JPS634599A - X線装置 - Google Patents
X線装置Info
- Publication number
- JPS634599A JPS634599A JP61147149A JP14714986A JPS634599A JP S634599 A JPS634599 A JP S634599A JP 61147149 A JP61147149 A JP 61147149A JP 14714986 A JP14714986 A JP 14714986A JP S634599 A JPS634599 A JP S634599A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tube
- ray
- voltage
- tube voltage
- filament
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 7
- 230000007704 transition Effects 0.000 abstract 3
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 abstract 2
- 239000003607 modifier Substances 0.000 abstract 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 4
- 206010073306 Exposure to radiation Diseases 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/32—Supply voltage of the X-ray apparatus or tube
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/10—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube
- H05G1/20—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube with high-frequency ac; with pulse trains
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/56—Switching-on; Switching-off
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、X線のオン・オフをX線曝射信号に基づいて
制011することのできるX線装置に関する。
制011することのできるX線装置に関する。
(従来の技術)
従来のX線装置を第5図に示1゜
1は三相交流電圧を整流する整流器であり、この整流器
1の整流出力はチョッパ回路2に入力され、ここで電圧
調整が行われる。そしてこのチョッパ回路2の出力はフ
ィルタ回路3を介してインバータ回路4に入力され、こ
のインバータ回路4の出力が高圧トランス5により背圧
される。高圧トランス5により昇圧された電圧は整流器
6により整流され、コンデンサC1、C2により平滑さ
れてX線管7のアノード・フィラメント間に印加される
。
1の整流出力はチョッパ回路2に入力され、ここで電圧
調整が行われる。そしてこのチョッパ回路2の出力はフ
ィルタ回路3を介してインバータ回路4に入力され、こ
のインバータ回路4の出力が高圧トランス5により背圧
される。高圧トランス5により昇圧された電圧は整流器
6により整流され、コンデンサC1、C2により平滑さ
れてX線管7のアノード・フィラメント間に印加される
。
ところで、CT装置用のX線装置においてはX線管7に
印加される高電圧(管電圧)のリップルを小さくするた
め第5図のようにコンデンサC1゜C2を挿入するのが
一般的であるが、このコンデンサC1、C2と回路のイ
ンピーダンスとの関係で第6図に示すように管電圧(k
V)の立ち上り。
印加される高電圧(管電圧)のリップルを小さくするた
め第5図のようにコンデンサC1゜C2を挿入するのが
一般的であるが、このコンデンサC1、C2と回路のイ
ンピーダンスとの関係で第6図に示すように管電圧(k
V)の立ち上り。
立ち下りが遅れてしまう。尚、第6図においてmAはX
線管7の管電流、Ifはフィラメント電流である。この
ようなX線装置においては、■データ収集に使えない不
要なX線の発生により、不要な被曝を患者に与えたり、
あるいはこれを避けるため被爆防止用のX線シャッター
を設けなければならない。
線管7の管電流、Ifはフィラメント電流である。この
ようなX線装置においては、■データ収集に使えない不
要なX線の発生により、不要な被曝を患者に与えたり、
あるいはこれを避けるため被爆防止用のX線シャッター
を設けなければならない。
■データ収集に寄与しない無駄時間を生ずるため、X線
曝射の繰返し応答性(高速性)を劣化させる。
曝射の繰返し応答性(高速性)を劣化させる。
■X線管に無用な熱入力があるため、X線管の効率的使
用を妨げる。
用を妨げる。
等の問題点を生じている。
(発明が解決しようとする問題点)
上述したように従来装置においては、X線被曝量が多い
、X線曝射の繰返し応答性が悪い、X線管の効率的使用
ができない2等の問題点を生じている。
、X線曝射の繰返し応答性が悪い、X線管の効率的使用
ができない2等の問題点を生じている。
この発明はかかる事情に鑑みて成されたものであり、そ
