JPS6344905B2 - - Google Patents

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JPS6344905B2
JPS6344905B2 JP55099233A JP9923380A JPS6344905B2 JP S6344905 B2 JPS6344905 B2 JP S6344905B2 JP 55099233 A JP55099233 A JP 55099233A JP 9923380 A JP9923380 A JP 9923380A JP S6344905 B2 JPS6344905 B2 JP S6344905B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sound
wall
absorbing
ceiling
reverberation time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55099233A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5724751A (en
Inventor
Shinichiro Ishii
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP9923380A priority Critical patent/JPS5724751A/ja
Publication of JPS5724751A publication Critical patent/JPS5724751A/ja
Publication of JPS6344905B2 publication Critical patent/JPS6344905B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は試聴室に関し、壁面等の振動による過
渡特性の悪化を防ぎ、かつ平坦な残響時間の周波
数特性を実現することを目的とするものである。
従来の試聴室は低い周波数から高い周波数迄の
残響時間を平坦にするために、次の様な方法で壁
面や床、天井の吸音材を決定していた。
一般に吸音材の吸音率の周波数特性は平坦でな
く、カーーテン、じゆうたんなどの繊維質の材料
は第1図cに示すように高い周波数で吸音率が大
きく、低い周波数では吸音率が低下する。これに
対して後に空間を置いて設置された有孔合板、或
いは繊維材質材料の表面レザーまたは塩化ビニー
ルなどのシートを貼つたものでは、第1図bに示
すように中音における吸音率が大きくなり、低音
と高音での吸音率は低下する。また、後面に空間
を置いて設置された合板、プラスターボード等
は、第1図aに示すように低い周波数に於いて吸
音率が大きくなり、その吸音率最大の周波数は板
材の板厚、材質、後の空間の容積、取付法などに
よつて変化する。
そこで従来は第2図に示すようにこれ等の材料
を組み合せ、全体の吸音力(吸音率×面積)の周
波数特性が平坦になるようにしていた。すなわ
ち、第2図において、1は低音吸収用板材料、2
は中音吸収用孔あき板材料、3は高音吸収用繊維
質材料、4は反射性天井、5は反射性前壁、6は
遮音用壁、7は遮音用天井であり、このような各
材料を組合せ、次式で計算される残響時間が周波
数によらず一定になるように設計していた。
T=0.161V/−Soge(1−a) ……(1) ここでV……部屋の内容積、S……部屋の表面
積、……部屋全体の表面の材料の平均吸音率 ところがこのような方法で綿密に設計され、施
工された部屋での再生音は必しも良い評価が得ら
れなかつた。
この原因を調べてみると次の問題点が判明し
た。
(1) 低い音を吸収するのに壁面の板振動の共振を
利用しているため、スピーカからの音で壁が振
動を始めると、スピーカからの音が止つてもし
ばらく振動し続ける。このためスピーカの再生
音が止まつた後も壁から音が輻射されるので低
音の過渡特性(歯切れ)が悪くなる。また、低
音の吸音は板振動の共振によるため、共振周波
数以下では吸音されない。このため、これらの
部屋では重低音の残響時間が長くなり、重低音
の分離と歯切れが悪くなる傾向にある。
(2) 天井や壁面には高音吸収、中音吸収、低音吸
収用の吸音材がそれぞれバラバラに配置されて
いるため、中音吸収の壁面で反射してきた反射
音は、中音だけが吸収された残りの低音と高音
のみになり、高音吸収の壁面で反射してきた音
は中音と低音だけになり、さらに低音吸収の壁
面からの反射音は中音と高音だけになると云う
ように、反射音の周波数成分がもとの音つまり
スピーカから放出される音の成分と異なつたも
のになる。したがつて壁面からの初期反射音は
周波数特性が色付けされてしまうためにスピー
カの音が正しく再生されないと云う大きな欠点
があり、試聴に適しない。
(3) また残響時間を平坦にするための吸音材の選
定と配置等の計算は、試行錯誤をくり返しなが
らやらなければならないので非常に面倒で時間
がかかる。
(4) 壁面の一部を可動式にして可変残響式の部屋
を作る例もあるが、従来の方式では残響時間の
周波数特性を平坦のまま変化させることが出来
ず、残響時間を変えると、その周波数特性も変
化してしまい、試聴室として好しくなかい。
(5) 設計値と実際の値の誤差が大きい。すなわち
従来の方式では、吸音材の吸音率が計算に用い
た試料の吸音率とくい違うことが多かつた。こ
れは残響室などで吸音率の測定に用いた試料の
状態と実際の部屋に於ける吸音材の状態を全く
同じにすることが出来ないために発生する誤差
である。したがつて完成後或いは途中の段階で
残響時間の測定を行い、必須に応じて修正をす
ることが、どうしても必要であつた。
本発明はこのような従来の欠点を解決する試聴
室を提供するものである。
すなわち本発明は、試聴室の床・天井・壁面を
低音から高音迄一様に吸音する部分と、全ての音
を低音から高音まで一様に反射する部分の二種類
のみから構成したものである。つまり吸音部は実
質的に完全吸音、反射部は実質的に完全反射とす
るものである。
このために、反射部には、コンクリート、レン
ガ、ガラスブロツク等の剛体か、補強をして振動
しないようにしたぶ厚い合板等を用いる。一方、
吸音部は低い周波数から高い周波数迄一様に完全
吸音するように、グラスフアイバー等の繊維質の
材料を20cm以上の厚さに積層して壁面や天井に取
り付ける。ただしこれだけは100Hz以下迄吸音が
出来ないので天井裏、壁の裏側の空間、場合によ
つては床下の空間に吸音材を充填して、低音吸収
体を構成し、低い周波数迄一様に吸音するように
する。これは部屋の周囲を吸音材で囲み、壁面と
天井等の票要な所に穴をあけて吸音部とすればよ
い。
第3図、第4図は以上のような考え方に基づい
て構成された本発明の試聴室の一例を示すもので
