JPS6330821A - 光変調器およびその製造方法 - Google Patents

光変調器およびその製造方法

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JPS6330821A
JPS6330821A JP61173903A JP17390386A JPS6330821A JP S6330821 A JPS6330821 A JP S6330821A JP 61173903 A JP61173903 A JP 61173903A JP 17390386 A JP17390386 A JP 17390386A JP S6330821 A JPS6330821 A JP S6330821A
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Koichi Wakita
紘一 脇田
Yuzo Yoshikuni
吉国 裕三
Yuichi Kawamura
河村 裕一
Hajime Asahi
一 朝日
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
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    • GPHYSICS
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    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、13〜1.6 μmの波長領域の光を高速か
つ低電圧で変調する量子井戸構造を有する量子井戸形光
変調器およびその製造方法に関するものである。
[従来の技術] 光通信においては、連字、半導体レーザを駆動する注入
電流自身を、伝送したい情報の信号により変化させて、
その情報を光の強弱の形に変えて伝える直接変調方法を
用いられている。この方法では、数Gb/S以上の高速
で長距離にわたり光ファイバを通して情報を伝送する場
合、レーザ光のスペクトル幅が広がり、群遅延の広がり
はほぼこれによって決まってしまう。
このため、光ファイバの低損失領域である155μm帯
を用いた光通信など、ざらに高速伝送や無中継長距離伝
送、あるいは光の性質を利用したコヒーレント光通信を
実現しようとすると、高性能の外部変調器が不可欠とさ
れる。
従来、かかる外部変調器として、 LiN’b03のバ
ルク結晶が主として用いられており、これにより20G
Hzの高周波変調も実現されている。しかし、この変調
器には、時間的に出力がドリフトするなど安定性に難点
があった。
これに対し、GaAsやInPなどの化合物半導体結晶
には、安定性に優れ、しかも他の光デバイスとのモノリ
シック集積化を実現できる利点があり、その研究が進め
られているが、高速変調特性にやや難点かあった。
この欠点を克服するために、GaAs/AflGaAs
系の量子井戸構造を採用して、上記バルク結晶よりも効
率よく高速に光変調を行うことがAppl、 Phys
、Lett、 Vol、44. pp、16 (198
4)  において提案され、良好な結果が得られている
。しかし、この場合には光伝送に通した長波長帯1.3
〜1.6μmでは動作できないという欠点があった。
この問題を解決するために、我々は先に特願昭60−1
3933号、特願昭81−31782号を提案し、逆方
向電圧に応じて吸収係数を変化させ、人力光の強度を信
号電圧に応じて変調する方法を提案した。
この方法では、高速かつ光の消光比も比較的良好な結果
が得られたが、その木質上、吸収効果を利用しているた
め、吸収された光はいずれは熱となり温度上昇に伴う吸
収特性の変化を生ずる欠点があった。これは、入力光の
出力が大きくなるにつれて問題となり、ざらに、量子効
果のために光出力が大きくなると、吸収係数そのものが
飽和あるいは低下する等の非線形効果を生じてしまう欠
点があった。
また、かかる変調器を方向性結合器として使用する場合
、特願昭61−31782号に限らず広く方向性結合器
一般の欠点であるが、ストリップ装荷構造を2本手行に
配置し、かつストリップ装荷間隔と装荷部の幅をそれぞ
れ数μm程度に精度よく加工しなければならず、素子作
製上問題であった。
[発明が解決しようとする問題点コ そこで、本発明の目的は、このような問題点を解決し、
光の位相を電界により効率よく変調することが可能な光
変調器を提供することにある。
本発明の他の目的は、上述の問題点を解決して、良好な
先導波機能をもち効率よい光変調が可能な光変調器を選
択エツチングにより適切に製造する方法を提供すること
にある。
[問題点を解決するための手段〕 このような目的を達成して、光変調を高速かつ効率よく
行うために、本発明では、光を多重量子井戸(MQWJ
層構造に平行に入射して光の吸収長を長くとれるように
するとともに、量子井戸構造からなる複数の活性層のう
ち、ρ形およびn形りラット層で挟まされたーの活性層
に電界を加えて先導/11機能を変え、他の−の活性層
に光を導波させる。
すなわち、本発明光変調器の第1の形態は、半導体基板
と、半導体基板の一方の主面上に配置した第1クラッド
層と、障壁層と量子井戸層とから成り、第1クラッド層
