JPS6338308B2 - - Google Patents
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- JPS6338308B2 JPS6338308B2 JP1631281A JP1631281A JPS6338308B2 JP S6338308 B2 JPS6338308 B2 JP S6338308B2 JP 1631281 A JP1631281 A JP 1631281A JP 1631281 A JP1631281 A JP 1631281A JP S6338308 B2 JPS6338308 B2 JP S6338308B2
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/07—Ink jet characterised by jet control
- B41J2/115—Ink jet characterised by jet control synchronising the droplet separation and charging time
Landscapes
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Description
本発明は、荷電制御形インクジエツト記録装置
に係り、特に荷電タイミングを制御する位相整合
装置を備えた荷電制御形インクジエツト記録装置
に関するものである。 近年、非接触で高速印字が可能ということか
ら、コンピユータ出力端末として、あるいは生産
工程で日付、製造番号などを製品に直接印字する
機器として、インクジエツト記録装置の利用が盛
んになつている。 この装置は、ノズルに一定圧力のインクを供給
し、一定周波数の振動を与えることによりインク
を粒子化させるものであり、その粒子化タイミン
グに同期して、帯電させ、静電界により偏向させ
ることによつて、被記録物に記録を行なうもので
ある。 ここで難かしいのは、粒子化のタイミングが、
温度や圧力などによつて変化するため、帯電を、
これにいかに合わせるかということである。 これについて、第1図および第2図を用いて、
詳細に説明する。 ここで、第1図は、従来のインクジエツト記録
装置の制御系ブロツク図であり、第2図のa〜c
は、インクの粒子化と帯電の関係を示す説明図で
ある。 まず、第1図において、水晶発振器13の出力
を増幅器9を通してノズル1に装備された振動子
2に印加すると、ノズル1内の加圧インクが噴出
粒子化する。 この粒子化は、振動子2の振動周波数に同期し
てなされ、これに合わせて帯電信号発生回路14
の出力を増幅器10を通して帯電電極4に印加す
ると、インク粒子3が帯電される。 この帯電されたインク粒子3は、高圧電源11
に接続されている偏向電極5により、その帯電量
に応じて偏向され、被記録物7上の所定の位置に
到達する。 なお、上述の振動子2は、常時励振されてお
り、インク粒子3は連続して作成されるが、記録
に寄与しないインク粒子3は帯電されていないた
め偏向されず、ガター6に当つて回収されるよう
になつている。 また、8は電荷検知器、12は電荷増幅処理回
路、15は比較器を示すものであり、これらにつ
いては後述する。 上記のような原理のインクジエツト記録装置に
おけるインクの粒子化と帯電の関係を示す第2図
a〜cにおいて、aは、上記振動子2の励振電
圧、bは、帯電電極4の電圧をそれぞれ示し、c
は、粒子化タイミングとドツトミス率との関係を
示すものである。 しかして、さきに述べたインクの粒子化は、振
動子2の励振周波数に同期していることから、1
周期に1個のインク粒子3が作成され、インク粒
子3は、粒子化するときに帯電される。 したがつて、粒子化時に帯電信号は最大値にな
つている必要がある。 すなわち、上昇中あるいは下降中であつたり、
全然無かつたりしてはならないものである。 ここで、第2図cに示すドツトミス率とは、被
記録物7の所定の位置にインク粒子3が到達しな
い、つまり正常な帯電がなされない割合である。 第2図bに示す帯電電圧の立上がり、立下がり
時に粒子化されると、上記のドツトミス率が極端
に高くなることが第2図cから分かる。 上記の第2図bに示す帯電電圧で正常に帯電さ
せるためには、インクの粒子化タイミングが同図
cのQの範囲に限定される。 ところで、粒子化のタイミングは、インクの圧
力や物性値、励振電圧、温度などによつて変化す
る。 したがつて、常に安定した帯電を行なうには、
粒子化のタイミングを検出し、それに応じて帯電
信号の位相を変化させる必要がある。 この粒子化タイミングを検出するため、第1図
に示した例では、飛行するインク粒子3の電荷を
静電誘導作用によつて検出する電荷検知器8が設
