JPS6337201A - 寸法基準器 - Google Patents
寸法基準器Info
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- JPS6337201A JPS6337201A JP18077986A JP18077986A JPS6337201A JP S6337201 A JPS6337201 A JP S6337201A JP 18077986 A JP18077986 A JP 18077986A JP 18077986 A JP18077986 A JP 18077986A JP S6337201 A JPS6337201 A JP S6337201A
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- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 28
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 235000009037 Panicum miliaceum subsp. ruderale Nutrition 0.000 description 1
- 244000022185 broomcorn panic Species 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
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- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、複数の測定ブｌＴｌ−ツクと間隔ブｌコック
とを交互に列配してなる寸法基準器に関する。
とを交互に列配してなる寸法基準器に関する。
本体とこの本体に交互に列配された複数の測定ブロック
と間隔プロ・ツクとから形成された寸ン去基準器が知ら
れ、測長機の校正や工作機械のテーフ゛ル送り量校正等
に広く採用されている。
と間隔プロ・ツクとから形成された寸ン去基準器が知ら
れ、測長機の校正や工作機械のテーフ゛ル送り量校正等
に広く採用されている。
従来の寸法基準器は、第３図に示されるｊｍり本体ＩＯ
の長手方向（図で左右方向）に延びる溝１１に複数の測
定ブロック１５，１５．・・・と間隔フ゛ロック１８，
１８．・・・とが交互に列配され、かつハンドル５で両
プロソ’／１５．１５．・・・、１８゜１８、・・・を
一体部に移動できるものとして構成されていた。なお、
本体１０の下端側に設けられた凸部２２．２２の下端面
が主基準面２１．２１を形成し、図で左側面が副基準面
３１，３］を形成していた。
の長手方向（図で左右方向）に延びる溝１１に複数の測
定ブロック１５，１５．・・・と間隔フ゛ロック１８，
１８．・・・とが交互に列配され、かつハンドル５で両
プロソ’／１５．１５．・・・、１８゜１８、・・・を
一体部に移動できるものとして構成されていた。なお、
本体１０の下端側に設けられた凸部２２．２２の下端面
が主基準面２１．２１を形成し、図で左側面が副基準面
３１，３］を形成していた。
従って、主基準面２１．２１を下方に向けて定盤１」・
＼本体１０設定すれば各測定ブロック１５の測定面１６
．１６を例えば測長機に連動させたタッチ信号プローブ
を当接させながら図で左右方向の位置を確認し当該測長
機の校正をすることができた。また、ハンドル５を廻し
目盛６で６１ Ｍ忍しつつ測定面１６，１６．・・・の
位置ずなわち寸法基準を変更することができた。さらに
、副基準面３１．３１をもって定盤１−にに本体１０を
設置すれば、縦方向の寸法基準をもとに例えばハイドゲ
ージ等の校正をすることができた。
＼本体１０設定すれば各測定ブロック１５の測定面１６
．１６を例えば測長機に連動させたタッチ信号プローブ
を当接させながら図で左右方向の位置を確認し当該測長
機の校正をすることができた。また、ハンドル５を廻し
目盛６で６１ Ｍ忍しつつ測定面１６，１６．・・・の
位置ずなわち寸法基準を変更することができた。さらに
、副基準面３１．３１をもって定盤１−にに本体１０を
設置すれば、縦方向の寸法基準をもとに例えばハイドゲ
ージ等の校正をすることができた。
しかしながら、上記従来構造の寸法基準器には次のよう
な問題点があった。
な問題点があった。
すなわち、測定ブロック１５，１５．・・・は、測定面
１６．１６，１６，１６．・・・を溝１１から上方に突
