JPS633202A - 厚み計 - Google Patents
厚み計Info
- Publication number
- JPS633202A JPS633202A JP14727786A JP14727786A JPS633202A JP S633202 A JPS633202 A JP S633202A JP 14727786 A JP14727786 A JP 14727786A JP 14727786 A JP14727786 A JP 14727786A JP S633202 A JPS633202 A JP S633202A
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- Japan
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- measured
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- electrode
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- Pending
Links
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- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 20
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明はプラスチック等の電気の絶紗物で構成された板
材の厚みをそのt1科の誘電率を利用して測定する厚み
計に関するものである。
材の厚みをそのt1科の誘電率を利用して測定する厚み
計に関するものである。
<a>従来の技術
従来は大きな板等のようにノギス等でその厚みを計れな
いものの厚みを計るのには、その材料の音速を利用して
超音波で計測していた。
いものの厚みを計るのには、その材料の音速を利用して
超音波で計測していた。
(ハ)発明が解決しようとする問題点
超音波のエコーで計測する従来の厚み計はFRP(ガラ
ス繊維強化プラスチック)のように材質が均等でなく、
且つ内部に空気の泡が混在しているような材料の場合は
エコーが板材の中間部から反射されるために正確な厚み
が分からないということがあった。
ス繊維強化プラスチック)のように材質が均等でなく、
且つ内部に空気の泡が混在しているような材料の場合は
エコーが板材の中間部から反射されるために正確な厚み
が分からないということがあった。
(ニ)問題点を解決するための手段
本発明は従来の厚み計の欠点を除くため、特にFRP等
の厚みを計るのに適するように、材料のもつ誘電体とし
ての材質を利用して厚みを計るようにしたもので、高周
波を発する電極を計ろうとする板材にあてて、その電極
の電気容量の変化を周波数変化として検出し、これらか
ら板材の厚みを算出するようにしたものである。
の厚みを計るのに適するように、材料のもつ誘電体とし
ての材質を利用して厚みを計るようにしたもので、高周
波を発する電極を計ろうとする板材にあてて、その電極
の電気容量の変化を周波数変化として検出し、これらか
ら板材の厚みを算出するようにしたものである。
(ネ) 作用
この特徴により′、材料の不均一性や、空気泡の有無等
に影響されずに材料の厚みを算出てきる。
に影響されずに材料の厚みを算出てきる。
(へ) 実施例
以下図面について詳細に説明する。
第1図及び第2図は本発明の実施例を示す外観図と内部
の回路を示すブロック図である。
の回路を示すブロック図である。
第1図において、1は外筺、2は電源スィッチ、3は零
点調整スイッチ、4は誘電率設定スイッチ、5は厚み表
示器、6は測定用電極である。測定用電極は二つ対向し
て外筐1に取り付けられており、−方は外筐1に接地さ
れ、他極は絶縁物て外筐から絶縁されて発振器に接続さ
れている。
点調整スイッチ、4は誘電率設定スイッチ、5は厚み表
示器、6は測定用電極である。測定用電極は二つ対向し
て外筐1に取り付けられており、−方は外筐1に接地さ
れ、他極は絶縁物て外筐から絶縁されて発振器に接続さ
れている。
第2図において、7は発振器で電極6をその共振回路蓄
電器の一部として数MHz近辺で発振している。8はカ
ウンター、9は零点調整スイッチ3と連動して動くゲー
ト、lOはメモリー、11は計算器である。
電器の一部として数MHz近辺で発振している。8はカ
ウンター、9は零点調整スイッチ3と連動して動くゲー
ト、lOはメモリー、11は計算器である。
第3図は本発明の厚み計を用いてプラスチックの板12
の厚みを計っている様子を示す。
の厚みを計っている様子を示す。
第3図に示すように測定用電極6の相対する平面部を被
測定物に密着させる。そうすると−般に被測定物のプラ
