JPS6359249B2 - - Google Patents
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- JPS6359249B2 JPS6359249B2 JP54096107A JP9610779A JPS6359249B2 JP S6359249 B2 JPS6359249 B2 JP S6359249B2 JP 54096107 A JP54096107 A JP 54096107A JP 9610779 A JP9610779 A JP 9610779A JP S6359249 B2 JPS6359249 B2 JP S6359249B2
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体集積回路等の半導体装置の製
造の全自動化を可能にするウエハ自動処理装置に
関する。更に詳しくは、種々の加工・処理を行う
製造装置の間を、ウエハをカセツトに収容した状
態で移送する手段を含む全自動化処理システム
(装置)に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an automatic wafer processing apparatus that enables full automation of manufacturing of semiconductor devices such as semiconductor integrated circuits. More specifically, the present invention relates to a fully automated processing system (apparatus) that includes means for transporting wafers housed in cassettes between manufacturing apparatuses that perform various processing and processing operations.
半導体装置を製造するために一般に、熱処理
炉、イオン注入装置、真空蒸着装置、マスクアラ
イナ等各種製造装置が用いられている。これらの
製造装置の個々の自動化については、これまでに
多くの提案がなされ、また市販されているものも
少なくない。したがつて、これらの自動製造装置
相互間のウエハ移動が自動化されれば、半導体装
置製造の全工程を通しての自動化が実現する。
2. Description of the Related Art Various manufacturing equipment such as a heat treatment furnace, an ion implanter, a vacuum evaporator, and a mask aligner are generally used to manufacture semiconductor devices. Many proposals have been made to date for the automation of these manufacturing devices, and many are commercially available. Therefore, if the movement of wafers between these automatic manufacturing apparatuses is automated, automation of the entire process of semiconductor device manufacturing will be realized.
このような装置としての第1の従来例として、
たとえば、雑誌“エレクトロニクス”(47巻、23
号、1974年発行、マツクグローヒル社、米国)に
述べられている自動エピタキシヤルラインがあ
る。このラインはベルトコンベヤに類似なウエハ
移送用通路によりウエハを自動的に送るようにな
つている。しかしこのようなベルトコンベヤ式ウ
エハ移送手段にあつては、ウエハ移送通路に沿つ
て各工程順に、所定の自動製造装置または自動検
査装置等を配置する必要がある。このため製造品
種の変更等により工程順序を変更するには、その
都度装置の配置を変えなくてはならないという欠
点(問題点)があつた。 As a first conventional example of such a device,
For example, the magazine “Electronics” (vol. 47, 23
No. 1, published in 1974, by Matsuku Gro-Hill, Inc., USA). The line automatically transports wafers through a wafer transport path similar to a belt conveyor. However, in the case of such a belt conveyor type wafer transfer means, it is necessary to arrange a predetermined automatic manufacturing device, automatic inspection device, etc. along the wafer transfer path in the order of each process. For this reason, there was a drawback (problem) that when changing the process order due to changes in manufacturing types, etc., the arrangement of the equipment had to be changed each time.
また同じ工程が繰返しおこなわれる場合、当該
工程を処理する自動製造装置を工程の繰返し回数
に相当する台数だけウエハ移送路に沿つて配置す
るか、あるいは枝分れしたウエハ移送路により、
工程が繰返されるごとに、当該工程を処理する自
動製造装置にウエハを戻す作業を必要とする。即
ち上記第1の従来技術にあつては、全体の装置構
成が複雑になり、かつ融通性に欠ける不具合があ
る。このようなこともあり、これまでは全工程を
通しての自動化は困難であつた。 In addition, when the same process is repeated, the number of automatic manufacturing devices that process the process in question should be arranged along the wafer transfer path in a number equivalent to the number of times the process is repeated, or a branched wafer transfer path should be used.
Each time the process is repeated, it is necessary to return the wafer to the automatic manufacturing equipment that processes the process. That is, in the first conventional technique, the overall device configuration becomes complicated and there is a problem that flexibility is lacking. For this reason, it has been difficult to automate the entire process until now.
また、工程順が自由である自動製造装置の例と
して、第2の従来例として特開昭49−107678号公
報に記載の技術がある。これは、ベルトコンベア
方式を用いずに軌道により、任意の製造装置間を
任意の順序でウエハを移送することが可能である
が、この技術においては個々の製造装置間をウエ
ハピツクアツプと称される「ウエハを1枚水平に
保持する機構」を有するウエハキヤリツジにより
行つていた。このためウエハ1枚ずつの移送であ
るため極めて生産性が劣り、又、ウエハを水平に
保持して移送するため、ゴミ等の付着が生じやす
いという欠点があり、実用上問題があつた。 Further, as an example of an automatic manufacturing apparatus in which the order of steps is arbitrary, there is a technique described in Japanese Patent Application Laid-open No. 107678/1983 as a second conventional example. This technology allows wafers to be transferred between any manufacturing devices in any order using tracks without using a belt conveyor system, but in this technology, wafers can be transferred between individual manufacturing devices using a method called wafer pickup. This was done using a wafer carriage that had a "mechanism to hold one wafer horizontally." For this reason, productivity is extremely low because wafers are transferred one by one, and since the wafers are held and transferred horizontally, dust and the like tend to adhere to them, which is a practical problem.
また、半導体装置の製造に用いられる各種製造
装置自身の自動化については、カセツトに処理す
べきウエハを入れ、装置の所定の位置に装填すれ
ば自動的に処理され、処理されたウエハがカセツ
トに入つて所定の位置に戻されるようになつてい
るカセツト(処理)式装置が、スパツタリングお
よびCVD装置について知られている(Solid
State、Technology、1977年、7月号、27ペー
ジ、R.S.Rosler、W.C.Benzing、“Automation
in CVD Processing”)また、イオン注入装置、
露光装置、ドライエツチング装置等についてもカ
セツト処理式装置が既に市販されている。ここで
「カセツト」とは、「ウエハを多数枚垂直に保持す
る容器であつてウエハを保持するための溝が設け
られているもの」である。一般には、フツ化樹脂
製および金属製のものが市販のカセツト処理式製
造装置に用いられている。これらのカセツトは製
造装置へのウエハのロード、アンロード用ウエハ
収納容器であり、ウエハの破損等を防止する役割
を有するものであり、また製造管理の単位にもな
つている。フツ化樹脂製カセツトは耐薬品性があ
り、洗浄等の一括処理容器としても利用されてい
る。 Furthermore, with regard to automation of the various manufacturing equipment used to manufacture semiconductor devices, the wafers to be processed are placed in a cassette, loaded into a predetermined position in the equipment, and then processed automatically. Cassette-type devices, which are adapted to be folded and returned to position, are known for sputtering and CVD devices (Solid
State, Technology, July 1977, page 27, R.S.Rosler, WC Benzing, “Automation
In addition, ion implantation equipment,
As for exposure equipment, dry etching equipment, etc., cassette processing equipment is already commercially available. Here, the term "cassette" refers to a container that vertically holds a large number of wafers and is provided with grooves for holding the wafers. Generally, those made of fluoride resin and metal are used in commercially available cassette processing type manufacturing equipment. These cassettes are wafer storage containers for loading and unloading wafers into manufacturing equipment, have the role of preventing damage to wafers, and are also a unit of manufacturing control. Fluorinated resin cassettes are chemical resistant and are also used as containers for bulk processing such as cleaning.
