JPS6349681Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6349681Y2
JPS6349681Y2 JP1987141725U JP14172587U JPS6349681Y2 JP S6349681 Y2 JPS6349681 Y2 JP S6349681Y2 JP 1987141725 U JP1987141725 U JP 1987141725U JP 14172587 U JP14172587 U JP 14172587U JP S6349681 Y2 JPS6349681 Y2 JP S6349681Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light source
detection device
optical detection
solar cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1987141725U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63137810U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of JPS63137810U publication Critical patent/JPS63137810U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS6349681Y2 publication Critical patent/JPS6349681Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2433Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring outlines by shadow casting
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
    • B07C5/3404Sorting according to other particular properties according to properties of containers or receptacles, e.g. rigidity, leaks, fill-level
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 考案の属する技術分野 本考案は、物体の光学的検出装置に関する。こ
の装置では、1つまたは複数の光源の光が1つま
たは複数の光感知センサに入射し、また光源とセ
ンサとの間に被検物体が配置される。
従来技術 いろいろな製品の製造工程および包装工程中
に、所望の構造形態からの偏差を光学的に検出す
ることは周知である。この場合光源から発生され
る光ビームは例えば被走査物体によつて反射され
て光電池、2次電子増倍管または他の検出装置に
入射する。後流側に接続されている装置で、検出
された偏差もしくは欠陥が表示され、かつ必要に
応じ、欠陥ありと識別された物体を生産路もしく
は包装路から選別分離するための装置が制御され
ている。
考案が解決しようとする問題点 この種の従来より知られている装置には、構造
が比較的複雑で高価であり、センサとして非常に
多数の個々の素子が用いられ、したがつて被走査
物体が小さい場合、例えば錠剤の検査もしくは監
視においては、個々のセンサ素子の故障に際し複
雑で時間のかかる修理が必要であると言う欠点が
あつた。
本考案の課題は、小さい構造高さを可能にし、
複雑な電子系および/または光学系を必要とせ
ず、かつ物体の欠陥を正確にかつ高い信頼性でも
つて表示する、構造が簡単で同時にかつ高い信頼
性でもつて動作する光学的検出(走査)装置を提
供することにある。
問題点を解決するための手段 本考案によれば、この課題は次のようにして解
決される。すなわち、1つまたは複数の大表面積
の太陽電池が光感知センサとして用い、太陽電池
の上部表面と被検物体との間に、該被検物体の輪
郭に整合した形状の孔を有するマスクを配置す
る。そして、太陽電池を支持板上に配置し、該支
持板は、装置基部に端突合せ支持されたばねによ
つて、案内部に当接支持されたガラス板に対し
て、固定の位置で押圧されるようにする。さらに
太陽電池を、前記の孔を有するマスク、該マスク
の支持要素および固定要素と共に1つのブロツク
に集成する、のである。
作 用 光源としては拡散性の投光体を用い、被走査物
体と光源との間に、該物体に整合された照射絞り
を配設するのが有利である。
別の好ましい実施形態においては、光源もしく
は照射源として発光ダイオード(LED)およ
び/または赤外線光源が用いられる。
別の好ましい実施形態としては、光源として物
体の数および物体の輪郭に整合することができる
1つまたは複数の指向性のあるビーム束を発生す
る装置が用いられる。この実施形態においては、
光源として1つまたは複数のオプチカル・フアイ
バ束を使用することができる。高いセクタ分解能
を達成するためには、高い分解能を得たい領域に
おいて太陽電池の数を増大し、各太陽電池に別々
の増幅器を接続するのが有利である。
太陽電池は1つの支持板上に配設し、該支持板
は、装置基部に当接するばねによつて、案内部に
当接するガラス板に対し固定の位置で押圧するよ
