JPS633204A - 光学検出装置 - Google Patents

光学検出装置

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Publication number
JPS633204A
JPS633204A JP62138847A JP13884787A JPS633204A JP S633204 A JPS633204 A JP S633204A JP 62138847 A JP62138847 A JP 62138847A JP 13884787 A JP13884787 A JP 13884787A JP S633204 A JPS633204 A JP S633204A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
measured
image
light source
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62138847A
Other languages
English (en)
Inventor
デニス・ジェイ・ウイルワーディング
ジョン・イー・ボーハン,ジュニア
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honeywell Inc
Original Assignee
Honeywell Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Honeywell Inc filed Critical Honeywell Inc
Publication of JPS633204A publication Critical patent/JPS633204A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/026Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は測定器から離れた位置にある測定対象物の長さ
、形状、角度等を、光学的に測定する光学検出装置に関
する。
〔従来の技術] 従来、離れた位置から、物品の長さ、形状、角度等を計
測する方法として、直接観察者が、対象物をファインダ
ーを通して観察し、その形状等を測定する方法があった
。しかし、この方法は、1つの対象物について、計測す
る際には、有効であるが、たとえば、ベルトコンベア上
を連続的に測定対象物が流れる場合等のように、測定を
連続して行なう必要があるときは、非効率的な方法とな
る。
そこで、対象物の像を光検出器すなわちCCD。
CIDのごとき電荷結合素子が連続して形成された検出
装置によって、光学的にとらえ、上記形状等の測定を行
なう方法が開発されている。
たとえば、コンミア上を流れる測定対象物の幅について
測定する場合、前述のCCD、CID等の素子を直線上
に並べたりニアアレーを測定対象物から、所定距離、離
れた位置に置き、このリニアアレー上に対象物の像を投
影し、像を検知した素子の数を数えることによって、幅
の測定を行なう。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上述のリニアアレー等の光学検出器を利
用した測定装置においては、当該光学検出器が測定対象
物に対して相対的に正確な方向を向いていないと対象物
の像は、たとえばリニアアレーに対して、その端部を越
えてはみだしてしまい、正確な測定ができなくなってし
まうという第1の問題点がある。
さらにリニアアレー上でとらえられるべき測定対象物の
像の焦点が正しくあっていない場合には、輪郭がはっき
りせず、当該輪郭部分での光検出素子の検出動作を不正
確なものとしてしまい、結局、正確な測定は、できなく
なってしまうという第2の問題点を有する。
もちろん検出素子の数を増やして、リニアアレーの幅に
余裕をもたせ、像が、リニアアレーの端部を越えて写る
という第1の問題点を解決しようとすることも可能であ
るが、検出素子の数を増やすことによるコスト高を招く
またこの解決方法では、焦点ずれによる第2の問題点を
解決することはできない。
焦点すれという問題を解決する手段としては、リニアア
レー等の検出器に写った像について、直接分析を行なう
方法があるが、この方法は検出器から多くの読み取りが
必要となり、また測定対象物に対する複雑な照準システ
ムをあらたに必要とする等の問題点があった。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明に係る光学検出装置は、簡易かつ、経済的な手段
により、上記2つの問題点を解決するものである。
本発明の光学検出装置は離間した測定対象物の像を検出
器に写しだすために使用される光学システムを利用し、
さらに測定対象物に対して検出器の有する光学的な距離
、方向性と等しい位置関係にある発光体の反射像を測定
対象物表面に形成する。
〔作 用〕
この光学システムは、この反射像を用いて調整されるこ
ととなる。
すなわち、この反射像が、焦点を結ぶ状態に、設定すれ
ばよい。その結果として、測定対象物の像は、検出器上
で正確に焦点を結ぶこととなる。
さらに上記発光体の反射像が、測定対象物の所定の位置
に形成されるように光学システムの位置調整が、なされ
る。その結果、測定対象物の要求部分が、検出器に正確
にとらえられることとなる。
〔実施例〕
第1図は、本発明の光学検出装置に係る、概略側面図を
示す。第2図は、本発明の装置を示す斜視図である。
第1図、第2図において、検出器10は測定対象物12
から離れた位置にあり、測定対象物12を光学的に感知
できる場所にある。測定対象物12は、たとえばコンヘ
アによって運ばれる多数の物品のうちの1つである。検
出器10は第1図の軸線14に垂直な方向に並んだ、た
とえばCCDのごとき多数の光検出素子からなる。検出
器10の光検出素子13は、測定対象物12を軸線14
に対して平行な方向にある一定の長さをもって観察、あ
るいはその像をとらえることができる。
1つあるいは複数のレンズ群からなるレンズ15は、矢
印17で示される方向に、検出器10と、測定対象物1
2との間を軸線16に沿って、移動可能である。レンズ
15が適切な位置に位置決めされると、第1図に示すご
とく測定対象物12から、検出器10に対してレンズ1
5を介し、光束20.21が形成され焦点があった状態
となる。
従来は、このような焦点調整の際には前述したように検
出器からの解析及び照準システム等を必要としていたの
であるが、本発明においては、従来のごとき複雑なシス
テムを必要とすることはなく、以下に述べるPJ羊な方
法で調整を可能とした。
本発明は、測定対象物12からの光軸上にハーフミラ−
30を軸線16に対して所定角度をなすように配置した
構成をもつ。たとえば、フィラメントランプのような光
源34が、検出器10のハーフミラ−30に対する位置
と光学的に同等の距離となるようハーフミラ−30の上
方に軸線14と平行に軸線35に沿って、配置されてい
る。
光源34は配線36.38により、電源40にスイッチ
42を介して結線されている。スイッチ42が閉じると
電源40により光源34は軸線35に沿って、たとえば
可視光を発光する。この光源34は、ハーフミラ−30
によって反射され、レンズ15を通過し、測定対象物1
2上に像43を形成する。この像43は操作者によって
観察されるか、あるいは別の検知手段によって観察され
、レンズ15を軸線16に沿って移動させて焦点をあわ
せることができる。レンズ15.ハーフミラ−30,光
源34.検出器10を含む装置を移動することによって
、測定対象物12に写し出される光源34による像43
の位置を変えることができる。この光学システムにおい
て光源34と検出器10は、光学的に同等の位置にある
ので、光源34の像43が、測定対象物12上に焦点を
結ぶときには検出器10においても焦点を結ぶこととな
る。さらに光源34は、検出器10の光検出素子13と
光学的に同等の長さを有することから、測定対象物12
上に形成された像43は検出器10によって観察される
領域と一致することとなる。このようにしてシステムの
調整が終了すると、スイッチ42を開状態とし、光源3
4を消し、シシテムを通常動作状態とする。
上記したように本発明は独自の簡易な構成により、従来
の問題点を解決し、検出器によってとらえられる像の焦
点及び範囲を正確なものとすることを可能としたのであ
る。本発明の構成は上述したものに限定されるものでは
なく、い(つかの態様が考えられる。たとえば光源34
は、赤外線光であってもよ(、電源40を出力調整可能
な交流電源としてもよい。測定対象物にうつし出される
像の大きさが、検出器によってとらえられる領域と同じ
大きさであるように調整することで、光源の位置は十分
離れた位置とすることもできる。光源は、検出器によっ
てとらえられる領域の両端に相当する点を示すスポット
光源とすることもできる。また検出器10の形状は光源
34と光学的に同等である限り、正方形十文字他あらゆ
る形状が可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、光源を検出器と光
学的に同等の位置となるように配置するのみで、簡易か
つ正確に検出器にとらえられるべき測定対象物の像の焦
点及び範囲を調整でき、システムと測定対象物との相対
的な位置決め、およびレンズの位置決めを簡易に行なう
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る光学検出装置を示す断面図。第
2図は、本発明に係る光学検出装置を示す斜視図である
。 10・・・検出器 13・・・光検出素子 15・・・レンズ 30・・・ハーフミラ− 34・・・光源 40・・・電源 42・・・スイッチ 43・・・像