出さセて装着することが必須でありかつ測定面１６．１
６．・・・の形状は本体１０の形状よりも溝かに小さい
ものとされている。さらに、本体１０の縦中立軸線ｙ−
ｙは図に見られるように測定面１６３１、り主基準面２
１．２１に接近した方向となる、とともに主基準面２１
．２１は左右側方に設けられている。従って、本体１０
自体が自重によって撓み縦中立軸線Ｙ−Ｙが湾曲すると
各測定面１６．１６．Ｉ（ｉ、Ｉ（ｉ、・・・をｒｌ＜
基線が同一の曲率半径をもって湾曲してしまうので各測
定面１６，１６． ・・・の間の寸法ずなわら１％ 準
寸法が変化してしまい高゛積度の校正等ができないとい
う欠点があった。これは、＼］法基（１１−器が長大に
なる程に顕著に現れ精度上許し難い問題となってきた。
１６．１６，１６，１６．・・・を溝１１から上方に突
出さセて装着することが必須でありかつ測定面１６．１
６．・・・の形状は本体１０の形状よりも溝かに小さい
ものとされている。さらに、本体１０の縦中立軸線ｙ−
ｙは図に見られるように測定面１６３１、り主基準面２
１．２１に接近した方向となる、とともに主基準面２１
．２１は左右側方に設けられている。従って、本体１０
自体が自重によって撓み縦中立軸線Ｙ−Ｙが湾曲すると
各測定面１６．１６．Ｉ（ｉ、Ｉ（ｉ、・・・をｒｌ＜
基線が同一の曲率半径をもって湾曲してしまうので各測
定面１６，１６． ・・・の間の寸法ずなわら１％ 準
寸法が変化してしまい高゛積度の校正等ができないとい
う欠点があった。これは、＼］法基（１１−器が長大に
なる程に顕著に現れ精度上許し難い問題となってきた。
本発明は、測定面間の寸法変化がなく高精度校正等がで
きる寸法基準器を提供することを目的とする。
きる寸法基準器を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するだめの手段および性用〕本発明は、
本体と、この本体に交互に列配された複数の測定ブロッ
クと間隔ブ１コックとから形成された寸法基準器におい
て、 前記本体に前記測定プ１７ノクよりも高く突出させた主
基準面からの縦中立軸線の位置を変えるための起立部を
設け、前記測定ブロックを測定面が該縦中立軸線と交叉
する位置で前記本体に配列した構成とし前記目的を達成
するのである。
本体と、この本体に交互に列配された複数の測定ブロッ
クと間隔ブ１コックとから形成された寸法基準器におい
て、 前記本体に前記測定プ１７ノクよりも高く突出させた主
基準面からの縦中立軸線の位置を変えるための起立部を
設け、前記測定ブロックを測定面が該縦中立軸線と交叉
する位置で前記本体に配列した構成とし前記目的を達成
するのである。
従って、各測定ブロックの測定面を本体の縦中立軸線と
交叉するよう列配しているので本体が撓み変形したとし
ても基準寸法は不変となり高精度の校正等を行うことが
できる。
交叉するよう列配しているので本体が撓み変形したとし
ても基準寸法は不変となり高精度の校正等を行うことが
できる。
本発明に係る寸法基準器の一実施例を図面を参照しなが
ら詳細に説明する。
ら詳細に説明する。
この実施例は第１図および第２図に示される。
なお、前出第３図の従来寸法基準器と同一部分について
は同一の符号を付するとともに説明を簡略または省略す
る。
は同一の符号を付するとともに説明を簡略または省略す
る。
本体１０は、長平方向に延びる溝１１を有し、後方側に
設けられた起立部４０．！ｌニ一体的に形成されている
。測定ブロック１５．１５．・・・と間隅ブ１コック１
８．１８．・・・は、それぞれゲージブロックから形成
され交互にリンギングされて配列され、クイロット１９
を貫通させるための貫通口１４゜１４、・・・が設けら
れている。測定ブロック１５は間隅ブ■：Ｉツク１８よ
り背高とされその突出両側面が測定面１６．１６とされ
るものである。
設けられた起立部４０．！ｌニ一体的に形成されている
。測定ブロック１５．１５．・・・と間隅ブ１コック１
８．１８．・・・は、それぞれゲージブロックから形成
され交互にリンギングされて配列され、クイロット１９
を貫通させるための貫通口１４゜１４、・・・が設けら
れている。測定ブロック１５は間隅ブ■：Ｉツク１８よ
り背高とされその突出両側面が測定面１６．１６とされ
るものである。
配列された測定ブロック１５，１５．・・・と間隔ブロ
ック１８．１８とは溝１１内に収容され、下端ブロック
３２、上端ブロック３３を介し本体１０に一体的に固着
される。なお、下端ブロック３２および上端ブロック３
３は本体１０の図で左右端面にそれぞれビス止めされて