うにするのが好ましい。
1つまたは複数の太陽電池は、被走査物体に整
合された鑽孔マスクならびにそれに関連の支持要
素および取付要素と共に1つのブロツクに集成す
ることが有利である。
太陽電池は、増幅器に対し電圧信号を発生し、
該増幅器は欠陥表示装置を制御すると共に機械制
御系を制御する。
本考案による装置は、一般に絞り加工をされた
箔に容れられている錠剤、カプセルおよび糖衣錠
のスキヤンニング検査に適している。またこの装
置は形態学的性状における欠陥を、太陽電池が応
答する放射を用いて検出することができる多数の
他の物体、例えば菓子類、金属製品、繊維製品そ
の他の製品のスキヤンニング検査にもよく適して
いる。
上に述べた「大表面積の太陽電池」とは、従来
スキヤンニングないし走査用途に用いられている
点形状ビームセンサとは異なり、少なくとも孔付
マスクに形成されている開口もしくは孔により規
定される面積を包摂する太陽電池であると理解さ
れたい。本考案のこの構成によれば、比較的大き
な面積の物体内の欠陥または表面欠陥を、唯1つ
の測定値即ち1つの電圧変化で検出することがで
きると言う利点が得られる。これに対して従来の
走査(検出)装置においては、大きな表面は複数
の走査点に分解されて電子的に処理しなければな
らなかつた。
本考案による走査装置はさらに従来知られてい
る装置と比較して次のような大きな利点をもたら
す。即ち、対応の鑽孔ないし孔付マスクを交換し
かつ必要に応じ照射絞りを交換することによつて
異なつた輪郭の物体を同じ装置で欠陥の存否に関
して検査できると言う利点である。
このような仕方で物体の形態学的性状に関して
検出される欠陥としては、例えば輪郭欠陥、層厚
の欠陥(この場合には残りの層部分も放射透過性
である)および透過率を減少する異物の影響によ
つて惹起される欠陥がある。
本考案による装置の作用は、被検錠剤、カプセ
ル、糖衣錠等々が不透明な箔内に容れられている
ような場合でもその作用に関して不利な影響を受
けることはない。
一般に錠剤、カプセル、糖衣錠等々の製品検査
においてそうであるように、被検物体が1つの平
面内に配列されている場合には、本発明による検
査装置の大表面太陽電池も1つの平面内に配列す
るのが好ましい。
本考案によつて提案される太陽電池ブロツクま
たは、被検物体の輪郭を空間的もしくは三次元的
に検出するように互に組合せることができる。即
ち太陽電池ブロツクを例えば物体の下方、物体の
側方および物体の背側に配設し、その場合物体の
側方に配設された太陽電池ブロツクの平面および
物体の背側に配置された太陽電池ブロツクの平面
が、互に約90゜の角度を形成すると共に物体の下
方に配設された太陽電池ブロツクの平面に対し約
90゜の角度を形成するようにする。
実施例 次に、添付図面を参照し実施例について詳細に
説明する。
第1図を参照するに、支持板3の平面には複数
の太陽電池が配列されている。個々の太陽電池は
少なくとも、鑽孔マスク5に形成されている開口
が占める面積と等しい表面積を有する。鑽孔マス
ク5に形成されている開口は、一般には管理もし
くは検査される物体即ち被検物体12の直径より
も若干小さい。本実施例の場合、この物体12は
深絞り加工された箔13内に存在する通常の錠剤
である。太陽電池4は通例のように薄いガラス板
によつて保護されている。このガラス板上に鑽孔
マスク5が配置されておつて、この鑽孔マスク5
は交換可能にするのが有利である。さらに、その
上にガラス板6を配置するのが好ましい。装置の
基部1に端突合せ支持されているばね2によつ
て、この組立体全体は案内部もしくは保持部7に
対して固定の位置で押圧されている。ここに図示
した実施例では、各物体の上方に光源11が設け
られる。光源11は担体10によつて保持されて
おり、一方該担体10は間隔部材9を介して照射
(ビーム)絞り8上に支持されている。照射ない
しビーム絞り8は、光源11によつて発生された
光を、被検物体12の領域においてのみ該物体へ
と通過せしめる。照射絞り8はしたがつて被検物
体の側方の散乱光もしくは散乱放射を遮蔽する働
きをなす。
拡散光源の代りに、被検物体12の数および輪
郭に適合もしくは整合されている指向性の照射ビ
ームを用いる場合には、照射絞り8は必要とされ
ない。この構成は、拡散光源11の代りに例えば
オプチカル・フアイバ束を、被検物体12上に設
けることにより簡単に実現することができる。
光源もしくは冷光源を使用する代りに赤外線光
源を使用することも可能である。なぜならば太陽
電池はこの放射にも応答するからである。
光源もしくは放射源11からの光もしくは放射
が、供給装置(図示せず)により検査場所に送給
されている物体12に投射され、該物体の輪郭お
よび形態が、鑽孔ないし孔付マスク5に形成され
ている関連の開口を完全に覆いしたがつて放射を
透過しないような性状にある場合には、光もしく
は放射は実質的に、鑽孔マスク5の下側に配置さ
れている太陽電池4に達せず、したがつて、第2
図に参照数字14で示されている増幅器は太陽電
池から電圧信号を受けることはない。このこと
は、被検物体に欠陥がなく選別する必要がないこ
とを意味する。
物体が輪郭欠陥を有している場合には、光は物
体12の欠陥個所を通つて大きな表面の太陽電池
4に入射し、したがつてこの場合には、第2図に
示されている増幅器14は太陽電池から電圧信号
を受ける。太陽電池は、物体の輪郭が損傷されて
おらず物体の形態学的性質が大きく損傷されてお
