JPS6335396Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6335396Y2 JPS6335396Y2 JP9941682U JP9941682U JPS6335396Y2 JP S6335396 Y2 JPS6335396 Y2 JP S6335396Y2 JP 9941682 U JP9941682 U JP 9941682U JP 9941682 U JP9941682 U JP 9941682U JP S6335396 Y2 JPS6335396 Y2 JP S6335396Y2
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- JP
- Japan
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- vacuum
- negative high
- spectrometer
- power supply
- high voltage
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 claims 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は発光分光分析装置の改良に関するもの
である。
である。
従来発光分光分析装置の状態の管理は各計器の
指示盤の目視によつて行われており、異常状態を
オペレータに報知する機能および自動的に状態を
管理する機能を持たなかつた。したがつて装置の
異常の早期発見が容易でないために故障が発生し
易く、また複数の装置を集中管理することが困難
であるという欠点があつた。本考案はこれらの問
題点を解消すると共に発光室のドアの開閉時には
発光電源を自動的に遮断することにより事故を未
然に防止し得る発光分光分析装置の自動状態管理
機構を提供することを目的とするものである。
指示盤の目視によつて行われており、異常状態を
オペレータに報知する機能および自動的に状態を
管理する機能を持たなかつた。したがつて装置の
異常の早期発見が容易でないために故障が発生し
易く、また複数の装置を集中管理することが困難
であるという欠点があつた。本考案はこれらの問
題点を解消すると共に発光室のドアの開閉時には
発光電源を自動的に遮断することにより事故を未
然に防止し得る発光分光分析装置の自動状態管理
機構を提供することを目的とするものである。
以下本考案を実施例によつて詳述する。第1図
は本考案装置の一実施例を示す概略ブロツク図で
あり、1は分光器ケース、2はケース1内に設け
られ分光光度計の光学的部分を収納した真空容
器、3は真空容器2に連通して設けられた発光室
である。発光室3にはドア4が設けられておりド
アスイツチ5により開閉状態が検知される。6は
試料発光装置で、発光室3内に設けた放電電極7
によつて試料を発光させるものである。8は分光
光度計の光検出器で検出器用負高圧電源9により
高電圧が供給されている。10は真空容器2内の
真空度を計測する真空計ゲージ、11は真空計回
路であり、12は温度計用サーミスタ、13は温
度計回路、14は温度調節用ヒータで15はヒー
タ制御用無接点リレーである。検出器用負高圧電
源の電圧、真空計11および温度計13の各出力
電圧はアナログマルチプレクサ16を通つてAD
コンバータ17に入力され、中央制御装置18か
ら出力されるチヤンネル指定信号パルス19によ
つて順次中央制御装置18に読み込まれる。また
ドアスイツチ5の検知出力もドア開閉状態信号2
0として中央制御装置18に読み込まれている。
21はCRT表示装置、22は警報器である。
は本考案装置の一実施例を示す概略ブロツク図で
あり、1は分光器ケース、2はケース1内に設け
られ分光光度計の光学的部分を収納した真空容
器、3は真空容器2に連通して設けられた発光室
である。発光室3にはドア4が設けられておりド
アスイツチ5により開閉状態が検知される。6は
試料発光装置で、発光室3内に設けた放電電極7
によつて試料を発光させるものである。8は分光
光度計の光検出器で検出器用負高圧電源9により
高電圧が供給されている。10は真空容器2内の
真空度を計測する真空計ゲージ、11は真空計回
路であり、12は温度計用サーミスタ、13は温
度計回路、14は温度調節用ヒータで15はヒー
タ制御用無接点リレーである。検出器用負高圧電
源の電圧、真空計11および温度計13の各出力
電圧はアナログマルチプレクサ16を通つてAD
コンバータ17に入力され、中央制御装置18か
ら出力されるチヤンネル指定信号パルス19によ