また熱処理炉については、計算機による自動熱
処理炉が市販されているが、この場合、ウエハは
石英ボート上に搭載されるので、石英ボートを耐
熱性カセツトと見做し、カセツト処理式製造装置
と考えることができる。 Regarding heat treatment furnaces, automatic heat treatment furnaces using computers are commercially available, but in this case, the wafers are mounted on a quartz boat, so the quartz boat is regarded as a heat-resistant cassette, and the wafer is considered a cassette processing type manufacturing device. be able to.
従つて、カセツトを単位として各種製造装置
(イオン注入、露光、熱処理…等)間のウエハ移
送を行えば全自動の製造装置系が実現できるが各
カセツト(石英ボートも含む)の材質や溝のピツ
チが異なつている点及びウエハの厚さに対して、
溝の幅が広い為にウエハがある程度の自由度を有
して溝内に保持される(即ち、ウエハが傾斜して
保持される)ためウエハを溝から取り出す際に、
カセツトの溝位置を基準とした取り出し機構が採
用できない点等の問題があり、従来は、これらの
点を具体的に解決し、カセツトを単位とした移送
を行う全自動ウエハ処理装置は実現されていなか
つた。 Therefore, if wafers are transferred between various manufacturing equipment (ion implantation, exposure, heat treatment, etc.) using a cassette as a unit, a fully automated manufacturing equipment system can be realized, but the material and groove of each cassette (including quartz boats) Regarding the difference in pitch and wafer thickness,
Because the width of the groove is wide, the wafer is held in the groove with a certain degree of freedom (that is, the wafer is held at an angle), so when taking the wafer out of the groove,
There are problems such as the inability to adopt a take-out mechanism based on the groove position of the cassette, and in the past, fully automatic wafer processing equipment that specifically solves these problems and transfers cassettes as a unit has not been realized. Nakatsuta.
〔問題点を解決するための手段)
本発明は上記した従来技術における実情に鑑み
てなされたもので、その目的は半導体集積回路の
製造作業の全自動化を実現し、かつ各種製造装置
を含む全体の装置構成の簡易化を可能にするウエ
ハ自動処理装置を提供することにある。[Means for Solving the Problems] The present invention has been made in view of the actual situation in the prior art described above, and its purpose is to realize full automation of the manufacturing work of semiconductor integrated circuits, and to realize the entire automation including various manufacturing equipment. An object of the present invention is to provide an automatic wafer processing apparatus that enables the simplification of the apparatus configuration.
この目的を達成するために本発明は、半導体ウ
エハが収納されるカセツト、たとえば石英ボート
等の耐熱性カセツトおよび耐薬品性カセツトを含
む複数のカセツト相互間で半導体ウエハ積み替え
を自動的におこなうカセツト変換装置と、上記カ
セツトに収納された半導体ウエハを自動的に加工
処理する複数の製造装置と、上記カセツト変換装
置と上記製造装置との相互間に、あるいは上記製
造装置相互間にカセツトを移送する移送装置とを
備えた構成にしたものである。更に詳しくは、カ
セツト変換装置に光学的な溝の位置検出手段と、
その検出結果に基き、カセツトの位置を微動する
機構を設け、溝のピツチや位置が異なるカセツト
相互間においても、ウエハを溝に確実に挿入でき
る構成にしたものである。又、同じくカセツト変
換装置い真空吸着機能を有するアームを採用する
ことにより、ウエハの厚さに比べ大なる溝の幅を
有する溝内にウエハが保持された場合、ウエハが
傾斜して把持すべきウエハ上端部の位置が確定さ
れなくとも、強制吸着により確実にアームにより
把持され、もつて他のカセツトへの移し換えを可
能ならしめる構成をとつたものである。 To achieve this object, the present invention provides a cassette conversion system that automatically transfers semiconductor wafers between a plurality of cassettes containing semiconductor wafers, including heat-resistant cassettes such as quartz boats and chemical-resistant cassettes. A device, a plurality of manufacturing devices that automatically process semiconductor wafers stored in the cassettes, and a transfer device that transfers cassettes between the cassette conversion device and the manufacturing device, or between the manufacturing devices. The configuration includes a device. More specifically, the cassette conversion device includes optical groove position detection means;
Based on the detection results, a mechanism is provided to slightly move the position of the cassette, so that the wafer can be reliably inserted into the groove even between cassettes with different groove pitches and positions. Also, by adopting an arm with a vacuum suction function in the cassette converter, when a wafer is held in a groove whose width is larger than the thickness of the wafer, the wafer should be held at an angle. Even if the position of the upper end of the wafer is not determined, the wafer is reliably gripped by the arm by forced suction, thereby making it possible to transfer the wafer to another cassette.
上記の構成の作用・効果は、以下に述べる実施
例により明らかになろう。 The functions and effects of the above configuration will become clear from the examples described below.
以下、本発明のウエハ自動処理装置について詳
述する。まずはじめに半導体集積回路の製造の一
例としてN−MOSメモリ製造について説明し、
次いで本発明の概要および実施例について述べ
る。
The automatic wafer processing apparatus of the present invention will be described in detail below. First, we will explain N-MOS memory manufacturing as an example of semiconductor integrated circuit manufacturing.
Next, an outline and examples of the present invention will be described.
N−MOSメモリ製造工程は、大きく分けて、
(1)素子間分離膜形成工程、(2)ゲート酸化膜形成工
程、(3)ゲート電極形成工程、(4)ソース・ドレイン
形成工程、(5)多層配線形成工程、(6)パシベーシヨ
ン膜形成工程、等に分けられる。 The N-MOS memory manufacturing process can be broadly divided into
(1) Interelement isolation film formation process, (2) Gate oxide film formation process, (3) Gate electrode formation process, (4) Source/drain formation process, (5) Multilayer wiring formation process, (6) Passivation film formation It is divided into processes, etc.
そしてたとえば、(1)素子間分離膜形成工程は、
洗浄装置によるウエハ洗浄工程、熱処理炉に
よる乾燥酸素中での熱酸化工程、減圧CVD装
置による窒化膜形成工程、レジスト塗布、プレ
ベーク装置、露光装置およびレジスト現像、ポス
トベーク装置の一連の工程によるレジストパター
ン形成工程(すなわちリソグラフイ工程)、プ
ラズマエツチング装置による窒化膜および酸化膜
のパターニング工程、イオン注入装置によるチ
ヤネルストツプ用不純物注入工程、プラズマア
ツシヤ装置によるレジスト除去工程、再び洗浄
装置によるウエハ洗浄工程、熱処理炉によるウ
エツト酸素中での熱酸化工程(選択酸化法)、
プラズマエツチング装置による窒化膜および酸化
膜パターン除去工程等の一連の工程からなる。 For example, (1) the inter-element isolation film formation step is as follows:
Wafer cleaning process using cleaning equipment, thermal oxidation process in dry oxygen using heat treatment furnace, nitride film formation process using low pressure CVD equipment, resist coating, pre-bake equipment, exposure equipment, resist development, and resist patterning through a series of steps in post-bake equipment. Formation process (i.e. lithography process), patterning process of nitride film and oxide film using plasma etching equipment, impurity implantation process for channel stop using ion implantation equipment, resist removal process using plasma assuring equipment, wafer cleaning process using cleaning equipment again, heat treatment Thermal oxidation process in wet oxygen using a furnace (selective oxidation method)
It consists of a series of steps such as a nitride film and oxide film pattern removal step using a plasma etching device.