けられており、この電荷検知器8の出力は、電荷
増幅処理回路12を通して比較器15により基準
電圧Vrefと比較し、2値化出力を帯電信号発生
回路14に入力し制御するものである。 これについて、励振信号と探索信号とのタイミ
ング関係図である第3図のa〜dにより、さらに
詳細に、その動作を次に説明する。 第3図aに示すごとく、励振周期Tを、本例の
場合8分割し、同図bのごとき探索信号θ0〜θ7ま
での8種類の信号を作成し、この各々の探索信号
を一定時間毎、帯電電極4に印加して、インク粒
子3に電荷を与えるものである。 また、第3図cには、インク粒子化タイミング
が図示されており、このタイミングでインクが粒
子化していると考える。 さらに、上記の探索信号θ1の位相にたいするビ
デオ信号の例を第3図dに示している。 同図の破線に示すように、探索信号θ1の立上り
からビデオ信号は始まり、次の立上りで終るもの
とする。 しかして、第4図は動作タイムチヤート図であ
り、これには、探索信号をそのθ1〜θ7まで連続的
に変化させたときの検出信号と2値化信号を示し
てある。 この第4図の検出信号は、さきの第1図の電荷
増幅処理回路12の出力であり、また2値化信号
は、同じく比較器15の出力である。 まず、検出信号()と2値化信号()をみ
ることにする。 この状態は、きわめて正常な状態であり、比較
器15の比較電圧Vrefにより2値化した結果が
2値化信号()である。 なお、各位相における判定タイミングは、次の
位相に移る直前に判定するようになつている。 次に、検出信号()とその2値化信号()
は、図に示すごとく、検出信号そのもののレベル
が低下し、比較電圧Vrefに、きわめて近づいた
状況を示している。 このようなときは、探索信号θ1,θ4のごとく、
“1”と判定されるべき所が“0”と判定される
おそれがある。 また、検出信号()とその2値化信号()
においては、検出信号の低レベルの所が上昇して
きており、探索信号θ6,θ7、に示すごとく、“0”
と判定されるべき所が“1”と判定されている。 さきの第3図のb,dに示すごとく、本例の探
索信号とビデオ信号の関係および、位相シフトの
方向より、2値化信号が“0”→“1”に変化す
る点が、最適位相であると判定しているとすれ
ば、2値化信号()の場合、θ1となり、2値化
信号()の場合、θ2となり、さらに2値化信号
()の場合、θ1もしくはθ6となる。 このように、従来のごとく、比較電圧Vrefが
一定レベルであると、検出信号のレベル変化に弱
く、誤動作することがあつた。 また、他の例示に係るものとして、本発明者が
さきに開発したものに係る特願昭54−98184号に
示すように、検出信号の大きさに応じて、ビデオ
信号の大きさを変化させる方法があるが、ノイズ
レベルが上昇してきた場合は、従来と同様の問題
が発生するおそれがあるものである。 さらに、もう一つの他の例示に係るものとし
て、同様にさきに開発したものに係る特願昭54−
44317号において、検出信号の大きさに応じて、
検出信号増幅器のゲインを変化させる方法が示さ
れているが、これも上記と同様にノイズレベルの
上昇にたいして、同様の問題を有するものであ
る。 本発明は、上述した従来方式に係るものにおけ
る問題点である、検出信号が低下したり、ノイズ
レベルが上昇しS/Nが低下した場合でも、その
印字位相を正確に検知し、良好な印字を行なう、
荷電制御形インクジエツト記録装置の提供を、そ
の目的とするものである。 本発明の要点は、検出信号を2つの基準電圧で
2値化し、それらの組合せに応じて、1つの2値
化信号を作成し、印字位相を検知するようにした
荷電制御形インクジエツト記録装置にある。 上記に従う本発明の特徴は、非記録中にインク
粒子分離位相を探索するための帯電信号を一定周
期毎にその位相をシフトしてインク粒子に与え、
各相でのインク粒子群の帯電量を検知してインク
粒子の分離タイミングを検出し、この検出結果に
基づいてインク粒子の分離タイミングと記録帯電
信号との位相関係を補正するようにしたインクジ
エツト記録装置において、各相でのインク粒子群
の帯電量検知信号をスレツシユレベルの異なる2
つのコンパレータで2値化して2種の2値化デー
タを得る手段と、各相における前記2種の2値化
データを記憶する2値化データ記憶手段と、前記
2値化データ記憶手段に記憶された2種の2値化
データが共に“1”の相数が所定数以上かどうか
をチエツクし、所定数以上のときには前記2種の
2値化データが共に“1”の相の2値化データを
“1”とすると共にそれ以外の2値化データを
“0”とし、所定数に満たないときは前記2種の
2値化データの両方又は何れか一方が“1”の相
の2値化データを“1”とすると共にそれ以外の
2値化データを“0”とする最終2値化データを
