JPS63298097A - 放射性ガスの固定化処理装置 - Google Patents
放射性ガスの固定化処理装置Info
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- JPS63298097A JPS63298097A JP13314887A JP13314887A JPS63298097A JP S63298097 A JPS63298097 A JP S63298097A JP 13314887 A JP13314887 A JP 13314887A JP 13314887 A JP13314887 A JP 13314887A JP S63298097 A JPS63298097 A JP S63298097A
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Landscapes
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は原子力施設で発生する核分裂生成ガス中の長寿
命の放射性ガスをイオン化して金属基体中に注入するた
めの放射性ガスの固定化処理装置に関する。
命の放射性ガスをイオン化して金属基体中に注入するた
めの放射性ガスの固定化処理装置に関する。
(従来の技術)
核燃料再処理工場等の原子力施設は、有害な量の放射能
が環境に放出された場合、その影響が広範囲かつ長時間
にわたる可能性があるために、安全性の確保を他の一般
産業に比べて格段に厳しくすることが義務づけられてい
る。
が環境に放出された場合、その影響が広範囲かつ長時間
にわたる可能性があるために、安全性の確保を他の一般
産業に比べて格段に厳しくすることが義務づけられてい
る。
再処理工場では使用済燃料から、ウランとプラトニウム
を回収するが、同時に随伴する核分裂生成物等を含む放
射性廃棄物を適切に処理しなければならない、放射性廃
棄物のうち、気体廃棄物はクリプトン85(以下Kr−
85と記す)のみであるが、これは半減期が10.7年
と長寿命であるために、今後の原子力発電量の増加を見
込むと、将来には地球規模の汚染につながる恐れがある
。そこで回収技術とともに重要な課題は回収したKr−
85を如何にして安全に貯蔵あるいは処分するかである
。従来、放射性廃棄ガスはボンベなどの耐圧製圧力容器
に封入して永久保存する方法が考えられている。
を回収するが、同時に随伴する核分裂生成物等を含む放
射性廃棄物を適切に処理しなければならない、放射性廃
棄物のうち、気体廃棄物はクリプトン85(以下Kr−
85と記す)のみであるが、これは半減期が10.7年
と長寿命であるために、今後の原子力発電量の増加を見
込むと、将来には地球規模の汚染につながる恐れがある
。そこで回収技術とともに重要な課題は回収したKr−
85を如何にして安全に貯蔵あるいは処分するかである
。従来、放射性廃棄ガスはボンベなどの耐圧製圧力容器
に封入して永久保存する方法が考えられている。
しかしながら、圧力容器に封入する方法は長期間にわた
る安全貯蔵の点で問題がある0例えば圧力容器は定期的
な耐圧試験が法令で義務づけられており、その都度貯蔵
ガスの移し替えなど煩雑で危険な作業が要求される欠点
がある。一方、気体廃棄物Kr−85の処理は前記した
ボンベ等の圧力容器への貯蔵法の他に、ゼオライトに吸
着させる方法、イオン化注入固定法等が提案されている
。しかしながら、ボンベ貯蔵法およびゼオライトに吸着
させる方法は実用化するには幾多の改善すべき問題があ
る。
る安全貯蔵の点で問題がある0例えば圧力容器は定期的
な耐圧試験が法令で義務づけられており、その都度貯蔵
ガスの移し替えなど煩雑で危険な作業が要求される欠点
がある。一方、気体廃棄物Kr−85の処理は前記した
ボンベ等の圧力容器への貯蔵法の他に、ゼオライトに吸
着させる方法、イオン化注入固定法等が提案されている
。しかしながら、ボンベ貯蔵法およびゼオライトに吸着
させる方法は実用化するには幾多の改善すべき問題があ
る。
イオン注入法は、常温、低圧で処分操作が出来るだけで
なく、長時間の安全性でも他の方法に比べて優れた方法
とされている。
なく、長時間の安全性でも他の方法に比べて優れた方法
とされている。
第3図は従来の放射性ガスをイオン化注入する注入装置
の概要を示す縦断面図、第4図および第5図は第3図に
示した装置におけるイオン注入状態を説明するための横
断面図である。
の概要を示す縦断面図、第4図および第5図は第3図に
示した装置におけるイオン注入状態を説明するための横
断面図である。
以下、第3図から第5図を参照しながら、従来の放射性