の目的とするところは、X線被曝量が少なく、しかもX
線曝射の繰返し応答性に優れ、ざらにX線管の効率的使
用が可能となるX線装置を提供することにある。
の目的とするところは、X線被曝量が少なく、しかもX
線曝射の繰返し応答性に優れ、ざらにX線管の効率的使
用が可能となるX線装置を提供することにある。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は、X線のオン・オフ制御を行うX線曝射信号に
基づき、管電圧波形のエツジ特性を隆正する管電圧波形
修正手段を有するものである。
基づき、管電圧波形のエツジ特性を隆正する管電圧波形
修正手段を有するものである。
(作 用)
本発明によれば、前記管電圧波形修正手段により、管電
圧波形のエツジ特性を修正するようにしているため、デ
ータ収集に使えない不要なX線の発生量減少によりX線
被@母を減少させることができ、データ収集に寄与しな
い時間の減少によりX線曝射の繰返し応答性を改善する
ことができ、X線管の無用な熱入力の減少によりX線管
の効率的使用が可能となる。
圧波形のエツジ特性を修正するようにしているため、デ
ータ収集に使えない不要なX線の発生量減少によりX線
被@母を減少させることができ、データ収集に寄与しな
い時間の減少によりX線曝射の繰返し応答性を改善する
ことができ、X線管の無用な熱入力の減少によりX線管
の効率的使用が可能となる。
(実施例)
以下、図示実施例を説明する。
第1図は本発明の一実施例たるX線装置のブロック図で
おり、同図において第5図に示すのと同一機能を有する
ものには同一符号を付しである。
おり、同図において第5図に示すのと同一機能を有する
ものには同一符号を付しである。
この実施例が従来のものと相違するのは、可変抵抗器8
,9.フィラメント制御回路10A、インバータ制御回
路11.管電圧検出比較回路12を有する点である。
,9.フィラメント制御回路10A、インバータ制御回
路11.管電圧検出比較回路12を有する点である。
前記可変抵抗器8.9は互いに直列接続され、コンデン
サC1、C2に対して並列接続されている。この可変抵
抗器8.9の直列接続点は接地されており、それぞれ接
地電位を基準とフる正、負電圧を分圧して取り出せるよ
うになってる。この可変抵抗器8,9の分圧出力は管電
圧検出比較回路12に取り込まれるようになっており、
ここで、外部より入力される管電圧(kV)信号との比
較が行われることになる。
サC1、C2に対して並列接続されている。この可変抵
抗器8.9の直列接続点は接地されており、それぞれ接
地電位を基準とフる正、負電圧を分圧して取り出せるよ
うになってる。この可変抵抗器8,9の分圧出力は管電
圧検出比較回路12に取り込まれるようになっており、
ここで、外部より入力される管電圧(kV)信号との比
較が行われることになる。
前記インバータ制御回路11は、外部より入力される管
電圧(kV)信号、管電流(mA>信号。
電圧(kV)信号、管電流(mA>信号。
Xt@曝躬信号に基づき、インバータ回路4のスイッチ
ング動作制御を行うものであり、前記管電圧検出比較回
路12の出力に応じて管電圧のフィードバック制御が行
われるようになっている。
ング動作制御を行うものであり、前記管電圧検出比較回
路12の出力に応じて管電圧のフィードバック制御が行
われるようになっている。
また、前記フィラメント制御回路10Aは前記管電流信
号及びXi3;1曝躬信月を取り込み、トランス13を
介してX線管7のフィラメント電流を制御するものであ
り、このフィラメント電流制御により管電流が制御され
ることになる。ここでは、X線のオン・オフ制御を行う
X線曝射信号に基づき、フィラメント電流を制御し管電
流を制御することで管電圧波形のエツジ特性すなわち立
ち上り。
号及びXi3;1曝躬信月を取り込み、トランス13を
介してX線管7のフィラメント電流を制御するものであ
り、このフィラメント電流制御により管電流が制御され
ることになる。ここでは、X線のオン・オフ制御を行う
X線曝射信号に基づき、フィラメント電流を制御し管電
流を制御することで管電圧波形のエツジ特性すなわち立
ち上り。
立ち下り特性を修正している。具体的にこのフィラメン
ト制御回路10Aは、X線曝射開始時の管電流値を、X
線曝射における正規の管電流値よりも減少させることに
より、管電圧の立ち上り特性を改善すると共に、X線曝
射終了時の管電流値を、X線曝射における正規の管電流
値よりも増大させることにより、管電圧の立ち下り特性
を改善している。このような意味でこのフィラメント制
御回路10Aを管電圧波形修正手段10と称する。
ト制御回路10Aは、X線曝射開始時の管電流値を、X
線曝射における正規の管電流値よりも減少させることに
より、管電圧の立ち上り特性を改善すると共に、X線曝
射終了時の管電流値を、X線曝射における正規の管電流
値よりも増大させることにより、管電圧の立ち下り特性
を改善している。このような意味でこのフィラメント制
御回路10Aを管電圧波形修正手段10と称する。
上記構成による実施例装置の作用について説明する。
管電圧信号、@電流信号によって、X線曝射における正
規の管電圧、管電流が設定され、X線曝射信号によって
X線のオン・オフt制御がなされる。
規の管電圧、管電流が設定され、X線曝射信号によって
X線のオン・オフt制御がなされる。
すなわち、インバータ制御回路11の1制御下におるイ
ンバータ回路4の動作により高圧トランス5の1次巻線
に1次電圧V1が印加され、2次巻線に高電圧V2が誘
起される。この誘起電圧V2は整流器6により整流され
