JPS6342072A - 磁気デイスク装置のキヤリツジ位置決め制御装置 - Google Patents
磁気デイスク装置のキヤリツジ位置決め制御装置Info
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- JPS6342072A JPS6342072A JP18508086A JP18508086A JPS6342072A JP S6342072 A JPS6342072 A JP S6342072A JP 18508086 A JP18508086 A JP 18508086A JP 18508086 A JP18508086 A JP 18508086A JP S6342072 A JPS6342072 A JP S6342072A
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- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、磁気ディスク装置のキャリッジ位置決め制御
装置に係り、特に小形装置に適するキャリッジ位置決め
装置に関する。
装置に係り、特に小形装置に適するキャリッジ位置決め
装置に関する。
磁気ディスク装置のキャリッジと円板との相対位置のず
れは、温度による各部の熱膨張率の差。
れは、温度による各部の熱膨張率の差。
つまり熱変形に依存する要素が大である。これを補正す
る従来技術としては、次のような技術がある。
る従来技術としては、次のような技術がある。
1、円板にサーボ情報を直接記録しておく方式で、この
方式にはさらに次の二つがある。
方式にはさらに次の二つがある。
1・1デ一タ面と同一面にサーボ情報を記録する方式U
S P−Re 、 32075 。
S P−Re 、 32075 。
1・2専用サ一ボ面を別に用意しておき、サーボ面に記
録しているサーボ情報から位置情報を得る方式(特開昭
50−75014号公報)。
録しているサーボ情報から位置情報を得る方式(特開昭
50−75014号公報)。
2、キャリッジの駆動モータの温度を検出し、位置修正
を行う方式。
を行う方式。
前記lの方式、すなわち円板面にサーボ情報を直接記録
しておき、ヘッドでこれを直接読み取って位置ずれの情
報を得る方式は、最終目的であるキャリッジの位置決め
の修正を行うという点ては最も直接的で確実な方式であ
る5 ところが、前記】・1の方式であるテータ面と同一面に
サーボ情報を記録する方式では、通常のデータをあるシ
リンダで読み書きしている時には他のシリンダの状態は
判らないため、以後のシークに備えて全体のシリンダの
ずれ状態を定期的に調査しておく必要があり、そのため
に多くの時間を要する。つまり、ある時はアクセスタイ
ムが大幅に延びてしまう。
しておき、ヘッドでこれを直接読み取って位置ずれの情
報を得る方式は、最終目的であるキャリッジの位置決め
の修正を行うという点ては最も直接的で確実な方式であ
る5 ところが、前記】・1の方式であるテータ面と同一面に
サーボ情報を記録する方式では、通常のデータをあるシ
リンダで読み書きしている時には他のシリンダの状態は
判らないため、以後のシークに備えて全体のシリンダの
ずれ状態を定期的に調査しておく必要があり、そのため
に多くの時間を要する。つまり、ある時はアクセスタイ
ムが大幅に延びてしまう。
一方、前記1・2の方式では、専用のサーボ面を有して
いるので、いずれのシリンダでも直ちに位置ずれ情報が
得られるが、専用面を確保する必要があるため、記憶容
量が低下してしまい、小形装置には適さない。
いるので、いずれのシリンダでも直ちに位置ずれ情報が
得られるが、専用面を確保する必要があるため、記憶容
量が低下してしまい、小形装置には適さない。
他方、前記2の方式であるキャリッジの駆動モーターの
温度を検出する方式は、装置全体の温度分布が平衡状態
に達する以前の状態では修正量に誤差を生じてしまい、
電源投入直後の状態ではキャリッジの位置決めの精度が
大幅に悪化してしまう。
温度を検出する方式は、装置全体の温度分布が平衡状態
に達する以前の状態では修正量に誤差を生じてしまい、
電源投入直後の状態ではキャリッジの位置決めの精度が
大幅に悪化してしまう。
本発明の目的は、前記従来技術の問題を解決し、磁気デ
ィスク装置の機構部の温度変化に伴う円板に対するヘッ