いる。
ック１８．１８とは溝１１内に収容され、下端ブロック
３２、上端ブロック３３を介し本体１０に一体的に固着
される。なお、下端ブロック３２および上端ブロック３
３は本体１０の図で左右端面にそれぞれビス止めされて
いる。
また、本体１０の起立部４０は、表面側が測定子（図示
省略）等を測定面１６に当接させる等の使用便宜のため
にテーパー面４１とされており、その裏面側に設けられ
た中空部４２には第２図に見られるような折曲板からな
るリプ５０が装着固定されている。
省略）等を測定面１６に当接させる等の使用便宜のため
にテーパー面４１とされており、その裏面側に設けられ
た中空部４２には第２図に見られるような折曲板からな
るリプ５０が装着固定されている。
ここに、下端ブロック３２は各測定ブロック１５．１５
、・・・の測定面１６，１．６．・・・と平行状態に加
工されており、一方の副基準面３１を構成するものであ
る。また、本体１０の表面側の下端部分はその長平方向
に伸びる他方の副基準面３５とされている。そして、本
体１０の第１図および第２図の最下端面には主基準面２
１．２１を構成する支持座２４．２４が設けられている
。
、・・・の測定面１６，１．６．・・・と平行状態に加
工されており、一方の副基準面３１を構成するものであ
る。また、本体１０の表面側の下端部分はその長平方向
に伸びる他方の副基準面３５とされている。そして、本
体１０の第１図および第２図の最下端面には主基準面２
１．２１を構成する支持座２４．２４が設けられている
。
さて、第１図に示すように本体１０には、起立部４０が
設ｉｌｌられているので、全体としての縦中立軸綿Ｙ−
Ｙは従来寸法基準器に対し主基準面２１．２１からみて
、その」三方に高い位置となっている。すなわち、この
全体としての縦中立軸線Ｙ−Ｙが各測定面１６の中央を
貫くことができるような位置に各測定ブロック１５．１
５．・・・を本体１０に取り付けているのである。従っ
て、本体１０が両支持座２４．２４により２点支持の梁
部材として撓んだとしても各測定面１６，１６．・・・
間の基準寸法は不変となるよう形成されている。また、
両支持座２４．，２４（詳しくは、これらの中央点）は
、全体を梁部材と見立てたときに、最小の撓みが生ずる
位置（ヘノセル点）とされている。
設ｉｌｌられているので、全体としての縦中立軸綿Ｙ−
Ｙは従来寸法基準器に対し主基準面２１．２１からみて
、その」三方に高い位置となっている。すなわち、この
全体としての縦中立軸線Ｙ−Ｙが各測定面１６の中央を
貫くことができるような位置に各測定ブロック１５．１
５．・・・を本体１０に取り付けているのである。従っ
て、本体１０が両支持座２４．２４により２点支持の梁
部材として撓んだとしても各測定面１６，１６．・・・
間の基準寸法は不変となるよう形成されている。また、
両支持座２４．，２４（詳しくは、これらの中央点）は
、全体を梁部材と見立てたときに、最小の撓みが生ずる
位置（ヘノセル点）とされている。
具体的には全長を（、としたとき、副基準面３１を形成
する下端ブロック３２から約０．２２０３ Ｌの位置で
あり、上端ブロック３３側についても同じである。
する下端ブロック３２から約０．２２０３ Ｌの位置で
あり、上端ブロック３３側についても同じである。
次に、本実施例の作用について説明する。
水平方向の基〈Ｆ寸法に供する場合にＬＪ主基準面２１
．２１を定盤１に当接設置（第１図の状態）し、各測定
面＋６．］ｆｉ、・・・を利用して工作機械の送り量校
正等を行う。この場合、主法べ１！面２１゜２１を形成
する支持座２１１．２４は各端がら約０゜２２０３ Ｌ
に設けられているから本体１０等全体の自重による撓み
は最小となる。従って、各測定面１６の図で上下方向の
変位段差シ」１肢小であるから校正作業等に支障を来さ
ない。しがも、各測定面１６は全体としての縦中立軸１
％ｉ Ｙ −Ｙと交叉する。１、う配設されているので
その微小な自重廃りがあったとしても基準寸法（各測定
面１６．１６、・・・・・・間の寸法）は不変であり高
精度利用が保障される。
．２１を定盤１に当接設置（第１図の状態）し、各測定
面＋６．］ｆｉ、・・・を利用して工作機械の送り量校
正等を行う。この場合、主法べ１！面２１゜２１を形成
する支持座２１１．２４は各端がら約０゜２２０３ Ｌ
に設けられているから本体１０等全体の自重による撓み
は最小となる。従って、各測定面１６の図で上下方向の
変位段差シ」１肢小であるから校正作業等に支障を来さ
ない。しがも、各測定面１６は全体としての縦中立軸１
