JPS6358180A - Circuit test board - Google Patents
Circuit test boardInfo
- Publication number
- JPS6358180A JPS6358180A JP61202502A JP20250286A JPS6358180A JP S6358180 A JPS6358180 A JP S6358180A JP 61202502 A JP61202502 A JP 61202502A JP 20250286 A JP20250286 A JP 20250286A JP S6358180 A JPS6358180 A JP S6358180A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plunger
- contact
- plate
- middle plate
- spring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 239000011295 pitch Substances 0.000 abstract description 8
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 13
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、回路基板の作動確認に用いられるサーキット
テストボードの改良に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an improvement of a circuit test board used for checking the operation of a circuit board.
本発明け1回路基板の作動確認に用いられるサーキット
テストポート0内に、別体のコンタクトプローブを介さ
ずに接触端子を直接挾持させて構成することにより、取
付構造を簡略化すると共に、より微細ピッチに接触端子
を形成することを可能とするものである。By directly holding the contact terminal in the circuit test port 0 used for confirming the operation of the circuit board of the present invention without using a separate contact probe, the mounting structure is simplified and finer details are achieved. This makes it possible to form contact terminals at pitches.
従来のテストボードは、第2図に示すように、所定の位
置に開けられた複数個の貫通穴に、レセプタクル8を差
込み、これに、中にスプリング5をもったコンタクトプ
ローブ7を組込入、コンタクトプローブ先端を測定端子
とし、回路基板の作動確認を行なってきた。ここで、測
定端子の間隔Aけ、レセプタクル8及びコンタクトプロ
ーブ7の外径経より制約を受は間隔を06關以下にでき
なかった。As shown in FIG. 2, the conventional test board has a receptacle 8 inserted into a plurality of through holes drilled at predetermined positions, and a contact probe 7 having a spring 5 inserted therein. , we have used the tip of a contact probe as a measurement terminal to check the operation of circuit boards. Here, due to constraints such as the distance A between the measurement terminals and the outer diameters of the receptacle 8 and the contact probe 7, the distance could not be reduced to 0.6 mm or less.
〔本発明h;解決しようとする問題点〕しかし、従来の
テストボードにおいては、より挾い間隔に接触端子を設
置するためには、最終的にレセプタクルの径を小さくす
る必gがあり、それに伴いコンタクトプローブを細くす
る必要がある。そのためてはそれ以十にプローブ中のス
プリングを一層極細なものにする必要がある。現在のス
プリングけφ022稈度の径のものが使用の限度であり
、これを用いてコンタクトプローブを作りレセプタクル
を用いてテストボードを製作した場合、ピッチ間隔Aは
06關程度が限界である。従って、それ以下の微細ピッ
チへの対応は困難であった。[Problem to be solved by the present invention] However, in the conventional test board, in order to install the contact terminals at closer intervals, it is necessary to ultimately reduce the diameter of the receptacle. Accordingly, it is necessary to make the contact probe thinner. Therefore, it is necessary to make the spring in the probe even thinner. The current limit for use is a spring with a diameter of φ022 culm, and if a contact probe is made using this and a test board is manufactured using a receptacle, the pitch interval A is at a limit of about 06 mm. Therefore, it has been difficult to deal with smaller pitches.
そこで、本発明はテストボード中に、プローブ及びレセ
プタクルを介さずに、直接端子を形成し0、6 wtz
ピッチ以下の微細ピッチを可能とすることを目的とした
ものである、
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するために、本発明のテストボードけ
、複数佃の測定端子を有して回路基板の作動確認に用い
られるサーキットテストボードにおいて、プランジャー
、スプリング及びテールピンよりなる前記測定端子と、
前記測定端子が装着される貫通穴が設けられている中板
と、前記中板を挾持するよう配され、前記テールピン及
び前記プランジャーを保持するように前症中板に係止さ
れている上板及び下板とを有することを特徴とする。Therefore, the present invention forms terminals directly on the test board without using probes and receptacles.
