JPS6353487B2 - - Google Patents

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JPS6353487B2
JPS6353487B2 JP4718780A JP4718780A JPS6353487B2 JP S6353487 B2 JPS6353487 B2 JP S6353487B2 JP 4718780 A JP4718780 A JP 4718780A JP 4718780 A JP4718780 A JP 4718780A JP S6353487 B2 JPS6353487 B2 JP S6353487B2
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JP
Japan
Prior art keywords
chamber forming
sealed chamber
gas
helium gas
vacuum
Prior art date
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Application number
JP4718780A
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English (en)
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JPS56142436A (en
Inventor
Fumio Ando
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP4718780A priority Critical patent/JPS56142436A/ja
Publication of JPS56142436A publication Critical patent/JPS56142436A/ja
Publication of JPS6353487B2 publication Critical patent/JPS6353487B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/04Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
    • G01M3/20Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
    • G01M3/202Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は冷却ユニツトの冷媒流路中に冷媒ガス
の漏れ箇所があるか否かを検査するための冷却ユ
ニツトのガスリーク検査装置に関する。
例えば冷蔵庫において、冷却ユニツトに極めて
微量の冷媒ガスの漏れ(以下ガスリークと称す
る)があつても長期使用中に冷却能力が著しく低
下する。このガスリークが需要者の手元で発見さ
れたときはその修理が極めて困難でありその経費
も高い。また、冷蔵庫の需要者に対する保証期間
も長くなつていることを考え合わせるとガスリー
クに対してはきわめて高い信頼性が要求される。
従つて製造段階でのガスリーク検査は極めて重要
な検査項目の一つである。長い保証期間中に定格
冷却能力を維持するにはガスリーク検出精度が極
めて高いことが必要である他、生産ラインでの冷
却ユニツトの1台当り10秒程度と云う生産速度に
見合う迅速な検査処理能力も要求される。
現在行なわれているガスリーモ検査方式には次
のものがある。その第一は水中発泡法であり、こ
れは冷却ユニツトである被検体を水中に浸漬し、
ガスリークによる発泡を肉眼で検出する方法であ
る。これは検査が手軽である反面、検出精度に個
人差があり且つ見落しのおそれもあつて検出精度
が低く信頼性に劣り、被検体に発錆を生じさせる
こともある。
第二として差圧検出法があり、これはマスター
となる良品と被検体とに同時に圧力をかけて一定
時間後の圧力差を検出しようとするものである。
この方法は多くの点で水中発泡法に優つている
が、検出精度を上げたり、被検体の容量が大きく
なると、検査に長時間(一例として挙げるなら約
960秒)を要し、生産ラインでの被検体生産速度
に対して極めておそく、同じ速度の検査処理能力
を得ようとするとその設備台数が膨大になる。
第三としてハロゲンリーク検出法がある。これ
は冷凍サイクルの冷媒であるフロロカーボンガス
(フロンガス)のリークをハロゲンリーク検出器
を使用して検出する方法であり、検出精度が極め
て高いと云う長所を有する反面、ハロゲンリーク
デテクタはフロンガス以外のガス例えばトリクロ
ロエチレン蒸気、煙草の煙、自動車の排気ガス等
にも感応するため、検査場所を高度に清浄な環境
に保たねばならない。
本発明は上記の欠点を除去すべくなされたもの
であり、その目的はガスリークの検出精度が高い
上に検査処理能力も比較的高く、且つ検査場所の
環境に特別な条件を要さず、更には設備費の低減
を図り得る冷却ユニツトのガスリーク検査装置を
提供することにある。
以下本発明を一実施例によつて図面を参照しな
がら具体的に説明する。第1図はシステムの全体
的構成を示している。この実施例では被検体であ
る冷却ユニツトのライン上での生産速度が1台当
り約10秒とし、1台当りに要する検査速度が約
100秒とする仕様の下に、連続検査可能とするた
めに10基の密閉室を持つ構成とした場合を例にし
ている。
さて第1図において、1乃至10は密閉室形成容
器をなす10個のベルジヤ(Bell Jar)であり、こ
れらは第2図に示す如く、略釣鐘状をなし、その
下端開口部11が設置台12の上面にシール部材