ガスのイオン注入固定化処理装置を説明する。
ガスのイオン注入固定化処理装置を説明する。
円筒状容器1内に設けられたイオン化室2には冷却管3
およびリード114が取り付けられた例えばニッケルよ
りなる電極5がその中心部に配置されている。前記冷却
管3およびリード114は例えばバーチメックシールな
どの絶縁体6によって上蓋7と絶縁封じされている。ま
た前記容器1の上l!7にはKr−85ガスを導入する
ためのバイブ9がバルブ8を介して接続されているとと
もに、前記容器1内を排気するためのバイブ11がバル
ブ10を介して接続されている。また前記容器1の外周
面には冷却バイブ12が巻回されている。なお、符号1
4はイオン注入されたKr−85イオン層と電極5をス
パッタして、この電極5材のスパッタリングイオン層か
らなる累積層であり、第3図および第5図中、符号15
はKr−85イオン、16は電極5から飛び出すスパッ
タリングイオンをそれぞれ示している。
およびリード114が取り付けられた例えばニッケルよ
りなる電極5がその中心部に配置されている。前記冷却
管3およびリード114は例えばバーチメックシールな
どの絶縁体6によって上蓋7と絶縁封じされている。ま
た前記容器1の上l!7にはKr−85ガスを導入する
ためのバイブ9がバルブ8を介して接続されているとと
もに、前記容器1内を排気するためのバイブ11がバル
ブ10を介して接続されている。また前記容器1の外周
面には冷却バイブ12が巻回されている。なお、符号1
4はイオン注入されたKr−85イオン層と電極5をス
パッタして、この電極5材のスパッタリングイオン層か
らなる累積層であり、第3図および第5図中、符号15
はKr−85イオン、16は電極5から飛び出すスパッ
タリングイオンをそれぞれ示している。
また符号17は円筒状電極5に負の数KVの高電圧を印
加するための第1の直流高圧電源、18は円筒状容器1
に負の数100■の高電圧を印加するための第2の直流
高圧電源である。
加するための第1の直流高圧電源、18は円筒状容器1
に負の数100■の高電圧を印加するための第2の直流
高圧電源である。
このように構成された従来の放射性ガスの固定化処理装
置により、Kr−85ガスイオンを固定化処理する方法
を説明する。
置により、Kr−85ガスイオンを固定化処理する方法
を説明する。
第3図において、円筒状容器1は排気用バイブ11に接
続されているが、図示していない排気装置、例えばイオ
ンポンプ、軸流分子ポンプ、油拡散ポンプなどで所望の
真空度、例えば 5×10″7Torr程度に排気した
後、バルブ10を閉じて容器1内を一定の真空圧力に維
持する。
続されているが、図示していない排気装置、例えばイオ
ンポンプ、軸流分子ポンプ、油拡散ポンプなどで所望の
真空度、例えば 5×10″7Torr程度に排気した
後、バルブ10を閉じて容器1内を一定の真空圧力に維
持する。
そして、バルブ8を開いてバイブ9に接続された図示し
ていないボンベ等からKr−85ガスを供給し、容器1
内に一定圧力、例えば0.1Torr程度になるように
Kr−85ガスが封入されたらバルブ8を閉じ、冷却バ
イブ3.12に水などの冷却媒体を流して電極5および
容器1を冷却する。
ていないボンベ等からKr−85ガスを供給し、容器1
内に一定圧力、例えば0.1Torr程度になるように
Kr−85ガスが封入されたらバルブ8を閉じ、冷却バ
イブ3.12に水などの冷却媒体を流して電極5および
容器1を冷却する。
容器1には第2の直流高圧電源18により、負の数10
0Vの高電圧を印加し、電極5に接続されたリード線4
には、第1の直流高圧電源17により、Kr−85を注
入し植えつけるのに充分なエネルギーで衝撃できる例え
ば2〜5kVの高電圧を連続的に印加することによって
に「−85ガス放電が発生し、これと同時にに「−85
イオンによる電極5材のスパッタリングし、容器1の内
壁面には電極5材のスパッタイオンのコーティングと
Kr−85イオンの注入を同時に行わせる。第4図およ
び第5図は電極5に負の2〜5kVの高電圧を、容器1
には負の数100Vの高電圧を印加することによってK
r−85イオン15が容器1の内壁面に注入される状態
、およびKr−85イオン15が電fi5の表面をスパ
ッタすることによって発生したスパッタリングイオン1
6が容器1の内壁面にコーティングされてKr−85イ
オン15と電極5材のスパッタリングイオン16との累
積層14が形成される状態を示すための横断面図である
。
0Vの高電圧を印加し、電極5に接続されたリード線4
には、第1の直流高圧電源17により、Kr−85を注