、コンデン→ノC1,02により平滑されてX線管7に
印加され、これによりX線管7からX線が曝射される。
ンバータ回路4の動作により高圧トランス5の1次巻線
に1次電圧V1が印加され、2次巻線に高電圧V2が誘
起される。この誘起電圧V2は整流器6により整流され
、コンデン→ノC1,02により平滑されてX線管7に
印加され、これによりX線管7からX線が曝射される。
このX線曝射開始時において、フィラメント制御回路1
0Aはフィラメント電流を抑えることによりX線@1射
開始時の管電流1直を正規の値の約1/2に減少させる
。この結果、X線曝射開始時においては回路のインピー
ダンス降下が小さくなり高圧トランス5の2次電圧V2
が上昇し、コンデンサC1、C2の充電が高速に行われ
るため、管電圧の立ち上り特性が改善される。
0Aはフィラメント電流を抑えることによりX線@1射
開始時の管電流1直を正規の値の約1/2に減少させる
。この結果、X線曝射開始時においては回路のインピー
ダンス降下が小さくなり高圧トランス5の2次電圧V2
が上昇し、コンデンサC1、C2の充電が高速に行われ
るため、管電圧の立ち上り特性が改善される。
また、フィラメント制御回路10Aは、X線陽射終了時
のフィラメント電流を増大させることにより、X線曝射
終了時の管電流値を正規の値の約1.5侶に増大させる
。この結果、X線曝射終了時においてはコンデンサC1
、C2の放電が高速に行われるため、管電圧の立ち下り
特性が改善される。本実施例装置におけるフィラメント
電流(If)、管電流(mA>、管電圧(kV)の関係
を第2図に示し、また、無負荷時にあける1次電圧V1
.2次電圧V2 (ピーク)との関係を第3図に示す
。尚、第3図においては管電流をパラメータとしている
。
のフィラメント電流を増大させることにより、X線曝射
終了時の管電流値を正規の値の約1.5侶に増大させる
。この結果、X線曝射終了時においてはコンデンサC1
、C2の放電が高速に行われるため、管電圧の立ち下り
特性が改善される。本実施例装置におけるフィラメント
電流(If)、管電流(mA>、管電圧(kV)の関係
を第2図に示し、また、無負荷時にあける1次電圧V1
.2次電圧V2 (ピーク)との関係を第3図に示す
。尚、第3図においては管電流をパラメータとしている
。
このように本実施例制御装置にあっては、管電圧波形修
正手段10としてのフィラメント制御回路10Aにより
X線曝射開始時及び終了時の管電流を制御覆ることによ
り管電圧波形のエツジ特性(立ち上り、立ち下り特性)
を修正でることができるものであるから、データ収集に
使えない不要なX線の発生量減少により患者のX線被曝
但を減少させることができ、データ収集に寄与しない時
間の減少によりX線曝射の繰り返し応答性を改善づるこ
とができ、X線管の無用な熱入力の減少によりX線管の
効率的使用が可能となる。
正手段10としてのフィラメント制御回路10Aにより
X線曝射開始時及び終了時の管電流を制御覆ることによ
り管電圧波形のエツジ特性(立ち上り、立ち下り特性)
を修正でることができるものであるから、データ収集に
使えない不要なX線の発生量減少により患者のX線被曝
但を減少させることができ、データ収集に寄与しない時
間の減少によりX線曝射の繰り返し応答性を改善づるこ
とができ、X線管の無用な熱入力の減少によりX線管の
効率的使用が可能となる。
以上本発明の一実施例について説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、種々の変形実施が
可能であるのはいうまでもない。
記実施例に限定されるものではなく、種々の変形実施が
可能であるのはいうまでもない。
例えば上記実施例ではフィラメント制御回路10Aによ
り管電圧の立ち上り、立ら下りの双方を改善するものに
ついて説明したが、少なくともいずれか一方を改善すれ
ば本発明の目的を達成することができる。
り管電圧の立ち上り、立ら下りの双方を改善するものに
ついて説明したが、少なくともいずれか一方を改善すれ
ば本発明の目的を達成することができる。
また、上記実施例ではフィラメント制u11回路10A
を管電圧波形修正手段10として説明したが、例えば第
4図に示すように、X線曝射開始時における1次電圧V
1を、X線曝射における正規の1次電圧値よりも高くす
るようにしてもよく、この場合、第1図におけるインバ
ータ制御11によって管電圧波形修正手段が構成される
ことになる。
を管電圧波形修正手段10として説明したが、例えば第
4図に示すように、X線曝射開始時における1次電圧V
1を、X線曝射における正規の1次電圧値よりも高くす
るようにしてもよく、この場合、第1図におけるインバ
ータ制御11によって管電圧波形修正手段が構成される
ことになる。
さらに上記実施例では1次側スイッチングのX線装置に
ついて説明したが、例えばブトロード(4極真空管)ス
イッチングの場合でも、ブトロードとX線管との間にコ
ンデンサ成分(浮遊容量を含む)が存在すれば管電圧の
立ち上り、立ち下りが遅れてしまい、既述した問題点を
生ずるのは必至となる。従ってこのようにテトロ−トス
イツチングを行う装置においても本発明を適用覆ること
によってその問題点を解決することかできる。
ついて説明したが、例えばブトロード(4極真空管)ス
イッチングの場合でも、ブトロードとX線管との間にコ
ンデンサ成分(浮遊容量を含む)が存在すれば管電圧の
立ち上り、立ち下りが遅れてしまい、既述した問題点を
生ずるのは必至となる。従ってこのようにテトロ−トス
イツチングを行う装置においても本発明を適用覆ること
によってその問題点を解決することかできる。
