JPS6353788A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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Publication number
JPS6353788A
JPS6353788A JP61195319A JP19531986A JPS6353788A JP S6353788 A JPS6353788 A JP S6353788A JP 61195319 A JP61195319 A JP 61195319A JP 19531986 A JP19531986 A JP 19531986A JP S6353788 A JPS6353788 A JP S6353788A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
word line
signal
word lines
memory
address
Prior art date
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Application number
JP61195319A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazumasa Yanagisawa
一正 柳沢
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6353788A publication Critical patent/JPS6353788A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体記憶装置に関するもので、例えば、
画像処理用メモリとして用いられるダイナミック型RA
M (ランダム・アクセス・メモリ)等の半導体記憶装
置に利用して有効な技術に関するものである。
〔従来の技術〕
複数のメモリセルに対し、高速でアクセスする方法とし
て、例えば1985年9月、■日立製作所発行のr日立
ICメモリデータブックJに記載されているようなペー
ジモードやニブルモード等のシリアル入出力機能がある
〔発明が解決しようとする問題点〕
ダイナミック型RAMは、その構成上、カラム(Y)ア
ドレスすなわちデータ線方向の切り換え動作は比較的高
速で行うことができるが、ロウ(X)アドレスすなわち
ワード線方向の切り替え動作はプリチャージ時間等によ
る制限を受けるため高速に行うことは困難である。した
がって、上記のようなベージモードやニブルモード等の
シリアル入出力機能は、同一ワード線に結合される複数
のメモリセルに対して行われ、一回のワード線選択にお
いてデータ線を順次切り換えて選択することによって、
その高速化を図っている。
しかしながら、本願発明者等が実際の画像メモリとして
用いられるダイナミック型RAMの利用状況を調査した
ところ、上記のようなシリアル入出力機能は、連続的な
読み出し動作によるCRT等の高速表示や転写等には有
効であるが、その表示画像の書き換えにおいては問題が
残されていることが明らかになった。すなわち、第4図
に示すように、表示画像の転写を除く通常の画像作成に
おいては、ロウアドレスを固定した状態で連続した書き
込み動作を行う場合がほとんど無いため、単一アドレス
ごとの書き込み動作が行われる。このため、ダイナミッ
ク型RAMが上記のようなシリアル入出力機能等を持っ
ているにもかかわらず、表示画像の作成、書き込み動作
は比較的長い時間と相当数のメモリアクセスを必要とす
る。
本願発明者等は、さらに第4図のような表示画像の書き
込み動作が、第4図の(a)部及び(b)部に示される
ように、その大半において隣接するワード線に移行しな
がら行われることに着目し、このような書き込み動作を
高速化する方法を考えた。
この発明の目的は、新しい機能を有するダイナミック型
RAM等の半導体記憶装置を提供することにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明m書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、連続したアドレスが割り当てられるワード線
を複数のメモリアレイに一つずつ交互に配置し、一回の
メモリアクセスにおいてこれらの複数のメモリアレイに
それぞれ配置され隣接アドレスが割り当てられる複数の
ワード線を同時に選択状態とし、所定の制御信号によっ
て順次入出力回路に接続するものである。
〔作  用〕
上記した手段によれば、隣接するアドレスが割り当てら
れる複数のワード線に結合される複数のメモリセルに対
するシリアル書き込み又は読み出し動作を、ワード線の
切り換え時間を要することなく、一回のメモリアクセス
内において行うことができるため、表示画像の作成等を
高速に行うダイナミック型RAM等の半導体記憶装置を
実現できるものである。
〔実施例〕
第1図には、この発明が通用されたダイナミック型RA
Mの一実施例のブロック図が示されている。同図の各回
