間、
実質的に基準信号が、また他方の時間間隔の間
は、主として測定信号が有効となる。積分回路の
出力信号は対数化回路12に供給される。対数化
回路12の出力信号は、第1と第2の蓄積回路1
4ないし16に印加されうる。逐次制御回路18
は、制御信号を供給し、この信号によつて検出器
信号は、基準時間間隔と測定時間間隔との間、積
分回路10に供給可能であり、各基準ないし測定
時間間隔の後毎に、対数化回路12の出力信号
は、第1ないし第2の蓄積回路14ないし16に
伝送可能である。ひき続いて積分回路10は、逐
次制御回路の制御信号によつて、そのつど零にリ
セツトされる。差動増幅器20は、蓄積回路14
と16とに蓄積された信号を供給され、出力側2
2に出力信号を送出する。
積分回路10は、演算増幅器24を有し、この
増幅器の出力側26は、コンデンサ28を経て反
転入力側30と接続されている。非反転入力側3
2は、アースされている。積分回路10は、コン
デンサ28と並列に配置されたスイツチ34によ
つてリセツト可能である。検出器信号は、積分回
路10の入力側30に、2つの並列なチヤネル3
6,38を経て供給され、このチヤネルはそれぞ
れ抵抗40ないし42と、制御スイツチ44ない
し46を有する。前記抵抗40と42のうち少な
くとも1つが、図示の実施例では抵抗42が調整
可能である。
さらに積分回路10の入力側に線路48を経
て、基準ないし測定時間間隔の間、検出器信号に
重畳される調整可能な補正電圧が印加される。制
御スイツチ44と46は、逐次制御回路18によ
つて制御され、基準時間間隔の間1方のスイツチ
が、また測定時間間隔の間、他方のスイツチ44
ないし46が導通する。
調整可能な補正電圧は、アース電位に対して正
の電位と、アース電位に対して負の電位との間に
あるポテンシオ・メータ50ないし52のそれぞ
れにおいて取り出される。ポテンシオ・メータ5
0,52の摺動子は、それぞれスイツチ54ない
し56と、抵抗58ないし60を経て、さらに線
路48を経て積分回路の入力側30と接続されて
いる。スイツチ54と56は、逐次制御回路18
によつて、制御スイツチ44と46の1つずつと
同期して検出器信号に対して閉じるように制御可
能である。この場合、破線62ないし64によつ
て示されているように、スイツチ54はスイツチ
44と同期して、またスイツチ56はスイツチ4
6と同期して閉じられる。
対数化回路12の出力側66は、スイツチ68
を経て蓄積回路14と、またスイツチ70を経て
蓄積回路16と接続される。
スイツチ68と70は、同じく逐次制御回路に
よつて制御される。制御は次のようにして行なわ
れる。すなわち、基準時間間隔の間、スイツチ4
4は閉じられ、スイツチ34は開かれる。積分回
路10は、基準信号を基準時間間隔にわたつて積
分する。基準時間間隔の終りに、スイツチ44は
開かれる。積分回路10の出力側に現われる信号
は、対数化回路12によつて対数化される。スイ
ツチ68は、短時間閉じられ、その結果その信号
は、蓄積回路14に供給される。ひき続いてスイ
ツチ34は一時的に閉じ、それによつてコンデン
サ28は放電し、積分回路10は零にリセツトさ
れる。それから測定時間間隔の間、スイツチ46
は閉じられ、測定信号は、測定時間間隔にわたつ
て積分される。測定時間間隔の終りにスイツチ4
6は、開く。積分回路の対数化された出力信号
は、一時的に閉じられたスイツチ70を経て、蓄
積回路16に伝送される。この後に再び、一時的
にスイツチ34は閉じ、積分回路10を零にリセ
ツトする。
ポテンシオ・メータ50,52と調整可能な抵
抗42の調整が次のように行なわれる、即ち、各
装置部分の固有輻射と、フイルタの異なつた透過
度ないしベールの法則による吸光度の偏差を考慮
して、出力側22の出力信号と被検試料中の求め
る物質の濃度との間の大体において直線的関係が
得られるようにするのである。
【図面の簡単な説明】
図は、本発明による信号評価回路の略図であ
る。 10…積分回路、12…対数化回路、14,1
6…蓄積回路、18…逐次制御回路、20…差動
増幅器、50,52…ポテンシオ・メータ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光源から発したビーム束が被検試料を通つて
    検出器に達し、フイルタ装置によつて、異なつた
    スペクトル透過度を有する2個のフイルタが、交
    互にビーム束のビーム路中に可動であるようにし
    た被検試料の吸光度測定計測器用の信号評価回路
    であつて、前記検出器からは、2つの成分を含む
    検出器信号が送出され該両成分のうち一方の成分
    は、両フイルタのうち一方がビーム束のビーム路
    中にある時、検出器に当たるビームに基づく基準
    信号を形成し、検出器信号の他方の成分は、2個
    のフイルタのうち他方がビーム束のビーム路中に
    ある時、測定信号を形成し、前記信号評価回路
    は、積分回路と該積分回路の出力信号の供給され
    る対数化回路と、該対数化回路の出力信号が供給