の上に配置した活性層であって、活性層一方の端面から
入射した光を他方の端面から出射させる゛光導波路の形
成される少なくとも2つの活性層と、少なくとも2つの
活性層に形成される光導波路の形状に対応した形状を有
し、少なくとも2つの活性層のうち半導体基板から最も
遠い位置にある活性層上に配置した第2クラッド層と、
少なくとも2つの活性層の間に配置した少なくともひと
つの第3クラッド層と、半導体基板の他方の主面上に配
置した第1電極と、第2クラッド層の上に配置した第2
箪極とを具え、第1電極と第2電極との間の印加電圧に
応して、少なくとも2つの活性層に光導波路が限界され
ると共に、その光導波路に入射する光がいずれの活性層
内を導波されるかの状態を変化させるようにしたことを
特徴とする。
本発明光変調器の第2の形態は、半導体基板と、半導体
基板の一方の主面上に配置した第1クラッド層と、障壁
層と量子井戸層とから成り、第1クラッド層の上に配置
した活性層であって、活性層一方の端面から入射した光
を他方の端面から出射させる光導波路の形成される少な
くとも2つの活性層と、少なくとも2つの活性層に形成
される光導波路の形状に対応した形状を有し、少なくと
も2つの活性層のうち半導体基板から最も遠い位置にあ
る活性層上に配置した第2クラッド層と、第2クラッド
層と少なくとも2つの活性層のうち半導体基板から最も
違い位置にある活性層との間に配置した緩衝層と、半導
体基板の他方の主面上に配置した第1電極と、第2クラ
ッド層の上に配置した第2電極とを具え、第2クラッド
層および第2電極は、緩衝層の上でメサストライプの形
態となし、第1電極と第2電極との間の印加電圧に応じ
て、メサストライプに対応して、少なくとも2つの活性
層に光導波路が限界されると共に、その光導波路に入射
する光がいずれの活性層内を導波されるかの状態を変化
させるようにしたことを特徴とする。
本発明光変調器の第3の形態は、InP基板と、InP
と格子整合しているIn+−xi−y+Gax1− y
+As(ただし、0≦yよ)よりなる量子井戸層と、I
nPと格子整合しているIn1−X2−y2Gax2A
文、2As(ただし、yl<y2.o≦x2)よりなり
、量子井戸層に比し広い禁制帯幅を有する障壁層とを順
次にかつ交互に積層した多重量子井戸構造の形態の第1
の活性層と、第1の活性層と同一の組成および厚さをも
つ第2の活性層と、第2の活性層の一方の主面上に配置
された第1の4電型を有するInn−x3−y3Gat
yAfl y3As (ただしO≦x3 、 y3≦y
2)からなる第1のクラッド層と、第1の活性層の第2
の活性層とは反対側の主面上に配置された第1の導電型
とは逆の第2の導電型を有するIn+−w3−y3Ga
xjAfLyyAS (ただし0≦xa、y、≦y2)
からなる第2のクラッド層と、第1と第2の活性層の間
に配置された第1の導電型を有するIn1 −x3−y
zGax3A1 y3Gax3Aly3As (ただし
0≦x3 、:Y3≦y2)からなる第3のクラッド層
とを具えたことを特徴とする。
本発明光変調器の第4の形態は、 InP基板と、In
P と格子整合しているIn1−xi−y+GaxlA
1 、+As(ただし、0≦yt)よりなる量子井戸層
と、InP と格子整合しているIn、−x2−y2G
ax2AIl112As(ただし、yl<y2.0≦x
2 )よりなり、量子井戸層に比し広い禁制帯幅を有す
る障壁層とを順次にかつ交互に積層した多重量子井戸構
造の形態の第1の活性層と、第1の活性層と同一の組成
および厚さをもつ第2の活性層と、第2の活性層の一方
の主面上に配置された第1の導電型を有するInr−x
3−y3Gax3Afl )T3Gax3Aly3As
 (ただし0≦x3.y3≦y2)からなる第1のクラ
ッド層と、第1の活性層の第2の活性層とは反対側の主
面上に配置された第1の導電型とは逆の第2の導電型を
有するIJ−x3−y3Gay3− )T3Gax3A
ly3As (ただし0≦x3 、3’3≦y2)から
なる第2のクラッド層と、第1と第2の活性層の間に配
置された第2の導電型を有するIn1−X3−.3Ga
X3Au y3Gax3Aly3As (ただし0≦x
3 、3’3≦y2)からなる第3のクラッド層とを具
えたことを特徴とする。
本発明光変調器の第5の形態は、InP基板と、InP
 と格子整合しているIn1−xi−ylGaxlAJ
2 y1Gax1Aly1As(ただし、0≦yよ)よ
りなる量子井戸層と、InP と格子整合しているIn
1−++2−y2Gax2AIly2As(ただし、y
+<y2.0≦x2)よりなり、量子井戸層に比し広い
禁制帯幅を有する障壁層とを順次にかつ交互に積層した
多重量子井戸構造の形態の第1の活性層と、第1の活性
層と同一の組成および厚さをもつ第2の活性層と、第2
の活性層の一方の主面上に配置された第1の導電型を有
するIn1−x3−y3Gax3^uy3As(ただし
0≦x3.3/3≦y2)からなる第1のクラッド層と
、第1の活性層の第2の活性層とは反対側の主面上に配
置された第1の導電型とは逆の第2の導電型を有するI
n+−x3−yz− y3Gax3Aly3As (た
だし0≦x3 、 y3≦y2)からなる第2のクラッ
ド層と、第1と第2の活性層の間に配置された第1の導