入し植えつけるのに充分なエネルギーで衝撃できる例え
ば2〜5kVの高電圧を連続的に印加することによって
に「−85ガス放電が発生し、これと同時にに「−85
イオンによる電極5材のスパッタリングし、容器1の内
壁面には電極5材のスパッタイオンのコーティングと
Kr−85イオンの注入を同時に行わせる。第4図およ
び第5図は電極5に負の2〜5kVの高電圧を、容器1
には負の数100Vの高電圧を印加することによってK
r−85イオン15が容器1の内壁面に注入される状態
、およびKr−85イオン15が電fi5の表面をスパ
ッタすることによって発生したスパッタリングイオン1
6が容器1の内壁面にコーティングされてKr−85イ
オン15と電極5材のスパッタリングイオン16との累
積層14が形成される状態を示すための横断面図である
。
(発明が解決しようとする問題点)
以上説明した従来の放射性ガスの固定化処理装置はKr
−85イオンのみの放電によってイオン注入固定化処理
を行なっていたが、Kr−85イオン15のみの放電で
は放電密度が低く、従って効率のよいKr−85イオン
15のイオン注入固定化処理ができない問題点がある。
−85イオンのみの放電によってイオン注入固定化処理
を行なっていたが、Kr−85イオン15のみの放電で
は放電密度が低く、従って効率のよいKr−85イオン
15のイオン注入固定化処理ができない問題点がある。
本発明は上記問題点を解決するためになされたもので、
容器内に封入したKr−85ガスをイオン化してイオン
化注入する放射性ガスの固定化処理装置において、Kr
−85ガスの放電密度を高めることによってイオン化効
率を高め、Kr−85イオンの注入効率を高めるように
した放射性ガスの固定化処理装置を提供することにある
。
容器内に封入したKr−85ガスをイオン化してイオン
化注入する放射性ガスの固定化処理装置において、Kr
−85ガスの放電密度を高めることによってイオン化効
率を高め、Kr−85イオンの注入効率を高めるように
した放射性ガスの固定化処理装置を提供することにある
。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明の放射性ガスの固定化処理装置は、放射性ガスが
導入される円筒状容器内の中心部に電極を配置し、電極
には数kVの負の高電圧を、前記容器には数100Vの
負電圧を印加して放射性ガスによるガス放電を起してイ
オン化し、電極表面を放射性ガスイオンでスパッタリン
グして前記容器の内面にコーティングさせるとともに、
放射性ガスイオン注入をも同時に行わせることによって
前記電極のスパッタリングイオンによるコーティング層
と放射性ガスイオンの累IW層を形成させる放射性ガス
の固定化処理装置において、前記容器の下蓋部又は下蓋
部に少なくとも1個の電子銃を設けて前記電子銃からの
電子線放出によって前記放射性ガスによるガス放電のプ
ラズマ密度を高め、イオン化効率を向上させるようにし
たものである。
導入される円筒状容器内の中心部に電極を配置し、電極
には数kVの負の高電圧を、前記容器には数100Vの
負電圧を印加して放射性ガスによるガス放電を起してイ
オン化し、電極表面を放射性ガスイオンでスパッタリン
グして前記容器の内面にコーティングさせるとともに、
放射性ガスイオン注入をも同時に行わせることによって
前記電極のスパッタリングイオンによるコーティング層
と放射性ガスイオンの累IW層を形成させる放射性ガス
の固定化処理装置において、前記容器の下蓋部又は下蓋
部に少なくとも1個の電子銃を設けて前記電子銃からの
電子線放出によって前記放射性ガスによるガス放電のプ
ラズマ密度を高め、イオン化効率を向上させるようにし
たものである。
(作 用)
放射性被処理ガスが導入される容器の上蓋部又は下蓋部
に設は電子銃に図示していない電源により、電子銃のフ
ィラメントを点火して熱電子を放出させ、電子加速を極
で電子線を加速してイオン化室内に導入し、前記電極に
は2〜5kVの負の高電圧を、前記容器には負の数10
0vの高電圧をそれぞれ印加することにより前記容器内
に導入された放射性ガスはグロー放電してイオン化され
、電極材をスパッタして発生するスパッタリングイオン
が前記容器の内面に植えつけられると同時に、放射性ガ
スイオンが前記容器の内面に注入されて、スパッタリン
グイオンと放射性ガスイオンの累積イオン化層が形成さ
れる。
に設は電子銃に図示していない電源により、電子銃のフ
ィラメントを点火して熱電子を放出させ、電子加速を極
で電子線を加速してイオン化室内に導入し、前記電極に
は2〜5kVの負の高電圧を、前記容器には負の数10