また(2)ゲート膜形成工程は、ウエハ洗浄工
程、乾燥酸素中熱酸化工程(ゲート酸化工程)
からなる。(3)ゲート電極形成工程は、減圧
CVD装置によるポリシリコン形成工程、レジ
ストパターン形成工程、プラズマエツチング装
置によるポリシリコン電極のパターニング工程か
らなる。(4)ソース・ドレイン形成工程は、イオ
ン注入工程、ウエハ洗浄工程からなる。(5)多層
配線形成工程は、常圧CVD装置により形成し
たリンドープシリケートガラス(PSG)膜形成
工程、リソグラフイエツチングによるA配線
形成工程からなる。(6)パシベーシヨン膜形成工程
は、CVD装置によるパシベーシヨン膜形成、
リソグラフイ、エツチング等よりなる。 (2) Gate film formation process includes wafer cleaning process, dry oxygen thermal oxidation process (gate oxidation process)
Consisting of (3) Gate electrode formation process is performed under reduced pressure.
The process consists of a polysilicon forming process using a CVD device, a resist pattern forming process, and a polysilicon electrode patterning process using a plasma etching device. (4) The source/drain forming process consists of an ion implantation process and a wafer cleaning process. (5) The multilayer wiring formation process consists of a phosphorus-doped silicate glass (PSG) film formation process formed using an atmospheric pressure CVD apparatus, and an A wiring formation process using lithographic etching. (6) Passivation film formation process includes passivation film formation using CVD equipment,
Consists of lithography, etching, etc.
したがつて、N−MOSメモリ製造ラインを構
成するには熱処理炉、減圧CVD装置、レジスト
塗布装置、露光装置、レジスト現像装置、プラズ
マエツチング装置、プラズマアツシヤ装置、イオ
ン注入装置、常圧CVD装置、A蒸着装置、有
機溶剤洗浄装置、酸洗浄装置等の各種の製造装置
が必要である。そして、先に述べたとおり、個々
の製造装置においては、カセツトからウエハを取
り出し、処理を行い、再びカセツトに戻すような
装置は市販されているので、全工程を通しての製
造プロセスの全自動化を実現するため、本願発明
においてはウエハをそれらの製造装置間にわたつ
てカセツトに収容して運ぶ移送装置と、移送装置
および各種の製造装置を集中管理し、工程順にウ
エハの収容されたカセツトを運搬する手順管理を
行う制御装置および異なるカセツト間のウエハの
積み替えを自動的に行うカセツト変換装置とをそ
なえた構成としたものである。 Therefore, an N-MOS memory manufacturing line consists of a heat treatment furnace, low pressure CVD equipment, resist coating equipment, exposure equipment, resist developing equipment, plasma etching equipment, plasma assembling equipment, ion implantation equipment, and atmospheric pressure CVD equipment. , A vapor deposition equipment, organic solvent cleaning equipment, acid cleaning equipment, and various other manufacturing equipment are required. As mentioned earlier, in individual manufacturing equipment, equipment that takes wafers out of a cassette, processes them, and then returns them to the cassette is commercially available, making it possible to fully automate the entire manufacturing process. Therefore, in the present invention, there is provided a transfer device for storing and transporting wafers in cassettes between these manufacturing devices, and a central control of the transfer device and various manufacturing devices, and transporting cassettes containing wafers in the order of processes. This system is equipped with a control device for managing procedures and a cassette conversion device for automatically transferring wafers between different cassettes.
第1図は本発明のウエハ自動処理装置の一実施
例を示す構成概略図で、この図はMOSLSIを自
動的に製造する装置を例示している。同図におい
て1〜8は半導体ウエハを自動的に加工処理する
カセツト処理式製造装置で、1は電気炉、2は減
圧CVD装置、3は常圧CVD装置、4はレジスト
塗布、露光、現像の一連の工程を処理するレジス
ト・パターン形成装置、5はイオン注入装置、6
はAスパツタリング装置、7はドライエツチン
グ装置、8は洗浄装置である。9はカセツト保管
庫、10はカセツト変換装置、11〜20はカセ
ツト装填機(後述)、21〜30はウエハ移送ス
テーシヨン(後述)、31はウエハ移送装置、3
1′は制御装置、31″は制御網である。ウエハは
カセツトに収容され、ウエハ移送機(後述)によ
つてウエハ移送装置31に沿つて運ばれ、必要な
処理をおこなう製造装置1〜8、又はカセツト保
管庫9、あるいはカセツト変換装置10に対応し
たウエハ移送ステーシヨン21〜30のいずれか
に送られる。ウエハの処理工程順序、処理条件等
は全て制御装置31′にあらかじめプログラム形
式で与えておき、また出発ウエハは、カセツトに
入れて、カセツト保管庫9に入れる。以上の準備
の後に、制御装置31′に処理の開始を指令する
と、制御装置31′はプログラムに従つて、先ず
保管庫9にある出発ウエハを製造装置1〜8のう
ちのどれかに移送することを移送装置31に指令
する。移送装置31は指令を受けると、ステーシ
ヨン29に行き、装填機19により保管庫9より
出発ウエハの入つたカセツトが移送装置31に載
せられる。次に、たとえば、ドライエツチング装
置7へカセツトが送られる場合について以下に説
明すると、まずカセツトはウエハ移送装置31に
載せられ、移送ステーシヨン27に送られる。送
られて来たカセツトは、カセツト装填機17によ
りドライエツチング装置7の所定の位置へ装填さ
れ、制御装置31′の指令により、自動的にウエ
ハが処理される。移送装置31の移送時間は制造
装置1〜8でウエハが処理される時間に比べ短い
ので、装填機17により移送してきたカセツトが
取られると、別な装置間の移送を行うことができ
る。従つて、複数の製造装置1〜8で並列して処
理が行え、処理の終つたウエハはどの装置へも自
由に移送できる。 FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of an automatic wafer processing apparatus of the present invention, and this figure illustrates an apparatus for automatically manufacturing MOSLSI. In the figure, 1 to 8 are cassette processing manufacturing equipment that automatically process semiconductor wafers, 1 is an electric furnace, 2 is a low pressure CVD equipment, 3 is an atmospheric CVD equipment, and 4 is a resist coating, exposure, and development equipment. 5 is an ion implantation device; 6 is a resist pattern forming device that processes a series of steps;
A is a sputtering device, 7 is a dry etching device, and 8 is a cleaning device. 9 is a cassette storage; 10 is a cassette converter; 11 to 20 are cassette loading machines (described later); 21 to 30 are wafer transfer stations (described later); 31 is a wafer transfer device;
1' is a control device, and 31'' is a control network. Wafers are housed in cassettes and transported along a wafer transfer device 31 by a wafer transfer device (described later), and manufacturing devices 1 to 8 perform necessary processing. , the wafer storage 9, or one of the wafer transfer stations 21 to 30 corresponding to the cassette conversion device 10.The wafer processing order, processing conditions, etc. are all given in advance to the control device 31' in the form of a program. Then, the starting wafers are put into cassettes and put into the cassette storage 9. After the above preparations, when the control device 31' is commanded to start processing, the control device 31' first stores the wafers in the cassette storage 9 according to the program. The transfer device 31 is instructed to transfer the starting wafer at step 9 to one of the manufacturing devices 1 to 8. Upon receiving the instruction, the transfer device 31 goes to the station 29 and transfers the starting wafer from the storage 9 by the loading machine 19. A cassette containing starting wafers is placed on the transfer device 31. Next, for example, a case where the cassette is sent to the dry etching device 7 will be explained below. The sent cassette is loaded into a predetermined position of the dry etching device 7 by the cassette loading machine 17, and the wafer is automatically processed according to the command from the control device 31'.Transfer of the transfer device 31 Since the time required for processing wafers in the manufacturing apparatuses 1 to 8 is shorter, once the cassettes transferred by the loading machine 17 are taken, the cassettes can be transferred between different apparatuses. Processing can be performed in parallel in devices 1 to 8, and wafers that have been processed can be freely transferred to any device.