ドの位置修正を容易にかつ精度よく行うことができ、し
かもアクセスタイムの増大を招くことがなく、かつ小形
装置に適する磁気ディスク装置のキャリッジ位置決め制
御装置を提供すること↓;ある。
ィスク装置の機構部の温度変化に伴う円板に対するヘッ
ドの位置修正を容易にかつ精度よく行うことができ、し
かもアクセスタイムの増大を招くことがなく、かつ小形
装置に適する磁気ディスク装置のキャリッジ位置決め制
御装置を提供すること↓;ある。
前記目的は、磁気ディスク装置の機構部の複数個所に、
互いに間隔をおいて温度検出器を取り付け、各温度検出
器を少なくともキャリッジの駆動モータに指令を送るコ
ントローラに接続し、前記コントローラに、基$温度に
おけるキャリッジの基準位蓋と、他の温度におけるキャ
リッジの円板に対する変位量との関係を示す第1のデー
タとを予め登録し、かつ前記コントローラに、各温度検
出器から検出温度を取り込み、前記第1のデータと第2
のデータからそれぞれ温度検出時点でのキャリッジの円
板に対する変位量を求め、これら二つの変位量を加算し
て前記基準位蓋に対するキャリッジの修正量を演算し、
このキャリッジの修正量に基づいて前記キャリッジの駆
動モータに指令を送る機能を付加したことにより、達成
される。
互いに間隔をおいて温度検出器を取り付け、各温度検出
器を少なくともキャリッジの駆動モータに指令を送るコ
ントローラに接続し、前記コントローラに、基$温度に
おけるキャリッジの基準位蓋と、他の温度におけるキャ
リッジの円板に対する変位量との関係を示す第1のデー
タとを予め登録し、かつ前記コントローラに、各温度検
出器から検出温度を取り込み、前記第1のデータと第2
のデータからそれぞれ温度検出時点でのキャリッジの円
板に対する変位量を求め、これら二つの変位量を加算し
て前記基準位蓋に対するキャリッジの修正量を演算し、
このキャリッジの修正量に基づいて前記キャリッジの駆
動モータに指令を送る機能を付加したことにより、達成
される。
本発明では、磁気ディスク装置の機構部に取り付けられ
た温度検出器により、前記機構部の互いに間隔をおいた
複数個所の温度を検出し、その検出温度を少なくともキ
ャリッジの駆動モータに指令を送るコントローラに送り
込む。
た温度検出器により、前記機構部の互いに間隔をおいた
複数個所の温度を検出し、その検出温度を少なくともキ
ャリッジの駆動モータに指令を送るコントローラに送り
込む。
前記コントローラには、基準温度におけるキャリッジの
基準位蓋と、他の温度におけるキャリッジの円板に対す
る変位量との関係を示す第1.のデータと、温度検出個
所間の温度差と、キャリッジの円板に対する変位量との
関係を示す第2のデータとを予め登録している。
基準位蓋と、他の温度におけるキャリッジの円板に対す
る変位量との関係を示す第1.のデータと、温度検出個
所間の温度差と、キャリッジの円板に対する変位量との
関係を示す第2のデータとを予め登録している。
そして、前記コントローラでは各温度検出器から検出温
度を取り込み、前記第1のデータと第2のデータからそ
れぞれ温度検出時点でのキャリッジの円板に対する変位
量を求める。ついで、コントローラでは前記二つの変位
量を加算して基準位蓋に対するキャリッジの修正量を演
算する。続いて、コントローラでは前記演算した修正量
に基づいてキャリッジの駆動モータに指令を送る。
度を取り込み、前記第1のデータと第2のデータからそ
れぞれ温度検出時点でのキャリッジの円板に対する変位
量を求める。ついで、コントローラでは前記二つの変位
量を加算して基準位蓋に対するキャリッジの修正量を演
算する。続いて、コントローラでは前記演算した修正量
に基づいてキャリッジの駆動モータに指令を送る。
こりにより、円板に対するヘッドの位置修正を容易にか
つ高精度に行うことができる。
つ高精度に行うことができる。
また、本発明ではシーク命令とは無関係に、いつまでも
必要に応じてヘッドの位置補正を実施できるので、アク
セスタイムの増大を回避することができる。
必要に応じてヘッドの位置補正を実施できるので、アク
セスタイムの増大を回避することができる。
さらに、本発明では円板にサーボ情報を記録する専用の
サーボ面を用意する必要がないので、小形装置にも有効
に適用することができる。
サーボ面を用意する必要がないので、小形装置にも有効
に適用することができる。
以下、本発明の実施例を図面により説明する。
