JPS6352046A - アイソト−プ蛍光ｘ線分析装置 - Google Patents
アイソト−プ蛍光ｘ線分析装置Info
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- JPS6352046A JPS6352046A JP14889487A JP14889487A JPS6352046A JP S6352046 A JPS6352046 A JP S6352046A JP 14889487 A JP14889487 A JP 14889487A JP 14889487 A JP14889487 A JP 14889487A JP S6352046 A JPS6352046 A JP S6352046A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的〕
（産業上の利用分野）
この発明は、固体、粉末、液体試料についての化学元素
の多元素の分析に使用される物質組成を決定する蛍光Ｘ
線分析のための装置に関する。
の多元素の分析に使用される物質組成を決定する蛍光Ｘ
線分析のための装置に関する。
（従来技術）
従来のアイソトープ蛍光Ｘ線分析の装置は、論文ｏｌｄ
ｓｅｔ Ｒ： ”ＡＤＩ）ｔｉｅｄ ３ｐｅｃｔｒ
ｏｍｅｔｒｙ ｏｆＸ −ｒａｙｒａｄｉａｔｉｏｎ
ｌｌ、 Ｍｏｓｃｏｗ ａｔｏｍｉＺ（ｆａｔ。
ｓｅｔ Ｒ： ”ＡＤＩ）ｔｉｅｄ ３ｐｅｃｔｒ
ｏｍｅｔｒｙ ｏｆＸ −ｒａｙｒａｄｉａｔｉｏｎ
ｌｌ、 Ｍｏｓｃｏｗ ａｔｏｍｉＺ（ｆａｔ。
１９７７、ｐ７１． ｆｉｇ２．２に示されるように構
成されることが知られている。即ち、この装置は、保護
スクリーンを備える計測ヘッドの長軸に冶って配置され
る検出器を含み、それは検出器前部と検出器周面を囲む
保護シリンダーの間に 配置される。保護シリンダーは、中央に円錐貫通孔を有
しており、その表面内には、励起源が置かれた台座が形
成されている。円錐貫通孔の基部前面には、調査試料の
ための台座が配置され、この試料は本体を囲み、その内
面が保護シリンダーを包囲する試料ホルダーの中に形成
されていた。
成されることが知られている。即ち、この装置は、保護
スクリーンを備える計測ヘッドの長軸に冶って配置され
る検出器を含み、それは検出器前部と検出器周面を囲む
保護シリンダーの間に 配置される。保護シリンダーは、中央に円錐貫通孔を有
しており、その表面内には、励起源が置かれた台座が形
成されている。円錐貫通孔の基部前面には、調査試料の
ための台座が配置され、この試料は本体を囲み、その内
面が保護シリンダーを包囲する試料ホルダーの中に形成
されていた。
（発明が解決しようとする問題点）
同一タイプの放射Ｉｉ源が試料に照射された場合におい
て、アイソトープ蛍光Ｘ線分析装置の知られている欠点
は、分析可能な化学元素の数が限られてしまうというこ
と、すなわちその機能的な能力が低いということである
。これにより、対応した励起源に対して特定される狭い
エネルギー筒器において、いくつかの元素が効率的に励
起されて固有Ｘ線が発生される。
て、アイソトープ蛍光Ｘ線分析装置の知られている欠点
は、分析可能な化学元素の数が限られてしまうというこ
と、すなわちその機能的な能力が低いということである
。これにより、対応した励起源に対して特定される狭い
エネルギー筒器において、いくつかの元素が効率的に励
起されて固有Ｘ線が発生される。
この発明の目的とするところは、高精度の分析を可能に
し、所定元素を効果的に励起するための最適条件下にお
ける機能的な可能性を増加するアイソトープ蛍光Ｘ線分
析のための装置を提供することにある。
し、所定元素を効果的に励起するための最適条件下にお
ける機能的な可能性を増加するアイソトープ蛍光Ｘ線分
析のための装置を提供することにある。
［発明の構成］
（問題を解決するための手段）
この目的は、以下の内容を含むアイソトープ蛍光Ｘ線分
析装置により達成される。アイソトープ蛍光Ｘ線分析装
置は、保護スクリーンを有する計測・＼ラドの長軸に沿
って配置された検出器から構成され、この保護スクリー
ンは、検出器前部と検出器の周囲の表面を囲んでいる保
護シリンダの間に配置されている。保護シリンダーは、
中央に円錐貫通孔を有し、その表面内には中に励起源が
配置されろ台座が形成される。円錐貫通孔の前部には調
査試料のための台座が配置され、それは本体を囲み、そ
の内面が保護シリンダーを包囲する試料ホルダーの中に
形成される。この構成において、円錐貫通孔の中には少
なくとも一つの孔を備えている回転する円錐シャッター
が配置される。円錐貫通孔の下部の領域にあるスクリー
ンはその内側からシャッターを囲んでいる。励起源は異
なるいくつかのタイプのもので、円錐孔の異なった部分
に配置される。円錐シャッターの中の孔は、円錐の形成
する表面に沿って、励起源の個々の作用表面を含むよう
な大きさを有している。
析装置により達成される。アイソトープ蛍光Ｘ線分析装
置は、保護スクリーンを有する計測・＼ラドの長軸に沿
って配置された検出器から構成され、この保護スクリー
ンは、検出器前部と検出器の周囲の表面を囲んでいる保