以上の説明では、ウエハの入つているカセツト
が、送り先の製造装置でそのまま使える場合につ
いて説明したが、次にカセツトの変換の必要な場
合について説明する。(この場合が本願の特長が
最も生かされる場合である。)例えば、ドライエ
ツチング装置7で処理の終つたウエハを電気炉1
へ移送する場合、ドライエツチング装置ではフツ
化樹脂性カセツトを用いるが、電気炉1では石英
ボートを使用するので、ウエハを石英ボートへ移
し替える必要がある。 In the above explanation, the case where the cassette containing the wafers can be used as is in the destination manufacturing equipment will be explained. Next, the case where the cassette needs to be converted will be explained. (This is the case where the features of the present application are most utilized.) For example, the wafer that has been processed in the dry etching device 7 is transferred to the electric furnace 1.
When transferring the wafer to a quartz boat, the dry etching apparatus uses a fluorinated resin cassette, but the electric furnace 1 uses a quartz boat, so it is necessary to transfer the wafer to the quartz boat.
一般に半導体製造工程においては、熱処理炉、
洗浄装置、マスクアライナ等の装置で、ウエハの
処理、運搬にそれぞれ石英、テフロン、金属のウ
エハ・カセツトを用いるが、この点に留意し、本
発明においては、これらの異なる材質のカセツト
間のウエハの積み替えを自動的に行うカセツト変
換装置を設けてある。(カセツト変換装置及びそ
の動作に関しては後に詳述する。)
従つて、本発明ではまずドライエツチング装置
7でウエハを処理中に、あらかじめ電気炉1より
空の石英ボートを移送装置31によりカセツト変
換装置10へ移送しておく。次に、処理の終つた
ウエハの入つているカセツトをカセツト変換装置
10へ移送し、カセツト変換装置10によりフツ
化樹脂性カセツトに入つているウエハを石英ボー
トに移み替える。次に、ウエハの入つた石英ボー
トをカセツト移送装置31により電気炉1へ移送
し、熱処理を行う。空になつたカセツトは保管庫
9へ移送し保管する。カセツト保管庫9は出発ウ
エハの入つたカセツトの保管や、一工程が終つて
次の処理を行う装置1〜8が空くのを待つための
一時保管等に用いると共に、カセツト変換に必要
な空カセツトの保管も行う。以上のようにして、
ウエハはカセツトに入れた状態で、製造装置1〜
8へ、制御装置31′のプログラムに従つて移送
され、自動的に加工処理され、半導体装置が作ら
れる。プロセスの異なる半導体装置を作るには、
プログラムを変更するだけで良く、製造装置の配
置順序には関係しない。 Generally, in the semiconductor manufacturing process, a heat treatment furnace,
In equipment such as cleaning equipment and mask aligners, wafer cassettes made of quartz, Teflon, and metal are used for processing and transporting wafers. A cassette converter is provided to automatically reload the cassettes. (The cassette converter and its operation will be described in detail later.) Therefore, in the present invention, first, while processing wafers in the dry etching device 7, an empty quartz boat is transferred from the electric furnace 1 to the cassette converter by the transfer device 31. Move it to 10. Next, the cassette containing the processed wafers is transferred to a cassette converting device 10, and the wafers contained in the fluorinated resin cassette are transferred to a quartz boat by the cassette converting device 10. Next, the quartz boat containing the wafers is transferred to the electric furnace 1 by the cassette transfer device 31 and heat-treated. Empty cassettes are transferred to storage 9 and stored there. The cassette storage 9 is used for storing cassettes containing starting wafers, temporary storage for waiting for equipment 1 to 8 to be used for the next process after one process is completed, and for storing empty cassettes necessary for cassette conversion. We also store. As above,
With the wafer in the cassette, the manufacturing equipment 1~
8, according to the program of the control device 31', and are automatically processed to produce a semiconductor device. To make semiconductor devices using different processes,
All you need to do is change the program, and it is not related to the order in which the manufacturing equipment is arranged.
第2図は上記した第1図に示すカセツト変換装
置の一実施例を示す概略図である。同図において
40は本体台、40′はカセツト変換制御部、4
1はフツ化樹脂カセツト部、42,43,44は
ウエハ移送トラツク、45はフアセツト検出部、
46は金属カセツト部、47はウエハ受台、48
は石英ボート部、49はウエハ移動アームであ
る。フツ化樹脂カセツト部41と金属カセツト部
46、およびウエハ移送トラツク42,43,4
4は市販されている公知のカセツト処理式製造装
置で用いられているものと同様であり、ウエハを
カセツトから1枚づつウエハ移送トラツク42,
43へ取出したり、ウエハ移送トラツク42,4
3からそれぞれのカセツトへウエハを1枚づつ収
納したりできる。フアセツト検出部45は、ウエ
ハ移送トラツク42,43,44から送られて来
たウエハを真空吸引によつて固定し、固定した台
とともにウエハを回転させてウエハのフアセツト
位置の検出および破損ウエハの検出を電気的にお
こなうものである。そして、破損ウエハを検出し
た場合には作業者を呼ぶためのブザーが発せられ
るようになつている。また、第2図中には各カセ
ツト、又は石英ボート中のウエハの収納状態を概
念的に示した。即ち、石英ボート48には紙面に
垂直な方向にウエハが収納され、カセツト41,
46には、紙面と平行な方向でウエハが保持され
るとともに、紙面に垂直な方向に複数枚のウエハ
が存在する様子を示す。 FIG. 2 is a schematic diagram showing an embodiment of the cassette converter shown in FIG. 1 described above. In the figure, 40 is the main body stand, 40' is the cassette conversion control unit, and 4
1 is a fluorinated resin cassette section; 42, 43, and 44 are wafer transfer tracks; 45 is a facet detection section;
46 is a metal cassette part, 47 is a wafer holder, 48
Reference numeral 49 indicates a quartz boat portion, and 49 a wafer moving arm. Fluorinated resin cassette section 41, metal cassette section 46, and wafer transfer tracks 42, 43, 4
4 is the same as that used in a known commercially available cassette processing type manufacturing apparatus, and the wafers are transferred one by one from a cassette to a wafer transfer track 42,
43, or the wafer transfer track 42, 4.
One wafer can be stored in each cassette from 3 onwards. The facet detection unit 45 fixes the wafers sent from the wafer transfer trucks 42, 43, and 44 by vacuum suction, rotates the wafers together with the fixed table, and detects the facet position of the wafers and detects damaged wafers. This is done electrically. If a damaged wafer is detected, a buzzer is sounded to call an operator. Further, FIG. 2 conceptually shows the storage state of wafers in each cassette or quartz boat. That is, wafers are stored in the quartz boat 48 in a direction perpendicular to the plane of the paper, and the cassettes 41,
46 shows a state in which a wafer is held in a direction parallel to the plane of the paper, and a plurality of wafers are present in a direction perpendicular to the plane of the paper.