第1図は一般に使用されている磁気ディスク装置と、こ
れに適用された本発明のキャリッジ位置決め制御装置の
一実施例を示す。
れに適用された本発明のキャリッジ位置決め制御装置の
一実施例を示す。
この第1図に示す磁気ディスク装置では、記録媒体とし
ての円板1はスピンドルモータ2により回転駆動され、
キャリッジ4に取り付けられたヘット3により読み書き
が行われるようになっている。読み書きされた信号は、
読み書き制御装置7および入出力インターフェース回路
8により、上位のディスクコントローラ9に導かれる。
ての円板1はスピンドルモータ2により回転駆動され、
キャリッジ4に取り付けられたヘット3により読み書き
が行われるようになっている。読み書きされた信号は、
読み書き制御装置7および入出力インターフェース回路
8により、上位のディスクコントローラ9に導かれる。
一方、キャリッジ4は駆動モータ5により制御され、こ
の駆動モータ5は駆動回路6により制御されるようにな
っている。
の駆動モータ5は駆動回路6により制御されるようにな
っている。
さらに、全体の制御を支配するマイクロコントローラ1
oが設けられ、前記上位のディスクコントローラ9から
の指令によりマイクロコントローラ10を通じて駆動回
路6に、必要なシリンダ番号への移動および位置の1シ
リンダ以内での位置指令を出すようになっている。また
。
oが設けられ、前記上位のディスクコントローラ9から
の指令によりマイクロコントローラ10を通じて駆動回
路6に、必要なシリンダ番号への移動および位置の1シ
リンダ以内での位置指令を出すようになっている。また
。
読み書きの禁止、許可の指令も前記マイクロコントロー
ラ10により行っている。
ラ10により行っている。
他方、キャリッジ位置決め装置の第1図に示す実施例の
ものは、第1、第2の温度検出器21.22と、第1、
第2の信号変換器31゜32と、A/D変換器33と、
磁気ディスク装置の機構部の個々の特性による温度に対
する変位量と円板1の内、外周による変位量の特性のパ
ターンを外部から選択する設定器34と、前記マイクロ
コントローラ10とを備えて構成されている。
ものは、第1、第2の温度検出器21.22と、第1、
第2の信号変換器31゜32と、A/D変換器33と、
磁気ディスク装置の機構部の個々の特性による温度に対
する変位量と円板1の内、外周による変位量の特性のパ
ターンを外部から選択する設定器34と、前記マイクロ
コントローラ10とを備えて構成されている。
ついで、第2図に磁気ディスク装置の機構部と第1、第
2の温度検出器の取り付は位置の一例を示す。
2の温度検出器の取り付は位置の一例を示す。
この第2図に示す磁気ディスク装置の機構部は、ヘッド
アーム11と、ピボットシャフト13を介して回動可能
に支持されたフレックスアーム12と、板はね14と、
スチールベルト15と、キャプスタン16と、ベース1
7とを有している。前記キャプスタン16は、キャリッ
ジ4の駆動モータ5の軸に圧入されている。
アーム11と、ピボットシャフト13を介して回動可能
に支持されたフレックスアーム12と、板はね14と、
スチールベルト15と、キャプスタン16と、ベース1
7とを有している。前記キャプスタン16は、キャリッ
ジ4の駆動モータ5の軸に圧入されている。
前記ベース17は、機構部全体の位置関係を保持し、外
部との気密性を保つようになっている。
部との気密性を保つようになっている。
そして、前記機構部ではキャプスタン16が回転すると
、スチールベルト15が巻かれ、ピボットシャフト13
を中心としてフレックスアーム12およびヘッドアーム
11と一緒にヘット3が円板1の内、外周方向にシーク
し得るように構成されている。
、スチールベルト15が巻かれ、ピボットシャフト13
を中心としてフレックスアーム12およびヘッドアーム
11と一緒にヘット3が円板1の内、外周方向にシーク
し得るように構成されている。
前記第1の温度検出器21は、第2図に示すように、主
要熱源部付近としてのキャリッジ4の駆動モータ5とス
ピンドルモータ2間の位置に配置され、かつベース17
に取り付けられている。この第1の温度検出器21によ
り検出された@度は、第1図に示す第1の信号変換器3
1に送り込まれ、この第1の信号変換器31によりアナ
ログ信号に加工され、A/D変換器33に送り込まれる
ように構成されている。
