JPS6333642B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6333642B2 JPS6333642B2 JP55067693A JP6769380A JPS6333642B2 JP S6333642 B2 JPS6333642 B2 JP S6333642B2 JP 55067693 A JP55067693 A JP 55067693A JP 6769380 A JP6769380 A JP 6769380A JP S6333642 B2 JPS6333642 B2 JP S6333642B2
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- JP
- Japan
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- optical axis
- row
- photoelectric conversion
- cameras
- photoelectric
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 35
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 14
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 239000002893 slag Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 206010064127 Solar lentigo Diseases 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、物体の両側の２つの縁部を測定する
ための距離測定装置に関するものであり、更に詳
しくいえば、製造工程の中で動いている高温の
（したがつて光を発生する）帯状物体、棒状物体
または管状物体の幅または直径を測定する距離測
定装置に関するものである。
ための距離測定装置に関するものであり、更に詳
しくいえば、製造工程の中で動いている高温の
（したがつて光を発生する）帯状物体、棒状物体
または管状物体の幅または直径を測定する距離測
定装置に関するものである。
この種の装置はたとえばドイツ特許明細書第
2140939号に開示されている。このドイツ特許明
細書によれば、幅を測定すべき物体の映像が平行
光線を発生する光源により背後から照明され、物
体に関して光源とは反対側に配置されているホト
ダイオード列の上に物体の映像を投射するように
なつている。
2140939号に開示されている。このドイツ特許明
細書によれば、幅を測定すべき物体の映像が平行
光線を発生する光源により背後から照明され、物
体に関して光源とは反対側に配置されているホト
ダイオード列の上に物体の映像を投射するように
なつている。
しかし、この装置には種々の欠点がある。たと
えば、光源は通常つねに非常に明るくなければな
らず、したがつて光源は劣化しやすく、比較的高
価である。また、この装置は光源以外から来る
光、たとえば周囲光、あるいは物体が高温である
場合に物体自射から発生される光により悪影響を
受ける。更に、光源にはたとえば汚れなどが付着
して黒点がつくこともあるが、この黒点が物体の
縁部と混同を生ずることがある。あるいは、物体
が光源なしですむほど十分の光を発生するのに十
分に高温であると、たとえばスラグあるいは冷却
水の存在のために物体上に生じた黒点もその物体
の縁部と混同を生ずることがある。
えば、光源は通常つねに非常に明るくなければな
らず、したがつて光源は劣化しやすく、比較的高
価である。また、この装置は光源以外から来る
光、たとえば周囲光、あるいは物体が高温である
場合に物体自射から発生される光により悪影響を
受ける。更に、光源にはたとえば汚れなどが付着
して黒点がつくこともあるが、この黒点が物体の
縁部と混同を生ずることがある。あるいは、物体
が光源なしですむほど十分の光を発生するのに十
分に高温であると、たとえばスラグあるいは冷却
水の存在のために物体上に生じた黒点もその物体
の縁部と混同を生ずることがある。
したがつて、本発明の目的はこれらの欠点の少
くとも一部を解消することである。
くとも一部を解消することである。
この目的を達するため本発明によれば、１対の
カメラがその光軸を共通にして設けられ、これら
のカメラが、光軸に関して互いに反対の片側また
は対称にこの光軸に対して直角にそれぞれ延びる
光電素子列をもち、各光電変換素子列が、光軸か
ら遠い方の列端部から光軸に近い方の列端部へ光
電変換素子を走査して列に沿う映像の暗から明へ
最初に急変する位置にしたがつて輝光物体の対応
する縁部の位置を決定する走査手段に接続されて
いる。
カメラがその光軸を共通にして設けられ、これら
のカメラが、光軸に関して互いに反対の片側また
は対称にこの光軸に対して直角にそれぞれ延びる
光電素子列をもち、各光電変換素子列が、光軸か
ら遠い方の列端部から光軸に近い方の列端部へ光
電変換素子を走査して列に沿う映像の暗から明へ
最初に急変する位置にしたがつて輝光物体の対応
する縁部の位置を決定する走査手段に接続されて
いる。