路ブロックを構成する回路素子は、公知の半導体集積回
路の製造技術によって、特に制限されないが、単結晶シ
リコンのような1個の半導体基板上において形成される
この実施例のダイナミック型RAMは、CRTディスプ
レイ等の画像記憶用メモリとして用いられるものであり
、表示画像の書き込みを高速化するために、一回のメモ
リアクセスにおいて隣接する二つのワード線に対するシ
リアル書き込み又は読み出し動作を行う機能を持つ。こ
のため、二つのメモリアレイM−ARYO及びM−AR
Ylが設けられ、メモリアレイM−ARYOには偶数ア
ドレスが割り当てられるワード線が割り当てられ、メモ
リアレイM−ARY1には奇数アドレスが割り当てられ
るワード線がそれぞれ配置される。各メモリアレイのデ
ータ線は、共通に設けられるカラムアドレスデコーダC
DCHによって選択され、そのワード番車はプリデコー
ダPDCRとそれぞれのメモリアレイに対応して設けら
れる2次ロウアドレスデコーダRDCRO,RDCRI
によって選択される。複数のワード線は連続するアドレ
スが与えられる4本ずつのワード線を一組として複数の
ワード線群にグループ分割され、そのうち偶数アドレス
のワード線がメモリアレイM−ARYOに配置され、奇
数アドレスのワード線がメモリアレイM−ARY1に配
置される。各ワード線群は下位2ビットを除くXアドレ
ス信号をデコードする2次ロウアドレスデコーダRDC
RO及びRDCR1によってそれぞれ選択される。また
、各ワード線群内の4本のワード線は、下位2ビットの
Xアドレス信号をデコードするプリデコーダPOCRに
よって選択される。プリデコーダ及び2次ロウアドレス
デコーダからなるロウ系選択回路は、外部から供給され
るアドレス信号に指定されるワード線とその次のアドレ
スが割り当てられるワード線の二本を同時に選択する機
能を持つ。したがって、メモリアレイM−ARYOには
、次のアドレスが割り当てられるワード線が同一ワード
線群内でなく次のワード線群内に含まれる場合に、2次
ロウアドレスデコーダRDCROにより形成されるワー
ド線群選択信号を次のワード線群にシフトするためのワ
ード線シフト回路WSが設けられる。さらに、各メモリ
アレイに対応して相補共通データ線CDO及びCDIが
設けられ、これらの相補共通データ線に記憶データを伝
達するためのデータ人カバンファDIB及びデータ出力
バッファDOBと、二つのメインアンプMAO,MA1
が設けられる。
この実施例のダイナミック型RA Mでは、Xアドレス
信号に指定される単一ワード線のみを選択状態とする通
常のアクセスと、上記のように隣接する二つのワード線
を選択状態とするシリアルアクセスとが行われるため、
外部からこれらのアクセスモードを指定する制御信号線
として、隣接ワード線アクセスモード信号NWAが設け
られ、この隣接ワード線アクセスモード信号NWAによ
って内部タイミング信号φn−が形成される。隣接ワー
ド線アクセスモード信号NWAは、通常の単一ワード線
のアクセスにおいてハイレベルとされ、隣接する二つの
ワード線が選択状態とされるシリアルアクセスにおいて
ロウレベルとされる。内部タイミング信号φnwは、逆
に通常の単一ワード線のアクセスにおいてロウレベルと
され、隣接する二つのワード線が選択状態とされるシリ
アルアクセスにおいてハイレベルとされる。また、通常
の単一ワード線のアクセスモードの場合、制御信号とし
て外部から供給されるロウアドレスストローブ信号RA
Sがまずハイレベルからロウレベルに変化し、次にカラ
ムアドレスストローブ信号CASがハイレベルからロウ
レベルに変化する。しかし、シリアルアクセスモードの
場合、カラムアトL/ スス) O−7’ffl 号C
A Sはロウアドレスストローブ信号RASに続いてロ
ウレベルになった後、−旦ハイレベルに戻り、再度ロウ
レベルに変化される。
前述のように、メモリアレイM−ARYOには偶数アド
レスが割り当てられるワード線が収用され、メモリアレ
イM−ARYIには奇数アドレスが割り当てられるワー
ド線が収用される。これらのメモリアレイM−ARYO
及びM−ARYlは、それぞれ同図の垂直方向に配置さ
れるm本のワード線と、同図の水平方向に配置されるn
組の相補データ線及びこれらのワード線と相補データ線
の交点に配置されるmxn個のメモリセルにより構成さ
れる。これらの相補データ線は2交点方式とされ、その
一方はプリチャージ回路Pco又はPClの対応する単
位回路を経て、センスアンプ回路SAO又はSAIの対
応する単位回路に接続される。また、それぞれの相補デ
ータ線は他方において、カラムスイッチC8O又はC3
Iの対応するスイッチMO3FETに結合される。
メモリアレイM−ARYO及びM−ARYIの各ワード
線は、後述するワード線駆動回路WDO又はWDIの対
応する駆動MOS F ETに結合される。奇数アドレ
スのワード線が収用されるメモリアレイM−ARY1に
対応して設けられるワード線駆動回路WDIには、2次
ロウアドレスデコーダRDCRIからワード線群を指定
するためのワード線群選択信号が供給され、プリデコー
ダPDCRから各ワード線群内の奇数アドレスのワード