要熱源部付近としてのキャリッジ4の駆動モータ5とス
ピンドルモータ2間の位置に配置され、かつベース17
に取り付けられている。この第1の温度検出器21によ
り検出された@度は、第1図に示す第1の信号変換器3
1に送り込まれ、この第1の信号変換器31によりアナ
ログ信号に加工され、A/D変換器33に送り込まれる
ように構成されている。
前記第2の温度検出器22は、第2図に示すように、前
記主要熱源部からやや離れた位置であって、円板1とヘ
ッド3の平均的な温度が表れる個所としてのキャリッジ
4の先端部寄りの位置に配置され、かつベース17に取
り付けられている。この第2の温度検出器22で検出さ
れた温度は、第1図に示す第2の信号変換器A/D変換
器33に送り込まれるように構成されている。
記主要熱源部からやや離れた位置であって、円板1とヘ
ッド3の平均的な温度が表れる個所としてのキャリッジ
4の先端部寄りの位置に配置され、かつベース17に取
り付けられている。この第2の温度検出器22で検出さ
れた温度は、第1図に示す第2の信号変換器A/D変換
器33に送り込まれるように構成されている。
前記第1、第2の温度検出器21.22は、当該個所の
温度を定期的に検出して出力するようになっている。
温度を定期的に検出して出力するようになっている。
前記A/D変換器33は、第1、第2の信号変換器31
.32から取り込んだ温度に関するアナログ信号をそれ
ぞれデジタル信号に変換し、マイクロコントローラ10
に送り込むようになっている。
.32から取り込んだ温度に関するアナログ信号をそれ
ぞれデジタル信号に変換し、マイクロコントローラ10
に送り込むようになっている。
ついで、第3図(イ)は第1の温度検出器によって検出
された温度に対する円板とヘッドの相対位置の変位量を
示す、この第3図(イ)において、縦軸は変位量Aを示
し、横軸は円板の内、外周方向を示す、また、この第3
図(イ)中、Toは基準温度、THは高温、TLは低温
を示す、前記基i!!温度Toは、高温THと低温TL
との中間値である。
された温度に対する円板とヘッドの相対位置の変位量を
示す、この第3図(イ)において、縦軸は変位量Aを示
し、横軸は円板の内、外周方向を示す、また、この第3
図(イ)中、Toは基準温度、THは高温、TLは低温
を示す、前記基i!!温度Toは、高温THと低温TL
との中間値である。
さらに、第3図(ロ)は第1、第2の温度検出器で検出
された温度の温度差に対する円板とヘットの相対位置の
変位量を示す。この第3図(ロ)において、縦軸は変位
1Bを示し、横軸は円板の内、外周方向を示す。さらに
、この第3図(ロ)中、TI、T2はそれぞれ温度差を
示す。
された温度の温度差に対する円板とヘットの相対位置の
変位量を示す。この第3図(ロ)において、縦軸は変位
1Bを示し、横軸は円板の内、外周方向を示す。さらに
、この第3図(ロ)中、TI、T2はそれぞれ温度差を
示す。
前記マイクロコントローラ10には、予め第3図(イ)
に示す基準温度Toにおけるキャリッジ−の基準位蓋と
、他の温度におけるキャリッジの円板に対する変位量A
との関係を示すデータが第1のデータとして登録され、
さらに第3図(ロ)に示す温度検出個所間の温度差によ
るキャリッジの円板に対する変位量Bの関係を示すデー
タが第2のデータとして登録されている。
に示す基準温度Toにおけるキャリッジ−の基準位蓋と
、他の温度におけるキャリッジの円板に対する変位量A
との関係を示すデータが第1のデータとして登録され、
さらに第3図(ロ)に示す温度検出個所間の温度差によ
るキャリッジの円板に対する変位量Bの関係を示すデー
タが第2のデータとして登録されている。
そして、マイクロコントローラ10は各温度検出器2ユ
、22で検出した当該個所の温度を、第1、第2の信号
変換器31.32およびA/D変換器33を通じて取り
込む。続いて、マイクロコントローラ10は第1の温度
検出器21の検出温度と前記第1のデータから基fs@
度し二おけるキャリッジの基準位蓋に対する温度検出時
点でのキャリッジの円板に対する変位量Aを求める。
、22で検出した当該個所の温度を、第1、第2の信号
変換器31.32およびA/D変換器33を通じて取り
込む。続いて、マイクロコントローラ10は第1の温度
検出器21の検出温度と前記第1のデータから基fs@
度し二おけるキャリッジの基準位蓋に対する温度検出時