13を介して気密に当接することによつて密閉室
14を形成する降下位置と内部が大気に開放され
る上昇位置との間で空圧シリンダ15によつて上
下動される。16は冷却ユニツト即ち被検体であ
つて、冷蔵庫の冷凍室用冷却器17及び冷蔵室用
冷却器18から成り、検査に先き立つてその一連
の冷媒流路内にヘリウスガスを加圧封入してあ
る。この封入方法は流媒流路をなしているパイプ
の一端にガス封入装置を連結してヘリウムガスを
注入し、その後に該パイプの先端付近を漬しガス
封入装置を取外す方法を採用している。このよう
な被検体16は設置台12に載置され、次にベル
ジヤ1が降下されることによつて密閉室14内に
収容される。各ベルジヤ1〜10によつて形成さ
れる密閉室14には設置台12に例えば第2図に
示すように形成された開口を介して粗排気系統1
9、ブリテスト排気系統20、本排気系統21及
び本テスト排気系統22が夫々各々の弁23〜2
6を介して連通する。この場合、粗排気系統19
は第一及び第二の系統19a,19bに分離され
夫々5個づつのベルシヤ1〜5及び6〜10の排
気を担う。同様に本排気系統21も第一及び第二
の系統21a,21bに分離され、本テスト排気
系統22もまた第一及び第二の系統22a,22
bに分離され、そしてプリテスト排気系統20の
みが10個のベルジヤ1〜10に対して共通となつ
ている。第一及び第二の粗排気系統19a,19
bは夫々別のロータリポンプ27a,27bに連
なり、プリテスト排気系統20はエジエクタポン
プ28を介してロータリポンプ29に連なり、第
一及び第二の本排気系統21a,21bは二葉形
木の葉車をもつたメカニカルブースタポンプ30
a,30bを各別に介してロータリポンプ31
a,31bに連なり、更に第一及び第二の本テス
ト排気系統22a,22bは夫々エジエクタポン
プ32a,32bを各別に介してロータリポンプ
33a,33bに連つている。34は第一のヘリ
ウムガス検出器であり、内部に排気ポンプを備え
ていて前記第一の本テスト排気系統22aのエジ
エクタポンプ32aからの排出気体の一部を弁3
5を介して受けるようになつている。同じく、3
6は第二のヘリウムガス検出器で、エジエクタポ
ンプ32bからの排出気体の一部を弁37を介し
て受けるようになつている。38は弁39を介し
てプリテスト排気系統20のエジエクタポンプ2
8の排出気体の一部を受ける第三のヘリウスガス
検出器である。ここで、上記何れのポンプも真空
ポンプを構成するものでガスリーク検査のための
稼動中は連続運転される。
以上の構成において、ロータリポンプ27a,
27bは真空粗引き装置40をなし、エジエクタ
ポンプ28、ロータリポンプ29及び第三のヘリ
ウムガス検出器38はプリテスト装置41をな
し、メカニカルブースタポンプ30a,30b及
びロータリポンプ31a,31bは真空本引き装
置42をなし、エジエクタポンプ32a,32
b、ロータリポンプ33a,33b及び第一、第
二のヘリウムガス検出器34,36は本テスト装
置43をなすものである。
次に上記構成の作用について第3図乃至第5図
を併用し説明する。先ず一個のベルジヤ1による
ガスリーク検査について説明する。被検体16を
設置台12に載置し、ベルシヤ1を降下させて被
検体16を密閉室14内に収容した状態を形成す
る。次に第一の粗排気系統19aの弁23を開
き、密閉室14内を第3図に示す大気圧P1から
所定の圧力P2に低下するまで真空排気、即ち粗
排気する。次にプリテスト排気系統20の弁24
を開き圧力P2付近を維持するように真空排気し
この状態で弁39を開いてその排出気体の一部を
第三のヘリウムガス検出器38に導き入れてヘリ
ウムガスの存在を検出(プリテスト)する。この
プリテストでヘリウムガスが検出されなかつたと
きは直ちに第一の本排気系統21aの弁25を開
いて密閉室14内をその圧力がP2から更にP3
まで低下するように真空排気し、圧力P3付近ま
で下がつたところで第一の本テスト排気系統22
aの弁26を開いて略P3の圧力を維持するよう
に真空排気を続けながら同時に弁35を開いてそ
の排出気体の一部を第一のヘリウムガス検出器3
4に導き入れ、ここでヘリウムガスの存在を検出
(本テスト)する。この本テスト完了後、図示を
省略しているが大気連通弁を開いて密閉室14内
を大気圧に復帰させ、ベルジヤ1を上昇させて次
の被検体16の検査に備える。以上の行程を第4
図に示した。
さて、被検体14の冷媒流路にガスリーク箇所
があつたとすると、もしそのガスリークを生じさ
せている損傷が大きい場合は粗排気による低い真
空度でも密閉室14内にヘリウムガスが漏れるの
で、これがプリテストによつて検出され、このと
きにはその表示を行なうと共に密閉室14内が直
ちに大気圧に復帰され、ベルジヤ1が上昇され
る。また損傷が極めて軽微であるときは粗排気程
度の真空度では検出可能な量のヘリウムガスの漏
れを期待できないが、これは次の本テストにおい
て更に真空度を上げた状態で検出される。このと
きにもガスリークの表示がなされることは勿論で
ある。
次に10個のベルシヤ1〜10によるガスリーク
検査のためのタイミング関係について説明する。
このタイミング関係は第5図に示されている。こ
の第5図において、A,B,……Fは第4図に示
した上記の各行程名であり、その横軸長さを処理
時間に比例した長さに図示してある。さて第1図
から理解されるように、本システムはプリテスト
排気系統20を除く他の排気系統を第一群19
a,21a,22aと第二群19b,21b,2
2bとに分離し、夫々の群にベルジヤ1〜10を
5個づつ割当てている。そして、第5図から理解
されるように、各群内で5個のベルジヤが同時に
同一の行程を処理しないようにしていると共に、