さらに本発明によれば、直交する２つの軸の各
軸上に、光軸を共通にする１対のカメラを設ける
こともできる。
軸上に、光軸を共通にする１対のカメラを設ける
こともできる。
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明による距離測定装置に用いられ
るカメラ１を示している。このカメラ１の内部に
は２本の光ダイオード列２で構成された２つの直
線状の感光素子アレイが、カメラの光軸３に関し
てほぼ対称的に配置される。幅を測定する対象で
ある圧延された帯状物体４の映像が、カメラ１の
光学系５によつて２つの光ダイオード列２の上に
投写される。この物体４は光を発し、その長手方
向に動いている。各光ダイオード列２の上に物体
の幅の測定に用いられる各縁部６の映像が結ばれ
るように、２つの光ダイオード列２は物体４の縁
部６に対して垂直に延びる１本の直線上に配置さ
れる。各光ダイオード列２は矢印７の向きに、す
なわち、それぞれの光ダイオード列の光軸３から
遠い方の端部から、光軸３に近い方の端部まで走
査させられる。光ダイオード列２を走査し、走査
出力信号を処理する電子回路は本発明の構成要素
ではないから、ここでは説明を省略する。そのよ
うな電子回路の一例がドイツ特許明細書第
2516756号に開示されている。その回路は縁部６
を見つけるために用いられるトリガ回路を含む。
２つの光ダイオード列２からの映像信号の振幅
は、共通の振幅制御回路により、ほぼ一定の値に
調整される。すなわち、それらの映像信号の公称
振幅値が予め設定される。振幅が一定値に調整さ
れた映像信号は一方の光ダイオード列２からの映
像の実際の振幅値と比較され、その比較結果に基
づいて光ダイオード列２の露光時間が決定され
る。
るカメラ１を示している。このカメラ１の内部に
は２本の光ダイオード列２で構成された２つの直
線状の感光素子アレイが、カメラの光軸３に関し
てほぼ対称的に配置される。幅を測定する対象で
ある圧延された帯状物体４の映像が、カメラ１の
光学系５によつて２つの光ダイオード列２の上に
投写される。この物体４は光を発し、その長手方
向に動いている。各光ダイオード列２の上に物体
の幅の測定に用いられる各縁部６の映像が結ばれ
るように、２つの光ダイオード列２は物体４の縁
部６に対して垂直に延びる１本の直線上に配置さ
れる。各光ダイオード列２は矢印７の向きに、す
なわち、それぞれの光ダイオード列の光軸３から
遠い方の端部から、光軸３に近い方の端部まで走
査させられる。光ダイオード列２を走査し、走査
出力信号を処理する電子回路は本発明の構成要素
ではないから、ここでは説明を省略する。そのよ
うな電子回路の一例がドイツ特許明細書第
2516756号に開示されている。その回路は縁部６
を見つけるために用いられるトリガ回路を含む。
２つの光ダイオード列２からの映像信号の振幅
は、共通の振幅制御回路により、ほぼ一定の値に
調整される。すなわち、それらの映像信号の公称
振幅値が予め設定される。振幅が一定値に調整さ
れた映像信号は一方の光ダイオード列２からの映
像の実際の振幅値と比較され、その比較結果に基
づいて光ダイオード列２の露光時間が決定され
る。
各縁部６を見つけるために、物体４の表面にお
ける暗い部分から明るい部分への変化がそれぞれ
の光ダイオード列２で利用される。したがつて、
物体を後方から照明する光源を用いることなしに
物体４の幅を測定でき、かつ物体４の両側の縁部
の位置を前記トリガ回路を用いて正確に決定でき
る。物体の表面に付着しているスラグまたは水に
よる影響はこの装置では大幅に解消される。その
理由は、各縁部６における暗い部分から明るい部
分への最初の急激な変化が、各場合における測定
のために用いられるからである。
ける暗い部分から明るい部分への変化がそれぞれ
の光ダイオード列２で利用される。したがつて、
物体を後方から照明する光源を用いることなしに
物体４の幅を測定でき、かつ物体４の両側の縁部
の位置を前記トリガ回路を用いて正確に決定でき
る。物体の表面に付着しているスラグまたは水に
よる影響はこの装置では大幅に解消される。その
理由は、各縁部６における暗い部分から明るい部
分への最初の急激な変化が、各場合における測定
のために用いられるからである。
物体４から放射される光の量に応じて、光ダイ
オード列２の露光積分時間として２〜40ミリ秒が
測定のために用いられるから、物体４の縁部６の
限られた部分から生ずる悪影響は大幅に平均化さ
れる（測定が動いている物体に対して行われるか
らである）。物体４の表面にスラグが付着してい
ても、測定中に光ダイオード列２が光を受ける時
間はほとんど影響されない。
オード列２の露光積分時間として２〜40ミリ秒が
測定のために用いられるから、物体４の縁部６の
限られた部分から生ずる悪影響は大幅に平均化さ
れる（測定が動いている物体に対して行われるか
らである）。物体４の表面にスラグが付着してい
ても、測定中に光ダイオード列２が光を受ける時
間はほとんど影響されない。
第２図は物体４の両側に光軸３を共通にして配
置されるカメラ１と１′を有する、本発明の測定
装置の第１の実施例を示す。各カメラ１，１′に
おいてはそれぞれの光ダイオード列２が光軸３に
関して対称的に配置される。すなわち、この実施
例においては、各カメラの光ダイオード列２は共