得る合成手段とを設け、前記最終2値化データが
“0”から“1”あるいは“1”から“0”へ変
化したときの前記帯電信号の位相をインク粒子分
離位相として前記記録帯電信号の位相を補正する
ように構成した荷電制御形インクジエツト記録装
置にある。 次に、本発明に係る実施例を、第5図ないし第
8図により説明する。 ここで、第5図は、本発明の一実施例に係る荷
電制御形インクジエツト記録装置の制御系ブロツ
ク図、第6図a〜cは、その動作タイムチヤート
図、第7図は、そのプログラムのフローチヤート
図、第8図は、その探索中の印字モード切換状況
図である。 まず、第5図において、第1図と同一符号の部
分は同等部分であり、20は発振回路、21は
MPU(マイクロプロセツシングユニツト)、22
はROM(リードオンリーメモリ)、23はRAM
(ランダムアクセスメモリ)、24は分周回路、2
5はPiA(インターフエースアダプター)、26は
探索信号発生回路、27は増幅器、28は平滑回
路、29,30は比較器、31は被印字物検知回
路である。 そして、上記の探索信号発生回路26は、非記
録中に分離位相を探索するための帯電信号を一定
周期毎にその位相をシフトしてインク粒子に与え
る手段に係るものであり、比較器29,30は、
各位相でのインク粒子群の帯電量を検知してスレ
ツシユレベルの異なる2つのコンパレータで2値
化する手段に係るものであり、RAM23、分周
回路24、PiA25などは、各相における2種の
2値化データを記憶する手段に係るものであり、
またMPU21は、2種の2値化データから1種
の2値化データに変換する手段に係るものであ
る。 すなわち、MPU21は本装置の制御の流れを
コントロールするものであり、発振回路20は、
このMPU21へ基本クロツクを供給するもので
ある。 ROM22には、MPU21を動作させるため
のプログラムが入つており、RAM23は、プロ
グラム実行時に使用する読書き可能なメモリであ
る。 PiA25は、MPU21からのデータを外部へ
出力したり、外部からMPU21へデータを取込
むために使用するアダプタである。 しかして、発振回路20からのクロツクを分周
回路24へ供給し、この分周回路24で、ノズル
1を励振するのに適した周波数まで分周し、増幅
器9へ印加して、振動子2を振動させるものであ
る。 また、前記分周回路24から探索信号発生回路
26へクロツクを送り、PiA25のPB0〜PB2
出力により指示された位相の探索信号を上記探索
信号発生回路26は作成し、増幅器10に印加し
て、帯電電極4へ印加するものである。 上記探索信号により帯電されたインク粒子3
は、高圧電源11と偏向電極5により作成される
静電界中を飛行し、ガター6に回収され、インク
は再び使用される。 インクが電荷検知器8上を飛行することによ
り、電荷検知器8に誘導電流が誘起され、それを
増幅器27で増幅し、平滑回路28で直流に平滑
し、比較器29,30へ導かれる。 この比較器29,30は、それぞれ異なるレベ
ルの基準電圧Vref1,Vref2をもつており、2
値化出力は、PiA25のPA1、PA2へ導かれる。 また、PiA25のiは、被印字物検知回路31
からの検知信号に係る割り込み端子である。 この第5図の回路の信号処理手順に係る動作タ
イムチヤートを示す第6図において、まず、その
aは、正常な検出信号の場合の図である。 比較器29,30の上記両基準電圧Vref1,
Vref2は、図示のレベルとすると、比較器29,
30のそれぞれの2値化信号は図示のようなパル
スとなる。 このときの動作を、第7図のフローチヤート図
に従つて、次に説明する。 なお、図中の、(1、1)の意味は、任意の1
相の(PA1、PA2)入力の値である。したがつ
て、下記のθ5についていえば、(1、0)となる。
に係り、特に荷電タイミングを制御する位相整合
装置を備えた荷電制御形インクジエツト記録装置
に関するものである。 近年、非接触で高速印字が可能ということか
ら、コンピユータ出力端末として、あるいは生産
工程で日付、製造番号などを製品に直接印字する
機器として、インクジエツト記録装置の利用が盛
んになつている。 この装置は、ノズルに一定圧力のインクを供給
し、一定周波数の振動を与えることによりインク
を粒子化させるものであり、その粒子化タイミン
グに同期して、帯電させ、静電界により偏向させ
ることによつて、被記録物に記録を行なうもので
ある。 ここで難かしいのは、粒子化のタイミングが、
温度や圧力などによつて変化するため、帯電を、
これにいかに合わせるかということである。 これについて、第1図および第2図を用いて、
詳細に説明する。 ここで、第1図は、従来のインクジエツト記録
装置の制御系ブロツク図であり、第2図のa〜c