電型を有するIn+−x3−ys− )13As (た
だし0≦x3 、3’3≦372)からなる第3のクラ
ッド層と、第1の活性層と第2のクラッド層との間に配
置されたInP層と、InP層と同一の導電型を有し、
当該InP層上に配置されたIn1−x4GaX4^S
(ただし0≧x4)によるキャップ層とを具え、InP
基板とキャップ層との間に印加する電圧に応じて、第1
および第2の活性層のいずれかに入射する光を第1およ
び第2の活性層のいずれに導波させるかを定めるように
したことを特徴とする。
本発明光変調器の第6の形態は、InP基板と、InP
と格子整合しているIn+−xi−y+Gax+Au 
y1Gax1Aly1As(ただし、0≦yt)よりな
る量子井戸層と、InPと格子整合しているIn、−x
□−y2Gax2− y2AS(ただし、y1<y2、
0≦x2)よりなり、量子井戸層に比し広い禁制帯幅を
有する障壁層とを順次にかつ交互に積層した多重量子井
戸構造の形態の第1の活性層と、第1の活性層と同一の
組成および厚さをもつ第2の活性層と、第2の活性層゛
の一方の主面上に配置された第1の導電型を有するIn
+−xz−y+Gax3−y3Gax3Aly3As 
(ただし0≦x3.y3≦y2)からなる第1のクラッ
ド層と、第1の活性層の第2の活性層とは反対側の主面
上に配置された第1の導電型とは逆の第2の導電型を有
するIn+−x3−y3Gax3AJ2 y3As (
ただし0≦x3.y3≦y2)からなる第2のクラッド
層と、第1と第2の活性層の間に配置された第2の導電
型を有するInl −x3−y3Gax3AjZ y3
八S(ただし0≦x3.y3≦y2)からなる第3のク
ラッド層と、第1の活性層と第2のクラッド層との間に
配置されたInP層と、InP層と同一の導電型を有し
、当該InP層上に配置された■n1−x4Gax4A
s(ただし0≧x4)によるキャップ層とを具え、In
P基板とキャップ層との間に印加する電圧に応じて、第
1および第2の活性層のいずれかに入射する光を第1お
よび第2の活性層のいずれに導波させるかを定めるよう
にしたことを特徴とする。
本発明製造方法の第1の形態は、半導体基板の一方の主
面上に、第1クラッド層、障壁層と量子井戸層から成る
少なくとも2つの活性層と活性層により挟まれた第3ク
ラッド層との組合せ、第2クラッド層、キャップ層およ
び電極層をこの順序に形成し、キャップ層の上にレジス
トを塗布し、その塗布されたレジストに対してエツチン
グを施して、光導波路形状のパターンをもつレジスト層
を形成し、第1.第2および第3クラッド層、活性層お
よびキャップ層についてはエツチングを行うことができ
るが、半導体基板についてはエツチングを行うことので
きないエツチング処理夜を用いて、第1.第2および第
3クラッド層、活性層、キャップ層および電極層を光導
波路の形状に工・ンチング処理し、レジスト層を除去す
ることを特徴とする。
本発明製造方法の第2の形態は、半導体基板の一方の主
面上に、第1クラッド層、障壁層と量子井戸層から成る
少なくとも2つの活性層と活性層により挟まれた第3ク
ラッド層との組合せ、耐エツチング材料層、第2クラッ
ド層、キャップ層および電極層をこの順序に形成し、キ
ャップ層の上にレジストを、塗布し、その塗布されたレ
ジストに対してエツチングを施して、光導波路形状のパ
ターンをもつレジスト層を形成し、第2クラッド層およ
びキャップ層についてはエツチングを行うことができる
が、耐エツチング材料層についてはエツチングを行うこ
とのできないエツチング溶液を用いて、第2クラッド層
、キャップ層および電極層を前記光導波路の形状にエツ
チング処理し、レジスト層を除去することを特徴とする
[作 用] MQW層に印加される電界による屈折率変化を利用する
場合、本発明のように、MQW層をn形およびn形のク
ラッド層に挟まれた構成とすると、外部からの電圧がM
QW層のみにかかるため、効率よ< MQW層の屈折率
を変化させることができるのに対し、その両側をp形り
ラッド層のみ、あるいはn形りラッド層のみで挟んだ構
成では、外部電圧は、n形およびn形の両クラッド層で
挟まれたものに比べて、かかりにくい。
本発明において、MQW活性層を光の波長程度に近接さ
せておけば、導波モートの結合が生じ、−の活性層を導
波される光は重圧印加により他の−の活性層へ移ること
が可能となる。
特願昭61−31782号では、1つの活性層に平行な
方向の同一面上に、すなわち水平方向に延在する2木の
平行なストリップ装荷構造を活性層に垂直に形成して、
その活性層内における光の透過する位置をこれら2つの
ストリップ装荷構造間で変えていだのに対して、本発明
では、複数の活性層間、すなわち活性層に垂直な方向に
おいて、光の導波する位置を変化させる。従って、特願
昭61−31782号では必要となる、光の波長オーダ
の寸法で形成しなければならない2木の平行なストリッ
プの幅や間隔等の加工が本発明では原理的に不要となり
、光の導波する位置間の距離は活性層間の第3クラッド
層の層厚で決まる。
一般に、物質に電界を加えると、電気光学効果によって
屈折率は変化するが、量子井戸構造ではバルク結晶に比
べかかる変化が大きいことが予想されている(例えばE
lectronics LettersVol、21.
 No、13. pp、579−580. )1.Ya
mamot。
等)。
従って、電界による屈折率の変化に伴って、それぞれの
MQW活性層の光の伝播定数に差が生じ、両導波路(活
性層)間において光のパワー結合量は変化するが、本発
明によれば結合長を通常のバルク形のものに比べて短く
でき、しかも電圧も小さくて済む。素子の長さが長いと
熱膨張等の影響を受けやすく、かつこの長さにわたって
均一な寸法および性能をもつ素子を作製することはプロ
セス工程上および結晶成長上困難であった。しかもまた
、バルク形の場合には、電圧を通常+数■のように大き
く加える必要があるが、高速で高電圧を発生できるパル
ス発生器は少なく、このことも実用上問題であった。
[実施例] 以下に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図(A)は本発明の第1の実施例を示す斜視図であ
って、ここに21はn形InP結晶基板、22は基板2
1上に配置したn形Ino、 53GaO4y−aA 
fl aAs(0くa≦x)第1クラッド層である。
23は、第1図(B)  に示すように、アンドープI
no、 53Gao、 47−XA JZ XAS障壁
層(0くx≦0.47) 、 24はアンドープIno
、 s*Gao47−yA x 、As量子井戸層(0
≦y<x)であり、(m+1)層の障壁層23とm層の
量子井戸層24とを交互に積層して多重量子井戸(MQ
W)構造の第2活性層25を構成する。
この第2活性層25を第1クラッド層22の上に配置す
る。26はこの第2活性層25上に配置したn形1nG
a− As第3クラッド層である。27はInGaAn
 As第3クラッド層26上に配置され、第2活性層2
5と同一の組成および厚さを有する多重量子井戸構造の
第1活性層である。この第1活性層27もまた、上述し
た障壁層23と量子井戸層24とを交互に積層したMQ
W構造とする。
28はp形1no、5Gao、 47jZA I−zA
s = 2クラッド層(0≦Z≦y)、29は第2クラ
ッド層28上にこの第2クラッド層28と同一パターン
で配置されたIno、 53Ga0.47八Sキャップ
層である。
30は基板21の下面に配置したn形電極、31はキャ
ップ層29上に、このキャップ層29と同一パターンで
配置されたp形電極である。
この構造を得るには、たとえば分子線エピタキシー法を
用いて、たとえば第2図(A)  に示すように、基板
21の上にn形Ino、 53[1aO47−aA K
l aAs (0< a≦x)第1クラッド層22)ア
ンドープl1lo、 53Ga0.47−XA j2 
、As障壁層23およびアンドープIno、 53Ga
o47−yA Il、 、As二子井戸層24を交互に
積層した第2活性層25、n形1nGaAJ2As第3
クラッド層26、アンドープIno53Gaa、 47
−ZA fl 2As障壁層23およびアンドープ I
no、 s3Gao47−yAIl、As量子井戸層2
4を交互に積層した第1活性層27、p形Ino6.G
ao、 47−zAn 、As第2クラッド層28およ
びp形Ino、 53Gao、 47八Sキャップ層2
9を順次成長した後、n形電極層30およびp形電極層
31をそれぞれ蒸着する。
p型のストライブ電極31の形成は、リフトオフ?去を
用いてフォトレジストに<TIO>方向のストライプ窓
パターンを通常のマスク密着露光で作製した後に、Au
Zn/Znを0.3 μm厚に蒸着して幅lOμmのス
トライブN gi31を形成する。たとえば、第2図(
A)  に示すように電極層31上にレジスト、たとえ
ばAZ1350の層33を塗布してから、第2図(B)
  に示すようにそのレジスト層33をストライブパタ
ーンにフォトエツチングする。なお、ストライブ電極3
1には80x、80(μm)2のボンディング用パッド
を付加しておく。
ついで、第2図(C)に示すようにメサエッチングを行
う。ここで、選択エツチング溶液として、InPで選択
性をもたせるためにはヨウ化カリウムKlを用いること
によって、1nP基板21は、ヨウ化カリウムでエツチ
ングされないので、第2図(Gl)  に示すように、
p形電極31とともにlno、 5sGao、 47A
Sキャップ層29、Ino、 53G80.47−ZA
2□As第2□ラット層28、第1および第2活性層2
7および25、第3および第1クラッド層26および2
2をも同時にメサエッチングでき、したがって、1度の
エツチングでメサ構造を作製できる。
引き続き、電極31上のレジスト層33を剥離して、第
2図(D)  に示すようなハイメサ構造を得る。
第1図(A)の実施例において、n形SnドープInP
基板21のキャリア濃度を2 x 1011018a、
n形SiドープIno、 53Gao、 47−a A
 fl aAs第1クラッド層22のキャリア濃度をI
 x 10110l8”、厚さを0.5μmとなし、こ
のアンドープIno、 53A 10.47AS障壁層
23の厚さを67人、層数を40層、アンドープIno
、 53Gao、 47AS量子井戸層24の厚さを6
7人、層数を39層、n形BeドープInGaAβAs
第3クラッド層26のキャリア濃度を1 x 10” 
c+u−3、厚さをtl、2μmとし、アンドープ第1
活性層27を第2活性層z5と同じ組成および厚さをも
つものとし、p形BeドープIno、 5sGao47
−zA fl 、As第2クラッド層28のキャリア濃
度をI X 10”cm−3、厚さを1.2u m *
 Ino、 5sGao、 47八Sキャップ層29の
キャリア?lA度を2 X 10” cm−”、厚さを
0.2μmとした。これらの層は分子線エピタキシー法
によって成長させた。また、n形電極30としては八u
GeNi、  P形電極31としてはAuZn/Znを
用いた。素子の長さは150μmとした。
このようにして作製した素子において、n形電極30を
プラス、p形電極31をマイナスとして、105V/c
mの電界(5Vの電圧)を印加したところ、波長1.5
5μmにおける光の透過の様子(近視野像)は、第1活
性層27を導波していた光のスポットが第2活性層25
の位置に移動した。すなわち、第3図に示すように、電
13(lと31との間にこのように電圧を印加すること
により、第1活性層27への入力光Aに対して、光の透
過する位置を活性層27と25との間で変えることがて
き、電圧を印加しないときの出力光已に対して、電圧印
加時には出力光Cを得ることができた。また、パルス状
印加電圧に対する応答時間は、100ps以下にするこ
とができた。この応答時間は素子の容量で決まる。
なお、入力光Aを入射させるのは第1活性層27にのみ
限られるものではなく、クラッド層の導電型p、nの設
定により、第4図に示すように第2活性層25に人力光
Aを導くようにしてもよい。
要するに、電極30と31との間に印加する電圧により
発生する電界に応じて活性層25および27の一方の透
過率、屈折率が変化することにより、他方の活性層に光
の通路がスイッチされるのであるから、かかる電界は、
電極31に近い方にのみ印加される必要はなく、電極3
1から遠い方にも作用されるような強さとしておくこと
が必要である。そして、いずれの活性層にのみ電界を選
択的に印加するということは、クラッド層の導電型との
組合せで定めることができる。
第5図は本発明の他の実施例を示すもので、図中、第1
図(A)および(B)  と同様の個所には同一の符号
を付す。
本実施例においては、InP基板21上に、第1クラッ
ド層22)第2活性層25、第3クラッド層26、第1
活性層27 、InP層35を順次に積層する。そのI
nP層3層上5上、第2クラッド層28およびキャップ
層29を積層してからメサエッチングすることにより、
これら両層28および29より成るメサストライプ、す
なわちストリップ装荷構造36を配設する。電極30を
InP基板21の下面に配置し、電極31をキャップ層
29の上面に配置する。
このように、本実施例では、第1図(A)のようなメサ
構造とせずに、ストリップ装荷構造を形成し、光がメサ
部分の下の平坦な部分を導波するようにする。本例では
、エツチングに対する緩衝層としてのInP層35を設
けることによって、メサ形成用エツチング時にエツチン
グ選択性をもたせている。すなわち、ヨウ化カリウムは
InP層35をエツチングしないので、この特性を利用
して、メサストライプによるストリップ装荷構造36を
形成する。この結果、電極30と31との間に電圧を印
加すると、光は横方向にも閉じ込められる。この横方向
の光閉じ込めは、第1図(A)  に示したハイメサ構
造における空気と半導体との大きな屈折率差による光閉
じ込めの場合に比べ、屈折率差は小さく、かつ導波部は
同一層内に形成されるので、メサ側面の凹凸による散乱
の問題がなく、導波特性は良好となる。
なお、本発明において基板に対して垂直方向に設ける活
性層の層数は、上側の2層に限られず、を設けて、各活
性層に対して独立に電圧を印加てきるようにする。
第6図は活性層か3層の実施例を示し、ここでは、クラ
ッド層26と活性層27との間に、活性層25′ およ
びクラッド層26′ を積層する。クラッド層26′ 
の上面を露出させ、その上にキャップ層29′ および
電極31′ を配置する。ここで、′をつけた参照番号
は、′をつけない参照番号と同様の構成の層である。
本例では、電極30.31および31’  に独立に電
圧を印加できるようになし、たとえば、中央の活性層2
5′  を伝播する光が、電極31’  に印加される
電圧に応じて、活性層25または27に8勅するように
できる。導波光の移動方向は、活性層25.’25’ 
および26の両側のクラッド層22,26.28’  
および28の導電型と電極30.31および31′  
に印加される電圧の大きさと極性により、あらかしめ定
めておくことができる。
[発明の効果コ 以上説明したように、本発明によれば、電圧を加えるこ
とによって光の導波する部分を高速で変化させることが
できるので、−の活性層を導波する出力光の強度を電圧
で制御することが可能となり、光変調、光スィッチ等の
機能素子として動作させることが可能である。その場合
の印加電圧も数Vで済み、容易に人手可能な高速パルス
発生器で使用できる。しかもまた、光を量子井戸構造に
平行に入射して光の結合長を、垂直入射に比べて、長く
とれるため、光変調を高速かつ効率よく行うことができ
る。さらにまた、本発明では量子井戸構造を採用してい
るため、電界印加による屈折率変化が大ぎく、バルク形
に比べ素子長を長くとる必要かなくなり、温度変化等の
影響を受けにくい利点もある。
このように、本発明は、低電圧でかつ高速で光の変調を
行うことができるため、超大容量(I Gb/s以上)
でかつ長距離の光フアイバ伝送における外部変調器とし
て利用したり、高速光スイッチとして用いたり、あるい
は、短い素子長で、低電圧で駆動する方向性結合器とし
ての利用も可能である。
さらに加えて、本発明では、薄層間で光のパワー結合量
を変化できるので、通常のストリップ装荷形方向性結合
器に比べ製造工程も容易である。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)は本発明光変調器の一実施例の構成を示す
斜視図、 第1図(B)はその部分詳細図、 第2図(A)〜(D)は本発明の製造工程の一例を順次
に示す工程図、 第3図および第4図は本発明の一実施例の動作説明用の
側面図、 第5図は本発明光変調器の他の実施例の構成を示す斜視
図、 第6図は本発明光変調器のさらに他の実施例の構成を示
す側面図である。 21・・・InP基板、 22−1no、 53Gao、 47−AA It a
As第1クラッド層、 2:l・・In0.53(iao、 47−XA 1 
、As障壁層、24−・−Ino、 53Gao、 4
7−yA fl 、As量子井戸層25・・・第2活性
層(23,24)、25′ ・−第3活性層、 26、 26’  −1no、5sGao、47−KA
  It  、As  第 3クラッド層、 27・・・第1活性層(23,24)、28・・・In
o、 35GaO47−2AIL八s第八ツ第2クラツ ド!l・・Ino、 53(iao、 47ASキヤ’
/プ層、30・・・電極、 31、31’・・・電極、 33・・・レジスト層、 35・・・InP層、 36・・−ストリップ装荷構造。 特許出願人  日本電信電話株式会社 代 理 人  弁理士 谷  義 − co( H+ff 本発BIlll*施渭11の(911面図第4図 N   ″  16 派      さ U 本七爬5明大方ヒイダリ 0 イ貝りi 図第6図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)半導体基板と、 該半導体基板の一方の主面上に配置した第1クラッド層
    と、 障壁層と量子井戸層とから成り、前記第1クラッド層の
    上に配置した活性層であって、該活性層一方の端面から
    入射した光を他方の端面から出射させる光導波路の形成
    される少なくとも2つの活性層と、 該少なくとも2つの活性層に形成される光導波路の形状
    に対応した形状を有し、前記少なくとも2つの活性層の
    うち前記半導体基板から最も遠い位置にある活性層上に
    配置した第2クラッド層と、 前記少なくとも2つの活性層の間に配置した少なくとも
    ひとつの第3クラッド層と、 前記半導体基板の他方の主面上に配置した第1電極と、 前記第2クラッド層の上に配置した第2電極とを具え、 前記第1電極と前記第2電極との間の印加電圧に応じて
    、前記少なくとも2つの活性層に前記光導波路が限界さ
    れると共に、その光導波路に入射する光がいずれの活性
    層内を導波されるかの状態を変化させるようにしたこと
    を特徴とする光変調器。 2)特許請求の範囲第1項記載の光変調器において、 前記第1、第2および第3クラッド層、および前記活性
    層のすべてをメサ構造としたことを特徴とする光変調器
    。 3)半導体基板と、 該半導体基板の一方の主面上に配置した第1クラッド層
    と、 障壁層と量子井戸層とから成り、前記第1クラッド層の
    上に配置した活性層であって、該活性層一方の端面から
    入射した光を他方の端面から出射させる光導波路の形成
    される少なくとも2つの活性層と、 該少なくとも2つの活性層に形成される光導波路の形状
    に対応した形状を有し、前記少なくとも2つの活性層の
    うち前記半導体基板から最も遠い位置にある活性層上に
    配置した第2クラッド層と、 前記第2クラッド層と前記少なくとも2つの活性層のう
    ち前記半導体基板から最も遠い位置にある活性層との間
    に配置した緩衝層と、 前記半導体基板の他方の主面上に配置した第1電極と、 前記第2クラッド層の上に配置した第2電極とを具え、 前記第2クラッド層および前記第2電極は、前記緩衝層
    の上でメサストライプの形態と なし、前記第1電極と前記第2電極との間の印加電圧に
    応じて、前記メサストライプに対応して、前記少なくと
    も2つの活性層に前記光導波路が限界されると共に、そ
    の光導波路に入射する光がいずれの活性層内を導波され
    るかの状態を変化させるようにしたことを特徴とする光
    変調器。 4)InP基板と、 InPと格子整合しているIn_1_−_x_1_−_
    y_1Ga_x_1Al_y_1As(ただし、0≦y
    _1)よりなる量子井戸層と、InPと格子整合してい
    るIn_1_−_x_2_−_y_2Ga_x_2Al
    _y_2As(ただし、y_1<y_2、0≦x_2)
    よりなり、前記量子井戸層に比し広い禁制帯幅を有する
    障壁層とを順次にかつ交互に積層した多重量子井戸構造
    の形態の第1の活性層と、 該第1の活性層と同一の組成および厚さをもつ第2の活
    性層と、 前記第2の活性層の一方の主面上に配置された第1の導
    電型を有するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_
    x_3Al_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦
    y_2)からなる第1のクラッド層と、 前記第1の活性層の前記第2の活性層とは反対側の主面
    上に配置された第1の導電型とは逆の第2の導電型を有
    するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_x_3A
    l_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦y_2)
    からなる第2のクラッド層と、 前記第1と第2の活性層の間に配置された前記第1の導
    電型を有するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_
    x_3Al_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦
    y_2)からなる第3のクラッド層と を具えたことを特徴とする光変調器。 5)InP基板と、 InPと格子整合しているIn_1_−_x_1_−_
    y_1Ga_x_1Al_y_1As(ただし、0≦y
    _1)よりなる量子井戸層と、InPと格子整合してい
    るIn_1_−_x_2_−_y_2Ga_x_2Al
    _y_2As(ただし、y_1<y_2、0≦x_2)
    よりなり、前記量子井戸層に比し広い禁制帯幅を有する
    障壁層とを順次にかつ交互に積層した多重量子井戸構造
    の形態の第1の活性層と、 該第1の活性層と同一の組成および厚さをもつ第2の活
    性層と、 前記第2の活性層の一方の主面上に配置された第1の導
    電型を有するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_
    x_3Al_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦
    y_2)からなる第1のクラッド層と、 前記第1の活性層の前記第2の活性層とは反対側の主面
    上に配置された第1の導電型とは逆の第2の導電型を有
    するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_x_3A
    l_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦y_2)
    からなる第2のクラッド層と、 前記第1と第2の活性層の間に配置された前記第2の導
    電型を有するIn_1_−_x_3_−y_3Ga_x
    _3Al_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦y
    _2)からなる第3のクラッド層と を具えたことを特徴とする光変調器。 6)InP基板と、 InPと格子整合しているIn_1_−_x_1_−y
    _1Ga_x_1Al_y_1As(ただし、0≦y_
    1)よりなる量子井戸層と、InPと格子整合している
    In_1−_x_2_−_y_2Ga_x_2Al_y
    _2As(ただし、y_1<y_2、0≦x_2)より
    なり、前記量子井戸層に比し広い禁制帯幅を有する障壁
    層とを順次にかつ交互に積層した多重量子井戸構造の形
    態の第1の活性層と、 該第1の活性層と同一の組成および厚さをもつ第2の活
    性層と、 前記第2の活性層の一方の主面上に配置された第1の導
    電型を有するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_
    x_3Al_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦
    y_2)からなる第1のクラッド層と、 前記第1の活性層の前記第2の活性層とは反対側の主面
    上に配置された第1の導電型とは逆の第2の導電型を有
    するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_x_3A
    l_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦y_2)
    からなる第2のクラッド層と、 前記第1と第2の活性層の間に配置された前記第1の導
    電型を有するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_
    x_3Al_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦
    y_2)からなる第3のクラッド層と、 前記第1の活性層と前記第2のクラッド層との間に配置
    されたInP層と、 該InP層と同一の導電型を有し、当該InP層上に配
    置されたIn_1_−_x_4Ga_x_4As(ただ
    し0≧x_4)によるキャップ層とを具え、 前記InP基板と前記キャップ層との間に印加する電圧
    に応じて、前記第1および第2の活性層のいずれかに入
    射する光を前記第1および第2の活性層のいずれに導波
    させるかを定めるようにしたことを特徴とする光変調器
    。 7)InP基板と、 InPと格子整合しているIn_1_−_x_1_−_
    y_1Ga_x_1Al_y_1As(ただし、0≦y
    _1)よりなる量子井戸層と、InPと格子整合してい
    るIn_1_−_x_2_−_y_2Ga_x_2Al
    _y_2Asただし、y_1<y_2、0≦x_2)よ
    りなり、前記量子井戸層に比し広い禁制帯幅を有する障
    壁層とを順次にかつ交互に積層した多重量子井戸構造の
    形態の第1の活性層と、 該第1の活性層と同一の組成および厚さをもつ第2の活
    性層と、 前記第2の活性層の一方の主面上に配置された第1の導
    電型を有するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_
    x_3Al_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦
    y_2)からなる第1のクラッド層と、 前記第1の活性層の前記第2の活性層とは反対側の主面
    上に配置された第1の導電型とは逆の第2の導電型を有
    するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_x_3A
    l_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦y_2)
    からなる第2のクラッド層と、 前記第1と第2の活性層の間に配置された前記第2の導
    電型を有するIn_1_−_x_3_−_y_3Ga_
    x_3Al_y_3As(ただし0≦x_3、y_3≦
    y_2)からなる第3のクラッド層と、 前記第1の活性層と前記第2のクラッド層との間に配置
    されたInP層と、 該InP層と同一の導電型を有し、当該InP層上に配
    置されたIn_1_−_x_4Ga_x_4As(ただ
    し0≧x_4)によるキャップ層とを具え、 前記InP基板と前記キャップ層との間に印加する電圧
    に応じて、前記第1および第2の活性層のいずれかに入
    射する光を前記第1および第2の活性層のいずれに導波
    させるかを定めるようにしたことを特徴とする光変調器
    。 8)半導体基板の一方の主面上に、第1クラッド層、障
    壁層と量子井戸層から成る少なくとも2つの活性層と該
    活性層により挟まれた第3クラッド層との組合せ、第2
    クラッド層、キャップ層および電極層をこの順序に形成
    し、 前記キャップ層の上にレジストを塗布し、 その塗布されたレジストに対してエッチングを施して、
    光導波路形状のパターンをもつレジスト層を形成し、 前記第1、第2および第3クラッド層、前記活性層およ
    び前記キャップ層についてはエッチングを行うことがで
    きるが、前記半導体基板についてはエッチングを行うこ
    とのできないエッチング溶液を用いて、前記第1、第2
    および第3クラッド層、前記活性層、前記キャップ層お
    よび前記電極層を前記光導波路の形状にエッチング処理
    し、 前記レジスト層を除去することを特徴とする光変調器の
    製造方法。 9)半導体基板の一方の主面上に、第1クラッド層、障
    壁層と量子井戸層から成る少なくとも2つの活性層と該
    活性層により挟まれた第3クラッド層との組合せ、耐エ
    ッチング材料層、第2クラッド層、キャップ層および電
    極層をこの順 序に形成し、 前記キャップ層の上にレジストを塗布し、 その塗布されたレジストに対してエッチングを施して、
    光導波路形状のパターンをもつレジスト層を形成し、  前記第2クラッド層および前記キャップ層についてはエ
    ッチングを行うことができるが、前記耐エッチング材料
    層についてはエッチングを行うことのできないエッチン
    グ溶液を用いて、前記第2クラッド層、前記キャップ層
    および前記電極層を前記光導波路の形状にエッチング処
    理し、 前記レジスト層を除去することを特徴とする光変調器の
    製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0263012A (ja) * 1988-03-25 1990-03-02 American Teleph & Telegr Co <Att> 光デバイス
US5229622A (en) * 1989-06-09 1993-07-20 U.S. Philips Corp. Integrated semiconductor optoelectronic switch
EP0966046A2 (en) * 1998-06-15 1999-12-22 NEC Corporation Semiconductor photodetector with an increased photo receiving area and exhibiting high speed performances

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