線を選択するためのワード線選択タイミング信号φχ0
1及びφXllが供給される。一方、偶数アドレスのワ
ード線が収用されるメモリアレイM−ARYOに対応し
て設けられるワード線駆動回路WDOには、ワード線シ
フト回路WSを介して2次ロウアドレスデコーダRDC
ROからワード線群を指定するためのワード線群選択信
号が供給され、プリデコーダPDCRから各ワード線群
内の偶数アドレスのワード線を選択するためのワード線
選択タイミング信号φXOO及びφXIOが供給される
。各ワード線は、これらのワード線群選択信号とワード
1Iii!選択タイミング信号φXOO〜φXllによ
って選択、指定される。
この実施例のダイナミック型RAMでは、前述のように
、外部から供給されるXアドレス信号に指定されるワー
ド線と、その次のアドレスのワード線が同時に選択状態
とされる。このため、2次ロウアドレスデコーダRDC
RO及びRDCRIには同じ相補内部アドレス信号上x
2〜axi  (ここで例えば非反転内部アドレス出力
ax2と反転内部アドレス信号ax2をまとめて相補内
部アドレス信号ax2のように表す。以下同じ。)が供
給され、同一の群番号のワード線群選択信号がそれぞれ
の2次ロウアドレスデコーダによって形成される。プリ
デコーダPDCRは、タイミング信号φnwがロウレベ
ルとされる通常の単一アドレスのアクセスにおいて、相
補内部アドレス信号1xO及びaxlをデコードして、
これらのアドレス信号に指定されるワード線に対応する
一つのワード線選択タイミング信号φXOO〜φXll
を形成し、ワード線選択タイミング信号φXOO及びφ
x10をワード線駆動回路WDOに、ワード線選択タイ
ミング信号φXOI及びφχ11をワード線駆動回路W
DIにそれぞれ供給する。また、タイミング信号φnW
がハイレベルとされるシリアルアクセスモードにおいて
、相補内部アドレス信号axQ及びaxlに指定される
ワード線とその次のアドレスのワード線とを同時に選択
状態とするため、対応する二つのワード線選択タイミン
グ信号を同時に形成する。隣接するアドレスが与えられ
る二つのワード線は、例えばその一方が奇数アドレスで
あると他方は偶数アドレスであり、したがって二つのワ
ード線選択タイミング信号は二つのワード線駆動回路W
DO及びWDIにそれぞれ供給される。これらのワード
線選択タイミング信号φx00〜φXllは、後述する
タイミング制御回路TCから供給されるタイミング信号
φXに同期して形成される。
ところで、隣接するアドレスのワード線が異なるワード
線群に含まれる場合、すなわちXアドレス信号の下位2
ビットがともに論理“1”でワード線群内の4番目のワ
ード線が指定されており、次のアドレスのワード線が次
の群番号が与えられるワード線群内の第1番目のワード
線であるような場合、2次ロウアドレスデコーダRDC
ROによって形成されるワード線群選択信号を次の群番
号が与えられるワード線群に対する選択信号としてシフ
トさせる必要がある。このため、ワード線シフト回路W
Sは、内部アドレス信号axQ及びaxlがともにハイ
レベルであるとワード線群選択信号を次のワード線群選
択信号となるようにシフトする機能を持つ。
この実施例のダイナミック型RA Mでは、外部端子A
O〜Atを介して、アドレスマルチブレックス方式によ
って、Xアドレス信号及びYアドレス信号が供給される
。すなわち、制御信号として外部から供給されるロウア
ドレスストローブ信号RASの立ち下がりに同期してX
アドレス信号AxO〜AXiが供給され、カラムアドレ
スストローブ信号でX】の立ち下がりに同期してYアド
レス信号AYO〜AYiが供給される。また、ダイナミ
ック型RAMの自動リフレッシュモードにおいて、リフ
レッシュするワード線のアドレスを計数するためのリフ
レッシュアドレスカウンタREFCが設けられ、このリ
フレッシュアドレスカウンタREFCから供給されるリ
フレッシュアドレス信号cxQ〜cxiと外部から供給
されるXアドレス信号AXO〜AXiとを選択的にロウ
アドレスバッファRADBに伝達するためのアドレスマ
ルチプレックサAMXが設けられる。
アドレスマルチプレックサAMXは、タイミング制御回
路TCから供給されるタイミング信号φrefがハイレ
ベルとなる自動リフレッシュモードにおいて、リフレッ
シュアドレスカウンタREFCから供給されるリフレッ
シュアドレス信号cxO〜cxiを選択し、ロウアドレ
ス信号としてロウアドレスバッファRADBに伝達する
。また、タイミング信号φrefがロウレベルとなる通
常のメモリアクセスにおいて、外部端子AO〜Atを介
してマルチプレックス方式により供給されるアドレス信
号のうち、Xアドレス信号AXO〜AXi 全選択し、
ロウアドレスバッファRADBに伝達する。
ロウアドレスバッファRADBは、アドレスマルチプレ
ックサAMXから伝達されるロウアドレス信号を受け、
相補内部アドレス信号まxO〜ユxiを形成する。この
うち相補内部アドレス信号aXO及びaxlはプリデコ
ーダPDCRに供給され、相補内部アドレス信号ax2
〜axiは2次ロウアドレスデコーダRDCRO及びR
DCRlに供給される。Xアドレス信号AXO〜AXi
