JPS6359951A - ハイパ−サ−ミア装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、癌や悪性腫瘍等に効果あるものと期待され
ている温熱療法（ハイパーサーミア）を行なうための装
置に関する。

従来の技術 ハイパーサーミアでは、癌などのターゲラｉ・を４３〜
４５℃程度に加温することが、その治療効果を達成する
上で重要である。他方、正常組織についてはなるべく温
度−ｈ−ｉさせないようにする必要があり、温度測定お
よび温度コントロールが大きな課題となっている。

従来のハイパーサーミア装置では、生体にサーミスタ等
の温度計を刺し入れて温度を測定しているので、有限個
の点について温度の測定ができるにすぎず、２次元（而
）での温度分布をとらえることは鰺しいばかりか、生体
に傷を４−Ｊけるという点で問題である。

そこで、これらに鑑み、たとえば特願昭６０−１８８１
７７号公報や特願昭６１−１３９５５号公報などにおい
て提案がなされている。前者は、加温ビームを斜めに横
断するよう断層面を定め、この断層面でのＸ線ＣＴ像や
ＮＭＲ像を撮影するとい〉ものである。後者は、加温用
Ｍｉａ波プローブの機械的保持機構から得たプローブの
機械的位ｎを示す信号にもとづいて超音波の集束点を計
算するというものである。

発明が解決１．ようとする問題点 しかし、これらの提案は、なるほど生体に対しノ１侵郭
的なものではあるが、曲名では単に加温ビームの通過位
置を確認するというだけにすぎず、後者ではプローブの
機械的位置から超音波集束点を棺定する域を出ない。す
なわち、これらは、温度を１〔１接測定するものではな
く、間接的な観測にとどまり、温度の２次元分布の測定
には程遠いものとなっている。生体各部が実際にどれ位
の温＋８．にな−）でいるかを確認することはできず、
ターゲントが所定の温度にまでなっていないことや、あ
るいはターゲット以外の部分にホットスポ７１・がノ１
して火傷の危険があること等までは到底知り１！ｊ　Ｊ
：　”）がないものである。

この発明は、最も適切な断面での温度の２次元分布をノ
１侵襲に測定できるハイパーサーミア装置を提供するこ
とを目的とする。

問題点を解決するための１段 この発明によるハイパーサーミア装置は、断層撮影装置
と、該断層撮影装置において得られた断層像から温度分
布像に変換する温度計算装置と、−に記断層撮影装置の
断層面により加温ビームが実質的に縦断されるような位
置・方向に設定される加温用アプリケータと、−上記温
度分４ｊ像を表示する表示装置とを備えるつ 作　　　　用 断層撮影装置において得られた断層像から温度を求めて
いるので、２次元的な潟Ｉｆ分布を測定することができ
る。しかもこの温ＩＰｊ分布像を求める断面は、断層撮
影装置で撮影する断面であり、この断面は、加温ビーム
を実質的に縦断するような位置関係となっている。

１、たがって、加温ビ・−ムの主な通過領域が含まれる
断面での２次元的な温度分布像を非侵襲に測定でき、加
温ビームによる加温の状況をより広い範囲で、より適確
に把握することができる。

そのため、ターゲットが適温に加温されているか、ター
ゲット以外の部分でホットスポットが生じていないか、
等を確実に観測できる。

実施例 第１図において、Ｘ１ＣＴ装置１のＸ線管１１と検出器
１２とに挟まれる領域に患者２が置かれ、Ｘ線’ｉ？ｌ
ｌと検出器１２とが患者２を中心に一体に回転すること
によって患者２の体軸に直角な患部２１を含む断面での
断層像が得られるようにされている。

加温用アプリケータ３１はマイクロ波や超音波等の加温
エネルギを放射して患者２の特定部位を加温するもので
、保持機構３２により特定の３次元的（ｘ、ｙ、ｚ方向
）位置に保たれ、所定の方向に向けられている。この位
置および方向は制御装置３３によって制御され、加温用
アプリケータ３１から放射される加温ビームが上記のＸ
線ＣＴ装置１の断層像を得る断面によって縦断されるよ
うなものとされている。すなわち、制御装置３３にはト
ラックポール等の座標および方向入力装置が備えられ、
これによりアプリケータの位置・方向を任意に定めるこ
とにより、加温ビームの中心軸がＬ記の断面上に乗るよ
うに加温用アプリケータ３１の位置・方向の設定がなさ
れる。