つて順次中央制御装置18に読み込まれる。また
ドアスイツチ5の検知出力もドア開閉状態信号2
0として中央制御装置18に読み込まれている。
21はCRT表示装置、22は警報器である。
第2図は真空度と真空計の出力電圧との関係を
示すグラフであり、図のCが分光器の正常使用範
囲を示し、Bは光検出器回路の高圧端子間に異常
放電が起るので高電圧を印加してはいけない範囲
を示している。真空計出力電圧がDの範囲にある
場合は、見掛上そのような高真空が表われるのは
真空計の故障である確率が高くゲージ断線とみな
される。第3図は温度と温度計出力電圧との関係
を示すグラフであり、Eは高温領域、Fは低温領
域でE,Fにはさまれた範囲が使用温度範囲を示
している。第4図は温度計回路の一実施例を示し
たもので、DCは直流低電圧電源、THはサーミ
スタ、VRは調節ボリユーム、CDは定電流ダイ
オードを示している。
示すグラフであり、図のCが分光器の正常使用範
囲を示し、Bは光検出器回路の高圧端子間に異常
放電が起るので高電圧を印加してはいけない範囲
を示している。真空計出力電圧がDの範囲にある
場合は、見掛上そのような高真空が表われるのは
真空計の故障である確率が高くゲージ断線とみな
される。第3図は温度と温度計出力電圧との関係
を示すグラフであり、Eは高温領域、Fは低温領
域でE,Fにはさまれた範囲が使用温度範囲を示
している。第4図は温度計回路の一実施例を示し
たもので、DCは直流低電圧電源、THはサーミ
スタ、VRは調節ボリユーム、CDは定電流ダイ
オードを示している。
次に第5図のフローチヤートにより本考案の動
作状態を説明する。まず中央制御装置18に読み
込まれた温度計出力電圧が第3図のEの範囲にあ
る場合には第1図23のヒータ制御信号によりヒ
ータ14をオフにし(ステツプa,b)、Fの範
囲にある場合にはヒータ14をオンにする(ステ
ツプc,d)。次に中央制御装置18に読み込ま
れた真空度データが第2図のBまたはDの範囲に
ある場合には第1図24の負高圧電源制御信号に
よつて負高圧電源9をオフにし(ステツプe,
f)、さらにそれがDの範囲かどうかを判別して
Dの範囲であれば表示装置21にゲージ断線警告
を表示する(ステツプg,h)。次に中央制御装
置に読み込まれた負高圧電源電圧が1000V以上で
あれば負高圧電源制御信号24によつて負高圧電
源9をオフにすると共に警報器22によつて異常
警告を発する(ステツプi,j,k)。次にドア
開閉状態信号20をチエツクし発光中にドアが開
かれた場合には発光装置制御信号25によつて放
電を停止する(ステツプl,m)。さらにオペレ
ータからの表示要求の有無をチエツクし、表示要
求があれば真空度、温度などの換算計算を行い、
真空度、温度、負高圧電源電圧およびドア状態の
表示を行う(ステツプn,p,q)。以上の制御
を約100msの周期で行うのである。
作状態を説明する。まず中央制御装置18に読み
込まれた温度計出力電圧が第3図のEの範囲にあ
る場合には第1図23のヒータ制御信号によりヒ
ータ14をオフにし(ステツプa,b)、Fの範
囲にある場合にはヒータ14をオンにする(ステ
ツプc,d)。次に中央制御装置18に読み込ま
れた真空度データが第2図のBまたはDの範囲に
ある場合には第1図24の負高圧電源制御信号に
よつて負高圧電源9をオフにし(ステツプe,
f)、さらにそれがDの範囲かどうかを判別して
Dの範囲であれば表示装置21にゲージ断線警告
を表示する(ステツプg,h)。次に中央制御装
置に読み込まれた負高圧電源電圧が1000V以上で
あれば負高圧電源制御信号24によつて負高圧電
源9をオフにすると共に警報器22によつて異常
警告を発する(ステツプi,j,k)。次にドア
開閉状態信号20をチエツクし発光中にドアが開
かれた場合には発光装置制御信号25によつて放
電を停止する(ステツプl,m)。さらにオペレ
ータからの表示要求の有無をチエツクし、表示要
求があれば真空度、温度などの換算計算を行い、
真空度、温度、負高圧電源電圧およびドア状態の
表示を行う(ステツプn,p,q)。以上の制御
を約100msの周期で行うのである。
本考案は上述のように構成されたもので発光分
光分析装置の制御および管理が自動的に行えるの
で装置の異常の早期発見が可能となり故障の判断
が容易になる上に異常時には高圧電源の遮断が自
動的に行われるので故障を未然に防止することが
でき、さらにドア開閉と連動して発光装置の制御
が自動的に行われるので危険防止に役立つという
利点がある。また中央制御装置として分光分析デ
ータの処理を行うマイクロコンピユータシステム
を利用できるので実質的なコストアツプをほとん