    可能である第1と第2の蓄積回路と、逐次制御回
    路と差動増幅器とを有しており、逐次制御回路か
    ら供給される制御信号によつて、検出器信号は実
    質的に上記基準信号を印加接続可能ならしめる基
    準時間間隔ないし実質的に上記測定信号を印加接
    続可能ならしめる測定時間間隔の間、積分回路に
    供給可能であり、各基準ないし測定時間間隔の
    後、対数化回路の出力信号は、第1ないし第2の
    蓄積回路に伝送可能であり、ひき続いて、そのつ
    ど積分回路はリセツト可能であり、更に差動増幅
    器は第1と第2の蓄積回路に蓄積された信号を供
    給され、かつ出力信号を送出するようにした信号
    評価回路において、 (a) 積分回路10の入力側30にて、基準ないし
    測定時間間隔の間それぞれ、調整可能な補正電
    圧が検出器信号に重畳され、 (b) 検出器信号がフイルタ装置と同期して交互
    に、上記の基準信号の導かれる一方のチヤネル
    と、上記の測定信号の導かれる他方のチヤネル
    との切換わる2つの並列なチヤネル36,38
    を経て積分回路10の入力側30に供給され、
    前記チヤネルはそれぞれ抵抗40,42と制御
    スイツチ44,46とを有しており、 (c) 前記抵抗のうち少なくとも1つ42が、調整
    可能であり、 (d) 被制御スイツチ44,46を基準時間間隔の
    間、1方のスイツチが、また測定時間間隔の
    間、他方のスイツチが導通するように逐次制御
    回路18により制御されるように構成し、 その際補正電圧と調整可能な抵抗42のそれぞれ
    の調整度を各装置部分の固有輻射とフイルタの異
    なつた透過度、ないしベールの法則による吸光度
    のずれを考慮して、出力信号と濃度との間の関係
    が実質的に直線的になるようなものにすることを
    特徴とする、被検試料の吸光度測定計測器用の信
    号評価回路。 2 (a) 調整可能な補正電圧が、各ポテンシオ・
    メータ50,52から取り出され、該ポテンシ
    オ・メータはアース電位に対する正の電位とア
    ース電位に対して負の電位(+U、−U)との
    間に配置され、 (b) ポテンシオ・メータ50,52の摺動子は、
    それぞれスイツチ54,56と抵抗58,60
    を経て、積分回路10の入力側30と接続され
    ており、 (c) スイツチ54,56は逐次制御回路18によ
    つて、検出器信号に対する被制御スイツチ4
    4,46の1つずつと同期して閉じるように制
    御可能である、特許請求の範囲第1項記載の信
    号評価回路。
JP7843580A 1979-06-15 1980-06-12 Signal evaluation circuit for absorbance measuring instrument Granted JPS564036A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19792924131 DE2924131A1 (de) 1979-06-15 1979-06-15 Signalauswerterschaltung fuer ein messgeraet zur messung der extinktion

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS564036A JPS564036A (en) 1981-01-16
JPS636826B2 true JPS636826B2 (ja) 1988-02-12

Family

ID=6073255

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7843580A Granted JPS564036A (en) 1979-06-15 1980-06-12 Signal evaluation circuit for absorbance measuring instrument

Country Status (3)

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EP (1) EP0020877B1 (ja)
JP (1) JPS564036A (ja)
DE (2) DE2924131A1 (ja)

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Also Published As

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EP0020877B1 (de) 1983-08-31
JPS564036A (en) 1981-01-16
DE3064679D1 (en) 1983-10-06
EP0020877A1 (de) 1981-01-07
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