は、ロウアドレスストローブ信号RASの立ち下がりに
同期して供給されるため、ロウアドレスバッファRAD
Bのアドレス信号の取り込みは、タイミング制御回路T
Cでロウアドレスストローブ信号RASの立ち下がりに
よって形成されるタイミング信号φarに従って行われ
る。
一方、各相補データ線が結合されるプリチャージ回路P
CO及びPCIは、ダイナミック型RAMの非動作状態
において、タイミング制御回路TCから供給されるタイ
ミング信号φpcに従って、各相補データ線の非反転デ
ータ線及び反転データ線を短絡する。これにより、各相
補データ線の非反転データ線及び反転データ線は、とも
に電源電圧Vccの約1/2のハーフプリチャージレベ
ルとされるため、メモリセルの読み出し動作におけるレ
ベル判定が高速化される。
センスアンプ回路SAO及びSAIは、各相補データ線
に対応して設けられる差動型増幅回路をその基本構成と
し、タイミング制御回路TCから供給されるタイミング
信号φpaによって動作状態とされる。センスアンプ回
路SAO及びSAIは、相補データ線に伝達されるメモ
リセルの微小読み出し信号を増幅し、ハイレベル/ロウ
レベルの2値信号とする。また、センスアンプ回路SA
O及びSAIは、読み出し動作モード及びリフレッシュ
動作モードにおいて、−旦メモリセルから読み出され2
値信号とされた記憶データを、再度それぞれのメモリセ
ルに書き込みリフレッシュするためのアクティブリスト
ア回路を含んでいる。
カラムスイッチC3O及びC3Iは、カラムアドレスデ
コーダCDCRから供給されるデータ線選択信号に従っ
て、メモリアレイM−ARYO及びM−ARYIのYア
ドレス信号A Y O= A Y iにより指定される
一組の相補データ線をそれぞれ選択し、相補共通データ
線CDO・CDO又はCD1・CDIにそれぞれ接続す
る。
カラムアドレスデコーダCDCRは、カラムアドレスバ
ッファCADBから供給される相補内部アドレス信号a
 y O〜a y iをデコードし、タイミング制御回
路TCから供給されるタイミング信号φyに同期して、
データ線選択信号を形成し、カラムスイッチC8O及び
C31の対応するスイッチMOS F ETに供給する
カラムアドレスバッファCADBは、外部端子AO〜A
iを介してマルチプレックス方式により供給されるYア
ドレス信号AYO−AYiを受け、相補内部アドレス信
号上yQ−ayiを形成し、カラムアドレスデコーダC
DCHに供給スる。Yアドレス信号AYO〜AYiは、
カラムアドレスストローブ信号CASの立ち下がりに同
期して供給されるため、カラムアドレスバッファCAD
Bのアドレス信号の取り込みは、タイミング制御回路T
Cでカラムアドレスストローブ信号CASの立ち下がり
によって形成されるタイミング信号φacに従って行わ
れる。
相補共通データ線CDO・CDO及びCDI・CDIに
は、対応するメインアンプMAO又はMAlの入力端子
が結合されるとともに、データ入力バッファDIBの対
応する出力端子が結合される。メインアンプMAO及び
M A 1は、メモリアレイM−ARYO又はM−AR
YIにおいて選択されたデータ線に結合されるセンスア
ンプ回路SAO又はSAIから供給される2値読み出し
信号をさらに増幅し、データ出力バッファDOBに伝達
する。データ出力バッファDOBは、ダイナミック型R
AMの読み出し動作モードにおいて、タイミング制御回
路TCから供給されるタイミング信号φrによって動作
状態とされ、メインアンプMAから伝達されるメモリセ
ルの読み出し信号を入出力端子DOを介して外部の装置
に出力する。
このタイミング信号φrがロウレベルとされるダイナミ
ック型RAMの非選択状態及び書き込み動作モードにお
いて、データ出力バッファDOBの出力はハイインピー
ダンス状態とされる。
データ入力バッファDIBは、ダイナミック型RA M
の書き込み動作モードにおいて、タイミング制御回路T
Cから供給されるタイミング信号φWによって動作状態
とされ、入出力端子DOを介して外部の装置から供給さ
れる書き込みデータを、相補書き込み信号とし、相補共
通データ線CDO・CDO又はCDI−CDIを介して
選択されたメモリセルに供給する。このタイミング信号
φWがロウレベルとされるダイナミック型RAMの非選
択状態及び読み出し動作モードにおいて、データ入力バ
ッファDIBの出力はハイインピーダンス状態とされる
以上のデータ出力バッファDOB及びデータ入力バッフ
ァDIBの入出力動作は、タイミング制御回路TCから
供給されるタイミング信号φn−及び相補内部アドレス
信号axQによって制御される。すなわち、通常の単一
ワード線アクセスの場合、相補内部アドレス信号axo
に従ってそれぞれ偶数又は奇数ワード線が結合される相
補共通データ線CDO又はCDIが選択される。また、
隣接する二つのワード線が選択状態とされるシリアルア
クセスモードの場合、カラムアドレスストローブ信号C
ASの最初の立ち下がりで、相補内部アドレス信号ax
O〜axiに指定されるワード線に対応する相補共通デ
ータ線が選択され、カラムアドレスストローブ信号CA