0vの高電圧をそれぞれ印加することにより前記容器内
に導入された放射性ガスはグロー放電してイオン化され
、電極材をスパッタして発生するスパッタリングイオン
が前記容器の内面に植えつけられると同時に、放射性ガ
スイオンが前記容器の内面に注入されて、スパッタリン
グイオンと放射性ガスイオンの累積イオン化層が形成さ
れる。
このようにして放射性ガスのイオン化注入固定化処理す
るのに、付勢した電子銃からの電子ビームによってグロ
ー放電が強化され、グロー放電プラズマ密度が高められ
る。よって、放射性ガスのイオン化効率を著しく向上す
ることになるので、従来の注入Ft、に比べて格段と注
入効率を高めることができる。
るのに、付勢した電子銃からの電子ビームによってグロ
ー放電が強化され、グロー放電プラズマ密度が高められ
る。よって、放射性ガスのイオン化効率を著しく向上す
ることになるので、従来の注入Ft、に比べて格段と注
入効率を高めることができる。
(実施例)
第1図を多照しながら本発明の一実施例を詳細に説明す
る。なお、第1図において、第3図と同一部分には同一
符号を付して重複する部分の説明は省略する。
る。なお、第1図において、第3図と同一部分には同一
符号を付して重複する部分の説明は省略する。
第1図は本発明にかかる放射性ガスの固定化処理装置の
概略構成を示す縦断面図である。
概略構成を示す縦断面図である。
すなわち、第1図において、容器1の中心部には電極5
が配置されており、前記容器1の上蓋部20にはフィラ
メント21と電子加速電fi22よりなる電子銃23が
設けられている。容器1の下蓋部24にはイオン化室2
内を真空排気するための排気管11がバルブ10を介し
て取付けられ、またKr−85ガスを導入するためのガ
ス導入管9がバルブ8を介して取付けられている。
が配置されており、前記容器1の上蓋部20にはフィラ
メント21と電子加速電fi22よりなる電子銃23が
設けられている。容器1の下蓋部24にはイオン化室2
内を真空排気するための排気管11がバルブ10を介し
て取付けられ、またKr−85ガスを導入するためのガ
ス導入管9がバルブ8を介して取付けられている。
なお、図中符号17は前記電極5に負の0〜5に■まで
の高電圧を印加する第1の直流高圧電源、18は前記容
器1に負の数100■の電圧を印加する第2の直流高圧
電源、25は前記電子銃23から放出される電子銃、2
6はグロー放電からなる放電プラズマ、14はスパッタ
リングイオンと K「−85イオンよりなるイオン化層
である。
の高電圧を印加する第1の直流高圧電源、18は前記容
器1に負の数100■の電圧を印加する第2の直流高圧
電源、25は前記電子銃23から放出される電子銃、2
6はグロー放電からなる放電プラズマ、14はスパッタ
リングイオンと K「−85イオンよりなるイオン化層
である。
次に第1図の装置を使用して放射性ガス例えばKr−8
5ガスをイオン注入し固定化処理する方法について説明
する。
5ガスをイオン注入し固定化処理する方法について説明
する。
第3図の従来例で説明した場合と同様の順序で容器1内
を例えば5X 10”7TQrr程度に排気し、バルブ
10を閉じる。その後、バルブ8を開いてバイブ9に接
続された図示しないボンベ等からに「−85ガスを容器
1内に導入し、この容器1内を一定圧力例えば0. I
TOrrにする。一定圧力に達した後はバルブ8を閉じ
て密封状態にする。さらに図示してない冷却パイプに冷
却媒体例えば水を流し電極5および容器1を冷却する。
を例えば5X 10”7TQrr程度に排気し、バルブ
10を閉じる。その後、バルブ8を開いてバイブ9に接
続された図示しないボンベ等からに「−85ガスを容器
1内に導入し、この容器1内を一定圧力例えば0. I
TOrrにする。一定圧力に達した後はバルブ8を閉じ
て密封状態にする。さらに図示してない冷却パイプに冷
却媒体例えば水を流し電極5および容器1を冷却する。
そして、図示してない電源から電子銃23のフィラメン
ト21に所望の電力を供給してフィラメント21を点火
して熱電子を発生させ、電子加速電極22に数KVの高
電圧を印加して電子線25をイオン化室2内に導く、そ
して、第1の直流高圧電源17により最大5kVの負の
直流高電圧を電極5に、また第2の直流高圧電源18に
より最大1kVの負の直流高電圧を容器1に連続的に印
加する。これにより、第1図に示したようにに「−85
ガスがイオン化室2でグロー放電26(放電プラズマ)
してイオン化するがイオン化室2内に導かれた電子線2
5がこのグロー放電つまり、放電プラズマ26密度の増
加に寄与し、イオン化効率を高める。