[Means for solving the problem] In order to solve the above problem, the test board of the present invention has a plurality of measuring terminals. In a circuit test board used for checking the operation of a circuit board, the measurement terminal includes a plunger, a spring, and a tail pin;
a middle plate provided with a through hole into which the measurement terminal is attached; and an upper plate arranged to sandwich the middle plate and locked to the middle plate so as to hold the tail pin and the plunger. It is characterized by having a plate and a lower plate.
以下に、本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。 Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.
第1図は本発明によるテストボードの断面図であり、テ
ストボードは上板1、中板2、下板3より構成されてシ
リ、上板1、中板2、下板3のそれぞれに測定端子を構
成する部品と保合する貫通穴が設けられている。FIG. 1 is a sectional view of a test board according to the present invention. The test board is composed of an upper plate 1, a middle plate 2, and a lower plate 3. A through hole is provided to fit the parts that make up the terminal.
測定端子は、プランジャー4、スプリング5、テールピ
ン6により構成されており、スプリング5けプランジャ
ー4とテールピンとの間に位置して中板2の貫通穴の中
にあり、プランンヤ−4とテールピンの軸方向の位置規
制をする上板1と下板3にプランジャー4とテールピン
6を弾接させている。The measurement terminal is composed of a plunger 4, a spring 5, and a tail pin 6. The measurement terminal is located between the plunger 4 and the tail pin, and is located in the through hole of the middle plate 2. A plunger 4 and a tail pin 6 are brought into elastic contact with an upper plate 1 and a lower plate 3 that regulate the axial position of the piston.
プランジャー4が図示してない回路基板と接触する端子
側となっており、テールピン6けリード線により図示さ
れていないテスター本体へ結線されている。The plunger 4 is on the terminal side that comes into contact with a circuit board (not shown), and is connected to the tester main body (not shown) by a 6-piece tail pin lead wire.
本発明のテストボードを検査に用いることによって回路
基板と接触したプランジャーの先端はスプリングにより
接触圧が与えられ、回路基板の測定部分の凹凸があった
としてもこれに追従することができるので確実な接触が
できるし、測定端子間のピッチ間隔も最小にすることに
より測定個所が多く狭いピッチ間隔であっても測定が可
能となる、また、測定端子も共通化がはかられ少ない部
品で構成することができるものである。By using the test board of the present invention for inspection, contact pressure is applied by the spring to the tip of the plunger that comes into contact with the circuit board, and even if there are irregularities on the measurement part of the circuit board, it can be followed, so it is reliable. By minimizing the pitch between the measurement terminals, it is possible to measure even if there are many measurement points and narrow pitch spacing.The measurement terminals are also composed of few parts that can be standardized. It is something that can be done.
本発明け、上記説明したように、テストボードに直接接
触端子を形成し、プランジャー、スプリング、テールピ
ンを中板で保持する効果として。According to the present invention, as described above, a direct contact terminal is formed on the test board, and the plunger, spring, and tail pin are held by the middle plate.
■ レセプタクル及びコンタクトプローブの外壁分の厚
みが不要となり、その厚み分のみピッチ間隔を小さくす
ることができる。(2) The thickness of the outer wall of the receptacle and contact probe becomes unnecessary, and the pitch interval can be reduced by that thickness.
■ レセプタクルとプローブ間に生ずる接触抵抗が低減
され、検査の信頼性が向上する。■ Contact resistance between the receptacle and probe is reduced, improving inspection reliability.
■ 部品点数の低減により、テストボードの製造に用す
る費用が節約できる。■ Reducing the number of parts saves costs for manufacturing test boards.
■ プローブ外壁がないことから、外壁とスプリングと
の干渉による抵抗がなく、接触圧が一定に保たれると共
に、干渉に起因する作動不良も改善される。■ Since there is no outer wall of the probe, there is no resistance due to interference between the outer wall and the spring, keeping the contact pressure constant and improving malfunctions caused by interference.
■ レセプタクルとコンタクトプローブとの嵌合の不安
定による、測定端子位置のバラツキがなく測定位置が安
定する。■ The measurement position is stable because there is no variation in the measurement terminal position due to unstable fitting between the receptacle and the contact probe.