Sの2回目の立ち下がりで、次のアドレスが割り当てら
れるもう一つのワード線に対応する相補共通データ線が
選択される。
リフレッシュアドレスカウンタREFCは、ダイナミッ
ク型RAMの自動リフレッシュモードにおいて、タイミ
ング制御回路TCから供給されるタイミング信号φCを
計数し、自動リフレッシュモードにおいてリフレッシュ
すべきワード線のアドレスを指定する。
タイミング制御回路TCは、制御信号として外部から供
給されるロウアドレスストローブ信号RAS、カラムア
ドレスストローブ信号CAS、 ライトイネーブル信号
V/E及び隣接ワード線アクセスモード信号NWAによ
り、上記各種のタイミング信号を形成し、各回路に供給
する。
第2図には、第1図のダイナミック型RAMのワード線
シフト回路WSと2次ロウアドレスデコーダRDCRO
及びワード線駆動回路V/Doの一実施例の回路図が示
されている。同図の各回路素子は、第2図に示した他の
回路ブロックとともに、特に制限されないが、単結晶P
型シリコンのような1個の半導体基板上において形成さ
れる。なお、同図において、チャンネル(バックゲート
)部に矢印が付加されたMOS F ETはPチャンネ
ル型であり、矢印の付加されないNチャンネルMO3F
ETと区別される。
NチャンネルMO3FETは、かかる半導体基板表面に
形成されたソース領域、ドレイン領域及びソース領域と
ドレイン領域との間の半導体基板表面に薄い厚さのゲー
ト絶縁膜を介して形成されたポリシリコンからなるよう
なゲート電極から構成される。PチャンネルMOS F
 ETは、上記半導体基板表面に形成されたN型ウェル
領域に形成される。これによって、半導体基板は、その
上に形成された複数のNチャンネルMOSFETの共通
の基板ゲートを構成する。N型ウェル領域は、その上に
形成されたPチャンネルMO3FETの基板ゲートを構
成する。PチャンネルMO3FETの基板ゲートすなわ
ちN型ウェル領域は、第1図の型温電圧端子Vccに結
合される。
第2図において、2次ロウアドレスデコーダRDCRO
の各単位回路UDCROO〜UDCRO3は、例示的に
示されるように、非反転内部アドレス信号ax2〜ax
i又は反転内部アドレス信号ax2〜axiが対応する
ワード線群の番号に応じて組み合わされてそのゲートに
供給される並列形態のPチャンネルMO5FETQI〜
Q2と直列形態のNチャンネルMO3FETQ3〜Q4
及びインバータ回路N1によりそれぞれ構成される。こ
れらのPチャンネルMO3FET、NチャンネルMOS
FET及びインバータ回路N1は、インバータ回路N1
の出力端子のレベルをその出力信号として、一つのアン
ド(AND)ゲート回路を構成する。すなわち、各MO
SFETのゲートに供給される複数の内部アドレス信号
がすべてハイレベルであると、直列形態のNチャンネル
MOSFETはすべてオン状態となり、また並列形態の
PチャンネルM OS F E Tはすべてオフ状態と
なって、インバータ回路Nlの入力信号はロウレベルと
なり、その出力信号はハイレベルとなる。
一方、複数の内部アドレス信号のいずれか一つがロウレ
ベルであると、直列形態のNチャンネルMOSFETに
よる接地チェーンは形成されず、また並列形態のPチャ
ンネルM OS F E Tの一つがオン状態となるこ
とで、インバータ回路N1の入力信号はハイレベルとな
り、その出力信号はロウレベルとなる。言い換えると、
対応するワード線群の番号に応じて組み合わされた複数
の内部アドレス信号がすべて論理“1″である時、イン
バータ回路N1の出力信号は論理“1”のハイレベルと
なる。
これらの各単位回路のインバータ回路の出力信号は、ワ
ード線群選択信号C0−Csとして、ワード線シフト回
路WSに伝達される。
ワード線シフト回路WSは、上記2次ロウアドレスデコ
ーダRDCROの各単位回路とワード線駆動回路WDO
の対応するワード線群との間に設けられるNチャンネル
型のスイッチMOS F ETQ8〜Q10と、上記2
次ロウアドレスデコーダRDCROの各単位回路とワー
ド線駆動回路WDOの次の群番号が与えられるワード線
群との間に設けられるNチャンネル型のスイッチMO3
FETQ5〜Q7とを含む。これらのMOS F ET
Q8〜QIOのゲートは共通接続され、インバータ回路
N2の出力端子に結合される。また、MO3FETQ5
〜Q7のゲートは、同様にアンドゲート回路AGIの出
力端子に共通に結合される。インバータ回路N2の入力
端子は、上記アンドゲート回路AGIの出力端子に結合
される。アンドゲート回路AGIの第1の入力端子には
、タイミング制御回路TCからダイナミック型RA M
のシリアルアクセスモードにおいてハイレベルとされる
タイミング信号φn−が供給され、その第2及び第3の
入力端子には、非反転内部アドレス信号axO及びax
lがそれぞれ供給される。これにより、アンドゲート回
路AGIの出力信号は、タイミング信号φn&4がハイ
レベルとされるダイナミック型RAMのシリアルアクセ
スモードにおいて、非反転内部アドレス信号axQ及び
axlがともにハイレベルである時、すなわちXアドレ
ス信号AXO〜AXiによって指定されるワード線がワ