護シリンダの間に配置されている。保護シリンダーは、
中央に円錐貫通孔を有し、その表面内には中に励起源が
配置されろ台座が形成される。円錐貫通孔の前部には調
査試料のための台座が配置され、それは本体を囲み、そ
の内面が保護シリンダーを包囲する試料ホルダーの中に
形成される。この構成において、円錐貫通孔の中には少
なくとも一つの孔を備えている回転する円錐シャッター
が配置される。円錐貫通孔の下部の領域にあるスクリー
ンはその内側からシャッターを囲んでいる。励起源は異
なるいくつかのタイプのもので、円錐孔の異なった部分
に配置される。円錐シャッターの中の孔は、円錐の形成
する表面に沿って、励起源の個々の作用表面を含むよう
な大きさを有している。
円錐シャッターの中の穴の数が一つより多くすることが
でき、それによってことなったタイプの励起源のおのお
の一つに対し、そのレベルに対応した穴が設けられる。
でき、それによってことなったタイプの励起源のおのお
の一つに対し、そのレベルに対応した穴が設けられる。
励起源のいくつかは、同じタイプにすることができ、そ
のとき円錐シャッターの穴の数は、同じタイプの励起源
の数あればよい。
のとき円錐シャッターの穴の数は、同じタイプの励起源
の数あればよい。
アイソトープＸ線蛍光分析のためのｖＲ置の効果は、効
果的な励起と高絽度の分析を得るための最適の条件をも
とにこの方法により可能なすべての固体、粉末、液体試
料の化学元素分析の機能的な可能性を拡大することであ
る。
果的な励起と高絽度の分析を得るための最適の条件をも
とにこの方法により可能なすべての固体、粉末、液体試
料の化学元素分析の機能的な可能性を拡大することであ
る。
（実施例）
この発明は、断面図によって示される同位体Ｘ線蛍光分
析の装置の一実施例によって説明される。
析の装置の一実施例によって説明される。
アイソトープＸ線蛍光分析の装置は、計測ヘッドの長軸
に沿って配置されるたとえば半導体からなる検出器１か
ら構成され、この計測ヘッドは検出器前面と検出器１の
周囲の表面を囲んでいる保護シリンダー３の間に配置し
た保護スクリーン２を含んでいる。保護シリンダー３は
中央に円錐形の貫通孔４を有し、その表面内には中に励
起源６が置かれた台座５が形成され、円錐形の１通孔内
の前面には、調査試料様の台座７が配置され、この台座
７は、本体９に移動可能に受容する試料ホルダー８内に
形成されている。円錐通し穴４の中には、孔を備えてい
る回転する円錐シャッター１０が配置される。円錐貫通
孔の下方の領域内のスクリーン２は、シャッター１０の
内側に受容されている。励起源６は、例えば鉄５５、カ
ドミウム１０９、アメリシウム２４１等の種々の物質で
作られ、それぞれ円錐孔４の別々の部分に配置される。
に沿って配置されるたとえば半導体からなる検出器１か
ら構成され、この計測ヘッドは検出器前面と検出器１の
周囲の表面を囲んでいる保護シリンダー３の間に配置し
た保護スクリーン２を含んでいる。保護シリンダー３は
中央に円錐形の貫通孔４を有し、その表面内には中に励
起源６が置かれた台座５が形成され、円錐形の１通孔内
の前面には、調査試料様の台座７が配置され、この台座
７は、本体９に移動可能に受容する試料ホルダー８内に
形成されている。円錐通し穴４の中には、孔を備えてい
る回転する円錐シャッター１０が配置される。円錐貫通
孔の下方の領域内のスクリーン２は、シャッター１０の
内側に受容されている。励起源６は、例えば鉄５５、カ
ドミウム１０９、アメリシウム２４１等の種々の物質で
作られ、それぞれ円錐孔４の別々の部分に配置される。
円錐シャッター１０の中の穴１１は、円錐を形成する表
面に沿って、励起［１１の個々の作用表面を囲むような
大きさを有している。
面に沿って、励起［１１の個々の作用表面を囲むような
大きさを有している。
穴１１の数が励起、Ｉ！６の数に等しくでき、種々の各
励起源毎にその強さに応じた穴１１がある。
励起源毎にその強さに応じた穴１１がある。
もしいくつかの励起源が同じタイプであるとすると、穴
１１の数が同じタイプの励起源の数に等しくなる 検出器１、円錐孔４の表面及び台座７に置かれた試料よ
って規定される空間は、不活性ガス（たとえばヘリウム
ガス（図に記さず））で消勢されることができる 同位体Ｘ線蛍光分析のための装置は以下の方払でｖＪ作
する。
１１の数が同じタイプの励起源の数に等しくなる 検出器１、円錐孔４の表面及び台座７に置かれた試料よ
って規定される空間は、不活性ガス（たとえばヘリウム
ガス（図に記さず））で消勢されることができる 同位体Ｘ線蛍光分析のための装置は以下の方払でｖＪ作
する。
試料は、試料ホルダー８の台座７中に中央孔を有する通
路カップによって配置され台座７は、本体９と保護シリ
ンダー２に対して円錐シャッターとともに回転され、例
えば、本体９と保護シリンダー２に対しては、ステップ
エンジンや電子装置（図には示さない）によって穴１１
の一つが励起源６の一つの上に到達するまで回転される
。電子Ｖ＆置の信号に従って移動が中止され、選択した
放射Ｂ６によって励起した各化学元素の飴と各元素の固