スチックは誘電率が空気より大であるから、相対する電
極60間の電気容量は板12の影響を受けて増大する。
測定物に密着させる。そうすると−般に被測定物のプラ
スチックは誘電率が空気より大であるから、相対する電
極60間の電気容量は板12の影響を受けて増大する。
従って、第2図の発振器の周波数は低下する。この周波
数の低下の量は板12の厚みと誘電率で定まる。種々の
厚みのFRP板を用いて実験した結果を第4図に示す。
数の低下の量は板12の厚みと誘電率で定まる。種々の
厚みのFRP板を用いて実験した結果を第4図に示す。
第4図に示したように厚みと周波数の変動は直線的な関
係にはないが、予めこの関係を実験によって求めておい
て、その結果に基づいて周波数の変化から厚みを算出す
ることができる。この周波数変化と厚みの関係は板12
の誘電率によっても変化する。−船釣なプラスチック材
料は、誘電率が3.0〜6.0位の間にある。厚みの測
定にあたっては、まず誘電率をスイッチ4によって計算
器11に入力する・ついて電極6の周辺に誘電体や大き
な接地物等のない状態にしておいて零点調節スイッチ3
を操作する。そうするとゲート9が開いて零点の時の発
振器7の周波数即ち基準周波数がカウンター8からメモ
リーlOに記憶される。その後伊1定用電極6を被測定
物に密着させると発振器70周波数が変動する。その周
波数と前にメモリーlOに記tぎした基準周波数を計算
器11にいれて、予めスイッチ4から入力されている誘
電率の情報とで計算器11は坂12の厚みを計算する。
係にはないが、予めこの関係を実験によって求めておい
て、その結果に基づいて周波数の変化から厚みを算出す
ることができる。この周波数変化と厚みの関係は板12
の誘電率によっても変化する。−船釣なプラスチック材
料は、誘電率が3.0〜6.0位の間にある。厚みの測
定にあたっては、まず誘電率をスイッチ4によって計算
器11に入力する・ついて電極6の周辺に誘電体や大き
な接地物等のない状態にしておいて零点調節スイッチ3
を操作する。そうするとゲート9が開いて零点の時の発
振器7の周波数即ち基準周波数がカウンター8からメモ
リーlOに記憶される。その後伊1定用電極6を被測定
物に密着させると発振器70周波数が変動する。その周
波数と前にメモリーlOに記tぎした基準周波数を計算
器11にいれて、予めスイッチ4から入力されている誘
電率の情報とで計算器11は坂12の厚みを計算する。
このときの計算式は第4図のような実験を繰り返して実
験式を導き出し計算器に予め入力しておく。
験式を導き出し計算器に予め入力しておく。
このようにして算出された板厚は計算器11の出力とし
て表示器5に表示されろ。
て表示器5に表示されろ。
第2図の発振器7は測定用電極6の容量変化に従って周
波数を変化させるために、LC発厖器、あろいはRC発
振器が用いられろ。このような発振器の長時間に亘る周
波数の安定度は10<りいであるので、測定物による周
波数の変化10−3程度のものをはかるのには安定性が
不足する。そのために測定直前に零点調整スイッチ3に
よって、発振器7の周波数をメモリーIOに記憶し、そ
れを基準に厚みを測定する。このようにするとLC発振
器でも短時間安定度は10−’程度になるので十分な測
定精度を期待できろ。
波数を変化させるために、LC発厖器、あろいはRC発
振器が用いられろ。このような発振器の長時間に亘る周
波数の安定度は10<りいであるので、測定物による周
波数の変化10−3程度のものをはかるのには安定性が
不足する。そのために測定直前に零点調整スイッチ3に
よって、発振器7の周波数をメモリーIOに記憶し、そ
れを基準に厚みを測定する。このようにするとLC発振
器でも短時間安定度は10−’程度になるので十分な測
定精度を期待できろ。
第5図は本発明の更に一つの実施例を示す。13はスイ
ッチ、14は蓄電器である。第5図の実施例は、第2図
の実施例にスイッチ13と蓄電器14を追加したもので
あって、その目的は測定用電極6を被測定物に密着させ
た状態でも零点調整ができろようにしたものである。
ッチ、14は蓄電器である。第5図の実施例は、第2図
の実施例にスイッチ13と蓄電器14を追加したもので
あって、その目的は測定用電極6を被測定物に密着させ
た状態でも零点調整ができろようにしたものである。
第2図のものは前述したように、測定用電極6の周辺近
くに導電性の物体等がない状態で零点調整が可能であっ
て、被測定物に電極6を密着させた状態では零点調整は
不可能であったが、第5図のものはその不便を解消した
もので、スイッチ13て測定用電極6と、illll徴
用電極60周辺電性物体のない状態での電極6の電気容
量と等価な固定蓄電器目とを交互に切り換え、零点調整
スイッチ3を動作させ、スイッチ13で測定用電極6を
切り離したときの周波数を、ゲート9を通してメモリー