ト21に所望の電力を供給してフィラメント21を点火
して熱電子を発生させ、電子加速電極22に数KVの高
電圧を印加して電子線25をイオン化室2内に導く、そ
して、第1の直流高圧電源17により最大5kVの負の
直流高電圧を電極5に、また第2の直流高圧電源18に
より最大1kVの負の直流高電圧を容器1に連続的に印
加する。これにより、第1図に示したようにに「−85
ガスがイオン化室2でグロー放電26(放電プラズマ)
してイオン化するがイオン化室2内に導かれた電子線2
5がこのグロー放電つまり、放電プラズマ26密度の増
加に寄与し、イオン化効率を高める。
このようにして生成したに「−85イオン15の一部は
電極5をスパッタしてスパッタリングイオン16を発生
し、このスパッタリングイオン16が容器1の内面にコ
ーティングされ、一部のにr−85イオン15が直接容
器1の内面に注入固定される。
電極5をスパッタしてスパッタリングイオン16を発生
し、このスパッタリングイオン16が容器1の内面にコ
ーティングされ、一部のにr−85イオン15が直接容
器1の内面に注入固定される。
このような原理により容器1の内面には第1図に示した
ようにスパッタリングイオン16と Kr−85イオン
15のイオン化層が形成される。
ようにスパッタリングイオン16と Kr−85イオン
15のイオン化層が形成される。
このような操作中にKr−85イオン15をイオン注入
固定化処理し、イオン化室2内の圧力が下がったら、バ
ルブ8を手動または自動操作によってイオン化室2内に
は常に所定量のKr−85ガスを供給する。
固定化処理し、イオン化室2内の圧力が下がったら、バ
ルブ8を手動または自動操作によってイオン化室2内に
は常に所定量のKr−85ガスを供給する。
そして、所望量のKr−85ガスのイオン注入固定化処
理が終了したら、電極5および容器1への高電圧の供給
を停止し、電子銃23のフィラメント21への電力供給
を停止し、冷却パイプへの水の供給を停止してKr−8
5イオン注入試験を終了する。
理が終了したら、電極5および容器1への高電圧の供給
を停止し、電子銃23のフィラメント21への電力供給
を停止し、冷却パイプへの水の供給を停止してKr−8
5イオン注入試験を終了する。
第2図は本発明の他の実施例を示す概略構成の縦断面図
で、この実施例が第1図の実施例と異なる点は電子銃2
3を2個、上醤部20に設けたことにある。なお、その
他の部分およびその他の作用効果は第1の実施例と同様
なので重複する部分の説明を省略する。
で、この実施例が第1図の実施例と異なる点は電子銃2
3を2個、上醤部20に設けたことにある。なお、その
他の部分およびその他の作用効果は第1の実施例と同様
なので重複する部分の説明を省略する。
この実施例によれば、第1の実施例に比較してグロー放
電プラズマ中にさらに高速の電子線を導入し、その電子
線の強力なガスイオン効果を利用してより多くのイオン
化密度を向上させることができる。
電プラズマ中にさらに高速の電子線を導入し、その電子
線の強力なガスイオン効果を利用してより多くのイオン
化密度を向上させることができる。
以上の実施例では電極5の材質としてニッケルを使用し
た例で説明したが、電極5の材質としてはニッケルの他
にニッケルとランタンの合金、ランタン、銅、銅合金、
金、銀、アルミニウム合金などのスパッタリングを生じ
やすい金属を使用することが出来る。
た例で説明したが、電極5の材質としてはニッケルの他
にニッケルとランタンの合金、ランタン、銅、銅合金、
金、銀、アルミニウム合金などのスパッタリングを生じ
やすい金属を使用することが出来る。
また、電子銃23は1個および2個設け1本と、2本を
付勢した例で説明したが、本発明は上記実施例に限定さ
れない、さらに、冷却媒体としてはフレオン、油なども
考えられ、水に限定されない。
付勢した例で説明したが、本発明は上記実施例に限定さ
れない、さらに、冷却媒体としてはフレオン、油なども
考えられ、水に限定されない。
また被処理ガスとしてはに「−85以外にも有毒ガス、
有害ガスなどを本発明で処理出来るのでに「−85に限
定されないことはもちろんである。
有害ガスなどを本発明で処理出来るのでに「−85に限
定されないことはもちろんである。
[発明の効果]
本発明に係る放射性ガスの固定化処理装置によれば、従
来装置に比較して放射性ガスイオンの放電プラズマ密度
を著しく高めることが出来かつイオン化効率が向上する
のでイオン注入効率の増大をはかれる効果がある。
来装置に比較して放射性ガスイオンの放電プラズマ密度
を著しく高めることが出来かつイオン化効率が向上する