ど伴わないという利点がある。
光分析装置の制御および管理が自動的に行えるの
で装置の異常の早期発見が可能となり故障の判断
が容易になる上に異常時には高圧電源の遮断が自
動的に行われるので故障を未然に防止することが
でき、さらにドア開閉と連動して発光装置の制御
が自動的に行われるので危険防止に役立つという
利点がある。また中央制御装置として分光分析デ
ータの処理を行うマイクロコンピユータシステム
を利用できるので実質的なコストアツプをほとん
ど伴わないという利点がある。
第1図は本考案装置の一実施例を示す概略ブロ
ツク図、第2図は同上の真空計の特性を示すグラ
フ、第3図は同上の温度計の特性を示すグラフ、
第4図は同上の温度計回路の具体例を示す回路
図、第5図は本考案装置の動作状態を示すフロー
チヤートである。 1は分光器ケース、2は真空容器、3は発光
室、4はドア、5はドアスイツチ、6は試料発光
装置、7は放電電極、8は検出器、9は検出器用
負高圧電源、10は真空計ゲージ、11は真空計
回路、12はサーミスタ、13は温度計回路、1
4は温度調節用ヒータ、15は無接点リレー、1
6はアナログマルチプレクサ、17はADコンバ
ータ、18は中央制御装置、21は表示装置、2
2は警報器。
ツク図、第2図は同上の真空計の特性を示すグラ
フ、第3図は同上の温度計の特性を示すグラフ、
第4図は同上の温度計回路の具体例を示す回路
図、第5図は本考案装置の動作状態を示すフロー
チヤートである。 1は分光器ケース、2は真空容器、3は発光
室、4はドア、5はドアスイツチ、6は試料発光
装置、7は放電電極、8は検出器、9は検出器用
負高圧電源、10は真空計ゲージ、11は真空計
回路、12はサーミスタ、13は温度計回路、1
4は温度調節用ヒータ、15は無接点リレー、1
6はアナログマルチプレクサ、17はADコンバ
ータ、18は中央制御装置、21は表示装置、2
2は警報器。
Claims (1)
- 分光器内の温度および真空度を計測する各検出
器の出力、光検出器用負高圧電源の電圧および分
光器ドアの開閉状態を順次周期的に中央制御装置
に読込み、上記温度が設定範囲の上限を超えたら
ヒータをオフし、下限以下になつたらヒータをオ
ンし、真空度が設定範囲外のとき光検出用負高圧
電源をオフし、併せて設定範囲より高真空が検出
されたときは警告表示を行い、光検出器用負高圧
が設定範囲上限を超えたとき同負高圧電源をオフ
し、分光器ドアが開かれたときは発光のための放
電を停止させるようにしてなる発光分光分析装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9941682U JPS594460U (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 発光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9941682U JPS594460U (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 発光分光分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS594460U JPS594460U (ja) | 1984-01-12 |
JPS6335396Y2 true JPS6335396Y2 (ja) | 1988-09-20 |
Family
ID=30235606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9941682U Granted JPS594460U (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 発光分光分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS594460U (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0336044Y2 (ja) * | 1985-11-15 | 1991-07-31 |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP9941682U patent/JPS594460U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS594460U (ja) | 1984-01-12 |
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