また、本体台40、ウエハ移動アーム49、カ
セツト変換制御部40′、石英ボート部48の一
部は互いに連結し、以下に示すように石英ボート
へのウエハ挿入装置(第2−1図)及び石英ボー
トからのウエハ取り出し装置(第2−2図)を構
成する。 Further, the main body stand 40, wafer moving arm 49, cassette conversion control section 40', and a part of the quartz boat section 48 are connected to each other, and as shown below, a wafer insertion device into the quartz boat (Fig. 2-1) and a quartz boat section 48 are connected to each other. A device for taking out wafers from a quartz boat (Fig. 2-2) is constructed.
第2−1図は、石英ボートへウエハを入れる装
置(ウエハ挿入装置)の説明図であり、48−2
は石英ボート、48−2′はウエハ溝、48−4
は投光器、48−5は受光器である。ウエハの入
つていない石英ボート48−2を一方から他方へ
動かし、投光器48−4の反射光を受光器48−
5で受け、その信号変化をカセツト変換制御部4
0′で解析し、全ての溝48−2′の位置をカセツ
ト変換制御部40′に記憶させる。 Figure 2-1 is an explanatory diagram of a device (wafer insertion device) for inserting wafers into a quartz boat;
is a quartz boat, 48-2' is a wafer groove, 48-4
48-5 is a light projector, and 48-5 is a light receiver. The quartz boat 48-2 containing no wafers is moved from one side to the other, and the reflected light from the emitter 48-4 is sent to the receiver 48-.
5, and the signal change is sent to the cassette conversion control section 4.
0', and the positions of all grooves 48-2' are stored in the cassette conversion control section 40'.
このようにして、石英ボート48−2の溝位置
が正確に記憶されたので、カセツト変換制御部4
0′と連接する真空ピンセツト49−1(第2図
参照、第2−1図中には略記する。)によりウエ
ハを把持し、所定の溝位置に1枚ずつ挿入する。
この場合、石英ボート48−2を記憶された溝位
置情報に応じて1ピツチずつ移動して、必要なす
べてのウエハの挿入を終了する。 In this way, since the groove position of the quartz boat 48-2 is accurately memorized, the cassette conversion control section 4
The wafers are gripped by vacuum tweezers 49-1 (see FIG. 2, omitted in FIG. 2-1) connected to 0' and inserted one by one into predetermined groove positions.
In this case, the quartz boat 48-2 is moved one pitch at a time according to the stored groove position information to complete the insertion of all necessary wafers.
なお、この場合、他の材質からなるカセツトか
らウエハを取り出し、真空ピンセツト49−1で
把持できる位置まで持つてくる必要がある。これ
らの動作は、第2図に示すウエハ受台47、ウエ
ハ移送トラツク44及び制御部40′により行わ
れる。 In this case, it is necessary to take out the wafer from a cassette made of another material and bring it to a position where it can be gripped by the vacuum tweezers 49-1. These operations are performed by the wafer pedestal 47, wafer transfer track 44, and control section 40' shown in FIG.
即ち、石英ボートへのウエハの出し入れは、真
空ピンセツトの付いたウエハ移動アーム49によ
つて、石英ボート部48に設置してある石英ボー
トとウエハ受台47の間を、ウエハを1枚ずつ移
動させることによりおこなう。ウエハ受台47が
ウエハ移送トラツク44からウエハを受けたり、
ウエハ移送トラツク44へウエハを送り出す場合
は、ウエハ受台47のウエハを受ける面はウエハ
移送トラツク44と同一の平面にあるが、石英ボ
ートにはウエハが垂直に立てて収容してあるの
で、ウエハ受台47と石英ボート部48相互間の
ウエハの移動をおこなう場合は、ウエハ受台47
はウエハ移送トラツク44に接している側と反対
の側を軸にしてほぼ垂直になるように転動するよ
うになつている。第2図の47−1が転動軸であ
る。石英ボート部48は、制御装置に記憶させて
ある石英ボートのウエハを入れる溝のピツチに応
じて可動するようになつている。このようになつ
ているので、石英ボートからウエハを出したり、
石英ボートにウエハを装填する場合、石英ボート
からウエハが1枚出し入れされるごとに、石英ボ
ート部48は1ピツチづつ動き、次のウエハの出
し入れがウエハ移動アーム49により常に定位置
でおこなえる。 That is, when loading and unloading wafers into and out of the quartz boat, the wafers are moved one by one between the quartz boat and the wafer pedestal 47 installed in the quartz boat section 48 using a wafer moving arm 49 equipped with vacuum tweezers. This is done by letting The wafer pedestal 47 receives the wafer from the wafer transfer truck 44,
When sending wafers to the wafer transfer track 44, the wafer receiving surface of the wafer pedestal 47 is on the same plane as the wafer transfer track 44, but since the wafers are stored vertically in the quartz boat, the wafers are When moving a wafer between the pedestal 47 and the quartz boat part 48, the wafer pedestal 47
The rollers are adapted to roll approximately vertically with the side opposite to the side in contact with the wafer transfer track 44 as an axis. 47-1 in FIG. 2 is the rolling shaft. The quartz boat section 48 is movable in accordance with the pitch of the groove in the quartz boat into which the wafer is placed, which is stored in the control device. Because it is like this, you can take out the wafer from the quartz boat,
When loading wafers into the quartz boat, each time a wafer is loaded or unloaded from the quartz boat, the quartz boat section 48 moves one pitch at a time, and the next wafer can be loaded or unloaded at a fixed position by the wafer moving arm 49.
第2−2図は、石英ボートからのウエハの取り
出し装置の説明図であり、A〜Cはウエハ、4
0′はカセツト変換制御部、40−1は圧力セン
サ、40−2は真空ポンプ、48−1は石英ボー
ト部台、48−2は石英ボート、49−1は真空
ピンセツトである。 Figure 2-2 is an explanatory diagram of a device for taking out wafers from a quartz boat, and A to C are wafers;
0' is a cassette conversion control unit, 40-1 is a pressure sensor, 40-2 is a vacuum pump, 48-1 is a quartz boat unit, 48-2 is a quartz boat, and 49-1 is a vacuum tweezers.
このような構造になつているので、制御部4
0′により、石英ボートの取り出すべきウエハの
入つている溝の位置を、真空ピンセツト49−1
が設けられているウエハ移動アーム49の位置ま
で持つてくる。この場合、溝の幅が広い為にウエ
ハが傾斜し、把持すべき上端部が溝の垂直延長上
にない場合、例えばAのごとく傾斜していても真
空吸着によりウエハを吸い寄せることができ、B
の様に真空ピンセツト49−1により把持でき
る。この場合、Aの状態とBの状態では圧力セン
サ40−1の値が変化するので、これを検知する
ことにより、ウエハ移動アームの移動を開始して
良いという指令を制御部40′から出すことによ
り、ウエハを石英ボートから取り出せる。取り出
したウエハは第2図に示す、ウエハ受台47の定
位置までもつて来て、ほぼ垂直に立つているウエ
ハ受台47に入れられる。次にウエハ受台47を
ウエハ移送トラツク44と同一平面になるまで回
動させ、ウエハ受台47からウエハをウエハ移送
トラツク44に送り出し、このウエハはフアセツ
ト検出部45を経て、フツ化樹脂カセツト部41
または金属カセツト部46のいずれに送られ、カ
セツトに収容される。以上の動作を繰返しおこな
うことによつて、石英ボートに収容されていたウ
エハが順次フツ化樹脂カセツトまたは金属カセツ
トに移し替えられる。 With this structure, the control section 4
0', position the groove in the quartz boat containing the wafer to be taken out using the vacuum tweezers 49-1.