あり、8は遮音用外壁、9は反射性前壁、10は
反射性側壁、11は吸音用表面クロス、12は吸
音用グラスフアイバー、13は反射性後壁、14
はドア、15は天井遮音壁、16は反射性天井、
17は天井部の吸音用表面クロス、18は天井吸
音用のグラスフアイバーである。
以上のように上記実施例の試聴室は、完全反射
壁と完全吸収壁のみから構成されているため、次
のような特長を有する。
(1) 設計が非常に容易である。すなわち、目標と
する残響時間が決まれば(1)式から平均吸音率
が求まる。このとき、上記実施例では、平均吸
音率は吸収壁の面積を全体の面積で割つたもの
になるので、吸収壁の面積は容易に求めること
が出来、あとはこの吸収壁を壁面と天井に適当
に分散配置すれば良い。したがつて従来のもの
と異なり、素人でも容易に設計することが出来
る。
(2) 残響時間の周波数特性が平坦に出来る。すな
わち上記実施例では吸収壁が繊維質材料のみで
出来ているので、吸音率の周波数特性が平坦に
なり、その結果残響時間の周波数特性が平坦に
なる。第5図に上記実施例の残響時間周波数特
性の実測値を示しているが、第5図から上記実
施例によれば、平坦な残響時間周波数特性が得
られることがわかる。
(3) 低音の過渡特性が良くなる。すなわち低音の
吸音も繊維質材料によつているため、従来の板
振動によるものと異り有害な壁面からの音の再
輻射が無く、低音の過渡特性が良くなる。
(4) 可変残響時間の試聴室が容易に作れる。すな
わち上記実施例によれば、吸収壁の面積を希望
の残響時間の最も短い値に合せておき、この吸
音部分を、剛体のスライド式の反射板で覆うこ
とによつて、容易に残響時間を変えることが出
来る。またこの場合残響時間の周波数特性が平
坦のまま、残響時間の値が変ると云う、従来の
方式では得られなかつた特長を有する。このと
きスライド式反射板の位置に残響時間の目盛を
付けておけば、希望の残響時間に簡単に合せる
ことが出来る。
(5) どの反射音も全て周波数特性がもとのままで
ある。すなわち上記実施例によれば反射壁は全
ての周波数にわたつて完全に反射し、吸収壁は
全ての周波数にわたつて吸音する。したがつて
壁からの反射音はスピーカから放射されたまま
の周波数成分を有し、従来のもののように成分
が変化することがない。
(6) 残響時間の設計値と実測値の差が少い。すな
わち上記実施例ではただ単に吸収壁の面積を求
めるだけの計算で済み、構造的にも吸音と反射
のみであるので、計算値と実測値の間に誤差が
生ずることが非常に少い。第5図に実測値と同
時に設計値を併記しているが、第5図から両者
の誤差が非常に少いことがわかる。したがつて
完成後の測定を行なわなくても安心して使用で
きる。また、このことから、仕様を決めれば施
工による誤差が少いので、標準試聴室を上記実
施例の構造で作れば、世界中どこでも同じ特性
の部屋が得られる。
以上の実施例から明らかなように本発明は天
井,床,壁面を、低音から高音までほぼ完全に反
射する面と、低音から高音まで音をほぼ完全に吸
収する面のみで構成し、少なくとも天井,壁面の
裏側全体にグラスフアイバーなどの繊維質吸音材
を充填したものであるので、吸音部として低い周
波数まで一様に吸音することができるものを構成
することができ、平坦な残響時間周波数特性を実
現し壁面等の振動による過渡特性の悪化を防ぐこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は各種吸音材の吸音特性を示す図、第2
図は従来の試聴室の側面断面図、第3図、第4図
は本発明の一実施例の上面断面図および側面断面
図、第5図は上記実施例の残響時間周波数特性の
設計値と実測値を示す図である。 8……遮音用外壁、9……反射性前壁、10…
…反射性側壁、11……吸音用表面クロス、12
……吸音用グラスフアイバー、13……反射性後
壁、14……ドア、15……天井遮音壁、16…
…反射性天井、17…天井吸音用表面クロス、1
8……天井吸音用グラスフアイバー。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 天井、床、壁面を、低音から高音まで音をほ
    ぼ完全に反射する面と、低音から高音まで音をほ
    ぼ完全に吸収する面のみで構成し、少なくとも天
    井、壁面の裏側全体にグラスフアイバーなどの繊
    維質吸音材を充填したことを特徴とする試聴室。
JP9923380A 1980-07-18 1980-07-18 Listening room Granted JPS5724751A (en)

Priority Applications (1)

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JP9923380A JPS5724751A (en) 1980-07-18 1980-07-18 Listening room

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9923380A JPS5724751A (en) 1980-07-18 1980-07-18 Listening room

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JPS5724751A JPS5724751A (en) 1982-02-09
JPS6344905B2 true JPS6344905B2 (ja) 1988-09-07

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ID=14241954

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0727387B2 (ja) * 1987-09-29 1995-03-29 本田技研工業株式会社 小型残響室
JPH02103628U (ja) * 1989-02-01 1990-08-17

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS524853A (en) * 1975-06-25 1977-01-14 Xerox Corp Method of and apparatus for light flux scanning

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS524853A (en) * 1975-06-25 1977-01-14 Xerox Corp Method of and apparatus for light flux scanning

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