IQに取り込むようにする。このようすると測定用M、
極6が板12に密着している時の電気容量の影響のない
基準周波数をメモリー10に取り込むことができる。こ
のようにすると電極6が被測定物に密着したときの電気
容量と、電極6が周辺に何もないときの電気容量(所謂
零点)の二つの電気容量における周波数をスイッチ13
の切換て極く短時間のうちに比較できる。そのためにL
C発振器の見掛けの安定度は第2図のものより更に向上
する。またスイッチ13を電気回路で測定中に自動的に
数回動作させて測定し、その測定値を平均して表示器5
に表示することにより精度は更に向上させ得る。尚、蓄
電器14は必ずしも必要ではなく、測定用電極6をスイ
ッチ13て発振器から切り離した時は測定用電極6の電
気容量がなくなった分だけ周波数が上昇するがその周波
数を予め測定しておいてその周波数と、測定用電極6の
零点におけろ発振器7の基準周波数との着を計算器11
の計算時に修正することにより、補正用の蓄電器14を
省略することができる。この場合はスイッチ13は切換
スイッチではなく、単極のオン・オフスイッチでよいこ
とは勿論である。
くに導電性の物体等がない状態で零点調整が可能であっ
て、被測定物に電極6を密着させた状態では零点調整は
不可能であったが、第5図のものはその不便を解消した
もので、スイッチ13て測定用電極6と、illll徴
用電極60周辺電性物体のない状態での電極6の電気容
量と等価な固定蓄電器目とを交互に切り換え、零点調整
スイッチ3を動作させ、スイッチ13で測定用電極6を
切り離したときの周波数を、ゲート9を通してメモリー
IQに取り込むようにする。このようすると測定用M、
極6が板12に密着している時の電気容量の影響のない
基準周波数をメモリー10に取り込むことができる。こ
のようにすると電極6が被測定物に密着したときの電気
容量と、電極6が周辺に何もないときの電気容量(所謂
零点)の二つの電気容量における周波数をスイッチ13
の切換て極く短時間のうちに比較できる。そのためにL
C発振器の見掛けの安定度は第2図のものより更に向上
する。またスイッチ13を電気回路で測定中に自動的に
数回動作させて測定し、その測定値を平均して表示器5
に表示することにより精度は更に向上させ得る。尚、蓄
電器14は必ずしも必要ではなく、測定用電極6をスイ
ッチ13て発振器から切り離した時は測定用電極6の電
気容量がなくなった分だけ周波数が上昇するがその周波
数を予め測定しておいてその周波数と、測定用電極6の
零点におけろ発振器7の基準周波数との着を計算器11
の計算時に修正することにより、補正用の蓄電器14を
省略することができる。この場合はスイッチ13は切換
スイッチではなく、単極のオン・オフスイッチでよいこ
とは勿論である。
(ト)発明の効果
本発明はプラスチック、陶器、ガラス等の誘電体の大き
な板状のものを、−方の面から電極を押しつけるだけで
その厚みを知ることができて大変便利である。又本発明
は超音波を使用しないで電波によって計る方法なので、
超音波厚み計と異なり材料中に小さな気泡が含まれてい
ても、それによる乱反射で測定不能になることもなく、
2枚以上の張り合わせ材料でも、張り合わせ部分での超
音波の反射の影響も受けないで厚みを正確に測定できる
。更にスイッチで零点調整することにより、簡単なLC
またはRC発振器を用いて高精度の測定ができる。特に
、FRP材料のように音速の異なる材料の混合物の板材
ても、従来の超音波厚み計にような乱反射による誤差も
なくその厚みを正確に測定できる効果がある。
な板状のものを、−方の面から電極を押しつけるだけで
その厚みを知ることができて大変便利である。又本発明
は超音波を使用しないで電波によって計る方法なので、
超音波厚み計と異なり材料中に小さな気泡が含まれてい
ても、それによる乱反射で測定不能になることもなく、
2枚以上の張り合わせ材料でも、張り合わせ部分での超
音波の反射の影響も受けないで厚みを正確に測定できる
。更にスイッチで零点調整することにより、簡単なLC
またはRC発振器を用いて高精度の測定ができる。特に
、FRP材料のように音速の異なる材料の混合物の板材
ても、従来の超音波厚み計にような乱反射による誤差も
なくその厚みを正確に測定できる効果がある。
第1図は本発明の実施例を示す外観図、第2図はその回
路を示すブロック図、第3図は本発明の使用状態を示す
図、第4図は実験結果である周波数と厚みの関係を示す
図、第5図は本発明池の実施例を示すブロック図である
。 1・・・・・・外筐、4・・・・・・誘電率設定スイッ
チ、5・・・・・・表示器、6・・・・・・測定用電極
、7・・・・・・発振器、lO・・・・・・メモリー、
11・・・・・・計算器、12・・・・・・被測定物、
13・・・・・・スイッチ。 特許出願人 国際技術開発株式会社 代表者 中内俊作 才ノ/!i l・・・・・外、筐 2 ・・・・ 電源スィッチ 3・・・−零点調整スイッチ 4・・・・・・ 誘電率設定スイッチ 5・・・・表示器 6 ・・・ 測定用電う