％ｉ Ｙ −Ｙと交叉する。１、う配設されているので
その微小な自重廃りがあったとしても基準寸法（各測定
面１６．１６、・・・・・・間の寸法）は不変であり高
精度利用が保障される。
また、副基準面３］、３］または副基準面３５を定盤１
に当接設置して利用することもできる。
に当接設置して利用することもできる。
これら場合にも起立部４０が設し」られているから全体
としての撓みは小さいので精度良く利用できる。
としての撓みは小さいので精度良く利用できる。
従って、この実施例によれば、各測定面１６゜１６、・
・・を縦中立軸線Ｙ−Ｙと交叉するよ・）シて設けられ
ているから、全体として撓みが生したとしても；＋Ａ：
ｔｈ＋！寸法が不変ゆえ高精度利用が達成される。
・・を縦中立軸線Ｙ−Ｙと交叉するよ・）シて設けられ
ているから、全体として撓みが生したとしても；＋Ａ：
ｔｈ＋！寸法が不変ゆえ高精度利用が達成される。
また、主基準面２１．２１を構成する支持座２４．２４
が各ヘノセル点（０，２２０３Ｌ ） に設けられてい
るので撓み変形が最小となり、この点からも高精度利用
が保障されるとともに各測定面１６゜１６の変位段差が
生じないので取り扱い易い。
が各ヘノセル点（０，２２０３Ｌ ） に設けられてい
るので撓み変形が最小となり、この点からも高精度利用
が保障されるとともに各測定面１６゜１６の変位段差が
生じないので取り扱い易い。
さらに、全体としての縦中立軸線Ｙ−Ｙを従来の寸法基
準器と較べ高い位置とするために起立部４０が設けられ
ているので全体の剛性が大きく上記撓みを小さくできる
。一方、起立部４０には中空部４２が設けられ、リブ５
０を介装させているので剛性を大きくしても高重量化す
るという不利はない。さらに、起立部４０は本体１０を
全体として横断面が１１字状となるような形状とされて
いるから副基準面３１．３１．３５による姿勢での利用
も安定かつ精度良く行うことができる。
準器と較べ高い位置とするために起立部４０が設けられ
ているので全体の剛性が大きく上記撓みを小さくできる
。一方、起立部４０には中空部４２が設けられ、リブ５
０を介装させているので剛性を大きくしても高重量化す
るという不利はない。さらに、起立部４０は本体１０を
全体として横断面が１１字状となるような形状とされて
いるから副基準面３１．３１．３５による姿勢での利用
も安定かつ精度良く行うことができる。
さらにまた、起立部４０を設けるのみでよいから構造簡
単にして経済的である。このことは従来の寸法基準器に
も起立部４０を付設して改良できるという効果もある。
単にして経済的である。このことは従来の寸法基準器に
も起立部４０を付設して改良できるという効果もある。
なお、以」二の実施例でし、１、起ｑ部４０は本体１０
と一体的として形成したが、要は、全体とし°（の縦中
立軸線Ｙ−Ｙが各測定面１６．１Ｇ、・・・を貫くよう
すればよいから、起立部４０は本体１゜に付設できるよ
うした構造としてもよい。
と一体的として形成したが、要は、全体とし°（の縦中
立軸線Ｙ−Ｙが各測定面１６．１Ｇ、・・・を貫くよう
すればよいから、起立部４０は本体１゜に付設できるよ
うした構造としてもよい。
また、測定ブロック１５．１５．・・・と間隔ブロック
１Ｂ、１８．・・・番ＪクィロノＦ’ １９で本体１０
に固定的としたが従来の如くハンドルで移動できるよう
してもよい。また、起立部４ｏ、リブ５゜等の形状等も
上記開示形状等に限定されない。
１Ｂ、１８．・・・番ＪクィロノＦ’ １９で本体１０
に固定的としたが従来の如くハンドルで移動できるよう
してもよい。また、起立部４ｏ、リブ５゜等の形状等も
上記開示形状等に限定されない。
本発明は、測定面間の・ｊ法ずなわら基ハ１１）］法変
化がなく高精度校正等ができるという優れた効果を有す
る。
化がなく高精度校正等ができるという優れた効果を有す
る。
第１図は本発明に係る寸法基（１１！器の−・実施例を
示す全体構成図、第２図番」同じく分解斜視図および第
３図は従来の寸法基ＱＩＪ器の全体構成図である。 １０・・・本体、１５・・・測定ブロック、１６・・・
測定面、１Ｂ・・・間隔ブロック、２１・・・主基準面
、２４・・・支持座、４０・・・起立部。
示す全体構成図、第２図番」同じく分解斜視図および第
３図は従来の寸法基ＱＩＪ器の全体構成図である。 １０・・・本体、１５・・・測定ブロック、１６・・・
測定面、１Ｂ・・・間隔ブロック、２１・・・主基準面
、２４・・・支持座、４０・・・起立部。
Claims (3)
- （１）本体と、この本体に交互に列配された複数の測定