は、インクの粒子化と帯電の関係を示す説明図で
ある。 まず、第1図において、水晶発振器13の出力
を増幅器9を通してノズル1に装備された振動子
2に印加すると、ノズル1内の加圧インクが噴出
粒子化する。 この粒子化は、振動子2の振動周波数に同期し
てなされ、これに合わせて帯電信号発生回路14
の出力を増幅器10を通して帯電電極4に印加す
ると、インク粒子3が帯電される。 この帯電されたインク粒子3は、高圧電源11
に接続されている偏向電極5により、その帯電量
に応じて偏向され、被記録物7上の所定の位置に
到達する。 なお、上述の振動子2は、常時励振されてお
り、インク粒子3は連続して作成されるが、記録
に寄与しないインク粒子3は帯電されていないた
め偏向されず、ガター6に当つて回収されるよう
になつている。 また、8は電荷検知器、12は電荷増幅処理回
路、15は比較器を示すものであり、これらにつ
いては後述する。 上記のような原理のインクジエツト記録装置に
おけるインクの粒子化と帯電の関係を示す第2図
a〜cにおいて、aは、上記振動子2の励振電
圧、bは、帯電電極4の電圧をそれぞれ示し、c
は、粒子化タイミングとドツトミス率との関係を
示すものである。 しかして、さきに述べたインクの粒子化は、振
動子2の励振周波数に同期していることから、1
周期に1個のインク粒子3が作成され、インク粒
子3は、粒子化するときに帯電される。 したがつて、粒子化時に帯電信号は最大値にな
つている必要がある。 すなわち、上昇中あるいは下降中であつたり、
全然無かつたりしてはならないものである。 ここで、第2図cに示すドツトミス率とは、被
記録物7の所定の位置にインク粒子3が到達しな
い、つまり正常な帯電がなされない割合である。 第2図bに示す帯電電圧の立上がり、立下がり
時に粒子化されると、上記のドツトミス率が極端
に高くなることが第2図cから分かる。 上記の第2図bに示す帯電電圧で正常に帯電さ
せるためには、インクの粒子化タイミングが同図
cのQの範囲に限定される。 ところで、粒子化のタイミングは、インクの圧
力や物性値、励振電圧、温度などによつて変化す
る。 したがつて、常に安定した帯電を行なうには、
粒子化のタイミングを検出し、それに応じて帯電
信号の位相を変化させる必要がある。 この粒子化タイミングを検出するため、第1図
に示した例では、飛行するインク粒子3の電荷を
静電誘導作用によつて検出する電荷検知器8が設
けられており、この電荷検知器8の出力は、電荷
増幅処理回路12を通して比較器15により基準
電圧Vrefと比較し、2値化出力を帯電信号発生
回路14に入力し制御するものである。 これについて、励振信号と探索信号とのタイミ
ング関係図である第3図のa〜dにより、さらに
詳細に、その動作を次に説明する。 第3図aに示すごとく、励振周期Tを、本例の
場合8分割し、同図bのごとき探索信号θ0〜θ7ま
での8種類の信号を作成し、この各々の探索信号
を一定時間毎、帯電電極4に印加して、インク粒
子3に電荷を与えるものである。 また、第3図cには、インク粒子化タイミング
が図示されており、このタイミングでインクが粒
子化していると考える。 さらに、上記の探索信号θ1の位相にたいするビ
デオ信号の例を第3図dに示している。 同図の破線に示すように、探索信号θ1の立上り
からビデオ信号は始まり、次の立上りで終るもの
とする。 しかして、第4図は動作タイムチヤート図であ
り、これには、探索信号をそのθ1〜θ7まで連続的
に変化させたときの検出信号と2値化信号を示し
てある。 この第4図の検出信号は、さきの第1図の電荷
増幅処理回路12の出力であり、また2値化信号
は、同じく比較器15の出力である。 まず、検出信号()と2値化信号()をみ
ることにする。 この状態は、きわめて正常な状態であり、比較
器15の比較電圧Vrefにより2値化した結果が
2値化信号()である。 なお、各位相における判定タイミングは、次の
位相に移る直前に判定するようになつている。 次に、検出信号()とその2値化信号()
は、図に示すごとく、検出信号そのもののレベル
が低下し、比較電圧Vrefに、きわめて近づいた
状況を示している。 このようなときは、探索信号θ1,θ4のごとく、
“1”と判定されるべき所が“0”と判定される
おそれがある。 また、検出信号()とその2値化信号()
においては、検出信号の低レベルの所が上昇して
きており、探索信号θ6,θ7、に示すごとく、“0”
と判定されるべき所が“1”と判定されている。 さきの第3図のb,dに示すごとく、本例の探
索信号とビデオ信号の関係および、位相シフトの
方向より、2値化信号が“0”→“1”に変化す
る点が、最適位相であると判定しているとすれ
ば、2値化信号()の場合、θ1となり、2値化
信号()の場合、θ2となり、さらに2値化信号
()の場合、θ1もしくはθ6となる。 このように、従来のごとく、比較電圧Vrefが
一定レベルであると、検出信号のレベル変化に弱
く、誤動作することがあつた。 また、他の例示に係るものとして、本発明者が
さきに開発したものに係る特願昭54−98184号に
示すように、検出信号の大きさに応じて、ビデオ
信号の大きさを変化させる方法があるが、ノイズ
レベルが上昇してきた場合は、従来と同様の問題
が発生するおそれがあるものである。 さらに、もう一つの他の例示に係るものとし
て、同様にさきに開発したものに係る特願昭54−
44317号において、検出信号の大きさに応じて、
検出信号増幅器のゲインを変化させる方法が示さ
れているが、これも上記と同様にノイズレベルの
上昇にたいして、同様の問題を有するものであ
る。 本発明は、上述した従来方式に係るものにおけ
る問題点である、検出信号が低下したり、ノイズ
レベルが上昇しS/Nが低下した場合でも、その
印字位相を正確に検知し、良好な印字を行なう、
荷電制御形インクジエツト記録装置の提供を、そ
の目的とするものである。 本発明の要点は、検出信号を2つの基準電圧で
2値化し、それらの組合せに応じて、1つの2値
化信号を作成し、印字位相を検知するようにした
荷電制御形インクジエツト記録装置にある。 上記に従う本発明の特徴は、非記録中にインク
粒子分離位相を探索するための帯電信号を一定周
期毎にその位相をシフトしてインク粒子に与え、
各相でのインク粒子群の帯電量を検知してインク
粒子の分離タイミングを検出し、この検出結果に
基づいてインク粒子の分離タイミングと記録帯電
信号との位相関係を補正するようにしたインクジ
エツト記録装置において、各相でのインク粒子群
の帯電量検知信号をスレツシユレベルの異なる2
つのコンパレータで2値化して2種の2値化デー
タを得る手段と、各相における前記2種の2値化
データを記憶する2値化データ記憶手段と、前記
2値化データ記憶手段に記憶された2種の2値化
データが共に“1”の相数が所定数以上かどうか
をチエツクし、所定数以上のときには前記2種の
2値化データが共に“1”の相の2値化データを
“1”とすると共にそれ以外の2値化データを
“0”とし、所定数に満たないときは前記2種の
2値化データの両方又は何れか一方が“1”の相
の2値化データを“1”とすると共にそれ以外の
2値化データを“0”とする最終2値化データを
得る合成手段とを設け、前記最終2値化データが
“0”から“1”あるいは“1”から“0”へ変
化したときの前記帯電信号の位相をインク粒子分
離位相として前記記録帯電信号の位相を補正する
ように構成した荷電制御形インクジエツト記録装
置にある。 次に、本発明に係る実施例を、第5図ないし第
8図により説明する。 ここで、第5図は、本発明の一実施例に係る荷
電制御形インクジエツト記録装置の制御系ブロツ
ク図、第6図a〜cは、その動作タイムチヤート
図、第7図は、そのプログラムのフローチヤート
図、第8図は、その探索中の印字モード切換状況
図である。 まず、第5図において、第1図と同一符号の部
分は同等部分であり、20は発振回路、21は
MPU(マイクロプロセツシングユニツト)、22
はROM(リードオンリーメモリ)、23はRAM
(ランダムアクセスメモリ)、24は分周回路、2
5はPiA(インターフエースアダプター)、26は
探索信号発生回路、27は増幅器、28は平滑回
路、29,30は比較器、31は被印字物検知回
路である。 そして、上記の探索信号発生回路26は、非記
録中に分離位相を探索するための帯電信号を一定
周期毎にその位相をシフトしてインク粒子に与え
る手段に係るものであり、比較器29,30は、
各位相でのインク粒子群の帯電量を検知してスレ
ツシユレベルの異なる2つのコンパレータで2値
化する手段に係るものであり、RAM23、分周
回路24、PiA25などは、各相における2種の
2値化データを記憶する手段に係るものであり、
またMPU21は、2種の2値化データから1種
の2値化データに変換する手段に係るものであ
る。 すなわち、MPU21は本装置の制御の流れを
コントロールするものであり、発振回路20は、
このMPU21へ基本クロツクを供給するもので
ある。 ROM22には、MPU21を動作させるため
のプログラムが入つており、RAM23は、プロ
グラム実行時に使用する読書き可能なメモリであ
る。 PiA25は、MPU21からのデータを外部へ
出力したり、外部からMPU21へデータを取込
むために使用するアダプタである。 しかして、発振回路20からのクロツクを分周
回路24へ供給し、この分周回路24で、ノズル
1を励振するのに適した周波数まで分周し、増幅
器9へ印加して、振動子2を振動させるものであ