路を示すブロック図、第3図は本発明の使用状態を示す
図、第4図は実験結果である周波数と厚みの関係を示す
図、第5図は本発明池の実施例を示すブロック図である
。 1・・・・・・外筐、4・・・・・・誘電率設定スイッ
チ、5・・・・・・表示器、6・・・・・・測定用電極
、7・・・・・・発振器、lO・・・・・・メモリー、
11・・・・・・計算器、12・・・・・・被測定物、
13・・・・・・スイッチ。 特許出願人 国際技術開発株式会社 代表者 中内俊作 才ノ/!i l・・・・・外、筐 2 ・・・・ 電源スィッチ 3・・・−零点調整スイッチ 4・・・・・・ 誘電率設定スイッチ 5・・・・表示器 6 ・・・ 測定用電う
Claims (2)
- (1)誘電体材料の板材を被測定物とする厚み計におい
て、接地された電極と発振器に接続された電極から成る
測定用電極と、該測定用電極を共振回路の容量の一部と
する発振器と、零点の時の該発振器の基準周波数を記憶
するメモリーと、被測定物の誘電率を計算器に入力する
誘電率設定スイッチと、該誘電率設定スイッチから入力
される被測定物の誘電率と、該メモリーに記憶された基
準周波数と、被測定物に該測定用電極を密着させたとき
の周波数とから、板の厚みを計算する計算器と、該計算
器の板の厚みを示す出力を表示する表示器を備えたこと
を特徴とする厚み計。 - (2)前記測定用電極と前記発振器を零点調整のための
スイッチを介して接続した特許請求の範囲第1項記載の
厚み計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14727786A JPS633202A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | 厚み計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14727786A JPS633202A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | 厚み計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS633202A true JPS633202A (ja) | 1988-01-08 |
Family
ID=15426570
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14727786A Pending JPS633202A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | 厚み計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS633202A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1182423A1 (de) * | 2000-08-24 | 2002-02-27 | Plast-Control Gerätebau GmbH | Sensor zur kapazitiven Messung von Foliendicken |
JP2009186367A (ja) * | 2008-02-07 | 2009-08-20 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 膜厚測定装置、及び膜厚測定方法 |
-
1986
- 1986-06-24 JP JP14727786A patent/JPS633202A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1182423A1 (de) * | 2000-08-24 | 2002-02-27 | Plast-Control Gerätebau GmbH | Sensor zur kapazitiven Messung von Foliendicken |
US6541986B2 (en) | 2000-08-24 | 2003-04-01 | Plast-Control Gerätebau GmbH | Sensor for the capacitive measurement of film with thicknesses |
JP2009186367A (ja) * | 2008-02-07 | 2009-08-20 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 膜厚測定装置、及び膜厚測定方法 |
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