点でのキャリッジの円板に対する変位量Aを求める。
また、マイクロコントローラ10は第1.第2の@度検
出器21.22の検出温度から温度検出個所間の温度差
を算出し、算出された温度差と前記第2のデータから温
度検出時点でのキャリッジの円板に対する変位量Bを求
める。さらに、マイクロコントローラ10は二つの変位
量A、Bを加算し、基準位蓋に対するキャリッジの修正
量(A+B)を演算する。ついで、マイクロコントロー
ラ10は演算したキャリッジの修正量に基づいて。
出器21.22の検出温度から温度検出個所間の温度差
を算出し、算出された温度差と前記第2のデータから温
度検出時点でのキャリッジの円板に対する変位量Bを求
める。さらに、マイクロコントローラ10は二つの変位
量A、Bを加算し、基準位蓋に対するキャリッジの修正
量(A+B)を演算する。ついで、マイクロコントロー
ラ10は演算したキャリッジの修正量に基づいて。
第1図に示すように、キャリッジ4の駆動モータ5の駆
動回路6に指令を与えるように構成されている。
動回路6に指令を与えるように構成されている。
なお、磁気ディスク装置の機構部は、実際の設計が同一
品であれば、熱時定数、熱容量等は同一である。しかし
、加工精度、組み立て精度により、単位温度当たりのキ
ャリッジの変位量が異なる場合がある。この磁気ディス
ク装置の機構部の固有の差は、予備試験の段階でランク
分けすることができる。そこで、この実施例では前記機
構部に固有の特性を数種のタイプに大別してパターン化
し1、予めマイクロコントローラ10にMBしている、
そして、第1図に示すように、マイクロコントローラ1
0に接続された設定器34により、外部から実際の機構
部に固有の特性のパターンを選択し得るように構成され
ている。
品であれば、熱時定数、熱容量等は同一である。しかし
、加工精度、組み立て精度により、単位温度当たりのキ
ャリッジの変位量が異なる場合がある。この磁気ディス
ク装置の機構部の固有の差は、予備試験の段階でランク
分けすることができる。そこで、この実施例では前記機
構部に固有の特性を数種のタイプに大別してパターン化
し1、予めマイクロコントローラ10にMBしている、
そして、第1図に示すように、マイクロコントローラ1
0に接続された設定器34により、外部から実際の機構
部に固有の特性のパターンを選択し得るように構成され
ている。
前記実施例のキャリッジ位置決め制御装置は次のように
使用され、機能する。
使用され、機能する。
まず、マイクロコントローラ10に設定器34から磁気
ディスク装置の機構部に固有の特性のパターンを選択し
て入力する。
ディスク装置の機構部に固有の特性のパターンを選択し
て入力する。
ついで、第1.第2の温度検出器21,22に通電する
と、第1の温度検出器21は前記機構部の主要熱源部付
近の温度を検出して出力し、第2の温度検出器22は円
板1とヘッド3の平均的な温度が表れる個所の温度を検
出して出力する。
と、第1の温度検出器21は前記機構部の主要熱源部付
近の温度を検出して出力し、第2の温度検出器22は円
板1とヘッド3の平均的な温度が表れる個所の温度を検
出して出力する。
前記第1.第2の温度検出器21.22により検出され
た温度は、第1、第2の信号変換器31゜32およびA
/D変換器33により加工され、マイクロコントローラ
10に送り込まれる。
た温度は、第1、第2の信号変換器31゜32およびA
/D変換器33により加工され、マイクロコントローラ
10に送り込まれる。
前記マイクロコントローラ10では、第1.第2の温度
検出器21.22の検出温度を取り込み、次のようにし
て温度検出時点での基準位蓋に対するキャリッジの修正
量を演算する。
検出器21.22の検出温度を取り込み、次のようにし
て温度検出時点での基準位蓋に対するキャリッジの修正
量を演算する。
すなわち、マイクロコントローラユOは予め登録されて
いる基準温度におけるキャリッジの基準位蓋と、他の温
度におけるキャリッジの円板に対する変位量との関係を
示す第1のデータと、第1の温度検出器21の検出温度
とにより、前記基準位蓋に対する温度検出時点でのキャ
リッジの円板に対する変位量Aを求める。
いる基準温度におけるキャリッジの基準位蓋と、他の温
度におけるキャリッジの円板に対する変位量との関係を
示す第1のデータと、第1の温度検出器21の検出温度