ード線群内の第4番目のワード線である場合にハイレベ
ルとされる。このアンドゲート回路AGIの出力信号が
ハイレベルとなると、スイッチMO3FETQ5〜Q7
がオン状態となり、2次ロウアドレスデコーダRDCR
Oの各単位回路がち出力されるワード線群選択信号は、
次の群番号が与えられるワード線群を選択するための選
択信号として、シフトして供給される。また、アンドゲ
ート回路AGIの出力信号がロウレベルであると、MO
3FETQ5〜Q7はオフ状態となり、インバータ回路
Nlの出力信号がハイレベルとなるため、スイッチMO
3FETQ8〜QIOがオン状態となり、2次ロウアド
レスデコーダRDCROの各単位回路によって形成され
るワード線群選択信号はそのままワード線駆動回路WD
Oの対応するワード線群に供給される。
ワード線駆動回路WDOは、偶数アドレスが割り当てら
れるワード線W O−= W2+n−2に対応して設け
られる駆動MOSFETQ17〜Q22と、これらの駆
動M OS F E Tに対応して設けられるカットM
O3FETQI 1〜Q16により構成される。各駆動
MOS F ETのソースはメモリアレイM−ARYO
の対応するワード線に結合され、そのドレインには一つ
おきに交互に偶数アドレスのワード線を選択するための
ワード線選択タイミング信号φXOO及びψXIOがそ
れぞれ供給される。
また各駆動M OS F E Tのゲートは、対応する
カフ1−MOSFETのソースにそれぞれ結合される。
同一ワード線群内のワード線に対応するカットMO3F
ETのドレインは共通接続され、上記2次ロウアドレス
デコーダRDCRから対応するワード線群選択信号が供
給される。さらに、すべてのカットMO3FETのゲー
トには、回路の電源電圧Vccが供給される。
以上のことから、カットMOSFETQI i〜Q16
は、常にオン状態とされ、ワード線選択信号がハイレベ
ルとされるワード線群に対応する駆動MOSFETがオ
ン状態となる。さらに、選択されたワード線群内におい
て、対応するワード線選択タイミング信号がハイレベル
とされる駆動MO8FETを介して一本のワード線にハ
イレベルの選択信号が供給される。ここで、ワード線選
択タイミング信号φXOO〜φχ11のハイレベルの電
位は、メモリセルからの読み出し信号レベルがアドレス
選択用M OS F E Tのしきい値電圧によって低
下することを防ぐため、例えば約電源電圧■cc+ 2
 Vtha  (Vthaはアドレス選択用ンA OS
 FETのしきい値電圧)となるような比較的高いハイ
レベルとされる。このため、このような比較的高いハイ
レベルが駆動MOS F ETの容量結合によってその
ゲート側に伝達されるが、対応するカットMO3FET
が逆バイアス状態となるため、ワード線シフト回路WS
には伝達されない。
第3図には、この実施例のダイナミック型RAMにおけ
るシリアル書き込み動作モードの一実施例のタイミング
図が示されている。この図により、本実施例のシリアル
書き込み動作の概要を説明する。
この実施例のダイナミック型RAMでは、Xアドレス信
号及びYアドレス信号は同一の外部端子AO〜Akを介
してマルチプレックス方式により供給される。したがっ
て、ロウアドレスストローブ信号RA Sの立ち下がり
に同期してXアドレス信号AXO=AXiが外部端子A
O〜Aiに供給され、カラムアドレスストローブ信号C
ASの立ち下がりに同期してYアドレス信号AYO〜A
Yiが供給される。また、ロウアドレスストローブ信号
RASの立ち下がりとほぼ同時に、ライトイネーブル信
号〜VE及び隣接ツー1:線アクセスモード信号NWA
がハイレベルからロウレベルに変化される。
ダイナミック型RA M内では、ロウアドレスストロー
ブ信号RASの立ち下がりによってタイミング信号φa
rが形成され、Xアドレス信号AXO〜AXiがロウア
ドレスバンファRADBに取り込まれ、ワード<9.3
M択動作が開始される。この時、隣接ワード線アクセス
モード信号N V/ Aがロウレベルであるため、Xア
ドレス信号AXO=AXiに指定されるワード線と、そ
の次のアドレスが割り当てられるワード線が二つのメモ
リアレイによフて選択状態とされる。次にカラムアドレ
スストローブ信号CASの立ち下がりによってタイミン
グ信号φacが形成され、Yアドレス信号AYO〜AY
iがカラムアドレスバッファCADBに取り込まれ、デ
ータ線の選択動作が開始される。カラムアドレスストロ
ーブ信号CASの立ち下がりにおいて、ライトイネーブ
ル信号WEがロウレベルであることが判定され、ダイナ
ミック型RAMは書き込み動作モードを識別する。ワー
ド線及びデ−タ線の選択動作が終了したタイミングで、
書き込み動作を行うためのタイミング信号φWが形成さ
れ、データ人カバソファDIBに供給される。
この時、入出力端子DOには最初の書き込みデータDi
nOが供給されており、データ入カバソファDIBはこ
の書き込みデータDinOを相M書き込み信号とし、X
アドレス信号AXO”AXiに指定されるワード線が収
用されるメモリアレイに対応する相補共通データijl
 CD O又はCDIを介して選択されたメモリセルに