ブロックと間隔ブロックとから形成された寸法基準器に
おいて、 前記本体に前記測定ブロックよりも高く突出させた主基
準面からの縦中立軸線の位置を変えるための起立部を設
け、前記測定ブロックを測定面が該縦中立軸線と交叉す
る位置で前記本体に配列したことを特徴とする寸法基準
器。 - （２）前記特許請求の範囲第１項において、前記起立部
が、中空部を有するとともにこの中空部に折曲リブが取
り付けられているものとされている寸法基準器。 - （３）前記特許請求の範囲第２項において、前記主基準
面が、前記本体の撓みが最小となる位置で本体に離隔配
設された一対の支持座から形成されている寸法基準器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18077986A JPS6337201A (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | 寸法基準器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18077986A JPS6337201A (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | 寸法基準器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6337201A true JPS6337201A (ja) | 1988-02-17 |
| JPH048722B2 JPH048722B2 (ja) | 1992-02-18 |
Family
ID=16089182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18077986A Granted JPS6337201A (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | 寸法基準器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6337201A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992021930A1 (en) * | 1991-05-29 | 1992-12-10 | Brown & Sharpe Manufacturing Company | Stacked block step gage |
| US20120151988A1 (en) * | 2010-12-16 | 2012-06-21 | Hexagon Metrology, Inc. | Machine calibration artifact |
-
1986
- 1986-07-31 JP JP18077986A patent/JPS6337201A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992021930A1 (en) * | 1991-05-29 | 1992-12-10 | Brown & Sharpe Manufacturing Company | Stacked block step gage |
| US5231768A (en) * | 1991-05-29 | 1993-08-03 | Brown & Sharpe Manufacturing Co. | Stacked block step gage |
| US5430950A (en) * | 1991-05-29 | 1995-07-11 | Brown & Sharpe Mfg. Co. | Stacked block step gage |
| US20120151988A1 (en) * | 2010-12-16 | 2012-06-21 | Hexagon Metrology, Inc. | Machine calibration artifact |
| US8826719B2 (en) * | 2010-12-16 | 2014-09-09 | Hexagon Metrology, Inc. | Machine calibration artifact |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH048722B2 (ja) | 1992-02-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |