JPS63310713A - 二酸化珪素被膜の製造方法 - Google Patents
二酸化珪素被膜の製造方法Info
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- JPS63310713A JPS63310713A JP14635287A JP14635287A JPS63310713A JP S63310713 A JPS63310713 A JP S63310713A JP 14635287 A JP14635287 A JP 14635287A JP 14635287 A JP14635287 A JP 14635287A JP S63310713 A JPS63310713 A JP S63310713A
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Landscapes
- Silicon Compounds (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は二酸化珪素被膜の製造方法に関し、特にシリコ
ン等の半導体基材、ざリカーボネート等の高分子材料基
材等の高温加熱を好まない基材の表面にち密な二酸化珪
素被膜を製造するのに適した二酸化珪素被膜の製造方法
に関する。
ン等の半導体基材、ざリカーボネート等の高分子材料基
材等の高温加熱を好まない基材の表面にち密な二酸化珪
素被膜を製造するのに適した二酸化珪素被膜の製造方法
に関する。
従来、二酸化珪素が過飽和状態となった珪弗化水素酸水
溶液と、ガラス、セラミックス、プラスチック、金属、
半導体などの基材とを接触させて、基材表面に二酸化珪
素被膜を作成する方法が知られている。(例えば特開昭
40−2314りQ)又特に、シリコン基材等の半導体
基板の表面に、上記方法で二酸化珪素被膜を作成した後
弘OO〜100°Cの温度で焼成し、該二酸化珪素被膜
をち密な被膜とする方法が知られている。(例えば特開
昭A/−1203≠) 〔発明が解決しようとする問題点〕 上記二酸化珪素の過飽和状態の珪弗化水素酸と基材とを
接触させて基材表面に二酸化珪素被膜を析出させる方法
(以後析出法と略称する)によれば、プラスチック基材
、シリコン基材等の表面に低温で比較的ち密な二酸化珪
素被膜を作成できる利点を有するものの、該二酸化珪素
被膜中には、水溶液中で作成された事に基づ<*景のO
H基が残存し、被膜の特性が低いという問題点があった
。
溶液と、ガラス、セラミックス、プラスチック、金属、
半導体などの基材とを接触させて、基材表面に二酸化珪
素被膜を作成する方法が知られている。(例えば特開昭
40−2314りQ)又特に、シリコン基材等の半導体
基板の表面に、上記方法で二酸化珪素被膜を作成した後
弘OO〜100°Cの温度で焼成し、該二酸化珪素被膜
をち密な被膜とする方法が知られている。(例えば特開
昭A/−1203≠) 〔発明が解決しようとする問題点〕 上記二酸化珪素の過飽和状態の珪弗化水素酸と基材とを
接触させて基材表面に二酸化珪素被膜を析出させる方法
(以後析出法と略称する)によれば、プラスチック基材
、シリコン基材等の表面に低温で比較的ち密な二酸化珪
素被膜を作成できる利点を有するものの、該二酸化珪素
被膜中には、水溶液中で作成された事に基づ<*景のO
H基が残存し、被膜の特性が低いという問題点があった
。
また該残留OH基を除去してさらにち密な二酸化珪素被
膜とするためには1.300−♂o o”cという湿度
で10−60分間保つという加熱処理が必要とされ、耐
熱性の悪いプラスチック材(例えばポリカーボネート約
/J!℃、ポリメチルメタクリレート70〜りQ″C)
に対してはち密化が行なえないという問題点があった。
膜とするためには1.300−♂o o”cという湿度
