JPS6344684A - エレクトロルミネセンス発光素子の製造方法 - Google Patents

エレクトロルミネセンス発光素子の製造方法

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Publication number
JPS6344684A
JPS6344684A JP18855086A JP18855086A JPS6344684A JP S6344684 A JPS6344684 A JP S6344684A JP 18855086 A JP18855086 A JP 18855086A JP 18855086 A JP18855086 A JP 18855086A JP S6344684 A JPS6344684 A JP S6344684A
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JP
Japan
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electrode
light emitting
layer
insulating
conductive strip
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Pending
Application number
JP18855086A
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English (en)
Inventor
雅章 山本
清史 高木
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Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 l業ヒの利用分野) 本発明は、コンピュータ端末機器、自動■務機器(OA
種機器、自動車用インストルメントパネル等のグラフィ
ック、文字、シンボル表示に用いられるのに適したマト
リックス型エレクトロルミネセンス発光素子の製造方法
に関するものである。
(従来技術) この種の表示に一般に用いられているマトリックス型エ
レクトロルミネセンス発光素子は。
絶縁基板上に複数の導電性帯状層から成る第1の電極を
形成し、その上に第1の絶縁層を介して発光層を形成し
、更にその上に第2の絶縁層を介して前記第1の電極に
対してマトリックス状に配置された複数の導電性帯状層
から成る第2の電極を形成して製造されている。この場
合、第1の電極は通常ITO(I n 203・5n0
2)、Zn0aAl、ZnCl5i02等の導電膜を2
000〜3000”Aの膜厚で形成した後にフォトリン
グラフィ等で所定のパターンにしニー、チングして形成
され、また絶縁層及び発光層はスパッタリング法または
電子ビーム蒸着法によって形成されている。この第1の
電極を2000〜300OAと■くする理由はITO等
の材料の比抵抗がlO〜10 Ω・amと通常の金属例
えばAlの2.75xlOΩΦcmやCuの1.75x
lOΩ・Cmに比べて格段に大きいためである。このよ
うに比抵抗が大きいと、電極の給電端から入力される電
圧レベルが電極内を伝搬する間に抵抗によって電圧降下
し、逆端では電圧レベルが箸しく低下するために発光輝
度が変化するので膜厚を大きくする必要がある。
しかし、第1の電極の膜厚を大きくする゛と。
4電性帯状層の間でへこんで絶縁基板上に凹凸が形成さ
れて第1の電極の上に絶縁層等を形成する際に導電性帯
状層の縁の根元に絶縁材料の蒸着物が入りきらないでボ
イドが発生したり。
この部分の密度が低下して絶縁層が洞敲し易くなる。ま
た、この部分で電極と発光層との間の距離が小ざくなる
ために帯状層の縁の電界が強くなり、この部分のみの発
光電圧が上ってこの部分から発光したり、絶縁破壊を起
し易くなる欠点があった。特にこの傾向は発光素子を多
色化するために発光層とM!、縁層とを多段に重ねると
一層顕著になる。
(発明の目的) 本発明の目的は、第1の電極の上の絶縁層の開離、絶縁
破壊及び発光のむらをなくすことができるマトリックス
型エレクトロルミネセンス発光素子の製造方法を提供す
ることにある。
(発明の構成) 本発明に係るエレクトロルミネセンス発光素子の製造方
法は、絶縁基板上にa数の導電性帯状層から成る第1の
電極を形成し、その上に第1の絶縁層を介して発光層を
形成し、更にその−Hに第2の絶縁層を介して第1の電
極に対してマトリックス状に配置された複数の導電性帯
状層から成る第2の電極を形成して製造するが。
特に第1の電極は複数の導電性帯状層の間に絶縁性帯状
層をほぼ同じ高さで介在させて平板状に形成することを
特徴としている。
このようにすると、第1の電極の表面は平担となってそ
の上の絶縁層等を平担に形成することができ、従って絶
縁層の剥離、絶縁破壊及び発光のむらをなくして良質の
発光素子を得ることができる。
(実施例) 本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明すると、第
1図は本発明に係る方法によって製造されたエレクトロ
ルミネセンス発光素子10を示し、このエレクトロルミ
ネセンス発光素子10は、絶縁基板12上に形成された
複数の導電性帯状層14Aから成る第1の電極14と。
その−ヒに第1の絶縁層16を介して形成された発光層
18と、更にその上に第2の絶縁層20を介して形成さ
れ第1の電極14に対してマトリックス状に配置された
複数の導電性帯状層22Aから成る第2の電極22とか
ら成っている、図示の実施例では2つの発光層18A、
18Bが絶Gf層16A、16Bを介して形成されてい
るが、1つまたは3つ以上の発光層を有していてもよい
0本発明の方法では、特に第1の電極14は複数の導電
性帯状層14Aの間に絶縁性帯状層14Bをほぼ同じ高
さで介在させて平板状に形成する。
次に1本発明の具体例を第2図以下を参照してのべる。
この具体例では第1の電極14を透明電極とし、絶縁基
板12をガラス基板として1絶縁基板12側から発光す
るようにした発光素子を製造する。先ず絶縁基板として
厚さ1〜2mm程度のガラス基板(コーニング7059
)12Aを酸洗浄し、水洗いし、溶剤に浸漬した後乾燥
して第1の電極の堆積面を清浄する1次いで、このガラ
ス基板12を第2図に示すように高周波スパッタリング
装置24内に入れる。
高周波スパッタリング装置24は2つのカソード26.
26’に対向して導電性帯状層14Aと絶縁性帯状層1
4Bとをそれぞれ形成するZno@S i02 (Si
02 (7)含有液は約2.4wt%)のターゲット2
8と5i02(純度99.99%)のターゲット28゛
とが配置されており、またカソード26とターゲット2
8との間及びカソード26′とターゲット28′との間
には厚さ25gmのマスク30 、30 ’がそれぞれ
配置されている。マスク30は第3図(A)に示すよう
に導電性帯状層14Aのパターンを有し、またマスク3
0゛は絶縁性帯状層14Bのパターンを有する。ガラス
基板12Aはマスク30とカソード26との間とマスク
30゛とカソード26′との間との空間を交互に往復移
動してスパッタリングされて導電性帯状層14Aと絶縁
性帯状層14Bとを交互に堆積する。尚、スパッタリン
グ条件はArガス雰囲気(分圧6 x 10−3Tor
r)でRF大入力60W基板温度が150℃であった。
各空間での堆積厚さは1ooK程度で略20回往復移動
して約2000穴の厚さに形成する。シャッター32は
ガラスノ、(板12Aと連動してガラス基板12Aと反
対側の空間に位置して反対側のターゲット材料がガラス
ノ1(板12A上に堆積するのを防1トする。このよう
にして第1の電極14は帯状層14A、14Bが同じ高
さに堆積することによって平担に形成される。
次に、この平担な第1の′電極14の上に第1の絶縁層
としてY2O3をzOoo人の厚さに高周波スパッタリ
ング法によって形成し、更にその上に黄橙色発光層とし
てZnS:Mnを3000λで形成し、その上に第1の
他の絶縁層としてY2O3を30000Aで形成する。
この絶縁層及び発光層は電子ビーム蒸着法またはスパッ
タリング法によって形成することができる次に、 +1
!び第1の他の′電極を上記のように形成し、その後絶
縁層T a 205(2000A)  。
緑色発光層ZnS@TbF3  (3000A)。
第2の絶縁層Ta203(2000A)をそれぞれ順次
堆積し、最後に第2の電極をAlで2000λの厚さに
形成して発光素子を形成するこのようにして製造された
発光素子の各発光層の両側にそれぞれ230V、280
Vの電圧を印加し、IKHz矩形波でAC駆動したとき
の不良率はOであった。また、この素子の−A′If!
時の発光は一様であり、絶縁層の剥離はなかった。尚、
この時の第1の電極の導電性帯状層の比抵抗は4xlO
Ω・cmであった。
尚、比較例として第1の電極を複数の導電性帯状層のみ
としてITOをエツチング法によって形成した発光素子
(他の条件は上記具体例と全く同じとした)を通電試験
して不良率を測定したところ不良率は48%であり、電
極の縁から絶縁破壊が生じた。この比較例で生じた良品
でも縁からの発光が生じ、縁では160〜170vで、
また中央部で200〜210Vで発光し始めた。この発
光素子を60℃、96%RHで50時間同様の通電試験
を行なったところ100サンプル中10サンプルに絶縁
破壊が生じた。この絶縁破壊の原因を調査したところ電
極と絶縁層との間に水分が侵入し、これが高電界で発熱
した結果の剥離であることが解った。
本発明の他の具体例では第1の電極の導電性帯状層をI
TO(I n203 ” S n02)ペレッ)(Sn
O。ドープ量4重量%)で同様の方法で形成した。最初
の具体例と異なることは。
rfイオンプレートで行ない、その条件は圧力1 x 
10’Torr 、 蒸着速度300人/分、基板温度
50℃、0 ガス論量35ctaraであった。主極の
比抵抗は1xlo  Ω・cmであり1通電試験で絶縁
破壊は100サンプル中1つも生じなかった。
(発明の効果) 本発明によれば、上記のように、第1の電極の表面は平
担となってその上の絶縁層等を平担に形成することがで
き、従って絶縁層の剥離。
絶縁破壊及び発光のむらをなくして良質の発光素子を得
ることができる実益がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る製造方法によって得られたエレク
トロルミネセンス発光素子の断面図、第2図は第1の電
極を形成する高周波スパッタリング装置の概略図、第3
図(A)(B)は第2図の装置に用いられる2つの異な
るマスクの平面図、第4図は本発明の方法によって得ら
れた第1の電極の側面図である。 10−−−−m:しクトロルミネセンス発光素子、 l
 2−−−−一絶縁基板、14−−−−−第1の電極、
 l 6−−−−−第1の絶縁層、18−−−−一発光
層、20−−−−−第2の絶縁層、22−−−−一第2
の電極。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁基板上に複数の導電性帯状層から成る第1の
    電極を形成し、その上に第1の絶縁層を介して発光層を
    形成し、更にその上に第2の絶縁層を介して前記第1の
    電極に対してマトリックス状に配置された複数の導電性
    帯状層から成る第2の電極を形成してエレクトロルミネ
    センス発光素子を製造する方法において、前記第1の電
    極は前記複数の導電性帯状層の間に絶縁性帯状層をほぼ
    同じ高さで介在させて平板状に形成したことを特徴とす
    るエレクトロルミネセンス発光素子の製造方法。
  2. (2)前記導電性帯状層と絶縁性帯状層とは前記絶縁基
    板を2つのマスクの下に交互に移動して高周波スパッタ
    リング法によって形成する特許請求の範囲第1項に記載
    のエレクトロルミネセンス発光素子の製造方法。
JP18855086A 1986-08-13 1986-08-13 エレクトロルミネセンス発光素子の製造方法 Pending JPS6344684A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220027085A (ko) 2019-06-28 2022-03-07 미쓰비시 엔피쯔 가부시키가이샤 유리상 탄소 성형체

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20220027085A (ko) 2019-06-28 2022-03-07 미쓰비시 엔피쯔 가부시키가이샤 유리상 탄소 성형체

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