右ｘｍ放射が検出器によって記録され、その結果は、た
とえば多重チャンネル分析器（図には示さない）を用い
て１度に関する情報かえられるまで電気的に処理される
結果となる。同様にして他の放射源の上に連続的にシャ
ッターの位置が移動し、関連する各元素の濃度を計測す
る結果となる。穴１１が、いくつかの異なる励起源の並
行しておこなうように位置がきめられてもＱい。シャッ
ター１０のｆｉｌのポジションは、すべての放射源が閉
じられた状態になる。
路カップによって配置され台座７は、本体９と保護シリ
ンダー２に対して円錐シャッターとともに回転され、例
えば、本体９と保護シリンダー２に対しては、ステップ
エンジンや電子装置（図には示さない）によって穴１１
の一つが励起源６の一つの上に到達するまで回転される
。電子Ｖ＆置の信号に従って移動が中止され、選択した
放射Ｂ６によって励起した各化学元素の飴と各元素の固
右ｘｍ放射が検出器によって記録され、その結果は、た
とえば多重チャンネル分析器（図には示さない）を用い
て１度に関する情報かえられるまで電気的に処理される
結果となる。同様にして他の放射源の上に連続的にシャ
ッターの位置が移動し、関連する各元素の濃度を計測す
る結果となる。穴１１が、いくつかの異なる励起源の並
行しておこなうように位置がきめられてもＱい。シャッ
ター１０のｆｉｌのポジションは、すべての放射源が閉
じられた状態になる。
提出した装置は、異なったタイプの故ｒｊＪ源を同時に
８合することができ、混合したものの連続的または同時
の処理は、同位体Ｘ線蛍光分析によって決定可能なすべ
ての各車元素分析の機能的な可能性を拡大する。励起源
６、試料、検出器の特別で最適の条件と特に精巧な円錐
シャッター１０に基づいて効果的な励起と高精度の分析
が維持される。
８合することができ、混合したものの連続的または同時
の処理は、同位体Ｘ線蛍光分析によって決定可能なすべ
ての各車元素分析の機能的な可能性を拡大する。励起源
６、試料、検出器の特別で最適の条件と特に精巧な円錐
シャッター１０に基づいて効果的な励起と高精度の分析
が維持される。
第１図はこの発明に係る同位体蛍光ＸＩ！分析装置の断
面図を示す。 １・・・検出器、２・・・保護スクリーン、３・・・保
護シリンダー、４・・・円鉗口通孔、５・・・台座、６
・・・励起源、７・・・台座、８・・・試料ホルダ、９
・・・本体、１０・・・円錐シャッター、１１・・・穴
。
面図を示す。 １・・・検出器、２・・・保護スクリーン、３・・・保
護シリンダー、４・・・円鉗口通孔、５・・・台座、６
・・・励起源、７・・・台座、８・・・試料ホルダ、９
・・・本体、１０・・・円錐シャッター、１１・・・穴
。
Claims (5)
- （１）この保護スクリーンは、検出器前部と検出器の周
囲の表面を囲んでいる保護シリンダの間に配置され、保
護スクリーンを有する計測ヘッドの長軸に沿って配置さ
れた検出器から成り、保護シリンダーは、中央に貫通孔
を有し、その表面内には中に励起源が配置され、台座が
形成され、円錐貫通孔の上面の上部に調査試料のための
台座が配置され、それは本体を囲み、その内面が保護シ
リンダーを包囲する試料ホルダーの中に形成される構造
を設けたアイソトープ蛍光Ｘ線分析のための装置に於い
て、貫通孔４の円錐表面に沿って中に励起源６が置かれ
ている少なくとも一つの台座５が設けられており、円錐
孔４の中には、少なくとも１つの穴を有する回転する円
錐シャッター１０が設けられ、円錐孔４の下部の領域に
ある保護スクリーン２はその内側から円錐シャッター１
０を囲む構造を有していることを特徴とするアイソトー
プ蛍光Ｘ線分析装置 - （２）励起源６は異なるタイプのもので、円錐孔の異な
る位置に配置されることを特徴とする特許請求範囲第１
項記載のアイソトープ蛍光Ｘ線分析装置 - （３）円錐シャッター１０の孔１１は、円錐の形成する
表面に沿って、励起源の個々の作用表面応じた面積を有
していることを特徴とする特許請求範囲第１項または第
２項記載のアイソトープ蛍光Ｘ線分析装置 - （４）円錐シャッターの孔１１の数が励起源６の数に等
く、それによって異なつているタイプの励起源に対して
対応するレベルの穴１１が設けられることを特徴とする
特許請求範囲第１項または第２項記載のアイソトープ蛍
光Ｘ線分析装置 - （５）いくつかの励起源６が同じタイプであり、円錐シ
ャッターの穴１１の数は、同じタイプの励起源６の数に
等しいことを特徴とする特許請求範囲第１項記載のアイ
ソトープ蛍光Ｘ線分析装置
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| BG7538286A BG44997A1 (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 | |
| BG75382 | 1986-06-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6352046A true JPS6352046A (ja) | 1988-03-05 |
Family
ID=3917411
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14889487A Pending JPS6352046A (ja) | 1986-06-17 | 1987-06-15 | アイソト−プ蛍光ｘ線分析装置 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6352046A (ja) |
| AU (1) | AU595615B2 (ja) |
| BG (1) | BG44997A1 (ja) |
| DD (1) | DD283532A7 (ja) |
| DE (1) | DE3718764A1 (ja) |
| FI (1) | FI871633A (ja) |
| FR (1) | FR2600165B1 (ja) |
| GB (1) | GB2192277B (ja) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1385784A (en) * | 1919-06-25 | 1921-07-26 | Chalmers G Hall | Drift-compensating device for airships |
| US3511989A (en) * | 1967-02-21 | 1970-05-12 | Solomon Lazarevich Yakubovich | Device for x-ray radiometric determination of elements in test specimens |
| US3889113A (en) * | 1973-05-03 | 1975-06-10 | Columbia Scient Ind Inc | Radioisotope-excited, energy-dispersive x-ray fluorescence apparatus |
| US4063089A (en) * | 1976-11-24 | 1977-12-13 | The United States Of America As Represented By The United States Energy Research And Development Administration | X-ray chemical analyzer for field applications |
| CA1132262A (en) * | 1979-10-26 | 1982-09-21 | Archibald H.C.P. Gillieson | Method and apparatus for evaluating notes |
-
1986
- 1986-06-17 BG BG7538286A patent/BG44997A1/xx unknown
-
1987
- 1987-04-14 FI FI871633A patent/FI871633A/fi not_active IP Right Cessation
- 1987-05-25 FR FR8707324A patent/FR2600165B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1987-06-02 DD DD30343887A patent/DD283532A7/de not_active IP Right Cessation
- 1987-06-04 DE DE19873718764 patent/DE3718764A1/de not_active Withdrawn
- 1987-06-12 AU AU74157/87A patent/AU595615B2/en not_active Ceased
- 1987-06-15 JP JP14889487A patent/JPS6352046A/ja active Pending
- 1987-06-17 GB GB8714194A patent/GB2192277B/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DD283532A7 (de) | 1990-10-17 |
| AU595615B2 (en) | 1990-04-05 |
| GB2192277B (en) | 1990-01-31 |
| GB8714194D0 (en) | 1987-07-22 |
| GB2192277A (en) | 1988-01-06 |
| FR2600165A1 (fr) | 1987-12-18 |
| FI871633A (fi) | 1989-04-13 |
| FR2600165B1 (fr) | 1990-08-03 |
| AU7415787A (en) | 1987-12-24 |
| DE3718764A1 (de) | 1987-12-23 |
| FI871633A0 (fi) | 1987-04-14 |
| BG44997A1 (ja) | 1989-03-15 |
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