で10−60分間保つという加熱処理が必要とされ、耐
熱性の悪いプラスチック材(例えばポリカーボネート約
/J!℃、ポリメチルメタクリレート70〜りQ″C)
に対してはち密化が行なえないという問題点があった。
また、300−♂O0″Cの加熱に対して耐熱性を有す
るシリコン等の半導体基材においても、加熱処理によっ
て半導体中に熱拡散法やイオン注入法でドーピングした
ドーピング元素(例えばP、B。
るシリコン等の半導体基材においても、加熱処理によっ
て半導体中に熱拡散法やイオン注入法でドーピングした
ドーピング元素(例えばP、B。
AS 等)が再拡散し、該半導体中に作成したP型、N
型等の半導体領域が拡大したり、該半導体の特性低下を
引き起こしたりする問題点があった。
型等の半導体領域が拡大したり、該半導体の特性低下を
引き起こしたりする問題点があった。
本発明は上記問題点を解決するために、二が化珪素の過
飽和状態となった珪弗化水素酸水溶液と基材とを接触さ
せて基材表面に二酸化珪素被膜を析出させた後加熱焼成
する二酸化珪素被膜の製造方法において、該加熱焼成手
段として誘電加熱処理を用いている。
飽和状態となった珪弗化水素酸水溶液と基材とを接触さ
せて基材表面に二酸化珪素被膜を析出させた後加熱焼成
する二酸化珪素被膜の製造方法において、該加熱焼成手
段として誘電加熱処理を用いている。
該誘電加熱としては、該残留OH基を含む二酸化珪素に
有効に吸収される周波数による加熱が好ましく、又電波
法の規制値等の関係からJIIjOMH1±toMHz
、j100MHz±7jMHz 、2212!;MH2
±/ j jMHz 、 F / jMHz 1th2
jMHz等の周波数が望ましい。又該加熱は、二酸化
珪素被膜に対して有効に作用し、基板等になるべく影響
を与えないエネルギー景が好ましく、基板表面の二酸化
珪素被膜/crlあたり0./W−H〜12W−Hであ
ることが望ましい。又該加熱処理は短時間に集中して行
なわれる事が効率上好ましくio秒〜lり分の時間内に
処理されることが、効率および基板を不必要に加熱しな
いために好ましい。
有効に吸収される周波数による加熱が好ましく、又電波
法の規制値等の関係からJIIjOMH1±toMHz
、j100MHz±7jMHz 、2212!;MH2
±/ j jMHz 、 F / jMHz 1th2
jMHz等の周波数が望ましい。又該加熱は、二酸化
珪素被膜に対して有効に作用し、基板等になるべく影響
を与えないエネルギー景が好ましく、基板表面の二酸化
珪素被膜/crlあたり0./W−H〜12W−Hであ
ることが望ましい。又該加熱処理は短時間に集中して行
なわれる事が効率上好ましくio秒〜lり分の時間内に
処理されることが、効率および基板を不必要に加熱しな
いために好ましい。
誘電加熱処理では物質の誘電損ε′(−g’tanδε
l:実効誘電率、tanδ:誘電損保数)と発振周波数
fおよび電界Eの2乗に比例して加熱できる。
l:実効誘電率、tanδ:誘電損保数)と発振周波数
fおよび電界Eの2乗に比例して加熱できる。
したがって一定条件下で誘電加熱処理を行なう場合には
加熱しようとする物質の誘電損ε# 罠より加熱される
程度(たとえば温度)が異なってくる。
加熱しようとする物質の誘電損ε# 罠より加熱される
程度(たとえば温度)が異なってくる。
上記析出法による二酸化珪素被膜は比誘電率がμ〜7誘
電損係数は0.07〜O0/であり、またプラスチック
成形体ではたとえばポリカーボネートでは比誘電率2.
91. 、誘電損保@0.01である。したがって上記
析出法による二酸化珪素被膜のほうがポリカーボネート
に比べてへ3〜21倍加熱されやすいことになる。
電損係数は0.07〜O0/であり、またプラスチック
成形体ではたとえばポリカーボネートでは比誘電率2.
91. 、誘電損保@0.01である。したがって上記
析出法による二酸化珪素被膜のほうがポリカーボネート
に比べてへ3〜21倍加熱されやすいことになる。
そこで本発明によれば、基材を著るしく加熱することな
く二酸化珪素被膜を加熱することができ、該二酸化珪素
被膜をち密化することができる。
く二酸化珪素被膜を加熱することができ、該二酸化珪素
被膜をち密化することができる。
パーフルオロアルキルカルボン酸塩(フッ素糸界面活性
剤:旭硝子■製商品名す−フロンS−//3固形分濃度
30%)/9及びポリエチレングリコールモノステアレ
ー)(n−21)/りを水ii に溶解した溶液に、
たて/ Q QIIjI、よこ/ Q Qn 、厚さへ
/朋のポリカーボネート平板を、浸漬し、Jcm/mi
nの速度で引き上げ、100’Cの熱風乾燥炉で7時間
乾燥を行なった。
剤:旭硝子■製商品名す−フロンS−//3固形分濃度
30%)/9及びポリエチレングリコールモノステアレ
ー)(n−21)/りを水ii に溶解した溶液に、
たて/ Q QIIjI、よこ/ Q Qn 、厚さへ
/朋のポリカーボネート平板を、浸漬し、Jcm/mi
nの速度で引き上げ、100’Cの熱風乾燥炉で7時間
乾燥を行なった。
その後上記の界面活性剤を被着させたポリカーボネート
基板の表面に第1図に示す二酸化珪素被膜製造装置を用
いて二酸化珪素被膜を作成した。
基板の表面に第1図に示す二酸化珪素被膜製造装置を用
いて二酸化珪素被膜を作成した。
第1図において浸漬槽は外槽(1)と内槽(2)からな
り、内槽と外槽の間には水(3)が満しである。この水
は温度がJj’Cとなるようヒーター(4)で加熱され
、かつ湛度分布均−化のため攪拌器(5)で攪拌されて
いる。内槽(2)は前部(6)、中部(7)、後部(8
)の3つの部分から成り、各部には工業用シリカゲル粉
末を二酸化珪素の供給源として二酸化珪素を溶解・飽和
させた2m01/lの濃度の珪弗化水素酸水溶液31が
反応液として満たしである。ここでまず循環ポンプ(1
0)を作動させ内槽後部(8)の反応液を一定量ずつ汲
出してフィルター(1))でろ過し内槽前部(6)へ戻
す処理液循環を開始した。
り、内槽と外槽の間には水(3)が満しである。この水
は温度がJj’Cとなるようヒーター(4)で加熱され
、かつ湛度分布均−化のため攪拌器(5)で攪拌されて
いる。内槽(2)は前部(6)、中部(7)、後部(8
)の3つの部分から成り、各部には工業用シリカゲル粉
末を二酸化珪素の供給源として二酸化珪素を溶解・飽和
させた2m01/lの濃度の珪弗化水素酸水溶液31が
反応液として満たしである。ここでまず循環ポンプ(1
0)を作動させ内槽後部(8)の反応液を一定量ずつ汲
出してフィルター(1))でろ過し内槽前部(6)へ戻
す処理液循環を開始した。
その後Q、jmol//のホウ酸水溶液(12)を0.
2m1)分の速度で連続的に内槽後部(8)に滴下し7
0時間保持した。この状態で反応液は適度な5102過
飽和度を有する処理液となった、ここでフィルター(1
))の絶対除去率を八!μmおよび処理液循環量を2u
oml1分(処理液全量が約31であるので循環量はt
%/分である)と調整した。そして前記界面活性剤を被
着させたポリカーボネート平板(9)を内槽中部(7)
に垂直に浸漬し、前記条件(0,!mol/lのホウ酸
水溶液を0.Jml1分で添加し、t%/分の循環をし
、/、!μmのフィルターでろ過する)で6時間保持し
た。
2m1)分の速度で連続的に内槽後部(8)に滴下し7
0時間保持した。この状態で反応液は適度な5102過
飽和度を有する処理液となった、ここでフィルター(1
))の絶対除去率を八!μmおよび処理液循環量を2u
oml1分(処理液全量が約31であるので循環量はt
%/分である)と調整した。そして前記界面活性剤を被
着させたポリカーボネート平板(9)を内槽中部(7)
に垂直に浸漬し、前記条件(0,!mol/lのホウ酸
水溶液を0.Jml1分で添加し、t%/分の循環をし
、/、!μmのフィルターでろ過する)で6時間保持し
た。
上記処理で得られた二酸化珪素被膜の膜厚は約/70n
mであった。
mであった。
上記二酸化珪素被膜を角層させたポリカーボネート平板
を弘分割し、そのうち3枚を発振周波数2≠!OMHz
、出力tooviの誘電加熱処理装置を用いてそれぞれ
7分間、75分間、30分間加熱処理を行なった。加熱
処理後もいずれのポリカーボネート平板も変形しておら
ず、該加熱処理圧よるポリカーボネート平板の湿度上昇
は約/31″C以下であったと推定される。
を弘分割し、そのうち3枚を発振周波数2≠!OMHz
、出力tooviの誘電加熱処理装置を用いてそれぞれ
7分間、75分間、30分間加熱処理を行なった。加熱
処理後もいずれのポリカーボネート平板も変形しておら
ず、該加熱処理圧よるポリカーボネート平板の湿度上昇
は約/31″C以下であったと推定される。
上記誘電加熱処理を行なった二酸化珪素被膜と誘電加熱
処理を行なわなかった二酸化珪素被膜のエッチレートを
測定した。エツチング液はat%HFニアQ%HNO3
:H2O−3:2 : 40 (容積比)を用いて22
°Cで行なった。その結果を第1表に示す。第1表の結
果から該誘電加熱処理により上記二酸化珪素被膜が緻密
化していることが判明した。
処理を行なわなかった二酸化珪素被膜のエッチレートを