[発明の効果]
以上詳述したように本発明によればX線被曝りが少なく
、しかもX線曝射の繰返し応答性に優れ、さらにX線管
の効率的使用が可能となるX線装置を提供することがで
きる。
、しかもX線曝射の繰返し応答性に優れ、さらにX線管
の効率的使用が可能となるX線装置を提供することがで
きる。
第1図は本発明の一実施例たるX線装置のブロック図、
第2図は本実施例装置における管電圧。 管電流、フィラメント電流の関係を示す波形図、第3図
は本実施例装置における高圧トランスの1次電圧、2次
電圧の関係を示す特性図、第4図は本発明の詳細な説明
するための波形図、第5図は従来装置のブロック図、第
6図は従来装置における管電圧、管電流、フィラメント
電流の関係を示す波形図である。 5・・・高圧トランス、 7・・・X線管、10・・
・管電圧波形修正手段。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑同
大 胡 典 夫v 第2図
第2図は本実施例装置における管電圧。 管電流、フィラメント電流の関係を示す波形図、第3図
は本実施例装置における高圧トランスの1次電圧、2次
電圧の関係を示す特性図、第4図は本発明の詳細な説明
するための波形図、第5図は従来装置のブロック図、第
6図は従来装置における管電圧、管電流、フィラメント
電流の関係を示す波形図である。 5・・・高圧トランス、 7・・・X線管、10・・
・管電圧波形修正手段。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑同
大 胡 典 夫v 第2図
Claims (5)
- (1)1次電圧を昇圧して高電圧を得る高圧トランスと
、この高電圧より生成された管電圧の印加によりX線を
曝射するX線管とを有し、X線曝射信号に基づきX線の
オン・オフ制御を行うX線装置において、前記X線曝射
信号に基づき、前記管電圧波形のエッジ特性を修正する
管電圧波形修正手段を有することを特徴とするX線装置
。 - (2)前記管電圧波形修正手段は、X線曝射開始時の管
電流値を、X線曝射における正規の管電流値よりも減少
させる特許請求の範囲第1項に記載のX線装置。 - (3)前記管電圧波形修正手段は、X線曝射終了時の管
電流値を、X線曝射における正規の管電流値よりも増大
させる特許請求の範囲第1項又は第2項に記載のX線装
置。 - (4)前記管電流の減少又は増大は前記X線管のフィラ
メント電流制御によって行う特許請求の範囲第2項又は
第3項に記載のX線装置。 - (5)前記管電圧波形修正手段は、X線曝射開始時の1
次電圧値をX線曝射における正規の1次電圧値よりも高
くする特許請求の範囲第1項に記載のX線装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61147149A JPS634599A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | X線装置 |
US07/066,020 US4761804A (en) | 1986-06-25 | 1987-06-24 | High DC voltage generator including transition characteristics correcting means |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61147149A JPS634599A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | X線装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS634599A true JPS634599A (ja) | 1988-01-09 |
Family
ID=15423691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61147149A Pending JPS634599A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | X線装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4761804A (ja) |
JP (1) | JPS634599A (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5008912A (en) * | 1989-10-05 | 1991-04-16 | General Electric Company | X-ray tube high voltage cable transient suppression |
DE19961541A1 (de) * | 1999-12-20 | 2001-07-19 | Magnet Motor Gmbh | Hochspannungswandler |
JP4392746B2 (ja) * | 2003-05-23 | 2010-01-06 | 株式会社日立メディコ | X線高電圧装置 |
DE102005039186B4 (de) * | 2005-08-18 | 2011-02-24 | Siemens Ag | Verfahren zum Betrieb einer Röntgenvorrichtung und Röntgenvorrichtung |