つて、或る量の入射光もしくは放射が物体を通つ
て太陽電池に達した場合にも応答する。例えば、
鑽孔マスク5上に投射される錠剤が規定の輪郭を
有するが規定の層厚を有しないような場合がこの
例である。
第2図に示されている増幅器14が太陽電池4
の1つから電圧信号を受けると、該増幅器は欠陥
表示部15に制御信号を発生し、当該物体が欠陥
を有する旨の表示が与えられる。同時に増幅器1
4は制御回路16に信号を与え、この信号により
製造および包装機械Mは、欠陥のある物体が選別
されるように制御される。増幅器、機械制御装置
16ならびに光源もしくは放射源11は安定電源
装置17を介して電圧を供給される。
太陽電池の出力信号を処理する増幅器14は、
差動増幅器およびシユミツト・トリガから構成す
ることができる。
光源11としては白熱ランプまたは赤外線発光
ダイオード(LED)または他の適した光源を選
択的に使用することができる。白熱ランプまたは
発光ダイオードが謂ゆる拡散投光源もしくは放射
源である。このような拡散投光源をビーム光源と
して用いる場合には、被検物体の上方に照射絞り
8を設けるのが好ましい。指向性の光またはオプ
チカル・フアイバを用いる場合には、このような
絞りは省略することができる。光源としてはオプ
チカル・フアイバを用いれば次のような利点が得
られる。即ち、太陽電池ブロツク側に設けられる
被検物体の輪郭および数にオプチカル・フアイバ
を容易に適合することができると言う利点であ
る。
鑽孔マスク5ならびに必要に応じ照射絞り8を
交換することにより、本考案による検査もしくは
管理装置は、非常に簡単な仕方で他の形態もしく
は形状の物体の検査および管理に切換えることが
できる。
本考案による装置を例えば、深絞り加工された
箔(シート)内に配置された錠剤の検査もしくは
監視に用いられる場合には、鑽孔マスク5に形成
される孔には太陽電池を介して正確に被検錠剤の
形態に対応し、そして鑽孔マスクの各孔の下方即
ち各錠剤の下方には孔全体を完全に検知する太陽
電池を配設するのが好ましい。例えば12個の錠剤
の包装、即ち12個の錠剤を有する箔で、それぞれ
直列に配列された4つの錠剤の3つの列を1つの
包装単位に集成する場合には、鑽孔マスク後もこ
の12錠包装々置に対応し、錠剤の大きさのそれぞ
れ4つの孔が直列に3つの列で形成される。この
場合には鑽孔マスクの孔の下方に12個の太陽電池
が配列される。次いでこの装置を用いてカプセル
を検査しようとする場合には、錠剤鑽孔マスクを
カプセル鑽孔マスクと交換するだけで包装機械は
そのまま動作し続けることができる。また、座
薬、糖衣錠等々の検査もしくは管理にも簡単に切
換えることができる。欠陥のある物体だけを検出
しようとする場合には、太陽電池および単純な白
熱ランプでの走査がコスト面で極めて好ましい。
しかしながら高い分解能が要求される場合には、
太陽電池に対する被検物体の数を少なくして各太
陽電池には別々の増幅器を設ける。このようにし
て例えば光透過性が低い錠剤の場合には、水平面
で表面の剥れた錠剤を選別することができる。こ
のようにしてまた限定されてはいるが厚さの測定
も可能である。この場合には、光源として赤外線
放出ダイオードを用いるのが好ましい。
考案の効果 被検物体の下側の領域の全表面が検出される訳
であるから、物体当り唯1つの信号(電圧信号)
だけで、完全な検査もしくは管理が行なえる。こ
れに対して公知の光電検査管理装置の場合には、
物体が点ベースで走査されるので、小さい物体の
場合でも数百ないし数千の信号が処理されること
になり、このためそれに対応して大きくかつ高価
な電子装置が必要とされる。したがつて本考案に
よる装置は公知の検査管理装置と比較して非常に
簡略で廉価でしかも信頼性が高い。さらに光学系
はなんら必要とされず、非常に小さい構造高さで
実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、太陽電池ブロツクから構成された本
考案による装置の断面図、第2図は第1図の装置
で得られた信号を処理および表示するための電子
装置のブロツク・ダイヤグラムである。 1……基部、2……ばね、3……支持板、4…
…太陽電池、5……孔付マスク、6……ガラス
板、7……保持部、8……照射絞り、9……間隔
部材、10……担体、11……光源、12……被
検物体、13……箔、14……増幅器、15……
欠陥表示部、16……機械制御装置、17……安
定電源装置、M……製造または包装機械。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 1つまたは複数の光源の光が1つまたは複数
    の光感知センサに入射し、また光源とセンサと
    の間に被検物体が配置される、物体の光学的検
    出装置において、 1つまたは複数の大表面積の太陽電池が光感
    知センサ4として用いられ、太陽電池の上部表
    面と被検物体との間に、該被検物体の輪郭に整
    合した形状の孔を有するマスク5が配置されて
    おり、 太陽電池が支持板3上に配置され、該支持板
    は、装置基部1に端突合せ支持されたばね2に
    よつて、案内部7に当接支持されたガラス板6
    に対して、固定の位置で押圧されており、 太陽電池4が、前記の孔を有するマスク5、
    該マスクの支持要素および固定要素と共に1つ
    のブロツクに集成されてなる、光学検出装置。 2 光源11が拡散性の投光体であり、被走査な