のでイオン注入効率の増大をはかれる効果がある。
第1図および第2図は本発明にかかる放射性ガスの固定
化処理装置の各々の実施例の概略構成を示すM1@面図
、第3図は従来の放射性ガスの固定化処理装置の概要を
示す縦断面図、第4図および第5図は第3図における装
置のイオン注入状態を示す棲断面図である。 1・・・・・・・・・筒状容器 2・・・・・・・・・イオン化室 5・・・・・・・・・スパッタ電極 8・・・・・・・・・バルブ 9・・・・・・・・・ガス導入管 10・・・・・・・・・バルブ 11・・・・・・・・・排気管 17・・・・・・・・・第1の直流高圧電源18・・・
・・・・・・第2の直流高圧電源20・・・・・・・・
・上蓋部 21・・・・・・・・・フィラメント 22・・・・・・・・・電子加速電極 23・・・・・・・・・電子銃 24・・・・・・・・・下蓋部 25・・・・・・・・・電子線 26・・・・・・・・・放電プラズマ 14・・・・・・・・・イオン化層 出願人 株式会社 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 − 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
化処理装置の各々の実施例の概略構成を示すM1@面図
、第3図は従来の放射性ガスの固定化処理装置の概要を
示す縦断面図、第4図および第5図は第3図における装
置のイオン注入状態を示す棲断面図である。 1・・・・・・・・・筒状容器 2・・・・・・・・・イオン化室 5・・・・・・・・・スパッタ電極 8・・・・・・・・・バルブ 9・・・・・・・・・ガス導入管 10・・・・・・・・・バルブ 11・・・・・・・・・排気管 17・・・・・・・・・第1の直流高圧電源18・・・
・・・・・・第2の直流高圧電源20・・・・・・・・
・上蓋部 21・・・・・・・・・フィラメント 22・・・・・・・・・電子加速電極 23・・・・・・・・・電子銃 24・・・・・・・・・下蓋部 25・・・・・・・・・電子線 26・・・・・・・・・放電プラズマ 14・・・・・・・・・イオン化層 出願人 株式会社 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 − 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
Claims (1)
- (1)放射性ガスが導入される筒状容器の中心部に電極
を配置し、前記電極に数kVの負の高電圧を、前記容器
に数100Vの負電圧を印加して放射性ガスによるガス
放電を起してイオン化し、前記電極の表面を放射性ガス
イオンでスパッタリングして前記容器の内面にコーティ
ングさせるとともに、放射性ガスイオン注入をも同時に
行わせることによって前記電極のスパッタリングイオン
によるコーティング層と放射性ガスイオンの累積層を形
成させる放射性ガスの固定化処理装置において、前記容
器の上蓋部又は下蓋部に少なくとも1個の電子銃を設け
たことを特徴とする放射性ガスの固定化処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13314887A JPS63298097A (ja) | 1987-05-28 | 1987-05-28 | 放射性ガスの固定化処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13314887A JPS63298097A (ja) | 1987-05-28 | 1987-05-28 | 放射性ガスの固定化処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63298097A true JPS63298097A (ja) | 1988-12-05 |
Family
ID=15097842
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13314887A Pending JPS63298097A (ja) | 1987-05-28 | 1987-05-28 | 放射性ガスの固定化処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63298097A (ja) |
-
1987
- 1987-05-28 JP JP13314887A patent/JPS63298097A/ja active Pending
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