とにより、前記基準位蓋に対する温度検出時点でのキャ
リッジの円板に対する変位量Aを求める。
また、マイクロコントローラ10は第1、第2の温度検
出器21.22の検出温度から温度検出個所間の温度差
を算出する。そして、マイクロコントローラ1oは予め
登録されている温度検出個所間の温度差と、キャリッジ
の円板に対する変位量との関係を示す第2のデータと、
前記算出された温度検出個所間の温度差とにより、前記
温度差によるキャリッジの円板に対する変位量Bを求め
る。
出器21.22の検出温度から温度検出個所間の温度差
を算出する。そして、マイクロコントローラ1oは予め
登録されている温度検出個所間の温度差と、キャリッジ
の円板に対する変位量との関係を示す第2のデータと、
前記算出された温度検出個所間の温度差とにより、前記
温度差によるキャリッジの円板に対する変位量Bを求め
る。
ついで、マイクロコントローラ10は前記変位量A、B
を加算し、温度検出時点での前記基準位蓋に対するキャ
リッジの修正量(A+B)を演口する。
を加算し、温度検出時点での前記基準位蓋に対するキャ
リッジの修正量(A+B)を演口する。
そして、マイクロコントローラ10は前記演算された修
正量に基づいて駆動回路6に位置修正の指令を与え、こ
の駆動回路6により駆動モータ5が制御され、キャリッ
ジ4が基準位蓋に合うように修正される。
正量に基づいて駆動回路6に位置修正の指令を与え、こ
の駆動回路6により駆動モータ5が制御され、キャリッ
ジ4が基準位蓋に合うように修正される。
そして、前記第1、第2の温度検出器21゜22に定期
的に通電し、前述の制御を繰り返して行うものとする。
的に通電し、前述の制御を繰り返して行うものとする。
ところで、キャリッジの駆動モータの温度のみを検出し
て、キャリッジの位置修正を行った場合には、装置全体
の温度分布が平衡状態に達する以前の過渡期、例えば電
源投入直後の状態の温度上昇期ではキャリッジの位置決
め精度が大幅に悪化する。
て、キャリッジの位置修正を行った場合には、装置全体
の温度分布が平衡状態に達する以前の過渡期、例えば電
源投入直後の状態の温度上昇期ではキャリッジの位置決
め精度が大幅に悪化する。
そこで、本発明の前記実施例では、磁気ディスク装置の
機構部の主要熱源部付近の温度の高温、低温の中間値を
基準温度T oとし、この基P、湿温度oにおけるキャ
リッジの位置を基準位蓋とし、この基準温度TOにおけ
る基準対して、第1の温度検出器21により前記主要熱
源部付近の温度を検出し、この第1の温度検出器21で
検出した温度におけるキャリッジの変位量Aを求めるよ
うにしている。また、前記第1の温度検出器21により
機構部の主要熱源部付近の温度を検出する外、第2の温
度検出器22により円板1とヘッド3の平均的な温度が
表れる個所の温度を検出し、前記第1、第2の温度検出
器21.22によって検出された温度の温度差を求め、
この温度差によるキャリッジの変位量Bを求めるように
している。
機構部の主要熱源部付近の温度の高温、低温の中間値を
基準温度T oとし、この基P、湿温度oにおけるキャ
リッジの位置を基準位蓋とし、この基準温度TOにおけ
る基準対して、第1の温度検出器21により前記主要熱
源部付近の温度を検出し、この第1の温度検出器21で
検出した温度におけるキャリッジの変位量Aを求めるよ
うにしている。また、前記第1の温度検出器21により
機構部の主要熱源部付近の温度を検出する外、第2の温
度検出器22により円板1とヘッド3の平均的な温度が
表れる個所の温度を検出し、前記第1、第2の温度検出
器21.22によって検出された温度の温度差を求め、
この温度差によるキャリッジの変位量Bを求めるように
している。
そして、前記変位量A、Bを加算した値を前記基準位蓋
に対するキャリッジの修正量としている。
に対するキャリッジの修正量としている。
これにより、この実施例ではキャリッジ4を前記基準位
蓋に容易にかつ精度よく位置修正することが可能となり
、したがって円板1に対してヘッド3を容易にかつ高精
度に位置修正することができる。
蓋に容易にかつ精度よく位置修正することが可能となり
、したがって円板1に対してヘッド3を容易にかつ高精
度に位置修正することができる。
また、この実施例では、設定器34により磁気ディスク
装置の機構部に固有の特性パターンを選択したうえで、
実際に検出した温度を取り入れ、キャリッジの修正量を