    いし被検物体と該拡散性の発光体との間に該物
    体に整合された照射絞り8を配設した実用新案
    登録請求の範囲第1項記載の光学的検出装置。 3 光源11が発光ダイオードLEDおよび/ま
    たは赤外線光源である実用新案登録請求の範囲
    第2項記載の光学的検出装置。 4 光源11が1つまたは複数の指向性の光ビー
    ム束を発生し、該光ビーム束の数は物体の数お
    よび物体の輪郭に整合し得ることを特徴とする
    実用新案登録請求の範囲第1項記載の光学的検
    出装置。 5 光源11が1つまたは複数のオプチカル・フ
    アイバ束からなる実用新案登録請求の範囲第4
    項記載の光学的検出装置。 6 高いセクタ分解能を達成するために、高い分
    解能を達成したい領域における太陽電池数を増
    大し、各太陽電池に別々の増幅器を設けた実用
    新案登録請求の範囲第1項ないし第5項のいず
    れかに記載の光学的検出装置。 7 太陽電池が電圧信号を増幅器14に発生し、
    該増幅器14は欠陥表示装置15を制御すると
    共に機械制御装置16を制御する実用新案登録
    請求の範囲第1項ないし第6項のいずれかに記
    載の光学的検出装置。
JP1987141725U 1980-08-27 1987-09-18 Expired JPS6349681Y2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803032334 DE3032334A1 (de) 1980-08-27 1980-08-27 Vorrichtung zum optischen abtasten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63137810U JPS63137810U (ja) 1988-09-12
JPS6349681Y2 true JPS6349681Y2 (ja) 1988-12-21

Family

ID=6110527

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56119422A Pending JPS5798803A (en) 1980-08-27 1981-07-31 Optical detector
JP1987141725U Expired JPS6349681Y2 (ja) 1980-08-27 1987-09-18

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56119422A Pending JPS5798803A (en) 1980-08-27 1981-07-31 Optical detector

Country Status (26)

Country Link
US (1) US4415811A (ja)
JP (2) JPS5798803A (ja)
KR (1) KR850000340B1 (ja)
AR (1) AR230734A1 (ja)
AT (1) AT392541B (ja)
AU (1) AU542777B2 (ja)
BE (1) BE890077A (ja)
BR (1) BR8105486A (ja)
CA (1) CA1179035A (ja)
CH (1) CH654110A5 (ja)
DE (1) DE3032334A1 (ja)
DK (1) DK154687C (ja)
ES (1) ES8205586A1 (ja)
FI (1) FI74147C (ja)
FR (1) FR2489179B1 (ja)
GB (1) GB2082768B (ja)
GR (1) GR75750B (ja)
IE (1) IE51705B1 (ja)
IT (1) IT1139117B (ja)
NL (1) NL180809C (ja)
NO (1) NO153447C (ja)
PT (1) PT73561B (ja)
SE (1) SE457151B (ja)
SU (1) SU1367871A3 (ja)
YU (1) YU43034B (ja)
ZA (1) ZA815902B (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1201613B (it) * 1986-12-23 1989-02-02 Ima Spa Dispositivo per il rilevamento e della presenza di prodotti in corrispondenti sedi e di irregolarita'nel profilo di base di tali prodotti gia'collocati nelle relative sedi
IT1220371B (it) * 1988-05-20 1990-06-15 P M System Srl Metodo per controllare la tenuta della saldatura delle fialette monodose di materiale termoplastico ottenute collegate affiancate in unita' multiple ed apparecchiatura per l'attuazione di detto metodo