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の光検出素子の集合体からなる検出器と、当
    該検出器に入射される光を集束させる少なくとも1つ以
    上のレンズからなり、測定対象物からの光を上記レンズ
    により上記光検出素子上に集束させ測定対象物を光学的
    に認識する装置において、上記検出器の上記レンズ及び
    上記測定対象物に対する位置と光学的に同等な位置に光
    源を位置させ、当該光源の像を上記測定対象物表面に形
    成する構成としたことを特徴とする光学検出装置。
  2. (2)特許請求の範囲第1項において、上記検出器及び
    、上記測定対象物との間にハーフミラーを配し、当該ハ
    ーフミラーによる光路変換を利用して上記光源を上記検
    出器の上記レンズ及び上記測定対象物に対する位置と光
    学的に同等な位置に配置したことを特徴とする光学検出
    装置。
JP62138847A 1986-06-02 1987-06-02 光学検出装置 Pending JPS633204A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/870,065 US4742217A (en) 1986-06-02 1986-06-02 Projection alignment and focusing aid
US870065 1986-06-02

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS633204A true JPS633204A (ja) 1988-01-08

Family

ID=25354729

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62138847A Pending JPS633204A (ja) 1986-06-02 1987-06-02 光学検出装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4742217A (ja)
EP (1) EP0248328A3 (ja)
JP (1) JPS633204A (ja)

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Also Published As

Publication number Publication date
EP0248328A3 (en) 1989-07-05
US4742217A (en) 1988-05-03
EP0248328A2 (en) 1987-12-09

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