加温用アプリケータ３１には加温エネルギ発生装置３４
から加温エネルギが供給される。Ｘ線ＣＴ装置ｌから得
られた断層像（のデータ）はＣＰＵ　３５に入力され、
ＣＲＴ３７によって第３図Ａ、Ｈのように表示される。

温度計算装置３６は、加温前と後での断層像データ（各
画素におけるＣＴ値）の変化により−Ｌ昇した温度を求
める。すなわち、ＣＴ値と温度との間には第２図に示す
ような直線的な関係があるため、これを利用して温度を
求める。加温前の断層像（第３図Ａ）から加温後の断層
像（第３図Ｂ）を減算することのよって温度分布像が求
められ、これがＣＲＴ３７によって第３図Ｃのように表
示される。

加温ビームパターン発生装置３８は、第３同各図に示し
た矢印などの加温ビームを表わすためのパター　ンを発
生ずるものである。加温用アプリケータ３１の実際の位
置番力向を検出するエンコータが保持機構３２に備えら
れでおり、その検出値Ｕ−Ｈ−が制御装置３３を介して
この加温ビームパターン発生装置３８に送られてきてお
り、この検出値１；に応１じて、このパターンの表示面
子での位置・方向が制御される。このパターンは第３図
Ｃのように温ＩＷ分布像に重ねて表示されるため、加温
１１１」と後の画像の減算によって輪郭等が失われ分り
ずらくなっている温度分布像での位置関係の把握に投ず
１っている。加温前または後の画像においても第３図Ａ
、Ｈのようにこのパターンを表示することによって加温
ビームが患部２１からずれていないかの確認もできる。

第３図りのように、この温度の４ｊ像に、表示色を違え
て（たとえば千ノクロで）加温前の断層像を重ねて表示
することもでき、こうすることによって温度分布の断層
像上での位置関係をより［「確にとらえることができる
。

ｔお、Ｘ線ＣＴ装＠　１　ｋ−オイ”’Ｃ５Ｘ線ｖ１１
と検出器１２とを−・体に保持して回転させるための図
示しないフレーム等に保持機構３２を取り付けて、これ
らと−・体に加温用アプリケータ３ｊを回転させるよう
に１″れば、加温ビーノ、の患者２への入射位置が移動
していくので表面部分にホットスポットが生じることを
避＋１にとができる。

１−記では断層撮影装置としｃ　５％　３１＋代（Ｒｏ
ｔａｔｅ−Ｒｏｔａｔｅ方式）のＸ線ｅＴ装置１を用い
たが、他の方式のＸ線ＣＴ装置はもちろん、超音波式あ
るいはマイクロ波式の断層撮影装置や、ＮＭＲ（核磁気
共鳴）を利用した断層撮影装置などを使用することがで
きるや 発明の効果 この発明によれば、加温ビームを縦断するような断面に
おける広い範囲の温度分布を非侵襲的に測定することが
できて、患部が所定の温ＪＲに加温されており旧つ他の
部分が無用に加温されていないことを容易に確認できる
。そのため、癌等の／＼イパーサーミアを安全に［１つ
効果的に実施することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例のプロｙり図、第２図は温
度とＣＴ値との関係を表わすグラフ、第３図Ａ、Ｂ、Ｃ
，Ｄは表示された画像を表わす図である。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）　断層撮影装置と、該断層撮影装置において得ら
   れた断層像から温度分布像に変換する温度計算装置と、
   上記断層撮影装置の断層面により加温ビームが実質的に
   縦断されるような位置・方向に設定される加温用アプリ
   ケータと、上記温度分布像を表示する表示装置とを備え
   るハイパーサーミア装置。
2. （２）　加温ビームパターンを発生する装置と、該加温
   ビームパターンを上記加温用アプリケータの位置・方向
   に応じて制御し上記表示装置において温度分布像に重ね
   て表示させる装置とをさらに備えることを特徴とする特
   許請求の範囲第１項記載のハイパーサーミア装置。