DE9114260U1 (de) * 1991-11-15 1992-01-23 HPF Hans P. Friedrich Elektronik GmbH, 73660 Urbach Vorrichtung zur optischen Füllgutkontrolle
DE4243296A1 (de) * 1992-12-21 1994-06-23 Sandoz Ag Verfahren zur Kontrolle der Anwesenheit eines Beipackzettels in einer Verpackung für Fertigarzneimittel und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens
US5760399A (en) * 1995-10-02 1998-06-02 Foss Nirsystems, Inc. Measurement of transmission spectra of pharmaceutical tablets
US6667808B2 (en) 2000-03-08 2003-12-23 Thermo Electron Scientific Instruments Corporation Multifunctional fourier transform infrared spectrometer system
DE60108413T2 (de) 2000-11-10 2005-06-02 Unitive Electronics, Inc. Verfahren zum positionieren von komponenten mit hilfe flüssiger antriebsmittel und strukturen hierfür
US7171033B2 (en) * 2001-03-28 2007-01-30 The Boeing Company System and method for identifying defects in a composite structure
US7053373B1 (en) 2005-01-19 2006-05-30 Thermo Electron Scientific Instruments Llc Infrared spectrometer with automated tablet sampling
ITMO20070139A1 (it) * 2007-04-20 2008-10-21 Con Med S R L Dispositivo di scansione ottico di area
JP2013033008A (ja) * 2011-08-03 2013-02-14 Sony Corp 光学分析装置及び光学分析方法
JP2014118200A (ja) * 2012-12-18 2014-06-30 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の収容状態確認方法
CN109945798A (zh) * 2019-03-11 2019-06-28 上海人赢网络科技有限公司 一种高速大点数测量光幕

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3437823A (en) * 1965-08-11 1969-04-08 Industrial Nucleonics Corp Method and apparatus for detecting a given pattern in a moving web such as wire mark in paper
GB1225013A (en) * 1967-12-13 1971-03-17 British Insulated Callenders Improvements in or relating to methods of and apparatus for testing electric cables
US3698821A (en) * 1971-08-19 1972-10-17 Burroughs Corp Method and apparatus for inspecting plated-through printed circuit board holes
DE2638138C3 (de) * 1976-08-25 1979-05-03 Kloeckner-Werke Ag, 4100 Duisburg Vorrichtung zum Erkennen und Aussortieren fehlerhafter Packungen, die längs einer Förderstrecke transportiert werden
DE2709566A1 (de) * 1977-03-04 1978-09-07 Sick Optik Elektronik Erwin Optische ueberwachungsvorrichtung fuer in einer durchsichtigen verpackung angeordnete gegenstaende
US4349278A (en) * 1980-06-09 1982-09-14 Gte Products Corporation Comparator mask for aperture measuring apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5798803A (en) 1982-06-19