供給する。
一回目の書き込み動作が終了すると、カラムアドレスス
トロ−ブイ3号CASはハイレベルとされ、所定の時間
を経過した後、再度ロウレベルとされる。また、入出力
端子Doには次のアドレスが割り当てられるメモリセル
に書き込むべき書き込みデータDinlが供給される。
ダイナミック型RAMでは、カラムアドレスストローブ
信号CASの2回目の立ち下がりによって、タイミング
信号φWが再度形成され、データ入カバソファDIBに
供給される。データ入カバソファDIBは、隣接ワード
線アクセスモード信号NWAのロウレベルによって形成
されるタイミング信号φnwのハイレベルと、相補内部
アドレス信号axQによって、次のアドレスが割り当て
られるワード線が収用されるメモリアレイに対応する相
補共通データ線CDO又はCI)1を選択し、書き込み
データDialを相補書き込み信号とし、次のアドレス
のメモリセルに供給する。
以上のシリアル書き込み動作モードにおいて、カラムア
ドレスストローブ信号CASが一旦ロウレベルとされた
後ハイレベルとされてから、2回目の書き込みを行うた
めに再度ロウレベルとされるまでの時間は、ワード線及
びデータ線の切り換え選択が行われないことから、その
プリチャージ時間等を確保する必要がないため、ワード
線を切り換えてアクセスする場合に比較して、非常に短
い時間でよい。したがって、一連の表示画像を作成する
ための書き込み動作は、はぼ1/2の時間に短縮され、
そのアクセス回数も半減する。なお、第4図の(C)部
に示されるように、同一ワード線においてYアドレスの
みが変化するような連続書き込み動作の場合は、カラム
アドレスストローブ信号CASの2回目の立ち下がりに
同期してYアドレス信号AYO〜AYiを変化させるこ
とによって次アドレスのメモリセルに対するアクセスを
行うこともできるが、従来のベージモードを利用して3
つ以上のメモリセルに対して連続した書き込み動作を行
うことで、さらに高速化することもできる。
以上の本実施例に示されるように、この発明を画像用メ
モリとして用いられるダイナミック型RAM等の半導体
記憶装置に通用することで、次のような効果が得られる
。すなわち、 (1)連続したアドレスが割り当てられるワード線を複
数のメモリアレイに一つずつ交互に配置し、一回のメモ
リアクセスにおいてこれらの複数のメモリアレイにそれ
ぞれ配置され隣接アドレスが割り当てられる複数のワー
ド線を同時に選択状態とし、所定の制御信号に従って順
次入出力回路に接続することで、隣接するアドレスが割
り当てられる複数のメモリセルに対するシリアル書き込
み動作又はシリアル読み出し動作を、ワード線の切り換
え時間を要することなく、一回のメモリアクセス内にお
いて高速に行うことができるという効果が得られる。
(2)上記(1)項により、画像用メモリとして用いら
れるダイナミック型RAM等に対する表示@像の書き込
み動作を、従来のほぼ1/2の時間で行うことができる
とともに、メモリアクセスの回数を半減できるという効
果が得られる。
(3)上記のようなシリアル書き込み動作と、従来のペ
ージモード機能等を組み合わせて用いることによって、
画像用メモリとして用いられるダイナミック型RAM等
に対する表示画像の書き込み動作をさらに高速に行うこ
とができるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸税しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない0例えば、第1図の実施
例においては、メモリアレイを偶数又は奇数アドレスが
割り当てられるワード線に対応して二分割し、一回のメ
モリアクセスで隣接する二つのメモリセルに対するシリ
アル書き込みを行っているが、メモリアレイを例えば4
つ以上に分割し、隣接ワード線アクセスモード信号NW
A又はYアドレス信号AYO〜AYiをカラムアドレス
ストローブ信号CASの変化に同期して変化させること
で、4つ以上の連続したメモリセルに対するシリアル書
き込みを行うようにしてもよい。また、複数の入出力端
子を設けることで、複数のメモリセルに対する書き込み
動作を並行して同時に行うこともよい。さらに、その各
ビットがメモリアレイの各相補データ線に対応したシフ
トレジスタを設けることで、シリアル読み出し機能を持
たせたり、ロウアドレスデコーダを1段構成とするなど
、アドレス選択回路や第2図のワード線シフト回路WS
等の具体的な回路構成や、制御信号の組み合わせ等種々
の実施形態をI采りうるものである。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である画像用メモリとして
用いられるダイナミック型RAMに通用した場合につい
て説明したが、それに限定されるものではなく、例えば
、画像用メモリ以外の用途に用いられるダイナミック型
RAMやスタティック型RA M等の各種半導体記憶装
置にも通用できる。本発明は、少なくとも隣接するアド
レスが割り当てられる複数のワード線に結合される複数
のメモリセルに対する連続アクセスが行われるような半