US8526574B2 (en) * | 2010-09-24 | 2013-09-03 | Moxtek, Inc. | Capacitor AC power coupling across high DC voltage differential |
US8995621B2 (en) | 2010-09-24 | 2015-03-31 | Moxtek, Inc. | Compact X-ray source |
US8804910B1 (en) | 2011-01-24 | 2014-08-12 | Moxtek, Inc. | Reduced power consumption X-ray source |
US8750458B1 (en) | 2011-02-17 | 2014-06-10 | Moxtek, Inc. | Cold electron number amplifier |
US8792619B2 (en) | 2011-03-30 | 2014-07-29 | Moxtek, Inc. | X-ray tube with semiconductor coating |
US8817950B2 (en) | 2011-12-22 | 2014-08-26 | Moxtek, Inc. | X-ray tube to power supply connector |
US8761344B2 (en) | 2011-12-29 | 2014-06-24 | Moxtek, Inc. | Small x-ray tube with electron beam control optics |
US9072154B2 (en) | 2012-12-21 | 2015-06-30 | Moxtek, Inc. | Grid voltage generation for x-ray tube |
US9184020B2 (en) | 2013-03-04 | 2015-11-10 | Moxtek, Inc. | Tiltable or deflectable anode x-ray tube |
US9177755B2 (en) | 2013-03-04 | 2015-11-03 | Moxtek, Inc. | Multi-target X-ray tube with stationary electron beam position |
US9173623B2 (en) | 2013-04-19 | 2015-11-03 | Samuel Soonho Lee | X-ray tube and receiver inside mouth |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58959Y2 (ja) * | 1977-05-18 | 1983-01-08 | 株式会社東芝 | X線発生装置 |
JPS6070698A (ja) * | 1983-09-27 | 1985-04-22 | Toshiba Corp | X線管フイラメント加熱装置 |
JPS6072199A (ja) * | 1983-09-29 | 1985-04-24 | Toshiba Corp | X線装置 |
-
1986
- 1986-06-25 JP JP61147149A patent/JPS634599A/ja active Pending
-
1987
- 1987-06-24 US US07/066,020 patent/US4761804A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4761804A (en) | 1988-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS634599A (ja) | X線装置 | |
JPH0254640B2 (ja) | ||
JP2004349149A (ja) | X線高電圧装置 | |
JPS58216397A (ja) | X線診断装置 | |
JP3462668B2 (ja) | X線用高電圧発生装置 | |
US4710860A (en) | Ripple-free DC high voltage generating apparatus for X-ray tube | |
US6215675B1 (en) | Method apparatus for energy conversion | |
JPS61161698A (ja) | インバ−タ式x線装置 | |
JP4349642B2 (ja) | X線高電圧装置 | |
JP2002033064A (ja) | 三極x線管グリッド制御装置 | |
JPH033360B2 (ja) | ||
JP4104191B2 (ja) | X線高電圧装置 | |
JP4959065B2 (ja) | X線高電圧装置 | |
JPH10106793A (ja) | パルスx線装置 | |
JPH0750200A (ja) | インバータ式x線高電圧装置 | |
JPS6213360Y2 (ja) | ||
JP3132767B2 (ja) | X線発生装置 | |
JPH0527959B2 (ja) | ||
JP2001319799A (ja) | X線高電圧装置 | |
JPS5910952Y2 (ja) | インバ−タ装置 | |
JPH0364999B2 (ja) | ||
JPS603899A (ja) | 高周波x線装置 | |
JPH0923344A (ja) | テレビジョン受像機 | |
JPH06151088A (ja) | X線高電圧装置 | |
JPH0146999B2 (ja) |