る。 また、前記分周回路24から探索信号発生回路
26へクロツクを送り、PiA25のPB0〜PB2
出力により指示された位相の探索信号を上記探索
信号発生回路26は作成し、増幅器10に印加し
て、帯電電極4へ印加するものである。 上記探索信号により帯電されたインク粒子3
は、高圧電源11と偏向電極5により作成される
静電界中を飛行し、ガター6に回収され、インク
は再び使用される。 インクが電荷検知器8上を飛行することによ
り、電荷検知器8に誘導電流が誘起され、それを
増幅器27で増幅し、平滑回路28で直流に平滑
し、比較器29,30へ導かれる。 この比較器29,30は、それぞれ異なるレベ
ルの基準電圧Vref1,Vref2をもつており、2
値化出力は、PiA25のPA1、PA2へ導かれる。 また、PiA25のiは、被印字物検知回路31
からの検知信号に係る割り込み端子である。 この第5図の回路の信号処理手順に係る動作タ
イムチヤートを示す第6図において、まず、その
aは、正常な検出信号の場合の図である。 比較器29,30の上記両基準電圧Vref1,
Vref2は、図示のレベルとすると、比較器29,
30のそれぞれの2値化信号は図示のようなパル
スとなる。 このときの動作を、第7図のフローチヤート図
に従つて、次に説明する。 なお、図中の、(1、1)の意味は、任意の1
相の(PA1、PA2)入力の値である。したがつ
て、下記のθ5についていえば、(1、0)となる。
【表】
まず、電源投入でリセツトが働き、θ=0をセ
ツトする。 次に、θをPB0〜PB2に出力する。この出力
は、探索信号発生回路26に入力され、さきの第
3図bのθ0に示すような探索信号が増幅器10を
通して、帯電電極4に印加される。 そして、一定時間経過後、PiA25は、PA1、
PA2の信号を読取り、内部のRAM23にストア
する。また、θ0を+1してθ1とする。このθ1を
PB0〜PB2に出力する。 この動作を繰り返し、最後は、θ7を、PB0〜
PB2に出力し、デイレータイムを経過したのち、
PA1、PA2を読込み、θ8となるので、BOX10へ
進む。 この時点では、8相分のデータがPA1、PA2に
ついて全て揃つているから、各相について、(1、
1)の状態が何相あるか、チエツクする。そし
て、(1、1)の状態が3相以上の場合には
BOX20に進み、(1、1)を“1”と定義し、
(0、0)と(1、0)の両場合を“0”と定義
することで2値化を行なう、つまり合成2値化を
行なうものである。 また、上記の状態が3相未満の場合で図の
BOX30に行つた場合は、(1、1)と(1、0)
を“1”と判定し、(0、0)を“0”と、合成
2値化を行なう。 これらのBOX20およびBOX30からBOX40へ
移り、最終2値化の結果から、“0”→“1”へ
変化した位相を検出し、印字位相とする。 そして、再度繰り返し実行するため、BOX0へ
戻り、これを繰り返すものである。 この動作を分り易く図示すると、さきの第6図
のようになる。 同図の正常時aの場合、(1、1)の数が4相
であるから、(1、1)の所だけが“1”となり、
その他の(0、0)および(1、0)は、全て
“0”となる。 そして、“0”→“1”へ変化する最適位相は
第1相目θ1と判断される。 第6図bのように、電荷検知器8などが汚れ
て、検出信号が低下した場合は、(1、1)の数
が1個となり、(1、0)=“1”と見做すよう働
くものである(BOX30)。 したがつて、合成2値化結果は、さきのaと同
様になり、印字位相は、θ1であると判定する。 さらに、偏向電極5で、高圧がリークしたり、
インクビームが電荷検知器8に近寄つた場合など
は、第6図cのように、ノイズレベルが上昇した
り、信号レベルが大きくなつたりする。 このようなときは、やはり(1、1)の数が4
相より多いため、(1、0)=“0”と見做すよう
に働く(BOX20)。 したがつて、合成2値化信号は、第6図cのよ
うになり、印字位相は、θ1とaの場合と同様にな
る。 さらに、さきの被印字物検知回路31により、
第8図に示す、探索中の印字モード切換状況図の
ごとく、探索モード中に、印字動作が入つた場
合、印字が完了したら、中断した位相から探索を
実行することにより、位相探索を、より能率的に
行なうことができる。 上記のように、上記実施例によれば、検出信号
の変動にたいして、スレツシユレベルを自動的に
追従させ、最適の印字位相を得ることができるも
のである。 なお、上記実施例においては、最終2値化結果
が“0”から“1”へ変化したときの帯電信号の
位相より分離位相を決定するようにしたものであ
るが、これは、最終2値化結果が“1”から
“0”へ変化したときの帯電信号の位相より分離
位相を決定するようにすることができるものであ