通光軸３の異なる側にそれぞれ配置される。各光
ダイオード列２は物体４の縁部６のそれぞれ一方
の縁部の位置を決定する。第２図に示す物体４は
円形または長方形とすることができる。この結果
として、測定中に物体４の位置が変化することに
よりひき起される測定誤差を大幅に補償できるか
ら、測定中に物体の位置が（ある限度内で）大幅
に変つても、測定誤差はあまり大きくならない。
置されるカメラ１と１′を有する、本発明の測定
装置の第１の実施例を示す。各カメラ１，１′に
おいてはそれぞれの光ダイオード列２が光軸３に
関して対称的に配置される。すなわち、この実施
例においては、各カメラの光ダイオード列２は共
通光軸３の異なる側にそれぞれ配置される。各光
ダイオード列２は物体４の縁部６のそれぞれ一方
の縁部の位置を決定する。第２図に示す物体４は
円形または長方形とすることができる。この結果
として、測定中に物体４の位置が変化することに
よりひき起される測定誤差を大幅に補償できるか
ら、測定中に物体の位置が（ある限度内で）大幅
に変つても、測定誤差はあまり大きくならない。
第３図に示す本発明の装置の第２の実施例は、
第１図に示すカメラと同様に、各カメラ１，１′
が２つの光ダイオード列２を有する点が、第２図
に示す実施例と異なつている。各カメラに２つの
光ダイオード列を用いることにより、カメラの出
力信号を適当な電子回路で平均化できるから、測
定誤差が更に小さくなる。
第１図に示すカメラと同様に、各カメラ１，１′
が２つの光ダイオード列２を有する点が、第２図
に示す実施例と異なつている。各カメラに２つの
光ダイオード列を用いることにより、カメラの出
力信号を適当な電子回路で平均化できるから、測
定誤差が更に小さくなる。
第４図に示す本発明の第３の実施例において
は、二対のカメラ１，１′が用いられる。各カメ
ラ対１，１′の光軸３は共通で、２本の光軸３が
互いに直交するように、各カメラ対１，１′が物
体４の２つの縁部を結ぶ直線に対してそれぞれ平
行および垂直になるようにして配置される。この
場合には、各カメラ対１，１′は物体４の両側の
縁部間の距離を決定する。互いに直角に配置され
る二対のカメラを用いることにより、物体の位置
の変化によりひき起される測定誤差を計算で修正
できる。これに関連して、物体４の互いに直角な
２つの寸法を決定でき、かつ物体４の位置の変化
によりひき起される測定誤差を自動的に大きく修
正できる。すなわち、第５図に示す実施例により
第２，４図に示す実施例の利点を組合わせたもの
が得られる。
は、二対のカメラ１，１′が用いられる。各カメ
ラ対１，１′の光軸３は共通で、２本の光軸３が
互いに直交するように、各カメラ対１，１′が物
体４の２つの縁部を結ぶ直線に対してそれぞれ平
行および垂直になるようにして配置される。この
場合には、各カメラ対１，１′は物体４の両側の
縁部間の距離を決定する。互いに直角に配置され
る二対のカメラを用いることにより、物体の位置
の変化によりひき起される測定誤差を計算で修正
できる。これに関連して、物体４の互いに直角な
２つの寸法を決定でき、かつ物体４の位置の変化
によりひき起される測定誤差を自動的に大きく修
正できる。すなわち、第５図に示す実施例により
第２，４図に示す実施例の利点を組合わせたもの
が得られる。
第１図は本発明による測定装置に使用されるカ
メラの概略構成図、第２図ないし第４図は本発明
の異なる実施例の概略構成図である。 １，１′……カメラ、２……光電変換素子（光
ダイオード列）、３……光軸、４……輝光物体、
６……縁部、７……走査方向。
メラの概略構成図、第２図ないし第４図は本発明
の異なる実施例の概略構成図である。 １，１′……カメラ、２……光電変換素子（光
ダイオード列）、３……光軸、４……輝光物体、
６……縁部、７……走査方向。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ １対のカメラがその光軸を共通にして対向し
て設けられ、これらのカメラが、光軸に関して互
いに反対の片側にこの光軸に対して直角に延びる
光電素子列をそれぞれもち、各光電変換素子列
が、光軸から遠い方の列端部から光軸に近い方の
列端部へ光電変換素子を走査して列に沿う映像の
暗から明へ最初に急変する位置を決定する走査手
段に接続されていることを特徴とする、物体の２
つの反対縁部間の距離を測定する装置。 ２ 一方のカメラの光を照射された光電変換素子
により生ずる信号の値が基準レベルと比較され、
この比較結果に関係して両方の光電変換素子列の
露光時間が調整されることを特徴とする、特許請
求の範囲第１項に記載の装置。 ３ 直交する２つの軸の各軸上に、この軸を共通
な光軸として１対のカメラが対向して設けられ、
これらのカメラが、この光軸に関して互いに反対
の片側にこの光軸に対して直角に延びる光電素子
列をそれぞれもち、各光電変換素子列が、光軸か
ら遠い方の列端部から光軸に近い方の列端部へ光
電変換素子を走査して列に沿う映像の暗から明へ
最初に急変する位置を決定する走査手段に接続さ
れていることを特徴とする、物体の２つの反対縁
部間の距離を測定する装置。 ４ １対のカメラがその光軸を共通にして対向し
て設けられ、これらのカメラの各々が、光軸に関
して対称にこの光軸に対してそれぞれ直角に延び
る光電素子列をもち、各光電変換素子列が、光軸