The wafer is brought to the position of the wafer moving arm 49 where the wafer is provided. In this case, if the wafer is inclined because the width of the groove is wide and the upper end to be gripped is not on the vertical extension of the groove, the wafer can be attracted by vacuum suction even if it is inclined as shown in A, for example. B
It can be grasped with vacuum tweezers 49-1 as shown in FIG. In this case, since the value of the pressure sensor 40-1 changes between state A and state B, by detecting this, the control unit 40' issues a command to start the movement of the wafer moving arm. The wafer can be removed from the quartz boat. The taken-out wafer is brought to a fixed position on a wafer pedestal 47 shown in FIG. 2, and placed in the wafer pedestal 47, which stands approximately vertically. Next, the wafer pedestal 47 is rotated until it is flush with the wafer transfer track 44, and the wafer is sent from the wafer pedestal 47 to the wafer transfer track 44, and the wafer passes through the facet detection section 45 and is transferred to the fluorinated resin cassette section. 41
or to the metal cassette section 46 and accommodated in the cassette. By repeating the above operations, the wafers housed in the quartz boat are sequentially transferred to the fluorinated resin cassette or the metal cassette.
なお、第2−2図に示すCのように、Aとは逆
方向にウエハが傾斜している場合であつても、石
英ボートを矢印のように移動して行くので、真空
ピンセツト49−1に接触すればBの状態にな
り、吸着されるので同様に取り出すことが可能で
ある。 Note that even if the wafer is tilted in the opposite direction to A as shown in C shown in FIG. 2-2, the quartz boat is moved in the direction of the arrow, so the vacuum tweezers 49-1 When it comes into contact with the object, it becomes state B and is adsorbed, so it can be taken out in the same way.
次に、ウエハを収容したカセツトの移送機構に
ついて説明する。 Next, a mechanism for transporting a cassette containing wafers will be explained.
第3図は上記したカセツト移送機の一実施例を
示す説明図で、ことにa図は側面図、b図は正面
図を示す。これらの図において、50は移送機本
体、51は振れ止め金具、52は昇降台収納部、
53は昇降用モータ、54は昇降ベルト、55は
昇降用主プーリ、56は軌道(カセツト移送通
路)、57は防塵カバー、58,59はベルト押
え、60は制御部、61は軌道56に係合する走
行車輪、62は昇降用副プーリ、63はカセツト
を収納する収納ケース、64は昇降合、65は防
塵ダクト、66は軌道56を支える支柱、67は
支柱66に軌道56を取付ける取付金具、68は
軌道アンテナ、69は車上アンテナである。カセ
ツトは収納ケース63によつて運ばれ、移送中に
ウエハが汚染されるのを防いでいる。カセツト移
送機の現在位置の確認、およびカセツト移送機の
速度、停止、進行方向、昇降台の上下等の上下動
等の制御は、軌道アンテナ68、および車上アン
テナ69によつて制御信号を送受信しておこな
う。このカセツト移送機は目的のカセツト移送ス
テーシヨンに近づくと減速され、所定の位置で停
止する。停止後、昇降用モータ53が回転する
と、昇降用主プーリ55、昇降用副プーリ62が
回転し、巻きついていた昇降ベルト54が伸び、
昇降台64は当該カセツト移送ステーシヨンまで
降りて来る。そこで収納ケース63の積込み、ま
たは積降しをおこなう。再び走行する場合は、昇
降台64を昇降台収納部52に収納して、振れ止
め金具51で押さえればよく、移送機本体50は
前と同様に防塵ダクト65内の軌道56を走行す
る。 FIG. 3 is an explanatory view showing one embodiment of the above-mentioned cassette transfer machine, in particular, FIG. 3A shows a side view and FIG. 3B shows a front view. In these figures, 50 is the main body of the transfer machine, 51 is a steady rest metal fitting, 52 is an elevator storage section,
53 is a lifting motor, 54 is a lifting belt, 55 is a main pulley for lifting, 56 is a track (cassette transfer path), 57 is a dust cover, 58 and 59 are belt holders, 60 is a control unit, and 61 is related to the track 56. 62 is an auxiliary pulley for elevating, 63 is a storage case for storing the cassette, 64 is an elevating joint, 65 is a dustproof duct, 66 is a support supporting the track 56, 67 is a mounting bracket for attaching the track 56 to the support 66 , 68 is an orbital antenna, and 69 is an on-board antenna. The cassettes are carried by a storage case 63 to prevent contamination of the wafers during transport. Confirmation of the current position of the cassette transfer machine and control of the speed, stop, direction of movement of the cassette transfer machine, vertical movement of the lifting platform, etc. are performed by transmitting and receiving control signals using the orbital antenna 68 and the on-board antenna 69. Let's do it. When this cassette transfer machine approaches the target cassette transfer station, it is decelerated and stopped at a predetermined position. After stopping, when the lifting motor 53 rotates, the main lifting pulley 55 and the auxiliary lifting pulley 62 rotate, and the lifting belt 54 that was wrapped around it stretches.
The elevator platform 64 descends to the cassette transfer station. There, the storage case 63 is loaded or unloaded. When traveling again, the lifting platform 64 may be stored in the lifting platform storage section 52 and held down by the steady rest fitting 51, and the transfer machine body 50 will run on the track 56 in the dustproof duct 65 as before.
第4図は同じく上記した移送装置を構成するカ
セツト移送ステーシヨンの一実施例を示す斜視図
である。この第4図において、70,71はモー
タ、72,73は幅寄せ可動金具、74は幅寄せ
閉リミツトスイツチ、75は幅寄せ開リミツトス
イツチである。上記した第3図に示す移送機本体
50から昇降ベルト54によつて降りて来た昇降
台64は、幅寄せ可動金具72,73の間に位置
する。続いてモータ70,71によつて幅寄せ可
動金具72,73が幅寄せ閉リミツトスイツチ7
4が作動するまで閉じられ、昇降台64を挟み込
み、昇降台64を定位置に固定する。次にカセツ
ト装填装置(第1図の符号11〜20で例示)に
よる収納ケース63の積込み、あるいは積降しが
おこなわれ、その後、幅寄せ可動金属72,73
は開き、昇降台64は昇降ベルト54によつて移
送機本体50に収納される。 FIG. 4 is a perspective view showing an embodiment of a cassette transfer station constituting the above-described transfer device. In FIG. 4, reference numerals 70 and 71 are motors, 72 and 73 are movable width adjustment fittings, 74 is a width adjustment closing limit switch, and 75 is a width adjustment opening limit switch. The lifting platform 64 that has been lowered by the lifting belt 54 from the transfer machine main body 50 shown in FIG. Next, the width adjustment movable metal fittings 72 and 73 are operated by the motors 70 and 71 to close the width adjustment close limit switch 7.
4 is closed until it is activated, sandwiching the lifting table 64 and fixing the lifting table 64 in a fixed position. Next, the storage case 63 is loaded or unloaded by a cassette loading device (illustrated with reference numerals 11 to 20 in FIG.
is opened, and the lifting platform 64 is stored in the transfer machine main body 50 by the lifting belt 54.