演算するようにしているので、キャリッジ4をより一層
高精度で位置修正することができる。
装置の機構部に固有の特性パターンを選択したうえで、
実際に検出した温度を取り入れ、キャリッジの修正量を
演算するようにしているので、キャリッジ4をより一層
高精度で位置修正することができる。
なお1本発明では温度検出器を図面に示す2個所に取り
付けるものに限らず、3個所以上に取り付け、より一層
詳しく関数関係を見い出して処理するようにしてもよい
。
付けるものに限らず、3個所以上に取り付け、より一層
詳しく関数関係を見い出して処理するようにしてもよい
。
以上説明した本発明によれば、磁気ディスク装置の機構
部に取り付けられた温度検出器により、前記機構部の互
いに間隔をおいた複数個所の温度を検出し、その検出温
度を少なくともキャリッジの駆動モータに指令を送るコ
ントローラに送り込み、前記コントローラには基準温度
におけるキャリッジの基準位蓋と、他の温度におけるキ
ャリッジの円板に対する変位量との関係を示す第1のデ
ータと、温度検出個所間の温度差と、キャリッジの円板
に対する変位量との関係を示す第2のデータとを予めR
8し、前記コントローラでは各7A度検出器から検出温
度を取り込み、前記第1のデータと第2のデータからそ
れぞれ温度検出時点でのキャリッジの円板に対する変位
量を求め、ついで、前記二つの変位量を加算して基準位
蓋に対するキャリッジの修正量を演算し、さらに前記演
算した修正量に基づいてキャリッジの駆動モータに指令
を送るようにしているので、基準位蓋に合うようにキャ
リッジを容易にかつ精度よく位置修正でき、したがって
円板に対するヘッドの位置修正を容易にかつ高精度に行
うことができる。
部に取り付けられた温度検出器により、前記機構部の互
いに間隔をおいた複数個所の温度を検出し、その検出温
度を少なくともキャリッジの駆動モータに指令を送るコ
ントローラに送り込み、前記コントローラには基準温度
におけるキャリッジの基準位蓋と、他の温度におけるキ
ャリッジの円板に対する変位量との関係を示す第1のデ
ータと、温度検出個所間の温度差と、キャリッジの円板
に対する変位量との関係を示す第2のデータとを予めR
8し、前記コントローラでは各7A度検出器から検出温
度を取り込み、前記第1のデータと第2のデータからそ
れぞれ温度検出時点でのキャリッジの円板に対する変位
量を求め、ついで、前記二つの変位量を加算して基準位
蓋に対するキャリッジの修正量を演算し、さらに前記演
算した修正量に基づいてキャリッジの駆動モータに指令
を送るようにしているので、基準位蓋に合うようにキャ
リッジを容易にかつ精度よく位置修正でき、したがって
円板に対するヘッドの位置修正を容易にかつ高精度に行
うことができる。
また、本発明によれば、シーク命令とは無関係に、いつ
までも必要に応じてヘッドの位置修正を実施できるので
、アクセスタイムの増大を回避し得る効果がある。
までも必要に応じてヘッドの位置修正を実施できるので
、アクセスタイムの増大を回避し得る効果がある。
さらに、本発明によ九ば1円板にサーボ情報を記録する
専用のサーボ面を用意する必要がないので、小形装置に
も有効に適用し得る効果がある。
専用のサーボ面を用意する必要がないので、小形装置に
も有効に適用し得る効果がある。
第1図は一般に使用されている磁気ディスク装置と、こ
れに適用された本発明キャリッジ位置決め制御装置の一
実施例を示すブロック図、第2図は磁気ディスク装置の
機構部に対する温度検出器の取り付は位置の一例を示す
平面図、第3図(イ)、(ロ)は磁気ディスク装置の機
構部の温度および温度差と、キャリッジの変位量との関
係を示すグラフである。 1・・・円板、2・・・スピンドルモータ、3・・・ヘ
ッド。 4・・・キャリッジ、5・・・キャリッジの駆動モータ
。 6・・・同駆動回路、10・・・駆動回路等に指令を送
るマイクロコントローラ、11・・・ヘッドアーム、1
2・・・フレックスアーム、17・・・ベース、21゜
22・・・第1、第2の温度検出器、31.32・・・
第1、第2の信号変換器、33・・・A/D変換器。 TO・・・基準温度、TH・・・高温、TL・・・低温
、A・・・磁気ディスク装置の機構部の主要熱源部付近
の基準温度と、他の温度におけるキャリッジの円板に対
する変位量、TI、T2・・・温度差、B・・・温度検
出個所間の温度差によるキャリッジの円板に対する変位