AR230734A1 (es) 1984-06-29
CH654110A5 (de) 1986-01-31
SU1367871A3 (ru) 1988-01-15
NL8103462A (nl) 1982-03-16
FI74147C (fi) 1987-12-10
YU43034B (en) 1989-02-28
CA1179035A (en) 1984-12-04
AU7360781A (en) 1982-03-04
NO153447B (no) 1985-12-16
NO812572L (no) 1982-03-01
US4415811A (en) 1983-11-15
BR8105486A (pt) 1982-05-11
NL180809C (nl) 1987-05-04
FI74147B (fi) 1987-08-31
GR75750B (ja) 1984-08-02
DK378581A (da) 1982-02-28
ATA325281A (de) 1990-09-15
DE3032334C2 (ja) 1988-03-31
NO153447C (no) 1986-05-07
PT73561B (de) 1982-11-05
SE457151B (sv) 1988-12-05
PT73561A (de) 1981-09-01
ES504973A0 (es) 1982-07-01
IT1139117B (it) 1986-09-17
ES8205586A1 (es) 1982-07-01
ZA815902B (en) 1982-09-29
BE890077A (fr) 1982-02-25
DE3032334A1 (de) 1982-04-08
YU207381A (en) 1983-10-31
FR2489179B1 (fr) 1986-03-28
IT8123377A0 (it) 1981-08-05
JPS63137810U (ja) 1988-09-12
FR2489179A1 (fr) 1982-03-05
AT392541B (de) 1991-04-25
AU542777B2 (en) 1985-03-14
IE51705B1 (en) 1987-02-18
FI812245L (fi) 1982-02-28
SE8105001L (sv) 1982-02-28
KR830006713A (ko) 1983-10-06
GB2082768A (en) 1982-03-10
KR850000340B1 (ko) 1985-03-21
IE811899L (en) 1982-02-27
DK154687C (da) 1989-05-01
DK154687B (da) 1988-12-12
GB2082768B (en) 1985-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6349681Y2 (ja)
EP0685140B1 (en) Continuous diffuse illumination method and apparatus
US8164746B2 (en) Illumination method and device for determining the presence of defects on the surface of a container collar
US4671652A (en) Machine for candling articles such as hatching-eggs
US3993899A (en) Sorting machine with fiber optic focusing means
US5005979A (en) Optical position detection
KR20000075764A (ko) 검사시스템
GB2078940A (en) Light diffusion device
JPH0515428B2 (ja)
KR101151274B1 (ko) 결점 검사장치
GB2101301A (en) Detecting a particle agglutination pattern
US6788399B2 (en) Ophthalmic article inspection system
US7456941B2 (en) Measuring device for measuring the refraction properties of optical lenses
TW201418689A (zh) 光學裝置之測試
JP4932622B2 (ja) 光学特性測定装置
JPH11108844A (ja) 鏡面材料並びに透過材料の検査用光源装置
JPH1166937A (ja) 照明装置
JP3631503B2 (ja) ガラス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法
US3479520A (en) Yarn package support inspector
JP2518763Y2 (ja) 検査用照明装置
JP2016194473A (ja) パターン製品の検査装置および方法
JPS6330561B2 (ja)
KR20220133575A (ko) 광학 검사 장치
DE8022840U1 (de) Vorrichtung zum optischen abtasten
JPS62212557A (ja) テ−プ状被検体の表面異常検査装置