第1図は、本発明によるサーキットボードテスターの断
面図、第2図は、従来のサーキットボードのn面図であ
る。
1・・・・・・上板
2・・・・・・中板
3・・・・・・下板
4・・・・・・プランジャー
5・・・・・・スプリング
6・・・・・・テールピン
7・・・・・・コンタクトプローブ
8・・・・・・レセプタクル
A・・・・・・ピッチ間隔
9・・・・・・支持鈑
以 上
出願人 セイコーエプソン株式会社
第2図FIG. 1 is a sectional view of a circuit board tester according to the present invention, and FIG. 2 is an n-side view of a conventional circuit board. 1... Upper plate 2... Middle plate 3... Lower plate 4... Plunger 5... Spring 6...・Tail pin 7...Contact probe 8...Receptacle A...Pitch interval 9...Support plate or above Applicant Seiko Epson Corporation Figure 2
Claims (1)
れるサーキットテストボードにおいて、プランジャー、
スプリング及びテールピンよりなる前記測定端子と、前
記測定端子が装着される貫通穴が設けられている中板と
、前記中板を挾持するよう配され、前記テールピン及び
前記プランジャーを保持するように前記中板に係止され
ている上板及び下板とを有することを特徴とするサーキ
ットテストボード。In circuit test boards that have multiple measurement terminals and are used to check the operation of circuit boards, plungers,
the measuring terminal consisting of a spring and a tail pin; a middle plate provided with a through hole into which the measuring terminal is attached; and a middle plate arranged to sandwich the middle plate and holding the tail pin and the plunger. A circuit test board characterized by having an upper plate and a lower plate fixed to a middle plate.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61202502A JPS6358180A (en) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | Circuit test board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61202502A JPS6358180A (en) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | Circuit test board |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6358180A true JPS6358180A (en) | 1988-03-12 |
Family
ID=16458546
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61202502A Pending JPS6358180A (en) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | Circuit test board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6358180A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003005044A1 (en) * | 2001-07-06 | 2003-01-16 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact |
JP2009243137A (en) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Ykk Ap株式会社 | Sash frame and fitting |
-
1986
- 1986-08-28 JP JP61202502A patent/JPS6358180A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003005044A1 (en) * | 2001-07-06 | 2003-01-16 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact |
JP2009243137A (en) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Ykk Ap株式会社 | Sash frame and fitting |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100928228B1 (en) | Inspection socket for semiconductor chip test | |
KR20000062209A (en) | Test socket for Ball Grid Array package and method for testing thereof | |
TW201901160A (en) | Electrical connection device | |
JPH0955273A (en) | Ic socket for bga package ic | |
JPH01143977A (en) | Adaptor for electronic inspector of printed circuit board | |
KR102388033B1 (en) | Probe card | |
JP3094007B2 (en) | Probe and probe card using this probe | |
JPS6358180A (en) | Circuit test board | |
US4847553A (en) | Needle card contacting mechanism for testing micro-electronic components | |
KR0155573B1 (en) | Device for testing semiconductor device | |
KR20090019384A (en) | Probe card of semiconductor wafer inspector | |
KR100610803B1 (en) | A Probe card for inspecting the status of semiconductor chips and a method of manufacturing the same | |
JP2971491B2 (en) | Inspection device | |
US6164982A (en) | IC socket for holding IC having multiple parallel pins | |
KR20090073747A (en) | Probe unit and probe card | |
JP3027159U (en) | Inspection probe | |
JP3224519B2 (en) | Wafer measuring jig, test head device and wafer measuring device | |
JPH0725722Y2 (en) | Socket for electronic parts | |
JPH06289097A (en) | Contact unit | |
JPH0656401B2 (en) | Inspection equipment | |
KR200380244Y1 (en) | A Probe card for inspecting the status of semiconductor chips | |
KR102171289B1 (en) | Contact probe and test socket including the same | |
JPH0438299Y2 (en) | ||
JPS59208469A (en) | Probe card | |
JPH0413662Y2 (en) |