る。 上述したところをも総合して、本発明によると
きは、検出信号が低下したり、ノイズレベルが上
昇してS/Nが低下した場合でも、印字位相を正
確に検知し、良好な印字を行なう荷電制御形イン
クジエツト記録装置を得ることができるものであ
つて、すぐれた効果を奏する発明ということがで
きる。
ツトする。 次に、θをPB0〜PB2に出力する。この出力
は、探索信号発生回路26に入力され、さきの第
3図bのθ0に示すような探索信号が増幅器10を
通して、帯電電極4に印加される。 そして、一定時間経過後、PiA25は、PA1、
PA2の信号を読取り、内部のRAM23にストア
する。また、θ0を+1してθ1とする。このθ1を
PB0〜PB2に出力する。 この動作を繰り返し、最後は、θ7を、PB0〜
PB2に出力し、デイレータイムを経過したのち、
PA1、PA2を読込み、θ8となるので、BOX10へ
進む。 この時点では、8相分のデータがPA1、PA2に
ついて全て揃つているから、各相について、(1、
1)の状態が何相あるか、チエツクする。そし
て、(1、1)の状態が3相以上の場合には
BOX20に進み、(1、1)を“1”と定義し、
(0、0)と(1、0)の両場合を“0”と定義
することで2値化を行なう、つまり合成2値化を
行なうものである。 また、上記の状態が3相未満の場合で図の
BOX30に行つた場合は、(1、1)と(1、0)
を“1”と判定し、(0、0)を“0”と、合成
2値化を行なう。 これらのBOX20およびBOX30からBOX40へ
移り、最終2値化の結果から、“0”→“1”へ
変化した位相を検出し、印字位相とする。 そして、再度繰り返し実行するため、BOX0へ
戻り、これを繰り返すものである。 この動作を分り易く図示すると、さきの第6図
のようになる。 同図の正常時aの場合、(1、1)の数が4相
であるから、(1、1)の所だけが“1”となり、
その他の(0、0)および(1、0)は、全て
“0”となる。 そして、“0”→“1”へ変化する最適位相は
第1相目θ1と判断される。 第6図bのように、電荷検知器8などが汚れ
て、検出信号が低下した場合は、(1、1)の数
が1個となり、(1、0)=“1”と見做すよう働
くものである(BOX30)。 したがつて、合成2値化結果は、さきのaと同
様になり、印字位相は、θ1であると判定する。 さらに、偏向電極5で、高圧がリークしたり、
インクビームが電荷検知器8に近寄つた場合など
は、第6図cのように、ノイズレベルが上昇した
り、信号レベルが大きくなつたりする。 このようなときは、やはり(1、1)の数が4
相より多いため、(1、0)=“0”と見做すよう
に働く(BOX20)。 したがつて、合成2値化信号は、第6図cのよ
うになり、印字位相は、θ1とaの場合と同様にな
る。 さらに、さきの被印字物検知回路31により、
第8図に示す、探索中の印字モード切換状況図の
ごとく、探索モード中に、印字動作が入つた場
合、印字が完了したら、中断した位相から探索を
実行することにより、位相探索を、より能率的に
行なうことができる。 上記のように、上記実施例によれば、検出信号
の変動にたいして、スレツシユレベルを自動的に
追従させ、最適の印字位相を得ることができるも
のである。 なお、上記実施例においては、最終2値化結果
が“0”から“1”へ変化したときの帯電信号の
位相より分離位相を決定するようにしたものであ
るが、これは、最終2値化結果が“1”から
“0”へ変化したときの帯電信号の位相より分離
位相を決定するようにすることができるものであ
る。 上述したところをも総合して、本発明によると
きは、検出信号が低下したり、ノイズレベルが上
昇してS/Nが低下した場合でも、印字位相を正
確に検知し、良好な印字を行なう荷電制御形イン
クジエツト記録装置を得ることができるものであ
つて、すぐれた効果を奏する発明ということがで
きる。
第1図は、従来のインクジエツト記録装置の制
御系ブロツク図、第2図のa〜cは、インクの粒
子化と帯電の関係を示す説明図、第3図のa〜d
は、励振信号と探索信号とのタイミング関係図、
第4図は、その動作タイムチヤート図、第5図
は、本発明の一実施例に係る荷電制御形インクジ
エツト記録装置の制御系ブロツク図、第6図のa
〜cは、その動作タイムチヤート図、第7図は、
そのプログラムのフローチヤート図、第8図は、
その探索中の印字モード切換状況図である。 1……ノズル、2……振動子、4……帯電電
極、5……偏向電極、8……電荷検知器、9,1
0,27……増幅器、13……水晶発振器、20
……発振回路、21……MPU、22……ROM、
23……RAM、24……分周回路、25……
PiA、26……探索信号発生回路、28……平滑
回路、29,30……比較器、31……被印字物
検知回路。