から遠い方の列端部から光軸に近い方の列端部へ
光電変換素子を走査して列に沿う映像の暗から明
へ最初に急変する位置を決定する走査手段に接続
されていることを特徴とする、物体の２つの反対
縁部間の距離を測定する装置。 ５ 一方のカメラの光を照射された光電変換素子
により生ずる信号の値が基準レベルと比較され、
この比較結果に関係して両方の光電変換素子列の
露光時間が調整されることを特徴とする、特許請
求の範囲第４項に記載の装置。 ６ 直交する２つの軸の各軸上にこの軸を共通な
光軸として１対のカメラが対向して設けられ、こ
れらのカメラの各々が、この光軸に関して対称に
この光軸に対してそれぞれ直角に延びる光電素子
列をもち、各光電変換素子列が、光軸から遠い方
の列端部から光軸に近い方の列端部へ光電変換素
子を走査して列に沿う映像の暗から明へ最初に急
変する位置を決定する走査手段に接続されている
ことを特徴とする、物体の２つの反対縁部間の距
離を測定する装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19792920530 DE2920530A1 (de) | 1979-05-21 | 1979-05-21 | Einrichtung zur dimensionsmessung von messgut |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55155203A JPS55155203A (en) | 1980-12-03 |
| JPS6333642B2 true JPS6333642B2 (ja) | 1988-07-06 |
Family
ID=6071308
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6769380A Granted JPS55155203A (en) | 1979-05-21 | 1980-05-21 | Distance measuring apparatus |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55155203A (ja) |
| DE (1) | DE2920530A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3339886A1 (de) * | 1983-11-04 | 1985-05-15 | Fife Europe GmbH, 6233 Kelkheim | Lageregelung von bahnfoermigen materialbahnen |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4889753A (ja) * | 1972-02-24 | 1973-11-22 | ||
| JPS4953861A (ja) * | 1972-07-03 | 1974-05-25 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1084035B (de) * | 1955-10-20 | 1960-06-23 | Jonas Waldemar Ask | Verfahren und Geraet zur Feststellung der Breite oder Breitenschwankungen eines Gegenstandes |
| GB1448611A (en) * | 1973-01-10 | 1976-09-08 | Nippon Kokan Kk | Method and apparatus for on-contact measurement of a gauge of a high temperature material |
| DE2819395C2 (de) * | 1978-05-03 | 1980-01-10 | Hoesch Werke Ag, 4600 Dortmund | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Breite von Walzerzeugnissen |
-
1979
- 1979-05-21 DE DE19792920530 patent/DE2920530A1/de active Granted
-
1980
- 1980-05-21 JP JP6769380A patent/JPS55155203A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4889753A (ja) * | 1972-02-24 | 1973-11-22 | ||
| JPS4953861A (ja) * | 1972-07-03 | 1974-05-25 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2920530A1 (de) | 1980-11-27 |
| DE2920530C2 (ja) | 1987-02-19 |
| JPS55155203A (en) | 1980-12-03 |
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