上記したカセツト装填装置は移動自在なアーム
を具有する小型アームロボツトで構成されてお
り、カセツト移送ステーシヨンにおける幅寄せ可
動金具72,73によつて挟まれ、固定された昇
降台64から収納ケース63を所定の位置に取出
し、収納ケース63の蓋を開けてカセツトを自動
製造装置の所定の位置に装填する。また処理の終
つたカセツトを自動製造装置の所定の位置から取
りはずし、収納ケース63に入れ、蓋をして移送
機本体50の昇降台64に積込む作業をおこな
う。このような、カセツト移送機構により個々の
半導体製造装置間及び半導体製造装置と上記のカ
セツト変換装置相互間において、ウエハをカセツ
トに収容した状態で一括移送できる。 The above-mentioned cassette loading device is composed of a small arm robot having a movable arm, and is sandwiched between width-adjusting movable fittings 72 and 73 in the cassette transfer station, and lifts the storage case 63 from the fixed lifting platform 64. The cassette is taken out to a predetermined position, the lid of the storage case 63 is opened, and the cassette is loaded into a predetermined position of the automatic manufacturing apparatus. Further, the processed cassette is removed from a predetermined position of the automatic manufacturing apparatus, placed in a storage case 63, covered with a lid, and loaded onto the lifting table 64 of the transfer machine main body 50. With such a cassette transfer mechanism, wafers housed in cassettes can be transferred in bulk between individual semiconductor manufacturing apparatuses and between semiconductor manufacturing apparatuses and the above-mentioned cassette conversion apparatus.
以上の実施例においてはN−MOSメモリ製造
工程に適用する場合について例示した。完成した
ウエハは検査、チツプへの切断、ワイヤボンデイ
ング・パツケージへの封入等の工程を経て完成品
となる。なお、ウエハ自動処理装置に具備される
カセツト処理式製造装置は、第1図に示した8種
類とは限らず、必要な工程に応じてさらに何種類
でも備えることができる。本発明のウエハ自動処
理装置は、N−MOSメモリ製造工程に限らず、
広く半導体装置製造のウエハ処理工程において適
用できることはもちろんである。また上記のよう
にカセツトを収納ケース63に入れて運ぶように
すれば、ウエハ運搬中での汚染を防止できる。さ
らにカセツトの収納ケース63への出し入れ、お
よび自動製造装置への装填等に際してはクリーン
ベンチ内でおこなうようにすれば良く。このよう
にすればウエハの汚染を防ぐことができる。 In the above embodiments, the case where the present invention is applied to an N-MOS memory manufacturing process has been exemplified. Completed wafers undergo processes such as inspection, cutting into chips, and encapsulation into wire bonding packages to become finished products. The automatic wafer processing apparatus is not limited to the eight types of cassette processing type manufacturing apparatuses shown in FIG. 1, but can be provided with any number of types depending on the necessary processes. The automatic wafer processing apparatus of the present invention is applicable not only to the N-MOS memory manufacturing process, but also to
It goes without saying that the present invention can be widely applied to wafer processing steps for manufacturing semiconductor devices. Further, by transporting the cassette in the storage case 63 as described above, contamination during transport of the wafers can be prevented. Furthermore, loading and unloading the cassettes into and out of the storage case 63, loading into the automatic manufacturing equipment, etc. may be carried out within a clean bench. In this way, contamination of the wafer can be prevented.
以上説明したように、本発明においては、カセ
ツト変換装置を設けウエハを保持する溝のピツチ
や、溝の幅が他の材質からなるカセツトと異なつ
ている石英ボートでも、耐熱性のカセツトと見な
して、同様に扱えるようにしたので、石英ボート
を必須とする半導体製造プロセスの全自動化が可
能となる。即ち、本発明では制御装置31′にウ
エハ処理順序、処理条件をプログラムしておき、
出発ウエハをカセツトに収納してウエハ保管庫に
入れると、自動的にウエハが移送され、各製造装
置で自動的に加工処理され、半導体装置や集積回
路が作られる。ウエハの移送は、どの装置からで
も、どの装置へも移送でき、カセツトの異なる場
合は移し替えもできるので、ウエハ処理順序の変
更はプログラムの変更のみで行えるという利点が
ある。
As explained above, in the present invention, even a quartz boat equipped with a cassette conversion device and having a pitch of grooves for holding wafers and a groove width different from those of cassettes made of other materials can be regarded as a heat-resistant cassette. , can be handled in the same way, making it possible to fully automate semiconductor manufacturing processes that require quartz boats. That is, in the present invention, the wafer processing order and processing conditions are programmed into the control device 31'.
When starting wafers are stored in cassettes and placed in a wafer storage, the wafers are automatically transferred and automatically processed by each manufacturing device to produce semiconductor devices and integrated circuits. Wafers can be transferred from any device to any device, and if the cassettes are different, they can be transferred, so there is an advantage that the wafer processing order can be changed only by changing the program.
又、本発明ではウエハをカセツトを単位として
個々の製造装置間の移送を行つている。カセツト
は、他の収容形態であるトレイと比較すると、ウ
エハを垂直に多数枚収容する容器であるので、一
括移送できる枚数が極めて多く、能率的である。
更に、ウエハを垂直に保持した状態(カセツト内
部の状態)で移送するので、極めてゴミが付着し
にくいという利点もある。 Further, in the present invention, wafers are transferred between individual manufacturing apparatuses in units of cassettes. Compared to trays, which are other storage formats, cassettes are containers that store a large number of wafers vertically, so they can transfer an extremely large number of wafers at once, making them efficient.
Furthermore, since the wafer is transferred while being held vertically (inside the cassette), there is an advantage that dust is extremely difficult to adhere to.
又、各種製造装置の配置が工程順序に制限され
ることはないので、異なる工程を必要とするたと
えばバイポーラ、C−MOS,N−MOS、アナロ
グ素子等の半導体装置を同時に製作することもで
きる。更に、自動化により作業者が直接に処理ウ
エハを扱わないで、人からの発塵等による汚染が
防止できる等の多大な効果を期待できる。 Furthermore, since the arrangement of various manufacturing devices is not limited by the order of steps, it is also possible to simultaneously manufacture semiconductor devices such as bipolar, C-MOS, N-MOS, and analog devices that require different steps. Furthermore, automation can be expected to have great effects, such as preventing workers from handling the wafers directly and contamination due to dust generated by people.