御系ブロツク図、第2図のa〜cは、インクの粒
子化と帯電の関係を示す説明図、第3図のa〜d
は、励振信号と探索信号とのタイミング関係図、
第4図は、その動作タイムチヤート図、第5図
は、本発明の一実施例に係る荷電制御形インクジ
エツト記録装置の制御系ブロツク図、第6図のa
〜cは、その動作タイムチヤート図、第7図は、
そのプログラムのフローチヤート図、第8図は、
その探索中の印字モード切換状況図である。 1……ノズル、2……振動子、4……帯電電
極、5……偏向電極、8……電荷検知器、9,1
0,27……増幅器、13……水晶発振器、20
……発振回路、21……MPU、22……ROM、
23……RAM、24……分周回路、25……
PiA、26……探索信号発生回路、28……平滑
回路、29,30……比較器、31……被印字物
検知回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 非記録中にインク粒子分離位相を探索するた
めの帯電信号を一定周期毎にその位相をシフトし
てインク粒子に与え、各相でのインク粒子群の帯
電量を検知してインク粒子の分離タイミングを検
出し、この検出結果に基づいてインク粒子の分離
タイミングと記録帯電信号との位相関係を補正す
るようにしたインクジエツト記録装置において、 各相でのインク粒子群の帯電量検知信号をスレ
ツシユレベルの異なる2つのコンパレータで2値
化して2種の2値化データを得る手段と、 各相における前記2種の2値化データを記憶す
る2値化データ記憶手段と、 前記2値化データ記憶手段に記憶された2種の
2値化データが共に“1”の相数が所定数以上か
どうかをチエツクし、所定数以上のときには前記
2種の2値化データが共に“1”の相の2値化デ
ータを“1”とすると共にそれ以外の2値化デー
タを“0”とし、所定数に満たないときは前記2
種の2値化データの両方又は何れか一方が“1”
の相の2値化データを“1”とすると共にそれ以
外の2値化データを“0”とする最終2値化デー
タを得る合成手段とを設け、 前記最終2値化データが“0”から“1”ある
いは“1”から“0”へ変化したときの前記帯電
信号の位相をインク粒子分離位相として前記記録
帯電信号の位相を補正するようにしたことを特徴
とする荷電制御形インクジエツト記録装置。 2 特許請求の範囲第1項において、記録中は位
相探索を一時中断し、記録終了後、中断したとき
の位相から再び位相探索を開始せしめるようにし
たことを特徴とする荷電制御形インクジエツト記
録装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1631281A JPS57131570A (en) | 1981-02-07 | 1981-02-07 | Load controlled ink jet recorder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1631281A JPS57131570A (en) | 1981-02-07 | 1981-02-07 | Load controlled ink jet recorder |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57131570A JPS57131570A (en) | 1982-08-14 |
JPS6338308B2 true JPS6338308B2 (ja) | 1988-07-29 |
Family
ID=11912996
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1631281A Granted JPS57131570A (en) | 1981-02-07 | 1981-02-07 | Load controlled ink jet recorder |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS57131570A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5964364A (ja) * | 1982-10-06 | 1984-04-12 | Hitachi Ltd | インクジェット記録装置の不良印刷判別・溶剤補給方法 |
-
1981
- 1981-02-07 JP JP1631281A patent/JPS57131570A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57131570A (en) | 1982-08-14 |
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