測定した。エツチング液はat%HFニアQ%HNO3
:H2O−3:2 : 40 (容積比)を用いて22
°Cで行なった。その結果を第1表に示す。第1表の結
果から該誘電加熱処理により上記二酸化珪素被膜が緻密
化していることが判明した。
第 7 表
〔発明の効果〕
本発明によれば、基材の温度をあまり上昇させることな
くエッチレートの低い二酸化珪素被膜を得ることが可能
である。ここでエッチレートは二酸化珪素被膜の紗密さ
を表わすものであり、絶縁性等を表わす尺度となりうる
ものである。基材の温度をあまり上昇させることなく緻
密な膜を得られることは、耐熱性の悪い基材への適用や
基材の温度上昇による基材の変質(たとえばシリコン中
の不純物の再拡散など)の防止の点で非常に有利となる
ものである。
くエッチレートの低い二酸化珪素被膜を得ることが可能
である。ここでエッチレートは二酸化珪素被膜の紗密さ
を表わすものであり、絶縁性等を表わす尺度となりうる
ものである。基材の温度をあまり上昇させることなく緻
密な膜を得られることは、耐熱性の悪い基材への適用や
基材の温度上昇による基材の変質(たとえばシリコン中
の不純物の再拡散など)の防止の点で非常に有利となる
ものである。
第7図は本発明の実施例において使用した二酸化珪素被
膜製造装置の系統説明図である。 (1)外槽 (2)内槽 (3) 水 (≠) ヒー
ターU 攪拌器 (6)内槽前部 (力 内槽中部(
t)内槽後部 (り) プラスチック成形体(10)循
環ポンプ (//)フィルター(12)ホウ酸水溶液 第1図
膜製造装置の系統説明図である。 (1)外槽 (2)内槽 (3) 水 (≠) ヒー
ターU 攪拌器 (6)内槽前部 (力 内槽中部(
t)内槽後部 (り) プラスチック成形体(10)循
環ポンプ (//)フィルター(12)ホウ酸水溶液 第1図
Claims (3)
- (1)二酸化珪素の過飽和状態となった珪弗化水素酸水
溶液と基材とを接触させて基材表面に二酸化珪素被膜を
析出させた後加熱焼成する二酸化珪素被膜の製造方法に
おいて、該加熱焼成手段として、誘電加熱処理を用いる
ことを特徴とする二酸化珪素被膜の製造方法。 - (2)該誘電加熱処理に用いる発振周波数が2450M
Hz±50MHzである特許請求の範囲第1項記載の二
酸化珪素被膜の製造方法。 - (3)該誘電加熱処理に用いる電力が基材表面の二酸化
珪素被膜1cm^2あたり0.1W・H〜12W・Hで
ある特許請求の範囲第1項又は第2項記載の二酸化珪素
被膜の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14635287A JP2505809B2 (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 二酸化珪素被膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14635287A JP2505809B2 (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 二酸化珪素被膜の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63310713A true JPS63310713A (ja) | 1988-12-19 |
JP2505809B2 JP2505809B2 (ja) | 1996-06-12 |
Family
ID=15405769
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14635287A Expired - Lifetime JP2505809B2 (ja) | 1987-06-12 | 1987-06-12 | 二酸化珪素被膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2505809B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0465169A (ja) * | 1990-07-05 | 1992-03-02 | Toshiba Corp | E↑2prom装置 |
CN113651542A (zh) * | 2021-09-16 | 2021-11-16 | 安徽光智科技有限公司 | 石英舟或石英管表面镀膜的方法 |
-
1987
- 1987-06-12 JP JP14635287A patent/JP2505809B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0465169A (ja) * | 1990-07-05 | 1992-03-02 | Toshiba Corp | E↑2prom装置 |
CN113651542A (zh) * | 2021-09-16 | 2021-11-16 | 安徽光智科技有限公司 | 石英舟或石英管表面镀膜的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2505809B2 (ja) | 1996-06-12 |
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