二群間にベルシヤの降下または上昇に要するだけ
の時間差を与えている。このような処理時間のタ
イミング制御は図示しないが制御回路の信号によ
り弁23〜26,35,37,39を制御するこ
とによつて行なつている。
本発明は以上述べたようになり、次のような効
果を期待できる。即ち、冷媒流路にヘリウムを封
入した被検体を密閉室形成容器内に収容し、これ
を高真空になしてガスリークを検出する方式であ
るから、ハロゲンリーク検出法以上の高精度が得
られると共にその検出の信頼性も極めて高く、長
い保証期間を十分満たし得る冷却ユニツトを提供
することができる。また、検出対象ガスがヘリウ
ムガスであるので検出器が他のガスに感応してし
まうことがないから検査場所の環境に特別な条件
が要求されず、従つてガスリーク検査システムを
組立ラインの途中に直結することができる。ま
た、検査処理能力も水中浸漬法や差圧検出法に比
して極めて高い。また、プリテスト行程において
ヘリウムガスが検出されたときは、プリテスト排
気系統が大量のヘリウムガスによつて汚染され、
この排気系統によつて他の被検体の本テスト行程
に移行するとした場合誤判定を生ずるおそれがあ
るが、本装置では本テスト用排気系統をプリテス
ト排気系統とは異なつた専用の真空ポンプに通じ
る独立の管路によつて形成しているのでプリテス
ト行程でのガスリーク検出に伴う本テスト行程で
の誤判定を確実に防止できる。
特に本発明では検査処理能力の一層の向上のた
めに密閉室形成容器を多数設け、これら多数の密
閉室形成容器を複数の群に分けて各群毎に真空粗
引き装置、真空本引き装置及び本テスト装置を独
立に設け、及びプリテスト装置を複数の群に共通
するように設け、且つ粗排気、本排気及び本テス
ト行程は各群内で、プリテスト行程は共通した複
数の群内で夫々各容器につき重複しない時間差を
もつて順次行なわれるように構成している。この
結果、各排気系統に要求される吸引能力は1個の
密閉室形成容器に対する能力であればよいので設
備費を低減できる。
しかもこのうち、高い吸引能力が要求される粗
排気系統、本排気系統及び本テスト系統は複数の
群に分けられているので、これら系統の真空排気
動作はプリテスト行程が重複しない範囲内ならば
異群間で重複しても差支えないことになり、従つ
て高い吸引能力が要求される故に排気動作時間が
比較的長くなるこれらの真空排気行程のサイクル
時間、総じてリークテストサイクル時間の短縮を
図り得る。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の一実施例を示すもので、第1図
はシステム全体の系統図、第2図は密閉室形成手
段を示す縦断面図、第3図は密閉室内の圧力変化
特性を示す図、第4図は行程のフローチヤート、
第5図は行程のタイムチヤートである。 図中、1〜10はベルジヤ(密閉室形成容器)、
16は被検体(冷却ユニツト)、19は粗排気系
統、20はプリテスト排気系統、21は本排気系
統、22は本テスト排気系統、34,36,38
は第一、第二、第三のヘリウムガス検出器、40
は真空粗引き装置、41はプリテスト装置、42
は真空本引き装置、43は本テスト装置である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 冷媒流路内にヘリウムガスを封入した状態の
    各冷却ユニツトを夫々収容する多数の密閉室形成
    容器と、これら多数の密閉室形成容器を複数の群
    に分けると共にその各群毎に設けられ各群内の複
    数の密閉室形成容器を互に重複しない時間差をも
    つて順次真空排気する複数の真空粗引き装置と、
    前記複数の群に共通する排気系統を有し前記真空
    粗引き装置によつて真空排気された前記密閉室形
    成容器内のヘリウムガスの量を互に重複しない時
    間差をもつて順次測定するプリテスト装置と、前
    記各群毎に設けられ前記プリテスト装置により前
    記密閉室形成容器内のヘリウムガスの量を測定し
    た後にその量が所定値以下の場合に前記各密閉室
    形成容器内を互に重複しない時間差をもつて更に
    順次真空排気する真空本引き装置と、前記各群毎
    に設けられ前記真空本引き装置により真空排気さ
    れた前記密閉室形成容器内のヘリウムガスの量を
    互に重複しない時間差をもつて順次測定する本テ
    スト装置とからなる冷却ユニツトのガスリーク検
    査装置。
JP4718780A 1980-04-09 1980-04-09 Gas leak inspection device for cooling unit Granted JPS56142436A (en)

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JPS56142436A JPS56142436A (en) 1981-11-06
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US6286362B1 (en) * 1999-03-31 2001-09-11 Applied Materials, Inc. Dual mode leak detector
CN107192215B (zh) * 2017-04-21 2020-08-28 青岛海尔股份有限公司 冰箱制冷剂泄露监测装置、其控制方法及控制系统

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JPS56142436A (en) 1981-11-06

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