導体記憶装置には適用するできるものである。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。すなわち、連続したアドレスが割り当てられるワー
ド線を複数のメモリアレイに一つずつ順次交互に配置し
、一回のメモリアクセスにおいてこれらの複数のメモリ
アレイにそれぞれ配置され隣接アドレスが割り当てられ
る複数のワード線を同時に選択状態とし、所定の制御信
号によって順次入出力回路に接続することで、隣接する
アドレスが割り当てられる複数のワード線に結合される
複数のメモリセルに対するシリアル書き込み又は読み出
し動作を、ワード線の切り換え時間を要することなく、
一回のメモリアクセス内において行うことができるため
、表示画像等の書き込み動作を高速に行いうるダイナミ
ック型RAM等の半導体記憶装置を実現することができ
るものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明が適用されたダイナミック型RA 
Mの一実施例を示すブロック図、第2図は、第1図のダ
イナミック型RAMのワード線シフト回路及びその周辺
凹路の一実施例を示す回路図、 第3図は、第1図のダイナミック型RA Mにおけるシ
リアル書き込み動作を説明するためのタイミング図、 第4図は、第1図のダイナミック型RAMにおけるシリ
アル書き込み動作を説明するための概念図である。 M−ARYO,M−ARYI・・・メモリアレイ、SA
O,SAI・・・センスアンプ回路、PCo、PCI・
・・プリチャージ回路、CSO。 C5I・・・カラムスイッチ、WDO,WDI・・・ワ
ード線駆動回路、WS・・・ワード線シフト回路、PD
CR・・・プリデコーダ、RDCRO,RDCRI・・
・2次ロウアドレスデコーダ、CDCR・・・カラムア
ドレスデコーダ、RADB・・・アドレスパ゛フファ、
AMX・・・アドレスマルチプレックサ、REFC・・
・リフレッシュアドレスカラン′夕、CADB・・・カ
ラムアドレスバッファ、MAO,MAL・・・メインア
ンプ、DOB・・・データ出カバソファ、DIB・・・
データ人カバンファ、TC・・・タイミング制御回路。 Q1〜Q2・・・PチャンネルLi OS F E T
、Q3〜Q22・・・NチャンネルMO3FET。 N1〜N2・・・インバータ回路、AGI・−・アンド
ゲート回路。 第2図 第3図 φW 第4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、連続したアドレスのワード線が順次交互に配置され
    る複数のメモリアレイを有し、一回のアドレス選択によ
    って上記複数のメモリアレイに配置される指定アドレス
    のワード線とその隣接アドレスのワード線が同時に選択
    状態とされることを特徴とする半導体記憶装置。 2、上記ワード線はそれぞれ4本ずつの連続したアドレ
    スのワード線からなる複数のワード線群に分割され、上
    記半導体記憶装置は、各ワード線群の偶数アドレスのワ
    ード線が収用される第1のメモリアレイと、奇数アドレ
    スのワード線が収用される第2のメモリアレイと、下位
    2ビットのロウアドレス信号をデコードし上記ワード線
    群内の指定のされたワード線とその次のワード線を選択
    するための1次ロウアドレスデコーダと、上記第1及び
    第2のメモリアレイに対応してそれぞれ設けられ下位2
    ビットを除くロウアドレス信号をデコードしワード線群
    を選択するためのワード線群選択信号を形成する2次ロ
    ウアドレスデコーダと、上記第1のメモリアレイとそれ
    に対応する上記2次ロウアドレスデコーダの間に設けら
    れ、上記第2のメモリアレイに収用される各ワード線群
    の第4番目のワード線が指定された場合に上記第1のメ
    モリアレイに対するワード線群選択信号を次のワード線
    群選択信号としてシフトさせるためのシフト回路とを含
    むものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の半導体記憶装置。 3、上記半導体記憶装置は、画像処理用メモリとして用
    いられるダイナミック型RAMであることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の半導体記憶装置。
JP61195319A 1986-08-22 1986-08-22 半導体記憶装置 Pending JPS6353788A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03113795A (ja) * 1989-05-26 1991-05-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置
WO2005004164A1 (ja) * 2003-06-30 2005-01-13 Fujitsu Limited 半導体記憶装置

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