量。 代理人弁理士 小 川 勝 男( 第 1 図 /′− ・く\1\1−− ぐ
れに適用された本発明キャリッジ位置決め制御装置の一
実施例を示すブロック図、第2図は磁気ディスク装置の
機構部に対する温度検出器の取り付は位置の一例を示す
平面図、第3図(イ)、(ロ)は磁気ディスク装置の機
構部の温度および温度差と、キャリッジの変位量との関
係を示すグラフである。 1・・・円板、2・・・スピンドルモータ、3・・・ヘ
ッド。 4・・・キャリッジ、5・・・キャリッジの駆動モータ
。 6・・・同駆動回路、10・・・駆動回路等に指令を送
るマイクロコントローラ、11・・・ヘッドアーム、1
2・・・フレックスアーム、17・・・ベース、21゜
22・・・第1、第2の温度検出器、31.32・・・
第1、第2の信号変換器、33・・・A/D変換器。 TO・・・基準温度、TH・・・高温、TL・・・低温
、A・・・磁気ディスク装置の機構部の主要熱源部付近
の基準温度と、他の温度におけるキャリッジの円板に対
する変位量、TI、T2・・・温度差、B・・・温度検
出個所間の温度差によるキャリッジの円板に対する変位
量。 代理人弁理士 小 川 勝 男( 第 1 図 /′− ・く\1\1−− ぐ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、磁気ディスク装置の機構部の複数個所に、互いに間
隔をおいて温度検出器を取り付け、各温度検出器を少な
くともキャリッジの駆動モータに指令を送るコントロー
ラに接続し、前記コントローラに、基準温度におけるキ
ャリッジの基準位置と、他の温度におけるキャリッジの
円板に対する変位量との関係を示す第1のデータと、温
度検出個所間の温度差と、キャリッジの円板に対する変
位量との関係を示す第2のデータとを予め登録し、かつ
前記コントローラに、各温度検出器から検出温度を取り
込み、前記第1のデータと第2のデータからそれぞれ温
度検出時点でのキャリッジの円板に対する変位量を求め
、これら二つの変位量を加算して前記基準位蓋に対する
キャリッジの修正量を演算し、このキャリッジの修正量
に基づいて前記キャリッジの駆動モータに指令を送る機
能を付加したことを特徴とする磁気ディスク装置のキャ
リッジ位置決め制御装置。 2、特許請求の範囲第1項において、前記温度検出器を
、磁気ディスク装置の機構部の主要熱源部付近と、円板
とヘッドの平均的な温度が表れる個所との少なくとも2
個所に取り付けたことを特徴とする磁気ディスク装置の
キャリッジ位置決め制御装置。 3、特許請求の範囲第1項において、前記基準温度に、
磁気ディスク装置の機構部の主要熱源部付近で検出され
る高温と、低温の中間値を採用したことを特徴とする磁
気ディスク装置のキャリッジ位置決め制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18508086A JPS6342072A (ja) | 1986-08-08 | 1986-08-08 | 磁気デイスク装置のキヤリツジ位置決め制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18508086A JPS6342072A (ja) | 1986-08-08 | 1986-08-08 | 磁気デイスク装置のキヤリツジ位置決め制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6342072A true JPS6342072A (ja) | 1988-02-23 |
Family
ID=16164469
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18508086A Pending JPS6342072A (ja) | 1986-08-08 | 1986-08-08 | 磁気デイスク装置のキヤリツジ位置決め制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6342072A (ja) |
-
1986
- 1986-08-08 JP JP18508086A patent/JPS6342072A/ja active Pending
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