第1図は本発明のウエハ自動処理装置の一実施
例を示す構成概略図、第2図は本発明のウエハ自
動処理装置に具有されるカセツト変換装置の一実
施例を示す概略図、第2−1図は石英ボートへウ
エハを入れる装置の説明図、第2−2図は石英ボ
ートからウエハを取り出す装置の説明図、第3図
は本発明のウエハ自動処理装置に具備される移送
装置を構成するウエハ移送機の一実施例を示す説
明図で、ことにa図は側面図、b図は正面図、第
4図は同じく移送装置を構成するウエハ移送ステ
ーシヨンの一実施例を示す斜視図である。
1……熱処理炉(カセツト式製造装置)、2…
…減圧CVD装置(カセツト式製造装置)、3……
常圧CVD装置(カセツト式製造装置)、4……レ
ジスト・パターン形成装置(カセツト式製造装
置)、5……イオン注入装置(カセツト式製造装
置)、6……Aスパツタリング装置(カセツト
式製造装置)、7……ドライエツチング装置(カ
セツト式製造装置)、8……洗浄装置(カセツト
式製造装置)、9……保管庫、10……カセツト
変換装置、11〜20……カセツト装填装置、2
1〜30……カセツト移送ステーシヨン、31…
…カセツト移送通路、31′……制御装置、40
……カセツト変換装置本体、40−1……圧力セ
ンサ、40−2……真空ポンプ、40′……カセ
ツト変換制御部、41……フツ化樹脂カセツト
部、42,43,44……ウエハ移送トラツク、
45……フアセツト検出部、46……金属カセツ
ト部、47……ウエハ受け台、47−1……ウエ
ハ受け台の転動軸、48……石英ボート部、48
−2……石英ボート、48−2′……溝、48−
4……投光器、48−5……受光器、49……ウ
エハ移動アーム、49−1……真空ピンセツト
部、50……移送機本体、52……昇降台収納
部、53……昇降用モータ、54……昇降ベル
ト、55……昇降用主プーリ、56……軌道、6
0……制御部、61……走行車輪、62……昇降
用副プーリ、63……収納ケース、64……昇降
台。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of an embodiment of an automatic wafer processing apparatus of the present invention, and FIG. Fig.-1 is an explanatory diagram of a device for loading wafers into a quartz boat, Fig. 2-2 is an explanatory diagram of a device for taking out wafers from a quartz boat, and Fig. 3 is an explanatory diagram of a device for taking out wafers from a quartz boat. FIG. 4 is an explanatory diagram showing an embodiment of a wafer transfer device, in particular, FIG. 4A is a side view, FIG. B is a front view, and FIG. It is. 1...Heat treatment furnace (cassette type manufacturing equipment), 2...
...Low pressure CVD equipment (cassette type manufacturing equipment), 3...
Atmospheric pressure CVD device (cassette type manufacturing device), 4...Resist pattern forming device (cassette type manufacturing device), 5...Ion implantation device (cassette type manufacturing device), 6...A sputtering device (cassette type manufacturing device) ), 7...Dry etching device (cassette type manufacturing device), 8...Cleaning device (cassette type manufacturing device), 9...Storage, 10...Cassette conversion device, 11-20...Cassette loading device, 2
1 to 30...cassette transfer station, 31...
...Cassette transfer passage, 31'...Control device, 40
...Cassette converter main body, 40-1...Pressure sensor, 40-2...Vacuum pump, 40'...Cassette conversion control section, 41...Fluoride resin cassette section, 42, 43, 44...Wafer transfer truck,
45...Facet detection unit, 46...Metal cassette unit, 47...Wafer holder, 47-1...Rolling shaft of wafer holder, 48...Quartz boat part, 48
-2...Quartz boat, 48-2'...Groove, 48-
4... Emitter, 48-5... Light receiver, 49... Wafer moving arm, 49-1... Vacuum tweezers section, 50... Transfer machine main body, 52... Elevating table storage section, 53... Lifting motor , 54... Lifting belt, 55... Main pulley for lifting, 56... Track, 6
0...Control unit, 61...Traveling wheel, 62...Sub-pulley for elevating, 63...Storage case, 64...Elevating platform.
Claims (1)
該ウエハをほぼ垂直に複数枚収容可能なカセツ
トと、 ・ 当該カセツトが装着され、カセツトからウエ
ハを取り出し、半導体の製造工程に用いられる
加工・処理を行い、かつ処理の終了したウエハ
をカセツトに収納する半導体製造装置と、 ・ 材質又は溝のピツチ若しくは溝の幅の異なる
異種のカセツト相互、又は同種のカセツト相互
間で、ウエハの入れ替えを行うカセツト変換機
構と、当該入れ換えの制御を行う制御部とから
なるカセツト変換装置と、 ・ 当該カセツト変換装置と複数種の上記半導体
製造装置とを連接し、ウエハを上記カセツトに
収容した状態で、上記カセツト変換装置と上記
半導体製造装置相互間、あるいは異なる半導体
製造装置相互間の移送を行う移送機構と、移送
の制御を行う制御部とからなるカセツト移送装
置、 とを少なくとも含んで構成されるウエハ自動処理
装置において、 前記カセツト変換装置が光学的にカセツトの溝
位置を検出し、当該検出結果をもとにカセツト位
置を調整し、カセツトの該当する溝にウエハを挿
入せしめて保持する手段と、ウエハ上端部が上記
溝位置に対して、不規則に位置する場合であつて
も、真空吸着により強制的に吸着せしめてウエハ
をカセツトから取り出す手段とを有し、 前記カセツト移送装置が、カセツトを収納する
収納ケースと、この収納ケースを昇降させる昇降
手段および走行車輪を具有し、上記収納ケースを
移送する移送機と、上記走行車輪が係合される軌
道と、この軌道の下方に配置され、上記収納ケー
スを位置決めする機構を具有するカセツト移送ス
テーシヨンと、移動自在なアームを具有し、カセ
ツトを上記カセツト移送ステーシヨンにおいて位
置決めした収納ケースに自動的に積込み、あるい
は収納ケースから自動的に積降するカセツト装填
装置、 とから成ることを特徴とするウエハ自動処理装
置。[Scope of Claims] 1. A cassette capable of storing a plurality of wafers in a substantially vertical manner by holding the wafers in grooves; - Semiconductor manufacturing equipment that processes and processes wafers used for processing and stores processed wafers in cassettes, A cassette converting device comprising a cassette converting mechanism for exchanging wafers and a control unit controlling the exchanging; - A cassette converting device and a plurality of types of semiconductor manufacturing equipment are connected, and wafers are stored in the cassettes. a cassette transfer device comprising at least a transfer mechanism for transferring the cassette converter and the semiconductor manufacturing apparatus or between different semiconductor manufacturing apparatuses, and a control section for controlling the transfer. In the automatic wafer processing apparatus, the cassette conversion device optically detects the groove position of the cassette, adjusts the cassette position based on the detection result, and inserts and holds the wafer into the corresponding groove of the cassette. and means for forcibly adsorbing the wafer by vacuum suction to take out the wafer from the cassette even if the upper end of the wafer is irregularly positioned with respect to the groove position, the cassette transfer device The storage case has a storage case for storing a cassette, a lifting means for raising and lowering the storage case, and a running wheel, a transfer machine for transporting the storage case, a track on which the running wheel is engaged, and a lower part of the track. a cassette transfer station, which is disposed at the cassette transfer station and has a mechanism for positioning the storage case; and a movable arm, which automatically loads the cassettes into the storage case positioned at the cassette transfer station, or automatically loads the cassettes from the storage case. An automatic wafer processing device comprising: a cassette loading device for loading and unloading a cassette;
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9610779A JPS5621340A (en) | 1979-07-30 | 1979-07-30 | Device for automatic treament of wafer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9610779A JPS5621340A (en) | 1979-07-30 | 1979-07-30 | Device for automatic treament of wafer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5621340A JPS5621340A (en) | 1981-02-27 |
JPS6359249B2 true JPS6359249B2 (en) | 1988-11-18 |
Family
ID=14156156
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9610779A Granted JPS5621340A (en) | 1979-07-30 | 1979-07-30 | Device for automatic treament of wafer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5621340A (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5030057A (en) * | 1987-11-06 | 1991-07-09 | Tel Sagami Limited | Semiconductor wafer transferring method and apparatus and boat for thermal treatment of a semiconductor wafer |
JPH0384943A (en) * | 1989-08-28 | 1991-04-10 | Tokyo Electron Ltd | Tray retention mechanism |
-
1979
- 1979-07-30 JP JP9610779A patent/JPS5621340A/en active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5621340A (en) | 1981-02-27 |
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